JP5307039B2 - ストロンチウムとカルシウムとを含む酸化物膜製造用の蒸着材 - Google Patents
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Description
(1)放電電極間に電界が発生して放電ガス中に存在するイオンや電子などの荷電粒子が加速され、誘電体層保護膜に衝突する。
(2)荷電粒子の衝突により、誘電体層保護膜から二次電子が放出される。
(3)放出された二次電子がイオン化していない放電ガス原子に衝突し、放電ガスイオンを生成する。
(4)生成した放電ガスイオンが上記(1)の過程により誘電体層保護膜に衝突する。
(1)相対密度が90%以上である。
(2)金属元素が、ケイ素、アルミニウム、チタン、ジスプロシウムからなる群より選ばれる一種以上の金属元素である。
Sr1-xCaxO:M
上記一般式において、Mは、ケイ素、アルミニウム、チタン、ジルコニウム及び希土類元素からなる群より選ばれる一種以上の金属元素を意味する。xは、0.2〜0.8の範囲、好ましくは0.3〜0.7の範囲の数を意味する。
相対密度=100×嵩密度/真密度
真密度(g/cm3)=3.350g/cm3(酸化カルシウムの真密度)×多結晶体中のカルシウムのモル比+5.009g/cm3(酸化ストロンチウムの真密度)×多結晶体中のストロンチウムのモル比
(1)炭酸ストロンチウム粒子と炭酸カルシウム粒子と二酸化ケイ素粒子とが分散された分散液の調製
炭酸カルシウム粒子(純度:99.5質量%、BET比表面積:44m2/g、平均粒子径:6.9μm、一次粒子形状:立方体状)202g、炭酸ストロンチウム粒子(純度:99.5質量%、BET比表面積:20m2/g、平均粒子径:1.2μm、一次粒子形状:針状)298g、そして水1167mLを混合して混合液を得た。この混合液に、二酸化ケイ素粒子(純度:99質量%、平均粒子径:0.5μm)0.1861gを添加した後、該混合液を鉄心入りナイロンボール(直径:11mm)が充填されているボールミルに投入し、25時間混合粉砕して、炭酸ストロンチウム粒子と炭酸カルシウム粒子と二酸化ケイ素粒子とが分散された分散液を調製した。この分散液中の全粒子の平均粒子径を下記の方法により測定したところ、0.74μmであった。なお、分散液中のストロンチウム、カルシウム、ケイ素のモル比は、50:50:0.078(Sr:Ca:Si)である。
レーザー回折式粒度分布測定装置(マイクロトラック9320HRA、日機装(株)製)もしくは動的光散乱式粒度分布測定装置(ナノトラックUPA−150、日機装(株)製)を用いて測定した。平均粒子径測定用の試料は、分散液を、分散液中の固形分0.5gに対して50gの水で希釈した後、超音波分散処理を3分間行なって調製した。
上記(1)で調製した分散液に、ポリビニルアルコールを固形分100質量部に対して2.5質量部となる量にて、ポリエチレングリコールを固形分100質量部に対して0.4質量部となる量にて添加し撹拌した。次いで、分散液を、スプレードライヤーを用いて噴霧乾燥(乾燥温度:200℃)して、乾燥粒状物を得た。得られた乾燥粒状物を、成形圧0.6トン/cm2にて、ペレット状(直径:8mm、厚さ3.0mm、成形体密度:1.85g/cm3)に成形した。次いで、得られたペレット状成形物を1650℃の温度で5時間焼成して、多結晶体蒸着材を得た。
得られた多結晶体蒸着材の平均細孔直径、相対密度及び水蒸気存在下での質量増加率を下記の方法により測定した。また、得られた多結晶体蒸着材を用いて、下記の方法によりAC型PDPの前面板の模擬パネルを製造し、該模擬パネルの放電開始電圧を測定した。
