JP2005329318A - ディーゼルパティキュレートフィルタ - Google Patents

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Abstract

【課題】パティキュレートの燃焼温度の低下を図るとともに、触媒貴金属のシンタリングを防止する。
【解決手段】ディーゼルエンジンの排気通路に配設され、排気ガス中のパティキュレートを捕集するフィルタ本体の排気ガス流路の壁面に、Ce及びZrを有する複合酸化物粒子を含有するコート層が形成されていて、上記パティキュレートを酸化燃焼させるための触媒貴金属として、上記複合酸化物粒子の結晶格子又は原子間に配置されて該粒子の内部及び表面に存在するRhと、上記複合酸化物粒子の結晶格子又は原子間に配置されて該粒子表面に存在するPtとを備えている。
【選択図】 図4

Description

本発明は、ディーゼルエンジンの排気通路に配設され、該エンジンから排出される排気ガス中のパティキュレートを捕集し、該パティキュレートを燃焼浄化するディーゼルパティキュレートフィルタに関するものである。
ディーゼルパティキュレートフィルタへのパティキュレート堆積量が増加して該フィルタの目詰まりを生ずると、ディーゼルエンジンの背圧が高くなり、エンジン気筒内に残る燃焼排ガスが多くなるとともに、エンジンのポンプ仕事が増大するため、エンジン出力の低下、燃費の悪化を招く。従って、フィルタの目詰まりを生ずる前に該フィルタのパティキュレートを燃焼浄化する必要がある。このフィルタのパティキュレートは600℃程度になると自然に着火燃焼するが、ディーゼルエンジンでは、フィルタに到達する排気ガス温度が通常運転時には600℃よりもかなり低い。
これに対して、フィルタの排気ガス流路壁面に酸素吸蔵能を有するセリア-ジルコニア複合酸化物を塗布し、さらに該複合酸化物に酸化触媒作用を有する触媒貴金属を担持させることにより、フィルタのパティキュレートを600℃よりも低い温度で燃焼させる、という提案がある(特許文献1参照)。この提案は、エンジンを空燃比リーンで運転しながら間欠的に空燃比リッチにすることにより、上記複合酸化物の酸素吸蔵・放出作用を利用して活性酸素を生成し、この活性酸素によってパティキュレートを燃焼させる、というものである。
特開2003−334443号公報
上記従来技術でも、パティキュレートの燃焼温度を低下させる効果が得られるが、その低下にも限界がある。また、パティキュレートフィルタにおいてパティキュレートの燃焼が始まると、該フィルタの温度が1000℃ぐらいまで上昇することがあるが、この温度上昇によって、上記複合酸化物に担持されている触媒貴金属がシンタリングして、パティキュレートの燃焼性が低下する。
すなわち、本発明の課題は、触媒貴金属のシンタリングを防止してパティキュレートの燃焼性能を長期間維持できるようにするとともに、パティキュレートの燃焼温度の低下を図ることにある。
本発明は、このような課題に対して、パティキュレート燃焼用の触媒貴金属をドープした複合酸化物粒子をフィルタ本体に担持させるようにした。
すなわち、請求項1に係る発明は、ディーゼルエンジンの排気通路に配設され、該エンジンから排出される排気ガス中のパティキュレートを捕集し、該パティキュレートを燃焼浄化するディーゼルパティキュレートフィルタであって、
フィルタ本体の排気ガス流路の壁面に、上記パティキュレートを酸化燃焼させるための触媒貴金属と、Ce及びZrを有する複合酸化物粒子とを含有するコート層が形成されていて、
上記触媒貴金属として、上記複合酸化物粒子の結晶格子又は原子間に配置されて該粒子の内部及び表面に存在するRhと、上記複合酸化物粒子の結晶格子又は原子間に配置されて該粒子表面に存在するPtとの少なくとも一方を備えていることを特徴とする。
従って、触媒貴金属であるRh又はPtは、複合酸化物粒子の結晶格子または原子間に配置されて分散しているから、高熱に晒されたときのシンタリングを生じ難い。
