JP5239768B2 - 放熱材料並びに電子機器及びその製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、放熱材料に係り、特に、炭素元素の線状構造体を有する放熱材料、並びにこのような放熱材料を用いた電子機器及びその製造方法に関する。
サーバーやパーソナルコンピュータの中央処理装置(CPU:Central Processing Unit)などに用いられる電子部品には、半導体素子から発する熱を効率よく放熱することが求められる。このため、半導体素子の直上に設けられたサーマルインターフェイスマテリアルを介して、銅などの高い熱伝導度を有する材料のヒートスプレッダが配置された構造を有している。
サーマルインターフェイスマテリアルには、それ自身が高い熱伝導率を有する材料であることに加え、発熱源及びヒートスプレッダ表面の微細な凹凸に対して広面積に接触する特性が求められる。現状では、サーマルインターフェイスマテリアとして、PCM(フェイズチェンジマテリアル)やインジウムなどが一般に用いられている。
しかしながら、PCMは、微細な凹凸に対する接触性はよいものの、熱伝導度(1W/m・K〜5W/m・K程度)は低く、効果的な放熱特性を得るためにはその膜厚を薄くする必要がある。発熱源とヒートスプレッダとの間には熱膨張係数の違いに起因してギャップが生じるが、このギャップに追従して凹凸を吸収するためには、薄膜化には限界がある。
また、近年におけるレアメタルの大幅な需要増加によりインジウム価格は高騰しており、インジウムよりも安価な代替材料が待望されている。また、物性的に見てもインジウムの熱伝導度(50W/m・K)は高いとはいえず、半導体素子から生じた熱をより効率的に放熱させるために更に高い熱伝導度を有する材料が望まれている。
このような背景から、PCMやインジウムよりも高い熱伝導度を有する材料として、カーボンナノチューブに代表される炭素元素の線状構造体が注目されている。カーボンナノチューブは、非常に高い熱伝導度(1500W/m・K)を有するだけでなく、柔軟性や耐熱性に優れた材料であり、放熱材料として高いポテンシャルを有している。
カーボンナノチューブを用いた熱伝導シートとしては、樹脂中にカーボンナノチューブを分散した熱伝導シートや、基板上に配向成長したカーボンナノチューブ束を樹脂等によって埋め込んだ熱伝導シートが提案されている。
特開2005−150362号公報 特開2006−147801号公報 特開2006−290736号公報
しかしながら、カーボンナノチューブを用いた従来の放熱材料では、カーボンナノチューブの有する高い熱伝導度を充分に生かすことができなかった。
本発明の目的は、炭素元素の線状構造体を用いた熱伝導度及び電気伝導度が極めて高い放熱材料、並びにこのような放熱材料を用いた高性能の電子機器及びその製造方法を提供することにある。
実施形態の一観点によれば、複数の炭素元素の線状構造体と、複数の前記線状構造体間に配置され、温度に応じて液体と固体との間で状態変化し、液体から固体に状態変化する際に接着性を発現する熱可塑性樹脂の第1の層と、前記第1の層上に配置され前記熱可塑性樹脂とは異なる材料の第2の層と、前記第2の層上に配置され前記熱可塑性樹脂の第3の層とを有する充填層と、複数の前記線状構造体の少なくとも一方の端部に形成され、前記熱可塑性樹脂よりも熱伝導率の高い材料よりなり、前記充填層の厚さ方向の膜厚25nm〜1000nmである被膜とを有する放熱材料が提供される。
また、実施形態の他の観点によれば、発熱体と、放熱体と、前記発熱体と放熱体との間に配置され、複数の炭素元素の線状構造体と、複数の前記線状構造体間に配置され、温度に応じて液体と固体との間で状態変化し、液体から固体に状態変化する際に接着性を発現する熱可塑性樹脂の第1の層と、前記第1の層上に配置され前記熱可塑性樹脂とは異なる材料の第2の層と、前記第2の層上に配置され前記熱可塑性樹脂の第3の層とを有する充填層と、複数の前記線状構造体の少なくとも一方の端部に形成され、前記熱可塑性樹脂よりも熱伝導率の高い材料よりなり、前記充填層の厚さ方向の膜厚25nm〜1000nmである被膜とを含む放熱材料とを有する電子機器が提供される。
また、実施形態の更に他の観点によれば、放熱体と、前記放熱体上に形成され、複数の炭素元素の線状構造体と、複数の前記線状構造体間に配置され、温度に応じて液体と固体との間で状態変化し、液体から固体に状態変化する際に接着性を発現する熱可塑性樹脂の第1の層と、前記第1の層上に配置され前記熱可塑性樹脂とは異なる材料の第2の層と、前記第2の層上に配置され前記熱可塑性樹脂の第3の層とを有する充填層と、複数の前記線状構造体の少なくとも一方の端部に形成され、前記熱可塑性樹脂よりも熱伝導率の高い材料よりなり、前記充填層の厚さ方向の膜厚25nm〜1000nmである被膜とを含む放熱材料とを有する放熱部品が提供される。
本発明によれば、複数の線状構造体を支持する充填層を熱可塑性樹脂により形成するので、被着体に対する接触性が向上し、被着体に対する接触熱抵抗の小さい放熱材料を形成することができる。また、充填材の浸透量は、熱処理温度及び時間によって容易に制御することができる。これにより、線状構造体の端部が露出した放熱材料を容易に形成することができる。
また、発熱体と放熱体との間にこのような放熱材料を配置することにより、これらの間の熱伝導度を大幅に向上することができる。これにより、放熱体から発せられる熱の放熱効率を高めることができ、電子機器の信頼性を向上することができる。
[第1実施形態]
第1実施形態によるカーボンナノチューブシート及びその製造方法について図1乃至図3を用いて説明する。
図1は、本実施形態によるカーボンナノチューブシートの構造を示す概略断面図である。図2及び図3は、本実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す工程断面図である。
はじめに、本実施形態によるカーボンナノチューブシートの構造について図1を用いて説明する。図1(a)は本実施形態によるカーボンナノチューブシートの第1の例であり、図1(b)は本実施形態によるカーボンナノチューブシートの第2の例である。
本実施形態によるカーボンナノチューブシート10は、図1(a)及び図1(b)に示すように、間隔を開けて配置された複数のカーボンナノチューブ12を有している。カーボンナノチューブ12の間隙には熱可塑性樹脂の充填層14が形成されており、充填層14によってカーボンナノチューブ12が支持されている。本実施形態によるカーボンナノチューブシート10は、シート状の構造体を形成しており、複数のカーボンナノチューブ12は、シートの膜厚方向、すなわちシートの面と交差する方向に配向している。
カーボンナノチューブ12は、単層カーボンナノチューブ及び多層カーボンナノチューブのいずれでもよい。カーボンナノチューブ12の面密度は、特に限定されるものではないが、放熱性及び電気伝導性の観点からは、1×1010本/cm以上であることが望ましい。
カーボンナノチューブ12の長さは、カーボンナノチューブシート10の用途によって決まり、特に限定されるものではないが、好ましくは5μm〜500μm程度の値に設定することができる。カーボンナノチューブシート10を、発熱源(例えば半導体素子)と放熱部品(例えばヒートスプレッダ)との間に形成するサーマルインターフェイスマテリアルとして使用する場合、少なくとも発熱源及び放熱部品の表面の凹凸を埋める長さ以上であることが望ましい。
また、本実施形態によるカーボンナノチューブシート10は、図1(a)及び図1(b)に示すように、カーボンナノチューブ12の少なくとも一方の端部が露出している。図1(a)に示すカーボンナノチューブシートでは、カーボンナノチューブ12の一方の端部が露出している。図1(b)に示すカーボンナノチューブシートでは、カーボンナノチューブ12の両方の端部が露出している。
これにより、カーボンナノチューブシート10を放熱体又は発熱体と接触したとき、カーボンナノチューブ12が放熱体又は発熱体に対して直に接するため、熱伝導効率を大幅に高めることができる。また、カーボンナノチューブ12は導電性を有しているため、カーボンナノチューブ12の両端部を露出することにより、カーボンナノチューブ12を、シートを貫く配線体として用いることもできる。すなわち、本実施形態によるカーボンナノチューブシート10は、熱伝導シートとしてのみならず、縦型配線シートとしても利用可能である。
充填層14は、熱可塑性樹脂によって形成されている。充填層14を形成する熱可塑性樹脂は、温度に応じて液体と固体との間で可逆的に状態変化するものであり、室温では固体であり、加熱すると液状に変化し、冷却すると接着性を発現しつつ固体に戻るものであれば、特に限定されるものではない。
このような熱可塑性樹脂としては、例えば、以下に示すホットメルト樹脂が挙げられる。ポリアミド系ホットメルト樹脂としては、例えば、ヘンケルジャパン株式会社製の「Micromelt6239」(軟化点温度:140℃)が挙げられる。また、ポリエステル系ホットメルト樹脂としては、例えば、ノガワケミカル株式会社の「DH598B」(軟化点温度:133℃)が挙げられる。また、ポリウレタン系ホットメルト樹脂としては、例えば、ノガワケミカル株式会社製の「DH722B」が挙げられる。また、ポリオレフィン系ホットメルト樹脂としては、例えば、松村石油株式会社製の「EP−90」(軟化点温度:148℃)が挙げられる。また、エチレン共重合体ホットメルト樹脂としては、例えば、ノガワケミカル株式会社製の「DA574B」(軟化点温度:105℃)が挙げられる。また、SBR系ホットメルト樹脂としては、例えば、横浜ゴム株式会社製の「M−6250」(軟化点温度:125℃)が挙げられる。また、EVA系ホットメルト樹脂としては、例えば、住友スリーエム株式会社製の「3747」(軟化点温度:104℃)が挙げられる。また、ブチルゴム系ホットメルト樹脂としては、例えば、横浜ゴム株式会社製の「M−6158」が挙げられる。
充填層14を形成する熱可塑性樹脂は、カーボンナノチューブシート10の使用目的に応じて、熱可塑性樹脂の融解温度をもとに選択することができる。熱可塑性樹脂の融解温度の下限値は、稼働時の発熱温度の上限値よりも高いことが望ましい。稼働時に熱可塑性樹脂が溶解すると、カーボンナノチューブシート10が変形してカーボンナノチューブ12が配向性を損なうなど、熱伝導性を低下するなどの不具合を引き起こす虞があるからである。熱可塑性樹脂の溶解温度の上限値は、発熱体及び放熱体の耐熱温度の下限値よりも低いことが望ましい。本実施形態によるカーボンナノチューブシート10は、放熱体及び発熱体に接触させた後にリフローを行うことが望ましいが、熱可塑性樹脂の溶解温度が耐熱温度より高いと、発熱体及び/又は放熱体にダメージを与えることなくリフローをすることが困難となるからである。なお、カーボンナノチューブシート10のリフローについては、後述する。
例えば、カーボンナノチューブシート10をCPUなどの電子機器の放熱用途に用いる場合、CPU稼働時の発熱温度の上限がおよそ125℃であり、CPU電子部品の耐熱温度がおよそ250℃であることに鑑み、融解温度が125℃〜250℃程度の熱可塑性樹脂が好適である。例えば、自動車エンジンのエキゾーストシステム等の用途に用いる場合、部位によるが発熱温度は500℃〜800℃程度であることに鑑み、融解温度が600℃〜900℃程度の熱可塑性樹脂が好適である。
また、充填層14には、必要に応じて、添加物を分散混合してもよい。添加物としては、例えば熱伝導性の高い物質や導電性の高い物質が考えられる。充填層14部分に熱伝導性の高い添加物を分散混合することにより、充填層14部分の熱伝導率を向上することができ、カーボンナノチューブシート10の全体としての熱伝導率を向上することができる。また、カーボンナノチューブシートを導電性シートとして用いる場合にあっては、充填層14部分に電導性の高い添加物を分散混合する。これにより、充填層14部分の導電率を向上することができ、カーボンナノチューブシート10の全体としての導電率を向上することができる。熱伝導性の高い材料としては、カーボンナノチューブ、金属材料、窒化アルミニウム、シリカ、アルミナ、グラファイト、フラーレン等を適用することができる。電導性の高い材料としては、カーボンナノチューブ、金属材料等を適用することができる。
次に、本実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法について図2及び図3を用いて説明する。
まず、カーボンナノチューブシート10を形成するための土台として用いる基板30を用意する(図2(a))。基板30としては、シリコン基板などの半導体基板、アルミナ(サファイア)基板、MgO基板、ガラス基板などの絶縁性基板、金属基板などを用いることができる。また、これら基板上に薄膜が形成されたものでもよい。例えば、シリコン基板上に膜厚300nm程度のシリコン酸化膜が形成されたものを用いることができる。