水銀ポロシメーター(Quntachrome製、PoreMaster60−GT)を用いて、細孔直径が0.0036〜400μmの範囲にある細孔の累積細孔容積と累積比表面積とを測定し、下記の式により平均細孔直径を算出した。
平均細孔直径=4×累積細孔容積/累積比表面積
嵩密度をケロシンを媒液に用いたアルキメデス法により測定し、真密度は4.18g/cm3[Sr0.5Ca0.5O=3.350g/cm3(酸化カルシウムの真密度)×0.5+5.009g/cm3(酸化ストロンチウムの真密度)×0.5]として、下記の式により算出した。
相対密度=100×嵩密度/真密度
予め質量を測定した多結晶体蒸着材を、温度25℃、相対湿度47%に調製した恒温恒湿器内に静置した。静置後の質量増加量を24時間毎に測定して、下記の式により算出した。
質量増加率=100×質量増加量/静置前の質量
(1)石英基板の上に、互いに0.2mmの間隔で平行に配置された一対の放電電極が10組形成されていて、該放電電極の表面が誘電体層で覆われている基板を用意した。この基板の誘電体層の上に、多結晶体蒸着材を蒸着材として、電子ビーム蒸着装置(EX−50−D10型、ULVAC社製)を用いて、蒸着速度8kV、蒸着速度2nm/秒、酸素分圧2×10-2Pa、基板温度200℃の条件にて、厚さ1000nmのストロンチウムとカルシウムとを含む酸化物膜を製造して、模擬パネルを製造した。
模擬パネルの放電電極を電源に接続した。模擬パネルを密閉容器に入れ、該密閉容器内の圧力を1kPa以下にまで減圧下した後、該密閉容器内にネオンガスを95体積%、キセノンガスを5体積%の割合で含む混合ガスを60kPa(450トール)の圧力となるように封入した。この操作を3回繰り返した後、模擬パネルの放電電極間に電圧を印加して、徐々に電圧を上昇させ、10組の放電電極が全て点灯した際の電圧をオシロスコープで読み取り、この電圧を放電開始電圧とした。
二酸化ケイ素粒子の添加量を1.8629gとしたこと以外は、実施例1の(1)と同様にして、炭酸ストロンチウム粒子と炭酸カルシウム粒子と二酸化ケイ素粒子とが分散された分散液を調製した。この分散液中の全粒子の平均粒子径は0.76μmであった。なお、分散液中のストロンチウム、カルシウム、ケイ素のモル比は、50:50:0.78(Sr:Ca:Si)である。次いで、この分散液を用いたこと以外は実施例1の(2)と同様にして多結晶体蒸着材を製造した。
得られた多結晶体蒸着材の平均細孔直径、相対密度及び質量増加率を実施例1と同様にして測定した。また、得られた多結晶体蒸着材を用いて、実施例1と同様にしてAC型PDPの前面板の模擬パネルを製造し、該模擬パネルの放電開始電圧を測定した。その結果を、下記の表1に示す。
二酸化ケイ素粒子の添加量を4.3469gとしたこと以外は、実施例1の(1)と同様にして、炭酸ストロンチウム粒子と炭酸カルシウム粒子と二酸化ケイ素粒子とが分散された分散液を調製した。この分散液中の全粒子の平均粒子径は0.77μmであった。なお、分散液中のストロンチウム、カルシウム、ケイ素のモル比は、50:50:1.8(Sr:Ca:Si)である。次いで、この分散液を用いたこと以外は実施例1の(2)と同様にして多結晶体蒸着材を製造した。
得られた多結晶体蒸着材の平均細孔直径、相対密度及び質量増加率を実施例1と同様にして測定した。また、得られた多結晶体蒸着材を用いて、実施例1と同様にしてAC型PDPの前面板の模擬パネルを製造し、該模擬パネルの放電開始電圧を測定した。その結果を、下記の表1に示す。
二酸化ケイ素粒子の代わりに、硝酸アルミニウム水溶液(アルミニウム濃度:4質量%)を3.6285g添加したこと以外は実施例1の(1)と同様にして、炭酸ストロンチウム粒子と炭酸カルシウム粒子とが分散されていて、硝酸アルミニウムが溶解している分散液を調製した。この分散液中の全粒子の平均粒子径は0.92μmであった。なお、分散液中のストロンチウム、カルシウム、アルミニウムのモル比は、50:50:0.13(Sr:Ca:Al)である。次いで、この分散液を用いたこと以外は実施例1の(2)と同様にして多結晶体蒸着材を製造した。