また、上記複合酸化物粒子は、Ceを含有することにより、排気ガスの酸素濃度が高いときに該排気ガス中の酸素を吸蔵し、その酸素濃度が低下したときに酸素を放出するOSC(Oxygen Storage Capacity)材として働くが、この複合酸化物粒子の結晶格子または原子間にRhが配置されているケースでは、酸素吸蔵速度が速やかに高くなり、その最高値も高くなるとともに、酸素吸蔵量も多くなり、従って、雰囲気の酸素濃度が低下したときの酸素放出量も多くなる。
その理由は明確ではないが、当該複合酸化物粒子に接触する酸素が酸素イオンの形で該粒子内部の酸素欠損部に取り込まれる際の粒子表面側から内部への酸素イオンの移動、或いは粒子内部から粒子表面への酸素イオンの移動を、該粒子内部に存するRhが助けていると考えられる。
そうして、パティキュレートフィルタのコート層にパティキュレートが付着して複合酸化物粒子表面に局部的に酸素濃度が低い部分を生ずると、そこへ該複合酸化物粒子に吸蔵されている酸素が活性酸素となって放出され、この活性酸素が粒子表面のRhによるパティキュレートの酸化反応に利用されるため、或いは多量の酸素が素早く上記酸素濃度の低い部分に供給されるため、そこが火種となる。しかしながら、同時にその周囲では酸素が欠乏する。
そして、複合酸化物のOSC能が低い場合では、上記火種を生じ、該火種の周囲が酸素欠乏状態になった際、さらに追加供給される酸素が少ないために、パティキュレートの実質的な燃焼(継続的な燃焼)の開始に至らないことがある。
これに対して、本発明の場合は、一旦火種を生ずると、上述の如く上記複合酸化物粒子の優れたOSC能により、その火種に対して酸素が継続的に且つ十分に供給され、パティキュレートの実質的な燃焼開始に繋がりやすい。すなわち、パティキュレートの実質的な燃焼開始温度が低下する。このため、フィルタの再生(パティキュレートの燃焼浄化)にあたり、エンジンの燃料噴射制御によって排気ガス温度を高める場合でも、そのための燃料噴射量を少なくすることができ、或いはフィルタに対して未燃燃料を供給して酸化燃焼させフィルタの温度を高める場合でも、その未燃燃料の供給量を少なくすることができ、フィルタの再生時間の短縮、燃費の向上に有利になる。
一方、上記複合酸化物粒子の結晶格子または原子間にPtが配置されているケースでは、このPtの大部分が該粒子表面に存在するから、該粒子にパティキュレートが付着したとき、該粒子内部から放出される活性酸素が粒子表面のPtによるパティキュレートの酸化反応に効率良く利用されることになり、該パティキュレートが燃焼し易くなる。すなわち、パティキュレートの燃焼開始温度が低下し、上記Rhの場合と同じく、フィルタの再生時間の短縮、燃費の向上に有利になる。
請求項2に係る発明は、ディーゼルエンジンの排気通路に配設され、該エンジンから排出される排気ガス中のパティキュレートを捕集し、該パティキュレートを燃焼浄化するディーゼルパティキュレートフィルタであって、
フィルタ本体の排気ガス流路の壁面に、上記パティキュレートを酸化燃焼させるための触媒貴金属と、Ce及びZrを有する複合酸化物粒子とを含有するコート層が形成されていて、
上記触媒貴金属として、上記複合酸化物粒子の結晶格子又は原子間に配置されたRhと、該Rhが結晶格子又は原子間に配置されている上記複合酸化物粒子の表面に担持されたPtとを備えていることを特徴とする。
従って、請求項1に係る発明と同様に、Rhが複合酸化物粒子の結晶格子又は原子間に配置されているため、該Rhのシンタリングが防止されるとともに、該Rhの働きによって複合酸化物粒子のOSC能が高まり、パティキュレートの燃焼開始温度の低下に有利になる。
そうして、この請求項2に係る発明の場合は、RhによってOSC能が高められた複合酸化物粒子の表面にPtが担持されているから、Ptを複合酸化物粒子の結晶格子又は原子間に配置させて該粒子の表面に存在させるケースよりも、Ptがパティキュレートの燃焼反応を促進する触媒として働き易くなり、粒子内部から放出される活性酸素が粒子表面のPtによるパティキュレートの酸化反応に効率良く利用され、パティキュレートの燃焼開始温度が低下し、フィルタの再生時間の短縮、燃費の向上に有利になる。
