JP5455901B2 - ディジタル処理型監視装置 - Google Patents

ディジタル処理型監視装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5455901B2
JP5455901B2 JP2010515760A JP2010515760A JP5455901B2 JP 5455901 B2 JP5455901 B2 JP 5455901B2 JP 2010515760 A JP2010515760 A JP 2010515760A JP 2010515760 A JP2010515760 A JP 2010515760A JP 5455901 B2 JP5455901 B2 JP 5455901B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
board
sub
fpga
modules
processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2010515760A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2009147820A1 (ja
Inventor
正隆 柳澤
俊文 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2010515760A priority Critical patent/JP5455901B2/ja
Publication of JPWO2009147820A1 publication Critical patent/JPWO2009147820A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5455901B2 publication Critical patent/JP5455901B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21CNUCLEAR REACTORS
    • G21C17/00Monitoring; Testing ; Maintaining
    • G21C17/10Structural combination of fuel element, control rod, reactor core, or moderator structure with sensitive instruments, e.g. for measuring radioactivity, strain
    • G21C17/108Measuring reactor flux
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B23/00Testing or monitoring of control systems or parts thereof
    • G05B23/02Electric testing or monitoring
    • G05B23/0205Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
    • G05B23/0208Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterized by the configuration of the monitoring system
    • G05B23/0213Modular or universal configuration of the monitoring system, e.g. monitoring system having modules that may be combined to build monitoring program; monitoring system that can be applied to legacy systems; adaptable monitoring system; using different communication protocols
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21DNUCLEAR POWER PLANT
    • G21D3/00Control of nuclear power plant
    • G21D3/008Man-machine interface, e.g. control room layout
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/20Pc systems
    • G05B2219/21Pc I-O input output
    • G05B2219/21109Field programmable gate array, fpga as I-O module
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E30/00Energy generation of nuclear origin
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E30/00Energy generation of nuclear origin
    • Y02E30/30Nuclear fission reactors

