JPH04104333A - 自動診断方式 - Google Patents
自動診断方式Info
- Publication number
- JPH04104333A JPH04104333A JP2221560A JP22156090A JPH04104333A JP H04104333 A JPH04104333 A JP H04104333A JP 2221560 A JP2221560 A JP 2221560A JP 22156090 A JP22156090 A JP 22156090A JP H04104333 A JPH04104333 A JP H04104333A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test program
- execution
- devices
- automatic
- operation panel
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 title claims abstract description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 11
- 230000010365 information processing Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、テストプログラムの診断方式に関し、特に自
動診断方式に関する。
動診断方式に関する。
［従来の技術］
従来、テストプログラムは、各Ｉ／Ｏ装置に対するテス
トプログラムとして、種々のセクションがあり、これを
保守員などがマニュアル操作で実行させていた。
トプログラムとして、種々のセクションがあり、これを
保守員などがマニュアル操作で実行させていた。
［発明が解決しようとする課題］
上述した従来の実行方式は、各テストプログラムのセク
ションを人手介入で実行させるため、つぎのような欠点
がある。
ションを人手介入で実行させるため、つぎのような欠点
がある。
＊各Ｉ／Ｏ装置に対応したセクションの実行方法を操作
員が熟知する必要がある。
員が熟知する必要がある。
＊セクションが各Ｉ／Ｏ装置に対応しているため操作員
がシステム構成を熟知する必要がある。
がシステム構成を熟知する必要がある。
［課題を解決するための手段］
本発明は、通常はシステムコンソールからのコマンド入
力によりテストプログラムを実行する情報処理システム
の自動診断方式において、テストプログラムの手動／手
動の実行方式を選択操作できる操作パネルと、 操作パネルに接続され、イニシャライズ時に操作パネル
のテストプログラム実行方式の選択情報を読み取る手段
、システムに接続されたＩ／Ｏ装置の、チャネル番号、
ＩＤコードを含む構成情報を入手する手段、その構成情
報を管理する構成テーブルを内蔵した制御装置と、 テストプログラムの各Ｉ／Ｏ装置に対応した実行セクシ
ョンを格納するテストプログラム格納部と、 Ｉ／Ｏ装置の種類によって固有に付与された装置認識コ
ードとチャネル番号を格納し、制御装置からの読出し要
求に対しその情報を出力する手段を有するＩ／Ｏ装置と
、 テストプログラム実行をマニュアル操作で実行する場合
には、コマンド入力と実行状態表示、自動実行の場合は
実行状態表示をするためのシステムコンソールとを具備
することを特徴とするものである。
力によりテストプログラムを実行する情報処理システム
の自動診断方式において、テストプログラムの手動／手
動の実行方式を選択操作できる操作パネルと、 操作パネルに接続され、イニシャライズ時に操作パネル
のテストプログラム実行方式の選択情報を読み取る手段
、システムに接続されたＩ／Ｏ装置の、チャネル番号、
ＩＤコードを含む構成情報を入手する手段、その構成情
報を管理する構成テーブルを内蔵した制御装置と、 テストプログラムの各Ｉ／Ｏ装置に対応した実行セクシ
ョンを格納するテストプログラム格納部と、 Ｉ／Ｏ装置の種類によって固有に付与された装置認識コ
ードとチャネル番号を格納し、制御装置からの読出し要
求に対しその情報を出力する手段を有するＩ／Ｏ装置と
、 テストプログラム実行をマニュアル操作で実行する場合
には、コマンド入力と実行状態表示、自動実行の場合は
実行状態表示をするためのシステムコンソールとを具備
することを特徴とするものである。
［実施例］
次に本発明について図面を参照して説明する。
第１図は本発明の一実施例のブロック図である。
システムイニシャライズを実行したとき、操作パネル１
でテストプログラム自動実行を選択していた場合、制御
装置２がそれを認識する。
でテストプログラム自動実行を選択していた場合、制御
装置２がそれを認識する。
テストプログラムの自動実行選択を認識した制御装置２
は、接続されている各Ｉ／Ｏ装置３−１〜３−ｎを認識
するために、ＩＤコード、チャネル番号の読出コマンド
を、各Ｉ／Ｏ装置３−１〜３−ｎに発行し、情報を入手
し、制御装置２内の構成テーブル４を完成させる。
は、接続されている各Ｉ／Ｏ装置３−１〜３−ｎを認識
するために、ＩＤコード、チャネル番号の読出コマンド
を、各Ｉ／Ｏ装置３−１〜３−ｎに発行し、情報を入手
し、制御装置２内の構成テーブル４を完成させる。
この構成テーブル４の最上位のＩ／Ｏ装置３−１〜３−
ｎに対応するテストプログラムセクション６−１〜ｅ
３−ｎをテストプログラム格納部５より読み出し実行す
る。実行完了したら、構成テーブル４を優先順位にもと
づき、順次各Ｉ／Ｏ装置３−１〜３− ｎのテストプロ
