JP2000187041A - 容量式加速度センサ及びその製造方法 - Google Patents
容量式加速度センサ及びその製造方法Info
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Abstract
測定ができなくなる恐れのない容量式加速度センサ及び
その製造方法を得る。 【解決手段】 一対の固定電極2A、3Aと、これらの
間に配設された質量体4Aa、梁(図示せず)及び該梁
を介して質量体4Aaを可動可能に支持するアンカー
(図示せず)にて構成され可動電極4Aと、外枠5Aが
形成されたシリコン基板1Aと、シリコン基板1Aの両
主面に陽極接合された一対のガラス基板6A、7Aとを
備え、質量体4Aaとガラス基板6A、7Aとの間には
それぞれ隙間XA、YAが形成されており、質量体4A
aの両主面の少なくとも一方側における質量体4Aa及
び一対のガラス基板6A、7Aの対向面の少なくとも一
方に、これらの衝突を緩衝する緩衝材としてアルミニウ
ム層8を蒸着させた。
Description
とこれらの間に配設された可動部を有する可動電極とを
一対の絶縁性保護カバーにより密封した容量式加速度セ
ンサ及びその製造方法に関し、特に、前記可動部と前記
一対の絶縁性保護カバーとの衝突の衝撃緩和に関するも
のである。
グ部をシリコン基板内に形成し、該シリコン基板をガラ
ス基板でサンドイッチ状に挟み込んだ構造を為し、半導
体微細加工技術を用いて製造するため、均一な品質で、
安価、大量に製造可能であり、近年、自動車用のエアバ
ッグセンサ等の加速度検出素子として広く用いられるよ
うになった。
ける加速度センシング部を示す平面図、図11は図10
におけるA−A断面を示す模式図である。図において、
1はシリコン基板であり、シリコンウエハの異方性エッ
チングによって固定電極2、3及び可動電極4からなる
加速度センシング部と外枠5とが形成されている。6、
7はシリコン基板1の両主面にそれぞれ固着された一対
の保護カバーとしてのガラス基板であり、シリコン基板
1とは陽極接合されている。
電極3は固定電極端子部3aを備えている。そして、可
動電極4は、固定電極2、3の間に配設された可動部と
しての質量体4aと、アンカーとしての可動電極端子部
4bと、質量体4aと可動電極端子部4b間を接続する
梁4cとを備え、質量体4aは固定電極2、3とそれぞ
れ隙間Gを介して対向している。そして、外枠5はGN
D端子部5aを備え、固定電極2、3及び可動電極4を
取囲むように形成されている。また、質量体4aとガラ
ス基板6との対向面間には、シリコン基板1のエッチン
グにより隙間Xが形成されている。
部2a、3a、可動電極端子部4b及びGND端子部5
aを外部接続可能にスルーホール7aがそれぞれ形成さ
れ、各スルーホール7aから覗く固定電極端子部2a、
3a、可動電極端子部4b及びGND端子部5aの位置
にアルミニウム膜9が蒸着されていると共に、質量体4
aとの対向面に凹部7bが形成され、隙間Yが形成され
ている。さらに、固定電極2、3及び可動電極4と外枠
5との間には空隙Zが形成され、固定電極2、3及び可
動電極4が、ガラス基板6、7と外枠5とにより密封保
護されると共に、質量体4aが梁4cを介してガラス基
板6、7とシリコン基板1との接合面に平行に変位可能
に支持されている。
て固定電極2、3と質量体4aとの隙間Gの幅や質量体
4aの梁4cの幅が極めて小さなハイアスペクト比の構
造が得られるように、その両主面を単結晶シリコンウエ
ハの結晶方位が(110)の面と一致させ、この結晶面
に対して垂直となる結晶方位が(111)の面に沿って
ウエットエッチングされており、従って、図10から明
らかなように、加速度センシング部の平面形状は鋭角が
約70度、鈍角が約110度の平行四辺形を為す。な
お、10は、シリコン基板1上に隙間G等を形成するに
際し、シリコン基板1に被着された二酸化珪素膜からな
るマスクにおける、シリコン基板1とガラス基板6との
間に挟まれ、除去工程において除去されずに残った部分
である。
速度センシング部の動作について説明する。この加速度
センシング部は、アンカーとしての可動電極端子部4b
に梁4cを介して変位自在に支持された質量体4aをセ
ンシング部の質量とし、所定幅の隙間Gを介して対向す
る固定電極2、3と可動電極4との対向面をセンシング
部の容量Cの対向電極として利用している。
能方向と一致する方向に加速度が加わると、質量体4a
の変位により隙間Gの寸法が変化し、前記容量Cが前記
加速度の大小に応じて変化するので、この容量Cの変化
を計測することによりセンシング部が受けた加速度を外
付けの加速度演算手段(図示せず)により演算する。こ
の容量Cの変化を利用した容量式加速度センサは、質量
体4aの変位可能方向と一致する方向の加速度測定を可
能とし、実用に供される。
く、質量体4aの変位可能方向に直交するガラス基板
6、7側へは変位し難い構造を為すが、例えば落下等に
より大きな衝撃を受けた場合には、質量体4aがガラス
基板6、7の対向面に衝突して破損したり、また、シリ
コン基板1とガラス基板6、7の陽極接合に際して、そ
の電圧印加時に、質量体4aがガラス基板6、7の何れ
かに吸着され、電圧印加を止めた後においても、これら
の対向面が付着して離れず、加速度の測定ができなくな
る恐れがあった。
ンサは、以上のように構成されているので、例えば、落
下等により、質量体4aがガラス基板6、7の対向面に
衝突して破損する恐れがあるという問題点があった。さ
らに、シリコン基板1とガラス基板6、7の陽極接合に