Description

本発明は、ディジタル処理型監視装置に関し、特に、原子炉出力監視に好適なディジタル処理型監視装置に関する。
近年、沸騰水型原子炉では出力運転状態の原子炉内の中性子束を測定するための出力領域モニタ(PRM; Power Range Monitor)や起動領域モニタ(SRNM; Startup Range Neutron Monitor)等にFPGA(Field Programmable Gate Array)を適用した装置が開発されている。FPGAとは、独自の論理回路を書き込むことができる集積論理素子の一種である。
図2に示すように、これらの出力領域モニタ(PRM)を構成する平均出力モニタ(APRM; Average Power Range Monitor)、局所出力領域モニタ(LPRM; Local Power Range Monitor)等は、それぞれ各種基板からなるモジュールを構成し、全体として複数のモジュールからなる原子炉の出力を監視するディジタル処理型監視装置を構成する(特許文献1参照)。
特開2007−3399号公報
従来のモジュールでは、モジュール毎にそれぞれ基板を開発しているため、モジュール単位での保守・点検が必要となっている。したがって、あるモジュールで使用されている基板は他のモジュールには適用できないために、モジュールの保守・点検の結果、例えば基板を交換する必要がある場合、当該モジュール用の基板を使用しなければならない。そのため交換用の基板をモジュールの種類に応じて多種類準備しておく必要があり、そのため保守点検が煩雑で高コストなものとなっていた。
そこで、本発明は、基板に汎用性をもたせることにより必要な基板の種類を減らし、経済性、保守性を向上させたディジタル処理型監視装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明の一つの態様は、主制御用FPGAとサブ基板の制御用FPGAとサブ基板接続用I/Fとが実装されコネクタに接続されるベース基板と、I/F処理用FPGAが実装されて前記サブ基板接続用I/Fを通じて前記ベース基板に接続されたマンマシンI/F処理用のサブ基板と、を備えた複数個のモジュールと、前記複数個のモジュールそれぞれの前記ベース基板と前記コネクタを介して接続されたマザーボードと、を有するディジタル処理型監視装置であって、前記複数個のモジュールの各サブ基板には前記サブ基板のマンマシンI/F情報を記憶する記憶装置が実装され、前記複数個のモジュールの各FPGAは伝送データを伝送エリアの所定領域に書き込むとともに、伝送データを各モジュール間で共有する共通の伝送プロトコルを有すること、を特徴とする。
本発明の他の一つの態様は、主制御用FPGAとサブ基板接続用I/Fとが実装されコネクタに接続されるベース基板と、I/O処理用FPGAと入出力素子が実装されて前記サブ基板接続用I/Fを通じて前記ベース基板に接続されたI/O処理用のサブ基板と、を備えた複数個のモジュールと、前記複数個のモジュールそれぞれの前記ベース基板前記コネクタを介して接続されたマザーボードと、を有するディジタル処理型監視装置であって、前記複数個のモジュールの各サブ基板には当該サブ基板の外部とのI/O情報を記憶する記憶装置が実装され、前記複数個のモジュールの各FPGAは伝送データを伝送エリアの所定領域に書き込むとともに、伝送データを各モジュール間で共有する共通の伝送プロトコルを有すること、を特徴とする。
本発明の他の一つの態様は、主制御用FPGAとサブ基板接続用I/Fとが実装されコネクタに接続されるベース基板と、I/O処理用FPGAと入出力素子が実装されて前記サブ基板接続用I/Fを通じて前記ベース基板に接続されたI/O処理用のサブ基板と、を備えた複数個のモジュールと、前記複数個のモジュールそれぞれの前記ベース基板前記コネクタを介して接続されたマザーボードと、を有するディジタル処理型監視装置であって、前記複数個のモジュールのサブ基板の少なくとも一つが、入出力素子を実装していて、かつ、I/O処理用FPGA、EPROM、EEPROMのいずれも実装しておらず、当該モジュールの前記ベース基板の主制御用FPGAが、外部入出力処理をする機能を有し、前記複数個のモジュールの各FPGAは伝送データを伝送エリアの所定領域に書き込むとともに、伝送データを各モジュール間で共有する共通の伝送プロトコルを有すること、を特徴とする。
本発明によれば、基板に汎用性をもたせることにより必要な基板の種類を減らし、経済性、保守性を向上させることが可能となる。
本発明の第1の実施形態に係るディジタル処理型監視装置の構成図。 複数のモジュールからなるディジタル処理型監視装置の構成図。 本発明の第4の実施形態に係るディジタル処理型監視装置の構成図。 本発明の第5の実施形態に係るディジタル処理型監視装置の構成図。
以下、本発明に係るディジタル処理型監視装置の実施形態について、図面を参照して説明する。ここで、同一または類似の部分には共通の符号を付して重複説明は省略する。
[第1の実施形態]
第1の実施形態を図1および図2を用いて説明する。
原子炉の中性子束を監視する監視装置は、図2に示すように、通常、複数のモジュール、例えば、モジュールAとして平均出力領域モニタ(APRM)、モジュールBとして局所出力領域モニタ(LPRM)、モジュールCとしてI/O(入出力)モジュール等の複数のモジュールから構成される。
