JP5790023B2 - 電子部品の製造方法 - Google Patents

電子部品の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5790023B2
JP5790023B2 JP2011039561A JP2011039561A JP5790023B2 JP 5790023 B2 JP5790023 B2 JP 5790023B2 JP 2011039561 A JP2011039561 A JP 2011039561A JP 2011039561 A JP2011039561 A JP 2011039561A JP 5790023 B2 JP5790023 B2 JP 5790023B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thermoplastic resin
substrate
electronic component
heat
manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2011039561A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012178397A (ja
Inventor
真一 廣瀬
真一 廣瀬
大介 岩井
大介 岩井
山口 佳孝
佳孝 山口
洋平 八木下
洋平 八木下
幸恵 崎田
幸恵 崎田
正明 乘松
正明 乘松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2011039561A priority Critical patent/JP5790023B2/ja
Priority to US13/307,029 priority patent/US8837149B2/en
Publication of JP2012178397A publication Critical patent/JP2012178397A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5790023B2 publication Critical patent/JP5790023B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/42Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations selected or arranged to facilitate heating or cooling
    • H01L23/433Auxiliary members in containers characterised by their shape, e.g. pistons
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4814Conductive parts
    • H01L21/4871Bases, plates or heatsinks
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • H01L23/3737Organic materials with or without a thermoconductive filler
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L24/29Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/16227Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the bump connector connecting to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/29Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/29001Core members of the layer connector
    • H01L2224/29075Plural core members
    • H01L2224/29076Plural core members being mutually engaged together, e.g. through inserts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/29Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/29001Core members of the layer connector
    • H01L2224/29099Material
    • H01L2224/29198Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
    • H01L2224/29199Material of the matrix
    • H01L2224/2929Material of the matrix with a principal constituent of the material being a polymer, e.g. polyester, phenolic based polymer, epoxy
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/29Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/29001Core members of the layer connector
    • H01L2224/29099Material
    • H01L2224/29198Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
    • H01L2224/29298Fillers
    • H01L2224/29299Base material
    • H01L2224/29393Base material with a principal constituent of the material being a solid not provided for in groups H01L2224/293 - H01L2224/29391, e.g. allotropes of carbon, fullerene, graphite, carbon-nanotubes, diamond
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73253Bump and layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8319Arrangement of the layer connectors prior to mounting
    • H01L2224/83192Arrangement of the layer connectors prior to mounting wherein the layer connectors are disposed only on another item or body to be connected to the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8336Bonding interfaces of the semiconductor or solid state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/838Bonding techniques
    • H01L2224/8385Bonding techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone, epoxy, polyimide, polyester
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/156Material
    • H01L2924/15786Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
    • H01L2924/15788Glasses, e.g. amorphous oxides, nitrides or fluorides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16152Cap comprising a cavity for hosting the device, e.g. U-shaped cap
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24058Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including grain, strips, or filamentary elements in respective layers or components in angular relation
    • Y10T428/24124Fibers
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24132Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including grain, strips, or filamentary elements in different layers or components parallel
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24149Honeycomb-like
    • Y10T428/24165Hexagonally shaped cavities
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24174Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including sheet or component perpendicular to plane of web or sheet
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/29Coated or structually defined flake, particle, cell, strand, strand portion, rod, filament, macroscopic fiber or mass thereof
    • Y10T428/2913Rod, strand, filament or fiber
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/30Self-sustaining carbon mass or layer with impregnant or other layer

