JP5226480B2 - 3次元形状測定装置 - Google Patents
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Description
前記制御部は、前記イメージ取り込み装置に受信された前記第1方向反射イメージ及び前記第2方向反射イメージを用いて前記測定対象物の影領域を補償して前記測定対象物の3次元状態を算出するようにしてもよい。
前記イメージ取り込み装置をX、Y及びZ軸方向に移動させるイメージ取り込み装置移動装置をさらに含むようにしてもよい。
前記ワークステージは、前記測定対象物を固定する第1ガイドと、前記第1ガイドを基準にして前記測定対象物の大きさによって移動するように設置される第2ガイドと、前記第1ガイドを基準にして前記第2ガイドを移動させるガイド移動装置と、を含むようにしてもよい。
前記投影部は、前記格子の移動を制御する格子移動装置をさらに含むようにしてもよい。
前記投影部は、前記格子移動装置によって前記格子が移動する時、前記測定対象物に前記格子イメージを照射するようにしてもよい。
前記投影部の格子は、液晶格子であってもよい。
前記格子移動装置は、PZTアクチュエータであってもよい。
前記NとN’は、同じ値であるようにしてもよい。
前記制御部は、前記イメージ取り込み装置に受信された前記第1方向反射イメージ及び前記第2方向反射イメージを用いて前記測定対象物の影領域を補償して前記測定対象物の3次元状態を算出するようにしてもよい。
前記ワークステージは、前記測定対象物を固定する第1ガイドと、前記第1ガイドを基準にして前記測定対象物の大きさによって移動するように設置される第2ガイドと、前記第1ガイドを基準にして前記第2ガイドを移動させるガイド移動装置と、を含むようにしてもよい。
前記投影部は、前記格子の移動を制御する格子移動装置をさらに含むようにしてもよい。
前記投影部は、前記格子移動装置によって前記格子が移動する時、前記測定対象物に前記格子イメージを照射するようにしてもよい。
前記投影部の格子は、液晶格子であってもよい。
前記NとN’は、同じ値であるようにしてもよい。
前記基準面は、前記ワークステージによって支持されるようにしてもよい。
前記イメージ引出し部は、前記基準面に光を入射するための基準面光源をさらに含むようにしてもよい。
前記基準面光源は、レーザポインタであってもよい。
前記第1方向と前記第2方向は、互いに対称であるようにしてもよい。
また、本発明の一実施形態によると、測定対象物を固定するワークステージと、光源、前記光源から照射された光を測定対象物に対して第1方向に入射した後、前記光を前記測定対象物に第2方向に入射する光入射部と、前記測定対象物によって反射される第1方向反射光及び第2方向反射光を受信するカメラを含むイメージ取り込み装置と、前記イメージ取り込み装置に受信された前記第1方向反射光及び前記第2方向反射光を用いて前記測定対象物の影領域を補償して前記測定対象物の3次元状態を算出する制御部と、を含み、前記制御部は前記ワークステージに支持される基準面と前記イメージ引き出し部との距離を測定して前記測定対象部と前記イメージ引き出し部との距離を一定に維持することを特徴とする3次元測定装置が提供される。
前記制御部は、前記イメージ取り込み装置に受信された前記第1方向反射光及び前記第2方向反射光を用いて前記測定対象物の影領域を補償して前記測定対象物の3次元状態を算出するようにしてもよい。
前記光入射部は、前記測定対象物に対して前記第1方向にN回光を入射し、前記第2方向にN’回光を入射する(N及びN’は2以上の自然数)ようにしてもよい。
前記基準面に光を入射する発光装置をさらに含むようにしてもよい。
した光を基準面に入射させ、反射される光イメージをイメージ取り込み装置40を介して受信して、基準面とイメージ取り込み装置40との垂直距離を算出し、その結果によってXYZ軸移動装置10を制御することによってイメージ取り込み装置40のZ軸方向の距離を調整する。これにより、制御部50は測定対象物100とイメージ取り込み装置40との焦点距離を一定に保つ。
分配器44の垂直方向の下側に結像部45がそれぞれ設けられて、一点鎖線で示すイメージ取り込み装置のアウターケース40aのようにコンパクトに構成してもよい。
47b、図9参照)のような回転機構により所定の角度で回転され、格子イメージを第4
のミラー44cと第2のフィルタ44dとで分配し、測定対象物100の他方の側にN回走査する。ここで、格子イメージ分配ミラー42を移動させる直線運動機構であるミラー移動装置42aは、エアーシリンダー、リニアモータ、及びボールスクリューの何れかが適用され、回転ミラー47aを回転させるための回転機構としての回転装置47bは、ガルバノミラーメータが使用される。
Claims (7)
- ベース部材と、
前記ベース部材上に配置されて、前記ベース部材に固定されて基準面が設定された第1ガイドと、前記第1ガイドを基準にして前記測定対象物の大きさによって移動するように設置される第2ガイドと、前記第1ガイドを基準にして前記第2ガイドを移動させるガイド移動装置とを含み、測定対象物を固定するワークステージと、
