JP5401990B2 - 排ガス浄化装置 - Google Patents

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Description

本発明は、排ガス浄化装置に関し、より詳しくは、粒子状物質が含まれている排ガスを浄化するために好適に用いることが可能な排ガス浄化装置に関する。
ガソリンエンジンについては、排気の厳しい規制とそれに対処できる技術の進歩とにより、排気中の有害成分は確実に減少している。しかし、ディーゼルエンジンについては、排気中に粒子状物質(パティキュレート:炭素微粒子からなるスート、可溶性有機成分(SOF)等、以下「PM」という)が含まれていることから、排気浄化のための技術的課題が多く残されている。
そこで近年では、PM、なかでもスート成分を低温から酸化することのできる酸化触媒の開発が行われている。例えば、特開平1−318715号公報(文献1)においては、排ガス中のNOをNOに酸化させるための触媒を有するハニカム型モノリス体と、前記排ガスを前記触媒に通してNOをNOに変換する装置と、前記装置から排出されるNO含有ガスを受けとるために下流側に配置され且つ排ガス中のPMをNO含有ガスで燃焼させるためのフィルターとを備える排ガス浄化装置が開示されている。しかしながら、このような文献1に記載の排ガス浄化装置においては、気相中の酸素のみを酸化剤としてPMを酸化することができなかった。
また、特開2004−42021号公報(文献2)においては、銀(Ag)及び/又はコバルト(Co)で安定化されたセリア(CeO)を有する触媒組成がDPFの再生中のすす酸化を促進することが開示され、Agとセリアのモル比は4:1〜1:4(CeとAgの合計量に対するAgの含有量(モル%)は20mol%〜80mol%に相当)が好ましく、3:1〜1:3(CeとAgの合計量に対するAgの含有量(モル%)は33mol%〜67mol%に相当)がより好ましいことが記載されている。そして、Agの含有量が75mol%でCeの含有量が25mol%の混合物について活性度が最大であったとされている。また、Agの含有量が25mol%でCeの含有量が75mol%の混合物では、唯一の酸化剤として酸素を用いてもすす酸化に関して活性であり、この場合に気相中に活性酸素種を生成することができると示されている。なお、文献2に記載されている触媒の製造方法は、セルロース材料(Whatman(登録商標)フィルタペーパー540)に硝酸塩前駆体を含浸させ、室温で一晩乾燥させた後に600℃、2時間の条件でセルロースを燃やすことにより、約70〜200Å程度に集中した多孔性と14〜150m/gの高比表面積を有する触媒組成を得る方法である。
このような文献2における評価方法は大きく2つあり、一つはディーゼルすすと触媒組成をへらによりloose−contactせしめたものを酸素10%雰囲気等でTGAにより分解速度を測定する方法であり、もう一つはDPFにより圧損バランス試験を行う方法である。そして、例えばAgの含有量が75mol%の触媒組成についてのTGA評価では、NO:1010ppm、O:10%という好条件で且つ最良の触媒組成であっても323℃における酸化速度は0.117hr−1である。すなわち、NOという強力な酸化剤が十分に存在する条件であっても、1時間に酸化されるスートの割合は11.7%にすぎない。一方、圧損バランス試験においては、Ag−Ce系であるCPF−15では325℃付近でほぼPMを酸化できていることになっているが、この試験結果は先の試験結果と矛盾していることから、実際の圧損バランス試験においてはスート成分のすり抜け等が生じていると本発明者らは考えており、文献2に記載の触媒組成、すなわち単純にAgと、CeO又はCo及びCeOとが存在するのみでは、スート等のPMを低温で十分に酸化することはできなかった。
さらに、特開2006−198563号公報(文献3)においては、酸化ジルコニウム、酸化セリウム等の酸素イオン伝導体セラミックス表面へ、白金等の電極材料及びCa12Al1433等のアルミン酸カルシウム、酸化ニッケル等の触媒材料を形成することによって化学反応装置を構築することが開示されており、そのアノードの表面で固体電解質を介して供給される酸素イオンを利用して、
C+2O2−→CO+4e
の反応によりPMを直接酸化除去できることが記載されている。しかしながら、文献3に記載の方法における酸素活性種はアノードで生成するO2−であり、O2−はPM酸化にとってはさほど適した酸素活性種ではなく、スート等のPMを低温で十分に酸化することはできなかった。
また、特開2005−329318号公報(文献4)においては、ディーゼルエンジンの排気通路に配設され、排気ガス中のPMを捕集するディーゼルパティキュレートフィルタであって、フィルタ本体の排気ガス流路の壁面に、上記PMを酸化燃焼させるための触媒貴金属(RhとPtとの少なくとも一方)と、Ce及びZrを有する複合酸化物粒子とを含有するコート層が形成されているものが開示されている。しかしながら、文献4に記載のディーゼルパティキュレートフィルタのように三元触媒として用いられているCeOの酸素吸蔵放出能を利用するだけでは、リッチ雰囲気にならないと酸素が放出されず、PM燃焼温度の低下に対して格別な効果はなく、やはりスート等のPMを低温で十分に酸化することはできなかった。
本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑みてなされたものであり、粒子状物質(PM)の酸化に特に好ましい酸素活性種が生成される構成を達成し、酸化触媒がおかれる条件下で安定的に酸素活性種が供給されるようにすることにより、内燃機関から排出される排ガス中の粒子状物質をより低温の温度領域で効率的に酸化することができ、粒子状物質が堆積した場合においても比較的低温の再生処理で十分に再生させることが可能な排ガス浄化装置を提供することを目的とする。
本発明者らは、上記目的を達成すべく鋭意研究を重ねた結果、Ag、Pt、Rh、Pd、Ru、Ir、Os、Au及びCuからなる群から選択される少なくとも一種である第一の金属からなる触媒金属担体上に、価数変動可能な第二の金属の酸化物からなる平均一次粒径が1〜400nmの金属酸化物微粒子が配置されてなる酸化触媒を備えることにより上記目的が達成されることを見出し、本発明を完成するに至った。
本発明の排ガス浄化装置は、Ag、Pt、Rh、Pd、Ru、Ir、Os、Au及びCuからなる群から選択される少なくとも一種である第一の金属からなる触媒金属担体上に、価数変動可能な第二の金属の酸化物からなる平均一次粒径が1〜400nmの金属酸化物微粒子が配置されてなる酸化触媒を備えており、前記第一の金属がAgを含有しているものであり、前記金属酸化物微粒子上で排ガス中の粒子状物質を酸化するものである。
上記本発明の排ガス浄化装置においては、前記第一の金属が含酸素物質から酸素を遊離させ酸素活性種を生成する酸素活性種生成材であり、前記第二の金属の酸化物が前記酸素活性種を移動及び/又は貯蔵することが可能な酸素活性種移動材であり、前記酸化触媒が酸素活性種供給材として機能するものであることが好ましい。
さらに、前記酸素活性種としては、後述する吸着酸素種が好ましく、分子状吸着酸素種が特に好ましい。
また、本発明にかかる前記触媒金属担体としては、(i)3nm以上の厚さを有する膜状の触媒金属担体であっても、(ii)7nm以上の平均一次粒径を有する粒子状の触媒金属担体であってもよい。(ii)の場合においては、前記酸化触媒が、核となる前記第一の金属からなる粒子状の触媒金属担体と、前記触媒金属担体の周囲を覆っている前記第二の金属の酸化物からなる平均一次粒径が1〜100nmの金属酸化物微粒子とからなる凝集体であることが特に好ましい。
さらに、本発明にかかる前記第二の金属の酸化物からなる層の厚さとしては、10μm以下であることが好ましい。
また、本発明にかかる前記第一の金属が、Agを含有する合金であることが更に好ましく、Agであることが特に好ましい。
さらに、本発明にかかる前記第二の金属の酸化物としては、La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu、Y、Zr、Fe、Ti、Al、Mg、Co、Ni、Mn、Cr、Mo、W、V、Zn及びSnの酸化物、これらの固溶体、並びにこれらの複合酸化物からなる群から選択される少なくとも一種であることが好ましく、中でも、前記第二の金属の酸化物がCeO又はCeを含む複合酸化物であり、La、Nd、Pr、Sm、Y、Ca、Ti、Fe、Zr、Al、Zn及びSnからなる群から選択される少なくとも一種を添加金属として更に含有していることが特に好ましい。
このような本発明の排ガス浄化装置においては、大気中500℃で5時間焼成した後の前記金属酸化物微粒子の平均粒径が10〜100nmであることが好ましく、また、酸素10容量%及び窒素90容量%からなる雰囲気中800℃で5時間焼成した後の前記金属酸化物微粒子の平均粒径が10〜400nmであることが好ましい。
上記本発明の排ガス浄化装置においては、強制再生処理が必要となる粒子状物質堆積量の第一の基準(A)と、第一の基準(A)よりも低い基準である粒子状物質堆積量の第二の基準(B)とに基づいて、
求められた粒子状物質堆積量が第一の基準(A)と第二の基準(B)との間にある場合に、強制再生処理のための第一の再生処理温度よりも低い第二の再生処理温度で低温再生処理を施し、
求められた粒子状物質堆積量が第一の基準(A)を超えた場合に、強制再生処理を施す、
ように前記排ガス浄化装置を制御する制御手段を更に備えることが好ましい。
このように前記制御手段を更に備える上記本発明の排ガス浄化装置においては、前記低温再生処理を施す際に酸素活性種が連続的に生成されることが好ましく、また、前記強制再生処理を施した後に前記触媒金属担体上に配置された前記金属酸化物微粒子により酸素活性種が貯蔵されることが好ましい。
また、このように前記制御手段を更に備える上記本発明の排ガス浄化装置においては、第二の再生処理温度として複数の温度条件が設定されており、求められた粒子状物質堆積量が第一の基準(A)と第二の基準(B)との間にある場合に、低温側の第二の再生処理温度で低温再生処理を施し、その後の粒子状物質堆積量が第二の基準(B)未満となった場合は低温再生処理を終了し、該粒子状物質堆積量が未だ第一の基準(A)と第二の基準(B)との間にある場合は、順次高温側の第二の再生処理温度に変更して低温再生処理を繰り返すように前記排ガス浄化装置を制御することがより好ましい。
なお、本発明の排ガス浄化装置の構成によって粒子状物質(PM)の酸化に特に好ましい酸素活性種が生成される構成が達成され、酸化触媒がおかれる条件下で安定的に酸素活性種が供給されるようになる理由は必ずしも定かではないが、本発明者らは以下のように推察する。すなわち、従来技術では格子酸素を用いた検討であっても高活性が達成されなかった要因として酸素活性種に着目した。格子酸素は強力な酸化力があるにしても被酸化物への供給効率が問題となることから、格子酸素及び気相酸素並びにこれらから生成する酸素活性種の全てを含む広い意味での活性酸素種を被酸化物へ供給しやすい構成として以下の第1ステップから第5ステップに沿って推察した。なお、格子酸素を利用するにしても、そのものを直接利用することは従来技術のように効果がみられないことから、格子酸素及び気相酸素を直接利用するのではなく、「より効果的な酸素活性種」に変換した後に供給する。