また、上記Ptは、フィルタが高熱に晒されたときに上記複合酸化物粒子表面を拡散移動するが、そのときに該粒子の結晶格子又は原子間に配置されているRhに捕捉される結果、さらなる拡散移動が妨げられ、シンタリングすることが抑制される。
以上のように、請求項1に係る発明によれば、フィルタ本体の排気ガス流路の壁面にCe及びZrを有する複合酸化物粒子とを含有するコート層が形成され、触媒貴金属として、上記複合酸化物粒子の結晶格子又は原子間に配置されて該粒子の内部及び表面に存在するRhと、上記複合酸化物粒子の結晶格子又は原子間に配置されて該粒子表面に存在するPtとの少なくとも一方を備えているから、触媒貴金属のシンタリングを生じ難くなるとともに、上記複合酸化物粒子から放出される活性酸素が粒子表面に存在する触媒貴金属によるパティキュレートの燃焼に効率良く利用されて、パティキュレートの実質的な燃焼の開始温度が低下し、フィルタの再生時間の短縮、燃費の向上に有利になる。
請求項2に係る発明によれば、フィルタ本体の排気ガス流路の壁面にCe及びZrを有する複合酸化物粒子とを含有するコート層が形成され、触媒貴金属として、上記複合酸化物粒子の結晶格子又は原子間に配置されたRhと、該Rhが結晶格子又は原子間に配置されている上記複合酸化物粒子の表面に担持されたPtとを備えているから、Rh及びPtのシンタリングを生じ難くなるとともに、該Rhの働きによって複合酸化物粒子のOSC能が高まり、パティキュレートの燃焼開始温度の低下に有利になり、しかも、粒子内部から放出される活性酸素が粒子表面のPtによるパティキュレートの酸化反応に効率良く利用され、パティキュレートの燃焼開始温度の低下、フィルタの再生時間の短縮、燃費の向上に有利になる。
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。
図1及び図2にディーゼルパティキュレートフィルタ(以下、DPFと略す。)1を模式的に示すように、このDPF1は、ハニカム構造をなしており、互いに平行に延びる多数の排気ガス流路2,3を備えている。すなわち、DPF1は、下流端が栓4により閉塞された排気ガス流入路2と、上流端が栓4により閉塞された排気ガス流出路3とが前後左右に交互に設けられ、排気ガス流入路2と排気ガス流出路3とは薄肉の隔壁5を介して隔てられている。なお、図1においてハッチングを付した部分は下流端の栓4を示している。
DPF1は、そのフィルタ本体が例えばコージライトのような多孔質材料から形成されており、排気ガス流入路2内に流入した排気ガスは図2において矢印で示したように周囲の隔壁5を通って隣接する排気ガス流出路3内に流出する。すなわち、図3に示すように、隔壁5は排気ガス流入路2と排気ガス流出路3とを連通する微細な細孔(排気ガス流路)6を有し、この細孔6を排気ガスが通る。
上記DPF1のフィルタ本体の上記排気ガス流路(排気ガス流入路2、排気ガス流出路3及び細孔)の壁面には触媒コート層7が形成されている。このコート層7は、複合酸化物粒子の結晶格子又は原子間に触媒貴金属が配置されてなる触媒粉を、水及びバインダと混合してスラリーとし、このスラリーをフィルタ本体にウォッシュコートし、焼成することによって形成されている。
図4に上記触媒粉の粒子を模式的に示す。すなわち、これは、CeZrNd複合酸化物粒子にRh及びPtがドープされたものである(図中、Rhを黒丸で示し、Ptを白丸で示している。)。なお、「ドープ」とは、当該貴金属が複合酸化物粒子の結晶格子又は原子間に配置されていることを意味する。CeZrNd複合酸化物は、Ce、Zr及びNdを含有する混合酸化物である。
図4に示すように、Rhは複合酸化物粒子の内部にドープされているとともに、複合酸化物粒子の表面にもドープされて存在する。一方、Ptは複合酸化物粒子にドープされてその表面に存在し、複合酸化物粒子の内部には見当たらない(内部に存在するか否かは不明であるが、後述するXRD解析によるCeZrNd複合酸化物のピークの観察では検出できない。)。また、当該触媒粉の熱エージング(例えば1000℃前後の温度に数時間ないしは数十時間加熱保持)した場合、Ptの少なくとも一部は拡散移動してRhに捕捉(ないしは結合)された状態になる。