際し、質量体4aとガラス基板6、7との対向面が付着
して離れず、動作不良により加速度の測定ができなくな
る恐れがあるという問題点があった。
るためになされたものであり、落下等により可動部が破
損したり、該可動部が保護カバーの対向面に付着して離
れず、動作不良により加速度の測定ができなくなる恐れ
のない容量式加速度センサ及びその製造方法を得ること
を目的とする。
式加速度センサは、一対の固定電極間に配設された可動
部を有する可動電極と、該可動部にそれぞれ隙間を介し
て対向配設された一対の保護カバーとを備えた容量式加
速度センサにおいて、前記一対の保護カバーの前記可動
部との対向面の少なくとも一方、若しくは前記可動部の
前記一対の保護カバーとの対向面の少なくとも一方に、
前記可動部と前記保護カバーとの衝突を緩衝する緩衝材
が被着されているものである。
は、一対の固定電極間に配設された可動部を有する可動
電極と、該可動部にそれぞれ間隙を設けて対向配設され
た一対の保護カバーとを備えた容量式加速度センサにお
いて、前記可動部における前記一対の保護カバーとの対
向面の少なくとも一方に、該対向面側に突起した凸部が
形成されたものである。
は、第1の発明に係わる容量式加速度センサにおいて、
可動部における一対の保護カバーとの対向面の少なくと
も一方に突起した凸部が形成され、前記一対の保護カバ
ーの少なくとも一方が前記可動部との対向面に前記可動
部と前記保護カバーとの衝突を緩衝する緩衝材を被着さ
れ、該緩衝材がアルミニウム層であるものである。
は、一対の固定電極間に配設された可動部を有する可動
電極と、該可動部にそれぞれ隙間を介して対向配設され
た一対の保護カバーとを備えた容量式加速度センサにお
いて、前記一対の保護カバーの前記可動部との対向面の
少なくとも一方、若しくは前記可動部の前記一対の保護
カバーとの対向面の少なくとも一方に、前記一対の保護
カバーと前記可動部との対向面の付着を防止する付着防
止手段を有するものである。
は、第4の発明に係わる容量式加速度センサにおいて、
付着防止手段が保護カバーの表面に被着された前記保護
カバーの材質と異なる異種材質膜からなるものである。
は、第4の発明に係わる容量式加速度センサにおいて、
付着防止手段が保護カバーの表面を非鏡面に形成したも
のである。
は、一対の固定電極間に配設された可動部を有する可動
電極と、該可動部にそれぞれ隙間を介して対向配設され
た一対の保護カバーとを備えた容量式加速度センサにお
いて、前記可動部が、該可動部における前記固定電極と
の対向面を除いて少なくとも一部がくり抜かれた凹部を
有するものである。
は、第1の発明乃至第7の発明のいずれかに係わる容量
式加速度センサにおいて、一対の保護カバーがガラス基
板にて形成され、固定電極及び可動部がシリコン基板に
て形成され、一対の前記ガラス基板と前記シリコン基板
とが陽極接合されているものである。
製造方法は、一対の固定電極と該一対の固定電極間に配
設された可動部を有する可動電極とが形成されたシリコ
ン基板の両主面に第1及び第2のガラス基板がそれぞれ
対向配設された容量式加速度センサの製造方法におい
て、前記シリコン基板の一主面に対して選択的に異方性
エッチングを行い、前記一対の固定電極と可動部を含む
可動電極の形成予定領域におけるこれらの境界に細溝を
形成し、前記細溝の形成面と前記第1のガラス基板とを
陽極接合して一体化した後、前記シリコン基板の露出し
たもう一方の主面に対して選択的に異方性エッチングを
行い、所定深さの凹部を形成し、該凹部と前記細溝とを
連通させて前記一対の固定電極と前記可動部とを分離形
成する工程を有する方法である。
製造方法は、一対の固定電極と該一対の固定電極間に配
設された可動部を有する可動電極とが形成されたシリコ
ン基板の両主面に第1及び第2のガラス基板がそれぞれ
対向配設された容量式加速度センサの製造方法におい
て、前記シリコン基板の結晶方位が(110)である一
方の主面に対して結晶方位が(111)の面に沿って選
択的に異方性エッチングを行って所定深さの凹部を形成
するに際し、濃度32重量%以上の水酸化カリウム水溶
液を用いてウエットエッチングを行い、前記凹部の周縁
の側壁に傾斜面を形成する工程と、該工程の前工程若し
くは後工程として、前記シリコン基板の他方の主面に対
して選択的に異方性エッチングを行って細溝を形成する
工程とを有し、前記細溝と前記傾斜面とを連通させて前
記一対の固定電極と前記可動部とを分離形成する方法で
ある。
形態1を図1から図3に基づき説明する。図1は容量式
加速度センサの断面を示す模式図、図2は容量式加速度
センサのガラス基板の製造方法の説明用模式図、図3は
容量式加速度センサの製造方法の説明用模式図である。
図中、従来例と同じ符号で示されたものは従来例のそれ
と同一若しくは同等なものを示す。尚、容量式加速度セ
ンサにおける平面図は図10に示した従来例とほぼ同じ
であり、図示を省略する。
シリコン基板であり、エッチングによって固定電極2
A、3A及び可動電極4Aからなる加速度センシング部
と外枠5Aとが形成されている。6A、7Aはシリコン
基板1Aの両主面にそれぞれ陽極接合された保護カバー
としての熱膨張係数がシリコンに近い厚さ約400μm
の硼珪酸系の耐熱性のガラス基板である。
固定電極3Aは固定電極端子部3Aaを備えている。ま
た、可動電極4Aは固定電極2Aと固定電極3Aとの間
に配設された可動部としての質量体4Aa、アンカーと
しての可動電極端子部(図示せず)、及び質量体4Aa
と前記可動電極端子部とを接続する梁(図示せず)にて