基板30は、カーボンナノチューブ12の成長後に剥離されるものである。この目的のもと、基板30としては、カーボンナノチューブ12の成長温度において変質しないことが望ましい。また、少なくともカーボンナノチューブ12に接する面がカーボンナノチューブ12から容易に剥離できる材料によって形成されていることが望ましい。また、カーボンナノチューブ12に対して選択的にエッチングできる材料によって形成されていることが望ましい。
次いで、基板30上に、例えばスパッタ法により、例えば膜厚2.5nmのFe(鉄)膜を形成し、Feの触媒金属膜32を形成する(図2(b))。なお、触媒金属膜32は、必ずしも基板30上の全面に形成する必要はなく、例えばリフトオフ法を用いて基板30の所定の領域上に選択的に形成するようにしてもよい。
触媒金属としては、Feのほか、Co(コバルト)、Ni(ニッケル)、Au(金)、Ag(銀)、Pt(白金)又はこれらのうち少なくとも一の材料を含む合金を用いてもよい。また、触媒として、金属膜以外に、微分型静電分級器(DMA:differential mobility analyzer)等を用い、予めサイズを制御して作製した金属微粒子を用いてもよい。この場合も、金属種については薄膜の場合と同様でよい。
また、これら触媒金属の下地膜として、Mo(モリブデン)、Ti(チタン)、Hf(ハフニウム)、Zr(ジルコニウム)、Nb(ニオブ)、V(バナジウム)、TaN(窒化タンタル)、TiSi(チタンシリサイド)、Al(アルミニウム)、Al(酸化アルミニウム)、TiO(酸化チタン)、Ta(タンタル)、W(タングステン)、Cu(銅)、Au(金)、Pt(白金)、Pd(パラジウム)、TiN(窒化チタン)などの膜又はこれらのうち少なくとも一の材料を含む合金からなる膜を形成してもよい。例えば、Fe(2.5nm)/Al(10nm)の積層構造、Co(2.6nm)/TiN(5nm)の積層構造等を適用することができる。金属微粒子を用いる場合は、例えば、Co(平均直径:3.8nm)/TiN(5nm)などの積層構造を適用することができる。
次いで、基板30上に、例えばホットフィラメントCVD法により、触媒金属膜32を触媒として、カーボンナノチューブ12を成長する。カーボンナノチューブ12の成長条件は、例えば、原料ガスとしてアセチレン・アルゴンの混合ガス(分圧比1:9)を用い、成膜室内の総ガス圧を1kPa、ホットフィラメント温度を1000℃、成長時間を25分とする。これにより、層数が3層〜6層(平均4層程度)、直径が4nm〜8nm(平均6nm)、長さが100μm(成長レート:4μm/min)の多層カーボンナノチューブを成長することができる。なお、カーボンナノチューブは、熱CVD法やリモートプラズマCVD法などの他の成膜方法により形成してもよい。また、成長するカーボンナノチューブは、単層カーボンナノチューブでもよい。また、炭素原料としては、アセチレンのほか、メタン、エチレン等の炭化水素類や、エタノール、メタノール等のアルコール類などを用いてもよい。
カーボンナノチューブ12の長さは、カーボンナノチューブシート10の用途によって決まり、特に限定されるものではないが、好ましくは5μm〜500μm程度の値に設定することができる。カーボンナノチューブシート10を、発熱源(例えば半導体素子)と放熱部品(例えばヒートスプレッダ)との間に形成するサーマルインターフェイスマテリアルとして使用する場合、少なくとも発熱源及び放熱部品の表面の凹凸を埋める長さ以上であることが望ましい。
こうして、基板30上に、基板30の法線方向に配向(垂直配向)した複数のカーボンナノチューブ12を形成する(図2(c))。なお、上記の成長条件で形成したカーボンナノチューブ12では、カーボンナノチューブ12の面密度は、1×1011本/cm程度であった。これは、基板30表面の面積のおよそ10%の領域上にカーボンナノチューブ12が形成されていることに相当する。
次いで、基板30に成長したカーボンナノチューブ12上に、フィルム状に加工した熱可塑性樹脂(熱可塑性樹脂フィルム34)を載置する(図3(a))。熱可塑性樹脂フィルム34の膜厚は、カーボンナノチューブ12の長さに応じて適宜設定することが望ましい。例えば図1(a)に示すカーボンナノチューブシート10を形成する場合には、カーボンナノチューブ12の長さと同程度、例えば5μm〜500μm程度が好適である。また、例えば図1(b)に示すカーボンナノチューブシート10を形成する場合には、カーボンナノチューブ12の長さよりも僅かに薄い程度、例えば4μm〜400μm程度が好適である。
熱可塑性樹脂フィルム34の熱可塑性樹脂としては、例えば、以下に示すホットメルト樹脂を適用することができる。ポリアミド系ホットメルト樹脂としては、例えば、ヘンケルジャパン株式会社製の「Micromelt6239」が挙げられる。また、ポリエステル系ホットメルト樹脂としては、例えば、ノガワケミカル株式会社製の「DH598B」が挙げられる。また、ポリウレタン系ホットメルト樹脂としては、例えば、ノガワケミカル株式会社製の「DH722B」が挙げられる。また、ポリオレフィン系ホットメルト樹脂としては、例えば、松村石油株式会社製の「EP−90」が挙げられる。また、エチレン共重合体ホットメルト樹脂としては、例えば、ノガワケミカル株式会社製の「DA574B」が挙げられる。また、SBR系ホットメルト樹脂としては、例えば、横浜ゴム株式会社製の「M−6250」が挙げられる。また、EVA系ホットメルト樹脂としては、例えば、住友スリーエム株式会社製の「3747」が挙げられる。また、ブチルゴム系ホットメルト樹脂としては、例えば、横浜ゴム株式会社製の「M−6158」が挙げられる。
ここでは、一例として、ヘンケルジャパン株式会社製の「Micromelt6239」を厚さ100μmのフィルム状に加工した熱硬化性樹脂フィルム34を用いた場合について説明する。なお、「Micromelt6239」は、融解温度が135℃〜145℃、融解時粘度が5.5Pa.s〜8.5Pa.s(225℃)のホットメルト樹脂である。
次いで、熱可塑性樹脂フィルム34を載置した基板30を、例えば195℃の温度で加熱する。これにより、熱可塑性樹脂フィルム34の熱可塑性樹脂が溶解し、カーボンナノチューブ12の間隙に徐々に浸透していく。こうして、熱可塑性樹脂フィルム34を、基板30の表面に達しない程度まで浸透させる。
熱可塑性樹脂を予めシート状に加工しておくことにより、そのシート膜厚で充填材量のコントロールが可能となる。これにより、加熱温度や加熱時間のコントロールで、充填材が基板30まで浸潤しないようにコントロールすることができる。
なお、基板30に達しないところで熱可塑性樹脂フィルム34の浸透を停止するのは、カーボンナノチューブシート10を基板30から剥離するのを容易にするためである。カーボンナノチューブシート10を基板30から容易に剥離できるような場合などは、基板30に達するまで熱可塑性樹脂フィルム34を浸透させるようにしてもよい。
カーボンナノチューブ12の間隙に浸透する熱可塑性樹脂フィルム34の厚さは、熱処理時間によって制御することができる。例えば、上記条件で成長した長さ100μmのカーボンナノチューブ12に対しては、195℃で1分間の熱処理を行うことにより、熱可塑性樹脂フィルム34が基板30に達しない程度まで浸透させることができる。
熱可塑性樹脂フィルム34の加熱時間は、熱可塑性樹脂フィルム34を基板30の表面に達しない程度に浸透させるように、カーボンナノチューブ12の長さ、熱可塑性樹脂の融解時の粘度、熱可塑性樹脂フィルム34の膜厚等に応じて適宜設定することが望ましい。
なお、熱可塑性樹脂の形状は、予めフィルム状に加工しておくことが好適であるが、ペレット状や棒状でも構わない。
次いで、熱可塑性樹脂フィルム34を所定の位置まで浸透させた後、室温まで冷却し、熱可塑性樹脂フィルム34を固化する。こうして、熱可塑性樹脂フィルム34の熱可塑性樹脂により形成され、カーボンナノチューブ12の間隙に充填された充填層14を形成する。
次いで、カーボンナノチューブ12及び充填層14を、基板30から剥離し、本実施形態によるカーボンナノチューブシートを得る(図3(c))。前述のように充填層14(熱可塑性樹脂フィルム34)を基板30まで到達しないように形成しておけば、カーボンナノチューブ12と基板30との間の接合は弱いため、カーボンナノチューブ12及び充填層14を基板30から容易に剥離することができる。
図1(b)に示すカーボンナノチューブシートを製造する場合にあっては、カーボンナノチューブ12の長さよりも薄い熱可塑性樹脂フィルム34を用い、カーボンナノチューブ12の上端部が露出するまで熱可塑性樹脂フィルム34を浸透させるようにすればよい。
このように、本実施形態によれば、カーボンナノチューブを支持する充填層の材料として熱可塑性樹脂を用いるので、充填層のリフローが可能であり被着体に対する接触熱抵抗の小さいカーボンナノチューブシートを容易に形成することができる。また、充填材の浸透量は、熱処理温度及び時間によって容易に制御することができる。これにより、カーボンナノチューブの端部を容易に露出することができる。また、カーボンナノチューブの成長に用いる基板からシートを容易に剥離することができる。
[第2実施形態]
第2実施形態によるカーボンナノチューブシート及びその製造方法について図4乃至図8を用いて説明する。なお、図1乃至図3に示す第1実施形態によるカーボンナノチューブシート及びその製造方法と同一の構成要素には、同一の符号を付して説明を省略または簡潔にする。
図4は、本実施形態によるカーボンナノチューブシートの構造を示す概略断面図である。図5は、本実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す概略断面図である。図6乃至図8は、本実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す斜視図である。
はじめに、本実施形態によるカーボンナノチューブシートの構造について図4を用いて説明する。
本実施形態によるカーボンナノチューブシート10は、図4に示すように、カーボンナノチューブ12の一端側に、被膜16が形成されているほかは、図1に示す第1実施形態によるカーボンナノチューブシート10と同様である。
被膜16を形成する材料は、充填層14の構成材料よりも熱伝導率の高い材料であれば特に限定されるものではない。カーボンナノチューブシート10を電気伝導用途にも用いる場合には、導電性を有する材料、例えば、金属や合金等を適用することができる。被膜16の構成材料としては、例えば、銅(Cu)、ニッケル(Ni)、金(Au)等を用いることができる。また、被膜16は、単層構造である必要はなく、例えばチタン(Ti)と金(Au)との積層構造など、2層或いは3層以上の積層構造であってもよい。
被膜16の膜厚は、製造過程において熱可塑性樹脂フィルム34の浸透を阻害しない膜厚であれば、特に限定されるものではない。被膜16の膜厚は、熱可塑性樹脂フィルム34の浸透性、カーボンナノチューブシート10に要求される特性、被膜16の構成材料等に応じて適宜設定することが望ましい。
熱伝導性の高い被膜16を設けることにより、被膜16を設けない場合と比較して、カーボンナノチューブシート10の被着体(放熱体、発熱体)に対する接触面積を増加することができる。これにより、カーボンナノチューブ12と被着体との間の接触熱抵抗が低減され、カーボンナノチューブシート10の熱伝導性を高めることができる。カーボンナノチューブシート10を導電性シートとしても用いる場合には、導電性を高めることができる。
なお、図4では、図1(a)のカーボンナノチューブシート10におけるカーボンナノチューブ12の一方の端部に被膜16を形成した場合を示したが、カーボンナノチューブ12の他方の端部にも被膜16を形成してもよい。また、図1(b)に示されるカーボンナノチューブシートにおけるカーボンナノチューブ12の一方の端部又は両方の端部に被膜16を形成してもよい。
次に、本実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法について図5乃至図8を用いて説明する。
まず、例えば図2(a)乃至図2(c)に示す第1実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法と同様にして、基板30上に、カーボンナノチューブ12を成長する。
なお、図1乃至図5では、図面の簡略化のためにカーボンナノチューブ12を単純な円筒形状で描いたが、成長初期における成長ばらつき等により、必ずしも完全な円筒形状にはならない。カーボンナノチューブ12は、全体的に見ればシートの膜厚方向に配向するが、例えば、図6に示すようにカーボンナノチューブ12の上端部が基板30の法線方向に対して傾いて成長したり、カーボンナノチューブ12の長さにばらつきが生じたりすることがある。
