JP5465244B2 - 固体撮像素子及び撮像装置 - Google Patents

固体撮像素子及び撮像装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5465244B2
JP5465244B2 JP2011515623A JP2011515623A JP5465244B2 JP 5465244 B2 JP5465244 B2 JP 5465244B2 JP 2011515623 A JP2011515623 A JP 2011515623A JP 2011515623 A JP2011515623 A JP 2011515623A JP 5465244 B2 JP5465244 B2 JP 5465244B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
focus detection
pixel
detection pixel
pair
pupil
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2011515623A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012505422A (ja
Inventor
明彦 長野
一朗 大貫
誠 高宮
真 追川
吉隆 橋本
文裕 梶村
康夫 須田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2011515623A priority Critical patent/JP5465244B2/ja
Publication of JP2012505422A publication Critical patent/JP2012505422A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5465244B2 publication Critical patent/JP5465244B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/34Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane
    • G02B7/346Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane using horizontal and vertical areas in the pupil plane, i.e. wide area autofocusing
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/005Diaphragms
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00Simple or compound lenses
    • G02B3/0006Arrays
    • G02B3/0037Arrays characterized by the distribution or form of lenses
    • G02B3/0056Arrays characterized by the distribution or form of lenses arranged along two different directions in a plane, e.g. honeycomb arrangement of lenses
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/003Light absorbing elements
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/201Filters in the form of arrays
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1462Coatings
    • H01L27/14623Optical shielding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14625Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L27/14627Microlenses
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/60Control of cameras or camera modules
    • H04N23/67Focus control based on electronic image sensor signals
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/10Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof for transforming different wavelengths into image signals
    • H04N25/11Arrangement of colour filter arrays [CFA]; Filter mosaics
    • H04N25/13Arrangement of colour filter arrays [CFA]; Filter mosaics characterised by the spectral characteristics of the filter elements
    • H04N25/134Arrangement of colour filter arrays [CFA]; Filter mosaics characterised by the spectral characteristics of the filter elements based on three different wavelength filter elements
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/703SSIS architectures incorporating pixels for producing signals other than image signals
    • H04N25/704Pixels specially adapted for focusing, e.g. phase difference pixel sets

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Focusing (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Description