なお、CeZrNd複合酸化物に代えてNdを含まないCeZr複合酸化物を採用してもよい。また、Rh及びPtのうちの一方のみをドープするようにしてもよく、或いはRh及びPtの少なくとも一方に加えて、他の触媒金属をドープするようにしてもよい。
また、上記Rh又はPtをドープした複合酸化物粒子に、Pt等の触媒金属をさらに含浸法、蒸発乾固法等によって担持させるようにしてもよい。Kを担持させると、パティキュレートの燃焼開始温度を低下させる上で有利になる。
<触媒粉の製造方法>
上記触媒粉は以下のステップで製造することができる。
まず、Rh及びPtのうちの少なくとも一方と、Ceと、Zrとを含む酸性溶液を調製する(出発原料調製ステップ)。この出発原料は、例えば各金属の硝酸塩の溶液を混合して調製することができる。必要に応じて、Ndや、他の触媒金属を含ませることができる。
上記出発原料である酸性溶液を撹拌しながらに過剰のアンモニア水を素早く添加混合し、出発原料の全金属を金属水酸化物として共沈させ、非結晶性前駆体を得る(アンモニア共沈法による複合酸化物前駆体を調製するステップ)。上記共沈を生じた液を一昼夜放置し、上澄み液を除去して得られたケーキを遠心分離器にかけ、水洗する(沈殿分離ステップ)。上記水洗したケーキを150℃前後の温度に加熱して乾燥させる(乾燥ステップ)。乾燥したケーキを加熱焼成する(焼成ステップ)。この焼成は、当該ケーキを大気雰囲気において例えば400℃の温度に5時間保持した後、500℃の温度に2時間保持することにより行なう。上記焼成物をさらに還元雰囲気において500℃程度の温度に保持する(還元ステップ)。
以上により、上記触媒貴金属がドープされた複合酸化物が得られる。
<パティキュレート燃焼温度についての実験>
触媒貴金属を複合酸化物にドープ又は後担持させた種類の異なる複数の触媒粉を調製し、各々についてパティキュレートとしてのカーボンブラックと混合し、DTA(示差熱分析)により、発熱ピーク時温度(パティキュレート燃焼温度)を調べた。
−触媒粉の調製−
実施例1
上述の製造方法(共沈法)によって触媒貴金属としてRhのみを複合酸化物粒子にドープした触媒粉を調製した。
すなわち、オキシ硝酸ジルコニウム、硝酸第一セリウム、硝酸ネオジム(III)含水及び硝酸ロジウム溶液の所定量を混合し、水300mLを加えて室温で約1時間撹拌した。この混合溶液を80℃まで加熱昇温させた後、ガラス棒を用いて強く、素早く撹拌しつつ、別のビーカーに用意していた28%アンモニア水50mLを一気に加えて混合した。このアンモニア水の添加・混合は1秒以内に完了させた。アンモニア水の混合により白濁した溶液を一昼夜放置し、生成したケーキを遠心分離器にかけ、十分に水洗した。この水洗したケーキを約150℃の温度で乾燥させた後、400℃の温度に5時間保持し、次いで500℃の温度に2時間保持するという条件で焼成した。
なお、上記混合溶液を80℃まで加熱昇温させた後、ガラス棒を用いて強く、素早く撹拌しつつ、28%アンモニア水50mLをビュレットにて0.42mL/秒の滴下速度で混合(添加開始から混合完了までの時間2分)しても、上記1秒以内のアンモニア水の添加・混合速度の場合に近い浄化性能が得られるが、より速いアンモニア水の添加・混合速度が好ましい。
以上により得られた実施例1に係る複合酸化物粒子(触媒粒子)の質量組成比は、CeO2:ZrO2:Nd23:Rh=24.55:72.6:2.6:0.25である。すなわち、複合酸化物粒子に含まれる触媒貴金属量は0.25質量%である。
実施例2
触媒貴金属をRh及びPtの2種として、実施例1と同じ方法で実施例2に係る触媒粉を調製した。すなわち、実施例2に係る触媒粉は、図4に示すように、Rh及びPtを複合酸化物粒子にドープしたものである。Pt源としてはジニトロジアミン白金硝酸塩溶液を用いた。RhとPtとの質量組成比はRh/Pt=3/1であり、触媒貴金属(Rh及びPt)の総量は実施例1と同じく0.25質量%である。