<第1ステップ> 吸着酸素種の最大限の利用
ここで「吸着酸素種」とは、酸素活性種のうち容易に放出されるものの総称であり、気相酸素、格子酸素等から生成することが可能であり、昇温脱離試験(TPD)、同位体交換等により検出することが可能である。なお、吸着酸素種は吸蔵、吸収、吸着、付着している酸素活性種を含むものであるが、現象として容易に放出されやすいものであることから、ここでは便宜上「吸着」という用語を使用する。
吸着酸素種としては、O、O 、O 2−、O、O2−等が例示される。一般論として、酸素は電子受容性であるので高温になるほど後者の吸着種が現れやすく、格子酸素への組み込みも起こりやすくなる。また、O ⇔O+Oの平衡で生成するO も存在すると考えられる。また、O分子が若干負電荷を帯びた吸着酸素種も存在するものと考えられる。さらに、分極したO分子も存在し、貴金属上では解離吸着した酸素も存在する。これらの吸着酸素種は必ずしも活性が高いものばかりではないが、前記のとおり酸素活性種の供給を優先することが有利であると本発明者らは推察した。上記吸着酸素種はO2−を除き求電子性を有し、スートの電子を求める反応機構も期待できる。
<第2ステップ> 活性酸素種の生成
先ず、排ガス浄化分野での活性酸素種生成手段(酸素活性種生成材)として想起されるのはPtに代表される貴金属である。多くの貴金属上では、Oは解離吸着し、高活性な酸素活性種である原子状酸素Oadを生成すると考えられる。被酸化物がHC、CO、NO等の気体である場合にはその分子運動によりある程度の衝突確率を得ることができ、貴金属を介した電子の授受等を併用して酸素活性種を効率的に供給できる。しかし、被酸化物が固体である場合には供給効率が問題となる。そこで、酸素活性種を固体状被酸化物への供給効率を高めることを主眼に活性酸素種を鋭意検討したところ、「吸着酸素種」のうち分子状吸着酸素種を用いることが特に好ましいことを見出した。
このような酸素活性種を生成するためには、解離吸着する酸素の割合を適度に調整することが必要となる。そのため、本発明においてはAg、Pt、Rh、Pd、Ru、Ir、Os、Au及びCuからなる群から選択される少なくとも一種の金属(第1の金属)を用いることが必要となり、Agを含有する金属を用いることが特に好ましい。なお、第1の金属はメタルとしての性質を示すことが必須であり、そのためにはある程度大きな粒径を有することが好ましい。また、Agは吸着酸素種を効率良く保持する機能も有する。
<第3ステップ> 吸着酸素種の移動及び/又は貯蔵
吸着酸素種が生成してもすぐに被酸化物が現れるわけではない。また、被酸化物が現れたときには吸着酸素種の生成に必要となる酸素が不足することになる。そこで、吸着酸素種の移動手段だけでなく貯蔵手段を有することが好ましい。
吸着酸素種においてO以外のものは負電荷を有する。そして、吸着酸素種は表面拡散(吸着種)と内部拡散(格子酸素)により移動するが、吸着酸素種の移動のためには表面拡散が特に重要であるため、本発明においては価数変動可能な金属(第2の金属)の酸化物を用いることが必要となる。さらに、吸着酸素種の効率的な生成という観点からは内部拡散も利用することが好ましく、吸着酸素種の貯蔵という観点からも塩基性材料がより好ましく、CeO又はCeを含む複合酸化物が特に好ましい。
<第4ステップ> 吸着酸素種の生成に好ましい金属と金属酸化物の役割
吸着酸素種の生成に対する金属酸化物の役割としては、価数変動可能な金属の酸化物を用いることにより、金属、金属酸化物、気相酸素及び金属酸化物中の格子酸素との電荷の授受が容易になり、このような観点から気相酸素と接触可能な金属−金属酸化物界面は多いほどよい。そのため、金属酸化物からなる層は緻密ではないことが好ましく、本発明においては平均一次粒径が1〜400nmの金属酸化物微粒子が用いられる。
また、上記金属−金属酸化物界面に好ましい金属としては、気相酸素と接触可能な金属や金属酸化物界面にはさらに効率的に電子が供給されることが好ましいため、このような観点から電気伝導度の高い金属が好ましく、Ag、Cu、Auがより好ましく、Agが特に好ましい。なお、電子の供給は、スート等の酸化時に生成した電子を金属−金属酸化物界面に供給すればよく、また、電極上に金属酸化物をコートして電源から金属に電子が供給されるようにしてもよい。
<第5ステップ> 被酸化物(粒子状物質)への吸着酸素種の供給サイト
吸着酸素種の供給サイトが吸着酸素種の生成サイトと同一サイトである場合は連続的な吸着酸素種の供給が困難になることから、本発明においては、吸着酸素種の供給サイトを吸着酸素種の生成サイトとは分離し、吸着酸素種の移動及び/又は貯蔵サイトを供給サイトとして利用する。したがって、本発明においては、吸着酸素種の生成サイトである前記第一の金属からなる触媒金属担体上に、吸着酸素種の移動及び/又は貯蔵サイトである前記第二の金属の酸化物からなる金属酸化物微粒子が配置されており、前記金属酸化物微粒子上で粒子状物質が酸化されるように構成される。このように配置することにより、粒子状物質の酸化を行いながら吸着酸素種の生成を行うことが可能となる。さらに、供給サイトを被酸化物との接触面に配置することにより、被酸化物との接触面全体を活性サイトとすることが可能となる。
また、吸着酸素種の供給サイトにおいて酸素活性種と粒子状物質との間で電子の授受が行われることから、粒子状物質の酸化により発生した電子の受け取りを容易にすることが好ましく、このような観点からも本発明においては価数変動可能な金属(第2の金属)の酸化物を用いることが必要となり、CeO又はCeを含む複合酸化物が特に好ましい。
なお、核となる前記第一の金属からなる粒子状の触媒金属担体と、前記触媒金属担体の周囲を覆っている前記第二の金属の酸化物からなる平均一次粒径が1〜100nmの金属酸化物微粒子とからなる凝集体を本発明にかかる酸化触媒として用いると、第5ステップにかかる吸着酸素種の供給サイトが多く、また第4ステップにかかる金属−金属酸化物界面が多いため、吸着酸素種が効率的に生成可能となり、さらに電力の供給も不要となるため特に好ましい。
本発明においては、以上の第1ステップから第5ステップを図1に示すような本発明にかかる酸化触媒において実現することによって粒子状物質をより低温で十分に酸化することが可能となると本発明者らは推察する。本発明にかかる酸化触媒においては、図1に示すように、前記第一の金属からなる触媒金属担体1上に前記第二の金属の酸化物からなる金属酸化物微粒子2が配置されてなる。そのため、被酸化物であるスート等の粒子状物質3は、触媒金属担体1に直接接触するより金属酸化物微粒子2に接触する確率が大きい。
そして、図1に示すように、含酸素物質が金属酸化物微粒子2の空隙を通過し、触媒金属担体1の表面(触媒金属担体1と金属酸化物微粒子2との界面4)において比較的低温でも含酸素物質から酸素が遊離され、吸着酸素種(O)が生成する。生成した吸着酸素種は、金属酸化物微粒子2により貯蔵され、或いは粒子状物質を完全に酸化してCOとなる。また、別の酸化形態として、金属酸化物微粒子2により粒子状物質3の表面に移動され、そこで表面酸化物が形成される場合もある。なお、このような表面酸化物のCとOの結合は、主にC=O、C=C及びC−Oに分類できることが知られている(Applied Catalysis B,50,185−194(2004))。次いで、このようにして形成された表面酸化物が気相酸素により、或いは金属酸化物微粒子2を介して移動してくる吸着酸素種により酸化される。このようにして、粒子状物質3の周囲から酸化された部分が除去され、粒子状物質3は縮小していき、最終的に完全に酸化されて粒子状物質3は消失する。そして、粒子状物質の酸化時に生じた電子は、金属酸化物微粒子2を介して触媒金属担体1に移動する。
このような構成の酸化触媒を備える本発明の排ガス浄化装置においては、酸化時に供給サイトにおいて酸素不足となった場合であっても、貯蔵されている吸着酸素種及びその移動により吸着酸素種が安定的に供給される。さらに、生成サイトにおいて、酸素不足とならない限り吸着酸素種が連続的に生成される。したがって、本発明の排ガス浄化装置においては排ガス中の粒子状物質がより低温の温度領域で効率的に酸化されるようになり、排ガス浄化装置内に堆積した粒子状物質も低温で除去することができるため、比較的低温の再生処理で十分に再生させることが可能となる。
なお、本発明において、含酸素物質としては、Oの他に、NO、SO、O、過酸化物、超酸化物、カルボニル化合物、アルコール化合物、エーテル化合物、ニトロ化合物等の酸素原子を含有する化合物であって、スート等の粒子状物質を酸化する雰囲気において気体となっているものを例示することができる。
本発明によれば、粒子状物質(PM)の酸化に特に好ましい酸素活性種が生成される構成を達成し、酸化触媒がおかれる条件下で安定的に酸素活性種が供給されるようにすることにより、内燃機関から排出される排ガス中の粒子状物質をより低温の温度領域で効率的に酸化することができ、粒子状物質が堆積した場合においても比較的低温の再生処理で十分に再生させることが可能な排ガス浄化装置を提供することが可能となる。
図1は、本発明にかかる酸化触媒の模式断面図である。 図2は、本発明の排ガス浄化装置の好適な一実施形態の模式断面図である。 図3は、本発明の排ガス浄化装置の好適な他の実施形態の模式断面図である。 図4は、本発明の制御手段によって行われる制御の好適な一実施形態を示すフローチャートである。 図5は、本発明の制御手段によって行われる制御の好適な他の実施形態を示すフローチャートである。 図6は、実施例1で得られたCeO−Ag組成物の表面状態を示すSEM写真である。 図7は、実施例1で得られたCeO−Ag組成物の粒度分布(累計)を示すグラフである。 図8は、実施例1で得られたCeO−Ag組成物の細孔径分布を示すグラフである。 図9は、実施例1で得られたCeO−Ag組成物の細孔径分布(累計)を示すグラフである。 図10は、実施例1及び比較例1で得られた排ガス浄化装置のPM酸化性能試験の結果を示すグラフである。 図11は、実施例1〜2の本発明の排ガス浄化装置のPM酸化性能試験の結果を示すグラフである。 図12は、実施例3で得られた排ガス浄化装置と比較のための2LサイズのDPFのPM酸化性能試験の結果を示すグラフである。 図13は、PM堆積量1g/Lとした実施例1で得られた排ガス浄化装置のPM酸化性能試験の結果を示すグラフである。 図14は、PM堆積量2g/Lとした実施例1で得られた排ガス浄化装置のPM酸化性能試験の結果を示すグラフである。 図15は、PM堆積量5g/Lとした実施例1で得られた排ガス浄化装置のPM酸化性能試験の結果を示すグラフである。 図16は、PM堆積量2g/Lとした実施例1で得られた本発明の排ガス浄化装置の酸化速度測定試験の結果を示すグラフである。 図17は、実施例1〜2及び4で得られた排ガス浄化装置のスート酸化速度を測定した結果を示すグラフである。 図18は、実施例1で得られた試料の18O/16O同位体交換反応における分圧変化を測定した結果を示すグラフである。 図19は、比較例3で得られた試料の18O/16O同位体交換反応における分圧変化を測定した結果を示すグラフである。 図20は、実施例1及び比較例2〜4で得られた試料の200℃〜400℃におけるO脱離量を測定した結果を示すグラフである。 図21は、ESR測定の結果を示すグラフである。 図22は、実施例1、5、6で得られた排ガス浄化装置のCO浄化率を測定した結果を示すグラフである。 図23は、実施例1、5、6で得られた排ガス浄化装置のHC浄化率を測定した結果を示すグラフである。 図24は、実施例1、6で得られた排ガス浄化装置のPM酸化性能試験の結果を示すグラフである。