図1は、そのうちの一つのモジュール101の構成例を示している。このモジュール101は、マザーボード200に接続されるコネクタ4に接続するベース基板1、ベース基板1にサブ基板接続用I/F(インターフェース)5を介して接続されるマンマシンI/F処理用のサブ基板2、ベース基板1にサブ基板接続用I/F7を介して接続されるI/O処理用のサブ基板3を有する。ベース基板1と各サブ基板2、3は電源ラインと伝送ラインで接続している。
ベース基板1は、マンマシン制御用FPGA21、主制御用FPGA22および外部インターフェース用バッファ23、変更可能なパラメータ保存用のEEPROM(Electrically Erasable and Programmable Read-Only Memory)24、初期データなど変更しないパラメータ保存用のEPROM(Erasable Programmable Read-Only Memory)25などで構成されている。
同様に、マンマシンI/F処理用サブ基板2には、マンマシンI/F処理用FPGA26と、EEPROM27、EPROM28が設けられている。また、I/O処理用のサブ基板3には、I/O処理用FPGA29と、EEPROM30、EPROM31が設けられている。
各基板間の伝送を行なうために、各FPGA22,26,29がデータを書き込む伝送エリアを割り付ける。伝送エリアの内容は、たとえば、次の5個のエリア(A1)〜(A5)に分かれている。
(A1)ベース基板主制御用書き込みデータエリア
(A2)ベース基板マンマシン制御用書き込みデータエリア
(A3)マンマシンI/F処理用データエリア
(A4)I/O処理用データエリア
(A5)他モジュール情報書き込み用データエリア
これらの割り付けられた伝送エリアの内容を共有することにより各FPGA22,26,29は必要なデータを参照してマンマシンI/F処理、およびI/O処理を行なう。
例えば、サブ基板がマンマシンI/F処理用のサブ基板2の場合、サブ基板2と取り合うデータを書き込むテーブルをメモリやレジスタに共通の仕様で構成し、第1LED(Light Emitting Diode)(図示せず)を使用、不使用、第2LED(図示せず)を使用、不使用、第1LEDを表示、非表示、第2LEDを表示、非表示、第1スイッチ(図示せず)を使用、不使用、第2スイッチ(図示せず)を使用、不使用というような、マンマシンI/F情報をテーブルに割り付け、LEDの数やスイッチの数が違うどのようなサブ基板に対しても、同じような伝送フォーマットで伝送できるようにする。データはシリアルデータでもパラレルデータでも同様に伝送可能である。
また、サブ基板がI/O処理用のサブ基板3の場合でも同じように、チャンネルを割り当て、ディジタル入出力などの数が違う場合でも、伝送できるようにする。
本第1の実施形態によれば、ベース基板1、マンマシンI/F処理用のサブ基板2、およびI/O処理用のサブ基板3にFPGAをそれぞれ実装し、各FPGAがデータを書き込む伝送エリアを割り付け、割り付けられた伝送エリアの内容を共有することにより各FPGAは必要なデータを参照してマンマシンI/F処理、およびI/O処理を行なうことができる。その結果、サブ基板の構成を変更しても、その変更に対応した外部との入出力用モジュール、マンマシンI/F用モジュールが実現できる。
すなわち、例えばマンマシンI/F処理用のサブ基板2における伝送、表示処理は、サブ基板2のスイッチの使用・不使用状態、LED表示状態等のマンマシンI/F情報が記憶されたサブ基板上のEPROM(またはEEPROM)に基づいて実施するため、サブ基板2のFPGAによる処理が一意的に定まり、これらの基板1〜3の汎用性が一層高められる。その結果、モジュールが故障した場合でも、基板同士の汎用性が高いため、基板の交換等迅速な補修点検作業が可能となる。
また、本第1の実施形態に係るモジュール100は、ベース基板1、マンマシンI/F処理用のサブ基板2、およびI/O処理用のサブ基板3とから構成されているが、I/O処理用のサブ基板3は必ずしも必須ではなく、ベース基板1とマンマシンI/F処理用のサブ基板2とからモジュールを構成してもよく、その場合でも上記と同様の作用効果が奏される。
[第2の実施形態]
上述した第1の実施形態では、各基板1〜3にFPGAが搭載されているが、本第2の実施形態では、サブ基板2、3にFPGAを実装せず、ベース基板1にのみFPGAを搭載したものである(図示は省略)。
この場合、例えばマンマシンI/F処理用のサブ基板2における伝送、表示処理は、サブ基板2のスイッチまたはLEDの使用、不使用状態等のマンマシンI/F情報が記憶されたベース基板上のEPROM(またはEEPROM)に基づいて実施する。
本第2の実施形態によれば、ベース基板1のFPGAによる処理が一意的に定まり、これらのベース基板およびサブ基板の汎用性が一層高められる。
[第3の実施形態]
本第3の実施形態は、ベース基板1の状態およびデータ伝送エリア内の情報を確認・把握するために診断用のサブ基板(図示せず)を設けるものである。すなわち、図1に示すようにベース基板1のFPGA21,22にテストピン6が接続され、サブ基板接続用I/F5を介してベース基板1の状態およびデータ伝送エリア内の情報を診断用のサブ基板に伝送する。
本第3の実施形態によれば、ベース基板1の状態、およびデータ伝送エリア内の情報からI/Oサブ基板、他モジュールの状態を把握できるため、モジュール内の各基板の診断が可能となる。
[第4の実施形態]
第4の実施形態を、図3を用いて説明する。