Description

本発明は、炭素元素の線状構造体を有する電子部品の製造方法に関する。
サーバーやパーソナルコンピュータのCPU(Central Processing Unit:中央処理装置)などに用いられる電子部品には、半導体素子から発する熱を効率よく放熱することが求められる。このため、これら電子部品は、半導体素子の直上に設けられた銅などの高い熱伝導度を有する材料のヒートスプレッダが配置された構造を有している。
この際、発熱源及びヒートスプレッダの表面には微細な凹凸が存在するため、互いをダイレクトに接触させても十分な接触面積を稼ぐことができず、接触界面が大きな熱抵抗となり、効率的に放熱を行うことができない。このため、接触熱抵抗を低減することを目的として、発熱源とヒートスプレッダとをサーマルインターフェイスマテリアル(TIM)を介して接続することが行われている。
この目的のもと、サーマルインターフェイスマテリアルには、それ自身が高い熱伝導率を有する材料であることに加え、発熱源及びヒートスプレッダ表面の微細な凹凸に対して広面積に接触しうる特性が求められている。
従来、サーマルインターフェイスマテリアルとしては、放熱グリースやフェイズチェンジマテリアル(PCM)、インジウムなどが用いられている。これらの材料が放熱材料として用いられる大きな特徴の一つは、電子機器の耐熱温度以下で流動性を有しているため、微細な凹凸に対して大きな接触面積を得ることが可能な点にある。
しかしながら、放熱グリースやフェイズチェンジマテリアルは、熱伝導率が1W/m・K〜5W/m・Kと低い。また、インジウムはレアメタルであることに加え、ITO関連での大幅な需要増加により価格が高騰しており、より安価な代替材料が待望されている。
このような背景から、放熱材料として、カーボンナノチューブに代表される炭素元素からなる線状構造体が注目されている。カーボンナノチューブは、その軸方向に非常に高い熱伝導度(1500W/m・K〜3000W/m・K)を有するだけでなく、柔軟性や耐熱性に優れた材料であり、放熱材料として高いポテンシャルを有している。
カーボンナノチューブを用いた熱伝導シートとしては、樹脂中にカーボンナノチューブを分散した熱伝導シートや、基板上に配向成長したカーボンナノチューブ束を樹脂等によって埋め込んだ熱伝導シートが提案されている。
特開2005−150362号公報 特開2006−100572号公報 特開2006−147801号公報 特開2006−303240号公報
しかしながら、カーボンナノチューブを用いた従来の熱伝導シートでは、カーボンナノチューブの有する高い熱伝導度を充分に生かすことができなかった。
本発明の目的は、発熱体からの熱を高効率で放熱しうる電子部品の製造方法を提供することにある。
実施形態の一観点によれば、第1の基板上に、複数の炭素元素の線状構造体と、複数の前記線状構造体間に配置された熱可塑性樹脂の充填層とを有する放熱材料を配置する工程と、前記熱可塑性樹脂の融解温度よりも高い温度で熱処理を行い、前記熱可塑性樹脂を前記第1の基板の表面まで浸透させる工程と、前記放熱材料上に、吸取紙を配置する工程と、前記熱可塑性樹脂の融解温度よりも高い温度で熱処理を行い、複数の前記線状構造体上の前記熱可塑性樹脂を前記吸取紙により吸い取る工程と、前記吸取紙を除去する工程と、冷却して前記熱可塑性樹脂を固化し、前記放熱材料を前記第1の基板に接着する工程とを有することを特徴とする電子部品の製造方法が提供される。
開示の電子部品の製造方法によれば、複数の炭素元素の線状構造体と、複数の線状構造体間に配置された熱可塑性樹脂の充填層とを有する放熱材料を基板上に接着する際に、熱可塑性樹脂が広がって線状構造体がばらけるのを防止することができる。これにより、放熱材料自体の熱抵抗の増加や、基板に対する放熱材料の接触熱抵抗の増加を防止することができる。
また、開示の電子部品によれば、放熱体及び発熱体に対する接触熱抵抗を大幅に低減することができる。これにより、半導体素子から発せられる熱の放熱効率を高めることができ、電子機器の信頼性を向上することができる。
図1は、第1実施形態による電子部品の構造を示す斜視図である。 図2は、第1実施形態による電子部品の製造方法を示す斜視図(その1)である。 図3は、第1実施形態による電子部品の製造方法を示す斜視図(その2)である。 図4は、第1実施形態による電子部品の製造方法を示す斜視図(その3)である。 図5は、第1実施形態による電子部品の製造方法を示す斜視図(その4)である。 図2は、第1実施形態による電子部品の製造方法を示す斜視図(その5)である。 図3は、第1実施形態による電子部品の製造方法を示す斜視図(その6)である。 図4は、第1実施形態による電子部品の製造方法を示す斜視図(その7)である。 図5は、第1実施形態による電子部品の製造方法を示す斜視図(その8)である。 図2は、第1実施形態による電子部品の製造方法を示す斜視図(その9)である。 図3は、第1実施形態による電子部品の製造方法を示す斜視図(その10)である。 図4は、第1実施形態による電子部品の製造方法を示す斜視図(その11)である。 図13は、第2実施形態による電子部品の構造を示す斜視図である。 図14は、第3実施形態による電子機器の構造を示す概略断面図である。 図15は、第3実施形態による電子機器の製造方法を示す工程断面図(その1)である。 図16は、第3実施形態による電子機器の製造方法を示す工程断面図(その2)である。 図17は、第3実施形態による電子機器の製造方法を示す工程断面図(その3)である。
[第1実施形態]
第1実施形態による電子部品及びその製造方法について図1乃至図12を用いて説明する。
図1は、本実施形態による電子部品の構造を示す斜視図である。図2乃至図12は、本実施形態による電子部品の製造方法を示す斜視図である。
はじめに、本実施形態による電子部品の構造について図1を用いて説明する。
本実施形態による電子部品は、図1に示すように、ヒートスプレッダとしての放熱板24上に、サーマルインターフェイスマテリアルとしてのシート状構造体であるカーボンナノチューブシート22が形成されたものである。
カーボンナノチューブシート22は、シートの膜厚方向、すなわちシートの面と交差する方向に配向し、互いに間隔を開けて配置された複数のカーボンナノチューブ14を有している。複数のカーボンナノチューブ14の一端部(図面において下側)は、放熱板24に直にコンタクトしている。複数のカーボンナノチューブ14の他端部(図面において上側)には、被膜16が形成されている。カーボンナノチューブ14の間隙には熱可塑性樹脂の充填層20が形成されており、充填層20によってカーボンナノチューブ14が支持されている。被膜16が形成されたカーボンナノチューブ14の端部は、充填層20から露出している。
カーボンナノチューブ14は、単層カーボンナノチューブ及び多層カーボンナノチューブのいずれでもよい。カーボンナノチューブ14の面密度は、特に限定されるものではないが、放熱性及び電気伝導性の観点からは、1×1010本/cm以上であることが望ましい。
カーボンナノチューブ14の長さは、特に限定されるものではないが、好ましくは5μm〜500μm程度の値に設定することができる。カーボンナノチューブシート22を本実施形態のように発熱源(例えばICチップ)と放熱部品(例えばヒートスプレッダ)との間に形成するサーマルインターフェイスマテリアルとして使用する場合、少なくとも発熱源及び放熱部品の表面の凹凸を埋める長さ以上であることが望ましい。
前述のように、複数のカーボンナノチューブ14の一端部は、充填層20の熱可塑性樹脂を介さずに、放熱板24に直にコンタクトしている。これにより、カーボンナノチューブ14と放熱板24との間の接触熱抵抗を大幅に低減することができ、カーボンナノチューブ14と放熱板24との間の熱伝導効率を大幅に高めることができる。
また、複数のカーボンナノチューブ14の他端部は、充填層20の表面から露出している。これにより、カーボンナノチューブシート22を発熱体に接触したとき、被膜16で覆われたカーボンナノチューブ14の端部が発熱体に対して直に接させることができる。これにより、カーボンナノチューブ14と発熱体との間の接触熱抵抗を大幅に低減することができ、カーボンナノチューブ14と発熱体との間の熱伝導効率を大幅に高めることができる。
