JP5088305B2 - 金属材料中の析出物及び/又は介在物の分析方法 - Google Patents
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Description
本発明は、かかる事情に鑑みなされたもので、金属試料中に存在する析出物等(特に、大きさ1μm以下)を損失すること無く分離し、析出物等の大きさ別の分析を精度良く行う分析方法を提供する。
まず、上述の従来の方法の問題点を整理すると、析出物等の分散媒として析出物等に対して分散性の低いメタノールを用いるという根本的な問題点があげられる。そして、これにより、特に微細な析出物の大きさ別分析を妨げていたものと推測される。つまり、特許文献1〜3と非特許文献1〜3は、析出物等に対し分散性の低いメタノールを分散媒としているため、超音波などの物理的作用を与えたとしても、大きさ1μm以下の析出物等は凝集してしまい、分散性の低い溶媒・溶液中において、凝集体を完全に乖離させることは難しいと考えられる。
しかしながら、鉄鋼材料の中には、電解中もしくは電解後に析出物等の一部が電解液中に脱落するケースが確認された。従って、金属試料中に存在する析出物等(特に、大きさ1μm以下)を損失すること無く分離し析出物等の大きさ別の分析を精度良く行うためには、電解後の試料残部に付着した析出物等を直接分散性溶液中に回収する以外に、電解液中に脱落した析出物等を回収する必要がある。しかしながら、脱落した析出物等が微細な場合には、回収するのが難しい。
(あ)電解後の電解液の中に含まれる析出物及び/又は介在物を、捕集用フィルタによりろ過捕集する。
(い)捕集用フィルタを分散性を有する溶液に浸漬して、前記電解液中の析出物及び/又は介在物を分離する。
[1]金属試料を電解する電解ステップと、前記電解後の金属試料の残部を、分散性を有する溶液に浸漬して、前記金属試料中の析出物及び/又は介在物を分離する分離ステップAと、前記電解後の電解液の中に含まれる析出物及び/又は介在物を、捕集用フィルタによりろ過捕集した後、該捕集用フィルタを分散性を有する溶液に浸漬して、前記電解液中の析出物及び/又は介在物を分離する分離ステップBと、前記分離ステップAおよび前記分離ステップBにより分離された析出物及び/又は介在物を分析する分析ステップとを有することを特徴とする金属材料中の析出物及び/又は介在物の分析方法。
[2]前記[1]において、前記分散性を有する溶液は、分析対象の析出物及び/又は介在物に対するゼータ電位の絶対値が30mV以上であることを特徴とする金属材料中の析出物及び/又は介在物の分析方法。
[3]前記[1]または[2]において、前記分析ステップでは、大きさが1μm以下の析出物及び/又は介在物を分析することを特徴とする金属材料中の析出物及び/又は介在物の分析方法。
[4]前記[1]〜[3]のいずれかにおいて、前記分析ステップでは、前記金属試料の残部に付着した析出物及び/又は介在物を分析することを特徴とする金属材料中の析出物及び/又は介在物の分析方法。
[5]前記[1]〜[4]のいずれかにおいて、前記分析ステップは、前記溶液中に分離された析出物及び/又は介在物を1以上の分別フィルタにより1回以上ろ過する分別操作と、前記各分別フィルタに捕集された析出物及び/又は介在物、ろ液中に回収された析出物及び/又は介在物のうちの少なくとも1以上を分析する分析操作とを有することを特徴とする金属材料中の析出物及び/又は介在物の分析方法。
[6]前記[1]〜[4]のいずれかにおいて、前記分析ステップでは、以下の工程を行うことを特徴とする金属材料中の析出物及び/又は介在物の分析方法。
1)電解終了後の前記電解液中における標識元素量に対する着目元素量の比を求める。
2)浸漬ステップ後の前記分散性を有する溶液中に含有される標識元素の質量を求める。
3)前記2)にて求めた標識元素の質量に、前記1)にて求めた比を乗じる。
4)浸漬ステップ後の前記分散性を有する溶液中に含有される着目元素の質量から、前記3)により求め乗じた値を差し引く。
5)前記4)により求め差し引いた値を基に、着目元素の含有率を求める。
