JP5165294B2 - 静電容量式加速度センサ - Google Patents

静電容量式加速度センサ Download PDF

Info

Publication number
JP5165294B2
JP5165294B2 JP2007178348A JP2007178348A JP5165294B2 JP 5165294 B2 JP5165294 B2 JP 5165294B2 JP 2007178348 A JP2007178348 A JP 2007178348A JP 2007178348 A JP2007178348 A JP 2007178348A JP 5165294 B2 JP5165294 B2 JP 5165294B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mass body
sealing substrate
acceleration sensor
contact
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2007178348A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009014598A (ja
Inventor
輝也 深浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2007178348A priority Critical patent/JP5165294B2/ja
Priority to US12/119,057 priority patent/US8312770B2/en
Priority to DE102008029586.8A priority patent/DE102008029586B4/de
Publication of JP2009014598A publication Critical patent/JP2009014598A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5165294B2 publication Critical patent/JP5165294B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P1/00Details of instruments
    • G01P1/02Housings
    • G01P1/023Housings for acceleration measuring devices
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B3/00Devices comprising flexible or deformable elements, e.g. comprising elastic tongues or membranes
    • B81B3/0002Arrangements for avoiding sticking of the flexible or moving parts
    • B81B3/0008Structures for avoiding electrostatic attraction, e.g. avoiding charge accumulation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/0802Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/125Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by capacitive pick-up
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B2201/00Specific applications of microelectromechanical systems
    • B81B2201/02Sensors
    • B81B2201/0228Inertial sensors
    • B81B2201/0235Accelerometers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81CPROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
    • B81C2203/00Forming microstructural systems
    • B81C2203/01Packaging MEMS
    • B81C2203/0118Bonding a wafer on the substrate, i.e. where the cap consists of another wafer
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81CPROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
    • B81C2203/00Forming microstructural systems
    • B81C2203/03Bonding two components
    • B81C2203/031Anodic bondings
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P2015/0805Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration
    • G01P2015/0808Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining in-plane movement of the mass, i.e. movement of the mass in the plane of the substrate
    • G01P2015/0811Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining in-plane movement of the mass, i.e. movement of the mass in the plane of the substrate for one single degree of freedom of movement of the mass
    • G01P2015/0814Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining in-plane movement of the mass, i.e. movement of the mass in the plane of the substrate for one single degree of freedom of movement of the mass for translational movement of the mass, e.g. shuttle type