これにより、発熱体から発せられた熱を、カーボンナノチューブシート22を介して放熱板24に効率的に伝達して放熱することができ、発熱体の温度上昇を抑制することができる。
被膜16は、発熱体に対するカーボンナノチューブ14の接触熱抵抗を低減するためのものである。被膜16を設けることにより、被膜16を設けない場合と比較して、カーボンナノチューブシート22の発熱体に対する接触面積を増加することができる。これにより、カーボンナノチューブ22と発熱体との間の接触熱抵抗が低減され、カーボンナノチューブシート22の熱伝導性を向上することができる。
また、カーボンナノチューブ14の長さにばらつきが生じ、一部のカーボンナノチューブ14が発熱体に直に接触できないような場合にも、被膜16を介した横方向の熱伝導により、放熱に寄与するカーボンナノチューブ14の実質的な本数を増加することができる。これにより、カーボンナノチューブシート22の熱伝導性を向上することができる。
被膜16を形成する材料は、熱伝導率の高い材料であれば、例えば、充填層20を形成する熱可塑性樹脂よりも熱伝導率の高い材料であれば、特に限定されるものではない。
被膜16の膜厚は、製造過程において熱可塑性樹脂フィルム18の浸透を阻害しない膜厚であれば、特に限定されるものではない。被膜16の膜厚は、熱可塑性樹脂フィルム18の浸透性、カーボンナノチューブシート22に要求される特性、被膜16の構成材料等に応じて適宜設定することが望ましい。
なお、被膜16の熱抵抗は、カーボンナノチューブ14の熱抵抗の1/100以下であることが望ましい。被膜16の熱抵抗が大きすぎると、カーボンナノチューブ14の高い熱伝導率を十分に生かせなくなるからである。すなわち、カーボンナノチューブ14の長さをTcnt、熱抵抗率をλcnt、被膜16の厚さをTcoat、熱抵抗率をλcoatとして、
λcnt×Tcnt>λcoat×Tcoat×100
の関係を満たすことが望ましい。
充填層20は、熱可塑性樹脂によって形成されている。充填層20を形成する熱可塑性樹脂は、温度に応じて液体と固体との間で可逆的に状態変化するものであり、室温では固体であり、加熱すると液状に変化し、冷却すると接着性を発現しつつ固体に戻るものであれば、特に限定されるものではない。
充填層20を形成する熱可塑性樹脂は、本実施形態による電子部品が接続される放熱体の放熱温度等に応じて、熱可塑性樹脂の融解温度をもとに選択することができる。熱可塑性樹脂の融解温度の下限値は、稼働時の発熱温度の上限値よりも高いことが望ましい。稼働時に熱可塑性樹脂が融解すると、カーボンナノチューブシート22が変形してカーボンナノチューブ14が配向性を損なうなど、熱伝導性を低下するなどの不具合を引き起こす虞があるからである。熱可塑性樹脂の融解温度の上限値は、発熱体及び放熱体の耐熱温度の下限値よりも低いことが望ましい。カーボンナノチューブシート22の充填層20は、発熱体に接触させた後にリフローを行うことが望ましいが、熱可塑性樹脂の融解温度が耐熱温度より高いと、発熱体及び/又は放熱体にダメージを与えることなくリフローをすることが困難となるからである。
例えば、本実施形態の電子部品をCPUなどの電子機器の放熱用途に用いる場合、CPU稼働時の発熱温度の上限がおよそ125℃であり、CPU電子部品の耐熱温度がおよそ250℃であることに鑑み、融解温度が125℃〜250℃程度の熱可塑性樹脂が好適である。
また、充填層20には、必要に応じて、添加物を分散混合してもよい。添加物としては、例えば、熱伝導性の高い物質が考えられる。充填層20部分に熱伝導性の高い添加物を分散混合することにより、充填層20部分の熱伝導率を向上することができ、カーボンナノチューブシート22の全体としての熱伝導率を向上することができる。熱伝導性の高い材料としては、カーボンナノチューブ、金属材料、窒化アルミニウム、シリカ、アルミナ、グラファイト、フラーレン等を適用することができる。
放熱板24は、銅などの高い熱伝導度を有する材料により形成されたものであり、カーボンナノチューブシート22を介して接続される放熱体(例えばICチップ)から発せられる熱を放熱するためのものである。
次に、本実施形態による電子部品の製造方法について図2乃至図12を用いて説明する。
まず、カーボンナノチューブ14を成長するための土台として用いる基板10を用意する。基板10には、特に限定されるものではが、例えば、シリコン基板などの半導体基板、アルミナ(サファイア)基板、MgO基板、ガラス基板などの絶縁性基板、金属基板などを用いることができる。また、これら基板上に薄膜が形成されたものでもよい。例えば、シリコン基板上に膜厚300nm程度のシリコン酸化膜が形成されたものを用いることができる。
基板10は、カーボンナノチューブ14の成長後に剥離されるものである。この目的のもと、基板10としては、カーボンナノチューブ14の成長温度において変質しないことが望ましい。また、少なくともカーボンナノチューブ14に接する面がカーボンナノチューブ14から容易に剥離できる材料によって形成されていることが望ましい。或いは、少なくともカーボンナノチューブ14に接する部分が、カーボンナノチューブ14に対して選択的にエッチングできる材料によって形成されている基板10を用いてもよい。
次いで、基板10上に、例えばスパッタ法により、例えば膜厚2.5nmのFe(鉄)膜を形成し、Feの触媒金属膜12を形成する。なお、触媒金属膜12は、必ずしも基板10上の全面に形成する必要はなく、例えばリフトオフ法を用いて基板10の所定の領域上に選択的に形成するようにしてもよい。
触媒金属としては、Feのほか、Co(コバルト)、Ni(ニッケル)、Au(金)、Ag(銀)、Pt(白金)又はこれらのうち少なくとも一の材料を含む合金を用いてもよい。また、触媒として、金属膜以外に、微分型静電分級器(DMA:differential mobility analyzer)等を用い、予めサイズを制御して作製した金属微粒子を用いてもよい。この場合も、金属種については薄膜の場合と同様でよい。
また、これら触媒金属の下地膜として、Mo(モリブデン)、Ti(チタン)、Hf(ハフニウム)、Zr(ジルコニウム)、Nb(ニオブ)、V(バナジウム)、TaN(窒化タンタル)、TiSi(チタンシリサイド)、Al(アルミニウム)、Al(酸化アルミニウム)、TiO(酸化チタン)、Ta(タンタル)、W(タングステン)、Cu(銅)、Au(金)、Pt(白金)、Pd(パラジウム)、TiN(窒化チタン)などの膜又はこれらのうち少なくとも一の材料を含む合金からなる膜を形成してもよい。例えば、Fe(2.5nm)/Al(10nm)の積層構造、Co(2.6nm)/TiN(5nm)の積層構造等を適用することができる。金属微粒子を用いる場合は、例えば、Co(平均直径:3.8nm)/TiN(5nm)などの積層構造を適用することができる。
次いで、基板10上に、例えばホットフィラメントCVD法により、触媒金属膜12を触媒として、カーボンナノチューブ14を成長する。カーボンナノチューブ14の成長条件は、例えば、原料ガスとしてアセチレン・アルゴンの混合ガス(分圧比1:9)を用い、成膜室内の総ガス圧を1kPa、ホットフィラメント温度を1000℃、成長時間を20分とする。これにより、層数が3層〜6層(平均4層程度)、直径が4nm〜8nm(平均6nm)、長さが80μm(成長レート:4μm/min)の多層カーボンナノチューブを成長することができる。なお、カーボンナノチューブ14は、熱CVD法やリモートプラズマCVD法などの他の成膜方法により形成してもよい。また、成長するカーボンナノチューブは、単層カーボンナノチューブでもよい。また、炭素原料としては、アセチレンのほか、メタン、エチレン等の炭化水素類や、エタノール、メタノール等のアルコール類などを用いてもよい。
カーボンナノチューブ14の長さは、特に限定されるものではないが、好ましくは5μm〜500μm程度の値に設定することができる。サーマルインターフェイスマテリアルとして使用する場合、少なくとも発熱源及び放熱部品の表面の凹凸を埋める長さ以上であることが望ましい。
こうして、基板10上に、基板10の法線方向に配向(垂直配向)した複数のカーボンナノチューブ14を形成する(図2)。なお、上記の成長条件で形成したカーボンナノチューブ14では、カーボンナノチューブ14の面密度は、1×1011本/cm程度であった。これは、基板10表面の面積のおよそ10%の領域上にカーボンナノチューブ14が形成されていることに相当する。