得られた多結晶体蒸着材の平均細孔直径、相対密度及び質量増加率を実施例1と同様にして測定した。また、得られた多結晶体蒸着材を用いて、実施例1と同様にしてAC型PDPの前面板の模擬パネルを製造し、該模擬パネルの放電開始電圧を測定した。その結果を、下記の表1に示す。
二酸化ケイ素粒子の代わりに、硝酸アルミニウム水溶液(アルミニウム濃度:4質量%)を43.5410g添加したこと以外は実施例1の(1)と同様にして、炭酸ストロンチウム粒子と炭酸カルシウム粒子とが分散されていて、硝酸アルミニウムが溶解している分散液を調製した。この分散液中の全粒子の平均粒子径は0.68μmであった。なお、分散液中のストロンチウム、カルシウム、アルミニウムのモル比は、50:50:1.6(Sr:Ca:Al)である。次いで、この分散液を用いたこと以外は実施例1の(2)と同様にして多結晶体蒸着材を製造した。
得られた多結晶体蒸着材の平均細孔直径、相対密度及び質量増加率を実施例1と同様にして測定した。また、得られた多結晶体蒸着材を用いて、実施例1と同様にしてAC型PDPの前面板の模擬パネルを製造し、該模擬パネルの放電開始電圧を測定した。その結果を、下記の表1に示す。また、図1に多結晶体蒸着材の静置時間と質量増加率と関係を示す。図1の結果から質量増加率は経時的に増加することが分かる。なお、48時間静置後の質量増加率は0.005質量%である。
二酸化ケイ素粒子の代わりに、硝酸アルミニウム水溶液(アルミニウム濃度:4質量%)を108.8528g添加したこと以外は実施例1の(1)と同様にして、炭酸ストロンチウム粒子と炭酸カルシウム粒子とが分散されていて、硝酸アルミニウムが溶解している分散液を調製した。この分散液中の全粒子の平均粒子径は0.70μmであった。なお、分散液中のストロンチウム、カルシウム、アルミニウムのモル比は、50:50:4.0(Sr:Ca:Al)である。次いで、この分散液を用いたこと以外は実施例1の(2)と同様にして多結晶体蒸着材を製造した。
得られた多結晶体蒸着材の平均細孔直径、相対密度及び質量増加率を実施例1と同様にして測定した。また、得られた多結晶体蒸着材を用いて、実施例1と同様にしてAC型PDPの前面板の模擬パネルを製造し、該模擬パネルの放電開始電圧を測定した。その結果を、下記の表1に示す。
二酸化ケイ素粒子の代わりに、二酸化チタン粒子(純度:98質量%、平均粒子径:0.05μm)を4.8432g添加したこと以外は実施例1の(1)と同様にして、炭酸ストロンチウム粒子と炭酸カルシウム粒子と二酸化チタン粒子とが分散された分散液を調製した。この分散液中の全粒子の平均粒子径は0.77μmであった。なお、分散液中のストロンチウム、カルシウム、チタンのモル比は、50:50:1.5(Sr:Ca:Ti)である。次いで、この分散液を用いたこと以外は実施例1の(2)と同様にして多結晶体蒸着材を製造した。
得られた多結晶体蒸着材の平均細孔直径、相対密度及び質量増加率を実施例1と同様にして測定した。また、得られた多結晶体蒸着材を用いて、実施例1と同様にしてAC型PDPの前面板の模擬パネルを製造し、該模擬パネルの放電開始電圧を測定した。その結果を、下記の表1に示す。
二酸化ケイ素粒子の代わりに、二酸化チタン粒子(純度:98質量%、平均粒子径:0.05μm)を7.2648g添加したこと以外は実施例1の(1)と同様にして、炭酸ストロンチウム粒子と炭酸カルシウム粒子と二酸化チタン粒子とが分散された分散液を調製した。この分散液中の全粒子の平均粒子径は0.78μmであった。なお、分散液中のストロンチウム、カルシウム、チタンのモル比は、50:50:2.3(Sr:Ca:Ti)である。次いで、この分散液を用いたこと以外は実施例1の(2)と同様にして多結晶体蒸着材を製造した。