次いで、カーボンナノチューブ12上に、例えば蒸着法により、300nm程度の膜厚のAu(金)堆積し、Auの被膜16を形成する(図5(a))。被膜16は、カーボンナノチューブ12にダメージを与えない方法であれば、他の成膜方法(例えばスパッタ法等)を用いて形成してもよい。
被膜16を形成する材料は、充填層14の構成材料よりも熱伝導率の高い材料であれば特に限定されるものではない。カーボンナノチューブシート10を電気伝導用途にも用いる場合には、導電性を有する材料、例えば、金属や合金等を適用することができる。被膜16の構成材料としては、例えば、銅(Cu)、ニッケル(Ni)、金(Au)等を用いることができる。また、被膜16は、単層構造である必要はなく、例えばチタン(Ti)と金(Au)との積層構造など、2層或いは3層以上の積層構造であってもよい。
被膜16は、成長初期段階では、例えば図7に示すように、各カーボンナノチューブ12の先端部分を覆うように形成される。成長膜厚が増加してくると、隣接する各カーボンナノチューブ12の先端部分に形成された被膜16が互いに接続される。これにより、被膜16は、例えば図8に示すように、複数本の各カーボンナノチューブ12の先端部分を束ねるように形成される。被膜16の成長膜厚を更に増加すると、被膜16がシートの面に平行な2次元方向に完全に接続され、隙間のない完全な膜となる。
形成する被膜16の膜厚は、充填層14を形成する際の熱可塑性樹脂フィルム34の浸透性等を考慮して、カーボンナノチューブ12の直径や面密度に応じて適宜設定することが望ましい。
例えば、カーボンナノチューブ12の直径が10nm、面密度が1×1011cm−2の場合、互いに隣接するカーボンナノチューブ12の間隙はおよそ50nmである。この場合、隣接するカーボンナノチューブ12間が被膜16により接続されるためには、少なくとも間隙の半分以上の膜厚、すなわち膜厚25nm程度以上の被膜16を形成することが望ましい。また、被膜16を厚くしすぎると被膜16が隙間のない完全な膜となり熱可塑性樹脂フィルム34の浸透性が低下するため、被膜16の上限膜厚は、熱可塑性樹脂フィルム34の浸透性の面から設定することが望ましい。これらの観点から、上記条件のカーボンナノチューブ12では、被膜16の膜厚は、25nm〜1000nm程度に設定することが望ましい。
次いで、例えば図3(a)乃至図3(b)に示す第1実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法と同様にして、カーボンナノチューブ12の間隙に熱可塑性樹脂フィルム34を浸透させ、充填層14を形成する(図5(b))。
被膜16は、必ずしも隣接するカーボンナノチューブ12が互いに接続されるに十分な膜厚を形成する必要はないが、これには被膜16によって複数本のカーボンナノチューブ12を束ねる効果がある(図8参照)。また、横方向への熱の伝導が可能となる。これにより、熱可塑性樹脂フィルム34がカーボンナノチューブ12間に浸透する際に、カーボンナノチューブ12同士がばらばらになることを抑制することができる。
次いで、カーボンナノチューブ12、被膜16及び充填層14を基板30から剥離し、本実施形態によるカーボンナノチューブシートを得る(図5(c))。
この後、カーボンナノチューブ12の基板30の剥離面側に、必要に応じて、被膜16と同様の被膜(図示せず)を形成する。この被膜の形成方法や形成材料等は、被膜16と同様である。
このように、本実施形態によれば、カーボンナノチューブを支持する充填層の材料として熱可塑性樹脂を用いるので、充填層のリフローが可能であり被着体に対する接触熱抵抗の小さいカーボンナノチューブシートを容易に形成することができる。また、充填材の浸透量は、熱処理温度及び時間によって容易に制御することができる。これにより、カーボンナノチューブの端部を容易に露出することができる。また、カーボンナノチューブの成長に用いる基板からシートを容易に剥離することができる。また、カーボンナノチューブの端部に充填層よりも熱伝導率の高い材量の被膜を形成するので、被着体に対する接触熱抵抗を大幅に低減することができる。
[第3実施形態]
第3実施形態によるカーボンナノチューブシート及びその製造方法について図9乃至図14を用いて説明する。なお、図1乃至図8に示す第1及び第2実施形態によるカーボンナノチューブシート及びその製造方法と同一の構成要素には、同一の符号を付して説明を省略または簡潔にする。
図9は、本実施形態によるカーボンナノチューブシートの構造を示す斜視図である。図10乃至図13は、本実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す斜視図である。図14は、本実施形態によるカーボンナノチューブシート及びその製造方法の他の例を示す斜視図である。
はじめに、本実施形態によるカーボンナノチューブシートの構造について図9を用いて説明する。図9(a)は本実施形態によるカーボンナノチューブシートの第1の例であり、図9(b)は本実施形態によるカーボンナノチューブシートの第2の例である。
本実施形態によるカーボンナノチューブシート10は、図9(a)及び図9(b)に示すように、複数のカーボンナノチューブ12が互いに間隔を開けて配置され、この間隙に熱可塑性樹脂の充填層14が埋め込み形成された構造を有している点で、第1及び第2実施形態によるカーボンナノチューブシートと共通している。
本実施形態によるカーボンナノチューブシート10は、複数のカーボンナノチューブ12aと、複数のカーボンナノチューブ12bとを有している。複数のカーボンナノチューブ12aは、カーボンナノチューブシート10の一方の面側(図面において上側)の端部に被膜16aを有している。一方、複数のカーボンナノチューブ12bは、カーボンナノチューブシート10の他方の面側(図面において下側)の端部に被膜16bを有している。
図9(a)に示す第1の例のカーボンナノチューブシート10と図9(b)に示す第2の例のカーボンナノチューブシート10は、被膜16a,16bの膜厚が異なっている。すなわち、図9(a)に示す第1の例のカーボンナノチューブシート10では、図7において説明したように、各カーボンナノチューブ12a,12bの先端部分をそれぞれ覆うように、被膜16a,16bが形成されている。また、図9(b)に示す第2の例のカーボンナノチューブシート10では、図8において説明したように、複数本の各カーボンナノチューブ12a,12bの先端部分を束ねるように、被膜16a,16bがそれぞれ形成されている。
充填材14及び被膜16の構成材料は、第1又は第2実施形態によるカーボンナノチューブシートと同様である。
次に、本実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法について図10乃至図13を用いて説明する。なお、ここでは、図9(b)に示す第2の例のカーボンナノチューブシートの製造方法を示すが、図9(a)に示す第1の例のカーボンナノチューブシートの製造方法は、被膜16の膜厚が異なるほかは第2の例のカーボンナノチューブシートの製造方法と同様である。
まず、例えば図2(a)乃至図2(c)に示す第1実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法と同様にして、基板30a上に、複数のカーボンナノチューブ12aを成長する(図10(a))。
次いで、例えば図5(a)に示す第2実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法と同様にして、カーボンナノチューブ12a上に、被膜16aを形成する(図10(b))。
次いで、例えば図5(b)に示す第2実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法と同様にして、カーボンナノチューブ12a間に熱可塑性樹脂フィルムを浸透させ、熱可塑性材料の充填層14aを形成する(図11(a))。なお、図11(a)では基板30に達するまで熱可塑性樹脂フィルム(充填層14)を浸透させているが、第1及び第2実施形態の場合と同様、基板30aに達しない程度まで熱可塑性樹脂フィルムを浸透させるようにしてもよい。
次いで、被膜16aが形成されたカーボンナノチューブ12a及び充填層14aを基板30aから剥離し、カーボンナノチューブシート10aを形成する(図11(b))。このカーボンナノチューブシート10aは、第2実施形態によるカーボンナノチューブシート10と同様のものである。
以上の手順により、カーボンナノチューブシート10aとは別に、充填層14b内に被膜16bが形成されたカーボンナノチューブ12bが埋め込まれたカーボンナノチューブシート10bを用意する。
次いで、カーボンナノチューブシート10aとカーボンナノチューブシート10bとを、被膜16a,16bが形成されていない面側が向き合うように重ね合わせる(図12)。
次いで、カーボンナノチューブシート10aとカーボンナノチューブシート10bとの積層体を、加重を加えながら加熱する。例えば、充填層14a,14bを形成する熱可塑性樹脂としてヘンケルジャパン株式会社製の「Micromelt6239」を用いた場合には、圧力10N/cmの加重を加えながら、195℃で加熱する。これにより、充填層14a,14bが液状融解して一体となり、カーボンナノチューブ12aはカーボンナノチューブ12bの間隙に、カーボンナノチューブ12bはカーボンナノチューブ12aの間隙に、互いに挿入される。
次いで、室温まで冷却し、充填層14a,14b(以下、充填層14という)を固化する。
こうして、被膜16aが形成されたカーボンナノチューブ12aと、被膜16bが形成されたカーボンナノチューブ12bとが充填層14内に埋め込まれた本実施形態によるカーボンナノチューブシート10が形成される(図13)。
カーボンナノチューブ12a,12bの面密度は、カーボンナノチューブの成長条件によって変化する。例えば1×1012cm−2程度の面密度でカーボンナノチューブ12を形成したとしても、本実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を用いることにより、カーボンナノチューブ12の面密度を2倍にすることができる。これにより、カーボンナノチューブシートの熱伝導率、放熱性を大幅に向上することができる。
また、重ね合わせるカーボンナノチューブシートのシートを更に増やすことにより、カーボンナノチューブの面密度を更に高めることができる。
例えば、図14に示すように、上述のカーボンナノチューブシート10a,10bの間に、充填層14c内にカーボンナノチューブ12cが埋め込まれたカーボンナノチューブシート10cと、充填層14d内にカーボンナノチューブ12dが埋め込まれたカーボンナノチューブシート10dとを挟み込むことも可能である。このようにすることで、カーボンナノチューブの面密度を4倍にすることができる。重ね合わせるカーボンナノチューブシートのシートの枚数は、要求される熱伝導率や放熱性に応じて適宜設定することができる。
また、カーボンナノチューブシートのシートを3枚以上重ね合わせる場合、必ずしも総てのシートを同時に一体化する必要はない。例えば、図14の例では、カーボンナノチューブシート10aとカーボンナノチューブシート10cとを、カーボンナノチューブシート10bとカーボンナノチューブシート10dとを、それぞれ一体化した後、一体化した2つのシートを一体化することができる。或いは、カーボンナノチューブシート10aとカーボンナノチューブシート10cとを一体化した後、これとカーボンナノチューブシート10dとを一体化し、その後更にカーボンナノチューブシート10bを一体化するようにしてもよい。
なお、カーボンナノチューブシート10,10は、カーボンナノチューブ12,12が他のシートのカーボンナノチューブの間隙に挿入されやすいように、端部に被膜を形成しなくてもよい。カーボンナノチューブシート10,10は、例えば第1実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法と同様の手順により、製造することができる。
このように、本実施形態によれば、カーボンナノチューブを支持する充填層の材料として熱可塑性樹脂を用いたカーボンナノチューブシートを複数積層し、熱処理によりこれを一体化するので、カーボンナノチューブの面密度を大幅に向上することができる。これにより、シートの熱伝導率を大幅に向上することができる。
[第4実施形態]
第4実施形態によるカーボンナノチューブシート及びその製造方法について図15乃至図19を用いて説明する。なお、図1乃至図14に示す第1乃至第3実施形態によるカーボンナノチューブシート及びその製造方法と同一の構成要素には、同一の符号を付して説明を省略または簡潔にする。