光源、前記光源から照射された光を透過させる格子及び前記格子の格子イメージを前記測定対象物に結像させる投影レンズを含み、前記測定対象物に対して格子イメージを第1方向にN回入射した後、前記測定対象物に対して格子イメージを第2方向にN回入射する投影部と(Nは2以上の自然数)、
結像レンズ及びカメラを含み、前記測定対象物によって反射する第1方向反射イメージ及び第2方向反射イメージを受信するイメージ取り込み装置と、
前記基準面を用いて前記イメージ取り込み装置の焦点距離を設定し、前記イメージ取り込み装置に受信された前記第1方向反射イメージ及び前記第2方向反射イメージを用いて前記測定対象物の影領域を補償して前記測定対象物の3次元状態を算出する制御部と、
前記基準面に光を入射するための基準面光源と、
を含み、
前記制御部は、前記基準面光源から前記基準面に入射されて反射された光を受信し、前記基準面と前記イメージ取り込み装置との間の距離を測定することにより、前記測定対象物と前記イメージ取り込み装置との間の焦点距離を一定に保つことを特徴とする3次元測定装置。 - 前記投影部は、前記格子の移動を制御する格子移動装置をさらに含むことを特徴とする請求項1記載の3次元測定装置。
- 前記投影部は、前記格子移動装置によって前記格子が移動する時、前記測定対象物に前記格子イメージを照射することを特徴とする請求項2記載の3次元測定装置。
- 前記投影部の格子は、液晶格子であることを特徴とする請求項1記載の3次元測定装置。
- 前記基準面光源は、レーザポインタであることを特徴とする請求項1記載の3次元測定装置。
- 基準面が設定された第1ガイドと、前記第1ガイドを基準にして前記測定対象物の大きさによって移動するように設置される第2ガイドと、前記第1ガイドを基準にして前記第2ガイドを移動させるガイド移動装置とを含み、測定対象物を固定するワークステージと、
光源、前記光源から照射された光を測定対象物に対して第1方向に入射した後、前記光を前記測定対象物に対して第2方向に入射する光入射部と、
前記測定対象物によって反射される第1方向反射光及び第2方向反射光を受信するカメラを含むイメージ取り込み装置と、
前記イメージ取り込み装置に受信された前記第1方向反射光及び前記第2方向反射光を用いて前記測定対象物の影領域を補償して前記測定対象物の3次元状態を算出する制御部と、
前記基準面に光を入射するための基準面光源と、
を含み、
前記制御部は、前記基準面光源から前記基準面に入射されて反射された光を受信し、前記基準面と前記イメージ取り込み装置との間の距離を測定することにより、前記測定対象物と前記イメージ取り込み装置との間の焦点距離を一定に保つことを特徴とする3次元測定装置。 - 前記光入射部は、前記測定対象物に対して前記第1方向にN回光を入射し、前記第2方向にN回光を入射する(Nは2以上の自然数)ことを特徴とする請求項6記載の3次元測定装置。
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| KR100615576B1 (ko) * | 2003-02-06 | 2006-08-25 | 주식회사 고영테크놀러지 | 3차원형상 측정장치 |
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| US7830528B2 (en) * | 2005-12-14 | 2010-11-09 | Koh Young Technology, Inc. | 3D image measuring apparatus and method thereof |
| KR100612933B1 (ko) * | 2005-12-14 | 2006-08-14 | 주식회사 고영테크놀러지 | 3차원 형상 측정장치 및 방법 |
| KR100761438B1 (ko) * | 2006-02-27 | 2007-09-27 | 이영화 | 근접 대상물의 입체동영상을 촬영하기 위한입체동영상촬영장치 |
| WO2007102658A1 (en) * | 2006-03-06 | 2007-09-13 | Jin Ho Jung | Objectif photographique en 3d |
| KR100817881B1 (ko) * | 2006-03-06 | 2008-03-31 | 진 호 정 | 입체 영상 촬영 렌즈계 |
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| US7508529B2 (en) * | 2006-07-31 | 2009-03-24 | Mitutoyo Corporation | Multi-range non-contact probe |
| WO2008124397A1 (en) | 2007-04-03 | 2008-10-16 | David Fishbaine | Inspection system and method |
| KR100870930B1 (ko) * | 2007-05-08 | 2008-11-28 | 주식회사 고영테크놀러지 | 다방향 영사식 모아레 간섭계 및 이를 이용한 검사방법 |