実施例3
触媒貴金属をRh及びPtの2種とし、RhとPtとの質量組成比をRh/Pt=1/3として、実施例2と同じ方法で実施例3に係る触媒粉(Rh及びPtを複合酸化物粒子にドープしたもの)を調製した。触媒貴金属の総量は実施例1と同じく0.25質量%である。
実施例4
触媒貴金属をPtのみとして、実施例1と同じ方法で実施例4に係る触媒粉(Ptのみを複合酸化物粒子にドープしたもの)を調製した。Pt源としてはジニトロジアミン白金硝酸塩溶液を用いた。触媒貴金属量は実施例1と同じく0.25質量%である。
実施例5
触媒貴金属をRh及びPtの2種として、Rhのみが複合酸化物粒子にドープされ、Ptが後担持された、実施例5に係る触媒粉を調製した。すなわち、実施例1と同じ方法でRhのみをドープした複合酸化物粒子を調製し、これにジニトロジアミン白金硝酸塩溶液を含浸させ、乾燥及び焼成を行なった。図5は実施例5(及び次に説明するに実施例6)に係る触媒粒子を模式的に示すものである。実施例5ではRhとPtとの質量組成比がRh/Pt=3/1であり、触媒貴金属の総量は実施例1と同じく0.25質量%である。
実施例6
実施例5と同じ方法により、RhとPtとの質量組成比がRh/Pt=1/3の実施例6に係る触媒粉(Rhのみを複合酸化物粒子にドープしPtを後担持したもの)を調製した。触媒貴金属の総量は実施例1と同じく0.25質量%である。
比較例
触媒貴金属をドープせずに実施例1と同じ方法で複合酸化物粒子を調製し、これに触媒貴金属としてPtのみを後担持させた、比較例に係る触媒粉を調製した。
−熱分析(DTA)−
上記各触媒粉を大気雰囲気において900℃の温度に66時間加熱保持する熱エージングを行なった後、それらをカーボンブラックと混合し、DTA用サンプルを調製した。カーボンブラック量は各触媒粉に対して20質量%とした。このDTA用サンプルを反応容器に充填し、酸素10%、NO2250ppmの模擬排気ガスを供給しながら、10℃/分の速度で昇温してDTAピーク時温度を測定した。図6はその結果を示すグラフ図である。
同図によれば、実施例4と比較例とは共にPtのみを触媒貴金属として含有するが、実施例4の方が比較例よりもDTAピーク時温度が低い。従って、Ptを複合酸化物粒子にドープさせると、Ptを後担持させる場合よりもパティキュレートの燃焼開始温度が下がるということができる。これは、実施例4の場合、Ptが複合酸化物粒子の結晶格子又は原子間に配置されているため、シンタリングをあまり生じていないこと、また、Ptが複合酸化物粒子のOSC性能を高めているためと考えられる。
実施例1と実施例4とを比較すると、触媒貴金属としてRhを採用した実施例1の方がPtを採用した実施例4よりもDTAピーク時温度が低い。これは、実施例1ではRhが複合酸化物粒子の内部に多くドープされ、該複合酸化物粒子のOSC性能をより強く高めているためと考えられる。
実施例2と実施例3とを比較すると、Rh量が多い実施例2の方が実施例3よりもDTAピーク時温度が低い。これは、実施例2ではRhが複合酸化物粒子の内部に多くドープされ、OSC性能が高くなっているためと考えられる。
実施例2,3と実施例5,6とを比較すると、Ptを後担持させた実施例5,6の方が実施例2,3よりもDTAピーク時温度が低い。これは、実施例2,3の場合はPtの殆どが複合酸化物粒子の表面に存在するとはいっても、結晶格子又は原子間に配置されていることから、当該粒子表面でパティキュレートの燃焼触媒として働く部分が、Ptを後担持した実施例5,6よりも少なくなっている、端的に言えば、触媒として働くPtの表面積が狭くなっているためと考えられる。
また、実施例5,6の後担持されたPtの方が、ドープされたPtよりもシンタリングを生じ易いということができるが、実施例5,6の場合もRhが複合酸化物粒子にドープされているから、このRhにPtが捕捉された状態になってシンタリングが進行し難く、このシンタリングによる性能低下は少なくなっていると考えられる。
<複合酸化物粒子表面の構造解析>