次いで、必要に応じて、カーボンナノチューブ14上に、例えば蒸着法により、例えば膜厚数百nm程度の膜厚のAu(金)堆積し、Auの被膜16を形成する。被膜16は、カーボンナノチューブ14にダメージを与えない方法であれば、他の成膜方法(例えばスパッタ法等)を用いて形成してもよい。
被膜16を形成する材料は、必ずしもAuである必要はないが、熱伝導率の高い材料であることが望ましい。カーボンナノチューブ14を電気伝導用途にも利用する場合には、導電性を有する材料、例えば、金属や合金等を適用することができる。被膜16の構成材料としては、例えば、銅(Cu)、ニッケル(Ni)、金(Au)、インジウム(In)等を用いることができる。また、被膜16は、単層構造である必要はなく、例えばチタン(Ti)と金(Au)との積層構造など、2層或いは3層以上の積層構造であってもよい。
被膜16は、成長初期段階では、例えば図3に示すように、各カーボンナノチューブ14の先端部分を覆うように形成される。成長膜厚が増加してくると、隣接する各カーボンナノチューブ14の先端部分に形成された被膜16が互いに接続されるようになる。これにより、被膜16は、例えば図4に示すように、複数本の各カーボンナノチューブ14の先端部分を束ねるように形成される。被膜16の成長膜厚を更に増加すると、被膜16がシートの表面に平行な2次元方向に完全に接続され、隙間のない完全な膜となる。
被膜16の膜厚は、充填層20を形成する際の充填材(熱可塑性樹脂)の浸透性等を考慮して、カーボンナノチューブ14の直径や面密度に応じて適宜設定することが望ましい。
例えば、カーボンナノチューブ14の直径が10nm、面密度が1×1011cm−2の場合、互いに隣接するカーボンナノチューブ12の間隙はおよそ50nmである。この場合、隣接するカーボンナノチューブ12間が被膜16により接続されるためには、少なくとも間隙の半分以上の膜厚、すなわち膜厚25nm程度以上の被膜16を形成することが望ましい。また、被膜16を厚くしすぎると被膜16が隙間のない完全な膜となり充填材の浸透性が低下するため、被膜16の上限膜厚は、充填材の浸透性の面から設定することが望ましい。これらの観点から、上記条件のカーボンナノチューブ12では、被膜16の膜厚は、25nm〜1000nm程度に設定することが望ましい。
なお、被膜16は、必ずしも隣接するカーボンナノチューブ14が互いに接続されるに十分な膜厚を形成する必要はないが、これには被膜16によって複数本のカーボンナノチューブ14を束ねる効果がある(図4参照)。これにより、後工程で充填層20をカーボンナノチューブ14間に浸透させる際にカーボンナノチューブ14同士がばらばらになることを抑制することができる。また、被膜16を介した横方向への熱の伝導も可能となる。
次いで、被膜16を形成したカーボンナノチューブ14上に、フィルム状に加工した熱可塑性樹脂(熱可塑性樹脂フィルム18)を載置する(図5)。
熱可塑性樹脂フィルム18の熱可塑性樹脂としては、例えば、以下に示すホットメルト樹脂を適用することができる。ポリアミド系ホットメルト樹脂としては、例えば、ヘンケルジャパン株式会社製の「Micromelt6239」が挙げられる。また、ポリエステル系ホットメルト樹脂としては、例えば、ノガワケミカル株式会社製の「DH598B」が挙げられる。また、ポリウレタン系ホットメルト樹脂としては、例えば、ノガワケミカル株式会社製の「DH722B」が挙げられる。また、ポリオレフィン系ホットメルト樹脂としては、例えば、松村石油株式会社製の「EP−90」が挙げられる。また、エチレン共重合体ホットメルト樹脂としては、例えば、ノガワケミカル株式会社製の「DA574B」が挙げられる。また、SBR系ホットメルト樹脂としては、例えば、横浜ゴム株式会社製の「M−6250」が挙げられる。また、EVA系ホットメルト樹脂としては、例えば、住友スリーエム株式会社製の「3747」が挙げられる。また、ブチルゴム系ホットメルト樹脂としては、例えば、横浜ゴム株式会社製の「M−6158」が挙げられる。
ここでは、一例として、ヘンケルジャパン株式会社製の「Micromelt6239」を厚さ100μmのフィルム状に加工した熱硬化性樹脂フィルム18を用いた場合について説明する。なお、「Micromelt6239」は、融解温度が135℃〜145℃、融解時粘度が5.5Pa.s〜8.5Pa.s(225℃)のホットメルト樹脂である。
次いで、熱可塑性樹脂フィルム18を載置した基板10を、例えば195℃の温度で加熱する。必要に応じて、熱可塑性樹脂フィルム18上から押圧してもよい。これにより、熱可塑性樹脂フィルム18の熱可塑性樹脂が融解し、カーボンナノチューブ14の間隙に徐々に浸透していく。こうして、熱可塑性樹脂フィルム18を、基板10の表面に達しない程度まで浸透させる。
熱可塑性樹脂を予めシート状に加工しておくことにより、そのシート膜厚で充填材量のコントロールが可能となる。これにより、加熱温度や加熱時間のコントロールで、充填材が基板10まで浸潤しないようにコントロールすることができる。
なお、基板10に達しないところで熱可塑性樹脂フィルム18の浸透を停止するのは、カーボンナノチューブ14及び熱可塑性樹脂フィルム18を基板10から剥離するのを容易にするためである。基板10に対する熱可塑性樹脂フィルム18の粘着性が低い場合などは、基板10に達するまで熱可塑性樹脂フィルム18を浸透させるようにしてもよい。
カーボンナノチューブ14の間隙に浸透する熱可塑性樹脂フィルム18の厚さは、熱処理時間によって制御することができる。例えば、上記条件で成長した長さ80μmのカーボンナノチューブ12に対しては、195℃で1分間の熱処理を行うことにより、熱可塑性樹脂フィルム18が基板10に達しない程度まで浸透させることができる。
熱可塑性樹脂フィルム18の加熱時間は、熱可塑性樹脂フィルム18を基板10の表面に達しない程度に浸透させるように、カーボンナノチューブ14の長さ、熱可塑性樹脂の融解時の粘度、熱可塑性樹脂フィルム18の膜厚等に応じて適宜設定することが望ましい。
なお、熱可塑性樹脂の形状は、予めフィルム状に加工しておくことが好適であるが、ペレット状や棒状でも構わない。
次いで、熱可塑性樹脂フィルム18を所定の位置まで浸透させた後、室温まで冷却し、熱可塑性樹脂フィルム18を固化する。こうして、熱可塑性樹脂フィルム18の熱可塑性樹脂により形成され、カーボンナノチューブ14の間隙に充填された充填層20を形成する(図6)。
次いで、カーボンナノチューブ14及び充填層20を基板10から剥離し、サーマルインターフェイスマテリアルとしてのカーボンナノチューブシート22を得る(図7)。
この後、カーボンナノチューブ14の基板10から剥離した側の端部に、被膜16と同様の被膜を形成するようにしてもよい。
次いで、ヒートスプレッダ等の放熱板24上に、カーボンナノチューブシート22を、カーボンナノチューブ14の基板10から剥離した側の端部が放熱板24側に位置するように、載置する(図8)。カーボンナノチューブ14の基板10から剥離した側の端部は、基板10の表面を反映した平坦な面を形成しており、また、充填層20により覆われていないため、放熱板24の表面に確実に接触される。
次いで、カーボンナノチューブシート22の充填層20上に、吸取紙26を載置する。吸取紙26は、融解した熱可塑性樹脂材料を吸い取ることができる素材のシートである。一般的な吸取紙は、表面処理をして隙間を適度に多くした繊維状素材であり、例えば、古紙パルプ配合率100%の表紙と、古紙パルプ配合率70%の本体とにより形成される。このような吸取紙26としては、例えば、コクヨ株式会社製の吸取紙「シム−1N」等が挙げられる。
次いで、充填層20の熱可塑性樹脂の融解温度、例えば195℃の温度で加熱した状態で吸取紙26上から押圧する(図9)。これにより、放熱板24に達するまで充填層20をカーボンナノチューブ14間に浸透させる。吸取紙26上から加える圧力は、カーボンナノチューブ14の形状変化を引き起こさない程度の圧力であれば、特に限定されるものではなく、例えば、数百グラム程度の錘を載置することにより行うことができる。