| KR100912043B1 (ko) * | 2007-10-01 | 2009-08-12 | 최종필 | 비접촉식 형상 측정 장치 |
| KR100956547B1 (ko) * | 2008-02-26 | 2010-05-07 | 주식회사 고영테크놀러지 | 3차원형상 측정장치 및 방법 |
| CN101960253B (zh) | 2008-02-26 | 2013-05-01 | 株式会社高永科技 | 三维形状测量装置及测量方法 |
| KR100856115B1 (ko) | 2008-04-15 | 2008-09-02 | 정진우 | 프레임 부품 용접버어 감지장치 및 그 작동방법 |
| KR101190122B1 (ko) * | 2008-10-13 | 2012-10-11 | 주식회사 고영테크놀러지 | 다중파장을 이용한 3차원형상 측정장치 및 측정방법 |
| US20100226114A1 (en) * | 2009-03-03 | 2010-09-09 | David Fishbaine | Illumination and imaging system |
| US8643717B2 (en) * | 2009-03-04 | 2014-02-04 | Hand Held Products, Inc. | System and method for measuring irregular objects with a single camera |
| DE102010064593A1 (de) * | 2009-05-21 | 2015-07-30 | Koh Young Technology Inc. | Formmessgerät und -verfahren |
| DE202010018585U1 (de) * | 2009-05-27 | 2017-11-28 | Koh Young Technology Inc. | Vorrichtung zur Messung einer dreidimensionalen Form |
| DE102010030833B4 (de) * | 2009-07-03 | 2014-07-03 | Koh Young Technology Inc. | Vorrichtung zur Messung einer dreidimensionalen Form |
| DE102010030883B4 (de) * | 2009-07-03 | 2018-11-08 | Koh Young Technology Inc. | Vorrichtung zur Prüfung einer Platte und Verfahren dazu |
| KR101121982B1 (ko) | 2009-07-03 | 2012-03-09 | 주식회사 고영테크놀러지 | 3차원 형상 측정장치 |
| KR101219482B1 (ko) | 2009-12-29 | 2013-01-11 | 주식회사 포스코 | 델타 페라이트 함량 자동 측정 장치 및 그 방법 |
| TWI407075B (zh) * | 2010-03-16 | 2013-09-01 | Test Research Inc | 量測立體物件之系統 |
| FR2958404B1 (fr) * | 2010-04-01 | 2012-04-27 | Saint Gobain | Procede et dispositif d'analyse de la qualite optique d'un substrat transparent |
| KR101311251B1 (ko) * | 2010-11-12 | 2013-09-25 | 주식회사 고영테크놀러지 | 검사장치 |
| JP6178321B2 (ja) * | 2011-11-04 | 2017-08-09 | エンパイア テクノロジー ディベロップメント エルエルシー | 画像のためのir信号捕捉 |
| CA2860779A1 (en) * | 2012-01-13 | 2013-07-18 | Logos Technologies Llc | Panoramic image scanning device using multiple rotating cameras and one scanning mirror with multiple surfaces |
| TWI436030B (zh) * | 2012-07-04 | 2014-05-01 | Test Research Inc | 三維量測系統 |
| TWI460394B (zh) * | 2012-07-20 | 2014-11-11 | Test Research Inc | 三維影像量測裝置 |
| US20140028799A1 (en) * | 2012-07-25 | 2014-01-30 | James Kuffner | Use of Color and Intensity Modulation of a Display for Three-Dimensional Object Information |