得られた多結晶体蒸着材の平均細孔直径、相対密度及び質量増加率を実施例1と同様にして測定した。また、得られた多結晶体蒸着材を用いて、実施例1と同様にしてAC型PDPの前面板の模擬パネルを製造し、該模擬パネルの放電開始電圧を測定した。その結果を、下記の表1に示す。
二酸化ケイ素粒子の代わりに、硝酸ジスプロシウム水溶液(ジスプロシウム濃度:4質量%)を0.7257g添加したこと以外は実施例1の(1)と同様にして、炭酸ストロンチウム粒子と炭酸カルシウム粒子とが分散されていて、硝酸ジスプロシウムが溶解している分散液を調製した。この分散液中の全粒子の平均粒子径は0.71μmであった。なお、分散液中のストロンチウム、カルシウム、ジスプロシウムのモル比は、50:50:0.0045(Sr:Ca:Dy)である。次いで、この分散液を用いたこと以外は実施例1の(2)と同様にして多結晶体蒸着材を製造した。
得られた多結晶体蒸着材の平均細孔直径、相対密度及び質量増加率を実施例1と同様にして測定した。また、得られた多結晶体蒸着材を用いて、実施例1と同様にしてAC型PDPの前面板の模擬パネルを製造し、該模擬パネルの放電開始電圧を測定した。その結果を、下記の表1に示す。
二酸化ケイ素粒子の代わりに、硝酸ジスプロシウム水溶液(ジスプロシウム濃度:4質量%)を21.7700g添加したこと以外は実施例1の(1)と同様にして、炭酸ストロンチウム粒子と炭酸カルシウム粒子とが分散されていて、硝酸ジスプロシウムが溶解している分散液を調製した。この分散液中の全粒子の平均粒子径は0.73μmであった。なお、分散液中のストロンチウム、カルシウム、ジスプロシウムのモル比は、50:50:0.13(Sr:Ca:Dy)である。次いで、この分散液を用いたこと以外は実施例1の(2)と同様にして多結晶体蒸着材を製造した。
得られた多結晶体蒸着材の平均細孔直径、相対密度及び質量増加率を実施例1と同様にして測定した。また、得られた多結晶体蒸着材を用いて、実施例1と同様にしてAC型PDPの前面板の模擬パネルを製造し、該模擬パネルの放電開始電圧を測定した。その結果を、下記の表1に示す。
二酸化ケイ素粒子を添加しなかったこと、ボールミルによる混合粉砕時間を5時間としたこと以外は、実施例1の(1)と同様にして、炭酸ストロンチウム粒子と炭酸カルシウム粒子とが分散している分散液を調製した。この分散液中の全粒子の平均粒子径は2.2μmであった。次いで、この分散液を用いたこと以外は実施例1の(2)と同様にして多結晶体蒸着材を製造した。
得られた多結晶体蒸着材の平均細孔直径、相対密度及び質量増加率を実施例1と同様にして測定した。また、得られた多結晶体蒸着材を用いて、実施例1と同様にしてAC型PDPの前面板の模擬パネルを製造し、該模擬パネルの放電開始電圧を測定した。その結果を、下記の表1に示す。
────────────────────────────────────────
多結晶体蒸着材 模擬パネル
──────────────────────────────の放電開始
添加 元素添加量 平均細孔直 相対密度 質量増加率 電圧
元素 (モル) 径(nm) (%) (質量%) (V)
────────────────────────────────────────
実施例1 Si 0.078 0.087 94.02 0.056 92
実施例2 Si 0.78 0.137 94.26 0.045 94
実施例3 Si 1.8 0.310 91.87 0.078 92
実施例4 Al 0.13 0.310 96.17 0.080 94