ここで、吸取紙26を用いるのは、充填層20の余分な熱可塑性樹脂を吸い取り、カーボンナノチューブ14がばらけるのを防止するためである。例えば、カーボンナノチューブ14の長さに比して熱可塑性樹脂フィルム18の膜厚が極めて厚いような場合、熱可塑性樹脂フィルム18を浸透させる際に加える圧力によって熱可塑性樹脂が横方向にも広がり、カーボンナノチューブ14がばらけることがある。カーボンナノチューブ14がばらけると、カーボンナノチューブ14が配向性を失うなど、接触熱抵抗の増加や熱伝導性の低下を引き起こす原因となる。余分な熱可塑性樹脂を吸取紙26によって吸い取ることにより、カーボンナノチューブ14がばらけることなく、放熱板24に達するまで充填層20を容易に浸透させることができる。
また、吸取紙26を用いることには、使用する熱可塑性樹脂フィルム18の厚さの許容範囲を広げることができるというメリットもある。これにより、市販されている熱可塑性樹脂フィルムを使用する自由度が増し、生産性を向上することができる。熱可塑性樹脂フィルムは市販されてもいるが、薄いものでも100μm程度のものが一般的である。長さ数十μmのカーボンナノチューブ14に対して市販の熱可塑性樹脂フィルム18を用いる場合などには、特に有効である。
次いで、加熱した状態のままで吸取紙26を取り除いた後、室温まで冷却し、充填層20の熱可塑性樹脂を固化する。この際、熱可塑性樹脂は接着性を発現し、放熱板24とカーボンナノチューブシート22とが接着される(図10)。
なお、充填層20を放熱板24に達するまで浸透させる処理と、余分な熱可塑性樹脂を吸取紙26によって吸い取る処理とは、別々に行うこともできる。
例えば、まず、カーボンナノチューブシート22の充填層20上に、熱可塑性樹脂に接着しない材料の板(以下、「押圧板」という)を載置する。押圧板としては、例えば、テフロン(登録商標)板や、市販の熱可塑性樹脂フィルムに貼付されている剥離紙を用いることができる。
次いで、充填層20の熱可塑性樹脂の融解温度、例えば195℃の温度で加熱した状態で押圧板上から押圧し、充填層20を放熱板24に達するまで浸透させる。
次いで、室温まで冷却した後、押圧板を除去する。
次いで、カーボンナノチューブシート22の充填層20上に、吸取紙26を載置する。
次いで、充填層20の熱可塑性樹脂の融解温度、例えば195℃の温度で加熱した状態で吸取紙26上から押圧し、充填層20の余分な熱可塑性樹脂を吸取紙26により吸い取る。
次いで、加熱した状態のままで吸取紙26を取り除いた後、室温まで冷却し、充填層20の熱可塑性樹脂を固化する。
このようにして、充填層20を放熱板24に達するまで浸透させるとともに、余分な熱可塑性樹脂を吸取紙26によって吸い取る。
充填層20の熱可塑性樹脂は、カーボンナノチューブ14の端部と放熱板24とがコンタクトした状態で浸透していくため、カーボンナノチューブ14と放熱板24との界面に熱可塑性樹脂が入り込むことはない。これにより、カーボンナノチューブ14と放熱板24との間の接触熱抵抗が増加するのを防止することができる。
次いで、必要に応じて、充填層20の表面部を除去する処理を行う(図11)。この処理は、被膜16上の熱可塑性樹脂が吸取紙26だけでは十分に除去できない場合を考慮したものである。
充填層20の表面部を除去する処理には、例えば、ドライエッチングや、エタノール等の有機溶剤により拭き取る処理を適用することができる。ドライエッチングには、例えば、平行平板型ドライエッチング装置により、エッチングガスとして酸素を用い、数十ワット、数分間の処理を適用することができる。被膜16は、充填層20の熱可塑性樹脂をエッチングする際にカーボンナノチューブ14を保護する役割をも有する。
なお、吸取紙26により熱可塑性樹脂を吸い取らず、ドライエッチングのみによって余分な熱可塑性樹脂を除去することも考えられるが、ドライエッチングの処理時間が長くなるため好ましくない。ドライエッチングの処理時間が長くなると、温度上昇によって熱可塑性樹脂が融解し、カーボンナノチューブ14の配向性に影響を与えることがある。かかる観点から、ドライエッチングによる熱可塑性樹脂の除去は、吸取紙26により余分な熱可塑性樹脂を除去した後に行うことが望ましい。
このようにして、充填層20の表面から、被膜16により覆われたカーボンナノチューブ14の端部を露出する(図12)。
こうして、放熱板24上にサーマルインターフェイスマテリアルとしてのカーボンナノチューブシート22が一体形成された本実施形態による電子部品を完成する。
このように、本実施形態によれば、カーボンナノチューブシートを放熱板に熱圧着する際に、吸取紙を介してカーボンナノチューブシートを押圧して余分な熱可塑性樹脂を吸い取るので、熱可塑性樹脂が広がってカーボンナノチューブがばらけるのを防止することができる。これにより、カーボンナノチューブシート自体の熱抵抗の増加や放熱板に対する接触熱抵抗の増加を防止することができる。
また、本実施形態によれば、カーボンナノチューブの一端部を放熱体に直にコンタクトさせることができる。これにより、カーボンナノチューブシートと放熱体との間の接触熱抵抗を大幅に低減することができる。また、カーボンナノチューブの他端部は、充填層から露出している。これにより、カーボンナノチューブシートを発熱体に接触させる際に、カーボンナノチューブの他端部を発熱体に直にコンタクトさせることができる。これにより、カーボンナノチューブシートと発熱体との間の接触熱抵抗を大幅に低減することができる。したがって、発熱体から発せられる熱を放熱体から高効率で放熱することができ、電子機器の信頼性を向上することができる。
[第2実施形態]
第2実施形態による電子部品及びその製造方法について図13を用いて説明する。
図13は、本実施形態による電子部品の構造を示す斜視図である。
本実施形態による電子部品は、図13に示すように、放熱板24に凹部28が形成されていることの他は、図1に示す第1実施形態による電子部品と同様である。
凹部28は、放熱板24のカーボンナノチューブシート22の接続部分に形成されている。放熱板24に凹部28を形成しておくことにより、放熱板24上にカーボンナノチューブシート22を接着させる際に、融解した熱可塑性樹脂が放熱板24上で横方向に広がるのを抑制することができる。これにより、カーボンナノチューブ14がばらけるのを効果的に防止することができ、接触熱抵抗の増加や熱伝導性の低下を抑制することができる。
このように、本実施形態によれば、カーボンナノチューブがばらけるのを効果的に防止し、接触熱抵抗の増加や熱伝導性の低下を抑制することができる。
[第3実施形態]
本発明の第3実施形態による電子機器及びその製造方法について図14乃至図17を用いて説明する。
図14は、本実施形態による電子機器の構造を示す概略断面図である。図15乃至図17は、本実施形態による電子機器の製造方法を示す工程断面図である。
はじめに、本実施形態による電子機器の構造について図14を用いて説明する。
回路基板やビルドアップ基板等の基板30上には、例えばCPUなどの半導体素子34が実装されている。半導体素子34は、はんだバンプなどの突起状電極32を介して基板30に電気的に接続されている。
半導体素子34上には、半導体素子34を覆うように、半導体素子34からの熱を拡散するためのヒートスプレッダ38が形成されている。半導体素子34とヒートスプレッダ38との間には、サーマルインターフェイスマテリアルとしてのカーボンナノチューブシート36が形成されている。ヒートスプレッダ38は、例えば有機シーラント40によって基板30に接着されている。カーボンナノチューブシート36及びヒートスプレッダ38は、第1又は第2実施形態による電子部品を用いて形成されたものである。
次に、本実施形態による電子機器の製造方法について図15乃至図17を用いて説明する。
まず、基板30上に、突起状電極32を介して半導体素子34を実装する(図15)。
次いで、基板30上に、ヒートスプレッダ38を固定するための有機シーラント40を塗布する。
次いで、基板30上に実装した半導体素子34上に、第1又は第2実施形態に記載の電子部品42を載置する(図16)。電子部品42は、ヒートスプレッダ38と、ヒートスプレッダに接続されたカーボンナノチューブシート36とを含む。ヒートスプレッダ38は第1又は第2実施形態による電子部品の放熱板24に該当し、カーボンナノチューブシート36は第1又は第2実施形態による電子部品のカーボンナノチューブシート22に該当するものである。