Description

この発明は、加速度センサであって、特に静電容量式加速度センサに関するものである。
静電容量式加速度センサは、安定した温度特性を有し、かつ感度や精度が高めやすいなどの優れた特徴を有している。そのため優れた温度特性や高い精度が要求される車載用などへの需要が高まっている。例えば、自動車に搭載されるエアバックシステムの衝撃検出用として用いられている。
静電容量式加速度センサとしては、例えば、特許文献1に、シリコン基板上に、シリコンからなる、アンカーと、質量体と、質量体をシリコン基板との間に空間を有して空中に支持するために、アンカーと質量体の間に設けられた梁と、質量体の側面に空間を有して配置された固定電極と、これらのアンカー、梁、質量体及び固定電極の周囲を取り囲むようにして配置された補助支持部が設けられ、この補助支持部に質量体及び梁に対して空間を有したガラス基板を載置して、陽極接合したものが開示されている。
ところで、補助支持部とガラス基板を陽極接合する際、質量体はアースとなり、ガラス基板には電圧が印加される。そのため、質量体とガラス基板の間に生じる電位差により、質量体がガラス基板に引き寄せられて貼り付いてしまう問題があり、これが歩留まり低下の要因の一つとなっていた。
このような質量体がガラス基板に貼り付くのを防止する方法としては、例えば、特許文献2に、質量体に対向するガラス基板の表面に、アルミニウム膜などの金属膜を設けたものが開示されている。
特開平2001−133479号公報(段落0031、図8) 特開2002−151703号公報(段落0026及び0027、図1)
しかしながら、質量体に対向する部分のガラス基板にアルミニウム膜など金属膜を設ける場合、新たに金属膜を形成する成膜工程が必要となる。このため新たに成膜装置などの設備を準備しなければならない。このような新たな設備及び製造工程の導入は、歩留まり低下の要因となりうる。
ガラス基板に対する質量体の貼り付きを防止する別の方法として、単純に、質量体とガラス基板の間の空間を、貼り付きをしない程度に広くすることも考えられる。
しかしながら質量体とガラス基板の間の空間を広くした場合、質量体が製造中或いは搬送中に受ける振動や衝撃により、質量体が過度に変位し、質量体を支持する梁が破損する場合がある。よって、質量体とガラス基板の間の空間は極力狭いほうがよく、この空間を広くすることは、歩留まり低下に繋がり好ましくない。また質量体とガラス基板の間の空間を狭くすれば、前述したように質量体がガラス基板に貼り付いてしまうことになる。
この発明は、上記のような状況を鑑みてなされたもので、貼り付き防止膜としての金属膜を形成することなく、質量体がガラス基板に貼り付くのを防止でき、以って歩留まりの向上を実現する静電容量式加速度センサを提供することを目的とする。
この発明に係る静電容量式加速度センサは、共にガラスからなる第1の封止基板及び第2の封止基板との間に、前記第1の封止基板及び前記第2の封止基板に対し、それぞれ所定の間隔を有して空中に支持された質量体と、前記質量体に連結され、前記質量体を空中で支持し、かつ変位可能にするための弾性を有した梁と、前記質量体に対向して、所定の間隔を有して設けられた固定電極とを備えたシリコンからなる加速度検出部と、前記加速度検出部の周囲を取り囲むように設けられたシリコンからなる接合枠とを備え、前記第1の封止基板及び前記第2の封止基板の両方は、前記質量体に対向する位置に矩形に設けられた凹部を有し、かつ前記質量体が前記第1または第2の封止基板側に変位した際に前記質量体の一部が当接する当接部を有しており、前記第1および第2の封止基板のそれぞれの前記凹部の周囲に前記当接部が設けられており、前記質量体は、本体部と、前記本体部の側面に設けられた櫛状の電極とを含み、前記本体部は、中央部と、前記中央部を取り囲み、前記櫛状の電極が設けられた外周部とを有し、前記外周部で前記当接部に当接するように構成されている。
この発明によれば、質量体が第1の封止基板側又は第2の封止基板側に変位した際の質量体との当接範囲が小さくなるように、質量体が変位する方向にある第1の封止基板又は第2の封止基板、或いは第1の封止基板及び第2の封止基板に、質量体の一部が当接するような当接部を設けたので、質量体が第1の封止基板又は第2の封止基板に貼り付く際の吸着力を小さくすることができる。よって貼り付き防止膜としての金属膜を形成することなく、質量体が第1の封止基板又は第2の封止基板に貼り付くのを防止でき、歩留まりが向上する。
実施の形態1
この発明の実施の形態1について説明する。図1は、この発明の実施の形態1に係る静電容量式加速度センサを示す上面図である。また図2は、この発明の実施の形態1に係る静電容量式加速度センサを示す断面図である。図2は、図1のA−A部の断面を示す。なお、図1は、内部構造を示すために、後述する第2の封止基板が無いものを示している。
図1及び図2において、ガラス又はシリコンからなる第1の封止基板1の主面上には、加速度を検出する加速度検出部と、この加速度検出部の周囲を取り囲むように接合枠2が設けられている。この加速度検出部と接合枠2はシリコンから形成される。
加速度検出部は、側面に櫛状の電極3を備えた可動電極たる質量体4、質量体支持部5、質量体支持部5に接続された第1の電極パッド6、質量体4と質量体支持部5を連結し、かつ質量体4を中空に支持して変位可能にするための弾性を有する梁7、質量体4に面して、詳しくは質量体4の櫛状の電極3に面して、所定の間隔を有して対向配置された固定電極8、固定電極8に接続された固定電極支持部9、固定電極支持部9に接続された第2の電極パッド10により構成されている。なお、質量体支持部5、第1の電極パッド6、固定電極8、固定電極支持部9及び第2の電極パッド10は、第1の封止基板1の主面上に接合固着されている。
接合枠2の上には、加速度検出部を覆い、加速度検出部を外気から遮断するために、ガラスからなる第2の封止基板11が設けられている。第2の封止基板11は、接合枠2と陽極接合により固着されている。この第2の封止基板11には、加速度検出部の少なくとも質量体4及び梁7に対し所定の空間を有するように段差部12が設けられている。また第2の封止基板11において、当接部13は、例えば陽極接合の時に、質量体4が第2の封止基板11側に変位した際に当接する位置、換言すれば、質量体4が第2の封止基板11に吸着する位置である。この実施の形態1においては、第2の封止基板11の質量体4に対向した位置に凹部14が設けられ、質量体4の外周部、より詳細には外周部の少なくとも一部が第2の封止基板11に当接するようにしている。
凹部14の形状は、例えば、図3に示すような帯状のもの、図4に示すような矩形のもの、又は図5に示すような円形のものが考えられる。図3乃至図5は、凹部14の形状の一例を示した説明図であり、図2におけるB−B断面を示したものである。なお図3乃至図5には、質量体4を一点鎖線で示している。また、質量体4と凹部14を除く第2の封止基板11が重なり合う位置が当接部13である。
図1,2に示した静電容量式加速度センサは、半導体製造技術を用いて形成される。