以下、本発明をその好適な実施形態に即して詳細に説明する。
先ず、本発明の排ガス浄化装置について説明する。本発明の排ガス浄化装置は、Ag、Pt、Rh、Pd、Ru、Ir、Os、Au及びCuからなる群から選択される少なくとも一種である第一の金属からなる触媒金属担体上に、価数変動可能な第二の金属の酸化物からなる平均一次粒径が1〜400nmの金属酸化物微粒子が配置されてなる酸化触媒を備えており、前記金属酸化物微粒子上で排ガス中の粒子状物質を酸化することを特徴とするものである。
本発明にかかる触媒金属担体を構成する第一の金属としては、含酸素物質から酸素を遊離させ酸素活性種を効率良く生成する酸素活性種生成材(酸素遊離材)であることが好ましく、このような観点からAg、Pt、Rh、Pd、Ru、Ir、Os、Au及びCuからなる群から選択される少なくとも一種が用いられ、中でもAgを含有しているものが好ましく、Agを含有する合金が更に好ましく、Agであることが特に好ましい。なお、本発明にかかる前記第一の金属は、前述の金属を単独で用いたものであってもよいが、二種以上の金属からなる合金であってもよい。また、本発明にかかる第一の金属がAg以外の成分を含有する場合、Agの含有率が0.3質量%以上であることが好ましい。また、本発明にかかる触媒金属担体の表面に、第一の金属の酸化物層が形成されていてもよい。
このような第一の金属の大きさは、電子状態がメタルとしての性質(例えば酸化物になっていないこと)を維持できるようにある程度大きいことが好ましい。イオン化傾向が小さい金属ほど、金属が小さくてもメタルとしての性質を維持しやすい傾向にある。このように第一の金属がメタルとしての性質を維持することにより、吸着酸素種をより効率的に生成することが可能となる傾向にある。
本発明にかかる触媒金属担体の形状は特に限定されず、膜状であっても粒子状であってもよい。第一の金属(例えばAg)からなる触媒金属担体が膜状の場合、その厚さは3nm以上であることが好ましく、3〜1000nmであることがより好ましい。触媒金属担体の厚さが前記下限未満では触媒活性が低下する傾向にあり、他方、前記上限を超えるとコスト低減の観点から不都合となる傾向にある。
また、第一の金属(例えばAg)からなる触媒金属担体が粒子状である場合、その平均一次粒径は7nm以上であることが好ましく、7〜1000nmであることがより好ましく、15〜500nmであることが特に好ましい。触媒金属担体の平均一次粒径が前記下限未満では触媒活性が低下する傾向にあり、他方、前記上限を超えるとコスト低減の観点から不都合となる傾向にある。なお、第一の金属からなる複数の粒子が接触した状態で存在することにより触媒金属担体が形成されていてもよい。
本発明にかかる金属酸化物微粒子を構成する第二の金属としては、前記酸素活性種を移動及び/又は貯蔵することが可能な酸素活性種移動材であることが好ましく、このような観点から価数変動可能な金属が用いられる。このような第二の金属の酸化物としては、、La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu、Y、Zr、Fe、Ti、Al、Mg、Co、Ni、Mn、Cr、Mo、W、V、Zn及びSnの酸化物、これらの固溶体、並びにこれらの複合酸化物からなる群から選択される少なくとも一種が好ましく、CeO、Fe、ZrO、Y、TiO、Al、MgO、Co、Pr、Nd、ZnO、SnO、MnO、La、Cr、これらの固溶体、及びこれらの複合酸化物からなる群から選択される少なくとも一種であることがより好ましく、中でもCeO及びCeを含む複合酸化物が特に好ましい。また、第二の金属の酸化物においては、酸素活性種を移動させるためにある程度の欠陥を有するものが好ましい。
第二の金属の酸化物がCeO及びCeを含む複合酸化物の場合には、酸素活性種の移動度を高めると共にCeO粒子又はCeを含む複合酸化物粒子の粗大化をより確実に防止するために、La、Nd、Pr、Sm、Y、Ca、Ti、Fe、Zr、Al、Zn及びSnからなる群から選択される少なくとも一種(特に好ましくはLa及び/又はNd)を添加金属として更に含有していることがより好ましい。なお、このような添加成分を含有する場合、Ceと添加成分の合計量に対して添加成分の含有量が1〜30mol%程度が好ましく、5〜20mol%程度がより好ましい。
このような第二の金属の酸化物からなる金属酸化物微粒子の平均一次粒径は、1〜400nmであることが必要であり、1〜100nmであることがより好ましい。前記金属酸化物微粒子の平均一次粒径が1nm未満では、微粒子の空隙を含酸素物質が通過しにくくなり、触媒金属担体における活性酸素種の生成が阻害される。他方、前記金属酸化物微粒子の平均一次粒径が400nmを超えると、微粒子の空隙を粒子状物質が通過し易くなり、金属酸化物微粒子と粒子状物質の接触性が低下し、活性酸素種の粒子状物質への供給が阻害される。
また、第二の金属の酸化物からなる金属酸化物微粒子は、大気中500℃で5時間焼成した後の平均粒径が10〜100nm(より好ましくは10〜50nm)であることが好ましく、また、酸素10容量%及び窒素90容量%からなる雰囲気中800℃で5時間焼成した後の平均粒径が10〜400nm(より好ましくは10〜80nm)であることが好ましい。前記金属酸化物微粒子の上記平均粒径が上記下限未満ではスート等の粒子状物質との接触が阻害される傾向にあり、他方、上記上限を超えると微粒子の空隙を粒子状物質が通過し易くなり、金属酸化物微粒子と粒子状物質の接触性が低下し、活性酸素種の粒子状物質への供給が阻害される傾向にある。
このように、前記第二の金属の酸化物微粒子からなる層は、微粒子の空隙をO等の含酸素物質が通過して触媒金属担体に到達可能な構造であることが必要である。このような構造になっているか否かは、電子顕微鏡により確認できるほか、前記第1の金属に対する露出金属量測定(O及びHによる酸化還元滴定)によっても確認可能である。
前記第二の金属の酸化物微粒子からなる層の厚さは、特に限定されないが、粒子状物質への活性酸素種の効率的な供給の観点、及び粒子状物質の酸化時に生じた電子の触媒金属担体への効率的な移動の観点から、10μm以下であることが好ましく、400nm以下であることがより好ましく、100nm以下であることがさらにより好ましく、30nm以下であることが特に好ましく、10nm以下であることがさらに特に好ましい。他方、前記第二の金属の酸化物微粒子からなる層の厚さが1nm未満となると、粒子同士が成長して触媒金属担体とOの接触が阻害されるとともに、活性酸素種の貯蔵量が少なくなるため好ましくない。
本発明の排ガス浄化装置は、前記第一の金属からなる触媒金属担体上に、前記第二の金属の酸化物からなる金属酸化物微粒子が配置されてなる酸化触媒を備えており、前記金属酸化物微粒子上で排ガス中の粒子状物質を酸化するものである。このような本発明にかかる酸化触媒は、前述のとおり酸素活性種供給材として機能するものであることが好ましい。また、本発明にかかる酸化触媒により供給される酸素活性種としては、前述のとおり吸着酸素種が好ましく、分子状吸着酸素種が特に好ましい。
このような酸化触媒において、前記第二の金属からなる酸化物微粒子の表面に担持されている第三の金属超微粒子を更に備えていてもよい。かかる第三の金属超微粒子が存在すると、価数変動可能な金属と吸着酸素種と金属超微粒子との間での電荷のやり取りによりさらに吸着酸素種が生成し、さらに被酸化物への吸着酸素種の供給が容易になる傾向にある。
このような第三の金属超微粒子を構成する第三の金属としては、Hのイオン化傾向より小さいイオン化傾向を有するもの(例えば、Au,Pt,Pd,Rh,Ru,Ag,Hg,Cu,Bi,Sb,Ir,Os)であることが好ましく、Agのイオン化傾向以下のイオン化傾向を有するもの(貴金属:例えば、Au,Ag,Cu,Pt,Pd,Rh,Ru,Ir,Os)であることがより好ましく、前記第一の金属と同一のものであることが特に好ましい。また、第三の金属超微粒子が、1〜1000個の原子からなることが好ましい。
このような第三の金属超微粒子としては、FE−TEM観察によっても粒子として観察できないものが好ましく、Agの場合には孤立して存在し、価数変動可能な金属との間で電荷をやり取りしてAg2+として検出されるものが例示される。
また、本発明にかかる酸化触媒においては、HC、CO及びNOの酸化との両立を目的として、通常の含浸法等によりPt、Rh、Pd等の貴金属を更に担持していてもよい。
また、本発明の排ガス浄化装置は、前記酸化触媒を備えるものであればよく特に制限されるものではないが、基材と、前記酸化触媒とを備えるものがより好ましい。
このような基材としては特に制限されず、DPF基材、モノリス状基材、ハニカム状基材、ペレット状基材、プレート状基材、発泡状セラミック基材等が好適に採用される。また、このような基材の材質も特に制限されないが、コージエライト、炭化ケイ素、ムライト等のセラミックスからなる基材や、クロム及びアルミニウムを含むステンレススチール等の金属からなる基材が好適に採用される。
また、本発明の排ガス浄化装置においては、前記基材に付与する前記酸化触媒の量は特に制限されず、対象とする内燃機関等に応じてその量を適宜調整することができるが、基材体積1リットルに対して酸化触媒の量が10〜300g程度となる量が好ましい。なお、本発明の排ガス浄化装置としては、酸化触媒自身をペレット化する等して用いることもできる。
また、このような本発明の排ガス浄化装置においては、前記基材が1〜300μmの細孔を有するものであることが好ましい。
また、このような基材としては、気孔率が30〜70%(より好ましくは40〜65%)であることが好ましい。ここにいう「気孔率」とは、基材内部の空洞部分の体積率をいう。また、このような気孔率が前記下限未満では、排ガス中の粒子状物質により閉塞し易くなるとともに前記酸化触媒のコート層を形成しにくくなる傾向にあり、他方、前記上限を超えると、排ガス中の粒子状物質を捕集しにくくなるとともに基材の強度が低下する傾向にある。
このような本発明の排ガス浄化装置の構成例として、図2に記載のものが例示される。図2に記載の排ガス浄化装置においては、セラミックスからなる基材5の表面上に前記膜状の触媒金属担体1が形成され、さらにその表面上に前記金属酸化物微粒子2が配置されている。なお、4は金属−金属酸化物界面である。
このような触媒金属担体1を形成する方法は特に限定されず、金属板、めっき、ペースト、蒸着法(例えば、化学蒸着法、物理蒸着法、スパッタ蒸着法)等を用いることにより形成することができる。
また、触媒金属担体1の表面上に金属酸化物微粒子2の層を形成する方法も特に限定されず、金属酸化物微粒子又はその前駆体の分散液やゾルを用いて被覆(その後必要に応じて焼成)する方法や、蒸着法(例えば、化学蒸着法、物理蒸着法、スパッタ蒸着法)等を用いることにより形成することができる。