本発明は、固体撮像素子及び撮像装置に関し、更に詳しくは、撮像を行うための固体撮像素子及び固体撮像素子から得られる像に基づいて撮影レンズの焦点状態を検出可能なデジタルスチルカメラ等の撮像装置に関する。
イメージセンサを用いて撮影を行うデジタルカメラにおいて撮影レンズの焦点状態を検出する方式の一つとして、各画素にマイクロレンズが形成された2次元のセンサを用いて、瞳分割方式の焦点検出を行う装置が特開昭58−24105号公報に開示されている。特開昭58−24105号公報の装置では、イメージセンサを構成する各画素の光電変換部が複数に分割され、分割された光電変換部がマイクロレンズを介して撮影レンズの瞳の異なる領域を通過した光束を受光するように構成されている。
また特許2959142号公報では、マイクロレンズと光電変換部の相対位置を偏位させた画素を2次元に配置した、イメージセンサを兼ねた固体撮像装置を開示している。特許2959142号公報の固体撮像装置では、撮影レンズの焦点状態を検出する時は、マイクロレンズと光電変換部の相対偏位方向が異なる画素列で生成される像に基づいて撮影レンズの焦点状態を検出している。一方、通常の画像を撮像するときは、マイクロレンズと光電変換部の相対偏位方向が異なる画素を加算することにより、画像を生成している。
また、本出願人はデジタルスチルカメラに用いられるCMOS型イメージセンサ(固体撮像装置)を用いて瞳分割方式の焦点検出を行う固体撮像装置を特開2005−106994号公報に開示している。特開2005−106994号公報の固体撮像装置では、固体撮像装置を構成する多数の画素のうちの一部の画素は、撮影レンズの焦点状態を検出するために光電変換部が2つに分割された構成となっている。光電変換部は、マイクロレンズを介して撮影レンズの瞳の所定領域を通過した光束を受光するように構成されている。
図11は、特開2005−106994号公報に開示されている固体撮像素子の中央に位置する焦点検出を行う画素の受光分布の説明図で、2つに分割された光電変換部がそれぞれ受光可能な撮影レンズの瞳上の領域を示している。図中円は撮影レンズの射出瞳を示し、白抜きされた領域Sα、領域Sβは2つに分割された光電変換部の受光可能な領域で、通常撮影レンズの光軸(図中x軸とy軸の交点)に対して対称になるように設定されている。
カメラにおいては、撮影レンズの瞳上の領域Sαを透過した光束により生成された像と領域Sβを透過した光束により生成される像の相関演算を行って、撮影レンズの焦点状態が検出される。撮影レンズの異なる瞳領域を透過した光束より生成される像の相関演算を行って焦点検出を行う方法は、特開平5−127074号公報に開示されている。
特開昭58−24105号公報 特許2959142号公報 特開2005−106994号公報 特開平5−127074号公報
一般的にCMOS型固体撮像素子は、複数回のマスクプロセスを経て製造される。各マスクプロセス間では位置合わせを行いながら製造が行われるが、初期の工程で製造された部材と後の工程で製造された部材では位置ずれが生じてしまう。つまり、固体撮像素子の光電変換部は製造工程の初期工程で形成され、マイクロレンズは最終工程で形成されるため、光電変換部とマイクロレンズとの間には通常位置ずれが生じてしまう。
図12A及び図12Bは撮影レンズの瞳上での固体撮像素子の受光分布説明図で、図12Aは光電変換部が2つに分割された焦点検出を行う画素の光電変換部の位置とマイクロレンズの位置が設計上の値に対してずれが生じている場合の受光領域の分布を示している。同図において、一方の光電変換部の受光領域Sαともう片方の光電変換部の受光領域Sβは撮影レンズの光軸(図中x軸とy軸の交点)に対して−x方向にずれている。
一方、カメラの撮影レンズの焦点状態を検出する場合、撮影画面の中央に位置する被写体のみならず、通常撮影画面の周辺に位置する被写体に対しても焦点検出が可能である。
図12Bは、光電変換部の位置とマイクロレンズの位置が設計上の値に対してずれが生じている固体撮像素子の、撮影画面の周辺に対応する焦点検出用画素の受光分布の説明図である。撮影画面の周辺では、撮影レンズのレンズ枠による光束のけられ、いわゆる口径蝕が生じてしまうため、図中一方の光電変換部の受光領域Sαは狭くなってしまう。
そのため、撮影レンズの瞳上の領域Sαを透過した光束により生成された像と領域Sβを透過した光束により生成される像の一致度は低くなる。その結果、領域Sαを透過した光束により生成された像と領域Sβを透過した光束により生成される像に基づいて相関演算を行っても、精度の高い焦点検出ができないという欠点があった。
本発明は上記問題点を鑑みてなされたものであり、固体撮像素子の製造誤差に関わらず、より精度の高い焦点検出ができるようにすることを目的とする。
本発明によれば、撮影レンズの焦点状態を検出するための相関演算用の像を形成する信号を出力する固体撮像素子であって、前記相関演算用の一対の像を形成する信号を出力するように、第1の焦点検出用画素対として、光電変換部に対して電極を用いてシフトされた位置に開口が形成された複数の画素部を含む第1の画素ラインと、第2の画素ラインと、前記相関演算用の一対の像を形成する信号を出力するように、第2の焦点検出用画素対として、光電変換部に対して電極を用いてシフトされた位置に開口が形成された複数の画素部を含む第3の画素ラインと、第4の画素ラインとを有し、前記第1、第2、第3、第4の画素ラインは、それぞれ前記シフト方向に画素部が配列され、且つそれぞれのラインごとに異なるシフト量、電極を用いてシフトされた位置に開口が形成されていることを特徴とする固体撮像素子を提供する。
更に、撮影レンズの予定結像面に配設された上記記載の前記固体撮像素子と、前記第1及び第2の焦点検出用画素対が対の光束を受光する受光領域の画素内の位置と、前記複数の第1及び第2の焦点検出用画素対それぞれの前記固体撮像素子における位置と、前記撮影レンズの情報とに基づいて、前記第1及び第2の焦点検出用画素対それぞれについて前記受光領域に対応する前記撮影レンズの瞳上の領域の面積比を求める演算手段と、前記演算手段により求めた面積比が予め設定された範囲内にある焦点検出用画素対から出力された信号を用いて、焦点状態を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された焦点状態に基づいて、前記撮影レンズを制御する制御手段とを有することを特徴とする撮像装置を提供する。
本発明の更なる特徴は、(添付図面を参照して)以下の例示的な実施形態の説明により明らかになるであろう。
本発明の第1の実施形態におけるデジタルカメラの概略構成を示す図である。 本発明の第1の実施形態におけるイメージセンサの一部平面図である。 図2に示すイメージセンサの一部断面図である。 本発明の第1の実施形態におけるイメージセンサの一部に配設された焦点検出用画素の撮影レンズの瞳上での設計上の受光分布の一例を示す図である。 本発明の第1の実施形態におけるマイクロレンズと第1の電極との位置ずれが生じたイメージセンサの一部に配設された焦点検出用画素の撮影レンズの瞳上での受光分布の一例を示す図である。 本発明の第1の実施形態における焦点検出用画素群の出力により生成される線像分布図の一例を示す図である。 本発明の第1の実施形態におけるマイクロレンズと第1の電極との位置ずれが生じたイメージセンサの一部に配設された焦点検出用画素の撮影レンズの瞳上での別の受光分布の一例を示す図である。 本発明の第2の実施形態におけるイメージセンサの一部平面図である。 図8に示すイメージセンサの一部断面図である。 本発明の第2の実施形態におけるマイクロレンズと第1の電極との位置ずれが生じたイメージセンサの一部に配設された焦点検出用画素の撮影レンズの瞳上での受光分布を示す図である。 従来の固体撮像素子の受光分布の一例を示す図である。 従来の固体撮像素子の受光分布の別の一例を示す図である。
以下、添付図面を参照して本発明を実施するための最良の形態を詳細に説明する。
<第1の実施形態>
図1は、本第1の実施形態における撮像装置の一例として、デジタルカメラの概略構成を示す図である。
図1に示すデジタルカメラは、主にカメラ本体1と、カメラ本体1に対して着脱可能な撮影レンズ5により構成されている。先ず、カメラ本体1の構成について説明する。
10は複数の画素から成るイメージセンサ(固体撮像素子)で、撮影レンズ5の予定結像面に配置されている。20は、カメラ全体を制御するCPU、21はイメージセンサ10を駆動制御するイメージセンサ制御回路である。また、CPU20は、撮影レンズ5の焦点状態も算出する。また、24はイメージセンサ10にて撮像した画像信号を画像処理する画像処理回路、25は画像処理された画像を表示する液晶表示素子9を駆動する液晶表示素子駆動回路、3は液晶表示素子9に表示された被写体像を観察するための接眼レンズ3である。22は、イメージセンサ10にて撮像された画像を記録するメモリ回路、23は画像処理回路24にて画像処理された画像をカメラ外部に出力するためのインターフェース回路である。メモリ回路22は、イメージセンサ10の受光分布も記憶できるようになっている。
次に、撮影レンズ5の構成について説明する。
5a及び5bはレンズであり、ここでは便宜上2枚のレンズ5a、5bで図示しているが、実際は多数枚のレンズで構成されている。撮影レンズ5は、カメラ本体1のCPU20から送られてくる焦点調節情報を電気接点26を介してレンズCPU50にて受信し、その焦点調節情報に基づいて撮影レンズ駆動機構51によって合焦状態に調節される。また53は撮影レンズ5の瞳近傍に配設された絞り装置で、絞り駆動機構52によって所定の絞り値に絞り込まれるようになっている。
図2はイメージセンサ10の一部平面図である。
図2において、131、132は電極を示している。第1の電極131及び132で区切られた領域が1画素を示しており、各画素中に書かれた「R」「G」「B」の文字は各画素のカラーフィルタの色相を表している。「R」の文字の書かれた画素は赤の成分の光を透過し、「G」の文字の書かれた画素は緑の成分の光を透過し、「B」の文字の書かれた画素は青の成分の光を透過する。また、「R」「G」「B」の文字が書かれた各画素は、撮影レンズ5の全瞳領域を受光するように構成されている。