図3のモジュール101で、サブ基板3のI/O素子35が受け付けた外部からの入力信号の状態をサブ基板3のI/O処理用FPGA29が保存し、ベース基板1のFPGA22に入力状態を知らせる(外部からの入力処理)。また、ベース基板1がサブ基板3へ外部出力のリクエスト情報を送ってサブ基板3のI/O処理用信号FPGA29にて信号処理をして外部へ出力する(外部への出力処理)。ベース基板1とサブ基板3間では情報伝達のための複数の信号線でつながっている。
接点入力の場合:
I/O処理用サブ基板において、外部I/O36(たとえば複数チャンネルの接点入力)の信号に対してバッファ37、I/O素子35(複数のフォトカプラを実装)を経由してI/O処理用FPGA29にて接点の入力状態を検知し、ベース基板1に接点の入力状態をパラレル信号または、ビット列のON/OFFのシリアル信号で伝送し主制御FPGA22にて信号処理を行なうモジュールを実現させる。
接点出力の場合:
また、外部I/O36、たとえば複数チャンネルの接点出力させる場合、ベース基板1のFPGA22からのリクエストをサブ基板3のI/O処理用FPGA29にて受信(パラレルまたはシリアル信号にて受信)し、I/O素子35(複数のフォトMOSリレーを実装)、バッファを経由して外部に接点出力を行なうモジュールを実現させる。
アナログ入力の場合(1):
外部I/O、たとえば電流が入ってくる場合、サブ基板3のI/O処理用FPGA29にてA/D変換機能を持たせ、ディジタル化した入力データをベース基板1に送信(入力レベルをパラレル信号またはシリアル信号で送信)し、主制御FPGA22にて信号処理を行なうモジュールを実現させる。
アナログ入力の場合(2):
上記アナログ入力(1)において、I/O素子部35にA/D変換素子を実装してサブ基板3のI/O処理用FPGA29にてディジタル化したデータ受信し、ベース基板1に送信し、主制御FPGA22にて信号処理を行なうモジュールを実現させる。
アナログ出力の場合(1):
ベース基板1からのリクエストによりサブ基板3のI/O処理用FPGA29にてD/A変換の機能を持たせて外部にアナログ出力を行なうモジュールを実現させる。
アナログ出力の場合(2):
上記アナログ出力(1)において、I/O素子部35にD/A変換素子を実装してベース基板1からのリクエストによりサブ基板3のI/O処理用FPGA29からD/A変換器、バッファを経由してアナログ出力を行なうモジュールを実現させる。
外部伝送入出力(たとえばRS488)の場合:
外部I/O36にシリアル信号データが入ってきた場合、サブ基板3のI/O処理用FPGA29にてベース基板1の信号処理用のI/F機能を持たせて外部伝送入出力の入出力処理を行なうモジュールを実現させる。
上記外部I/Oの機能を複数実装したI/O処理用FPGA29にEPROM31または、EEPROM30にて設定した機能テーブルに応じて複数のI/O機能を有したモジュールも実現可能となる。
なお、この実施形態で、図3のマンマシン制御用FPGA21は必ずしも必須ではない。
[第5の実施形態]
第5の実施形態を、図4を用いて説明する。
この実施形態のモジュール102では、第4の実施形態(図3)のサブ基板3のI/O処理用FPGA29の代わりにI/O素子40を実装させ、ベース基板1の主制御用FPGA22にてデータ処理機能をもたせてI/Oモジュールを実現させる。
接点入力の場合(I/O素子40としてフォトカプラを実装):
サブ基板3aのI/O素子40にフォトカプラを実装し、ベース基板1のFPGA22にてフォトカプラからの入力信号を演算処理することにより、外部接点入力処理を行なうモジュールが実現可能となる。
接点出力の場合(I/O素子40としてフォトMOSリレーを実装):
サブ基板3aのI/O素子40にフォトMOSリレーを実装し、ベース基板1のFPGA22にてフォトMOSリレーに接点出力させる機能をもたせることにより外部接点出力モジュールが実現可能となる。
アナログ入力(I/O素子40としてA/D変換素子を実装):
サブ基板3aのI/O素子40にA/D変換素子を実装し、ベース基板1のFPGA22にてA/D変換素子からのデータを入力処理させる機能をもたせることによりアナログ入力用モジュールが実現可能となる。
アナログ出力(I/O素子40としてD/A変換素子を実装):
サブ基板3aのI/O素子40にD/A変換素子を実装し、ベース基板1のFPGA22にてD/A変換素子へデータを出力処理させる機能をもたせることによりアナログ出力用モジュールが実現可能となる。
外部伝送(たとえばRS488)(I/O素子40としてRS485伝送処理用を実装させた時):
サブ基板3aのI/O素子40にRS485伝送処理用素子を実装させ、ベース基板1のFPGA22にて伝送データの入出力データを処理させる機能をもたせることにより外部伝送用モジュールが実現可能となる。
なお、この実施形態で、図4のマンマシン制御用FPGA21は必ずしも必須ではない。
1:ベース基板
2:マンマシンI/F処理用のサブ基板
3,3a:I/O処理用のサブ基板
4:コネクタ
5,7:サブ基板接続用I/F
6:テストピン
21:マンマシン制御用FPGA
22:主制御用FPGA
23:外部インターフェース用バッファ
24:EEPROM
25:EPROM
26:マンマシンI/F処理用FPGA
27:EEPROM
28:EPROM
29:I/O処理用FPGA
30:EEPROM
31:EPROM
35:I/O素子
36:外部I/O
37:バッファ
40:I/O素子
101,102:モジュール
200:マザーボード