実施例1と同じ方法で調製した実施例に係るRhドープ複合酸化物粒子(但し、Rhドープ量は0.486質量%)と、触媒貴金属をドープせずに実施例1と同じ方法で調製した複合酸化物粒子にRhを後担持してなるRh後担持複合酸化物粒子(但し、Rh担持量は0.486質量%)とを準備した。これらについて、大気雰囲気において1000℃の温度に24時間保持する熱エージングを行なった後、XRD(X線回折分析)によってCeZrNd複合酸化物のピークを調べた。その結果を図7に示す。
同図によれば、Rhドープ複合酸化物粒子では、CeZrNd複合酸化物のピークがRh後担持に比べて低角側にシフトしている。この低角側へのシフトは、Rhの影響と認められる。すなわち、この結果は、実施例では、RhがCeZrNd複合酸化物の結晶格子又は原子間に存在している、すなわち、RhがCeZrNd複合酸化物にドープされていることを裏付けるものである。
<複合酸化物粒子表面のRhの状態>
上記Rhドープ複合酸化物及びRh後担持複合酸化物について、上記熱エージング後の粒子表面のTEM(透過電子顕微鏡)観察を行なった。結果を図8((a)がRhドープ、(b)がRh後担持)に示す。同図において丸で囲んだ部位に黒く写っているものがRhである。明確ではないが、Rh後担持の場合、Rhが比較的大きな塊になって分散しているのに対し、RhドープではRhが小さな点になって分散している。この結果も、実施例ではRhが複合酸化物粒子の格子点ないしは他の原子間に配置されている、ひいては分散度が高いことの裏付けとなる。また、Rhドープの場合、複合酸化物粒子表面に位置するRhの粒子径は3nm以下であることが理解できる。尚、Rhの粒子径は1nm以下であることが好ましい。
<複合酸化物粒子表面のPtの状態>
図9はドープ法で調製したPt/Rh比が異なる各種のCeZrNd複合酸化物、含浸法で作成したPt後担持複合酸化物、並びに貴金属を担持していない複合酸化物について、上述の熱エージングを施した後にXRD(X線回折分析)によってPtのピークを調べた結果を示している。同図のPt/Rh比の横に当該供試材に採用した調製法を括弧書きで付記している。また、ドープ法及び含浸法のいずれにおいても貴金属量は0.25質量%である。
Pt/Rh比=100/0(含浸法)とPt/Rh比=100/0(ドープ)とを比べると、前者ではPtのピークが明確に現れているのに対し、後者では殆ど認められない。Pt/Rh比=25/75(ドープ)では、Pt/Rh比=0/100(ドープ)及び「貴金属なし」と同じく、Ptのピークを検出することができない。
このことから、含浸法(後担持)では、Ptのシンタリングが進行したのに対して、ドープ法ではPtのシンタリングが強く抑制されている、ということができる。
また、ドープ法ではPtのピークが明確に現れないということは、PtとCeZrNd複合酸化物との結合が安定していること、換言すれば、PtがCeZrNd複合酸化物にドープされており、Pt同士がシンタリングし難い状態にあることを裏付けるものである。
<TEM観察結果>
図10はドープ法を採用したPt/Rh比=25/75の複合酸化物粒子を上記熱エージング後にSTEM(走査型透過電子顕微鏡)で観察したものである。同図の四角の枠囲みした部分をEDX(エネルギー分散型X線分析装置)によって定量分析した結果、Pt;7.3質量%,Rh;6.5質量%であった。
すなわち、上記ドープ法によって複合酸化物を生成しただけでは、Rh及びPtは、偶発的に結合していることはあっても、基本的には結合することなく別個に分散した状態にある。この状態は500℃前後の温度での焼成時間が長くなっても実質的には変わらない。
これに対して、上記熱エージング後では上記枠囲みした極小部にPtとRhとが存在するということは、この熱エージングによってPtが複合酸化物表面を拡散移動してRhに結合し捕捉されたことを意味する。
そうして、図9に示すように、Pt/Rh比=25/75(ドープ)を熱エージングした後においても、Ptのピークが検出されないということは、Ptが大きな塊になることなく、複合酸化物表面に広く分散していることを意味する。