二酸化珪素(SiO)のガラス又はシリコンからなる第1の封止基板1の主面上に、加速度検出部のうち、少なくとも質量体4及び梁7の形成箇所(図2においては、加速度検出部の形成箇所)が、第1の封止基板1に対して所定の空間(例えば、2〜3μm程度の空間)を有するように凹状にエッチングされたシリコンウエハを、凹状部分が第1の封止基板1と対向するようにして配置した後、互いに接合固着される。第1の封止基板1とシリコンウエハの接合は、例えば、第1の封止基板1がガラスの場合、シリコンウエハをアースとし、第1の封止基板1に負電圧を加熱しながら印加することにより陽極接合される。
次に、シリコンウエハに対し、表面研磨技術、フォトリソグラフィ技術及びエッチング技術等を用いて、接合枠2、質量体4(櫛状の電極3を含む。)、質量体支持部5、第1の電極パッド6、梁7、固定電極8、固定電極支持部9及び第2の電極パッド10が所定の厚さ(例えば、40〜50μm程度の厚さ)で形成される。
次に、二酸化珪素(SiO)のガラスからなる第2の封止基板11が、接合枠2の上に載置される。この第2の封止基板11は、加速度検出部を覆い、かつ質量体4の可動空間を確保するために用いられる。
第2の封止基板11には、加速度検出部のうち、少なくとも櫛状の電極3を含む質量体4及び梁7の形成箇所が、第2の封止基板11に対し所定の間隔(例えば、20〜40μm程度の間隔)を有するように、段差部12が形成されている。所定の間隔については、その条件の一つに質量体4が第2の封止基板11側に破損無く変位可能な範囲内、換言すれば質量体4が第2の封止基板11に当接する距離とする必要がある。図2では、加速度検出部の形成箇所が、第2の封止基板11に対し所定の間隔を有するように、凹状の段差部12が形成されている。この段差部12は、例えば、サンドブラストを用いて形成される。
さらに第2の封止基板11には、質量体4が第2の封止基板11側に変位し、第2の封止基板11に当接した際に、質量体4の外周部の少なくとも一部が、図2に示す当接部13で当接するように、第2の封止基板11の質量体4に対向する位置に凹部14が形成されている。この凹部14は、段差部12と同様、例えば、サンドブラストを用いて形成することができる。段差部12と凹部14は同じ装置を利用することができる。
最後に、加速度検出部及び接合枠2が形成されたシリコンウエハをアースとし、第2の封止基板11に負電圧を加熱しながら印加することにより、接合枠2と第2の封止基板11が陽極接合により固着される。以上により、図1及び2に示した静電容量式加速度センサが完成する。
ここで、陽極接合において、質量体4と第2の封止基板11の間に生じる電位差によって、質量体4は、第2の封止基板11の方向に変位し、第2の封止基板11に貼り付こうとする。しかし、質量体4は、質量体4の外周部、より詳細には外周部の少なくとも一部が第2の封止基板11の当接部13に当接するだけである。よって質量体4が第2の封止基板11に貼り付く際の吸着力が小さくなる。そのため質量体4の第2の封止基板11への貼り付きが防止できる。
以上のようにして形成された静電容量式加速度センサは、加速度が加わると梁7が撓んで質量体4が変位し、質量体4と固定電極8との電極間距離、詳しくは質量体4の櫛状の電極3と固定電極8との電極間距離が変動する。電極間距離が変動すれば、質量体4と固定電極8の間の静電容量も変化する。よって質量体4と固定電極8の間の静電容量の変化を検出することにより、加速度を検出することが出来る。なお、質量体4と固定電極8の間の静電容量の変化は、第1の電極パッド6及び第2の電極パッド10を用いて外部に出力される。
この発明の実施の形態1に係る静電容量式加速度センサにおいては、第2の封止基板11の質量体4に対向する位置に凹部14を設けて、質量体4が第2の封止基板11側に変位した際に当接する第2の封止基板11の当接部13を、質量体4の外周部が当接するようにしたので、質量体4が第2の封止基板11に貼り付く際の吸着力が小さくなる。よって質量体4の第2の封止基板11への貼り付きが防止できる。なおかつ、この実施の形態1によれば、質量体が過度に変位することを防止しているので、製造中或いは搬送中に受ける振動や衝撃によって、質量体を支持する梁が破損することもない。
以上説明したような静電容量式加速度センサを用いることにより、質量体4の第2の封止基板11への貼り付きが防止できるのであるが、より確実に、質量体4が第2の封止基板11に貼り付くのを防止するには、凹部14を次のようにすることが望ましい。
凹部14の形成範囲、換言すれば質量体4が第2の封止基板11に当接する当接部13の範囲は、質量体4が第2の封止基板11に当接した位置において、質量体4を第2の封止基板11に吸着させる吸着力が、梁7の弾性により質量体4を当接位置から離して所定位置に戻そうとする復元力より小さくなるようにして定める。ここで所定位置とは、質量体4が第1の封止基板1及び第2の封止基板11の方向に変位していない位置であり、静電容量式加速度センサとして機能する位置を指す。
すなわち、図6に示すように、質量体4が第2の封止基板11に当接した位置において、吸着力(FA)<復元力(FB)の関係を有するように、質量体4が第2の封止基板11に当接する範囲(当接部13の範囲)、換言すれば、凹部14の形成範囲を定める。これにより、質量体4が第2の封止基板11に貼り付くことをより確実に防止できる。なお図6は、質量体4に生じる吸着力と復元力の関係を説明する説明図である。
また、凹部14の深さは、質量体4が第2の封止基板11に当接した際に、質量体4の撓みにより、凹部14の底面にも当接するのを防止可能な深さとする。しかしながら、質量体4はシリコンで形成されており、シリコンは剛性を有するため、この撓みはあまり考慮する必要はない。
この凹部14の形成範囲及び深さは、静電容量式加速度センサが多種多様であるため、それぞれの静電容量式加速度センサに応じて決定すべきものであり、実験及び計算などで容易に求められるものである。
以上のように、この実施の形態1に係る静電容量式加速度センサにおいては、第2の封止基板11の質量体4に対向する位置に凹部14を設けて、質量体4が第2の封止基板11側に変位した際に当接する第2の封止基板11の当接部13を、質量体4の外周部、より詳細には外周部の一部が当接するようにしたので、例えば、第2の封止基板11と接合枠2の陽極接合により生じる、質量体4が第2の封止基板11に貼り付こうとする吸着力が小さくなる。そのため、質量体4の第2の封止基板11への貼り付きを防止できる。よって歩留まりが向上する。なおかつ、この実施の形態1によれば、質量体4が過度に変位することを防止しているので、製造中或いは搬送中に受ける振動や衝撃によって、質量体4を支持する梁7が破損することもない。よってより歩留まりの向上が図れる。また、第2の封止基板11の段差部12を形成する際に用いられるサンドブラストなどの方法を用いて凹部14も形成することが出来るので、新たな設備や工程を追加する必要がなく、従来の設備及び工程を利用することが可能である。よって歩留まり向上に加え製造コストの低減が図れる。
さらに、この実施の形態1に係る静電容量式加速度センサにおいては、質量体4が第2の封止基板11に当接した位置において、質量体4を第2の封止基板11に吸着させる吸着力が、梁7の弾性により質量体4を当接位置から離して所定位置に戻そうとする復元力より小さくなるようにして第2の封止基板11の当接部13を定めたので、質量体4が第2の封止基板11に貼り付くことをより確実に防止できる。よって歩留まりがより一層向上する。