Claims (4)

  1. 主制御用FPGAとサブ基板の制御用FPGAとサブ基板接続用I/Fとが実装されコネクタに接続されるベース基板と、I/F処理用FPGAが実装されて前記サブ基板接続用I/Fを通じて前記ベース基板に接続されたマンマシンI/F処理用のサブ基板と、を備えた複数個のモジュールと、
    前記複数個のモジュールそれぞれの前記ベース基板前記コネクタを介して接続されたマザーボードと、
    を有するディジタル処理型監視装置であって、
    前記複数個のモジュールの各サブ基板には前記サブ基板のマンマシンI/F情報を記憶する記憶装置が実装され、
    前記複数個のモジュールの各FPGAは伝送データを伝送エリアの所定領域に書き込むとともに、伝送データを各モジュール間で共有する共通の伝送プロトコルを有すること、
    を特徴とするディジタル処理型監視装置。
  2. 主制御用FPGAとサブ基板接続用I/Fとが実装されコネクタに接続されるベース基板と、I/O処理用FPGAと入出力素子が実装されて前記サブ基板接続用I/Fを通じて前記ベース基板に接続されたI/O処理用のサブ基板と、を備えた複数個のモジュールと、
    前記複数個のモジュールそれぞれの前記ベース基板と前記コネクタを介して接続されたマザーボードと、
    を有するディジタル処理型監視装置であって、
    前記複数個のモジュールの各サブ基板には当該サブ基板の外部とのI/O情報を記憶する記憶装置が実装され、
    前記複数個のモジュールの各FPGAは伝送データを伝送エリアの所定領域に書き込むとともに、伝送データを各モジュール間で共有する共通の伝送プロトコルを有すること、
    を特徴とするディジタル処理型監視装置。
  3. 主制御用FPGAとサブ基板接続用I/Fとが実装されコネクタに接続されるベース基板と、I/O処理用FPGAと入出力素子が実装されて前記サブ基板接続用I/Fを通じて前記ベース基板に接続されたI/O処理用のサブ基板と、を備えた複数個のモジュールと、
    前記複数個のモジュールそれぞれの前記ベース基板と前記コネクタを介して接続されたマザーボードと、
    を有するディジタル処理型監視装置であって、
    前記複数個のモジュールのサブ基板の少なくとも一つが、入出力素子を実装していて、かつ、I/O処理用FPGA、EPROM、EEPROMのいずれも実装しておらず、
    当該モジュールの前記ベース基板の主制御用FPGAが、外部入出力処理をする機能を有し、
    前記複数個のモジュールの各FPGAは伝送データを伝送エリアの所定領域に書き込むとともに、伝送データを各モジュール間で共有する共通の伝送プロトコルを有すること、
    を特徴とするディジタル処理型監視装置。
  4. 前記複数個のモジュールの少なくとも一つのモジュールの前記ベース基板の前記FPGAに接続・切り離しが可能で、接続したときに当該ベース基板の状態およびデータ伝送エリア内の情報を受信して診断可能な診断用サブ基板をさらに有することを特徴とする請求項1ないし3のいずれか一項に記載のディジタル処理型監視装置。
JP2010515760A 2008-06-02 2009-06-01 ディジタル処理型監視装置 Active JP5455901B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010515760A JP5455901B2 (ja) 2008-06-02 2009-06-01 ディジタル処理型監視装置