カラーフィルタの配列がベイヤー配列の場合、「R」と「G」及び「B」と「G」の画素が交互に配置されて構成される。本第1の実施形態におけるイメージセンサ10は「R」あるいは「B」であるべき画素の一部に、撮影レンズ5の一部の瞳領域を通過した光束を受光する焦点検出用画素が割り当てられている。図中、Pα1、Pβ1、Pα2、Pβ2、Pα3、Pβ3が撮影レンズ5の焦点状態を検出するための画素で、第1の電極131(遮光部材)にてx方向の開口が制限されている。
本第1の実施形態のイメージセンサ10の一部に配設される焦点検出用の画素は、第1の電極131にて制限される開口のx方向の画素内における開口中心位置が、画素中心に対して対称を成す異なる5種類が設定されている。
例えば、電極131_3と電極131_4とで決まる開口が画素中心に対して+x方向に偏位した焦点検出用画素Pα1に対して、x方向に4画素隣接した位置に同様の電極開口を有する焦点検出用画素が配設されている。また、焦点検出用画素Pα1に対して斜めに隣接する位置に、電極131_1と電極131_2とで決まる開口が画素中心と略一致する焦点検出用画素Pβ1が配設されている。さらに、焦点検出用画素Pβ1に対して、x方向に4画素隣接した位置に同様の電極開口を有する焦点検出用画素が配設されている。
そして、CPU20は、焦点検出用画素Pα1と同じ電極開口を有する焦点検出用画素群から第1の焦点検出用画像を生成し、同様に焦点検出用画素Pβ1と同じ電極開口を有する焦点検出用画素群から第2の焦点検出用画像を生成する。さらにCPU20は、第1の焦点検出用画像と第2の焦点検出用画像に基づいて相関演算を行うことにより、焦点検出用画素Pα1とPβ1が位置する領域での撮影レンズ5の焦点状態を検出する。
同様にCPU20は、焦点検出用画素Pα2と同じ電極開口を有する焦点検出用画素群から第3の焦点検出用画像を生成する。更に、同様にして焦点検出用画素Pβ2と同じ電極開口を有する焦点検出用画素群から第4の焦点検出用画像を生成する。さらにCPU20は、第3の焦点検出用画像と第4の焦点検出用画像に基づいて相関演算を行うことにより、焦点検出用画素Pα2とPβ2が位置する領域での撮影レンズ5の焦点状態を検出する。
同様にCPU20は、焦点検出用画素Pα3と同じ電極開口を有する焦点検出用画素群から第5の焦点検出用画像を生成する。更に、同様にして焦点検出用画素Pβ3と同じ電極開口を有する焦点検出用画素群から第6の焦点検出用画像を生成する。さらにCPU20は、第5の焦点検出用画像と第6の焦点検出用画像に基づいて相関演算を行うことにより、焦点検出用画素Pα3とPβ3が位置する領域での撮影レンズ5の焦点状態を検出する。
そして、CPU20は、焦点検出用画素Pα1とPβ1が位置する領域、焦点検出用画素Pα2とPβ2が位置する領域、そして焦点検出用画素Pα3とPβ3が位置する領域それぞれにおける撮影レンズ5の焦点状態を平均する。さらに、CPU20は焦点検出結果に基づいて撮影レンズ駆動機構51に焦点調節情報を送って、撮影レンズ5の焦点調節を行う。
一方、通常の画像の撮像時は、画素の電極開口が制限されている焦点検出用画素は欠陥画素として取り扱われ、焦点検出用画素に対応する画像信号を、焦点検出用画素の周辺に位置する画素からの画像信号により補間する。
図3は、図2のイメージセンサ10のA−A’面の断面図である。
図3の右側の画素は、撮影レンズ5の全瞳領域を通過した光束を受光可能な通常撮像用画素を示し、図中左側の画素は、撮影レンズ5の一部の瞳領域を通過した光束を受光可能な焦点検出用画素を示している。
図3に示すように、シリコン基板110の内部に光電変換部111が形成されている。光電変換部111で発生した信号電荷は、不図示のフローティングディフュージョン部、第1の電極131及び第2の電極132を介して外部に出力される。光電変換部111と第1の電極131との間には層間絶縁膜121が形成され、第1の電極131と第2の電極132との間には層間絶縁膜122が形成されている。また、第2の電極132の光入射側には層間絶縁膜123が形成され、さらにパッシべーション膜140、平坦化層150が形成されている。平坦化層150の光入射側には、カラーフィルタ層151または透明フィルタ層154、平坦化層152及びマイクロレンズ153が形成されている。ここで、マイクロレンズ153のパワーは、撮影レンズ5の瞳と光電変換部111が略共役になるように設定されている。また、イメージセンサ10の中央に位置する画素ではマイクロレンズ153は画素の中心に配設され、周辺に位置する画素では、撮影レンズ5の光軸側に偏位して配設される。
撮影レンズ5を透過した被写体光はイメージセンサ10近傍に集光される。さらにイメージセンサ10の各画素に到達した光は、マイクロレンズ153で屈折され光電変換部111に集光される。通常の撮像に使う右側の画素では、入射する光を遮光しないように第1の電極131及び第2の電極132が配設されている。
一方、左側の焦点検出用画素では、第1の電極131の一部が光電変換部111を覆うように構成されている。その結果、左側の焦点検出用画素では、撮影レンズ5の瞳の一部を透過する光束を受光可能となっている。また、第1の電極131が入射光束の一部を遮光しているために光電変換部111の出力が小さくなることを防ぐため、焦点検出用画素の透明フィルタ層154は光を吸収しない透過率の高い樹脂で形成されている。
本第1の実施形態のイメージセンサ10の一部に配設される焦点検出用画素は、マイクロレンズ153の位置と第1の電極131の開口中心の相対位置を異ならせることによって、撮影レンズ5の受光分布を異ならせるように構成している。
図4は、イメージセンサ10の一部に配設された焦点検出用画素の撮影レンズ5の瞳上での設計上の受光分布を示す図である。
図4において、401は、図2のイメージセンサ10の一部平面図に示した焦点検出用画素Pα1の、撮影レンズ5の瞳上での設計上の受光分布を示している。焦点検出用画素Pα1の電極131_3と電極131_4とで決まる開口の中心は画素の中心に対して+x方向に大きく偏位している。そのため、焦点検出用画素Pα1の光電変換部の受光可能な領域Sα1(以下、「受光領域Sα1」と呼ぶ。)の中心は、撮影レンズ5の射出瞳上のx軸上で光軸(図中x軸とy軸の交点)に対して距離−xα1だけ偏位している。
402は、図2のイメージセンサ10の一部平面図に示した焦点検出用画素Pβ1の、撮影レンズ5の瞳上での設計上の受光分布を示している。焦点検出用画素Pβ1の電極131_1と電極131_2とで決まる開口の中心は画素の中心と略一致している。そのため、焦点検出用画素Pβ1の光電変換部の受光可能な領域Sβ1(以下、「受光領域Sβ1」と呼ぶ。)の中心は、撮影レンズ5の射出瞳上の図中x軸上で光軸(図中x軸とy軸の交点)と略一致している。
411は、図2のイメージセンサ10の一部平面図に示した焦点検出用画素Pα2の、撮影レンズ5の瞳上での設計上の受光分布を示している。焦点検出用画素Pα2の電極131_3と電極131_4とで決まる開口の中心は画素の中心に対して+x方向に所定量偏位している。そのため、焦点検出用画素Pα2の光電変換部の受光可能な領域Sα2(以下、「受光領域Sα2」と呼ぶ。)の中心は、撮影レンズ5の射出瞳上の図中x軸上で光軸(図中x軸とy軸の交点)に対して距離−xα2偏位している。
412は、図2のイメージセンサ10の一部平面図に示した焦点検出用画素Pβ2の、撮影レンズ5の瞳上での設計上の受光分布を示している。焦点検出用画素Pβ2の電極131_1と電極131_2とで決まる開口の中心は画素の中心に対して−x方向に所定量偏位している。そのため、焦点検出用画素Pβ2の光電変換部の受光可能な領域Sβ2(以下、「受光領域Sβ2」と呼ぶ。)の中心は、撮影レンズ5の射出瞳上の図中x軸上で光軸(図中x軸とy軸の交点)に対して距離xβ2偏位している。
421は、図2のイメージセンサ10の一部平面図に示した焦点検出用画素Pα3の、撮影レンズ5の瞳上での設計上の受光分布を示している。焦点検出用画素Pα3の電極131_3と電極131_4とで決まる開口の中心は画素の中心と略一致している。そのため、焦点検出用画素Pα3の光電変換部の受光可能な領域Sα3(以下、「受光領域Sα3」と呼ぶ。)の中心は、撮影レンズ5の射出瞳上の図中x軸上で光軸(図中x軸とy軸の交点)と略一致している。ここで、焦点検出用画素Pα3の撮影レンズ5の瞳上での設計上の受光分布は、焦点検出用画素Pβ1の撮影レンズ5の瞳上での設計上の受光分布と略一致している。
422は、図2のイメージセンサ10の一部平面図に示した焦点検出用画素Pβ3の、撮影レンズ5の瞳上での設計上の受光分布を示している。焦点検出用画素Pβ3の電極131_1と電極131_2とで決まる開口の中心は画素の中心に対して−x方向に大きく偏位している。そのため、焦点検出用画素Pβ3の光電変換部の受光可能な領域Sβ3(以下、「受光領域Sβ3」と呼ぶ。)の中心は、撮影レンズ5の射出瞳上の図中x軸上で光軸(図中x軸とy軸の交点)に対して距離xβ3偏位している。
400は、図2のイメージセンサ10の一部平面図に示した通常撮像用画素の、撮影レンズ5の瞳上での設計上の受光分布を示している。通常撮像用画素の電極131は光電変換部を遮光しないように構成されているため、通常撮像用画素の光電変換部は、撮影レンズ5の全瞳領域Sγを透過した光束を受光可能である。このとき通常撮像用画素の受光可能な領域Sγの中心は、撮影レンズ5の射出瞳上の光軸(図中x軸とy軸の交点)と略一致している。
以上のように、本第1の実施形態におけるイメージセンサ10は、受光分布の中心がx軸上の異なる位置に存在する7種類の画素群から構成されている。
図5は、マイクロレンズ153と第1の電極131との位置ずれが生じたイメージセンサ10の一部に配設された、撮影画面の周辺に位置する焦点検出用画素の撮影レンズ5の瞳上での受光分布説明図、図6A〜図6Cは、焦点検出用画素群からの信号で生成される線像分布図である。図5は、第1の電極131に対してマイクロレンズ153が設計値に対して−x方向に位置ずれしたイメージセンサ10の、イメージセンサ10の中心に対して−x方向に位置する焦点検出用画素群の受光分布を示している。イメージセンサ10の焦点検出用画素自身の受光分布はメモリ回路22に記憶されている。
第1の電極131に対してマイクロレンズ153が設計値から−x方向に位置ずれした場合、イメージセンサ10の焦点検出用画素の受光分布は、撮影レンズ5の瞳上で一律−x方向に偏位する。また、イメージセンサ10の中心に対して−x方向に位置する焦点検出用画素群では、撮影レンズ5のレンズ枠により図中−x方向側から光束がけられてしまう。