形成されている。そして、固定電極2A、3A及び前記
可動電極端子部がガラス基板6A、7Aに接合固着され
ると共に質量体4Aaが前記梁を介して変位可能に支持
され、かつ、外枠5Aとガラス基板6A、7Aとにより
固定電極2A、3A及び可動電極4Aを密封保護してい
る。
た凸部4Abを有し、質量体4Aaの断面形状がT字状
を為す。そして、凸部4Abの先端部にはガラス基板6
Aとの対向面4Acが形成されており、質量体4Aaが
ガラス基板6A側へ変位した場合には、凸部4Abの対
向面4Acがガラス基板6Aに当接し、質量体4Aaの
変位を規制する。
その幅がその厚さに比較して狭く、質量体4Aaはガラ
ス基板6A、7A側へは変位し難い構造を為すが、落下
等の大きな衝撃を受けるとガラス基板6A、7A側へ変
位してこれらと衝突する恐れがあり、この変位量が大き
いと受ける衝撃も大きく、前記梁若しくは質量体4Aa
が破損する恐れがある。それゆえ、質量体4Aaにガラ
ス基板6A側に突起した凸部4Abを形成し、該凸部4
Abに、そのガラス基板6A側への変位を規制するスト
ッパーとしての役割を持たせた。
aの凸部4Abとの対向面に深さ約15μmの凹部6A
aが形成され、凹部6Aaの底面には、凸部4Abとの
衝突による衝撃を緩衝するための緩衝材としての厚さ約
5μmのアルミニウム層8が蒸着により被着されてい
る。
対向面4Ad、3Aとの対向面4Aeを備え、この対向
面4Ad、4Aeは、その長さが約3000μm、厚さ
が約50μm、隙間Gの幅が約5μmの細長いスリット状
を為す。
部2Aa、3Aa、可動電極端子部(図示せず)、外枠
5AのGND端子部(図示せず)の位置にスルーホール
7Aaがそれぞれ形成されており、各スルーホール7A
aから覗く固定電極端子部2Aa、3Aa、前記可動電
極端子部、外枠5Aの前記GND端子部に外部接続可能
にアルミニウム膜9が蒸着されている。さらに、ガラス
基板7Aには、質量体4Aaとの対向面に深さ約20μ
mの凹部7Abが形成され、かつ、凹部7Abの中央部
に厚さ約10μmの凸部7Acが形成されている。
基板6Aの凹部6Aaに被着されたアルミニウム層8と
の間には約10μm幅の隙間XAが形成され、質量体4
Aaとガラス基板7Aの凸部7Acとの間にも約10μ
m幅の隙間YAが形成されている。なお、固定電極2
A、3A及び可動電極4Aと外枠5Aとの間に空隙ZA
が形成されている。
法について図2、図3を用いて説明する。図2Aは完成
したガラス基板6Aの断面を示す図であり、厚さ約40
0μmのガラス基板6Aの一方の主面に、選択的にサン
ドブラストを行って深さ約15μmの凹部6Aaを形成
し、次に、凹部6Aaに約5μmのアルミニウム層8を
蒸着した後、凹部6Aa周辺の余分なアルミニウム層を
除去してガラス基板6Aができあがる。
方法を示すものである。まず、図2Bに示すように、厚
さ約400μmのガラス基板7Aの一方の主面における
質量体(図1における4Aa)との対向面を除いてレジ
スト膜からなるマスク10Aを設け、サンドブラストに
より深さ約10μmの凹部7Abを形成する。次に、図
2Cに示すように、凹部7Abの中央部にレジスト膜か
らなるマスク10Bを設け、さらにサンドブラストによ
り凹部7Abの前記主面からの深さを約20μmとし、
凹部7Abの中央部に高さ10μmの凸部7Acを形成
する。
7Aのもう一方の主面にレジスト膜からなるマスク10
Cを設け、一対の固定電極端子部(図示せず)、可動電
極端子部(図示せず)、枠体の端子部(図示せず)に対
応する位置に、サンドブラストによりスルーホール7A
aをそれぞれ形成し、図2Eに示すごとき形状のガラス
基板7Aができあがる。
磨された厚さ約250μmのウエハ状のシリコン基板1
Aの一方の面に二酸化珪素膜からなるマスク10Dを形
成し、深さ約50μmの細溝1Aa及び溝1Abを選択
的に異方性エッチングにより形成する。
ウエハは、その主表面の結晶方位が(110)のシリコ
ンウエハであり、この表面に二酸化珪素膜からなるマス
ク10Dを形成し、例えば、濃度約20重量%の水酸化
カリウム水溶液のごとき異方性エッチング液を用いて、
結晶方位が(111)の面に沿って異方性エッチングを
行い、細溝1Aa及び溝1Abを形成する。この時、細
溝1Aaの深さが約50μmとなるようにウエットエッ
チングを行うが、同時形成される溝1Abの開口幅が細
溝1Aaの開口幅に比べて格段に広いので、必然的に細
溝1Aaよりも相当に深く形成される。
(110)の面に対して垂直となる結晶方位が(11
1)の面に沿ってエッチングするので、溝の深さdに比
べて溝幅wが極めて小さくなるようなハイアスペクト比
(例えば、w/d<0.05)の細溝1Aaが形成され
る。
Aの凹部7Abを形成した面と、シリコン基板1Aの細
溝1Aa、溝1Abを形成した面とを密着させてこれら
を陽極接合により接合する。即ち、ウエハ状のシリコン
基板1Aとガラス基板7Aとを位置合せして密着させ、
不活性雰囲気中で、例えば350℃から450℃程度の
高温に保持した状態で、ガラス基板7A側が負極
(−)、シリコン基板1Aの裏面が正極(+)になるよ
うに、例えば、200Vから1000V程度の直流電圧
を加え、数分から数時間保持した後に冷却する。この結
果、シリコン基板1Aとガラス基板7Aとの接触部分が
原子間接合されて一体となる。
1μm程度であれば、これを挟んだ状態であってもガラ
ス基板7Aとシリコン基板1Aとの陽極接合が可能であ
るので、前記接合に際し、マスク10Dを被着したまま
陽極接合する。次に、ガラス基板7Aと一体化されたシ
リコン基板1Aは、その約250μmの厚さの表面をラ
