JP5381831B2 - 半導体製造システム - Google Patents
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Description
この点検作業は、半導体製造装置を構成する機器の操作や、操作結果の確認を行う作業であり、例えば次のような作業である。
b.作業者がガスボンベのレギュレータを操作して圧力調整し、レギュレータの操作設備に設けられた表示機で圧力を確認する。
実際にはこの後にも点検事項が続き、こうした点検事項の一群が点検項目として多数用意されている。
しかしながら、このような点検作業は、手順書に基づいて操作事項、確認事項を解読し、操作画面により操作する場合には画面上の対応する操作事項を選択して操作するため、作業者に大きな注意力が強いられ、その負担が大きく、また操作ミスも起こしやすい。そして画面による操作、確認と作業者による直接の操作、確認とが混在していることから、こうした一連の点検作業は、効率のよい作業とは言い難く、作業に要する時間も長くなっているという課題がある。
また近年、半導体製造装置に対しても更なる環境負荷低減の要求があるが、これらの点検作業の手順書は紙面に印刷されたものを用いているため、環境に負荷を与えるという課題もある。
(2)この半導体製造装置に含まれる機器を制御するための制御信号を出力する制御部と、
前記半導体製造装置を点検するための複数の点検項目が記憶されると共に、各点検項目毎に操作事項または確認事項からなる点検事項が複数設けられて記憶された記憶部と、
前記半導体製造装置を点検するためのプログラムが格納されたプログラム格納部と、
点検操作の指示及び確認を行うための画面を表示する表示部と、
前記操作事項の操作結果を検出する検出部と、を備え、
(3)前記記憶部に記憶された点検事項群の中には、自動実行である実行属性の操作事項、手動実行である実行属性の操作事項、自動実行である実行属性の確認事項及び手動実行である実行属性の確認事項のいずれもが含まれており、
(4)前記記憶部に記憶された各点検事項には、自動実行または手動実行である実行属性が対応付けて記憶され、
(5) 前記プログラムは、
前記複数の点検の項目の中から点検の項目を指定するための画面を表示するステップと、
指定された点検の項目に対応する点検事項を記憶部から読み出して作業順に並べ、各点検事項が自動実行であるか手動実行であるかの実行属性を付して画面に表示するステップと、
点検開始指令を受け付けることにより、順番に並べられた点検事項のうち1番目の点検事項を記憶部から読み出すステップと、を行うと共に、
下記aからdまでのいずれかのステップを、次の点検事項がなくなるまで行うように構成されていることを特徴とする半導体製造システム。
記
a. 読み出しの対象になった点検事項が操作事項であって、実行属性が自動実行であるときには、操作対象機器に対して操作事項に対応する動作を行わせるための命令を出力し、次の点検事項を記憶部から読み出すステップ
b. 読み出しの対象になった点検事項が操作事項であって、実行属性が手動実行であるときには、ユーザにより当該操作事項が行われたことの指示を受け付ける画面を表示し、当該指示を受け付けることにより次の点検事項を記憶部から読み出すステップ
c. 読み出しの対象になった点検事項が確認事項であって、実行属性が自動実行であるときには、検出部による操作事項の検出結果に基づき当該確認事項を自動で行ってその確認結果を当該確認事項と対応付けて画面に表示し、確認結果が正常でありかつ次の点検事項があるときには当該次の点検事項を記憶部から読み出すステップ
d. 読み出しの対象になった点検事項が確認事項であって、実行属性が手動実行であるときには、確認結果が正常、異常の判別入力を受け付けるための画面を表示し、入力された確認結果を当該確認事項と対応付けて画面に表示すると共に、入力された確認結果が正常でありかつ次の点検事項があるときには当該次の点検事項を記憶部から読み出すステップ
前記ステップbにおける、ユーザにより操作事項が行われたことの指示を受け付ける画面、及び前記ステップdにおける、確認結果が正常、異常の判別入力を受け付けるための画面はポップアップにより表示される。
前記ステップcにおいて、確認結果が異常であるときには、予め決められた他の点検項目について点検事項を記憶部から読み出して順番に並べ、以後同様にして各ステップが行われる。
点検用プログラム1は、記憶部2内のデータと共にソフトウエアを構成し、このソフトウエアは記憶媒体から制御部100にインストールされる。点検用プログラム1は、選択した点検項目に含まれる点検事項(操作事項、確認事項)を画面に表示し、ユーザに対して点検のためのナビゲーションを行うためのステップ群を含む。