図15は、本実施形態によるカーボンナノチューブシートの構造を示す斜視図である。図16乃至図19は、本実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す斜視図である。
はじめに、本実施形態によるカーボンナノチューブシートの構造について図15を用いて説明する。図15(a)は本実施形態によるカーボンナノチューブシートの第1の例であり、図15(b)は本実施形態によるカーボンナノチューブシートの第2の例である。
本実施形態によるカーボンナノチューブシート10は、図15(a)及び図15(b)に示すように、複数のカーボンナノチューブ12が互いに間隔を開けて配置され、この間隙に熱可塑性樹脂の充填層14が埋め込み形成された構造を有している点で、第1乃至第3実施形態によるカーボンナノチューブシートと共通している。
本実施形態によるカーボンナノチューブシート10は、充填層14が、充填層14A,14B,14Cの積層体により形成されている。カーボンナノチューブ12の両端部には、被膜16が形成されている。
充填層14A,14Cは、第1乃至第3実施形態によるカーボンナノチューブシートの充填層14と同様の、熱可塑性樹脂により形成されている。また、被膜16の構成材料も、第1乃至第3実施形態によるカーボンナノチューブシートと同様である。
充填層14Bは、カーボンナノチューブ12の埋め込みの際に液体状の性質を示し、その後に硬化できるものであれば特に限定されるものではない。例えば、有機系充填材としては、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、ポリイミド樹脂などを適用することができる。また、無機系充填材としては、SOG(Spin On Glass)などの塗布型絶縁膜形成用組成物などを適用することができる。また、インジウム、はんだ、金属ペースト(例えば、銀ペースト)などの金属材料を適用することもできる。また、例えばポリアニリン、ポリチオフェンなどの導電性ポリマを適用することもできる。
また、充填層14Bには、必要に応じて、添加物を分散混合してもよい。添加物としては、例えば熱伝導性の高い物質や導電性の高い物質が考えられる。充填層14B部分に熱伝導性の高い添加物を分散混合することにより、充填層14B部分の熱伝導率を向上することができ、カーボンナノチューブシート全体としての熱伝導率を向上することができる。熱伝導性の高い材料としては、カーボンナノチューブ、金属材料、窒化アルミニウム、シリカ、アルミナ、グラファイト、フラーレン等を適用することができる。電導性の高い材料としては、カーボンナノチューブ、金属材料等を適用することができる。
充填層14に熱伝導率の高い材料を用いることにより、シート全体の熱伝導率も向上する。しかし、熱可塑性樹脂の熱伝導率は通常0.1W/m・K以下であり、充填層14の全体を熱可塑性樹脂で形成した場合は、充填層14はほとんど熱伝導に寄与しない。充填層14B部分に熱可塑性樹脂ではなく、ある程度熱伝導率の高い材料、例えば導電性ポリマを用い、充填層14A,14C部分には、使用時の密着性、界面熱抵抗を考慮して熱可塑性樹脂を用いることで、シート全体の熱伝導率を向上することができる。
図15(a)に示す第1の例のカーボンナノチューブシート10と図15(b)に示す第2の例のカーボンナノチューブシート10は、被膜16の膜厚が異なっている。すなわち、図15(a)に示す第1の例のカーボンナノチューブシート10では、図7において説明したように、各カーボンナノチューブ12の先端部分をそれぞれ覆うように、被膜16が形成されている。また、図15(b)に示す第2の例のカーボンナノチューブシート10では、図8において説明したように、複数本の各カーボンナノチューブ12の先端部分を束ねるように、被膜16が形成されている。
次に、本実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法について図16乃至図19を用いて説明する。なお、ここでは、図15(b)に示す第2の例のカーボンナノチューブシートの製造方法を示すが、図15(a)に示す第1の例のカーボンナノチューブシートの製造方法は、被膜16の膜厚が異なるほかは第2の例のカーボンナノチューブシートの製造方法と同様である。
まず、例えば図2(a)乃至図2(c)に示す第1実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法と同様にして、基板30上に、複数のカーボンナノチューブ12を成長する(図16(a))。
次いで、例えば図5(a)に示す第2実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法と同様にして、カーボンナノチューブ12の一端上に、被膜16を形成する(図16(b))。
次いで、基板30とは別の基板40を用意する。
次いで、基板40上に、例えばスピンコート法により、例えば膜厚6μmのフォトレジスト膜42を塗布する。基板40は、特に限定されるものではないが、例えばサファイア基板等を適用することができる。また、フォトレジスト膜42の代わりに、充填層14Bに対してエッチング選択性のある他の材料の膜を形成してもよい。
次いで、基板40のフォトレジスト膜42の塗布面上に、カーボンナノチューブ12の被膜16の形成面が向き合うように基板30を載置し、フォトレジスト膜42を硬化させる。これにより、カーボンナノチューブ12の被膜16により覆われた端部は、フォトレジスト膜42によって覆われることになる。
次いで、カーボンナノチューブ12から基板30を剥離する。こうして、被膜16が形成されたカーボンナノチューブ12を、基板40上に転写する(図17(a))。
次いで、例えば図5(a)に示す第2実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法と同様にして、カーボンナノチューブ12の他端上に、被膜16を形成する(図17(b))。
次いで、例えばスピンコート法により、充填層14Bとなる充填材を塗布する。この際、被膜16上の充填材の厚さが数十nm以下になるように、塗布溶液の粘度やスピンコータの回転数を適宜設定する。
充填層14Bとなる充填材は、その後に硬化できるものであれば特に限定されるものではない。例えば、有機系充填材としては、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、ポリイミド樹脂などを適用することができる。また、無機系充填材としては、SOG(Spin On Glass)などの塗布型絶縁膜形成用組成物などを適用することができる。また、インジウム、はんだ、金属ペースト(例えば、銀ペースト)などの金属材料を適用することもできる。また、例えばポリアニリン、ポリチオフェンなどの導電性ポリマを適用することもできる。ここでは、充填層14Bとなる充填材として、シリコーン系樹脂を用いるものとする。
次いで、熱処理や紫外線照射等により充填材を硬化し、充填層14Bを形成する(図18(a))。
次いで、例えば有機溶剤により、フォトレジスト膜42を選択的に除去し、充填層14Bに埋め込まれ端部に被膜16が形成されたカーボンナノチューブ12を、基板40から剥離する(図18(b))。この際、フォトレジスト膜42により覆われていたカーボンナノチューブ12の一端部は、充填層14Bにより覆われていない。
次いで、例えば図5(b)に示す第2実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法と同様にして、充填層14Bの両面に、熱可塑性材料の充填層14A,14Cを形成する。
こうして、被膜16が形成されたカーボンナノチューブ12が充填層14A,14B,14Cの積層体の充填層14に埋め込まれた本実施形態によるカーボンナノチューブシート10が形成される(図19)。
このように、本実施形態によれば、カーボンナノチューブを支持する充填層の表面部分に熱可塑性樹脂の層を設けるので、被着体に対する接触熱抵抗の小さいカーボンナノチューブシートを形成することができる。
[第5実施形態]
第5実施形態による電子機器及びその製造方法について図20乃至図22を用いて説明する。なお、図1乃至図19に示す第1乃至第4実施形態によるカーボンナノチューブシート及びその製造方法と同一の構成要素には、同一の符号を付して説明を省略または簡潔にする。
図20は、本実施形態による電子機器の構造を示す概略断面図である。図21は、本実施形態による電子機器の製造方法を示す工程断面図である。図22は、本実施形態による電子部品の構造を示す概略断面図である。
本実施形態では、第1乃至第4実施形態によるカーボンナノチューブシートを熱伝導シートとして適用した電子機器及びその製造方法について説明する。
はじめに、本実施形態による電子機器の構造について図20を用いて説明する。
多層配線基板などの回路基板50上には、例えばCPUなどの半導体素子54が実装されている。半導体素子54は、はんだバンプなどの突起状電極52を介して回路基板50に電気的に接続されている。
半導体素子54上には、半導体素子54を覆うように、半導体素子54からの熱を拡散するためのヒートスプレッダ58が形成されている。半導体素子54とヒートスプレッダ58との間には、第1乃至第4実施形態のいずれかに記載のカーボンナノチューブシート56が形成されている。ヒートスプレッダ58は、例えば有機シーラント60によって回路基板50に接着されている。
このように、本実施形態による電子機器では、半導体素子54とヒートスプレッダ58との間、すなわち発熱部と放熱部との間に、第1乃至第4実施形態によるカーボンナノチューブシート56が設けられている。
上述のように、第1乃至第4実施形態によるカーボンナノチューブシートは、カーボンナノチューブ12がシートの膜厚方向に配向しており、面直方向の熱伝導度が極めて高いものである。また、第2乃至第4実施形態によるカーボンナノチューブシートは、カーボンナノチューブ12の一方の端部或いは両端に被膜16が形成されており、接触熱抵抗を大幅に低減することができる。
したがって、開示のカーボンナノチューブシートを、半導体素子54とヒートスプレッダ58との間に形成する熱伝導シートとして用いることにより、半導体素子54から発せられた熱を効率よくヒートスプレッダ58に垂直方向に伝えることができ、放熱効率を高めることができる。これにより、電子機器の信頼性を向上することができる。
また、カーボンナノチューブシート56は、カーボンナノチューブ12を支持する充填層14の少なくとも表面層が、熱可塑性樹脂材料により形成されている。これにより、半導体素子54及びヒートスプレッダ58に対するカーボンナノチューブシート56の接着性を高めるとともに、カーボンナノチューブシート56による熱伝導性をも高めることができる。
次に、本実施形態による電子機器の製造方法について図21を用いて説明する。
まず、回路基板50上に、突起状電極52を介して半導体素子54を実装する(図21(a))。なお、本実施形態の図面では、本実施形態による電子機器の効果を判りやすくするために、半導体素子54とヒートスプレッダ58との対向する面の凹凸を強調して描いている。
次いで、回路基板50上に実装した半導体素子54上に、第1乃至第4実施形態のいずれかに記載のカーボンナノチューブシート56を載置する(図21(b))。本実施形態の図面では、第1実施形態によるカーボンナノチューブシートを用いた場合を示しているが、第2乃至第4実施形態によるカーボンナノチューブシートを用いてもよい。
次いで、回路基板50上に、ヒートスプレッダ58を固定するための有機シーラント60を塗布した後、カーボンナノチューブシート56を載置した半導体素子54上にヒートスプレッダ58を被せる(図21(c))。
次いで、ヒートスプレッダ58に荷重をかけた状態で熱処理を行い、カーボンナノチューブシート56をリフローする。充填層14として例えばヘンケルジャパン株式会社製の「Micromelt6239」を用いたカーボンナノチューブシート56では、例えば荷重0.25MPaを加えた状態で、例えば195℃、10分間の熱処理を行う。
この熱処理により、カーボンナノチューブシート56の充填層14を形成する熱可塑性樹脂が液状融解し、半導体素子54及びヒートスプレッダ58の表面凹凸に沿ってカーボンナノチューブシート56が変形する。また、カーボンナノチューブシート54内のカーボンナノチューブ12は、充填層14による拘束がゆるみ、その端部は半導体素子54及びヒートスプレッダ58に直に接するようになる。この際、カーボンナノチューブ12はしなやかで柔軟性に富んだ材料であるため、半導体素子54及びヒートスプレッダ58が有する凹凸形状に追従して撓むことができる。これにより、半導体素子54及びヒートスプレッダ58に直に接するカーボンナノチューブ12が増加し、カーボンナノチューブシート56と半導体素子54及びヒートスプレッダ58との間の接触熱抵抗を大幅に低減することができる。