ップオフ(研削)して約140μmの厚さに、即ち、前
工程で形成した溝1Abが露出しない程度の厚さに仕上
げる。
Aと一体化されたシリコン基板1Aの表面に、比較的低
温で被着可能な窒化珪素膜からなるマスク10Eを設け
て選択的にシリコン異方性エッチングを行い、質量体4
Aaの固定電極2A、3Aとの対向面近傍、即ち、間隙
Gの部分が約50μmの厚さに形成されるように、深さ
約90μmの凹部1Acを、その中央部に凸部1Adを
残すように形成すると共に、溝1Aeを形成し、凹部1
Acと先に形成した細溝1Aaとを連通させることによ
り隙間Gを、溝1Aeと先に形成した溝1Abとを連通
させることにより空隙ZAを形成し、シリコン基板1A
を固定電極2A、3A、凸部4Abを有する質量体4A
a、及び外枠5A等に分離する。
さ約250μmのシリコンウエハを用いた理由はハンド
リングの容易さからであり、ガラス基板7Aと一体化後
のシリコン基板1Aをラップオフして薄形化を図った理
由は、ガラス基板7Aが約400μmの厚さを有し、ハ
ンドリング上の問題がないので、厚さ約50μmの質量
体4Aaを形成するに際し、凹部1Acのエッチング深
さをできるだけ浅くするためである。
コン基板1Aの露出したマスク10D、10Eを溶解除
去した後、図3Iに示すように、シリコン基板1Aの表
面にガラス基板6Aの凹部6Aaが形成され、アルミニ
ウム層8が被着された面を密着させて陽極接合する。即
ち、シリコン基板1Aとガラス基板7Aとの陽極接合の
場合とほぼ同じ環境下で、ガラス基板7Aの側が負極
(−)、ガラス基板6Aの側が正極(+)になるように
直流電圧を印加して直接接合する。次に、図1に示すご
とく、シリコン基板1Aにおけるガラス基板7Aの各ス
ルーホール7Aaから覗ける位置の表面に厚さ約3μm
のアルミニウム薄膜9を被着し、加速度センサが完成す
る。
リコン基板1Aの一方の主面における固定電極2A、3
Aと質量体4Aaとを分離する隙間Gを形成するに際し
て、図3Fに示すごとく、シリコン基板1Aがガラス基
板7Aとの陽極接合前であるので、細溝1Aaを形成す
るためのマスク10Dとして、1000℃以上の高温処
理を要するがシリコン基板1Aの表面に対して密着性が
極めて優れた二酸化珪素膜を形成でき、水酸化カリウム
水溶液を用いたウエットエッチングにおいて、このエッ
チング液がシリコン基板1Aと前記二酸化珪素膜との接
合面の間に浸入することがなく、極めて優れたハイアス
ペクト比の隙間Gが得られる。
センシング部の可動部質量とし、隙間Gで対向する固定
電極2A、3Aと質量体4Aaにおける固定電極2A、
3Aとの対向面4Ad、4Aeとがセンシング部の容量
Cの対向電極として利用され、この対向電極の容量Cの
変化の測定により質量体4Aaの変位可能方向に加わる
加速度を測定する。
図4、図5に基づき説明する。図4は容量式加速度セン
サの断面を示す模式図、図5は容量式加速度センサの製
造方法の説明用模式図である。なお、図4に示した容量
式加速度センサは、図1に示した実施の形態1の容量式
加速度センサとは、後述するその製造方法が異なり、シ
リコン基板1Aが厚さ約70μmに形成され、ガラス基
板6Aの凹部6Aaに設けられた緩衝材として金/クロ
ム層8Aが形成された点を除いて、即ち、凹部6Aaに
クロム層を被着し、その上に金層を被着した点を除いて
図1に示したものと同じ構造であり、図4に示した構造
の説明を省略する。なお、10Fはシリコン基板1Aの
主面に被着した後述のマスクである。
示した加速度センサの製造方法を説明する。図3に示し
た実施の形態1の製造方法とは、シリコン基板1Aに対
する細溝1Aa、溝1Abを形成する工程と、凹部1A
c、溝1Aeを形成する工程の順序が逆になっている点
が大きな相違点であり、その他の工程は図3に示した製
造方法とほぼ同じである。
μmのシリコン基板1Aの一方の面に二酸化珪素膜から
なるマスク10Fを設けてエッチングにより、中央部に
凸部1Adを残すように厚さ約20μmの凹部1Acと
溝1Aeとを形成し、図5Kに示すように、凹部1Ac
の形成面にマスク10Fを再被着し、ガラス基板6Aに
おける凹部6Aaが形成され、金/クロム層8Aが被着
された面と、シリコン基板1Aの凹部1Acの形成面と
を密着させて陽極接合により一体化後、シリコン基板1
Aの表面をラップオフして約70μmの厚さにに仕上げ
る。
1Aの表面に比較的低温で形成可能な窒化珪素膜からな
るマスク10Gを設けて選択的にシリコン異方性エッチ
ングを行って細溝1Aa、溝1Abを形成し、これらと
先に形成した凹部1Ac、溝1Aeとをそれぞれ連通さ
せて隙間G、空隙ZAを形成する。
コン基板1Aの露出したマスク10F、10Gを溶解除
去した後、図5Mに示すように、シリコン基板1Aの主
面とガラス基板7Aにおける凹部7Abの形成面と密着
させて陽極接合し、シリコン基板1Aにおけるガラス基
板7Aのスルーホール7Aaから覗ける位置に厚さ約3
μmのアルミニウム薄膜9を被着して図4に示すごとき
加速度センサが完成する。
溝1Aaを形成するためのマスク10Gとして、シリコ
ン基板1Aがガラス基板6Aと陽極接合された後である
ので、比較的低温で形成可能な窒化珪素膜を形成する。
なお、細溝1Aaを形成するためのエッチングが最後の
ウエットエッチングとなるため、形成済の細溝1Aaが
後工程のエッチング液に暴露されて変形する恐れがな
く、処理工程が簡単となる。
形成される凹部1Ac、溝1Aeはそのエッチング深さ
に対して充分に幅広の開口幅のため、同時エッチングに
