JP5229060B2 - 撮像装置および焦点検出方法 - Google Patents
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Description
[撮像装置の要部構成]
図1および図2は、本発明の実施形態に係る撮像装置1の外観構成を示す図である。ここで、図1および図2は、それぞれ正面図および背面図を示している。
次に、撮像装置1の内部構成について説明する。図3は、撮像装置1の縦断面図である。図3に示すように、カメラボディ10の内部には、撮像素子101、EVF316などが備えられている。
図4は、撮像装置1の電気的な構成を示すブロック図である。ここで、図1〜図3と同一の部材等については、同一の符号を付している。なお、説明の便宜上、交換レンズ2の電気的構成について先ず説明する。
撮像装置1では、撮像素子101において射出瞳の異なった部分を透過(通過)した透過光を受光することにより位相差検出方式の焦点検出(位相差AF)が可能な構成となっている。この撮像素子101の構成と、撮像素子101を利用した位相差AFの原理とを、以下で説明する。
図16は、位置ずれ配置となるAF画素対11gの構成を説明するための縦断面図である。
上記の実施形態における撮像素子では、図8に示す構成のAFラインLfを設けるのは必須でなく、例えば上記の特許文献1や特許文献2に開示される一対の光電変換部が水平方向に配列された公知のAF水平ラインを設けるようにしても良い。このような公知のAFラインにおいても、製造誤差による位置ずれが生じて一対の光電変換部でアンバランスな出力となっている場合には、既述の補正値βを用いた補正により精度の良い位相差AF演算が可能となる。
2 交換レンズ
10 カメラボディ
11a、11c、11p 第1AF画素
11b、11d、11q 第2AF画素
11f、11fr、11g AF画素対
41、44、44a、44r 第1メタル
42、45 第2メタル
43、46 第3メタル
62 メイン制御部
77 位相差AF演算回路
101 撮像素子
101f 撮像面
110 通常画素
621 ROM
771 A・B系列分離部
772 乗算器
773 位相差AF演算部
Ef、Efa、Efr AFエリア
Lf、Lfa、Lfr AFライン
ML、MLr マイクロレンズ
PD 光電変換部
Qa 射出瞳の左側部分
Qb 射出瞳の右側部分
SB スリット被写体
Claims (4)
- 撮影光学系の射出瞳において所定方向に沿って互いに逆向きに偏った一対の部分領域を通過した被写体光束を受光する一対の光電変換部が前記所定方向に沿って複数配列された光電変換部の配列と前記一対の光電変換部において前記被写体光束を集光するマイクロレンズとを有する撮像素子と、
前記複数配列された前記一対の光電変換部の全てにおいて前記一対の光電変換部の一方から得られた受光データを前記一対の光電変換部の一方および他方に挟まれた領域と前記マイクロレンズの光軸との間のずれ量に応じた一定値により補正する補正部と、
前記補正された受光データに基づいて焦点検出を行う焦点検出部と
を具備する撮像装置。 - 前記一対の光電変換部の上方には、前記射出瞳を通過した光束を遮光する2の遮光領域を有した遮光部が前記マイクロレンズを挟む位置に設けられる請求項1記載の撮像装置。
- 前記撮像素子は、前記一対の光電変換部を含む複数の光電変換部がマトリクス状に配置された受光部を有し、
前記受光部は、
前記複数の光電変換部のうち前記一対の光電変換部が前記所定方向に複数隣接して配列された第1光電変換配列と、
前記複数の光電変換部のうち前記一対の光電変換部以外の前記光電変換部が前記所定方向に複数隣接して配列された第2光電変換配列と
を備え、
前記マイクロレンズは、前記第1光電変換配列における前記一対の光電変換部の一方および他方に挟まれた領域の各々の上方と前記第2光電変換配列における前記光電変換部の各々の上方とに設けられる請求項1記載の撮像装置。 - 撮影光学系の射出瞳において所定方向に沿って互いに逆向きに偏った一対の部分領域を通過した被写体光束を受光する一対の光電変換部が前記所定方向に沿って複数配列された光電変換部の配列と前記一対の光電変換部において前記被写体光束を集光するマイクロレンズとを有する撮像素子を露光する露光手順と、
前記複数配列された前記一対の光電変換部の全てにおいて前記一対の光電変換部の一方から得られた受光データを前記一対の光電変換部の一方および他方に挟まれた領域と前記マイクロレンズの光軸との間のずれ量に応じた一定値により補正する補正手順と、
前記補正された受光データに基づいて焦点検出を行う手順と、
を有する焦点検出方法。
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