この際、カーボンナノチューブシート36の表面には、被膜16で覆われたカーボンナノチューブ14の端部が露出しているため、被膜16で覆われたカーボンナノチューブ14の端部は、半導体素子34に直にコンタクトする。
次いで、ヒートスプレッダ38に荷重をかけた状態で熱処理を行う。充填層20として例えばヘンケルジャパン株式会社製の「Micromelt6239」を用いたカーボンナノチューブシート36では、例えば荷重0.25MPaを加えた状態で、例えば195℃、10分間の熱処理を行う。
この熱処理により、カーボンナノチューブシート36の充填層20を形成する熱可塑性樹脂が液状融解し、半導体素子34及びヒートスプレッダ38の表面凹凸に沿ってカーボンナノチューブシート36が変形する。また、カーボンナノチューブシート36内のカーボンナノチューブ14は、充填層20による拘束がゆるみ、半導体素子34及びヒートスプレッダ38が有する凹凸形状に追従して撓むことができる。これにより、半導体素子34及びヒートスプレッダ38に直に接するカーボンナノチューブ14が増加し、カーボンナノチューブシート36と半導体素子34及びヒートスプレッダ38との間の接触熱抵抗を大幅に低減することができる。
次いで、室温まで冷却し、充填層20の熱可塑性樹脂を固化するとともに、ヒートスプレッダ38を有機シーラント40によって基板30上に固定する(図17)。この際、充填層20の熱可塑性樹脂は接着性を発現し、半導体素子34とヒートスプレッダ38との間をカーボンナノチューブシート36によって接着固定することができる。これにより、室温に冷却した後も、カーボンナノチューブシート36と半導体素子34及びヒートスプレッダ38との間の低い接触熱抵抗を維持することができる。
このように、本実施形態によれば、第1又は第2実施形態による電子部品を用いて電子機器を組み立てるので、カーボンナノチューブシートのカーボンナノチューブの両端部を放熱体及び発熱体に直に接触させることができる。これにより、カーボンナノチューブシートと放熱体及び発熱体との間の接触熱抵抗を大幅に低減することができる。これにより、半導体素子から発せられる熱の放熱効率を高めることができ、電子機器の信頼性を向上することができる。
[変形実施形態]
上記実施形態に限らず種々の変形が可能である。
例えば、上記実施形態では、炭素元素の線状構造体を用いた放熱材料の例としてカーボンナノチューブシートを示したが、炭素元素の線状構造体を用いた放熱材料は、これに限定されるものではない。炭素元素の線状構造体は、炭素の六員環構造を有するグラフェンシートが筒状なったものであり、カーボンナノチューブのほか、カーボンナノワイヤ、カーボンロッド、カーボンファイバをも含むものである。これら線状構造体は、サイズが異なるほかは、カーボンナノチューブと同様である。これら線状構造体を用いた放熱材料においても適用することができる。
また、第1実施形態では、放熱板24とは別の基板10上にカーボンナノチューブシート22を形成後、シートを放熱板24上に接着したが、基板10の代わりに放熱板24を用い、放熱板24上に直にカーボンナノチューブシート22を形成するようにしてもよい。
また、上記実施形態に記載の構成材料や製造条件は、当該記載に限定されるものではなく、目的等に応じて適宜変更が可能である。
また、カーボンナノチューブシートの使用目的も、上記実施形態に記載のものに限定されるものではない。開示のカーボンナノチューブシートは、熱伝導シートとしては、例えば、CPUの放熱シート、無線通信基地局用高出力増幅器、無線通信端末用高出力増幅器、電気自動車用高出力スイッチ、サーバー、パーソナルコンピュータなどへの適用が考えられる。
また、カーボンナノチューブの高い許容電流密度特性を利用して、縦型配線シートやこれを用いた種々のアプリケーションにも適用可能である。
以上の実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
(付記1) 第1の基板上に、複数の炭素元素の線状構造体と、複数の前記線状構造体間に配置された熱可塑性樹脂の充填層とを有する放熱材料を配置する工程と、
前記放熱材料上に、吸取紙を配置する工程と、
前記熱可塑性樹脂の融解温度よりも高い温度で熱処理を行い、複数の前記線状構造体上の前記熱可塑性樹脂を前記吸取紙により吸い取る工程と、
前記吸取紙を除去する工程と、
冷却して前記熱可塑性樹脂を固化し、前記放熱材料を前記第1の基板に接着する工程と
を有することを特徴とする電子部品の製造方法。
(付記2) 付記1記載の電子部品の製造方法において、
前記放熱材料を配置する工程では、前記充填層から露出した複数の前記線状構造体の一端部が前記第1の基板に直に接するように、前記放熱材料を前記第1の基板上に配置する
ことを特徴とする電子部品の製造方法。
(付記3) 付記1又は2記載の電子部品の製造方法において、
前記放熱材料を前記第1の基板に接着する工程の後に、複数の前記線状構造体の他端部を前記充填層から露出させる工程を更に有する
ことを特徴とする電子部品の製造方法。
(付記4) 付記1乃至3のいずれか1項に記載の電子部品の製造方法において、
前記熱処理により、前記熱可塑性樹脂を前記第1の基板の表面まで浸透させる
ことを特徴とする電子部品の製造方法。
(付記5) 付記1乃至3のいずれか1項に記載の電子部品の製造方法において、
前記放熱材料を配置する工程の後、前記吸取紙を配置する工程の前に、
前記熱可塑性樹脂の融解温度よりも高い温度で熱処理を行い、前記熱可塑性樹脂を前記第1の基板の表面まで浸透させる工程を更に有する
ことを特徴とする電子部品の製造方法。
(付記6) 付記1乃至5のいずれか1項に記載の電子部品の製造方法において、
前記吸取紙上から圧力を印加しながら前記熱処理を行う
ことを特徴とする電子部品の製造方法。
(付記7) 付記1乃至6のいずれか1項に記載の電子部品の製造方法において、
前記第1の基板上に前記放熱材料を配置する工程の前に、
第2の基板上に、複数の前記線状構造体を成長する工程と、
複数の前記線状構造体上に、前記熱可塑性樹脂のシートを配置する工程と、
前記熱可塑性樹脂の融解温度よりも高い温度で熱処理を行い、前記シートを複数の前記線状構造体間に浸透させ、前記充填層を形成する工程と、
複数の前記線状構造体及び前記充填層を前記第2の基板から剥離し、前記放熱材料を得る工程とを更に有する
ことを特徴とする電子部品の製造方法。
(付記8) 付記7記載の電子部品の製造方法において、
前記充填層を形成する工程では、前記第2の基板に達しないように前記シートを複数の前記線状構造体間に浸透させる
ことを特徴とする電子部品の製造方法。
(付記9) 付記1乃至8のいずれか1項に記載の電子部品の製造方法において、
複数の前記線状構造体の前記他端部に、前記熱可塑性樹脂よりも熱伝導率の高い被膜が形成されている
ことを特徴とする電子部品の製造方法。
(付記10) 付記1乃至9のいずれか1項に記載の電子部品の製造方法において、
前記第1の基板は、放熱部品である
ことを特徴とする電子部品の製造方法。
(付記11) 付記1乃至10のいずれか1項に記載の電子部品の製造方法において、
前記第1の基板の前記放熱材料が配置される領域に凹部を形成する工程を更に有する
ことを特徴とする電子部品の製造方法。
(付記12) 付記1乃至11のいずれか1項に記載の電子部品の製造方法において、
前記第1の基板と前記第2の基板は、同じ基板である
ことを特徴とする電子部品の製造方法。
(付記13) 放熱板と、
前記放熱板上に形成された放熱材料とを有し、
前記放熱材料は、一端部が前記放熱板に直に接続された複数の炭素元素の線状構造体と、前記放熱板に接して形成され、複数の前記線状構造体間に配置された熱可塑性樹脂の充填層と、前記充填層から露出した複数の前記線状構造体の他端部に形成され、前記熱可塑性樹脂よりも熱伝導率の高い被膜とを有する
ことを特徴とする電子部品。
(付記14) 付記13記載の電子部品において、
前記放熱板は、前記放熱材料が配置される領域に凹部を有する
ことを特徴とする電子部品。
10,30…基板
12…触媒金属膜
14,36…カーボンナノチューブ
16…被膜
18…熱可塑性樹脂シート
20…充填層
22…カーボンナノチューブシート
24…放熱板
26…吸取紙
28…凹部
32…突起状電極
34…半導体素子
38…ヒートスプレッダ
40…有機シーラント
42…電子部品