例えば、以下のようにしてスパッタリング成膜装置を用い、厚さ0.35mmのSi基板上にAg及びCeOからなる薄膜を形成することにより図2に記載の排ガス浄化装置を得ることができる。すなわち、基板の法線に対して70゜の方向に純度4NのAgターゲット材と、純度3NのCeOターゲット材をそれぞれ配置し、スパッタガスとして10%のOを含むArガスを用い、圧力が2.5×10−3Torr、投入電力がAgターゲットで16W、CeOターゲットで150Wとする。そして、先ずAgを蒸着し、その後CeOを蒸着することによりAg膜上にCeO微粒子を配置させることができる。なお、蒸着時間によりAgおよびCeOを所望の厚さにすることは容易であり、例えばAgの厚さを250nm、CeOの厚さを10nmとすることができる。このような蒸着法では層が膜状に形成される傾向にあることから、界面と気相酸素との接触を確保するため、金属酸化物微粒子層が緻密となるのを防止するために適宜加熱して金属酸化物を凝集させることが好ましい。
また、本発明の排ガス浄化装置の他の構成例として、図3に記載のものが例示される。図3に記載の排ガス浄化装置においては、セラミックスからなる基材5の表面上に、核となる前記第一の金属からなる粒子状の触媒金属担体1と、前記触媒金属担体1の周囲を覆っている前記第二の金属の酸化物からなる平均一次粒径が1〜100nmの金属酸化物微粒子2とからなる凝集体(酸化触媒)が配置されている。なお、4は金属−金属酸化物界面である。
本発明にかかる酸化触媒としてこのような凝集体を用いると、前述のように吸着酸素種の供給サイトが多くなり、また金属−金属酸化物界面が多いため、吸着酸素種が効率的に生成可能となり、さらに電力の供給も不要となるため特に好ましい。また、このような凝集体を用いると、セラミック基材、特に1〜300μmの細孔を有するDPF上への上記酸化触媒の形成が容易となる傾向にあり、好ましい。
以下、本発明に有効なこのような凝集体とその製造方法について説明する。
本発明にかかる凝集体における前記第一の金属からなる粒子の粒径は、特に限定されないが、大気中500℃で5時間焼成した後の平均粒径が10〜100nm(より好ましくは10〜50nm)であることが好ましく、また、酸素10容量%及び窒素90容量%からなる雰囲気中800℃で5時間焼成した後の平均粒径が10〜400nm(より好ましくは10〜80nm)であることが好ましい。第一の金属粒子の平均粒径が上記下限未満では酸素活性種生成材により生成された酸素活性種の第二の金属酸化物微粒子への受け渡しが阻害される傾向にあり、他方、上記上限を超えると第一の金属粒子が第二の金属酸化物微粒子によって覆われにくくなる傾向にある。
また、このような凝集体においては、大気中500℃で5時間焼成した後、並びに、酸素10容量%及び窒素90容量%からなる雰囲気中800℃で5時間焼成した後のいずれにおいても、前記第一の金属粒子の平均粒径が前記第二の金属酸化物微粒子の平均粒径の1.3倍以上であることが好ましく、2.0倍以上であることがより好ましい。このような条件を満たさないと、第一の金属粒子の周囲が十分に第二の金属酸化物微粒子により覆われず、粒子状物質を酸化する能力が低下する傾向にある。
本発明にかかる凝集体は、前記の第一の金属粒子の周囲が上記の第二の金属酸化物微粒子により覆われてなるものである。かかる第一の金属粒子と第二の金属酸化物微粒子との比率は特に限定されないが、第一の金属粒子を構成する主たる金属と第二の金属酸化物微粒子を構成する主たる金属との比率(モル比)が10:90〜80:20であることが好ましく、30:70〜60:40であることがより好ましく、35:65〜60:40であることが特に好ましい。第一の金属粒子の量が上記下限より少ないと、気相から遊離される酸素活性種の量が低下して粒子状物質を酸化する能力が低下する傾向にあり、他方、第二の金属酸化物微粒子の量が上記下限より少ないと、粒子状物質に移動できる酸素活性種の量が低下して粒子状物質を酸化する能力が低下する傾向にある。そして、上記の比率が35:65〜60:40であると、第一の金属粒子の周囲を第二の金属酸化物微粒子が覆い易く、且つ、それらの凝集体を形成しない両成分の割合が低下するため特に好ましい。
このような本発明にかかる凝集体の平均粒径は特に制限されないが、0.05〜0.5μmであることが好ましく、0.07〜0.2μmであることがより好ましい。前記平均粒径が上記下限未満では含酸素物質と第一の金属粒子との接触が阻害される傾向にあり、他方、上記上限を超えると第二の金属酸化物微粒子と粒子状物質との接触が阻害される傾向にある。
また、本発明にかかる凝集体は分散性が高いことが好ましく、全凝集体のうちの60容量%以上のものが前記平均粒径±50%の範囲内の粒径を有していることが好ましい。本発明にかかる凝集体がこのように分散性が高いと、粒子状物質を酸化する能力がより向上すると共に、DPF等の担体により均一に担持させることが可能となる傾向にある。
次に、本発明にかかる凝集体の製造方法について説明する。すなわち、本発明にかかる凝集体の製造方法としては、
第一の金属塩と第二の金属塩とを含有する溶液から、第一の金属塩に由来する第一の金属粒子が第二の金属塩に由来する第二の金属化合物微粒子により覆われている凝集体前駆体を生成せしめる工程と、
得られた凝集体前駆体を焼成することによって、核となる第一の金属粒子と、前記第一の金属粒子の周囲を覆っている平均一次粒径が1〜100nmの第二の金属酸化物微粒子とからなる凝集体を得る工程と、
を含む方法が挙げられる。
上記本発明にかかる第一の金属塩としては、前記第一の金属の塩であり、このような第一の金属塩としては、上記第一の金属の硝酸塩、酢酸塩、塩化物、硫酸塩、亜硫酸塩、無機錯塩等の水溶性の塩が挙げられ、中でも硝酸塩(例えば、硝酸銀)が好適に用いられる。また、本発明にかかる第二の金属塩としては、前記第二の金属の塩であり、このような第二の金属塩としては、上記第二の金属の硝酸塩、酢酸塩、塩化物、硫酸塩、亜硫酸塩、無機錯塩等の水溶性の塩が挙げられ、中でも硝酸塩(例えば、硝酸セリウム)が好適に用いられる。
さらに、第一の金属塩と第二の金属塩とを含有する溶液を調製するための溶媒としては、特に制限されず、水、アルコール(例えば、メタノール、エタノール、エチレングリコール等の単独又は混合系溶媒)等の各種溶媒が挙げられるが、水が特に好ましい。
なお、第一の金属塩と第二の金属塩との配合量(仕込み量)は、得られる第一の金属粒子と第二の金属酸化物微粒子との比率と完全には一致する必要はなく、得ようとする複合材料における第一の金属粒子と第二の金属酸化物微粒子との組み合わせや比率の好適条件に応じて第一の金属塩と第二の金属塩との組み合わせや配合量の条件が適宜設定される。また、第二の金属塩に対して第一の金属塩が過剰に存在するようにすると、溶液中に生成する第二の金属酸化物微粒子を全て凝集体の一部とさせ易くなる傾向にあり、凝集体以外の成分が溶液中に生成しないので好ましい。
また、このような凝集体の製造方法においては、前記凝集体前駆体を生成せしめる工程において、pH調整剤の存在下で前記第二の金属化合物微粒子を生成せしめ、前記第二の金属化合物微粒子の還元作用によって前記第一の金属粒子を析出させることによって前記凝集体前駆体を生成せしめることが好ましい。
酸化還元反応が起きるための要件は用いる第一の金属と第二の金属との電位で説明することができるが、電位はpH依存性がある。一般的に、pHが大きくなるほど電位は低下する。したがって、このような凝集体の製造方法においては、適宜pH調整剤を添加して酸化還元反応を制御することが好ましい。また、pH調整剤を添加することによって、活性化エネルギーも変化することから、酸化還元反応を最適条件にすることが可能である。このようなpH調製剤としては、NaOH、KOH、NH、HNO、HSOが例示されるが、一般的な酸やアルカリを用いれば足りる。
なお、例えば、第一の金属がAgの場合には、酸性側では電位が高いため、反応が早く進行し過ぎるため、粗大なAgが析出し易くなる傾向があることから、塩基の存在下でアルカリ性とすることが好ましい。その際、pH調整剤としてNaOHを用いると沈殿が生じてしまうことから、アンモニアでアルカリ性とすることが好ましい。この場合には、アンモニアは後述する錯化剤としても機能している。また、このような塩基の濃度は特に限定されないが、塩基としてアンモニアを用いる場合には一般的には1〜50%程度のアンモニア濃度を有する溶液を用いることが好ましい。さらに、この場合における第二の金属化合物微粒子は、第二の金属の水酸化物であると考えられる。
また、このような凝集体の製造方法においては、前記凝集体前駆体を生成せしめる工程において、錯化剤の存在下で前記第一の金属塩に由来する第一の金属化合物を生成せしめ、前記第二の金属化合物微粒子の還元作用によって前記第一の金属化合物を還元して前記第一の金属粒子を析出させることがより好ましい。
酸化還元反応を最適な条件にするためには、上記のようにpH調整剤を添加することが好ましいが、その場合、特に金属塩はpHによっては沈殿物を生じることがある。そこで、錯化剤を用いない場合に沈殿物が生成する条件であっても、錯化剤を添加することにより、金属塩の状態とすることができる。このようにすることにより、電位や活性化エネルギーも変化するため、適宜条件を合わせることが可能となる。例えば、CeO−Ag系の場合には、Agを[Ag(NHとすることが好ましい。このような錯化剤としては、アンモニア、有機酸(グリコール酸、クエン酸、酒石酸等)のアルカリ塩、チオグリコール酸、ヒドラジン、トリエタノールアミン、エチレンジアミン、グリシン、ピリジン、シアン化物が例示される。
さらに、このような凝集体の製造方法においては、前記凝集体前駆体を生成せしめる工程において、温度調整することが好ましい。反応溶液の温度条件は、酸化還元反応を支配する重要な因子である。溶媒が液体として機能している範囲で溶液の温度を適宜調整することが好ましい。例えば、CeO−Ag系の場合には、30℃以上とすることが好ましく、60℃以上とすることがより好ましい。後述する実施例のように、1〜3気圧、100〜150℃程度の条件とすると確実に反応を起こすことができる傾向にあり、また反応時間を短縮できることから産業への応用上も好ましい。
なお、前記凝集体前駆体を生成せしめる工程において、上記の金属塩溶液にpH調整剤含有溶液(例えば塩基性溶液)を添加・混合するいわゆる「沈殿法」であっても、pH調整剤含有溶液(例えば塩基性溶液)に上記の金属塩溶液を添加・混合するいわゆる「逆沈殿法」であってもよい。この場合において、第一の金属塩、第二の金属塩の順、又はその逆の順序で逐次添加・混合してもよい。また、反応時間は特に限定されないが、好ましくは0.1〜24時間程度、より好ましくは0.1〜3時間程度かけて凝集させることが好ましい。また、錯化剤を用いる場合には、予め錯化剤により金属塩としてから上記操作を行ってもよい。
また、このような前記凝集体前駆体を生成せしめる工程における反応溶液中の固形分濃度は特に制限されないが、1質量%〜50質量%であることが好ましく、10質量%〜40質量%であることがより好ましく、15〜30質量%であることが更に好ましい。固形分濃度が前記下限未満では、凝集処理の促進効果が低下する傾向にあり、他方、上記上限を超えると第一の金属粒子を核とした凝集体を得ることが困難となる傾向にある。