図5において、501は、図2のイメージセンサ10の一部平面図に示した焦点検出用画素Pα1の、撮影レンズ5の瞳上での受光分布を示している。電極131_3と電極131_4とで決まる焦点検出用画素Pα1の開口の中心、即ち、焦点検出用画素Pα1の光電変換部の受光領域Sα1の中心は、画素の中心に対して+x方向に大きく偏位している。従って、受光領域Sα1の中心は、撮影レンズ5の射出瞳上で光軸(図中x軸とy軸の交点)に対してさらに−x方向に偏位した距離−xα1’となる。さらに、撮影レンズ5のレンズ枠により図中−x方向側から光束がけられてしまうため、焦点検出用画素Pα1の受光可能な領域は狭くなる。
502は、図2のイメージセンサ10の一部平面図に示した焦点検出用画素Pβ1の、撮影レンズ5の瞳上での受光分布を示している。電極131_1と電極131_2とで決まる焦点検出用画素Pβ1の開口の中心、即ち、焦点検出用画素Pβ1の光電変換部の受光領域Sβ1の中心は、画素の中心と略一致している。従って、領域Sβ1の中心は、撮影レンズ5の射出瞳上で光軸(図中x軸とy軸の交点)に対してさらに−x方向に偏位した距離−xβ1‘となる。
図6Aは、焦点検出用画素Pα1で代表される焦点検出用画素群からの信号により生成される線像分布Iα1及び焦点検出用画素Pβ1で代表される焦点検出用画素群からの信号により生成される線像分布Iβ1を示している。焦点検出用画素Pα1の撮影レンズ5の瞳上の受光領域Sα1の面積と焦点検出用画素Pβ1の撮影レンズ5の瞳上の受光領域Sβ1の面積は大きく異なるため、線像分布Iα1と線像分布Iβ1の出力差が大きくなる。その結果、焦点検出用画素Pα1で代表される焦点検出用画素群からの信号により生成される焦点検出像と焦点検出用画素Pβ1で代表される焦点検出用画素群からの信号により生成される焦点検出像を用いて撮影レンズ5の焦点状態の検出を行っても、精度の高い焦点検出はできない。
そこで、本第1の実施形態では、焦点検出用画素Pα1及びPβ1にそれぞれ代表される焦点検出用画素群の撮影レンズ5の瞳上の受光分布を、焦点検出用画素自身の受光分布及びイメージセンサ10上の位置情報、及び撮影レンズ5の情報に基づいて推定する。そして、所定の焦点検出用画素群で生成される像に基づいて精度良く焦点検出ができるかどうかを判定する。例えば、CPU20は、焦点検出用画素Pα1に対応する撮影レンズ5の瞳上の受光領域Sα1の面積と焦点検出用画素Pβ1に対応する撮影レンズ5の瞳上の受光領域Sβ1の面積との比を計算する。そして、面積比が予め設定された範囲内にある焦点検出用画素群から得られる像を用い、範囲外(例えば、2倍以上あるいは1/2以下)の焦点検出用画素群から得られる像を用いて焦点検出を行わないように構成している。本第1の実施形態における焦点検出用画素Pα1の撮影レンズ5の瞳上の受光領域Sα1の面積と焦点検出用画素Pβ1の撮影レンズ5の瞳上の受光領域Sβ1の面積との比はおおよそ1/3である。そのため、CPU20は焦点検出用画素Pα1及びPβ1で代表される焦点検出用画素群から得られる像に基づいた焦点検出は実行しない。
図5において511は、図2のイメージセンサ10の一部平面図に示した焦点検出用画素Pα2の、撮影レンズ5の瞳上での受光分布を示している。電極131_3と電極131_4とで決まる焦点検出用画素Pα2の開口の中心、即ち、焦点検出用画素Pα2の光電変換部の受光領域Sα2の中心は、画素の中心に対して+x方向に所定量偏位している。従って、領域Sα2の中心は、撮影レンズ5の射出瞳上で光軸(図中x軸とy軸の交点)に対してさらに−x方向に偏位した距離−xα2’となる。さらに、撮影レンズ5のレンズ枠により図中−x方向側から光束がけられてしまうため、焦点検出用画素Pα2の受光領域は狭くなる。
512は、図2のイメージセンサ10の一部平面図に示した焦点検出用画素Pβ2の、撮影レンズ5の瞳上での受光分布を示している。電極131_1と電極131_2とで決まる焦点検出用画素Pβ2の開口の中心、即ち、焦点検出用画素Pβ2の光電変換部の受光領域Sβ2の中心は、画素の中心に対して−x方向に所定量偏位している。従って、受光領域Sβ2の中心は、撮影レンズ5の射出瞳上で光軸(図中x軸とy軸の交点)に対してさらに−x方向に偏位した距離xβ2’となる。
図6Bは、焦点検出用画素Pα2で代表される焦点検出用画素群からの信号により生成される線像分布Iα2及び焦点検出用画素Pβ2で代表される焦点検出用画素群からの信号により生成される線像分布Iβ2を示している。焦点検出用画素Pα2の撮影レンズ5の瞳上の受光領域Sα2の面積と焦点検出用画素Pβ2の撮影レンズ5の瞳上の受光領域Sβ2の面積は若干異なるため、線像分布Iα2と線像分布Iβ2に若干の出力差が生じる。
そこで、本第1の実施形態では、焦点検出用画素Pα2及びPβ2にそれぞれ代表される焦点検出用画素群の撮影レンズ5の瞳上の受光分布を、焦点検出用画素自身の受光分布及びイメージセンサ10上の位置情報、及び撮影レンズ5の情報に基づいて推定する。そして、所定の焦点検出用画素群で生成される像に基づいて精度良く焦点検出ができるかどうかを判定する。例えば、CPU20は、焦点検出用画素Pα2の撮影レンズ5の瞳上の受光領域Sα2の面積と焦点検出用画素Pβ2の撮影レンズ5の瞳上の受光領域Sβ2の面積との比を計算する。そして、面積比が予め設定された範囲内にある焦点検出用画素群から得られる像を用い、範囲外(例えば、2倍以上あるいは1/2以下)の焦点検出用画素群から得られる像を用いて焦点検出を行わないように構成している。本第1の実施形態における焦点検出用画素Pα2の撮影レンズ5の瞳上の受光領域Sα2の面積と焦点検出用画素Pβ2の撮影レンズ5の瞳上の受光領域Sβ2の面積との比はおおよそ4/5である。そのため、CPU20は焦点検出用画素Pα2及びPβ2で代表される焦点検出用画素群からの信号により得られる像に基づいた焦点検出を行う。このときCPU20は、焦点検出用画素Pα2及びPβ2で代表される焦点検出用画素群からの信号により得られる像に対して、先に求めた撮影レンズ5の瞳上の受光領域の面積比に基づいてゲイン補正を行い、焦点検出精度を向上させている。
図5において、521は、図2のイメージセンサ10の一部平面図に示した焦点検出用画素Pα3の、撮影レンズ5の瞳上での受光分布を示している。電極131_3と電極131_4とで決まる焦点検出用画素Pα3の開口の中心、即ち、焦点検出用画素Pα3の光電変換部の受光領域Sα3の中心は、画素の中心と略一致している。従って、受光領域Sα3の中心は、撮影レンズ5の射出瞳上で光軸(図中x軸とy軸の交点)に対してさらに−x方向に偏位した距離−xα3’となる。さらに、撮影レンズ5のレンズ枠により図中−x方向側から光束がけられてしまうため、焦点検出用画素Pα3の受光可能な領域は狭くなる。ここで、焦点検出用画素Pα3の撮影レンズ5の瞳上での受光分布は、焦点検出用画素Pβ1の撮影レンズ5の瞳上での受光分布と略一致している。
522は、図2のイメージセンサ10の一部平面図に示した焦点検出用画素Pβ3の、撮影レンズ5の瞳上での受光分布を示している。電極131_1と電極131_2とで決まる焦点検出用画素Pβ3の開口の中心、即ち、焦点検出用画素Pβ3の光電変換部の受光領域Sβ3の中心は、画素の中心に対して−x方向に大きく偏位している。従って、受光領域Sβ3の中心は、撮影レンズ5の射出瞳上で光軸(図中x軸とy軸の交点)に対してさらに−x方向に偏位した距離xβ3’となる。
図6Cは、焦点検出用画素Pα3で代表される焦点検出用画素群からの信号により生成される線像分布Iα3及び焦点検出用画素Pβ3で代表される焦点検出用画素群からの信号により生成される線像分布Iβ3を示している。焦点検出用画素Pα3の撮影レンズ5の瞳上の受光領域Sα3の面積と焦点検出用画素Pβ3の撮影レンズ5の瞳上の受光領域Sβ3の面積は略同一のため、線像分布Iα3と線像分布Iβ3の出力は略同じになる。
そこで、本第1の実施形態では、焦点検出用画素Pα3及びPβ3にそれぞれ代表される焦点検出用画素群の撮影レンズ5の瞳上の受光分布を、焦点検出用画素自身の受光分布及びイメージセンサ10上の位置情報、及び撮影レンズ5の情報に基づいて推定する。そして、所定の焦点検出用画素群で生成される像に基づいて精度良く焦点検出ができるかどうかを判定する。例えば、CPU20は、焦点検出用画素Pα3の撮影レンズ5の瞳上の受光領域Sα3の面積と焦点検出用画素Pβ3の撮影レンズ5の瞳上の受光領域Sβ3の面積との比を計算する。そして、面積比が予め設定された範囲内にある焦点検出用画素群から得られる像を用い、範囲外(例えば、2倍以上あるいは1/2以下)の焦点検出用画素群から得られる像を用いて焦点検出を行わないように構成している。本第1の実施形態における焦点検出用画素Pα3の撮影レンズ5の瞳上の受光領域Sα3の面積と焦点検出用画素Pβ3の撮影レンズ5の瞳上の受光領域Sβ3の面積との比はおおよそ1である。そのため、CPU20は焦点検出用画素Pα3及びPβ3で代表される焦点検出用画素群で得られる像に基づいた焦点検出行う。
図5において、500は、図2のイメージセンサ10の一部平面図に示した通常撮像用画素の、撮影レンズ5の瞳上での受光分布を示している。通常撮像用画素の第1の電極131は光電変換部を遮光しないように構成されているため、通常撮像用画素の光電変換部は、撮影レンズ5の全瞳領域Sγを受光可能である。但し、撮影レンズ5のレンズ枠により図中−x方向側から光束がけられてしまうため、受光可能な領域は狭くなる。
以上のように本第1の実施形態によれば、CPU20は、イメージセンサ10を構成するマイクロレンズ153と第1の電極131との位置ずれによる焦点検出用画素の受光分布の偏りや、撮影レンズ5のレンズ枠による光束のけられが大きいことを判定する。そして、その判定結果に基づいて、焦点検出を行う焦点検出用画素群を選択する。本第1の実施形態ではCPU20は、焦点検出用画素Pα2とPβ2が位置する領域での撮影レンズ5の焦点状態及び焦点検出用画素Pα3とPβ3が位置する領域での撮影レンズ5の焦点状態を平均する。さらにCPU20は、焦点検出結果に基づいて撮影レンズ駆動機構51に焦点調節情報を送って、撮影レンズ5の焦点調節を行う。