Claims (6)

  1. 第1の基板上に、複数の炭素元素の線状構造体と、複数の前記線状構造体間に配置された熱可塑性樹脂の充填層とを有する放熱材料を配置する工程と、
    前記熱可塑性樹脂の融解温度よりも高い温度で熱処理を行い、前記熱可塑性樹脂を前記第1の基板の表面まで浸透させる工程と、
    前記放熱材料上に、吸取紙を配置する工程と、
    前記熱可塑性樹脂の融解温度よりも高い温度で熱処理を行い、複数の前記線状構造体上の前記熱可塑性樹脂を前記吸取紙により吸い取る工程と、
    前記吸取紙を除去する工程と、
    冷却して前記熱可塑性樹脂を固化し、前記放熱材料を前記第1の基板に接着する工程と
    を有することを特徴とする電子部品の製造方法。
  2. 請求項1記載の電子部品の製造方法において、
    前記放熱材料を配置する工程では、前記充填層から露出した複数の前記線状構造体の一端部が前記第1の基板に直に接するように、前記放熱材料を前記第1の基板上に配置する
    ことを特徴とする電子部品の製造方法。
  3. 請求項1又は2記載の電子部品の製造方法において、
    前記放熱材料を前記第1の基板に接着する工程の後に、複数の前記線状構造体の他端部を前記充填層から露出させる工程を更に有する
    ことを特徴とする電子部品の製造方法。
  4. 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の電子部品の製造方法において、
    前記吸取紙上から圧力を印加しながら前記熱処理を行う
    ことを特徴とする電子部品の製造方法。
  5. 請求項1乃至4のいずれか1項に記載の電子部品の製造方法において、
    前記第1の基板上に前記放熱材料を配置する工程の前に、
    第2の基板上に、複数の前記線状構造体を成長する工程と、
    複数の前記線状構造体上に、前記熱可塑性樹脂のシートを配置する工程と、
    前記熱可塑性樹脂の融解温度よりも高い温度で熱処理を行い、前記シートを複数の前記線状構造体間に浸透させ、前記充填層を形成する工程と、
    複数の前記線状構造体及び前記充填層を前記第2の基板から剥離し、前記放熱材料を得る工程とを更に有する
    ことを特徴とする電子部品の製造方法。
  6. 請求項1乃至5のいずれか1項に記載の電子部品の製造方法において、
    複数の前記線状構造体の前記他端部に、前記熱可塑性樹脂よりも熱伝導率の高い被膜が形成されている
    ことを特徴とする電子部品の製造方法。
JP2011039561A 2011-02-25 2011-02-25 電子部品の製造方法 Active JP5790023B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011039561A JP5790023B2 (ja) 2011-02-25 2011-02-25 電子部品の製造方法
US13/307,029 US8837149B2 (en) 2011-02-25 2011-11-30 Electronic component and method of manufacturing electronic component