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008144554 2008-06-02
JP2008144554 2008-06-02
JP2010515760A JP5455901B2 (ja) 2008-06-02 2009-06-01 ディジタル処理型監視装置
PCT/JP2009/002429 WO2009147820A1 (ja) 2008-06-02 2009-06-01 ディジタル処理型監視装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2009147820A1 JPWO2009147820A1 (ja) 2011-10-20
JP5455901B2 true JP5455901B2 (ja) 2014-03-26

Family

ID=41397903

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010515760A Active JP5455901B2 (ja) 2008-06-02 2009-06-01 ディジタル処理型監視装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8331521B2 (ja)
EP (1) EP2302639B1 (ja)
JP (1) JP5455901B2 (ja)
ES (1) ES2630035T3 (ja)
RU (1) RU2445683C1 (ja)
WO (1) WO2009147820A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200113646A (ko) * 2019-03-26 2020-10-07 주식회사 수산이앤에스 원자력 발전소의 안전등급 제어기

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103389670A (zh) * 2013-07-31 2013-11-13 成都电业局双流供电局 用于变电站的数据采集与电力监控装置
CN104363141B (zh) * 2014-11-25 2017-12-12 浪潮(北京)电子信息产业有限公司 一种基于处理器系统的fpga验证方法及系统
CN107491009B (zh) * 2017-08-30 2019-08-09 连云港杰瑞电子有限公司 一种轴角传感器信号同步采集方法
CN108983670A (zh) * 2018-08-07 2018-12-11 苏州艾普乐思新能源动力系统科技有限公司 一种适用于新能源汽车电控系统的eeprom多点读写的方法
EP3609108B1 (en) * 2018-08-09 2021-04-28 Tata Consultancy Services Limited Method and system for message based communication and failure recovery for fpga middleware framework
US11669391B2 (en) 2019-12-09 2023-06-06 Ievgenii Bakhmach Data processing procedure for safety instrumentation and control (IandC) systems, IandC system platform, and design procedure for IandC system computing facilities
CN111781866B (zh) * 2020-05-18 2022-03-04 北京电子工程总体研究所 一种基于fpga的可重构测发控计算机模块组

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0944203A (ja) * 1995-07-26 1997-02-14 Hitachi Ltd 冗長化制御システム
JP2001305187A (ja) * 2000-04-21 2001-10-31 Konica Corp 回路基板、および、回路基板の検査装置
JP2002006907A (ja) * 2000-06-26 2002-01-11 Omron Corp I/oユニット及びプログラマブルコントローラシステム
JP2002222003A (ja) * 2001-01-26 2002-08-09 Matsushita Electric Works Ltd プログラマブルコントローラの汎用ユニット
JP2003229760A (ja) * 2002-02-01 2003-08-15 Hitachi High-Technologies Corp 装置コントローラ
JP2004354166A (ja) * 2003-05-28 2004-12-16 Toshiba Corp 原子炉出力監視装置
JP2007003399A (ja) * 2005-06-24 2007-01-11 Toshiba Corp 原子炉の出力領域モニタシステム