よりほぼ同じ深さに形成できる。従って、厚さ約50μ
mの質量体4Aaを形成するために、ガラス基板6Aと
一体化されたシリコン基板1Aを、凹部1Ac及び溝1
Aeを約20μmの深さに形成後、約70μmの厚さにラ
ップオフし、凸部4Abの厚さが約20μmの極めて軽
量な質量体4Aaが得られた。
いて、ガラス基板6Aの凹部6Aaに設けられた緩衝材
層が後工程のエッチング液に暴露されるので、アルミニ
ウム層8では前記エッチング液の暴露に耐えられないの
で、エッチング液に対する耐性の優れた金/クロム層8
A等を選定する必要がある。
造方法において、ガラス基板6Aと一体化前のシリコン
基板1Aの両主面に、二酸化珪素膜を形成しておき、ガ
ラス基板6Aと一体化後においてラップオフを行わず、
形成済の前記二酸化珪素膜をマスクとして利用して隙間
Gを形成すれば、図3に示した製造方法の場合と同様な
ハイアスペクト比の隙間Gを得ることができる。
50μmのシリコンウエハを用いると、厚さ約50μmの
質量体4Aaを得るために、深さ約200μmの凹部1
Ac及び溝1Aeの形成を要するので、厚さ70μm以
上、かつ、ハンドリング上許容される範囲で、できるだ
け薄いシリコンウエハを選定する。
の形態2としての容量式加速度センサは、実用に供され
る前の取扱の不注意により、例えば、落下により大きな
衝撃が加わり、質量体4Aaが図面上の上下方向、即
ち、シリコン基板1A面に垂直な方向に急峻に変位して
ガラス基板6A、7Aの対向面に衝突しても、ガラス基
板6Aにおける質量体4Aaと約10μmの隙間を介し
て対向する対向面に緩衝材としてのアルミニウム層8若
しくは金/クロム層8Aが被着されており、衝撃が緩衝
されるので衝突による破損の恐れが極めて少ない。
としての容量式加速度センサは、緩衝材としてのアルミ
ニウム層8若しくは金/クロム層8Aをガラス基板6A
の凹部6Aaに被着させたが、前記緩衝材の被着位置は
ガラス基板6Aの凹部6Aaに限定されるものではな
く、ガラス基板7Aの凸部7Acに形成しても同様な耐
衝撃効果が得られる。また、質量体4Aaの凸部4Ab
におけるガラス基板6Aとの対向面4Ac及び質量体4
Aaにおけるガラス基板7Aとの対向面の少なくとも何
れかに形成しても耐衝撃効果が得られる。
すると共に、ガラス基板7Aの凸部7Acにおける質量
体4Aaとの対向面7Adにも被着すれば、より確実な
緩衝効果が得られる。
図6に基づき説明する。図6は容量式加速度センサの断
面を示す模式図である。図6において、11はガラス基
板7Aの凸部7Acにおける可動電極4Aの質量体4A
aとの対向面に設けられた付着防止手段としての窒化珪
素膜である。なお、図6に示した容量式加速度センサ
は、ガラス基板7Aに付着防止手段としての窒化珪素膜
11が被着された点を除き、図1に示した容量式加速度
センサと同じものであり、構造の説明を省略する。
化珪素膜11は約1μmの厚さを有し、シリコン基板1
Aとガラス基板7Aとの陽極接合に際し、高温に暴露さ
れた状態で、鏡面仕上げされている質量体4Aaがガラ
ス基板7Aに吸着されても、窒化珪素膜11の存在によ
り質量体4Aaとガラス基板7Aとが化学的に接合され
る現象を防止でき、その復元力で容易に離れ、これらが
付着したまま離れずに動作不良となり、加速度の測定が
できなくなるトラブルを防止できる。
は、付着防止手段としての窒化珪素膜11をガラス基板
7Aの凸部7Acに被着したが、窒化珪素膜11の被着
位置はガラス基板7Aの凸部7Acに限定されるもので
はなく、質量体4Aaにおけるガラス基板7Aとの対向
面に形成しても、即ち、質量体4Aaとガラス基板6A
若しくはガラス基板7Aの対向面のうち、陽極接合に際
し、吸着される可能性のある側における対向面の何れか
に形成しても相応の付着防止効果が得られる。
化珪素膜11に限定する必要はなく、ガラス基板6A、
7Aと異質材料の薄膜であればよく、例えば、緩衝材と
してのアルミニウム層8や金/クロム層8A等でも付着
防止効果が得られる。
図7から図9に基づき説明する。図7は容量式加速度セ
ンサの断面を示す模式図であり、図8、図9は容量式加
速度センサの製造方法の説明用模式図である。図7にお
いて、1Bはシリコン基板であり、エッチングによって
固定電極2B、3B、可動電極4Bからなる加速度セン
シング部及び外枠5Bが形成されており、シリコン基板
1Bの両主面には、熱膨張係数がシリコンに近い硼珪酸
系の耐熱ガラス製のガラス基板6、7Bが陽極接合され
ている。
Baを、固定電極3Bは固定電極端子部3Baを備えて
おり、可動電極4Bは固定電極2Bと固定電極3Bとの
間に配設された可動部としての質量体4Ba、アンカー
としての可動電極端子部(図示せず)及び前記可動電極
端子部と質量体4Baとを接続する梁(図示せず)から
なり、質量体4Baはガラス基板6との対向面に凹部4
Bbが形成されている。また、ガラス基板7Bは、その
凸部7Bcの表面に質量体4Baとの付着を防止する付
着防止手段として、凸部7Bcに粗いサンドによるサン
ドブラストにより非鏡面としての凹凸面7Bdが形成さ
れている。
形態1から実施の形態3のものとの大きな相違点は、質
量体4Baのガラス基板6との対向面側に凹部4Bbが
形成され、該凹部4Bbは底面が平面状で、周縁部4B
cが傾斜面を為し、この傾斜面に隙間Gが開口している
点にある。この結果として、質量体4Baは、その中央
部がくり抜かれた形状をなし、対向面4Bd、4Beの
面積比質量を軽量化したものが得られた。
面に、非鏡面である目の荒い凹凸面7Bdが形成されて
いる点が、図6に示したガラス基板7Aと異なる。凹凸