この実施の形態1では、第2の封止基板11に質量体4の外周部のみが当接するように凹部14を設けたものを示した。これは、この実施の形態1で示した製造工程では、質量体4が形成された後に、第2の封止基板11と接合枠2が陽極接合されるので、この陽極接合の際に変位可能となっている質量体4が、第2の封止基板11側に変位して吸着することを防止する手段として説明したものである。
しかしながら、第1の封止基板1がガラスからなる場合において、第1の封止基板1と接合枠2を陽極接合する際に、質量体4が既に形成されているような場合は、質量体4が第1の封止基板1側に変位し吸着することが考えられる。このような場合は、図7に示すように、第1の封止基板1に質量体4の外周部のみが当接するように凹部14Aを設けてもよい(当接部は13Aとして示す。)。
要するに、接合枠2と第2の封止基板11又は第1の封止基板1との陽極接合において生じる吸着力により、質量体4が第2の封止基板11側に変位する場合は、第2の封止基板11に凹部14を形成して、質量体4の外周部が当接する当接部13を設ける。また質量体4が第1の封止基板1側に変位する場合は、第1の封止基板1に凹部14Aを形成して、質量体4の外周部が当接する当接部13Aを設ける。そして質量体4が第2の封止基板11及び第1の封止基板1のいずれにも変位する場合は、第2の封止基板11及び第1の封止基板1にそれぞれ凹部14及び凹部14Aを形成して、質量体4の外周部が当接する当接部13及び当接部13Aをそれぞれ設ければ良い。いずれの場合も、この実施の形態1で示した効果と同等の効果が得られる。
また、この実施の形態1では、陽極接合の際に生じる質量体4と第2の封止基板11又は第1の封止基板1との間の電位差により、質量体4が第2の封止基板11又は第1の封止基板1に吸着するのを防止する手段について具体的に示した。しかしながら、陽極接合に限らず、何かの要因により、例えば、製造中又は搬送中で生じる静電気などにより、質量体4と第2の封止基板11又は第1の封止基板1との間に電位差が生じ、質量体4に第2の封止基板11又は第1の封止基板1方向への吸着力が働くような場合においても、ここで示した対策が有効に働くことは言うまでもない。
実施の形態2
この発明の実施の形態2について説明する。図8は、この発明の実施の形態2に係る静電容量式加速度センサを示す断面図である。図8は、図1に示した静電容量式加速度センサのA−A部の断面を示す。
実施の形態1では、第2の封止基板11の質量体4に対向する位置に凹部14を設け、質量体4が第2の封止基板11側に変位した際に当接する第2の封止基板11の当接部13を、質量体4の外周部が第2の封止基板11に当接するようにした。実施の形態2では、質量体4の外周部が第2の封止基板11に当接するのではなく、質量体4の中央部が第2の封止基板11に当接する点で、実施の形態1とは相違する。
具体的には、実施の形態1で示した、第2の封止基板11の質量体4に対向する位置に凹部14を設けて、質量体4の外周部が当接するような第2の封止基板11の当接部13を設ける代わりに、質量体4の中央部が当接するように、質量体4に向かって突出した凸部15を有した第2の封止基板16を設けたことである。この凸部15の頂部が、質量体4が第2の封止基板16側に変位した際に当接する当接部17となる。この凸部15の当接部17と質量体4は、質量体4が第2の封止基板16側に変位していない場合は、所定の間隔(例えば、20〜40μm程度の間隔)を有している。また、第2の封止基板16の凸部15と接合枠2の間は、凸部15の裾に一致した深さを有する段差部18が設けられている。この段差部18は、少なくとも加速度検出部の質量体4及び梁7に対向する範囲において必要である。なお、第2の封止基板16は二酸化珪素のガラスからなる。その他の構成については、実施の形態1の図1及び図2で示したものと同じであるため、同一の符号を付して説明は省略する。
この凸部15の形状は、例えば、図9に示すような帯状のもの、又は図10に示すような矩形のもの、又は図11に示すような円形のもの、又は図12に示すような複数の矩形のものなどが考えられる。図9乃至図12は、凸部15の形状の一例を示した説明図であり、図8におけるC−C断面を示したものである。なお図9乃至図12には、質量体4を一点鎖線で示している。また、質量体4と第2の封止基板16の凸部15が重なり合う位置が当接部17である。
図8に示した静電容量式加速度センサにおいて、凸部15及び段差部18は、例えばサンドブラストを用いて形成することができる。凸部15及び段差部18は同じ装置を利用することができる。
そして、加速度検出部及び接合枠2が形成されたシリコンウエハをアースとし、第2の封止基板16に負電圧を加熱しながら印加することにより、接合枠2と第2の封止基板16が陽極接合により固着され、図8示した静電容量式加速度センサが完成する。図8に示した静電容量式加速度センサのその他の形成過程は、実施の形態1で示した形成過程と同等であるため、ここでの説明は省略する。
ここで、陽極接合において、質量体4と第2の封止基板16の間に生じる電位差によって、質量体4は、第2の封止基板16の方向に変位し、第2の封止基板16に貼り付こうとする。しかし、質量体4は、質量体4の中央部が第2の封止基板16の凸部15の当接部17に当接するだけである。よって、質量体4が第2の封止基板16に貼り付く際の吸着力が小さくなる。そのため質量体4の第2の封止基板16への貼り付きが防止できる。
以上のようにして形成された静電容量式加速度センサは、加速度が加わると梁7が撓んで質量体4が変位し、質量体4と固定電極8との電極間距離、詳しくは質量体4の櫛状の電極3と固定電極8との電極間距離が変動する。電極間距離が変動すれば、質量体4と固定電極8の間の静電容量も変化する。よって質量体4と固定電極8の間の静電容量の変化を検出することにより、加速度を検出することが出来る。なお、質量体4と固定電極8の間の静電容量の変化は、第1の電極パッド6及び第2の電極パッド10を用いて外部に出力される。
この発明の実施の形態2に係る静電容量式加速度センサにおいては、第2の封止基板16の質量体4の略中央に対向する位置に、質量体4に向かって突出した凸部15を設けて、質量体4が第2の封止基板16側に変位した際に当接する第2の封止基板16の当接部17を、質量体4の中央部が当接するようにしたので、質量体4が第2の封止基板16に貼り付く際の吸着力が小さくなり、質量体4の第2の封止基板16への貼り付きが防止できる。なおかつ、この実施の形態2によれば、質量体が過度に変位することを防止しているので、製造中或いは搬送中に受ける振動や衝撃によって、質量体を支持する梁が破損することもない。
以上説明したような静電容量式加速度センサを用いることにより、質量体4の第2の封止基板16への貼り付きが防止できるのであるが、より確実に、質量体4が第2の封止基板16に貼り付くのを防止するには、凸部15を次のようにすることが望ましい。
質量体4が当接する凸部15の頂部である当接部17の範囲は、質量体4が第2の封止基板16に当接した位置において、質量体4を第2の封止基板16に吸着させる吸着力が、梁7の弾性により質量体4を当接位置から離して所定位置に戻そうとする復元力より小さくなるようにして定める。ここで所定位置とは、質量体4が第1の封止基板1及び第2の封止基板16の方向に変位していない位置であり、静電容量式加速度センサとして機能する位置を指す。