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3998694A (en) * 1972-03-27 1976-12-21 The Pioneer Educational Society Nuclear reactor and production systems with digital controls
US4770841A (en) * 1986-10-08 1988-09-13 Westinghouse Electric Corp. Methods and apparatus for dynamic systems control
JP3461251B2 (ja) * 1996-09-27 2003-10-27 株式会社東芝 出力領域モニタ装置
US6260159B1 (en) * 1998-06-15 2001-07-10 Sun Microsystems, Inc. Tracking memory page modification in a bridge for a multi-processor system
US6516041B1 (en) * 1999-10-07 2003-02-04 Westinghouse Electric Co. Llc Method and apparatus to eliminate confirmation switches and channel demultiplexer from soft control man-machine interface (MMI)
TW539931B (en) * 2000-11-30 2003-07-01 Matsushita Electric Works Ltd General-purpose functional circuit and general-purpose unit for programmable controller
US6801027B2 (en) * 2002-09-26 2004-10-05 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Power conversion in variable load applications
US7249010B1 (en) * 2003-04-03 2007-07-24 Xilinx, Inc. Methods of estimating susceptibility to single event upsets for a design implemented in an FPGA
RU66644U1 (ru) * 2006-10-18 2007-09-10 Михаил Сергеевич Цветков Модуль многоканального ввода-вывода и обработки hd/sd sdi видео dvi/hdmi графики

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0944203A (ja) * 1995-07-26 1997-02-14 Hitachi Ltd 冗長化制御システム
JP2001305187A (ja) * 2000-04-21 2001-10-31 Konica Corp 回路基板、および、回路基板の検査装置
JP2002006907A (ja) * 2000-06-26 2002-01-11 Omron Corp I/oユニット及びプログラマブルコントローラシステム
JP2002222003A (ja) * 2001-01-26 2002-08-09 Matsushita Electric Works Ltd プログラマブルコントローラの汎用ユニット
JP2003229760A (ja) * 2002-02-01 2003-08-15 Hitachi High-Technologies Corp 装置コントローラ
JP2004354166A (ja) * 2003-05-28 2004-12-16 Toshiba Corp 原子炉出力監視装置
JP2007003399A (ja) * 2005-06-24 2007-01-11 Toshiba Corp 原子炉の出力領域モニタシステム

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200113646A (ko) * 2019-03-26 2020-10-07 주식회사 수산이앤에스 원자력 발전소의 안전등급 제어기
KR102163454B1 (ko) * 2019-03-26 2020-10-08 주식회사 수산이앤에스 원자력 발전소의 안전등급 제어기

Also Published As

Publication number Publication date
EP2302639A1 (en) 2011-03-30
US20120007634A1 (en) 2012-01-12
WO2009147820A1 (ja) 2009-12-10
RU2445683C1 (ru) 2012-03-20
ES2630035T3 (es) 2017-08-17
EP2302639A4 (en) 2015-08-26
US8331521B2 (en) 2012-12-11
JPWO2009147820A1 (ja) 2011-10-20
EP2302639B1 (en) 2017-04-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5455901B2 (ja) ディジタル処理型監視装置
US9104190B2 (en) Safety module for an automation device
US8762598B2 (en) Arrangement with a superordinated control unit and at least one intelligent field device connectable with the control unit
JP2010026726A (ja) 変換装置及び制御システム
KR100905874B1 (ko) Plc 장치
JP2006245956A (ja) 通信機器用の接続装置
CN1331054C (zh) 用于有效地补偿故障信号线的数据总线装置和控制方法
JP7192290B2 (ja) 通信装置およびシステム
JP2007310719A (ja) ユニット形プログラマブルコントローラ
CN114008984B (zh) 计算机可读存储介质以及管理方法
JP2011107913A (ja) 電源制御装置
JP2008263678A (ja) サーボモータ制御装置
JP5418670B2 (ja) バス制御装置及びバス制御方法
CN110687363A (zh) Sfp埠测试治具
TWI652487B (zh) 用以減少半導體測試指標時間之模組化多工介面總成及其使用方法
JP4828871B2 (ja) バックワイヤリングボードの診断方式
CN101833529B (zh) 致能与提供一总线上的一多核环境的装置与方法
TWI597958B (zh) 遠程式控制系統
KR100812816B1 (ko) 휴대용 차량진단장치
WO2021182147A1 (ja) 端末監視装置
WO2016127578A1 (zh) 处理器子卡、适配处理器子卡的电源板及系统板
JP2008129869A (ja) サーバ監視操作システム
CN102013231B (zh) 一种用于发送冗余容错数据的led控制装置
KR100267349B1 (ko) 교환시스템의 프린터보드 어레이 시험방법
KR100258610B1 (ko) Plc 입출력모듈의 선택장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20111209

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130423

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130621

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131210

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140107

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5455901

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151