面7Bdは、図6に示したガラス基板7Aの付着防止手
段として窒化珪素膜11と同じく、質量体4Baとの付
着防止手段として役割を有する。
製造方法について図8に基づき説明する。図8Nに示し
たシリコン基板1Bとガラス基板7Bとを一体に接合し
たものを製造する工程、即ち、両面が鏡面研磨された厚
さ約250μmの結晶方位が(110)であるウエハ状
のシリコン基板1Bの一方の面に細溝1Ba、溝1Bb
を形成し、さらに、ガラス基板7Bの凹部7Bb形成面
とシリコン基板1Bの細溝1Ba、溝1Bb形成面とを
マスク10Dを残したまま陽極接合により一体化し、シ
リコン基板1Bの露出した面を所定の厚さにラップオフ
する工程は、図3に示した実施の形態1としての容量式
加速度センサの製造方法と同じである。
Bと一体化されたシリコン基板1Bの表面に窒化珪素の
マスク10Hを被着し、濃度約32重量%以上の水酸化
カリウム水溶液を用いて選択的にシリコン異方性エッチ
ングを行って所定の厚さの凹部1Bc、溝1Bdを形成
し、先に形成した細溝1Ba、溝1Bbとそれぞれ連通
させることにより、隙間G、空隙ZBを形成する。
するに際して、異方性エッチング液として濃度約32重
量%以上の水酸化カリウム水溶液を用いて異方性エッチ
ングを行う点にある。即ち、結晶方位が(110)のシ
リコンウエハに対して、濃度約32重量%以上の水酸化
カリウム水溶液を用いて結晶方位が(111)の面に沿
って異方性エッチングを行う。この結果、図8Pに拡大
して示すごとく、凹部1Bcの断面形状は、その周縁壁
が垂直状、底面が平面状を為し、前記周縁壁と前記底面
とが接する端部に傾斜面1Beが形成される。そして、
傾斜面1Beと先のエッチング工程で形成した細溝1B
aとが交差して連通し、隙間Gが形成される。
同様な製造工程を経て、図7に示すごとき、固定電極2
B、3Bとの対向面比質量を大幅に軽減じた質量体4B
aを備えた容量式加速度センサを完成する。
施の形態1の製造方法と同じく、シリコン基板1Bに隙
間Gを形成するに際して、ガラス基板7Bとの陽極接合
前に細溝1Baを形成するので、密着性が極めて優れた
二酸化珪素膜からなるマスク10Dを形成でき、エッチ
ング液がシリコン基板1Bと前記二酸化珪素膜との接合
面に浸入しないので、優れたハイアスペクト比の隙間G
が得られる。
別の製造方法について図9に基づき説明する。図8に示
した製造方法とは、シリコン基板1Bに対する細溝1B
a、溝1Bbを形成する工程と、凹部1Bc、溝1Bd
を形成する工程の順序が逆になっている点が異なる。
被着し、異方性エッチング液として濃度約32重量%以
上の水酸化カリウム水溶液を用いて選択的に異方性エッ
チングを行い、周縁部が垂直状、底面が平面状、周縁壁
と底面とが接する端部に傾斜面が形成された断面形状の
凹部1Bc、溝1Bdを形成し、凹部1Bcの形成面に
マスク10Hを再被着してガラス基板6とシリコン基板
1Bの凹部1Bcの形成面とを密着させて陽極接合によ
り一体化した後、シリコン基板1Bを所定の厚さにラッ
プオフすることにより図9Qに示したものを得る。
1Bの表面に窒化珪素膜からなるマスク10Gを被着
し、選択的に異方性エッチングを行って細溝1Ba、溝
1Bbを形成し、図9Sに拡大して示すごとく、先に形
成した凹部1Bcの傾斜面1Beと細溝1Baとを連通
させ、隙間Gを形成し、同時に、図9Rに示すごとく、
先のエッチング工程で形成した溝1Bbと溝1Bdとが
連通して空隙ZBを形成する。
製造工程を経て、固定電極2B、3Bとの対向面の面積
比質量を大幅に軽減した質量体4Baを備えた容量式加
速度センサを完成する。なお、図9R、図9Sに示すご
とく、マスク10Hの残部分がシリコン基板1Bとガラ
ス基板6とに挟まれた位置に存在し、図7に示したもの
とは異なるが、製造工程の差異によるもので性能上の差
異はない。
るに際して、ガラス基板6との陽極接合後に細溝1Ba
を形成するので、マスク10Gとして比較的低温で形成
可能な窒化珪素膜を形成する。なお、細溝1Baを形成
するためのエッチングが最後のウエットエッチングとな
るため、形成済の細溝1Baが後工程のエッチング液に
暴露されて変形する恐れがなく、処理工程が簡単とな
る。
式加速度センサは、質量体4Baにおける固定電極2、
3との対向面4Bd、4Beの面積に比較してその質量
が小さく、軽量であるので、慣性が比較的小さくて応答
性に優れると共に、落下等により受ける衝撃も小さく、
破損等のトラブルが生じ難い。
は、付着防止手段として、ガラス基板7Bの凸部7Bc
における質量体4Baとの対向面に非鏡面である凹凸面
7Bdを形成したので、物理的に密着したまま離れない
所謂付着を防止できる効果がある。なお、凹凸面7Bd
に窒化珪素膜11等の付着防止膜を形成すれば、相乗効
果により、さらに優れた付着防止効果が得られる。
態4においては、保護カバーとして、熱膨張係数がシリ
コン基板1A、1Bとほぼ等しい耐熱性のガラス基板を
用いたが、耐熱性のガラス材に限定されるものではな
く、シリコン基板1A、1Bに形成された加速度センシ
ング部を機械的に保護すると共に電気的に絶縁できる材
料であればよく、例えば、シリコン基板を用いても、こ
のシリコン基板の表面にシリコン酸化膜等の絶縁膜が形
成されていれば、同様な効果が得られる。
いては、400μm程度の厚さの耐熱性のガラス基板を
用いたが、前記ガラス基板の厚さは400μm程度に限
定する必要はなく、例えば50μmから1000μmの
範囲であってもよい。即ち、前記ガラス基板は、下限5
0μm以上の厚さであれば、サンドブラストや、シリコ