すなわち、図13に示すように、質量体4が第2の封止基板16に当接した位置において、吸着力(FA)<復元力(FB)の関係を有するように、質量体4が第2の封止基板16の凸部15に当接する範囲、より詳しくは、凸部15の当接部17の範囲を定める。これにより、質量体4が第2の封止基板16に貼り付くことをより確実に防止できる。なお図13は、質量体4に生じる吸着力と復元力の関係を説明する説明図である。
また、段差部18の深さは、質量体4が凸部15に当接した際に、質量体4の撓みにより、段差部18の底面にも当接するのを防止可能な深さとする。しかしながら、質量体4はシリコンで形成されており、シリコンは剛性を有するため、この撓みはあまり考慮する必要はない。
凸部15の当接部17の範囲や段差部18の深さは、静電容量式加速度センサが多様多種であるため、それぞれの静電容量式加速度センサに応じて決定すべきものであり、実験及び計算などで容易に求められるものである。
以上のように、この実施の形態2に係る静電容量式加速度センサにおいては、第2の封止基板16の質量体4の略中央に対向する位置に、質量体4に向かって突出した凸部15を設けて、質量体4が第2の封止基板16側に変位した際に当接する第2の封止基板16の当接部17を、質量体4の中央部が当接するようにしたので、例えば、第2の封止基板16と接合枠2の陽極接合により生じる、質量体4が第2の封止基板16に貼り付こうとする吸着力が小さくなる。そのため、質量体4の第2の封止基板16への貼り付きを防止できる。よって歩留まりが向上する。なおかつ、この実施の形態2によれば、質量体4が過度に変位することを防止しているので、製造中或いは搬送中に受ける振動や衝撃によって、質量体4を支持する梁7が破損することもない。よってより歩留まりの向上が図れる。また凸部15及び段差部18は、同じサンドブラストなどの方法を用いて形成することができるので、新たな設備や工程を追加する必要がなく、従来の設備や工程を利用することが可能である。よって歩留まり向上に加え製造コストの低減が図れる。
さらに、この実施の形態2に係る静電容量式加速度センサにおいては、質量体4が第2の封止基板16に当接した位置において、質量体4を第2の封止基板16に吸着させる吸着力が、梁7の弾性により質量体4を当接位置から離して所定位置に戻そうとする復元力より小さくなるようにして第2の封止基板16の当接部17を定めたので、質量体4が第2の封止基板16に貼り付くことを、より確実に防止できる。よって歩留まりがより一層向上する。
なお、この実施の形態2によれば、凸部15が質量体4の中央部に当接するものを示したが、この当接位置は質量体4の中央部に限定されるものではない。少なくとも質量体4の一部に当接するようにして凸部15を設けてよい。
この実施の形態2では、第2の封止基板16に質量体4の中央部のみが当接する凸部15を設けたものを示した。これは、この実施の形態2で示した製造工程では、質量体4が形成された後に、第2の封止基板16と接合枠2が陽極接合されるので、この陽極接合の際に変位可能となっている質量体4が、第2の封止基板16側に変位して吸着することを防止する手段として説明したものである。
しかしながら、第1の封止基板1がガラスからなる場合において、第1の封止基板1と接合枠2を陽極接合する際に、質量体4が既に形成されているような場合は、質量体4が第1の封止基板1側に変位し吸着することが考えられる。このような場合は、図14に示すように、第1の封止基板1に質量体4の中央部のみが当接する凸部15Aを設けてもよい(当接部は17Aとして示す。)。
要するに、接合枠2と第2の封止基板16又は第1の封止基板1との陽極接合において生じる吸着力により、質量体4が第2の封止基板16側に変位する場合は、第2の封止基板16に凸部15を形成して、質量体4の中央部が当接する当接部17を設ける。また質量体4が第1の封止基板1側に変位する場合は、第1の封止基板1に凸部15Aを形成して、質量体4の中央部が当接する当接部17Aを設ける。そして質量体4が第2の封止基板16及び第1の封止基板1のいずれにも変位する場合は、第2の封止基板16及び第1の封止基板1にそれぞれ凸部15及び凸部15Aを形成して、質量体4の中央部が当接する当接部17及び当接部17Aをそれぞれ設ければ良い。いずれの場合も、この実施の形態2で示した効果と同等の効果が得られる。なお、第1の封止基板1に凸部15Aを形成する場合、凸部15Aの裾に一致した深さを有する段差部18Aが設けられる。
また、この実施の形態2では、陽極接合の際に生じる質量体4と第2の封止基板16又は第1の封止基板1との間の電位差により、質量体4が第2の封止基板16又は第1の封止基板1に吸着するのを防止する手段について具体的に示した。しかしながら、陽極接合に限らず、何かの要因により、例えば、製造中又は搬送中で生じる静電気などにより、質量体4と第2の封止基板16又は第1の封止基板1との間に電位差が生じ、質量体4に第2の封止基板16又は第1の封止基板1方向への吸着力が働くような場合においても、ここで示した対策が有効に働くことは言うまでもない。
この発明の実施の形態1に係る静電容量式加速度センサを示す平面図である。 この発明の実施の形態1に係る静電容量式加速度センサを示す断面図である。 この発明の実施の形態1に係る静電容量式加速度センサの第2の封止基板に設けられた第2の凹部の一例を示した説明図である。 この発明の実施の形態1に係る静電容量式加速度センサの第2の封止基板に設けられた第2の凹部の一例を示した説明図である。 この発明の実施の形態1に係る静電容量式加速度センサの第2の封止基板に設けられた第2の凹部の一例を示した説明図である。 この発明の実施の形態1に係る静電容量式加速度センサの可動電極に加わる吸着力と復元力の関係を説明する説明図である。 この発明の実施の形態1に係る静電容量式加速度センサの他の例を示す断面図である。 この発明の実施の形態2に係る静電容量式加速度センサを示す断面図である。 この発明の実施の形態2に係る静電容量式加速度センサの第2の封止基板に設けられた凸部の一例を示した説明図である。 この発明の実施の形態2に係る静電容量式加速度センサの第2の封止基板に設けられた凸部の一例を示した説明図である。 この発明の実施の形態2に係る静電容量式加速度センサの第2の封止基板に設けられた凸部の一例を示した説明図である。 この発明の実施の形態2に係る静電容量式加速度センサの第2の封止基板に設けられた凸部の一例を示した説明図である。 この発明の実施の形態2に係る静電容量式加速度センサの可動電極に加わる吸着力と復元力の関係を説明する説明図である。 この発明の実施の形態2に係る静電容量式加速度センサの他の例を示す断面図である。
符号の説明
1 第1の封止基板、2 接合枠、3 櫛状の電極、4 質量体、5 質量体支持部、6 第1の電極パッド、7 梁、8 固定電極、9 固定電極支持部、10 第2の電極パッド、11 第2の封止基板、12 段差部、13 当接部、13A 当接部、14 凹部、14A 凹部、15 凸部、15A 凸部、16 第2の封止基板、17 当接部、17A 当接部、18 段差部、18A 段差部