このときの荷重は、カーボンナノチューブシート56が、半導体素子54及びヒートスプレッダ58の表面に存在する凹凸に沿って変形して十分な接触状態を形成する荷重範囲であればよい。また、熱処理の温度及び時間は、半導体素子54とヒートスプレッダ58との界面に介在する熱可塑性樹脂が融解して移動し、カーボンナノチューブ12の端部が半導体素子54及びヒートスプレッダ58に対して直に接する表面状態になる範囲を選択すればよい。
次いで、室温まで冷却し、充填層14の熱可塑性樹脂を固化するとともに、ヒートスプレッダ58を有機シーラント60によって回路基板50上に固定する。この際、熱可塑性樹脂は接着性を発現し、半導体素子54とヒートスプレッダ58との間をカーボンナノチューブシート56によって接着固定することができる。これにより、室温に冷却した後も、カーボンナノチューブシート56と半導体素子54及びヒートスプレッダ58との間の低い接触熱抵抗を維持することができる。
なお、充填層14として熱可塑性樹脂ではない材料を用いたカーボンナノチューブシートでは、一度固化した充填層14に接着性を発現することはできないため、カーボンナノチューブシートと半導体素子54及びヒートスプレッダ58とは加圧圧着で接触せざるを得ない。また、半導体素子54とヒートスプレッダとを加圧圧着しても、カーボンナノチューブ12の端部が半導体素子54及びヒートスプレッダ58に対して直に接することはできない。カーボンナノチューブ12の端部を予め露出しておくことも考えられるが、カーボンナノチューブ12と充填層14と間の選択性を十分に確保しつつ充填層14だけをエッチングすることは困難である。これらのことにより、半導体素子54とヒートスプレッダとの間の接触熱抵抗を十分に低減することができない。
上記の例では、カーボンナノチューブシート56とヒートスプレッダ58とを別々の電子部品としたが、カーボンナノチューブシート56は、予めヒートスプレッダ58の内面に形成しておいてもよい。この場合、例えば図22(a)に示すように、カーボンナノチューブシート56の充填層14の形成面を、ヒートスプレッダ58の内面に接着することができる。或いは、例えば図22(b)に示すように、カーボンナノチューブシート56のカーボンナノチューブ12の露出面を、ヒートスプレッダ58の内面に接着することができる。
図22(a)の電子部品は、カーボンナノチューブシート56とヒートスプレッダ58とを別々に製造した後、ヒートスプレッダ58の内面にカーボンナノチューブシート56を載置し、必要に応じて荷重をかけながら熱処理を行い、カーボンナノチューブシート56を接着することにより、製造することができる。図22(a)の電子部品は、カーボンナノチューブシート56として、第1又は第2実施形態によるカーボンナノチューブシートのみならず、第3及び第4実施形態によるカーボンナノチューブシートをも適用することができる。
また、図22(b)の電子部品は、ヒートスプレッダ58を基板30として用いることにより、第1又は第2実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法と同様にして製造することができる。
このように、本実施形態によれば、半導体素子とヒートスプレッダとの間に、第1乃至第4実施形態によるカーボンナノチューブシートを配置するので、これらの間の熱伝導度を大幅に向上することができる。これにより、半導体素子から発せられる熱の放熱効率を高めることができ、電子機器の信頼性を向上することができる。
[第6実施形態]
第6実施形態による電子機器及びその製造方法について図23及び図24を用いて説明する。なお、図1乃至図19に示す第1乃至第4実施形態によるカーボンナノチューブシート及びその製造方法、並びに図20乃至図22に示す第5実施形態による電子機器及びその製造方法と同一の構成要素には、同一の符号を付して説明を省略または簡潔にする。
図23は、本実施形態による電子機器の構造を示す概略断面図である。図24は、本実施形態による電子機器の製造方法を示す工程断面図である。
はじめに、本実施形態による電子機器の構造について図23を用いて説明する。
本実施形態による電子機器は、図23に示すように、第5実施形態による電子機器において、半導体素子54とヒートスプレッダ58との間に設けるカーボンナノチューブシート56として、第3実施形態によるカーボンナノチューブシートを適用したものである。
次に、本実施形態による電子機器の製造方法について図24を用いて説明する。
まず、例えば図10(a)乃至図11(b)に示す第3実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法と同様にして、充填層14a内に被膜16aが形成されたカーボンナノチューブ12aが埋め込まれたカーボンナノチューブシート10aと、充填層14b内に被膜16bが形成されたカーボンナノチューブ12bが埋め込まれたカーボンナノチューブシート10bとを用意する。
次いで、図21(a)に示す第5実施形態による電子機器の製造方法と同様にして、回路基板50上に、突起状電極52を介して半導体素子54を実装する。
次いで、半導体素子54の上面上に、カーボンナノチューブシート10bを接着する。また、ヒートスプレッダ58の内面に、カーボンナノチューブシート10aを接着する。カーボンナノチューブシート10a,10bは、半導体素子54、ヒートスプレッダ58上に載置した後、必要に応じて荷重をかけながら熱処理を行うことにより、接着することができる。
次いで、回路基板50上に、ヒートスプレッダ58を固定するための有機シーラント60を塗布した後、カーボンナノチューブシート10bを接着載置した半導体素子54上に、カーボンナノチューブシート10aを接着したヒートスプレッダ58を被せる(図24(a))。
次いで、例えば図12乃至図13に示す第3実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法と同様にして、ヒートスプレッダ58に荷重をかけた状態で熱処理を行う。これにより、充填層14a,14bが液状融解して一体となり、カーボンナノチューブ12aはカーボンナノチューブ12bの間隙に、カーボンナノチューブ12bはカーボンナノチューブ12aの間隙に、互いに挿入される。こうして、半導体素子54とヒートスプレッダ58との間には、第3実施形態によるカーボンナノチューブシート56が形成される。
また、カーボンナノチューブシート56が形成されると同時に、カーボンナノチューブシート56は、半導体素子54及びヒートスプレッダ58の表面凹凸に沿って変形する。また、カーボンナノチューブシート54内のカーボンナノチューブ12a,12bは充填層14による拘束がゆるみ、その端部(被膜16a,16bが形成された状態も含む)は半導体素子54及びヒートスプレッダ58に直に接するようになる。これにより、カーボンナノチューブシート56と半導体素子54及びヒートスプレッダ58との間の接触熱抵抗を大幅に低減することができる。
このときの荷重は、カーボンナノチューブシート10a,10bが一体化されるとともに、カーボンナノチューブシート56が半導体素子54及びヒートスプレッダ58の表面に存在する凹凸に沿って変形して十分な接触状態を形成する荷重範囲であればよい。また、熱処理の温度及び時間は、半導体素子54とヒートスプレッダ58との界面に介在する熱可塑性樹脂が融解して移動し、カーボンナノチューブ12の端部が半導体素子54及びヒートスプレッダ58に対して直に接する表面状態になる範囲を選択すればよい。
次いで、室温まで冷却し、充填層14の熱可塑性樹脂を固化するとともに、ヒートスプレッダ58を有機シーラント60によって回路基板50上に固定する。この際、熱可塑性樹脂は接着性を発現し、半導体素子54とヒートスプレッダ58との間をカーボンナノチューブシート56によって接着固定することができる。これにより、室温に冷却した後も、カーボンナノチューブシート56と半導体素子54及びヒートスプレッダ58との間の低い接触熱抵抗を維持することができる。
このように、本実施形態によれば、半導体素子とヒートスプレッダとの間に、第1乃至第4実施形態によるカーボンナノチューブシートを配置するので、これらの間の熱伝導度を大幅に向上することができる。これにより、半導体素子から発せられる熱の放熱効率を高めることができ、電子機器の信頼性を向上することができる。
[第7実施形態]
第7実施形態による電子機器について図25を用いて説明する。
図25は、本実施形態による電子機器の構造を示す斜視図である。
本実施形態では、第1乃至第4実施形態によるカーボンナノチューブシートを、導電性シートを兼ねる熱伝導性シートとして適用した電子機器について説明する。
図25に示すように、無線通信基地局などに用いられる高出力増幅器(HPA:High Power Amplifier)70は、パッケージ72に組み込まれ、パッケージ72の裏面においてヒートシンク74に接合される。高出力増幅器70から発せられた熱は、パッケージ72の裏面を通してヒートシンク74に放熱される。同時に、パッケージ72は、電気的なグラウンド(接地面)としても用いられるものであり、ヒートシンク74に対しても電気的に接続する必要がある。このため、パッケージ72とヒートシンク74との接合には、電気及び熱に対する良導体を用いることが望ましい。
第1乃至第4実施形態によるカーボンナノチューブシートは、第1乃至第4実施形態で説明したように、発熱体或いは放熱体に対して、カーボンナノチューブ12或いは被膜16が形成されたカーボンナノチューブ12を直に接触させることができる。つまり、第1乃至第4実施形態によるカーボンナノチューブシートは、放熱シートのみならず、導電性シートとしても用いることができる。
したがって、図25に示すように、パッケージ72とヒートシンク74との接合部に、第1乃至第4実施形態のいずれかによるカーボンナノチューブシート76を用いることにより、パッケージ72とヒートシンク74とを電気的に接続することができる。また、高出力増幅器70から発せられた熱を効率よくヒートシンク74に伝えることができ、放熱効率を高めることができる。これにより、電子機器の信頼性を向上することができる。
本実施形態による電子機器は、第5又は第6実施形態による電子機器の製造方法と同様にして製造することができる。
このように、本実施形態によれば、高出力増幅器のパッケージとヒートシンクとの間に、第1乃至第4実施形態によるカーボンナノチューブシートを配置するので、これらの間の熱伝導度を大幅に向上することができる。これにより、高出力増幅器から発せられる熱の放熱効率を高めることができる。これにより、電子機器の信頼性を向上することができる。また、高出力増幅器とグラウンドとしてのヒートシンクとを電気的に接続することもできる。
[変形実施形態]
上記実施形態に限らず種々の変形が可能である。
例えば、上記実施形態では、炭素元素の線状構造体を用いた放熱材料の例としてカーボンナノチューブシートを示したが、炭素元素の線状構造体を用いた放熱材料は、これに限定されるものではない。炭素元素の線状構造体としては、カーボンナノチューブのほか、カーボンナノワイヤ、カーボンロッド、カーボンファイバが挙げられる。これら線状構造体は、サイズが異なるほかは、カーボンナノチューブと同様である。これら線状構造体を用いた放熱材料においても適用することができる。
また、上記実施形態に記載の構成材料や製造条件は、当該記載に限定されるものではなく、目的等に応じて適宜変更が可能である。
また、カーボンナノチューブシートの使用目的も、上記実施形態に記載のものに限定されるものではない。開示のカーボンナノチューブシートは、熱伝導シートとしては、例えば、CPUの放熱シート、無線通信基地局用高出力増幅器、無線通信端末用高出力増幅器、電気自動車用高出力スイッチ、サーバー、パーソナルコンピュータなどへの適用が考えられる。また、カーボンナノチューブの高い許容電流密度特性を利用して、縦型配線シートやこれを用いた種々のアプリケーションにも適用可能である。
以上の実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
(付記1) 複数の炭素元素の線状構造体と、
複数の前記線状構造体間に配置された熱可塑性樹脂の充填層と
を有することを特徴とする放熱材料。
(付記2) 付記1記載の放熱材料において、
複数の前記線状構造体の少なくとも一方の端部に形成され、前記熱可塑性樹脂よりも熱伝導率の高い材料の被膜を更に有する
ことを特徴とする放熱材料。
(付記3) 付記1又は2記載の放熱材料において、
前記熱可塑性樹脂は、温度に応じて液体と固体との間で状態変化する
ことを特徴とする放熱材料。
