JP5414703B2 - 処理装置の異常診断方法及びその異常診断システム - Google Patents
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Description
M=N±k×σ±N×H……(1)
ここで各記号は、
M:上下変動閾値データ値
N:時系列毎の平均データ値
k:係数
σ:その時系列時点における複数のモデルデータ値の標準偏差
H:補正値 である。
次に、レジスト塗布・現像処理装置を構成する複数の処理部の一つである処理液供給部50を上述した異常診断システム20により診断した場合について説明する。この処理液供給部50は、反射防止膜形成処理、冷却処理が行われたウエハWに対して、レジスト液を塗布するものである。
第1実施形態では、ステップM2で作成された判定データ43aと、異常原因毎に発生する時系列データ41の特有な変動傾向に基づいて予め設定されると共に、判定データ43aに対応するモデルデータ44aとを照合し(ステップM3)、照合が不一致であると判断されると(ステップM3:NO)、判定データ43aと、変更したモデルデータ44bとを照合したが(ステップM6)、例えば、図13に示すように、ステップM3により異常原因が推定されなかった場合(ステップM3:NO)、判定条件を変更して(ステップM7)、変更後の判定条件に合致するか否かを判定すると共に、判定結果の組み合わせからなる再判定データ45を作成し(ステップM8)、再判定データ45と、異常原因毎に発生する時系列データ41の特有な変動傾向に基づいて予め設定された再判定データ45に対応するモデルデータ44dとを照合することにより異常原因を推定してもよい(ステップM9)。
第1実施形態では、ステップM2で作成された判定データ43aと、判定データ43aに対応するモデルデータ44aと照合し(ステップM3)、照合が不一致であると判断されると(ステップM3:NO)、判定データ43aと、変更したモデルデータ44bとを照合したが(ステップM6)、例えば図14に示すように、ステップM3による照合が不一致だった場合(ステップM3:NO)、判定データ43aとモデルデータ44bの一致度を算出し(ステップM10)、一致度の高い順に異常原因候補の順位付けを行って(ステップM11)、異常原因を推定してもよい(ステップM4)。
なお、上述した第1実施形態において、ステップM6にて照合が不一致であると判断された場合(ステップM6:NO)、判定データ43aと、更に変更されたモデルデータ44とを照合し(ステップM6)、ステップM6を繰り返し実行して異常原因を推定したが、ステップM6を繰り返し実行しても第1の再診断部25による照合が不一致だった場合(ステップM6:NO)、第2実施形態と同様に、判定条件を変更して(ステップM7)、変更後の判定条件に合致するか否かを判定すると共に、判定結果の組み合わせからなる再判定データ45を作成し(ステップM8)、再判定データ45と、再判定データ45に対応するモデルデータ44と照合することにより(ステップM9)、異常原因を推定してもよい(図3,図13参照)。
D1〜D4 監視区間
a1〜a4,b1〜b4,c1〜c4,d1〜d4,e1〜e4,f1〜f4 判定条件
P,Q,R 異常原因
T 処理単位
20 異常診断システム
22 異常検知部
23 判定データ作成部
24 診断部
25 第1の再診断部
26 再判定データ作成部
27 第2の再診断部
30 センサ
30b,30c,30d 圧力センサ
30e 流量センサ
41 時系列データ
42,42a,42b 異常データ(異常な時系列データ)
43,43a 判定データ
44,44a,44b,44c モデルデータ
45 再判定データ
50 処理液供給部(処理装置)
73 上下変動閾値データ
Claims (13)
- 被処理体を処理する処理装置に設置される処理プロセスを監視するセンサによって出力される信号から収集された時間と共に変動する時系列データが、複数の判定条件に合致するか否かを判定すると共に、その判定結果の組み合わせからなる判定データを作成する判定データ作成ステップと、
上記判定データを、異常原因毎に発生する時系列データの特有な変動傾向に基づいて予め設定されると共に、上記判定データに対応するモデルデータと照合して異常原因を推定する診断ステップと、
を具備し、
上記診断ステップは、上記判定データと上記モデルデータの一致度を算出し、一致度の高い順に異常原因候補の順位付けを行うステップを含む、
ことを特徴とする処理装置の異常診断方法。 - 請求項1記載の処理装置の異常診断方法において、
上記時系列データは、処理単位毎の時系列データであって、上記判定データ作成ステップは、上記時系列データを時系列毎に複数の監視区間に分割し、それぞれの監視区間において、複数の判定条件に合致するか否かを判定すると共に、その判定結果の組み合わせからなる判定データを作成する、ことを特徴とする処理装置の異常診断方法。 - 請求項1又は2に記載の処理装置の異常診断方法において、