なお、本第1の実施形態では、撮影レンズ5の瞳上でのイメージセンサ10の受光分布の形状をスリット状にした例を示した。しかしながら、図7の701〜722のイメージセンサの受光分布図に示すように、撮影レンズ5の瞳領域を2分割して、かつ受光領域の中心が異なるように構成しても構わない。例えば、図7に示すように、受光分布の中心がx軸上の異なる位置に存在する7種類の画素群から構成されたイメージセンサ10であってもよい。なお、700は図2のイメージセンサ10の一部平面図に示した通常撮像用画素の、撮影レンズ5の瞳上での受光分布を表している。
<第2の実施形態>
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。なお、本第2の実施形態におけるデジタルカメラの概略構成は、上記第1の実施形態で図1を参照して説明したものと同様であるので、ここでは説明を省略する。
図8は、本第2の実施形態におけるイメージセンサ10の一部平面図である。
図8において、131、132は電極を示している。また、Pa、Pb、Pcは焦点検出用画素を示し、タングステン等の遮光部材113で光電変換部111を覆うことによって、撮影レンズ5の瞳を透過した光束の受光領域を制限するように構成している。なお、画素Paは第1の焦点検出用画素で、白抜き領域は第1の焦点検出用画素の受光領域対である。また、画素Pbは第3の焦点検出用画素で、白抜き領域は第3の焦点検出用画素の受光領域対である。また、画素Pcは第2の焦点検出用画素で、白抜き領域は第2の焦点検出用画素の受光領域対である。図8に示すように、第1〜第3の焦点検出用画素の受光領域対は、画素内において、互いに所定量シフトした位置に構成されている。また、受光領域対の各領域からは、光電変換により得られた信号をそれぞれ独立して読み出すことが可能な構成としている。
本第2の実施形態では、撮影レンズの瞳をx方向に分割する焦点検出用画素群と、撮影レンズ5の瞳をy方向に分割する焦点検出用画素群とから構成されている。以下、撮影レンズ5の瞳をx方向に分割する焦点検出用画素に関して説明する。
図9は、図8のイメージセンサ10のB−B′面の断面図である。
図9の右側の画素は、撮影レンズ5の全瞳領域を通過した高速を受光可能な通常撮像用画素を示し、図中左側の画素は、撮影レンズ5の一部の瞳領域からの光束を受光可能な焦点検出用画素を示している。なお、図9において、図3に示す構成と同様の役割を果たす構成には同じ参照番号を付している。
図9に示すように、シリコン基板110の内部に光電変換部111が形成されている。光電変換部111で発生した信号電荷は、不図示のフローティングディフュージョン部、第1の電極131及び第2の電極132を介して外部に出力される。光電変換部111と第1の電極131との間には層間絶縁膜121が形成され、第1の電極131と第2の電極132との間には層間絶縁膜122が形成されている。また、第2の電極132の光入射側には層間絶縁膜123が形成され、さらにパッシべーション膜140、平坦化層150が形成されている。平坦化層150の光入射側には、カラーフィルタ層151または透明フィルタ層154、平坦化層152及びマイクロレンズ153が形成されている。ここで、マイクロレンズ153のパワーは、撮影レンズ5の瞳と光電変換部111が略共役になるように設定されている。
撮影レンズ5を透過した被写体光はイメージセンサ10近傍に集光される。さらにイメージセンサ10の各画素に到達した光は、マイクロレンズ153で屈折され光電変換部111に集光される。このとき、第1の電極131及び第2の電極132は入射する光を遮光しないように配設されている。
通常の撮像時には欠陥画素として取り扱われる図中左側の焦点検出用画素では、光電変換部111が、第1の光電変換部111_1と第2の光電変換部111_2とに、酸化膜層112で分割されている。さらに、一方の光電変換部111_2の光入射側には、タングステンによる遮光層113_1〜3が形成されている。その結果、図中左側の焦点検出用画素の光電変換部111_1及び光電変換部111_2では、撮影レンズ5の瞳の一部を透過する光束を受光可能となっている。また、焦点検出用画素の光電変換部111からの出力が小さくなることを防ぐために、焦点検出用画素の透明フィルタ層154は光を吸収しない透過率の高い樹脂で形成されている。
図10は、イメージセンサ10の一部に配設された焦点検出用画素の撮影レンズ5の瞳上での設計上の受光分布を示す図で、本第2の実施形態では焦点検出用画素の各光電変換部は図10に示す4種類の受光分布のいずれかを有する。
図10において、1001は、図8のイメージセンサ10の一部平面図に示した焦点検出用画素Pcの、撮影レンズ5の瞳上での設計上の受光分布を示している。焦点検出用画素Pcの2つに分割された光電変換部の開口部の重心は画素の中心に対して+x方向に偏位している。そのため、焦点検出用画素Pcの第1の光電変換部の受光領域Sα1と第2の光電変換部の受光領域Sβ1の重心は、撮影レンズの射出瞳上で光軸(図中x軸とy軸の交点)に対して−x方向に偏位している。
例えば、製造上の誤差で光電変換部111に対してマイクロレンズ153が設計値に対して+x方向に位置ずれしているものとする。その場合、撮影レンズ5の瞳上で焦点検出用画素Pcの第1の光電変換部の受光領域Sα1と第2の光電変換部の受光領域Sβ1は設計値に対して+x方向に偏位する。その結果、第1の光電変換部の受光領域Sα1と第2の光電変換部の受光領域Sβ1の重心は撮影レンズ5の光軸寄りに偏位するため、2つの光電変換部から出力される2つの焦点検出像の相関性が向上し焦点検出精度が高まる。
1002は、図8のイメージセンサ10の一部平面図に示した焦点検出用画素Pbの、撮影レンズ5の瞳上での設計上の受光分布を示している。焦点検出用画素Pbの2つに分割された光電変換部の開口部の重心は画素の中心と略一致している。そのため、焦点検出用画素Pbの第1の光電変換部の受光領域Sα2と第2の光電変換部の受光領域Sβ2の重心は、撮影レンズの射出瞳上で光軸(図中x軸とy軸の交点)と略一致している。ここで、焦点検出用画素Pcの第2の光電変換部の受光領域Sβ1と焦点検出用画素Pbの第1の光電変換部の受光領域Sα2は略一致している。
例えば、製造上の誤差で光電変換部111に対してマイクロレンズ153が設計値に対して位置ずれしたものとする。その場合、撮影レンズ5の瞳上で焦点検出用画素Pbの第1の光電変換部の受光領域Sα2と第2の光電変換部の受光領域Sβ2は設計値に対して偏位する。そのため、第1の光電変換部の受光領域Sα2と第2の光電変換部の受光領域Sβ2の重心は撮影レンズの光軸から偏位して受光領域Sα2と受光領域Sβ2の面積比も変化するが、その面積比の変化は小さい。その結果、2つの光電変換部から出力される2つの焦点検出像の相関性は低下するものの、2つの焦点検出像を用いた焦点検出は可能である。
1003は、図8のイメージセンサ10の一部平面図に示した焦点検出用画素Paの、撮影レンズ5の瞳上での設計上の受光分布を示している。焦点検出用画素Paの2つに分割された光電変換部の開口部の重心は画素の中心に対して−x方向に偏位している。そのため、焦点検出用画素Paの第1の光電変換部の受光領域Sα3と第2の光電変換部の受光領域Sβ3の重心は、撮影レンズ5の射出瞳上で光軸(図中x軸とy軸の交点)に対して+x方向に偏位している。ここで、焦点検出用画素Pbの第2の光電変換部の受光領域Sβ2と焦点検出用画素Paの第1の光電変換部の受光領域Sα3は略一致している。
例えば、製造上の誤差で光電変換部111に対してマイクロレンズ153が設計値に対して−x方向に位置ずれしているものとする。その場合、撮影レンズ5の瞳上で焦点検出用画素Paの第1の光電変換部の受光領域Sα3と第2の光電変換部の受光領域Sβ3は設計値に対して−x方向に偏位する。その結果、第1の光電変換部の受光領域Sα3と第2の光電変換部の受光領域Sβ3の重心は撮影レンズ5の光軸寄りに偏位するため、2つの光電変換部から出力される2つの焦点検出像の相関性が向上し、焦点検出精度が高まる。
1000は、図8のイメージセンサ10の一部平面図に示した通常撮像用画素の、撮影レンズ5の瞳上での設計上の受光分布を示している。通常撮像用画素はタングステン等の遮光膜で光電変換部を遮光しないように構成されているため、通常撮像用画素の光電変換部は、撮影レンズ5の全瞳領域Sγを透過した光束を受光可能である。
なお、上記では、光電変換部がx軸方向に分割された焦点検出用画素について説明したが、図8のy軸方向に光電変換部が分割された焦点検出用画素についても同様である。
上記の通り、本第2の実施形態によれば、焦点検出用画素の各光電変換部は受光分布の重心がx軸またはy軸上に存在する6種類のいずれかの構成を有する。これにより、イメージセンサ10のマイクロレンズと光電変換部の位置ずれが生じても、いずれかの焦点検出用画素群にて焦点検出が可能である。
また、本第2の実施形態のイメージセンサ10は、焦点検出用画素と通常撮像用画素から構成された例を示したが、各光電変換部の受光分布の重心がx軸またはy軸上に存在するそれぞれ3種類の受光分布を有する焦点検出用画素群のみから構成されていても構わない。その際、通常画像を撮影する際は、異なる受光分布の光電変換部の出力を加算することにより画像を生成することが可能である。
また、第1の実施形態における焦点検出用画素では、電極により光電変換部への光の一部を遮光する遮光層により前記開口が形成されている。第2の実施形態における焦点検出用画素では、タングステンにより、光電変換部への光の一部を遮光する遮光層により前記開口が形成されている。この点、遮光の仕方は、第1の実施形態と第2の実施形態とで逆であってもよい。なお、第2の実施形態で説明したタングステンによる遮光の方が、電極による場合よりも光電変換部に近いところで遮光できる。そのため、第2の実施形態で説明したタングステンによる遮光の方が、電極による場合よりも通常撮像用画素と焦点検出用画素とで結像する位置が近いため、より良好である。
本発明は実施形態を参照して説明されているが、本発明は実施形態の開示に限定されないことは理解されるべきである。後述の特許請求の範囲は、すべての変更及び均等構造と機能を包含するように最も広い解釈に従うべきである。
本出願は、本出願に対して参照によりその構成部分として全体が編入された2008年11月27日出願の日本国特許出願2008−257788の利益を主張するものである。