Claims (6)

  1. 共にガラスからなる第1の封止基板及び第2の封止基板との間に、
    前記第1の封止基板及び前記第2の封止基板に対し、それぞれ所定の間隔を有して空中に保持された質量体と、
    前記質量体に連結され、前記質量体を空中で支持し、かつ変位可能にするための弾性を有した梁と、
    前記質量体に対向して所定の間隔を有して設けられた固定電極とを備えたシリコンからなる加速度検出部と、
    前記加速度検出部の周囲を取り囲むように設けられたシリコンからなる接合枠とを備え、
    前記第1の封止基板及び前記第2の封止基板の両方は、前記質量体に対向する位置に矩形に設けられた凹部を有し、かつ前記質量体が前記第1または第2の封止基板側に変位した際に前記質量体の一部が当接する当接部を有しており、前記第1および第2の封止基板のそれぞれの前記凹部の周囲に前記当接部が設けられており、
    前記質量体は、本体部と、前記本体部の側面に設けられた櫛状の電極とを含み、
    前記本体部は、中央部と、前記中央部を取り囲み、前記櫛状の電極が設けられた外周部とを有し、前記外周部で前記当接部に当接するように構成されている、静電容量式加速度センサ。
  2. 前記凹部の両側に設けられた前記当接部は平坦な面で構成されている、請求項1に記載の静電容量式加速度センサ。
  3. 当接部で前記質量体が当接する範囲は、前記質量体が前記当接部に当接した位置において、前記質量体を前記当接部に吸着させようとする吸着力が、前記質量体を前記当接部から離そうとする前記梁の弾性による復元力より小さくなるように設けられていることを特徴とする請求項1または2に記載の静電容量式加速度センサ。
  4. シリコンからなる第1の封止基板とガラスからなる第2の封止基板との間に、
    前記第1の封止基板及び前記第2の封止基板に対し、それぞれ所定の間隔を有して空中に保持された質量体と、
    前記質量体に連結され、前記質量体を空中で支持し、かつ変位可能にするための弾性を有した梁と、
    前記質量体に対向して所定の間隔を有して設けられた固定電極とを備えたシリコンからなる加速度検出部と、
    前記加速度検出部の周囲を取り囲むように設けられたシリコンからなる接合枠とを備え、
    前記第1の封止基板及び前記第2の封止基板の両方は、前記質量体に対向する位置に矩形に設けられた凹部を有し、かつ前記質量体が前記第1または第2の封止基板側に変位した際に前記質量体の一部が当接する当接部を有しており、前記第1および第2の封止基板のそれぞれの前記凹部の周囲に前記当接部が設けられており、
    前記質量体は、本体部と、前記本体部の側面に設けられた櫛状の電極とを含み、
    前記本体部は、中央部と、前記中央部を取り囲み、前記櫛状の電極が設けられた外周部とを有し、前記外周部で前記当接部に当接するように構成されている、静電容量式加速度センサ。
  5. 前記凹部の両側に設けられた前記当接部は平坦な面で構成されている、請求項4に記載の静電容量式加速度センサ。
  6. 当接部で前記質量体が当接する範囲は、前記質量体が前記当接部に当接した位置において、前記質量体を前記当接部に吸着させようとする吸着力が、前記質量体を前記当接部から離そうとする前記梁の弾性による復元力より小さくなるように設けられていることを特徴とする請求項4または5に記載の静電容量式加速度センサ。
JP2007178348A 2007-07-06 2007-07-06 静電容量式加速度センサ Active JP5165294B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007178348A JP5165294B2 (ja) 2007-07-06 2007-07-06 静電容量式加速度センサ
US12/119,057 US8312770B2 (en) 2007-07-06 2008-05-12 Capacitive acceleration sensor
DE102008029586.8A DE102008029586B4 (de) 2007-07-06 2008-06-23 Kapazitiver Beschleunigungssensor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007178348A JP5165294B2 (ja) 2007-07-06 2007-07-06 静電容量式加速度センサ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009014598A JP2009014598A (ja) 2009-01-22
JP5165294B2 true JP5165294B2 (ja) 2013-03-21