ン基板との位置合せや陽極接合等の一連の貼り合せ作業
工程において良好なハンドリング性が得られ、また、上
限1000μm以下の厚さであれば、陽極接合が容易で
接合不良等を生じ難いものが得られる。
いては、加速度センシング部の形成に際して、シリコン
基板1A、1Bの異方性エッチングを、水酸化カリウム
水溶液をエッチング液として用いたウエットエッチング
により実施したが、シリコン基板1A、1Bの異方性エ
ッチングは、ウエットエッチングに限定されるものでは
なく、例えば、活性ガスプラズマを用いたドライエッチ
ングであっても、同様な精度の質量体や隙間Gを有する
ものが得られる。
いては、質量体4Aaに凸部4Abを形成し、質量体4
Aaの断面形状をT字状に形成したが、質量体4Aaの
断面形状はT字状に限定されるものではなく、例えば、
幅の狭い複数の凸部(図示せず)を形成しても同様な効
果が得られる。また、実施の形態4において、質量体4
Baには上記凸部に相当するものを形成していないが、
質量体4Baにおけるガラス基板6との対向面側の略中
央部に凸部(図示せず)を形成し、ガラス基板6との対
向面側方向への質量体4Baの変位を規制するストッパ
ーとすることができる。
の可動部との対向面の少なくとも一方、若しくは前記可
動部の前記一対の保護カバーとの対向面の少なくとも一
方に、前記可動部と前記保護カバーとの衝突を緩衝する
緩衝材を被着したので、落下衝撃を受けても前記可動部
の破損が生じ難い容量式加速度センサが得られる効果が
ある。
る一対の保護カバーとの対向面の少なくとも一方に、該
対向面側に突起した凸部を形成したので、前記保護カバ
ーとの対向面側への衝撃力を受けても、前記凸部の先端
が前記保護カバーと当接することにより、前記可動部の
前記保護カバー方向への変位を規制するストッパーとし
て働き、簡単な構成で落下衝撃を効果的に低減すること
ができ、結果的に破損の生じ難い容量式加速度センサが
得られる効果がある。
る一対の保護カバーとの対向面の少なくとも一方に突起
した凸部を形成し、前記一対の保護カバーの少なくとも
一方に、前記可動部と前記保護カバーとの衝突を緩衝す
る緩衝材を被着し、該緩衝材としてアルミニウム層を用
いたので、前記可動部が受ける衝撃力を有効に緩和でき
ると共に前記緩衝材が安価で被着容易であり、緩衝効果
の優れた容量式加速度センサが安価に得られる効果があ
る。
バーの可動部との対向面の少なくとも一方、若しくは前
記可動部の前記一対の保護カバーとの対向面の少なくと
も一方に、前記可動部と前記保護カバーとの付着を防止
する付着防止手段を備えたので、前記可動部が前記保護
カバーと密着しても離間不能による誤動作の恐れのない
高信頼性の容量式加速度センサが得られる効果がある。
として保護カバーの表面に前記保護カバーとは異種材質
の膜を被着したので、前記保護カバーの製造工程におい
て、可動部と前記保護カバーとが密着しても化学的に接
合する恐れがなく、製造時の不良発生を防止できる容量
式加速度センサを安価に得られる効果がある。
として保護カバーの表面を非鏡面に形成したので、可動
部が前記保護カバーと密着しても離間不能になる恐れが
少ないと共に、前記凹凸は前記保護カバーの製造工程に
おいて容易かつ安価に得られるので、高信頼性の容量式
加速度センサを安価に得られる効果がある。
極間に配設された可動部における前記固定電極との対向
面を除いて少なくとも一部がくり抜かれた凹部を有する
ので、前記可動部における固定電極との対向面の面積比
質量を大幅に軽減でき、慣性が極めて小さく、応答性が
優れると共に、落下衝撃にも破損が生じ難い容量式加速
度センサが得られる効果がある。
バーをガラス基板により、一対の固定電極及び可動部を
シリコン基板にて形成し、前記一対のガラス基板と前記
シリコン基板とを陽極接合したので、センシング部の密
閉保護に優れた高信頼性の容量式加速度センサが得られ
る効果がある。
一体化される前のシリコン基板に対して選択的に異方性
エッチングを行い、一対の固定電極と可動部を分離する
細溝を形成するようにしたので、該細溝を形成するマス
クとして、ガラス基板と一体化後では不可能な高温処理
を要する二酸化珪素膜をガラス基板の主面に被着でき、
極めて良好なハイアスペクト比の細溝を形成できるの
で、一対の固定電極と前記可動部との対向面の隙間が小
さくかつ寸法精度が良好で、応答性が極めて優れた容量
式加速度センサを製造できる方法が得られる効果があ
る。
電極と可動部を含む可動電極とをシリコン基板の主面に
形成すべく、前記シリコン基板の結晶方位が(110)
である一方の主面に対して結晶方位が(111)の面に
沿って選択的に異方性エッチングを行って所定深さの凹
部を形成するに際し、濃度32重量%以上の水酸化カリ
ウム水溶液を用いてウエットエッチングを行い、前記凹
部の周縁の側壁に傾斜面を形成し、前工程若しくは後工
程で、前記シリコン基板の他方の主面に対して形成した
細溝と前記傾斜面とを連通させて前記一対の固定電極と
前記可動部とを分離形成したので、一対の固定電極と前
記可動部との対向面の隙間が小さくかつ寸法精度が良好
であると共に、該可動部における一対の固定電極のそれ
ぞれとの対向面の面積比質量を軽減でき、慣性が比較的
小さく、応答性が優れると共に、落下衝撃により破損が
生じ難い容量式加速度センサを容易に製造できる方法が
得られる効果がある。
度センサの断面を示す模式図である。
ラス基板の製造方法の説明用模式図である。
の説明用模式図である。
度センサの断面を示す模式図である。
の説明用模式図である。
度センサの断面を示す模式図である。