| CN103673875A (zh) * | 2012-09-25 | 2014-03-26 | 昆山尚达智机械有限公司 | 一种影像测量装置 |
| KR101412132B1 (ko) * | 2012-12-28 | 2014-06-26 | (주)하드램 | 기판 에지 검출 장치 |
| JP6127777B2 (ja) | 2013-06-28 | 2017-05-17 | ソニー株式会社 | 給電装置および給電システム |
| USD723561S1 (en) * | 2013-07-30 | 2015-03-03 | Makerbot Industries, Llc | Three-dimensional scanner |
| KR102242662B1 (ko) * | 2013-11-29 | 2021-04-20 | 엘지디스플레이 주식회사 | 기판 검사 장치 및 방법 |
| USD720352S1 (en) * | 2014-01-07 | 2014-12-30 | Matter and Form Inc. | Object scanner |
| KR101480663B1 (ko) * | 2014-01-27 | 2015-01-12 | 한국해양과학기술원 | 리니어 스테이지를 이용한 수중청음기 배열위치 계측방법 |
| TWD166688S (zh) * | 2014-03-10 | 2015-03-21 | 虹光精密工業股份有限公司 | 掃描器 |
| USD757010S1 (en) * | 2015-05-28 | 2016-05-24 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Scanner turntable |
| JP6580448B2 (ja) * | 2015-10-16 | 2019-09-25 | 株式会社トプコン | 眼科撮影装置及び眼科情報処理装置 |
| JP6189984B2 (ja) * | 2016-02-12 | 2017-08-30 | Ckd株式会社 | 三次元計測装置 |
| CN105890547B (zh) * | 2016-06-03 | 2019-03-12 | 浙江汉振智能技术有限公司 | 三维轮廓测量仪 |
| DE102017116758B4 (de) | 2016-07-25 | 2021-02-11 | Chromasens Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Abtasten von Oberflächen mit einer Stereokamera |
| CN106705855B (zh) * | 2017-03-10 | 2018-12-14 | 东南大学 | 一种基于自适应光栅投影的高动态性能三维测量方法 |
| US10648797B2 (en) * | 2017-11-16 | 2020-05-12 | Quality Vision International Inc. | Multiple beam scanning system for measuring machine |
| JP7135495B2 (ja) * | 2018-06-26 | 2022-09-13 | セイコーエプソン株式会社 | 三次元計測装置、制御装置およびロボットシステム |
| CN112729165A (zh) * | 2020-12-21 | 2021-04-30 | 江苏烽禾升智能科技有限公司 | 一种基于机械视觉的三维扫描系统及测试方法 |
| KR102540387B1 (ko) * | 2021-02-10 | 2023-06-07 | (주)에이앤아이 | 광 경로 분할 고속 3차원 센서장치 |
| CN115734073B (zh) * | 2021-08-24 | 2025-08-05 | 三赢科技(深圳)有限公司 | 调焦机构及调焦设备 |
| JP7126285B1 (ja) * | 2021-09-17 | 2022-08-26 | 上野精機株式会社 | 電子部品の処理装置 |
| WO2025027689A1 (ja) * | 2023-07-28 | 2025-02-06 | 日本電気株式会社 | 情報処理装置、情報処理システム、情報処理方法、及び、記録媒体 |
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|---|---|---|---|---|
| JPS5281142A (en) | 1975-12-26 | 1977-07-07 | Mitsubishi Rayon Co | Method of detecting surface condition of filament package |
| JPS56125606A (en) * | 1980-03-07 | 1981-10-02 | Hitachi Ltd | Stereoscopic shape detector |
| GB2157419A (en) | 1984-04-11 | 1985-10-23 | Elco Ass R D | Optical sensor for for use in controlling a robot |