このように凝集処理を行うことで、前述のように第一の金属粒子が第二の金属化合物微粒子により覆われている凝集体前駆体が効率良く且つ確実に得られるようになる。
さらに、このような凝集体前駆体の平均粒径は特に制限されないが、0.05〜0.5μmであることが好ましく、0.07〜0.2μmであることがより好ましい。また、かかる凝集体前駆体の分散性が高いことが好ましく、全凝集体前駆体のうちの60容量%以上のものが前記平均粒径±50%の範囲内の粒径を有していることが好ましい。凝集体前駆体の分散性がこのように高いと、得られる本発明の複合材料の分散性が高くなり、DPF等の担体により均一に担持させることが可能となる傾向にある。
そして、このような凝集処理によって得られた凝集体前駆体を、必要に応じて洗浄した後に、焼成することによって、前述の凝集体を得ることができる。かかる焼成の際の条件は特に限定されないが、一般的には酸化雰囲気(例えば、空気)中において300〜600℃で1〜5時間程度かけて焼成することが好ましい。
なお、本発明にかかる凝集体の製造方法は上述の方法に限定されるものではない。例えば、前記第二の金属塩を含有する溶液中に前記第一の金属粒子を添加し、第一の金属粒子の表面に第二の金属化合物微粒子を担持せしめた後に焼成することによって、前述の凝集体を得ることができる。また、前記第一の金属粒子と前記第二の金属酸化物微粒子とを強力に混合することによって前述の凝集体を得ることも可能である。
このような凝集体を基材上に配置する方法は特に限定されず、例えば、以下に説明する第一の凝集体分散液又は第二の凝集体分散液を基材に接触させた後に焼成する方法が好適に挙げられる。
第一の凝集体分散液は、前記凝集体と、分散媒とを含有するものである。このような第一の凝集体分散液は、バインダーを更に含有していることが好ましい。ここで用いるバインダーとしては特に制限されず、例えばセリアゾル等が好適に用いられる。また、凝集体とバインダーとの混合比率も特に制限されず、凝集体とバインダーとの混合比率が重量比で99:1〜80:20程度であることが好ましい。例えば、バインダーを用いた場合であっても、超音波処理により容易に分散性の高い分散液(スラリー)を得ることができる。
また、第二の凝集体分散液は、上記凝集体の製造方法の過程で得られた凝集体前駆体と、分散媒とを含有するものである。このような第二の凝集体分散液においては、上述の凝集体の製造過程で得られた凝集体前駆体を含有する溶液から、系中の残存イオンを50〜99.9%分離して得られた凝集体前駆体を含有していることが好ましい。凝集する段階でもある程度の分散性はあるが、塩や錯化剤に起因する残存イオンを除去することにより非常に分散性の高い分散液を得ることができるようになる。
ここで、前記第一及び第二の凝集体分散液を基材に接触させる方法は特に制限されないが、例えばDPF等のフィルタ基材の細孔内に入り込ませる際には超音波をかけながら接触させることが好ましい。また、この場合の焼成条件は、前述の焼成条件と同様の条件が好ましい。なお、第二の凝集体分散液を用いた方法によれば、粒子状物質を酸化できる成分が凝集体自身であるゆえ、それ自身がバインダーの役割を果たし、より効果的な本発明の排ガス浄化装置を提供できる傾向にある。
次に、低温再生処理と強制再生処理とを実施する制御手段を備える本発明の排ガス浄化装置について説明する。
すなわち、本発明の排ガス浄化装置においては、強制再生処理が必要となるPM堆積量の第一の基準(A)と、第一の基準(A)よりも低い基準であるPM堆積量の第二の基準(B)とに基づいて、
求められたPM堆積量が第一の基準(A)と第二の基準(B)との間にある場合に、強制再生処理のための第一の再生処理温度よりも低い第二の再生処理温度で低温再生処理を施し、
求められたPM堆積量が第一の基準(A)を超えた場合に、強制再生処理を施す、
ように前記排ガス浄化装置を制御する制御手段を更に備えることが好ましい。このような制御手段を備えることによって、前記排ガス浄化装置に堆積したPMを効率よく除去することができ、排ガス浄化装置を再生させて連続的に使用することを可能とする。
このような前記制御手段としては、例えばエンジンコントロールユニット(ECU)が挙げられる。このようなECUは、マイクロプロセッサ及びその動作に必要なROM、RAM等の周辺装置を組み合わせたコンピュータとして構成されているものである。
また、前述の第一の再生処理温度としては、600℃以上(より好ましくは600〜650℃)の温度であることが好ましい。また、第二の再生処理温度は、前記第一の再生処理温度よりも低い温度であり、200〜500℃であることが好ましく、250〜400℃程度であることが好ましい。更に、「強制再生処理」とは、前記第一の再生処理温度による熱処理をいい、「低温再生処理」とは、前記第二の再生処理温度による熱処理をいう。なお、このような熱処理の時間は、再生処理を目的として排ガス温度を上昇させる際に生じる燃費悪化を抑制するという観点から、不必要に長くすることは好ましくなく、1〜10分程度とすることが好ましい。
また、第一の基準(A)及び第二の基準(B)は、排ガス浄化装置の大きさ、形態、基剤の種類等に応じて適宜その値を設定することができる。また、本発明においては、第一の基準(A)の方が第二の基準(B)よりも大きな値となる。さらに、このような第二の基準(B)の好適な値は、基材の種類等によって異なるものであることから特に制限されるものではないが、例えば、気孔率が65%の基材を用いた場合には、第二の基準(B)は基材1Lあたり1.5g/L以下であることが好ましく、1.0g/L以下であることがより好ましく、0.5g/L以下であることが更に好ましい。
このようなPMの堆積量を測定する方法としては特に制限されず、例えば、以下のような方法を採用できる。すなわち、このようなPMの堆積量を測定する方法としては、内燃機関の運転状況及び排ガス浄化装置の使用履歴等とPMの堆積量とに関するマップを予め作成しておき、そのマップに基づいてPMの堆積量を算出する方法、前記凝集体を排ガス管等に配置した場合には前記凝集体を配置した位置の前後の位置の排ガスの圧力差とPMの堆積量とに関するマップを予め作成しておき、そのマップに基づいて圧力差を測定してPMの堆積量を算出する方法、圧力差を吸入空気量で補正することによりPM堆積量を算出する方法、及び、それらの方法をすべて採用する方法等を適宜採用することができる。なお、このようなPMの堆積量を測定においては、それに必要な各種センサーを適宜用いてもよい。
以下、このような制御手段を用いた場合について、フローチャートを参照しながら説明する。図4は、このような制御の好適な一実施形態を示すフローチャートである。図4に示すステップ1ではコントロールユニットにおいてPMの堆積量を算出し、ステップ2では、そのPMの堆積量が第二の基準(B)以上であるか否かを判断する。そして、PMの堆積量が第二の基準(B)以上であればステップ3へ進み、PMの堆積量が第二の基準(B)未満であれば再生処理を施さずにそのまま終了する。そして、ステップ3では、PM堆積量が第一の基準(A)を超えたか否かを判断する。そして、PMの堆積量が第一の基準(A)以下である場合、すなわち、PMの堆積量が第一の基準(A)と第二の基準(B)との間にある場合には、ステップ4に進み低温再生処理が施される。また、ステップ3でPMの堆積量が第一の基準(A)を超えたと判断された場合には、ステップ5に進み強制再生処理が施される。
また、このような低温再生処理等を施す場合においては、第二の再生処理温度として複数の温度条件が設定し、求められたPM堆積量が第一の基準(A)と第二の基準(B)との間にある場合に、低温側の第二の再生処理温度で低温再生処理を施し、その後のPM堆積量が第二の基準(B)未満となった場合は低温再生処理を終了し、該PM堆積量が未だ第一の基準(A)と第二の基準(B)との間にある場合は、順次高温側の第二の再生処理温度に変更して低温再生処理を繰り返すように前記排ガス浄化装置を制御することがより好ましい。
このようにして繰り返して低温再生処理を施すことで、強制再生処理を施すことなく、より低温で排ガス浄化装置を再生することが可能となり、強制再生処理を施す回数を大幅に減らすことができるため、再生時の内燃機関の燃費の低下を低減することができ、更には、基材を更に備える場合に、基材の溶損、割れ等を十分に抑制することができる。なお、低温再生処理を繰り返す際には、第一の基準(A)と第二の基準(B)との間にある場合に第二の再生処理温度を順次高温側に変更していくこととなるが、複数設定されている第二の再生処理温度のうちのより低い温度で再生処理を終了させることが好ましい。なお、このような第二の再生処理温度として設定される複数の温度の条件は、特に制限されず、前述のように200〜500℃の温度範囲内にあることが好ましく、基材の種類やPMの性状等によってPMを浄化するのに最適な温度に適宜設定することができる。
以下、このようにして繰り返して低温再生処理を施すように制御する場合の好適な例を、フローチャートを参照しながら説明する。図5は、このような制御の好適な一実施形態を示すフローチャートである。このような制御を行う場合においては、先ず、コントロールユニットにおいてPMの堆積量を算出し、PMの堆積量が第一の基準(A)と第二の基準(B)との間にある場合に、図5に示すステップ1に進む。このようなステップ1においては、低温再生処理の回数iが1であると認定する。次に、ステップ2に進み第二の再生処理温度をT(iは低温再生処理の回数を示し、例えば、第二の再生処理温度がT、T、T、Tと4段階に設定されていた場合であってi=1の場合にはTが採用される。なお、温度は、T<T<T<Tの関係にある。)に設定して昇温し、低温再生処理を施す。そして、低温再生処理後にステップ3に進み、PMの堆積量Xi(iは低温再生処理の回数を示す)を算出する。その後、ステップ4において、このようにして算出されたPMの堆積量Xiが第二の基準(B)未満であるか否かを判定し、Xiが第二の基準(B)未満である場合には低温再生処理を終了する。そして、PMの堆積量Xiが未だ第二の基準(B)以上である場合、すなわち、未だXiが第一の基準(A)と第二の基準(B)との間にある場合には、ステップ5に進み、それまでに施された低温再生処理の回数iと、第二の再生処理温度として設定されている温度の設定数e(例えば、第二の再生処理温度がT、T、T、Tと4段階に設定されていた場合にはe=4となる)とが同一であるか否かを判定し、i=eである場合には、低温再生処理を終了する。また、それまでに施された低温再生処理の回数iの値が、第二の再生処理温度の設定数e未満である場合(e>iの場合)には、ステップ6に進み、低温再生処理の回数iをi+1回と認定して、再度ステップ2に進み、i+1回目の低温再生処理を施す。なお、このようなi+1回目の低温再生処理は、i回目の処理よりも高い温度のTi+1まで昇温する再生処理である。そして、このような制御の下では、ステップ4又はステップ5において終了条件を満たすものと判断されるまで、ステップ2〜6が順次繰り返され、繰り返し低温再生処理が施される。