Claims (5)

  1. 撮影レンズの焦点状態を検出するための相関演算用の像を形成する信号を出力する固体撮像素子であって、
    前記相関演算用の一対の像を形成する信号を出力するように、第1の焦点検出用画素対として、光電変換部に対して電極を用いてシフトされた位置に開口が形成された複数の画素部を含む第1の画素ラインと、第2の画素ラインと、
    前記相関演算用の一対の像を形成する信号を出力するように、第2の焦点検出用画素対として、光電変換部に対して電極を用いてシフトされた位置に開口が形成された複数の画素部を含む第3の画素ラインと、第4の画素ラインとを有し、
    前記第1、第2、第3、第4の画素ラインは、それぞれ前記シフト方向に画素部が配列され、且つそれぞれのラインごとに異なるシフト量、電極を用いてシフトされた位置に開口が形成されていることを特徴とする固体撮像素子。
  2. 前記電極は、対の光束をそれぞれ通す位置に前記開口を有することを特徴とする請求項1に記載の固体撮像素子。
  3. 前記第1の焦点検出用画素対が受光する対の光束が透過した瞳領域から所定量シフトし、且つ、前記第2の焦点検出用画素対が受光する対の光束が透過した瞳領域とは異なる瞳領域を透過した対の光束をそれぞれ受光する第3の焦点検出用画素対として、光電変換部に対して電極を用いてシフトされた位置に開口が形成された複数の画素部を含む第5の画素ラインと、第6の画素ラインとを有し、
    前記第1の焦点検出用画素対が受光する対の光束が透過した瞳領域と、前記第2の焦点検出用画素対が受光する対の光束が透過した瞳領域は、前記第3の焦点検出用画素対が受光する対の光束が透過した瞳領域に対して、対称な位置にあることを特徴とする請求項1または2に記載の固体撮像素子。
  4. 前記電極は、光電変換部への光の一部を遮光して開口規制ることで前記シフトされた位置に前記開口を形成ていることを特徴とする請求項1に記載の固体撮像素子。
  5. 撮影レンズの予定結像面に配設された請求項1に記載の前記固体撮像素子と、
    前記第1及び第2の焦点検出用画素対が対の光束を受光する受光領域の画素内の位置と、前記複数の第1及び第2の焦点検出用画素対それぞれの前記固体撮像素子における位置と、前記撮影レンズの情報とに基づいて、前記第1焦点検出用画素対の一方の前記受光領域に対する前記第1焦点検出用画素対の他方の前記受光領域の前記撮影レンズの瞳上の領域の面積比と、前記第2焦点検出用画素対の一方の前記受光領域に対する前記第2焦点検出用画素対の他方の前記受光領域の前記撮影レンズの瞳上の領域の面積比とを求める演算手段と、
    前記演算手段により求めた面積比が予め設定された範囲内にある焦点検出用画素対から出力された信号を用いて、焦点状態を検出する検出手段と、
    前記検出手段により検出された焦点状態に基づいて、前記撮影レンズを制御する制御手段と
    を有することを特徴とする撮像装置。
JP2011515623A 2008-11-27 2009-11-11 固体撮像素子及び撮像装置 Active JP5465244B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011515623A JP5465244B2 (ja) 2008-11-27 2009-11-11 固体撮像素子及び撮像装置