| US4971445A (en) * | 1987-05-12 | 1990-11-20 | Olympus Optical Co., Ltd. | Fine surface profile measuring apparatus |
| JPH02253108A (ja) * | 1989-03-28 | 1990-10-11 | Matsushita Electric Works Ltd | 非接触形状測定装置 |
| JPH0828600B2 (ja) * | 1990-04-24 | 1996-03-21 | 三洋電機株式会社 | 基板位置決め装置 |
| JP3157001B2 (ja) | 1990-08-17 | 2001-04-16 | 株式会社資生堂 | 3次元形状測定装置 |
| JPH076776B2 (ja) * | 1990-09-20 | 1995-01-30 | 工業技術院長 | ホットコイル巻取形状の検出装置 |
| JPH04186553A (ja) * | 1990-11-21 | 1992-07-03 | Sony Corp | モワレ干渉方式の測定装置 |
| DE4222804A1 (de) * | 1991-07-10 | 1993-04-01 | Raytheon Co | Einrichtung und verfahren zur automatischen visuellen pruefung elektrischer und elektronischer baueinheiten |
| JP2802845B2 (ja) * | 1991-10-01 | 1998-09-24 | 日立電子エンジニアリング株式会社 | 面板異物検査装置 |
| US5175601A (en) * | 1991-10-15 | 1992-12-29 | Electro-Optical Information Systems | High-speed 3-D surface measurement surface inspection and reverse-CAD system |
| JP3071271B2 (ja) | 1991-10-30 | 2000-07-31 | 株式会社マツオ | 物体形状の三次元測定装置 |
| JP2711042B2 (ja) * | 1992-03-30 | 1998-02-10 | シャープ株式会社 | クリーム半田の印刷状態検査装置 |
| JPH066026A (ja) * | 1992-06-18 | 1994-01-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | クリーム半田の外観検査装置 |
| JPH0719825A (ja) * | 1993-06-23 | 1995-01-20 | Sharp Corp | 基板検査装置 |
| JP2860863B2 (ja) | 1993-07-09 | 1999-02-24 | 株式会社ニシムラ | 蝶 番 |
| JPH0743115A (ja) | 1993-07-26 | 1995-02-10 | Sony Corp | 距離測定方法および距離測定装置 |
| JP3078958B2 (ja) | 1993-08-06 | 2000-08-21 | 株式会社日立製作所 | 三次元グラフィック表示装置 |
| JPH07208917A (ja) * | 1994-01-11 | 1995-08-11 | Fujitsu Ltd | 自動焦点合わせ方法及び装置 |
| JPH07234113A (ja) * | 1994-02-24 | 1995-09-05 | Mazda Motor Corp | 形状検出方法及びその装置 |
| JP3428122B2 (ja) * | 1994-03-10 | 2003-07-22 | 富士電機株式会社 | 三次元形状計測装置 |
| FR2720155B1 (fr) * | 1994-05-19 | 1996-06-28 | Lorraine Laminage | Mesure tridimensionnelle de la surface d'un objet de grande dimension. |
| JPH0875431A (ja) | 1994-07-08 | 1996-03-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品検査装置 |
| JPH0828600A (ja) | 1994-07-19 | 1996-02-02 | Tenryu Marusawa Kk | ワンウェイクラッチ |
| JP3346662B2 (ja) | 1994-09-26 | 2002-11-18 | 紀功仁 川末 | 移動物体の3次元位置と速度の同時計測法 |
| JP3380636B2 (ja) * | 1994-12-07 | 2003-02-24 | 株式会社竹内製作所 | プリント基板穴位置穴径検査機 |