(付記4) 付記3記載の放熱材料において、
前記熱可塑性樹脂は、液体から固体に状態変化する際に接着性を発現する
ことを特徴とする放熱材料。
(付記5) 付記1乃至4のいずれか1項に記載の放熱材料において、
前記充填層は、前記熱可塑性樹脂の第1の層と、前記第1の層上に配置され前記熱可塑性樹脂とは異なる材料の第2の層と、前記第2の層上に配置され前記熱可塑性樹脂の第3の層とを有する
ことを特徴とする放熱材料。
(付記6) 付記1乃至5のいずれか1項に記載の放熱材料において、
複数の前記線状構造体は、前記充填層の膜厚方向に配向している
ことを特徴とする放熱材料。
(付記7) 付記1乃至6のいずれか1項に記載の放熱材料において、
複数の前記線状構造体の少なくとも一方の端部は、前記充填層から露出している
ことを特徴とする放熱材料。
(付記8) 発熱体と、
放熱体と、
前記発熱体と放熱体との間に配置され、複数の炭素元素の線状構造体と、複数の前記線状構造体間に配置された熱可塑性樹脂の充填層とを含む放熱材料と
を有することを特徴とする電子機器。
(付記9) 付記8記載の電子機器において、
前記放熱材料は、複数の前記線状構造体の少なくとも一方の端部に形成され、前記熱可塑性樹脂よりも熱伝導率の高い材料の被膜を更に有する
ことを特徴とする電子機器。
(付記10) 付記8又は9記載の電子機器において、
前記熱可塑性樹脂の融解温度は、前記発熱体の発熱温度よりも高く、前記発熱体及び放熱体の耐熱温度よりも低い
ことを特徴とする電子機器。
(付記11) 付記8乃至10のいずれか1項に記載の電子機器において、
複数の前記線状構造体は、前記充填層の膜厚方向に配向している
ことを特徴とする電子機器。
(付記12) 付記8乃至11のいずれか1項に記載の電子機器において、
前記発熱体及び前記放熱体は、前記熱可塑性樹脂によって前記放熱材料に接着されている
ことを特徴とする電子機器。
(付記13) 発熱体と放熱体との間に、複数の炭素元素の線状構造体と、複数の前記線状構造体間に配置された熱可塑性樹脂の充填層とを有する放熱材料を配置する工程と、
前記放熱材料を加熱して前記熱可塑性樹脂を融解する工程と、
前記放熱材料を冷却して前記熱可塑性樹脂を固化する工程と
を有することを特徴とする電子機器の製造方法。
(付記14) 付記13記載の電子機器の製造方法において、
前記熱可塑性樹脂を融解する工程では、前記発熱体の発熱温度よりも高く、前記発熱体及び放熱体の耐熱温度よりも低い温度で加熱することにより、前記熱可塑性樹脂を融解する
ことを特徴とする電子機器の製造方法。
(付記15) 付記13又は14記載の電子機器の製造方法において、
前記熱可塑性樹脂は、液体から固体に状態変化する際に接着性を発現する材料であり、
前記放熱材料を冷却する際に、前記放熱材料と前記発熱体及び/又は放熱体とを接着する
ことを特徴とする電子機器の製造方法。
(付記16) 付記13乃至15のいずれか1項に記載の電子機器の製造方法において、
前記発熱体と前記放熱体との間に前記放熱材料を配置する工程は、前記放熱体上に、複数の前記線状構造体を成長する工程と、複数の前記線状構造体間に前記熱可塑性樹脂を浸透させ、前記充填層を形成する工程とを有する
ことを特徴とする電子機器の製造方法。
(付記17) 付記13乃至15のいずれか1項に記載の電子機器の製造方法において、
前記発熱体と前記放熱体との間に前記放熱材料を配置する工程では、前記発熱体と前記放熱体との間に複数の前記放熱材料を配置し、
前記熱可塑性樹脂を融解する工程では、複数の前記放熱材料の複数の前記線状構造体を互いの間に挿入する
ことを特徴とする電子機器の製造方法。
(付記18) 付記17記載の電子機器の製造方法において、
複数の前記放熱材料のうちの少なくとも一つを、前記発熱体又は前記放熱体に予め接着しておく
ことを特徴とする電子機器の製造方法。
(付記19) 付記13乃至18のいずれか1項に記載の電子機器の製造方法において、
前記熱可塑性樹脂を融解する工程では、前記発熱体の発熱温度よりも高く、前記発熱体及び放熱体の耐熱温度よりも低い温度で前記熱可塑性樹脂を融解する
ことを特徴とする電子機器の製造方法。
(付記20) 放熱体と、
前記放熱体上に形成され、複数の炭素元素の線状構造体と、複数の前記線状構造体の間隙に配置された熱可塑性樹脂の充填層とを有する放熱材料と
を有することを特徴とする放熱部品。
図1は、第1実施形態によるカーボンナノチューブシートの構造を示す概略断面図である。 図2は、第1実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す工程断面図(その1)である。 図3は、第1実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す工程断面図(その2)である。 図4は、第2実施形態によるカーボンナノチューブシートの構造を示す概略断面図である。 図5は、第2実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す概略断面図である。 図6は、第2実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す斜視図(その1)である。 図7は、第2実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す斜視図(その2)である。 図8は、第2実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す斜視図(その3)である。 図9は、第3実施形態によるカーボンナノチューブシートの構造を示す斜視図である。 図10は、第3実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す斜視図(その1)である。 図11は、第3実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す斜視図(その2)である。 図12は、第3実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す斜視図(その3)である。 図13は、第3実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す斜視図(その4)である。 図14は、第3実施形態によるカーボンナノチューブシート及びその製造方法の他の例を示す斜視図である。 図15は、第4実施形態によるカーボンナノチューブシートの構造を示す斜視図である。 図16は、第4実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す斜視図(その1)である。 図17は、第4実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す斜視図(その2)である。 図18は、第4実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す斜視図(その3)である。 図19は、第4実施形態によるカーボンナノチューブシートの製造方法を示す斜視図(その4)である。 図20は、第5実施形態による電子機器の構造を示す概略断面図である。 図21は、第5実施形態による電子機器の製造方法を示す工程断面図である。 図22は、第5実施形態による電子部品の構造を示す概略断面図である。 図23は、第6実施形態による電子機器の構造を示す概略断面図である。 図24は、第6実施形態による電子機器の製造方法を示す工程断面図である。 図25は、第7実施形態による電子機器の構造を示す斜視図である。
符号の説明
10…カーボンナノチューブシート
12…カーボンナノチューブ
14…充填層
16…被膜
30…基板
32…触媒金属膜
34…熱可塑性樹脂フィルム
50…回路基板
52…突起状電極
54…半導体素子
56…カーボンナノチューブシート
58…ヒートスプレッダ
60…有機シーラント
70…高出力増幅器
72…パッケージ
74…ヒートシンク
76…カーボンナノチューブシート

Claims (4)

  1. 複数の炭素元素の線状構造体と、
    複数の前記線状構造体間に配置され、温度に応じて液体と固体との間で状態変化し、液体から固体に状態変化する際に接着性を発現する熱可塑性樹脂の第1の層と、前記第1の層上に配置され前記熱可塑性樹脂とは異なる材料の第2の層と、前記第2の層上に配置され前記熱可塑性樹脂の第3の層とを有する充填層と、
    複数の前記線状構造体の少なくとも一方の端部に形成され、前記熱可塑性樹脂よりも熱伝導率の高い材料よりなり、前記充填層の厚さ方向の膜厚25nm〜1000nmである被膜と
    を有することを特徴とする放熱材料。
  2. 発熱体と、
    放熱体と、
    前記発熱体と放熱体との間に配置され、複数の炭素元素の線状構造体と、複数の前記線状構造体間に配置され、温度に応じて液体と固体との間で状態変化し、液体から固体に状態変化する際に接着性を発現する熱可塑性樹脂の第1の層と、前記第1の層上に配置され前記熱可塑性樹脂とは異なる材料の第2の層と、前記第2の層上に配置され前記熱可塑性樹脂の第3の層とを有する充填層と、複数の前記線状構造体の少なくとも一方の端部に形成され、前記熱可塑性樹脂よりも熱伝導率の高い材料よりなり、前記充填層の厚さ方向の膜厚25nm〜1000nmである被膜とを含む放熱材料と
    を有することを特徴とする電子機器。
  3. 請求項2記載の電子機器において、
    前記熱可塑性樹脂の融解温度は、前記発熱体の発熱温度よりも高く、前記発熱体及び放熱体の耐熱温度よりも低い
    ことを特徴とする電子機器。
  4. 放熱体と、
    前記放熱体上に形成され、複数の炭素元素の線状構造体と、複数の前記線状構造体間に配置され、温度に応じて液体と固体との間で状態変化し、液体から固体に状態変化する際に接着性を発現する熱可塑性樹脂の第1の層と、前記第1の層上に配置され前記熱可塑性樹脂とは異なる材料の第2の層と、前記第2の層上に配置され前記熱可塑性樹脂の第3の層とを有する充填層と、複数の前記線状構造体の少なくとも一方の端部に形成され、前記熱可塑性樹脂よりも熱伝導率の高い材料よりなり、前記充填層の厚さ方向の膜厚25nm〜1000nmである被膜とを含む放熱材料と
    を有することを特徴とする放熱部品。
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TW098138021A TWI477593B (zh) 2008-11-14 2009-11-10 熱輻射材料,電子裝置及電子裝置之製造方法
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Families Citing this family (56)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8106510B2 (en) * 2009-08-04 2012-01-31 Raytheon Company Nano-tube thermal interface structure
JP5356972B2 (ja) * 2009-10-20 2013-12-04 新光電気工業株式会社 放熱用部品及びその製造方法、半導体パッケージ
CN102792441B (zh) * 2010-03-12 2016-07-27 富士通株式会社 散热结构及其制造方法
IT1401734B1 (it) * 2010-06-29 2013-08-02 St Microelectronics Srl Dispositivo elettronico comprendente uno strato di interfaccia di connessione basato su nanotubi, e procedimento di fabbricazione
JP5790023B2 (ja) * 2011-02-25 2015-10-07 富士通株式会社 電子部品の製造方法
US20120228000A1 (en) * 2011-03-10 2012-09-13 Quan Geo Enterprise Co., Ltd. Conductive adhesive having multiple curved lead wires therein
JP5842349B2 (ja) * 2011-03-18 2016-01-13 富士通株式会社 シート状構造体、シート状構造体の製造方法、電子機器及び電子機器の製造方法
EP2698591A4 (en) * 2011-04-12 2014-11-05 Ngk Insulators Ltd HEAT FLOW SWITCH
JP5673325B2 (ja) * 2011-04-20 2015-02-18 富士通株式会社 カーボンナノチューブの形成方法及び熱拡散装置