度センサの断面を示す模式図である。
の説明用模式図である。
方法の説明用模式図である。
る。
の断面を示す模式図である。
Ac、1Bc 凹部、1Be 傾斜面、2A、2B、3
A、3B 固定電極、4A、4B 可動電極、4Aa、
4Ba 可動部、4Ab 凸部、4Bb 凹部、5A、
5B 外枠、6、6A、7A、7B ガラス基板、7A
c、7Bc 凸部、7Bd 凹凸面、8アルミニウム
層、8A 金/クロム層、11 窒化珪素膜
Claims (10)
- 【請求項1】 一対の固定電極間に配設された可動部を
有する可動電極と、該可動部にそれぞれ隙間を介して対
向配設された一対の保護カバーとを備えた容量式加速度
センサにおいて、前記一対の保護カバーの前記可動部と
の対向面の少なくとも一方、若しくは前記可動部の前記
一対の保護カバーとの対向面の少なくとも一方に、前記
可動部と前記保護カバーとの衝突を緩衝する緩衝材が被
着されていることを特徴とする容量式加速度センサ。 - 【請求項2】 一対の固定電極間に配設された可動部を
有する可動電極と、該可動部にそれぞれ間隙を設けて対
向配設された一対の保護カバーとを備えた容量式加速度
センサにおいて、前記可動部は前記一対の保護カバーと
の対向面の少なくとも一方に、該対向面側に突起した凸
部が形成していることを特徴とする容量式加速度セン
サ。 - 【請求項3】 可動部は一対の保護カバーとの対向面の
少なくとも一方に突起した凸部が形成され、前記一対の
保護カバーの少なくとも一方は前記可動部との対向面に
前記可動部と前記保護カバーとの衝突を緩衝する緩衝材
が被着され、該緩衝材はアルミニウム層であることを特
徴とする請求項1記載の容量式加速度センサ。 - 【請求項4】 一対の固定電極間に配設された可動部を
有する可動電極と、該可動部にそれぞれ隙間を介して対
向配設された一対の保護カバーとを備えた容量式加速度
センサにおいて、前記一対の保護カバーの前記可動部と
の対向面の少なくとも一方、若しくは前記可動部の前記
一対の保護カバーとの対向面の少なくとも一方に、前記
一対の保護カバーと前記可動部との対向面の付着を防止
する付着防止手段を有することを特徴とする容量式加速
度センサ。 - 【請求項5】 付着防止手段は保護カバーの表面に被着
された前記保護カバーの材質と異なる異種材質膜からな
ることを特徴とする請求項4記載の容量式加速度セン
サ。 - 【請求項6】 付着防止手段は保護カバーの表面を非鏡
面に形成したものであることを特徴とする請求項4記載
の容量式加速度センサ。 - 【請求項7】 一対の固定電極間に配設された可動部を
有する可動電極と、該可動部にそれぞれ隙間を介して対
向配設された一対の保護カバーとを備えた容量式加速度
センサにおいて、前記可動部は、該可動部における前記
固定電極との対向面を除いて少なくとも一部がくり抜か
れた凹部を有することを特徴とする容量式加速度セン
サ。 - 【請求項8】 一対の保護カバーはガラス基板にて形成
され、固定電極及び可動部はシリコン基板にて形成さ
れ、一対の前記ガラス基板と前記シリコン基板とは陽極
接合されていることを特徴とする請求項1乃至請求項7
のいずれかに記載の容量式加速度センサ。 - 【請求項9】 一対の固定電極と該一対の固定電極間に
配設された可動部を有する可動電極とが形成されたシリ
コン基板の両主面に第1及び第2のガラス基板がそれぞ
れ対向配設された容量式加速度センサの製造方法におい
て、前記シリコン基板の一主面に対して選択的に異方性
エッチングを行い、前記一対の固定電極と可動部を含む
可動電極の形成予定領域におけるこれらの境界に細溝を
形成し、前記細溝の形成面と前記第1のガラス基板とを
陽極接合して一体化した後、前記シリコン基板の露出し
たもう一方の主面に対して選択的に異方性エッチングを
行い、所定深さの凹部を形成し、該凹部と前記細溝とを
連通させて前記一対の固定電極と前記可動部とを分離形
成する工程を有することを特徴とする容量式加速度セン
サの製造方法。 - 【請求項10】 一対の固定電極と該一対の固定電極間
に配設された可動部を有する可動電極とが形成されたシ
リコン基板の両主面に第1及び第2のガラス基板がそれ
ぞれ対向配設された容量式加速度センサの製造方法にお
いて、前記シリコン基板の結晶方位が(110)である
一方の主面に対して結晶方位が(111)の面に沿って
選択的に異方性エッチングを行って所定深さの凹部を形
成するに際し、濃度32重量%以上の水酸化カリウム水
溶液を用いてウエットエッチングを行い、前記凹部の周
縁の側壁に傾斜面を形成する工程と、該工程の前工程若
しくは後工程として、前記シリコン基板の他方の主面に
対して選択的に異方性エッチングを行って細溝を形成す
る工程とを有し、前記細溝と前記傾斜面とを連通させて
前記一対の固定電極と前記可動部とを分離形成すること
を特徴とする容量式加速度センサの製造方法。
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JP10366827A JP2000187041A (ja) | 1998-12-24 | 1998-12-24 | 容量式加速度センサ及びその製造方法 |
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JP2006039112A Division JP2006133245A (ja) | 2006-02-16 | 2006-02-16 | 容量式加速度センサ |
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