| JPH08288343A (ja) | 1995-04-14 | 1996-11-01 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | プリント基板検査装置 |
| JP3525964B2 (ja) * | 1995-07-05 | 2004-05-10 | 株式会社エフ・エフ・シー | 物体の三次元形状計測方法 |
| US6044170A (en) | 1996-03-21 | 2000-03-28 | Real-Time Geometry Corporation | System and method for rapid shape digitizing and adaptive mesh generation |
| JPH10288510A (ja) * | 1997-04-16 | 1998-10-27 | Tsubakimoto Chain Co | 距離測定方法、チェーン伸長度の検出方法及びチェーン伸長度の検出装置 |
| JPH09329422A (ja) | 1996-06-12 | 1997-12-22 | Fujitsu Ltd | 高さ測定方法及び装置 |
| JPH1038521A (ja) | 1996-07-22 | 1998-02-13 | Kyocera Corp | 3次元計測装置 |
| BE1012534A3 (fr) * | 1997-08-04 | 2000-12-05 | Sumitomo Heavy Industries | Systeme de lit pour therapie par irradiation. |
| US6183186B1 (en) * | 1997-08-29 | 2001-02-06 | Daitron, Inc. | Wafer handling system and method |
| IE980650A1 (en) | 1998-02-09 | 1999-08-11 | M V Res Ltd | Solder paste measurements |
| JP2000046534A (ja) * | 1998-07-24 | 2000-02-18 | Fuji Photo Optical Co Ltd | モアレ装置 |
| JP3401783B2 (ja) | 1998-06-23 | 2003-04-28 | 株式会社高岳製作所 | 表面形状計測装置 |
| JP3953653B2 (ja) * | 1998-08-24 | 2007-08-08 | Hoya Candeo Optronics株式会社 | 非球面鏡の形状測定方法および形状測定装置 |
| JP3395721B2 (ja) | 1999-07-28 | 2003-04-14 | 日本電気株式会社 | バンプ接合部検査装置及び方法 |
| JP3598029B2 (ja) * | 1999-11-04 | 2004-12-08 | アンリツ株式会社 | プリント基板の搬送方法 |
| JP4008168B2 (ja) * | 1999-11-26 | 2007-11-14 | アンリツ株式会社 | プリント基板検査装置 |
| KR100389017B1 (ko) * | 2000-11-22 | 2003-06-25 | (주) 인텍플러스 | 모아레무늬 발생기를 적용한 위상천이 영사식 모아레방법및 장치 |
| JP2002257528A (ja) | 2001-03-02 | 2002-09-11 | Ricoh Co Ltd | 位相シフト法による三次元形状測定装置 |
| JP2003021604A (ja) | 2001-07-06 | 2003-01-24 | Toshiba Corp | 欠陥検査方法およびその装置 |
| JP2003187694A (ja) * | 2001-12-21 | 2003-07-04 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 隔壁形成方法、隔壁形成装置およびパネル |
| JP4186553B2 (ja) | 2002-08-27 | 2008-11-26 | トヨタ自動車株式会社 | 車両用油圧制御装置 |
| JP4090860B2 (ja) * | 2002-12-12 | 2008-05-28 | オリンパス株式会社 | 3次元形状測定装置 |
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| US7369241B2 (en) * | 2003-01-31 | 2008-05-06 | Universal Bio Research Co., Ltd. | Continuous optical measuring apparatus and continuous optical measuring method |
| KR100615576B1 (ko) * | 2003-02-06 | 2006-08-25 | 주식회사 고영테크놀러지 | 3차원형상 측정장치 |
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