US9459056B2 (en) * 2011-09-02 2016-10-04 Gabe Cherian SPRDR—heat spreader—tailorable, flexible, passive
US10468327B2 (en) 2011-09-21 2019-11-05 Georgia Tech Research Corporation Methods for reducing thermal resistance of carbon nanotube arrays or sheets
JP6132768B2 (ja) * 2011-09-26 2017-05-24 富士通株式会社 放熱材料及びその製造方法
JP2013115094A (ja) * 2011-11-25 2013-06-10 Fujitsu Ltd 放熱材料及びその製造方法
JP5580282B2 (ja) * 2011-12-09 2014-08-27 本田技研工業株式会社 バッテリの冷却装置
JP6015009B2 (ja) * 2012-01-25 2016-10-26 富士通株式会社 電子装置及びその製造方法
TWI543702B (zh) * 2012-02-08 2016-07-21 鴻準精密工業股份有限公司 散熱裝置
JP6065410B2 (ja) * 2012-05-16 2017-01-25 富士通株式会社 シート状構造体、シート状構造体の製造方法、電子機器及び電子機器の製造方法
KR101374818B1 (ko) * 2012-05-22 2014-03-17 롯데케미칼 주식회사 열가소성 수지 조성물
JP5928181B2 (ja) * 2012-06-18 2016-06-01 富士通株式会社 電子機器の製造方法及び電子機器
JP2014033104A (ja) * 2012-08-03 2014-02-20 Shinko Electric Ind Co Ltd 放熱部品及びその製造方法
FR2995877B1 (fr) * 2012-09-21 2014-10-24 Thales Sa Structure meca-thermique adaptee pour un environnement spatial
FR2997557B1 (fr) * 2012-10-26 2016-01-01 Commissariat Energie Atomique Dispositif electronique a nanofil(s) muni d'une couche tampon en metal de transition, procede de croissance d'au moins un nanofil, et procede de fabrication d'un dispositif
FR2997420B1 (fr) 2012-10-26 2017-02-24 Commissariat Energie Atomique Procede de croissance d'au moins un nanofil a partir d'une couche d'un metal de transition nitrure obtenue en deux etapes
JP6118540B2 (ja) * 2012-11-08 2017-04-19 新光電気工業株式会社 放熱部品及びその製造方法
CN103094125A (zh) * 2013-01-16 2013-05-08 电子科技大学 一种碳纳米管散热结构与电子器件的集成方法
JP6217084B2 (ja) * 2013-01-17 2017-10-25 富士通株式会社 放熱構造体及びその製造方法
US20140296780A1 (en) * 2013-04-01 2014-10-02 California Institute Of Technology Polymer composite carbon nanotube microneedle devices and their fabrication
JP6244651B2 (ja) * 2013-05-01 2017-12-13 富士通株式会社 シート状構造体及びその製造方法、並びに電子装置及びその製造方法
JP6135760B2 (ja) * 2013-06-03 2017-05-31 富士通株式会社 放熱構造体及びその製造方法並びに電子装置
JP6186933B2 (ja) * 2013-06-21 2017-08-30 富士通株式会社 接合シート及びその製造方法、並びに放熱機構及びその製造方法
FR3008921B1 (fr) * 2013-07-23 2015-12-25 Safran Piece en materiau composite avec portion de conductivite thermique et electrique et procede de fabrication d'une telle piece
JP6191303B2 (ja) * 2013-07-23 2017-09-06 富士通株式会社 電子デバイス及びその製造方法
WO2015065400A1 (en) * 2013-10-30 2015-05-07 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Nanotube coated electronic device housing wall
JP6070525B2 (ja) * 2013-12-06 2017-02-01 株式会社デンソー 熱輸送装置
US9859199B2 (en) * 2013-12-18 2018-01-02 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Method for forming semiconductor package using carbon nano material in molding compound
JP6223903B2 (ja) * 2014-04-30 2017-11-01 新光電気工業株式会社 カーボンナノチューブシート及び電子機器とカーボンナノチューブシートの製造方法及び電子機器の製造方法
JP6368910B2 (ja) * 2014-05-16 2018-08-08 パナソニックIpマネジメント株式会社 熱伝導体
JP2016012720A (ja) * 2014-06-03 2016-01-21 住友ベークライト株式会社 金属ベース実装基板および金属ベース実装基板実装部材
JP6459407B2 (ja) * 2014-11-05 2019-01-30 富士通株式会社 シート状部材、その製造方法、基板ユニット及び電子機器
TWI582370B (zh) * 2015-03-17 2017-05-11 Method for Making High Thermal Conductivity Elements
WO2016180278A1 (zh) * 2015-05-08 2016-11-17 宁波信远工业集团有限公司 一种波热转化结构及其应用
US10336006B1 (en) * 2015-05-19 2019-07-02 Southern Methodist University Methods and apparatus for additive manufacturing
CN105679723B (zh) * 2015-12-29 2018-12-14 华为技术有限公司 一种热界面材料及其制备方法、导热片和散热系统
JP6711208B2 (ja) 2016-08-25 2020-06-17 富士通株式会社 電子装置、及び電子装置の製造方法
TW201821585A (zh) * 2016-11-30 2018-06-16 國立成功大學 具高效率之導熱結構
JP6826289B2 (ja) * 2017-01-17 2021-02-03 富士通株式会社 熱伝導構造体、その製造方法及び電子装置
DE102017104921A1 (de) 2017-03-08 2018-09-13 Olav Birlem Verbindung von thermischen Leitern
JP6901896B2 (ja) * 2017-03-31 2021-07-14 日立造船株式会社 フィラー・樹脂複合体、フィラー・樹脂複合体の製造方法、フィラー・樹脂複合層、および、フィラー・樹脂複合体の使用方法
CN107396610B (zh) * 2017-08-15 2020-08-18 深圳市鸿富诚屏蔽材料有限公司 各向异性绝缘导热垫及其制造方法
JP7027094B2 (ja) * 2017-09-28 2022-03-01 デンカ株式会社 放熱部品付きパワーモジュール
TWI709393B (zh) 2017-11-17 2020-11-11 美商琳得科美國股份有限公司 奈米碳管人工肌肉閥及連接
DE102018218832A1 (de) * 2018-11-05 2020-05-07 Robert Bosch Gmbh Kühlkörper mit kohlenstoffnanostrukturbasierten Fasern
JP7238586B2 (ja) * 2019-05-08 2023-03-14 富士通株式会社 導電性放熱フィルム、導電性放熱フィルムの製造方法、及び電子装置の製造方法
KR102584991B1 (ko) * 2019-06-14 2023-10-05 삼성전기주식회사 반도체 패키지
DE102019215958A1 (de) * 2019-10-16 2021-04-22 Volkswagen Aktiengesellschaft Elektronisches System mit Wärmeübertragungsvorrichtung
CN214176013U (zh) * 2020-12-23 2021-09-10 迪科特测试科技(苏州)有限公司 半导体结构

Family Cites Families (66)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5389400A (en) * 1993-04-07 1995-02-14 Applied Sciences, Inc. Method for making a diamond/carbon/carbon composite useful as an integral dielectric heat sink
JP3305720B2 (ja) * 1993-07-06 2002-07-24 株式会社東芝 放熱シート
US6033506A (en) * 1997-09-02 2000-03-07 Lockheed Martin Engery Research Corporation Process for making carbon foam
CN1213476C (zh) * 1998-06-24 2005-08-03 约翰逊·马太电子公司 具有纤维接合层的电子器件
US6436506B1 (en) * 1998-06-24 2002-08-20 Honeywell International Inc. Transferrable compliant fibrous thermal interface
JP2000191987A (ja) * 1998-12-28 2000-07-11 Polymatech Co Ltd 熱伝導性接着フィルムおよび半導体装置
JP2000273196A (ja) * 1999-03-24 2000-10-03 Polymatech Co Ltd 熱伝導性樹脂基板および半導体パッケージ
US20040009353A1 (en) * 1999-06-14 2004-01-15 Knowles Timothy R. PCM/aligned fiber composite thermal interface
US7132161B2 (en) * 1999-06-14 2006-11-07 Energy Science Laboratories, Inc. Fiber adhesive material
US6340822B1 (en) * 1999-10-05 2002-01-22 Agere Systems Guardian Corp. Article comprising vertically nano-interconnected circuit devices and method for making the same
US6311769B1 (en) * 1999-11-08 2001-11-06 Space Systems/Loral, Inc. Thermal interface materials using thermally conductive fiber and polymer matrix materials