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011039561A JP5790023B2 (ja) 2011-02-25 2011-02-25 電子部品の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012178397A JP2012178397A (ja) 2012-09-13
JP5790023B2 true JP5790023B2 (ja) 2015-10-07

Family

ID=46718872

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011039561A Active JP5790023B2 (ja) 2011-02-25 2011-02-25 電子部品の製造方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8837149B2 (ja)
JP (1) JP5790023B2 (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102792441B (zh) * 2010-03-12 2016-07-27 富士通株式会社 散热结构及其制造方法
JP5842349B2 (ja) * 2011-03-18 2016-01-13 富士通株式会社 シート状構造体、シート状構造体の製造方法、電子機器及び電子機器の製造方法
CN103178027B (zh) * 2011-12-21 2016-03-09 清华大学 散热结构及应用该散热结构的电子设备
US9041192B2 (en) * 2012-08-29 2015-05-26 Broadcom Corporation Hybrid thermal interface material for IC packages with integrated heat spreader
JP6135760B2 (ja) * 2013-06-03 2017-05-31 富士通株式会社 放熱構造体及びその製造方法並びに電子装置
US20160106005A1 (en) * 2014-10-13 2016-04-14 Ntherma Corporation Carbon nanotubes as a thermal interface material
US9668380B2 (en) * 2015-09-29 2017-05-30 Te Connectivity Corporation Conformable thermal bridge
JP6501075B2 (ja) 2016-02-24 2019-04-17 パナソニックIpマネジメント株式会社 樹脂構造体とその構造体を用いた電子部品及び電子機器
SG11202001517SA (en) 2017-08-22 2020-03-30 Ntherma Corp Graphene nanoribbons, graphene nanoplatelets and mixtures thereof and methods of synthesis
US10640382B2 (en) 2017-08-22 2020-05-05 Ntherma Corporation Vertically aligned multi-walled carbon nanotubes
JP2020011426A (ja) * 2018-07-17 2020-01-23 Jx金属株式会社 積層体及び放熱部材
US11195811B2 (en) * 2019-04-08 2021-12-07 Texas Instruments Incorporated Dielectric and metallic nanowire bond layers
TWI788769B (zh) * 2021-01-27 2023-01-01 大陸商河南烯力新材料科技有限公司 導熱結構與電子裝置

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62259819A (ja) * 1986-05-07 1987-11-12 Mitsubishi Electric Corp 繊維強化プラスチツク材の製造方法
JP4697829B2 (ja) * 2001-03-15 2011-06-08 ポリマテック株式会社 カーボンナノチューブ複合成形体及びその製造方法
US7524557B2 (en) * 2002-07-04 2009-04-28 Kabushiki Kaisha Toshiba Highly heat conductive insulating member, method of manufacturing the same and electromagnetic device
AU2003277605A1 (en) * 2002-11-08 2004-06-07 Mitsubishi Chemical Corporation Radiation curing resin composition and cured product thereof
JP2005150362A (ja) 2003-11-14 2005-06-09 Dainippon Printing Co Ltd 高熱伝導性シートおよびその製造方法
JP4093316B2 (ja) 2004-09-29 2008-06-04 富士通株式会社 放熱フィンの製造方法
JP2006147801A (ja) 2004-11-18 2006-06-08 Seiko Precision Inc 放熱シート、インターフェース、電子部品及び放熱シートの製造方法
JP2006303240A (ja) 2005-04-21 2006-11-02 Fujikura Ltd 放熱シート、放熱体、放熱シート製造方法及び伝熱方法
US20070116626A1 (en) * 2005-05-11 2007-05-24 Molecular Nanosystems, Inc. Methods for forming carbon nanotube thermal pads
US20070116957A1 (en) * 2005-05-11 2007-05-24 Molecular Nanosystems, Inc. Carbon nanotube thermal pads
CN1891780B (zh) * 2005-07-01 2013-04-24 清华大学 热界面材料及其制备方法
KR100628031B1 (ko) * 2005-07-27 2006-09-26 (주) 나노텍 팽창흑연과 탄소나노튜브의 혼합카본을 이용한 고열전도성카본시트
US8389119B2 (en) * 2006-07-31 2013-03-05 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Composite thermal interface material including aligned nanofiber with low melting temperature binder
JP4969363B2 (ja) * 2006-08-07 2012-07-04 東レ株式会社 プリプレグおよび炭素繊維強化複合材料
JP5104688B2 (ja) * 2007-10-22 2012-12-19 富士通株式会社 シート状構造体及びその製造方法並びに電子機器
CN105600742A (zh) * 2008-04-16 2016-05-25 日东电工株式会社 纤维状柱状结构体集合体和使用该集合体的粘合部件
US8632879B2 (en) * 2008-04-25 2014-01-21 The University Of Kentucky Research Foundation Lightweight thermal management material for enhancement of through-thickness thermal conductivity
JP5239768B2 (ja) * 2008-11-14 2013-07-17 富士通株式会社 放熱材料並びに電子機器及びその製造方法
JP5212253B2 (ja) * 2009-05-13 2013-06-19 富士通株式会社 シート状構造体の製造方法
JP5276565B2 (ja) * 2009-10-14 2013-08-28 新光電気工業株式会社 放熱用部品

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012178397A (ja) 2012-09-13
US20120218715A1 (en) 2012-08-30
US8837149B2 (en) 2014-09-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5790023B2 (ja) 電子部品の製造方法
JP6132768B2 (ja) 放熱材料及びその製造方法
JP5447069B2 (ja) シート状構造体、電子機器及び電子機器の製造方法
JP5239768B2 (ja) 放熱材料並びに電子機器及びその製造方法
JP6127417B2 (ja) 放熱材料の製造方法
JP5146256B2 (ja) シート状構造体及びその製造方法、並びに電子機器及びその製造方法
JP5104688B2 (ja) シート状構造体及びその製造方法並びに電子機器
JP5673668B2 (ja) 放熱構造体、電子機器およびそれらの製造方法
JP2013115094A (ja) 放熱材料及びその製造方法
JP5447117B2 (ja) 電子機器の製造方法
JP5293561B2 (ja) 熱伝導性シート及び電子機器
JP5013116B2 (ja) シート状構造体及びその製造方法並びに電子機器
JP5343620B2 (ja) 放熱材料及びその製造方法並びに電子機器及びその製造方法
JP5760668B2 (ja) シート状構造体及びその製造方法並びに電子機器及びその製造方法
JP5768786B2 (ja) シート状構造体及び電子機器
JP5935302B2 (ja) シート状構造体及びその製造方法並びに電子機器及びその製造方法
JP6217084B2 (ja) 放熱構造体及びその製造方法
JP2010280528A (ja) シート状構造体及びその製造方法
JP6123154B2 (ja) 放熱材料の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20131030

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20131106

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20141128

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20141202

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150202

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150707

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150720

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5790023

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150