グラムセクションを実行して行く。
ｎに対応するテストプログラムセクション６−１〜ｅ
３−ｎをテストプログラム格納部５より読み出し実行す
る。実行完了したら、構成テーブル４を優先順位にもと
づき、順次各Ｉ／Ｏ装置３−１〜３− ｎのテストプロ
グラムセクションを実行して行く。
全Ｉ／Ｏ装置のテストプログラム実行が完了したら、結
果をシステムコンソール７の表示して、診断を終了させ
る。
果をシステムコンソール７の表示して、診断を終了させ
る。
操作パネル１で手動実行を選択している場合には、シス
テムコンソール７より入力した実行コマンドによりテス
トプログラムセクション６−１〜６−ｎをダイレクトに
読み出し実行する。
テムコンソール７より入力した実行コマンドによりテス
トプログラムセクション６−１〜６−ｎをダイレクトに
読み出し実行する。
［発明の効果］
以上説明したように本発明は、テストプログラムを自動
実行することにより、つぎのような効果を奏する。
実行することにより、つぎのような効果を奏する。
＊各Ｉ／Ｏ装置に対応したテストプログラムセクション
の実行方法（コマンド入力）を知る必要がない。
の実行方法（コマンド入力）を知る必要がない。
＊システム構成を操作員が知る必要がないため、誰でも
簡単に診断できる。
簡単に診断できる。
第１図は本発明の一実施例のブロック図である。
１・・・操作パネル、２・・・制御装置、３−１〜３−
ｎ・・・Ｉ／Ｏ装置、４・・・構成テーブル、５・・
・テストプログラム格納部、６−１〜８−ｎ・・・テス
トプログラムセクション、７・・・システムコンソール
。
ｎ・・・Ｉ／Ｏ装置、４・・・構成テーブル、５・・
・テストプログラム格納部、６−１〜８−ｎ・・・テス
トプログラムセクション、７・・・システムコンソール
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 通常はシステムコンソールからのコマンド入力によりテ
ストプログラムを実行する情報処理システムの自動診断
方式において、 テストプログラムの手動／手動の実行方式を選択操作で
きる操作パネルと、 操作パネルに接続され、イニシャライズ時に操作パネル
のテストプログラム実行方式の選択情報を読み取る手段
、システムに接続されたＩ／Ｏ装置の、チャネル番号、
ＩＤコードを含む構成情報を入手する手段、その構成情
報を管理する構成テーブルを内蔵した制御装置と、 テストプログラムの各Ｉ／Ｏ装置に対応した実行セクシ
ョンを格納するテストプログラム格納部と、 Ｉ／Ｏ装置の種類によって固有に付与された装置認識コ
ードとチャネル番号を格納し、制御装置からの読出し要
求に対しその情報を出力する手段を有するＩ／Ｏ装置と
、 テストプログラム実行をマニュアル操作で実行する場合
には、コマンド入力と実行状態表示、自動実行の場合は
実行状態表示をするためのシステムコンソールとを具備
することを特徴とする自動診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2221560A JPH04104333A (ja) | 1990-08-23 | 1990-08-23 | 自動診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2221560A JPH04104333A (ja) | 1990-08-23 | 1990-08-23 | 自動診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04104333A true JPH04104333A (ja) | 1992-04-06 |
Family
ID=16768643
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2221560A Pending JPH04104333A (ja) | 1990-08-23 | 1990-08-23 | 自動診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04104333A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011192931A (ja) * | 2010-03-16 | 2011-09-29 | Tokyo Electron Ltd | 半導体製造システム |
-
1990
- 1990-08-23 JP JP2221560A patent/JPH04104333A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011192931A (ja) * | 2010-03-16 | 2011-09-29 | Tokyo Electron Ltd | 半導体製造システム |
| CN102782805A (zh) * | 2010-03-16 | 2012-11-14 | 东京毅力科创株式会社 | 半导体制造系统 |
| KR101500822B1 (ko) * | 2010-03-16 | 2015-03-09 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 반도체 제조 시스템 |
| US9223305B2 (en) | 2010-03-16 | 2015-12-29 | Tokyo Electron Limited | Semiconductor manufacturing system |
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