上記処理装置に設置されるセンサは複数であって、上記判定データ作成ステップは、上記センサ毎の時系列データのそれぞれが、複数の判定条件に合致するか否かを判定すると共に、その判定結果の組み合わせからなる判定データを作成する、ことを特徴とする処理装置の異常診断方法。 - 請求項1ないし3のいずれかに記載の処理装置の異常診断方法において、
上記時系列データから、異常な時系列データを検知する異常検知ステップを更に具備し、上記判定データ作成ステップは、上記異常検知ステップによって検知された異常な時系列データが、複数の判定条件に合致するか否かを判定すると共に、その判定結果の組み合わせからなる判定データを作成する、ことを特徴とする処理装置の異常診断方法。 - 被処理体を処理する処理装置に設置される処理プロセスを監視するセンサによって出力される信号から収集された時間と共に変動する時系列データが、複数の判定条件に合致するか否かを判定すると共に、その判定結果の組み合わせからなる判定データを作成する判定データ作成部と、
上記判定データを、異常原因毎に発生する時系列データの特有な変動傾向に基づいて予め設定されると共に、上記判定データに対応するモデルデータと照合して異常原因を推定する診断部と、
を具備し、
上記診断部は、上記判定データと上記モデルデータの一致度を算出し、一致度の高い順に異常原因候補の順位付けを更に行う、
ことを特徴とする処理装置の異常診断システム。 - 請求項5記載の処理装置の異常診断システムにおいて、
上記時系列データは、処理単位毎の時系列データであって、上記判定データ作成部は、上記時系列データを時系列毎に複数の監視区間に分割し、それぞれの監視区間において、複数の判定条件に合致するか否かを判定すると共に、その判定結果の組み合わせからなる判定データを作成する、ことを特徴とする処理装置の異常診断システム。 - 請求項5又は6に記載の処理装置の異常診断システムにおいて、
上記処理装置に設置されるセンサは複数であって、上記判定データ作成部は、上記センサ毎の時系列データのそれぞれが、複数の判定条件に合致するか否かを判定すると共に、その判定結果の組み合わせからなる判定データを作成する、ことを特徴とする処理装置の異常診断システム。 - 請求項5ないし7のいずれかに記載の処理装置の異常診断システムにおいて、
上記時系列データから、異常な時系列データを検知する異常検知部を更に具備し、上記判定データ作成部は、上記異常検知部によって検知された異常な時系列データが、複数の判定条件に合致するか否かを判定すると共に、その判定結果の組み合わせからなる判定データを作成する、ことを特徴とする処理装置の異常診断システム。 - 請求項5ないし8のいずれかに記載の処理装置の異常診断システムにおいて、
上記複数の判定条件は、上記時系列データの上限値と下限値の幅が所定の閾値内にあるか否か、平均値が所定の閾値内にあるか否か、時間積分値が所定の閾値内にあるか否か、設定値までの到達時間が所定の閾値内にあるか否か、処理終了までの時間が所定の閾値内にあるか否か、複数の時系列データの時系列毎の平均値とその標準偏差に基づき算出された変動閾値内にあるか否か、最大値が所定の閾値内にあるか否か、最小値が所定の閾値内にあるか否かの判定条件のうち少なくとも1つを含む、ことを特徴とする処理装置の異常診断システム。 - 請求項5ないし9のいずれかに記載の処理装置の異常診断システムにおいて、
上記診断部による照合が不一致だった場合、上記モデルデータを変更して照合することにより異常原因を推定する第1の再診断部を更に具備し、上記判定条件は、予め異常原因毎に発生する時系列データの特有な変動傾向との関連性の高低が順位付けされており、上記変更前のモデルデータは、最高位から所定の順位内までの判定条件の判定結果のみを照合するものであって、上記変更後のモデルデータは、最高位から上記所定の順位より下位の順位内までの判定条件の判定結果を照合するものである、ことを特徴とする処理装置の異常診断システム。 - 請求項10記載の処理装置の異常診断システムにおいて、
上記第1の再診断部による照合が不一致だった場合、上記モデルデータを更に変更して上記第1の再診断部による照合を繰り返し実行する、ことを特徴とする処理装置の異常診断システム。 - 請求項10又は11に記載の処理装置の異常診断システムにおいて、
上記第1の再診断部は、上記判定データと上記モデルデータの一致度を算出し、一致度の高い順に異常原因候補の順位付けを更に行う、ことを特徴とする処理装置の異常診断システム。 - 請求項5ないし9のいずれかに記載の処理装置の異常診断システムにおいて、
上記診断部による照合が不一致だった場合、上記判定条件を変更して、変更後の判定条件に合致するか否かを判定すると共に、判定結果の組み合わせからなる再判定データを作成する再判定データ作成部と、上記再判定データと、異常原因毎に発生する時系列データの特有な変動傾向に基づいて予め設定されると共に、上記再判定データに対応するモデルデータと照合することにより異常原因を推定する第2の再診断部を更に具備する、ことを特徴とする処理装置の異常診断システム。
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