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008302906 2008-11-27
JP2008302906 2008-11-27
JP2011515623A JP5465244B2 (ja) 2008-11-27 2009-11-11 固体撮像素子及び撮像装置
PCT/JP2009/069514 WO2010061756A1 (en) 2008-11-27 2009-11-11 Solid-state image sensing element and image sensing apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012505422A JP2012505422A (ja) 2012-03-01
JP5465244B2 true JP5465244B2 (ja) 2014-04-09

Family

ID=42225632

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011515623A Active JP5465244B2 (ja) 2008-11-27 2009-11-11 固体撮像素子及び撮像装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8913175B2 (ja)
EP (1) EP2370846A4 (ja)
JP (1) JP5465244B2 (ja)
KR (1) KR101342968B1 (ja)
CN (1) CN102227665B (ja)
WO (1) WO2010061756A1 (ja)

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5161702B2 (ja) * 2008-08-25 2013-03-13 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像システム、及び焦点検出方法
JP5455397B2 (ja) * 2009-03-02 2014-03-26 キヤノン株式会社 光学機器
JP5662667B2 (ja) * 2009-10-08 2015-02-04 キヤノン株式会社 撮像装置
JP5693082B2 (ja) * 2010-08-09 2015-04-01 キヤノン株式会社 撮像装置
US8760517B2 (en) * 2010-09-27 2014-06-24 Apple Inc. Polarized images for security
JP5697433B2 (ja) * 2010-12-22 2015-04-08 キヤノン株式会社 画像処理装置及び画像処理方法
JP2012182332A (ja) * 2011-03-02 2012-09-20 Sony Corp 撮像素子および撮像装置
JP5935237B2 (ja) * 2011-03-24 2016-06-15 ソニー株式会社 固体撮像装置および電子機器
WO2012132797A1 (ja) * 2011-03-31 2012-10-04 富士フイルム株式会社 撮像装置及び撮像方法
JP5404693B2 (ja) * 2011-05-18 2014-02-05 キヤノン株式会社 撮像素子、それを具備した撮像装置及びカメラシステム
JP5956782B2 (ja) * 2011-05-26 2016-07-27 キヤノン株式会社 撮像素子及び撮像装置
JP2013004635A (ja) 2011-06-14 2013-01-07 Canon Inc 撮像素子、撮像装置、及び、形成方法
WO2013046973A1 (ja) * 2011-09-29 2013-04-04 富士フイルム株式会社 固体撮像素子、撮像装置、及び合焦制御方法
JP5556823B2 (ja) * 2012-01-13 2014-07-23 株式会社ニコン 固体撮像装置および電子カメラ
JP6053505B2 (ja) 2012-01-18 2016-12-27 キヤノン株式会社 固体撮像装置
JP5710835B2 (ja) * 2012-03-21 2015-04-30 富士フイルム株式会社 撮像装置
WO2013147199A1 (ja) * 2012-03-30 2013-10-03 株式会社ニコン 撮像素子、撮影方法、および撮像装置
JP5947602B2 (ja) * 2012-04-11 2016-07-06 キヤノン株式会社 撮像装置
JP6288909B2 (ja) 2012-10-19 2018-03-07 キヤノン株式会社 撮像素子及び撮像装置
JP6148530B2 (ja) * 2013-05-02 2017-06-14 キヤノン株式会社 固体撮像装置及びカメラ
JP6186900B2 (ja) * 2013-06-04 2017-08-30 ソニー株式会社 固体撮像装置、電子機器、レンズ制御方法、および撮像モジュール
JP6338443B2 (ja) * 2013-07-11 2018-06-06 キヤノン株式会社 固体撮像素子およびそれを用いた撮像装置
JP6347620B2 (ja) * 2014-02-13 2018-06-27 キヤノン株式会社 固体撮像素子及び撮像装置
JP6363857B2 (ja) * 2014-03-24 2018-07-25 キヤノン株式会社 撮像素子、撮像装置、画像処理方法、並びにプログラム
KR20150121564A (ko) 2014-04-21 2015-10-29 삼성전자주식회사 촬상 소자 및 촬영 장치
KR102268712B1 (ko) 2014-06-23 2021-06-28 삼성전자주식회사 자동 초점 이미지 센서 및 이를 포함하는 디지털 영상 처리 장치
JP2016038414A (ja) * 2014-08-05 2016-03-22 キヤノン株式会社 焦点検出装置およびその制御方法、並びに撮像装置
WO2016098624A1 (ja) * 2014-12-18 2016-06-23 ソニー株式会社 固体撮像素子、撮像装置、および電子機器
JP6518071B2 (ja) * 2015-01-26 2019-05-22 キヤノン株式会社 固体撮像装置およびカメラ
JP6750635B2 (ja) * 2016-01-08 2020-09-02 株式会社ニコン 撮像素子および撮像装置
US10283538B2 (en) 2016-02-17 2019-05-07 Canon Kabshiki Kaisha Imaging device and method of driving imaging device
DE102017115021A1 (de) * 2017-07-05 2019-01-10 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Digitale Bestimmung der Fokusposition
JP2018107460A (ja) * 2018-02-02 2018-07-05 キヤノン株式会社 撮像素子及び撮像装置