JP4759122B2 (ja) * 2000-09-12 2011-08-31 ポリマテック株式会社 熱伝導性シート及び熱伝導性グリス
US6965513B2 (en) * 2001-12-20 2005-11-15 Intel Corporation Carbon nanotube thermal interface structures
US20030220432A1 (en) * 2002-04-15 2003-11-27 James Miller Thermoplastic thermally-conductive interface articles
US6856016B2 (en) * 2002-07-02 2005-02-15 Intel Corp Method and apparatus using nanotubes for cooling and grounding die
US20030083413A1 (en) * 2002-07-19 2003-05-01 Stumphauzer William C Thermoplastic adhesive
CN1296994C (zh) * 2002-11-14 2007-01-24 清华大学 一种热界面材料及其制造方法
KR100947702B1 (ko) * 2003-02-26 2010-03-16 삼성전자주식회사 경화성 작용기로 표면수식된 탄소나노튜브를 이용한패턴박막 형성방법 및 고분자 복합체의 제조방법
US7118941B2 (en) * 2003-06-25 2006-10-10 Intel Corporation Method of fabricating a composite carbon nanotube thermal interface device
US7112472B2 (en) * 2003-06-25 2006-09-26 Intel Corporation Methods of fabricating a composite carbon nanotube thermal interface device
US7168484B2 (en) * 2003-06-30 2007-01-30 Intel Corporation Thermal interface apparatus, systems, and methods
WO2005052179A2 (en) * 2003-08-13 2005-06-09 The Johns Hopkins University Method of making carbon nanotube arrays, and thermal interfaces using same
JP2005150362A (ja) 2003-11-14 2005-06-09 Dainippon Printing Co Ltd 高熱伝導性シートおよびその製造方法
US7180174B2 (en) * 2003-12-30 2007-02-20 Intel Corporation Nanotube modified solder thermal intermediate structure, systems, and methods
US7456052B2 (en) * 2003-12-30 2008-11-25 Intel Corporation Thermal intermediate apparatus, systems, and methods
US7612370B2 (en) * 2003-12-31 2009-11-03 Intel Corporation Thermal interface
US7692249B2 (en) * 2004-01-21 2010-04-06 Intel Corporation End functionalization of carbon nanotubes
US7504453B2 (en) * 2004-02-02 2009-03-17 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Composite thermal interface material including particles and nanofibers
US20050228097A1 (en) * 2004-03-30 2005-10-13 General Electric Company Thermally conductive compositions and methods of making thereof
US7327037B2 (en) * 2004-04-01 2008-02-05 Lucent Technologies Inc. High density nanostructured interconnection
EP1794223A1 (en) * 2004-09-30 2007-06-13 Honeywell International Inc. Thermally conductive composite and uses for microelectronic packaging
US7279916B2 (en) * 2004-10-05 2007-10-09 Nanoconduction, Inc. Apparatus and test device for the application and measurement of prescribed, predicted and controlled contact pressure on wires
JP2006147801A (ja) 2004-11-18 2006-06-08 Seiko Precision Inc 放熱シート、インターフェース、電子部品及び放熱シートの製造方法
CN100337981C (zh) * 2005-03-24 2007-09-19 清华大学 热界面材料及其制造方法
CN1837147B (zh) * 2005-03-24 2010-05-05 清华大学 热界面材料及其制备方法
CN100404242C (zh) * 2005-04-14 2008-07-23 清华大学 热界面材料及其制造方法
CN100358132C (zh) * 2005-04-14 2007-12-26 清华大学 热界面材料制备方法
US20060231946A1 (en) * 2005-04-14 2006-10-19 Molecular Nanosystems, Inc. Nanotube surface coatings for improved wettability
US20060251897A1 (en) * 2005-05-06 2006-11-09 Molecular Nanosystems, Inc. Growth of carbon nanotubes to join surfaces
US20060258054A1 (en) * 2005-05-11 2006-11-16 Molecular Nanosystems, Inc. Method for producing free-standing carbon nanotube thermal pads
US20070116626A1 (en) * 2005-05-11 2007-05-24 Molecular Nanosystems, Inc. Methods for forming carbon nanotube thermal pads
US20070155138A1 (en) * 2005-05-24 2007-07-05 Pierre Tomasini Apparatus and method for depositing silicon germanium films
CN100454526C (zh) * 2005-06-30 2009-01-21 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 热界面材料制造方法
CN1891780B (zh) * 2005-07-01 2013-04-24 清华大学 热界面材料及其制备方法
WO2007037260A1 (ja) * 2005-09-29 2007-04-05 Toray Industries, Inc. 繊維強化熱可塑性樹脂組成物、その製造方法、及び熱可塑性樹脂用炭素繊維
US20080019097A1 (en) * 2005-10-11 2008-01-24 General Electric Company Thermal transport structure
TWI290565B (en) * 2005-12-20 2007-12-01 Ind Tech Res Inst Composition for thermal interface materials
US7545030B2 (en) * 2005-12-30 2009-06-09 Intel Corporation Article having metal impregnated within carbon nanotube array
WO2007110899A1 (ja) * 2006-03-24 2007-10-04 Fujitsu Limited 炭素系繊維のデバイス構造およびその製造方法
CN101415779B (zh) * 2006-04-07 2012-04-25 日本电气株式会社 导热性树脂材料及其成形体
CN101054467B (zh) * 2006-04-14 2010-05-26 清华大学 碳纳米管复合材料及其制备方法
KR20080114838A (ko) * 2006-04-27 2008-12-31 데이진 가부시키가이샤 탄소 섬유 복합 시트
US8890312B2 (en) * 2006-05-26 2014-11-18 The Hong Kong University Of Science And Technology Heat dissipation structure with aligned carbon nanotube arrays and methods for manufacturing and use
JP4897360B2 (ja) * 2006-06-08 2012-03-14 ポリマテック株式会社 熱伝導性成形体及びその製造方法
JP5129935B2 (ja) * 2006-06-13 2013-01-30 日東電工株式会社 シート状複合材料及びその製造方法
WO2008097257A2 (en) * 2006-07-10 2008-08-14 California Institute Of Technology Method for selectively anchoring large numbers of nanoscale structures
CN101121791B (zh) * 2006-08-09 2010-12-08 清华大学 碳纳米管/聚合物复合材料的制备方法
CN1944698A (zh) * 2006-10-24 2007-04-11 北京科技大学 一种超高导热、低热膨胀系数的复合材料及其制备方法
JP2008208316A (ja) * 2007-02-28 2008-09-11 Teijin Ltd 炭素繊維複合材料
JP5140302B2 (ja) * 2007-03-29 2013-02-06 ポリマテック株式会社 熱伝導性シート
CN101275209A (zh) * 2007-03-30 2008-10-01 清华大学 热界面材料及其制备方法
US20080241486A1 (en) * 2007-03-30 2008-10-02 Seiji Ishikawa Liquid Crystal Display Device with Evaluation Patterns Disposed Thereon, and Method for Manufacturing the Same
US7880298B2 (en) * 2007-12-05 2011-02-01 Raytheon Company Semiconductor device thermal connection
US20100021736A1 (en) * 2008-07-25 2010-01-28 Slinker Keith A Interface-infused nanotube interconnect
US8138239B2 (en) * 2008-12-23 2012-03-20 Intel Corporation Polymer thermal interface materials
CN101768427B (zh) * 2009-01-07 2012-06-20 清华大学 热界面材料及其制备方法

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