ステップS3以降について説明を進めるが、この例では一括実行モードと異常スキップモードとがオプションとして用意されている。これらモードの選択は例えばステップS1における点検項目の選択画面において設定できるようになっているが、ここではオプションのモードを選択しない場合、つまり基本的な流れである通常のモードにより点検を行う場合について述べる。図3の画面が表示され、ユーザが点検開始指令を行うための「実行」のソフトスイッチを押すと、選択されている点検項目に含まれる点検事項の中の一番目の点検事項が読み出される(ステップS4、S5)。
また既述のように一括モードや異常スキップモードを用意することにより、状況に応じた柔軟な処理を行うことができ、便利である。なお、ここでいう点検作業は、例えばユーザにおけるメンテナンスやメーカにおける出荷検査などにおいて行われる作業である。
2 記憶部
4 表示部
11 プログラム格納部
100 制御部
101 信号ライン
200 半導体製造装置
201 検出部
Claims (4)
- (1)半導体製造装置と、
(2)この半導体製造装置に含まれる機器を制御するための制御信号を出力する制御部と、
前記半導体製造装置を点検するための複数の点検項目が記憶されると共に、各点検項目毎に操作事項または確認事項からなる点検事項が複数設けられて記憶された記憶部と、
前記半導体製造装置を点検するためのプログラムが格納されたプログラム格納部と、
点検操作の指示及び確認を行うための画面を表示する表示部と、
前記操作事項の操作結果を検出する検出部と、を備え、
(3)前記記憶部に記憶された点検事項群の中には、自動実行である実行属性の操作事項、手動実行である実行属性の操作事項、自動実行である実行属性の確認事項及び手動実行である実行属性の確認事項のいずれもが含まれており、
(4)前記記憶部に記憶された各点検事項には、自動実行または手動実行である実行属性が対応付けて記憶され、
(5) 前記プログラムは、
前記複数の点検の項目の中から点検の項目を指定するための画面を表示するステップと、
指定された点検の項目に対応する点検事項を記憶部から読み出して作業順に並べ、各点検事項が自動実行であるか手動実行であるかの実行属性を付して画面に表示するステップと、
点検開始指令を受け付けることにより、順番に並べられた点検事項のうち1番目の点検事項を記憶部から読み出すステップと、を行うと共に、
下記aからdまでのいずれかのステップを、次の点検事項がなくなるまで行うように構成されていることを特徴とする半導体製造システム。
記
a. 読み出しの対象になった点検事項が操作事項であって、実行属性が自動実行であるときには、操作対象機器に対して操作事項に対応する動作を行わせるための命令を出力し、次の点検事項を記憶部から読み出すステップ
b. 読み出しの対象になった点検事項が操作事項であって、実行属性が手動実行であるときには、ユーザにより当該操作事項が行われたことの指示を受け付ける画面を表示し、当該指示を受け付けることにより次の点検事項を記憶部から読み出すステップ
c. 読み出しの対象になった点検事項が確認事項であって、実行属性が自動実行であるときには、検出部による操作事項の検出結果に基づき当該確認事項を自動で行ってその確認結果を当該確認事項と対応付けて画面に表示し、確認結果が正常でありかつ次の点検事項があるときには当該次の点検事項を記憶部から読み出すステップ
d. 読み出しの対象になった点検事項が確認事項であって、実行属性が手動実行であるときには、確認結果が正常、異常の判別入力を受け付けるための画面を表示し、入力された確認結果を当該確認事項と対応付けて画面に表示すると共に、入力された確認結果が正常でありかつ次の点検事項があるときには当該次の点検事項を記憶部から読み出すステップ - 前記ステップbにおいて、
前記操作事項が行われたことの指示を受け付ける画面は、操作事項が行われたことの指示を受け付けかつ当該操作事項に伴う確認事項の確認を受け付ける画面であり、
前記指示を受け付けることにより次の点検事項を記憶部から読み出すステップは、前記指示及び確認を受け付けることにより次の点検事項を記憶部から読み出すステップであることを特徴とする請求項1記載の半導体製造システム。 - 前記ステップbにおける、ユーザにより操作事項が行われたことの指示を受け付ける画面、及び前記ステップdにおける、確認結果が正常、異常の判別入力を受け付けるための画面はポップアップにより表示されることを特徴とする請求項1または2に記載の半導体製造システム。
- 前記ステップcにおいて、確認結果が異常であるときには、予め決められた他の点検項目について点検事項を記憶部から読み出して順番に並べ、以後同様にして各ステップが行われることを特徴とする請求項ないし3のいずれか一項に記載の半導体製造システム。
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