よって、上記XRD解析(図9)及びEDX解析の結果は、上記複合酸化物のRh及びPtの少なくとも一部は、上記熱エージング後は当該複合酸化物粒子表面において互いに結合して広く分散した状態(高分散状態)にあり、しかも、Ptは拡散移動しないようにRhに捕捉されていることの裏付けとなる。
<酸素吸蔵特性について>
−Rhドープ複合酸化物とRh後担持複合酸化物との比較−
上記実施例のRhドープ複合酸化物(Rh量;0.486質量%)及び従来例のRh後担持複合酸化物(Rh量;0.486質量%)について、それぞれアルミナと混合した顆粒状の試料を調製し、エージング(大気雰囲気で1000℃の温度に24時間加熱)後、酸素過剰雰囲気での酸素吸蔵速度を測定した。実施例及び従来例のいずれも、測定に供した試料の量は0.05gであり、そのうちの0.016gがアルミナである。
図11にその測定装置を示す。同図において、符号11は試料12を保持するガラス管であり、試料12はヒータ13によって所定温度に加熱保持される。ガラス管11の試料12よりも上流側には、O2、CO及びHeの各ガスをパルス状に供給可能なパルスガス発生装置14が接続され、ガラス管11の試料12よりも下流側には、キャピラリーカラム16を介して質量分析計17が接続され、また、排気部18が設けられている。ガラス管11の試料保持部には温度制御用の熱電対19が取付けられている。
測定にあたっては、ガラス管11内の試料温度を500℃に保ち、排気部18から定常的に排気を行ないながら、図12に示すようにO2パルス(25msのパルス)を15秒毎に発生させ、これを数サイクル行なった後、今度はO2パルス発生から4秒遅れでCOパルス(50msのパルス)を発生させていくようにした。その間、質量分析計17によって各サイクルにおけるマスナンバー32の信号強度(O2量)の経時変化を計測するようにした。
そうして、図13に示すように、COパルス前の信号強度の経時変化(O2パルスのみを発生させていた間において試料の酸素吸蔵が飽和し安定した信号強度変化を示すようになったときのデータ)と、COパルス後の信号強度の経時変化(O2パルス後にCOパルスを発生させるようにしたときの、安定した信号強度変化を示すようになったときのデータ)とを求めた。この場合、COパルス前とCOパルス後の両信号強度に差を生じているのは、その試料が酸素を吸蔵したことによるものである。
すなわち、COパルス前の信号強度は、酸素吸蔵が飽和した試料を通過してくる酸素の量をみているから、O2パルスによる酸素量がそのまま反映されている。一方、COパルス後の信号強度は、COパルスによって試料からO2が放出されてCO2となり、その放出分だけ新たに酸素が吸蔵されるから、O2パルスによる酸素量から当該吸蔵分を差し引いた残量が反映されている。よって、COパルス前の信号強度からCOパルス後の信号強度を差し引くと、酸素吸蔵量が得られるものである。なお、試料では、実際には酸素を吸蔵しながら、先に吸蔵した酸素の放出も行なわれているから、ここでいう酸素吸蔵量は見かけの酸素吸蔵量である。
図14は上記質量分析計によって求めた実施例に係る試料(Rhドープ複合酸化物+アルミナ)及び従来例に係る試料(Rh後担持複合酸化物+アルミナ)の酸素吸蔵速度(1秒間での試料1gあたりの酸素原子の吸蔵モル数)の経時変化を示している。同図によれば、実施例に係る試料では、従来例に係る試料に比べて、酸素吸蔵速度が速やかに高くなり、また、その最高値も高くなっているとともに、酸素吸蔵量も多くなっている。このことは、実施例のOSC性能が高いことの裏付けとなる。このような酸素吸蔵特性の違いは以下の理由によると考えられる。
−酸素吸蔵の推定メカニズム−
すなわち、図15(a)は実施例のRhドープ複合酸化物の、図15(b)は従来例のRh後担持複合酸化物の、各々推定される酸素吸蔵メカニズムを模式的に表したものである。なお、図15ではZr原子及びNd原子の図示は省略している。