なお、前記制御手段を更に備える上記本発明の排ガス浄化装置においては、前記低温再生処理を施す際に酸素活性種が連続的に生成されることが好ましい。すなわち、前記低温再生処理を施す際に、酸素活性種が良好に供給可能となる温度「基準温度T」以上にすることが好ましい。前述のとおり酸素活性種の生成及び移動を行ってPMに効率的に酸素活性種を供給するためには特定の温度以上(例えば、後述するCeAg−La10の場合は250℃以上)に昇温することが好ましい。そのため、PM堆積量が基準値を超えた場合には、先ず、酸素活性種をPMに良好に供給するために「基準温度T」以上とすることが好ましい。
また、前記制御手段を更に備える上記本発明の排ガス浄化装置においては、前記強制再生処理を施した後に前記触媒金属担体上に配置された前記金属酸化物微粒子により酸素活性種が貯蔵されることが好ましい。すなわち、後の低温再生処理のために、必要に応じてさらに高温まで昇温して強制再生処理を施した後に酸素活性種を生成及び貯蔵しておくことが好ましい。なお、さらに高温にすることは燃費悪化につながることから、上記の酸素活性種を良好に供給する目的で昇温する制御と兼ねることが好ましい。その際、堆積していたPMをなるべく完全に除去しておけば生成した酸素活性種は直ちにPM酸化に使われることがなく、より大量に貯蔵されることとなり好ましい。
また、本発明の排ガス浄化装置においては、前記凝集体を配置した前又は後の位置にNOx浄化触媒を更に配置させてもよい。後の位置にNOx浄化触媒を配置することで、排ガス浄化の際に、前記凝集体によりPMが十分に除去された排ガスがNOx浄化触媒に接触するため、NOx浄化触媒がPMにより被毒劣化することが十分に抑制される。
また、NOx浄化の観点からは、NOxを還元可能な温度を保持するために前段にNOx浄化触媒を配置してもよい。この場合でもPMを十分に浄化することが可能であるため、PM及びNOxの浄化を両立することが可能である。
なお、このような本発明の排ガス浄化装置は、内燃機関から排出される排ガスを接触させることで、PMを含む排ガスを十分に浄化することができる。そして、このような排ガス浄化装置により、気相中の酸素を酸化剤とすることが可能であり、より低温の温度領域で十分にPMを酸化することができ、PMが堆積した場合においても比較的低温の再生処理で排ガス浄化装置を十分に再生させることが可能となる。更に、本発明の排ガス浄化装置は、前記制御手段を更に備えた場合には、触媒活性の劣化を防止しながら、より長期間の使用が可能となる。
以下、実施例及び比較例に基づいて本発明をより具体的に説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
なお、Ce原料としては硝酸セリウム6水和物、Ag原料としては硝酸銀、La原料としては硝酸ランタン6水和物をそれぞれ用いた。
なお、硝酸塩溶液調製段階の(Ce+Ag)に対するAgのmol%を用いて得られた凝集体を表現した。例えば、Agが60mol%となるように硝酸塩溶液を調製して得られた凝集体を「CeO−Ag60」(又は「Ce−Ag60」)と表現した。また、硝酸塩溶液調製段階のCeと添加成分の合計量に対する添加成分のmol%を用いて得られた凝集体を表現した。例えば、Ce:Ag=40:60,Ce:La=90:10(Ce:Ag:La=90:135:10)の仕込み比で調製して得られた凝集体を「CeAg−La10」と表現した。
(実施例1)
Ceと添加成分の合計量に対する添加成分(La)の含有率(mol%)がLa10mol%となるようにCe、Ag及び添加成分を含有する硝酸塩溶液を調製するようにして、以下のようにしてCeO−Ag−La凝集体「CeAg−La10」(酸化触媒)をコートしたDPFを得た。すなわち、先ず、50.46gのCe(NO・6HOと、5.59gのLa(NO・6HOと、29.62gのAgNOとを120mLの水で溶解せしめた溶液を調製し、次に、25%アンモニア水38.21gを水100gに希釈したアンモニア水を調製した。そして、上記アンモニア水を撹拌しているところに前述のようにして調製した溶液を投入し(逆沈殿)、10分間撹拌を継続した後、水の存在下、閉鎖系において2気圧の条件下にて120℃に加熱して2時間の凝集処理を行って凝集体を調製した。
次に、得られた凝集体を、テストピースサイズ(35ml)のDPF(コージェライト製、気孔率65%、平均細孔径30μm)に以下のコート方法で被覆せしめて本発明の排ガス浄化装置を得た。すなわち、逆沈殿、凝集処理後の沈殿(凝集体)を遠心分離により回収し、水を加えることによって15質量%濃度のスラリーを得た。次いで、そのスラリーをDPFの細孔内に入り込むように接触させた。その状態で吸引したのち大気中500℃で1時間の焼成を施しながら、担持量(被覆量)が150g/Lとなるまで繰り返した。この方法のメリットは、焼成時に沈殿自身が焼結してバインダーの役割を果たすため、スート酸化に有効な成分のみからなる被覆を形成することができる。また、上記のスラリーの粒度分布を測定すると、約0.1μmの凝集体が安定に分散していたことから、DPFへの被覆が容易であることが確認された。なお、上記のコート方法では超音波をかけずに接触させたが、超音波をかけながら行ってもよい。
(実施例2)
実施例1と同様にして得られた排ガス浄化装置に対して、O10%、N90%からなる雰囲気中において800℃で5時間焼成する耐久試験を行い、耐久試験後の本発明の排ガス浄化装置を得た(「CeAg−La10 800℃耐久又は800℃aged」)。
(実施例3)
2LサイズのDPF(コージェライト製、気孔率65%、平均細孔径30μm)を用いたこと以外は実施例1と同様にして本発明の排ガス浄化装置を得た(被覆量:150g/L)。
(実施例4)
凝集体を得る際にLa(NOを用いず、CeとAgの合計量に対するAgの含有率(mol%)が60mol%となるようにCe及びAgを含有する硝酸塩溶液を調製した以外は実施例1で採用した凝集体の製造方法と同様の方法を採用して凝集体を調製し、得られた凝集体を大気中500℃で5時間焼成してCeO−Ag凝集体「CeO−Ag60」(酸化触媒)を得た。
<Ag含有率の評価>
得られたCeO−Ag60におけるAgの含有率をICP発光分析法により分析したところ、50.2mol%であった。
<CeO粒子径及びAg粒子径の評価>
得られたCeO−Ag60におけるCeO粒子径(平均一次粒径)及びAg粒子径(平均一次粒径)をXRDにより求めたところ、CeO粒子径は11nm、Ag粒子径は29nmであった。
また、そのCeO−Ag60を酸素10容量%及び窒素90容量%からなる雰囲気中800℃で5時間焼成した後のものについても同様の測定を行ったところ、CeO粒子径は41nm、Ag粒子径は52nmであった。
<SEM観察>
得られたCeO−Ag60の表面状態をSEM(走査型電子顕微鏡)により観察した。得られた結果を図6に示す。図6に示した結果と、XRDより求めた粒子径と、TEMによりCeOが凝集した形態であると確認されたことを考慮すると、約100nmオーダーで観察される凝集体はCeO粒子及びAg粒子が一次凝集したものであり、その凝集体は更に二次凝集して集合体(高次凝集体)を形成していることが確認された。
<粒度分布の測定>
得られたCeO−Ag60について、レーザ回折/散乱式粒度分布測定装置(日機装社製、MT3300EX)を用いて粒度分布を測定した。得られた粒度分布の測定結果を、縦軸を累計(体積%)にして図7に示す。図7に示した結果から明らかなとおり、得られたCeO−Ag60における凝集体の平均粒径は約0.1μmであり、0.1μm±50%以内である0.05〜0.15μmに約80%の粒子が入ることが確認された。
<細孔容積及び細孔径分布の評価>
得られたCeO−Ag60における細孔容積及び細孔径分布を水銀ポロシメータにより測定した。得られた結果を図8及び図9(図9は累積容積分布)に示す。その結果、全細孔の容積は0.21cc/g、0.01〜1.0μmの細孔径を有する細孔の容積は0.19cc/gであった。
また、凝集体により形成される空隙細孔の範囲は0.06〜0.18μmであり、その平均空隙細孔径は0.1μmであった。したがって、図9に示した結果から、平均空隙細孔径±50%の範囲である0.05〜0.15μmの細孔径を有する空隙細孔の容積が、前記空隙細孔の全容積の80%を占めていることが確認された。さらに、0.05〜0.5μmの細孔径を有する細孔の容積が、全細孔の容積の85%を占めていることも確認された。
(実施例5)
実施例1で得られたCeAg−La10をコートしたDPFに白金ジニトロジアミンの水溶液を用いて担持量が0.5g/Lとなるように含浸法によりPtを担持せしめてPt担持CeO−Ag−La基材「CeLaAg−Pt0.5」を得た。
(実施例6)
実施例1で得られたCeAg−La10をコートしたDPFに白金ジニトロジアミンの水溶液を用いて担持量が2.0g/Lとなるように含浸法によりPtを担持せしめてPt担持CeO−Ag−La基材「CeLaAg−Pt2」を得た。
(比較例1)
先ず、DPF(コージェライト製、気孔率65%、平均細孔径30μm、直径14.38cm×長さ15.24cm)を、325mlの蒸留水中に125gのCe(NO・6HOと、18gのZrO(NOと、6.4gのSm(NO・6HOと、2.1gのY(NO・6HOと、38.4gのクエン酸とを混合した溶液に含浸し、105℃で乾燥した後、600℃で4時間焼成した。
次いで、325mlの蒸留水中に68.5gのAgNOと、155gのCe(NO・6HOと、8.5gのZrO(NOと、12.8gのSm(NO・6HOと、3.0gのY(NO・6HOとを混合した溶液を基材に含浸した後、室温で一晩乾燥し、更に、105℃で10時間乾燥した後、600℃で4時間焼成した。
そして、100mlの蒸留水中に69.6gのCe(NO・6HOと、5.4gのCu(NO・3HOと、0.51gのAgNO及と、9gの尿素とを混合した溶液を、105℃にされたDPFに含浸し、80℃で乾燥した後、更に、650℃で4時間焼成して、比較のための排ガス浄化装置を製造した。なお、前記排ガス浄化装置における基材表面の触媒層の組成は、Sm、Zr及びYの添加により安定化されたセリアを持つAg0.5Ce0.5であった。
(比較例2)
Agを用いないで金属成分としてCeのみを含有する硝酸塩溶液を調製した以外は実施例4で採用した凝集体の製造方法と同様の方法を採用してCeO粉末「CeO」を得た。
(比較例3)
比較例2で得られたCeO粉末に白金ジニトロジアミンの水溶液を用いて担持量が3.2wt%となるように含浸法によりPtを担持せしめ、500℃で焼成して比較のためのPt担持CeO粉末「Pt/CeO」を得た。
(比較例4)
市販のα−Al粉末(昭和電工社製、商品名:UA−5205)に硝酸銀の水溶液を用いて担持量(Ag/(Ag+Al))が50mol%となるように含浸法によりAgを担持せしめ、500℃で焼成して比較のためのAg担持Al粉末「Ag/Al」を得た。
(比較例5)
実施例1で用いたDPFに、セリアゾル(多木化学社製、ニードラールU15)を用いて担持量(被覆量)が30g/Lとなるように含浸法によりセリアをコートせしめた後、白金ジニトロジアミンの水溶液を用いて担持量が0.5g/Lとなるように含浸法によりPtを担持せしめ、500℃で焼成して比較のためのPt担持CeO「Pt/CeO」をコートしたDPFを得た。
<PM酸化性能評価試験1>