Family

ID=40121671

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007178348A Active JP5165294B2 (ja) 2007-07-06 2007-07-06 静電容量式加速度センサ

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8312770B2 (ja)
JP (1) JP5165294B2 (ja)
DE (1) DE102008029586B4 (ja)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8342031B2 (en) * 2008-10-27 2013-01-01 The Regents Of The University Of California Capacitive strain sensor
US11181688B2 (en) 2009-10-13 2021-11-23 Skorpios Technologies, Inc. Integration of an unprocessed, direct-bandgap chip into a silicon photonic device
US9882073B2 (en) * 2013-10-09 2018-01-30 Skorpios Technologies, Inc. Structures for bonding a direct-bandgap chip to a silicon photonic device
CN101881785B (zh) * 2010-06-22 2011-11-30 吉林大学 四折叠梁变面积差分电容结构微加速度传感器及制备方法
JP5401414B2 (ja) * 2010-08-17 2014-01-29 三菱電機株式会社 ウエハ、ウエハの製造方法および静電容量式加速度センサの製造方法
CN102457801B (zh) * 2010-11-01 2016-03-23 北京卓锐微技术有限公司 差分mems电容式麦克风及其制备方法
GB201020722D0 (en) * 2010-12-07 2011-01-19 Atlantic Inertial Systems Ltd Accelerometer
JP2012137368A (ja) 2010-12-27 2012-07-19 Mitsubishi Electric Corp 加速度センサ
JP5790297B2 (ja) * 2011-08-17 2015-10-07 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー及び電子機器
JP5983912B2 (ja) * 2012-02-09 2016-09-06 セイコーエプソン株式会社 電子デバイスおよびその製造方法、並びに電子機器
JP5999302B2 (ja) * 2012-02-09 2016-09-28 セイコーエプソン株式会社 電子デバイスおよびその製造方法、並びに電子機器
CN102721831B (zh) * 2012-05-29 2013-11-13 北京航空航天大学 基于折叠梁结构的一体差动式石英振梁加速度计
US9134337B2 (en) * 2012-12-17 2015-09-15 Maxim Integrated Products, Inc. Microelectromechanical z-axis out-of-plane stopper
JP2014134481A (ja) * 2013-01-11 2014-07-24 Seiko Epson Corp 物理量センサー、電子機器、及び移動体
JP6344552B2 (ja) * 2014-04-18 2018-06-20 セイコーエプソン株式会社 機能素子、電子機器、および移動体
EP4063316A1 (en) * 2021-03-25 2022-09-28 Murata Manufacturing Co., Ltd. Channel for decreasing damping asymmetry