まず、図15(b)のRh後担持複合酸化物では、酸素(O2)は、複合酸化物内部の表面近傍に存する酸素欠損部(O空孔)には酸素イオンとなって吸蔵されるが、複合酸化物内部の比較的深い部位に存する酸素欠損部には到達することができず、この酸素欠損部は酸素吸蔵にはあまり利用されていないと考えられる。
これに対して、図16(a)のRhドープ複合酸化物では、酸素(O2)が酸素イオンとなって複合酸化物内部に存するRhに引き寄せられ、このRhを介して複合酸化物内部の酸素欠損部に瞬時に移動すると考えられる。また、複合酸化物内部にはRhが分散して存在するから、酸素イオンは複合酸化物表面から複数のRhを介してホッピング移動し、複合酸化物内部の深いところの酸素欠損部に入ると考えられる。このため、Rhドープ複合酸化物の場合は、酸素過剰雰囲気になったときの酸素吸蔵速度が速やかに高くなるとともに、この酸素吸蔵速度の最高値も高くなり、また、複合酸化物粒子内部の比較的深いところの酸素欠損部も酸素吸蔵に利用されるから、酸素吸蔵量が多くなると考えられる。
DPFの正面図である。 DPFの縦断面図である。 DPFの排気ガス流入路と排気ガス流出路とを隔てる壁の拡大断面図である。 本発明の実施例に係る複合酸化物粒子を模式的に示す一部断面にした斜視図である。 本発明の他の実施例に係る複合酸化物粒子を模式的に示す一部断面にした斜視図である。 本発明の実施例及び比較例のDTAピーク温度を示すグラフ図である。 Rhドープ複合酸化物及びRh後担持複合酸化物におけるCeZrNd複合酸化物のピークを調べたXRDによる分析結果を示す図である。 Rhドープ複合酸化物及びRh後担持複合酸化物各々の熱エージング後の粒子表面のTEM写真((a)がRhドープ、(b)がRh後担持)である。 各種複合酸化物におけるPtのピークを調べたXRDによる分析結果を示す図である。 本発明の実施例に係る複合酸化物粒子の熱エージング後のSTEM写真である。 酸素吸蔵速度の測定装置を示す概略図である。 上記測定装置におけるO2パルス及びCOパルスの発生態様を示すタイムチャート図である。 上記測定装置の質量分析計で計測されるマスナンバー32の信号強度の経時変化を示すグラフ図である。 本発明の実施例に係る試料及び従来例に係る試料の酸素吸蔵速度の経時変化を示すグラフ図である。 本発明の実施例及び従来例各々のRh担持複酸化物の酸素吸蔵メカニズムを模式的に示す図((a)が実施例,(b)が従来例)である。
符号の説明
1 DPF
2 排気ガス流路
3 排気ガス流路
4 栓
5 隔壁
6 細孔
7 コート層

Claims (2)

  1. ディーゼルエンジンの排気通路に配設され、該エンジンから排出される排気ガス中のパティキュレートを捕集し、該パティキュレートを燃焼浄化するディーゼルパティキュレートフィルタであって、
    フィルタ本体の排気ガス流路の壁面に、上記パティキュレートを酸化燃焼させるための触媒貴金属と、Ce及びZrを有する複合酸化物粒子とを含有するコート層が形成されていて、
    上記触媒貴金属として、上記複合酸化物粒子の結晶格子又は原子間に配置されて該粒子の内部及び表面に存在するRhと、上記複合酸化物粒子の結晶格子又は原子間に配置されて該粒子表面に存在するPtとの少なくとも一方を備えていることを特徴とするディーゼルパティキュレートフィルタ。
  2. ディーゼルエンジンの排気通路に配設され、該エンジンから排出される排気ガス中のパティキュレートを捕集し、該パティキュレートを燃焼浄化するディーゼルパティキュレートフィルタであって、
    フィルタ本体の排気ガス流路の壁面に、上記パティキュレートを酸化燃焼させるための触媒貴金属と、Ce及びZrを有する複合酸化物粒子とを含有するコート層が形成されていて、
    上記触媒貴金属として、上記複合酸化物粒子の結晶格子又は原子間に配置されたRhと、該Rhが結晶格子又は原子間に配置されている上記複合酸化物粒子の表面に担持されたPtとを備えていることを特徴とするディーゼルパティキュレートフィルタ。
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