実施例1及び比較例1で得られた排ガス浄化装置を用いて、ディーゼルエンジンの排気中において200℃で約2g/LのPMを堆積させ、その後500℃、N雰囲気を15分間保持することにより未燃炭化水素成分を除去するようにし、更に、流量30L/min、O10%雰囲気において、昇温速度20℃/分で昇温させた。そして、このときのCOピークによりPM酸化性能を比較した。得られた結果を図10に示す。なお、堆積させたPMの性状をあわせるため、PMを堆積させる処理は同時に行った。
図10に示すグラフからも明らかなように、本発明の排ガス浄化装置のCOピークが440℃付近にあり、比較のための排ガス浄化装置のCOピークが600℃付近にあることから、本発明の排ガス浄化装置においては、比較的低温で十分にPMを酸化して除去できることが確認された。
<PM酸化性能評価試験2>
実施例1及び2で得られた本発明の排ガス浄化装置をそれぞれ用いた以外は、PM酸化性能評価試験1と同様の方法を採用してPMを堆積させ、COピークによりPM酸化性能を測定した。得られた結果を図11に示す。
図11に示す結果からも明らかなように、先ず、実施例1で得られた本発明の排ガス浄化装置においては、3つのピークが見られることが確認された。このようなピークは、壁内で捕集されているドライスートと、壁内で捕集されている燃え難いスートと、壁外に堆積しているスートにそれぞれ起因するものであると推察される。また、初期(実施例1)のものと耐久試験後(実施例2)のものとで同様のピークを示していることから、本発明の排ガス浄化装置は耐久性が高いことが分かった。
このように、実施例1で得られた本発明の排ガス浄化装置においては、PMを酸化した際のCOピークが3つあることから、各ピーク温度(T2〜T4)と、後述するスート酸化速度の測定試験(図12参照)により酸化性能が確認された温度TG(T1)とを前述の第二の再生処理温度として設定して、前述のような低温再生処理を施すことで、効率よく再生できることが確認された。
<PM酸化性能評価試験3>
実施例3で得られた排ガス浄化装置と、比較のための2LサイズのDPF(コージェライト製、気孔率65%、平均細孔径30μm)とを用い、それぞれをエンジンからの配管中に設け、圧力変動を測定することによりPM酸化性能を評価した。なお、エンジンは、2Lディーゼルエンジンを用い、3000rpm、11.0kgmの運転条件で基材入り口の圧力を測定した。基材入り口の排気温度は約360℃であった。そして、安定した運転条件となった時点で、ある時点からの圧力差の時間変化を測定した。得られた結果を図12に示す。
図12に示した結果から明らかなとおり、DPF基材のみであるとPMが酸化しないことから圧力は時間とともに単調に増加したのに対して、本発明の排ガス浄化装置においては若干の圧力変動は見られるものの、ほぼ一定の圧力で推移した。この結果から、本発明の排ガス浄化装置によればPMを連続的に酸化できていることが確認された。また、このような結果から、PMの堆積量と圧力とが比例する関係にあると考えられる。そのため、前述のような制御手段を採用する際に、PMの堆積量の測定方法として圧力の変化を測定して、PMの堆積量を測定する方法を好適に採用できることが分かった。
<PM酸化性能評価試験4>
実施例1で得られた排ガス浄化装置を3つ用いて、それぞれにディーゼルエンジンの排気中において200℃でPMを堆積させ、その後500℃、N雰囲気を15分間保持することにより未燃炭化水素成分を除去するようにし、更に、流量30L/min、O10%雰囲気において、昇温速度20℃/分で昇温させた。なお、各排ガス浄化装置のPMの堆積量をそれぞれ1g/L、2g/L、5g/Lとした。そして、このときのCOピークによりPM酸化性能を比較した。得られた結果を図13(PM堆積量1g/L)、図14(PM堆積量2g/L)、図15(PM堆積量5g/L)に示す。なお、堆積させたPMの性状をあわせるため、PMを堆積させる処理は同時に行った。
図13〜15に示す結果からも明らかなように、本発明の排ガス浄化装置(実施例1)においては、より低温で再生処理を施すために、PM堆積量がより少ない状態で低温再生処理を施すことが好ましいことが確認され、例えば、PMの堆積量が1g/L以下である場合に低温再生処理を施すことが好ましいことが分かった。
<PM酸化速度の測定試験>
実施例1で得られた本発明の排ガス浄化装置を用い、ディーゼルエンジンの排気中において200℃でPMを2g/L堆積させ、その後500℃、N雰囲気を15分間保持することにより未燃炭化水素成分を除去するようにし、更に、流量30L/min、O10%雰囲気において、各温度に10分間保持し、測定されるCOの濃度からPMの酸化速度を求めた。得られた結果を図16に示す。
図16に示す結果からも明らかなように、300℃程度で十分にPMを酸化することが可能であることが確認された。
<スート酸化速度の測定試験>
先ず、実施例1〜2で得られたDPFにコート前の凝集体を大気中500℃で5時間焼成したものと、実施例4で得られた凝集体を用い、以下の混合方法でスート(カーボン組成99.9%以上)と混合して測定用サンプルを作製した。なお、各凝集体とスートとの混合比は、重量比(g)で2:0.1とした。なお、実施例2で製造された凝集体には、実施例2で採用した方法と同様の方法を採用して耐久試験を施した。
混合方法:スターラー(アズワン社製、MMPS−M1)とマグネット乳鉢(アズワン社製、MP−02)を用い、スピード目盛り「3」の電動混合にて3分間混合して均一混合物(測定用サンプル)を得た。
次に、得られた測定用サンプル(実施例1〜2及び4)について、熱重量分析計「GC−MS5972A」(Hewlett Packard社製)を用い、O10%/Heバランス雰囲気において各測定温度で10分間温度を保持し、そのときの重量Mと全スート重量Mからスート酸化速度を算出した。なお、算出法は、最初の重量Mの測定後に最終的に800℃まで昇温したときの重量を元にスート重量Mを算出し、測定時間t(ここでは1/6時間)から次式:
スート酸化速度=(M−M)/{(M+M)×t/2}
により算出した。得られた結果を図17に示す。
図17に示した結果から明らかなとおり、いずれの凝集体においても240℃付近からスート酸化活性が認められた。また、初期の凝集体(実施例1)及び耐久試験後の凝集体(実施例2)は、ともにスート酸化活性が非常に高いことが確認された。
<低温で酸素活性種を生成することの実証試験:同位体交換反応試験>
実施例1で得られたDPFにコート前の凝集体(CeAg−La10)を大気中500℃で5時間焼成したものと、比較例3で得られたPt担持CeO粉末「Pt/CeO」を用い、以下のようにして18O/16O同位体交換反応における分圧変化を測定した。すなわち、各試料を16雰囲気中450℃で30分維持した後、450℃で10分真空脱気し、さらに300℃で42.4Torrの18を導入し、18O/16O同位体交換反応における分圧変化を測定した。得られた結果を図18(実施例1)及び図19(比較例3)に示す。
比較例3で得られた試料の場合には、300℃でほとんどスートを酸化できないのに対し、同位体交換反応では1618Oの生成が多いことから、解離吸着を経ているものと本発明者らは推察した。
これに対して、実施例1で得られた試料においては1618Oよりも16の生成の多いことから、吸着酸素種が積極的に生成されており、その結果スート酸化の促進も達成されていることが確認された。また、16の生成が多いことから、分子状の吸着酸素種を多く生成しているものと本発明者らは推察した。さらに、気相酸素だけではなく、格子酸素も有効に利用できていることが確認されたことから、本発明の排ガス浄化装置においては単に気相酸素の吸着及び脱離ではなく、CeOとAgとの界面におけるCe、Ag、Oの電荷移動により酸素活性種が効率的に生成されているものと本発明者らは推察した。
したがって、この同位体交換反応試験によって、前述の再生処理温度T1が酸素活性種が良好に供給可能となる温度であることが実証された。
<高温昇温による酸素活性種の生成と貯蔵の確認試験:TPD試験>
実施例1で得られたDPFにコート前の凝集体(CeAg−La10)を大気中500℃で5時間焼成したものと、比較例2で得られたCeO粉末「CeO」と、比較例3で得られたPt担持CeO粉末「Pt/CeO」と、比較例4で得られたAg担持Al粉末「Ag/Al」を用い、以下のようにしてO−TPDの200℃〜400℃におけるO脱離量を測定した。すなわち、各試料をO気流中600℃で30分維持した後、室温まで冷却し、次いでHe気流中20℃/分で昇温して200℃〜400℃におけるO脱離量を測定した。得られた結果を図20に示す。
また、実施例1で得られたCeAg−La10をコートしたDPFと、比較例5で得られたPt/CeOをコートしたDPFを用い、上記と同様にしてO−TPDの200℃〜400℃におけるO脱離量を測定した。その結果、実施例1で得られたDPFにおけるO脱離量は31μmol/gであったのに対し、比較例5で得られたDPFにおけるO脱離量は2.4μmol/gであった。
なお、比較例で得られた試料においてはいずれも酸素の脱離ピークがみられなかったのに対し、実施例1で得られた試料においては吸着酸素種が生成されて貯蔵されていることが確認された。したがって、本発明の排ガス浄化装置においては高温昇温により生成された酸素活性種が貯蔵され、低温での粒子状物質の酸化に利用可能であることが確認された。なお、O脱離量とTGでの活性には非常によい相関がある。
<酸素活性種の同定試験:ESR試験>
実施例1で得られた凝集体(CeAg−La10)を用いて以下のようにしてESR測定を行った。すなわち、試料をO気流中600℃で30分維持した後、He気流中室温まで冷却し、次いで250℃でH処理を施した後に250℃で封印し、20KでESR測定を行った。得られた結果を図21に示す。
図20に示したTPD試験による脱離量に比例するO シグナルが観察されたことから、本発明の排ガス浄化装置において生成された吸着酸素種は還元処理によりその一部がO となる性質を有することが確認された。
したがって、前記のTPD試験及びESR試験によって、前述の再生処理温度T2〜T4が(i)接触性を考慮してより強力に酸素活性種を供給できる温度であること、(ii)低温での連続酸化のために酸素活性種が生成される温度であることが実証された。このことから、上記のように酸素活性種の供給を効率的に行いつつPM浄化と燃費向上とを両立するために、図4及び図5に示すフローチャートのような制御を行うことが有効であることが確認された。
<CO及びHC浄化評価試験>
実施例1で得られたCeO−Ag−La凝集体をコートした基材「CeLaAg」と、実施例5で得られたPt担持CeO−Ag−La基材「CeLaAg−Pt0.5」と、実施例6で得られたPt担持CeO−Ag−La基材「CeLaAg−Pt2」を用いて以下のようにしてCO及びHCの浄化率を測定した。すなわち、以下の雰囲気及び昇温条件:
雰囲気:O(10%)+CO(1%)+C(1%C)+CO(10%)+HO(10%)
昇温条件:100〜400℃、10℃/min、30L/min
の下でCO及びHCの濃度(vol%)を測定し、それらの浄化率を測定した。結果を図22(CO浄化率)及び図23(HC浄化率)に示す。
これらの結果から、Ptを更に担持することにより、HC及びCOに対する浄化温度が低減されることが確認された。