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4410804A (en) 1981-07-13 1983-10-18 Honeywell Inc. Two dimensional image panel with range measurement capability
DE3331444A1 (de) * 1982-09-03 1984-03-08 Asahi Kogaku Kogyo K.K., Tokyo Scharfeinstellungsdetektorvorrichtung
JPS59133512A (ja) 1983-01-21 1984-07-31 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 焦点検出装置
JPH0756530B2 (ja) 1986-03-31 1995-06-14 株式会社ニコン 撮影レンズ鏡筒およびカメラ
JP2959142B2 (ja) 1991-02-22 1999-10-06 ソニー株式会社 固体撮像装置
JP3240648B2 (ja) 1991-11-01 2001-12-17 キヤノン株式会社 焦点検出装置
JP4120020B2 (ja) * 1997-03-26 2008-07-16 ソニー株式会社 固体撮像装置
JP3592147B2 (ja) 1998-08-20 2004-11-24 キヤノン株式会社 固体撮像装置
JP2002258142A (ja) 2001-02-28 2002-09-11 Canon Inc 撮像装置
EP1341235A3 (en) 2002-02-28 2006-05-10 Canon Kabushiki Kaisha Image pickup apparatus
JP2005106994A (ja) 2003-09-29 2005-04-21 Canon Inc 焦点検出装置、撮像装置、それらの制御方法
US7060961B2 (en) 2003-12-12 2006-06-13 Canon Kabushiki Kaisha Image sensing element and optical instrument having improved incident light use efficiency
JP2006071656A (ja) 2004-08-31 2006-03-16 Canon Inc 焦点検出装置
JP2006208802A (ja) 2005-01-28 2006-08-10 Kyocera Corp 光電変換装置、焦点検出装置、焦点検出方法、および撮像装置
JP4910366B2 (ja) 2005-11-09 2012-04-04 株式会社ニコン 焦点検出装置、光学システムおよび焦点検出方法
JP4797606B2 (ja) * 2005-12-01 2011-10-19 株式会社ニコン 撮像装置
US7711261B2 (en) * 2006-04-11 2010-05-04 Nikon Corporation Imaging device, camera and image processing method
JP4867566B2 (ja) 2006-10-18 2012-02-01 株式会社ニコン 撮像素子、焦点検出装置および撮像装置
JP5003132B2 (ja) 2006-12-07 2012-08-15 ソニー株式会社 撮像素子および撮像装置
JP4992481B2 (ja) * 2007-03-09 2012-08-08 株式会社ニコン 焦点検出装置および撮像装置
WO2008132812A1 (ja) 2007-04-20 2008-11-06 Nikon Corporation 固体撮像素子およびこれを用いた撮像装置
JP5028154B2 (ja) 2007-06-20 2012-09-19 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法
JP4935544B2 (ja) 2007-07-06 2012-05-23 株式会社ニコン 撮像装置
JP5067148B2 (ja) * 2007-12-13 2012-11-07 株式会社ニコン 撮像素子、焦点検出装置および撮像装置
US7745779B2 (en) 2008-02-08 2010-06-29 Aptina Imaging Corporation Color pixel arrays having common color filters for multiple adjacent pixels for use in CMOS imagers
JP5050928B2 (ja) * 2008-02-28 2012-10-17 ソニー株式会社 撮像装置および撮像素子
JP5276371B2 (ja) 2008-07-09 2013-08-28 キヤノン株式会社 撮像装置
JP2010020015A (ja) 2008-07-09 2010-01-28 Canon Inc 撮像装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN102227665B (zh) 2015-02-25
EP2370846A4 (en) 2013-12-11
KR20110084332A (ko) 2011-07-21
KR101342968B1 (ko) 2013-12-19
WO2010061756A1 (en) 2010-06-03
JP2012505422A (ja) 2012-03-01
US8913175B2 (en) 2014-12-16
CN102227665A (zh) 2011-10-26
US20110169997A1 (en) 2011-07-14
EP2370846A1 (en) 2011-10-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5465244B2 (ja) 固体撮像素子及び撮像装置
JP5159700B2 (ja) 光学装置及び焦点検出方法
JP4952060B2 (ja) 撮像装置
JP5572765B2 (ja) 固体撮像素子、撮像装置、及び合焦制御方法
US8605179B2 (en) Image pickup apparatus
JP5374862B2 (ja) 焦点検出装置および撮像装置
JP5274299B2 (ja) 撮像装置
JP5404693B2 (ja) 撮像素子、それを具備した撮像装置及びカメラシステム
JP2015230355A (ja) 撮像装置および撮像素子
JP2011176715A (ja) 裏面照射型撮像素子および撮像装置
JP5217880B2 (ja) 撮像装置
JP5211590B2 (ja) 撮像素子および焦点検出装置
JP5278123B2 (ja) 撮像装置
JP5800573B2 (ja) 撮像装置、カメラシステムおよび焦点検出方法
US11889186B2 (en) Focus detection device, focus detection method, and image capture apparatus
US11825196B2 (en) Image sensor and image capturing apparatus
JP5060216B2 (ja) 撮像装置
JP5537618B2 (ja) 撮像装置
JP5836629B2 (ja) 撮像素子、それを具備する撮像装置及びカメラシステム
JP7419975B2 (ja) 撮像素子、及び、撮像装置
US20220028914A1 (en) Image sensor and image capturing apparatus
JP7383876B2 (ja) 撮像素子、及び、撮像装置
JP2016180999A (ja) 焦点検出装置および撮像装置
JP2018046336A5 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120810

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121009

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130419

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130617

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131224

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140121

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5465244

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151