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2786321B2 (ja) * 1990-09-07 1998-08-13 株式会社日立製作所 半導体容量式加速度センサ及びその製造方法
JP2804196B2 (ja) * 1991-10-18 1998-09-24 株式会社日立製作所 マイクロセンサ及びそれを用いた制御システム
JPH06213924A (ja) * 1993-01-13 1994-08-05 Hitachi Ltd トランスジューサ、これを利用したマイクロセンサ、車両制御システム
JPH07245416A (ja) * 1994-03-02 1995-09-19 Murata Mfg Co Ltd 加速度検出装置およびその製造方法
JPH09105760A (ja) * 1995-10-09 1997-04-22 Fujikura Ltd 加速度センサ
JPH09127151A (ja) * 1995-11-01 1997-05-16 Murata Mfg Co Ltd 加速度センサ
JPH09329621A (ja) 1996-06-10 1997-12-22 Nissan Motor Co Ltd 半導体加速度センサ
JPH1090300A (ja) * 1996-09-13 1998-04-10 Omron Corp 静電容量型物理量センサ
JPH11237402A (ja) * 1998-02-19 1999-08-31 Akebono Brake Ind Co Ltd 半導体加速度センサ及びその自己診断法
JP2000187041A (ja) 1998-12-24 2000-07-04 Mitsubishi Electric Corp 容量式加速度センサ及びその製造方法
JP3678090B2 (ja) 1999-11-30 2005-08-03 松下電工株式会社 半導体加速度センサ及びその製造方法
EP1311863A4 (en) * 2000-06-21 2003-07-30 Input Output Inc ACCELEROMETER WITH FOLDED BARS
DE10038099A1 (de) * 2000-08-04 2002-02-21 Bosch Gmbh Robert Mikromechanisches Bauelement
DE10040537B4 (de) 2000-08-18 2004-05-13 Eads Deutschland Gmbh Mikromechanischer Drehratensensor und Verfahren zu seiner Herstellung
JP3346379B2 (ja) 2000-09-21 2002-11-18 三菱電機株式会社 角速度センサおよびその製造方法
JP3846170B2 (ja) 2000-09-26 2006-11-15 松下電工株式会社 半導体加速度センサ
JP4416934B2 (ja) 2000-11-13 2010-02-17 三菱電機株式会社 容量式加速度センサの製造方法
JP4306149B2 (ja) * 2001-05-28 2009-07-29 株式会社デンソー 半導体装置の製造方法
JP2003240798A (ja) * 2002-02-19 2003-08-27 Denso Corp 容量式力学量センサ
JP4455831B2 (ja) 2003-03-28 2010-04-21 株式会社デンソー 加速度センサの製造方法
JP2006226743A (ja) * 2005-02-16 2006-08-31 Mitsubishi Electric Corp 加速度センサ
JP2006133245A (ja) * 2006-02-16 2006-05-25 Mitsubishi Electric Corp 容量式加速度センサ

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009014598A (ja) 2009-01-22
DE102008029586A1 (de) 2009-01-15
US20090007669A1 (en) 2009-01-08
DE102008029586B4 (de) 2021-03-18
US8312770B2 (en) 2012-11-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5165294B2 (ja) 静電容量式加速度センサ
US7302847B2 (en) Physical quantity sensor having movable portion
JP2010025898A (ja) Memsセンサ
US20110271760A1 (en) Inertial force sensor
JP2010043929A (ja) モーションセンサ
TWI355750B (en) Capacitive sensor for dynamical quantity
JP3985796B2 (ja) 力学量センサ装置
JP4812000B2 (ja) 力学量センサ
JP2006084326A (ja) 半導体力学量センサおよびその製造方法
JP2013024762A (ja) Memsセンサ
KR20200010027A (ko) 센서 패키지
JP2011196966A (ja) 慣性センサ
US20170101307A1 (en) Semiconductor package
WO2016135852A1 (ja) 半導体装置およびその製造方法
TWI634330B (zh) Angular velocity acquisition device
JP2011245584A (ja) Mems構造体
JP5299353B2 (ja) 半導体装置
KR20110051875A (ko) 관성센서 패키지 및 관성센서 패키지의 제조 방법
JP2010190703A (ja) 半導体物理量センサ
JP5929645B2 (ja) 物理量センサ
JP2010243420A (ja) Memsセンサ及び製造方法
JP2008051729A (ja) 力学量センサ
JP2006058021A (ja) 力学量センサ
JP2001336934A (ja) センサ素子およびその製造方法
JP2011127942A (ja) 角速度センサ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20091208

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110914

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110920

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20111027

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111117

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120424

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120618

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121127

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121219

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151228

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5165294

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250