<PM酸化性能評価試験5>
実施例1で得られたCeO−Ag−La凝集体をコートした基材「CeLaAg」と、実施例6で得られたPt担持CeO−Ag−La基材「CeLaAg−Pt2」をそれぞれ用いた以外は、PM酸化性能評価試験1と同様の方法を採用してPMを堆積させ、COピークによりPM酸化性能を測定した。得られた結果を図24に示す。
図22〜図24に示した結果からも明らかなように、本発明の排ガス浄化装置においては、Ptを更に担持することにより、PM酸化性能を犠牲にすることなく、HC及びCOに対する浄化温度を低減できることが確認された。
(実施例7〜10及び参考例1〜3
触媒金属担体として以下の金属粒子を用いた。
参考例1:Ir粒子、和光純薬工業社製、097-04811、45μm
参考例2:Ru粒子、和光純薬工業社製、183-01641、45μm
実施例:Ag粒子、高純度化学研究所社製、AGE04PB、約75〜150μm
実施例:Ag粒子、Vacuum Metallurgical社製、Lot27-42-1
実施例:Ag粒子、日清エンジニアリング社製、Lot No.13607327
実施例10:Ag−Pd粒子、日清エンジニアリング社製、DBET=50nm、Lot No.13606C15A
参考例3:Cu粒子、高純度化学研究所社製、CUE08PB、約1μm。
先ず、50.46gのCe(NO・6HOと5.59gのLa(NOとを120mLの水で溶解せしめた溶液を調製した(Ce:La=9:1(mol比))。次いで、得られた溶液を撹拌しているところに、溶液中の硝酸塩に対してアンモニアが等量となるようにアンモニア水を投入し、撹拌してLa固溶CeOの前駆体微粒子を得た。
次に、得られた前駆体微粒子と前記触媒金属担体とを、担体を構成する金属とセリウムとのモル比が1:1となるように混合し、攪拌した後に大気中500℃で5時間焼成して表1に示す本発明の排ガス浄化装置(酸化触媒である凝集体)を得た。
実施例7〜10及び参考例1〜3で得られたいずれの酸化触媒においても、触媒金属担体の二次粒子が維持されており、その表面に平均一次粒径が約10nmである金属酸化物微粒子が担持された構造となっていることが確認された。
また、実施例7〜10及び参考例1〜3で得られたいずれの酸化触媒においても、大気中500℃で焼成した後に触媒金属担体を構成する金属がメタル状態に維持されていることがXRDにより確認された。なお、Cu粒子とPd粒子の表面にはそれらの酸化物が存在することも確認された。
(比較例6)
実施例7〜10及び参考例1〜3で用いたLa固溶CeOの前駆体微粒子をそのまま大気中500℃で5時間焼成して得られたLa固溶CeO微粒子のみを比較のために用いた。
(実施例11〜21及び参考例4〜6
触媒金属担体として以下の金属粒子を用いた。
参考例4:Rh粒子、石福金属興業社製、Mタイプ、0.5μm
参考例5:Ru粒子、和光純薬工業社製、183-01641、45μm
参考例6:Cu粒子、高純度化学研究所社製、CUE08PB、約1μm
実施例11:Ag粒子、Vacuum Metallurgical社製、Lot27-42-1
実施例12〜21:Ag粒子、高純度化学研究所社製、AGE09PB、約1μm。
また、金属酸化物微粒子として以下のものを用いた。
実施例11〜12、参考例4〜6:比較例6で得られたLa固溶CeO微粒子
実施例13:Fe微粒子、和光純薬工業社製
実施例14:Co微粒子、高純度化学研究所社製
実施例15:ZnO微粒子、和光純薬工業社製
実施例16:SnO微粒子、和光純薬工業社製
実施例17:TiO微粒子、石原産業社製、TTO55A
実施例18:ZrO微粒子、第一稀元素社製、RC100
実施例19:MnO微粒子、和光純薬工業社製
実施例20:La微粒子、和光純薬工業社製
実施例21:Cr微粒子、和光純薬工業社製。
先ず、1.0gの前記触媒金属担体と1.0gの前記金属酸化物微粒子とを、スターラー(アズワン社製、MMPS−M1)とマグネット乳鉢(アズワン社製、MP−02)を用い、スピード目盛り「3」の電動混合にて3分間混合した。さらに、得られた均一混合物をめのう乳鉢により強力に混合することによって表2に示す本発明の排ガス浄化装置(酸化触媒である凝集体)を得た。
実施例11〜21及び参考例4〜6で得られたいずれの酸化触媒においても、触媒金属担体の二次粒子が維持されており、その表面に平均一次粒径が1〜400nmである金属酸化物微粒子が担持された構造となっていることが確認された。
(比較例7)
Ag粒子(高純度化学研究所社製、AGE09PB、約1μm)のみを比較のために用いた。
(比較例8)
比較のため、酸化触媒を用いなかった。
<スート酸化性能評価試験>
実施例4で得られたCeO−Ag凝集体(CeO−Ag60、酸化触媒)、実施例7〜21及び参考例1〜6で得られた酸化触媒、比較例6で得られたLa固溶CeO微粒子、比較例7のAg粒子をそれぞれ以下の混合方法でスート(カーボン組成99.9%以上)と混合して測定用サンプルを作製した。なお、酸化触媒とスートとの混合比は、重量比(g)で2:0.1とした。また、比較例8に関してはスートのみを用いて測定用サンプルを作製した。
すなわち、先ず、スターラー(アズワン社製、MMPS−M1)とマグネット乳鉢(アズワン社製、MP−02)を用い、スピード目盛り「3」の電動混合にて3分間混合した。さらに、得られた均一混合物をめのう乳鉢により強力に混合することによって測定用サンプルを得た。
次に、各測定用サンプルについて、TG−mass法により昇温時のCOピーク温度を測定した。熱重量分析計は「TG8120」(理学電機社製)を用いた。熱重量分析計には「GC−MS5972A」(Hewlett Packard社製)が接続され、熱重量分析計で発生したガス成分のマススペクトルを測定した。測定条件は、O10%/Heバランス雰囲気において、20℃/分の昇温速度で800℃まで昇温し、m/e=44成分をスート酸化によって生じるCO成分として測定した。得られた結果を表1及び表2に示す。
表1及び表2に示した結果から明らかなとおり、実施例4、実施例7〜10、参考例1〜6、実施例11〜21で得られた排ガス浄化装置(酸化触媒)はいずれも、金属酸化物微粒子(比較例6)や触媒金属担体(比較例7)に比べてCOピーク温度が低く、非常に高いスート酸化能力を有していることが確認された。
以上説明したように、本発明によれば、粒子状物質(PM)の酸化に特に好ましい酸素活性種が生成される構成が達成され、酸化触媒がおかれる条件下で安定的に酸素活性種が供給されるようになる。そのため、本発明の排ガス浄化装置によれば、内燃機関から排出される排ガス中の粒子状物質をより低温の温度領域で効率的に酸化することができ、粒子状物質が堆積した場合においても比較的低温の再生処理で十分に再生させることが可能となる。
したがって、本発明の排ガス浄化装置は、PM浄化性能に優れるため、大型トラックのディーゼルエンジンから排出される排ガスを浄化するための排ガス浄化装置等として特に有用である。

Claims (17)

  1. Ag、Pt、Rh、Pd、Ru、Ir、Os、Au及びCuからなる群から選択される少なくとも一種である第一の金属からなる触媒金属担体上に、価数変動可能な第二の金属の酸化物からなる平均一次粒径が1〜400nmの金属酸化物微粒子が配置されてなる酸化触媒を備えており、前記第一の金属がAgを含有しているものであり、前記金属酸化物微粒子上で排ガス中の粒子状物質を酸化する排ガス浄化装置。
  2. 前記第一の金属が含酸素物質から酸素を遊離させ酸素活性種を生成する酸素活性種生成材であり、前記第二の金属の酸化物が前記酸素活性種を移動及び/又は貯蔵することが可能な酸素活性種移動材であり、前記酸化触媒が酸素活性種供給材として機能するものである請求項1に記載の排ガス浄化装置。
  3. 前記酸素活性種が吸着酸素種である請求項2に記載の排ガス浄化装置。
  4. 前記酸素活性種が分子状吸着酸素種である請求項3に記載の排ガス浄化装置。
  5. 前記触媒金属担体が3nm以上の厚さを有する膜状の触媒金属担体である請求項1に記載の排ガス浄化装置。
  6. 前記触媒金属担体が7nm以上の平均一次粒径を有する粒子状の触媒金属担体である請求項1に記載の排ガス浄化装置。
  7. 前記酸化触媒が、核となる前記第一の金属からなる粒子状の触媒金属担体と、前記触媒金属担体の周囲を覆っている前記第二の金属の酸化物からなる平均一次粒径が1〜100nmの金属酸化物微粒子とからなる凝集体である請求項6に記載の排ガス浄化装置。
  8. 前記第二の金属の酸化物からなる層の厚さが10μm以下である請求項1に記載の排ガス浄化装置。
  9. 前記第一の金属がAgである請求項に記載の排ガス浄化装置。
  10. 前記第二の金属の酸化物が、La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu、Y、Zr、Fe、Ti、Al、Mg、Co、Ni、Mn、Cr、Mo、W、V、Zn及びSnの酸化物、これらの固溶体、並びにこれらの複合酸化物からなる群から選択される少なくとも一種である請求項1に記載の排ガス浄化装置。
  11. 前記第二の金属の酸化物がCeO又はCeを含む複合酸化物であり、La、Nd、Pr、Sm、Y、Ca、Ti、Fe、Zr及びAlからなる群から選択される少なくとも一種を添加金属として更に含有している請求項10に記載の排ガス浄化装置。
  12. 大気中500℃で5時間焼成した後の前記金属酸化物微粒子の平均粒径が10〜100nmである請求項1に記載の排ガス浄化装置。
  13. 酸素10容量%及び窒素90容量%からなる雰囲気中800℃で5時間焼成した後の前記金属酸化物微粒子の平均粒径が10〜400nmである請求項1に記載の排ガス浄化装置。
  14. 強制再生処理が必要となる粒子状物質堆積量の第一の基準(A)と、第一の基準(A)よりも低い基準である粒子状物質堆積量の第二の基準(B)とに基づいて、
    求められた粒子状物質堆積量が第一の基準(A)と第二の基準(B)との間にある場合に、強制再生処理のための第一の再生処理温度よりも低い第二の再生処理温度で低温再生処理を施し、
    求められた粒子状物質堆積量が第一の基準(A)を超えた場合に、強制再生処理を施す、
    ように前記排ガス浄化装置を制御する制御手段を更に備える請求項1に記載の排ガス浄化装置。
  15. 前記低温再生処理を施す際に、酸素活性種が連続的に生成される請求項14に記載の排ガス浄化装置。
  16. 前記強制再生処理を施した後に、前記触媒金属担体上に配置された前記金属酸化物微粒子により酸素活性種が貯蔵される請求項14に記載の排ガス浄化装置。
  17. 第二の再生処理温度として複数の温度条件が設定されており、求められた粒子状物質堆積量が第一の基準(A)と第二の基準(B)との間にある場合に、低温側の第二の再生処理温度で低温再生処理を施し、その後の粒子状物質堆積量が第二の基準(B)未満となった場合は低温再生処理を終了し、該粒子状物質堆積量が未だ第一の基準(A)と第二の基準(B)との間にある場合は、順次高温側の第二の再生処理温度に変更して低温再生処理を繰り返すように前記排ガス浄化装置を制御する請求項14に記載の排ガス浄化装置。
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