実施例5 Al 1.6 0.082 99.76 0.070 96
実施例6 Al 4.0 0.150 99.28 0.102 97
実施例7 Ti 1.5 0.350 90.67 0.140 89
実施例8 Ti 2.3 0.270 94.26 0.220 97
実施例9 Dy 0.0045 0.050 96.41 0.018 98
実施例10 Dy 0.13 0.083 97.37 0.011 99
────────────────────────────────────────
比較例1 なし 0.611 95.93 1.000 100
────────────────────────────────────────
元素添加量:ストロンチウムとカルシウムの合計モル量を100モルとした相対値。
質量増加率:168時間静置後の値。
模擬パネルの放電開始電圧:比較例1の電圧を100Vとした相対値。
Claims (6)
- ストロンチウムとカルシウムとをモル比で0.2:0.8〜0.8:0.2の範囲となる割合で含む酸化物の結晶粒子から形成された多結晶体であり、ケイ素、アルミニウム、チタン、ジルコニウム及び希土類元素からなる群より選ばれる一種以上の金属元素を、ストロンチウムのモル量とカルシウムのモル量との合計を100モルとしたときに、0.0005〜20モルの範囲となる量にて含み、かつ平均細孔直径が0.01〜0.50μmの範囲にあるストロンチウムとカルシウムとを含む酸化物膜製造用の蒸着材。
- 相対密度が90%以上である請求項1に記載の蒸着材。
- 金属元素が、ケイ素、アルミニウム、チタン、ジスプロシウムからなる群より選ばれる一種以上の金属元素である請求項1に記載の蒸着材。
- 請求項1乃至3のうちのいずれかの項に記載の蒸着材に、減圧下にて電子ビームを照射して、ストロンチウムとカルシウムとを含む酸化物を気化させ、気化した酸化物を基板の上に堆積させることからなるストロンチウムとカルシウムとを含む酸化物膜の製造方法。
- 液体媒体中に、炭酸ストロンチウム粒子と炭酸カルシウム粒子とが、それらの粒子中のストロンチウムとカルシウムのモル比が0.2:0.8〜0.8:0.2の範囲となる割合で分散し、ケイ素、アルミニウム、チタン、ジルコニウム及び希土類元素からなる群より選ばれる一種以上の金属元素が、該炭酸ストロンチウム粒子中のストロンチウムのモル量と該炭酸カルシウム粒子中のカルシウムのモル量との合計を100モルとしたときに、0.0005〜20モルの範囲となる量にて溶解もしくは該金属元素を含む化合物粒子の状態で分散しており、該液体媒体中の全粒子の平均粒子径が0.05〜2.0μmの範囲にある分散液を、噴霧乾燥して乾燥粒状物を得る工程、該乾燥粒状物をペレット状に成形する工程、そして得られたペレット状成形物を焼成する工程を含む請求項1もしくは2に記載の蒸着材の製造方法。
- 液体媒体中に、ストロンチウムとカルシウムとをモル比で0.2:0.8〜0.8:0.2の範囲にて含む炭酸複塩の粒子が分散し、ケイ素、アルミニウム、チタン、ジルコニウム及び希土類元素からなる群より選ばれる一種以上の金属元素が、該炭酸複塩粒子中のストロンチウムのモル量とカルシウムのモル量との合計を100モルとしたときに、0.0005〜20モルの範囲となる量にて溶解もしくは該金属元素を含む化合物粒子の状態で分散しており、該液体媒体中の全粒子の平均粒子径が0.05〜2.0μmの範囲にある分散液を、噴霧乾燥して乾燥粒状物を得る工程、該乾燥粒状物をペレット状に成形する工程、そして得られたペレット状成形物を焼成する工程を含む請求項1もしくは2に記載の蒸着材の製造方法。
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