[7]前記[5]において、前記分析操作では、ろ液中に回収された析出物及び/又は介在物を分析する場合に、以下の工程を行うことを特徴とする金属材料中の析出物及び/又は介在物の分析方法。
1)電解終了後の前記電解液中における標識元素量に対する着目元素量の比を求める。
2)前記分別操作により得られたろ液中に含有される標識元素の質量を求める。
3)前記2)にて求めた標識元素の質量に、前記1)にて求めた比を乗じる。
4)ろ液中に含有される着目元素の質量から、前記3)により求め乗じた値を差し引く。
5)前記4)により求め差し引いた値を基に、着目元素の含有率を求める。
[8]前記[1]〜[7]のいずれかにおいて、前記分散性を有する溶液は、ゼータ電位の値を指標として種類及び/又は濃度が決定されることを特徴とする金属材料中の析出物及び/又は介在物の分析方法。
そして、本発明の分析方法では、金属試料中の析出物等(特に、大きさ1μm以下、さらに望ましくは大きさ200nm以下)を分散性を有する溶液中に分離するので、分離した溶液中での析出物等の凝集を防ぎ、析出物等を金属試料中そのままの状態で分離することができる。
また、分離用の分散性溶液を任意に選択することができるので、析出物等に適した分散性溶液を用いることができる。
これらにより、析出物等の大きさ別の分析を精度良く行う事が可能となり、従来不可能であった大きさ別の定量や正確な粒径分布が得られるなど、産業上有益な発明となりうる。
特に電解中に析出物等が電解液中に脱落する可能性がある材料を分析対象とした場合に、本発明は好適である。
本発明の金属材料中の析出物等分析方法は、金属試料を電解する電解ステップと、前記電解後の金属試料の残部を、分散性を有する溶液に浸漬して、前記金属試料中の析出物及び/又は介在物を分離する分離ステップAと、前記電解後の電解液の中に含まれる析出物及び/又は介在物を、捕集用フィルタによりろ過捕集した後、該捕集用フィルタを分散性を有する溶液に浸漬して、前記電解液中の析出物及び/又は介在物を分離する分離ステップBと、前記分離ステップAおよび前記分離ステップBにより分離された析出物及び/又は介在物を分析する分析ステップとを有することを特徴とする。そこで、上記操作手順を、本発明の一実施形態として、分散性溶液を最適化するまでと、分散性溶液を用いて鉄鋼試料中の析出物等を大きさ別に分けて定量するまでに分けて説明する。分散性溶液を最適化する場合の操作フローを図1に、鉄鋼試料中の析出物等を大きさ別に分けて定量する場合の操作フローを図2に、それぞれ示す。
(1)初めに、鋼材を適当な大きさに加工して、電解用試料とする。
(2)一方、電解液とは異なりかつ分散性を有する分散性溶液を、析出物等の分離用として当該電解液とは別に準備する。ここで、電解用試料の表面に付着した析出物等を分散性溶液中に分散させるには、電解液の半分以下の液量で充分である。分散性溶液の分散剤に付いては、後述する。
(3)試料を所定量だけ電解する。なお、所定量とは、適宜設定されるものであり、その一例として、図1においては、ゼータ電位装置(又は(9)にて後述する元素分析)に供する場合に測定可能な程度とする。
(4)
(ステップA)
電解(溶解)されずに残った電解用試料片を電解装置から取り外し、上記(2)で準備した分散性溶液中に浸漬して、析出物等を分散性溶液中に分離する。ここで、分散性溶液中に浸漬したまま超音波を照射することが好ましい。超音波を照射することで試料表面に付着している析出物等を剥離して、より効率よく分散性溶液中に分離することができる。次に、表面から析出物等を剥離した試料を分散性溶液から取り出す。なお、取り出しの際は、分散性溶液と同一の溶液で試料を洗浄することが好ましい。
(ステップB)
一方、電解後の電解液中に含まれる析出物等については、以下の手順で分散性溶液中に回収する。なお、ステップBは、電解中および電解後に試料表面から脱落した析出物等を捕集するための操作であり、ステップAで脱落した析出物等を捕集することで損失を防ぎ正確な分析が行える。
まず、電解後の電解液を、液中に含まれる析出物等がある程度の凝集体を形成する様な液性にする。例えば、電解液の主成分であるメタノールでこれが実現できる場合には、特に何も添加することなく、次の工程を行って構わない。一方、メタノールのみでは適切な凝集状態を形成させ得ない場合には、電解後の電解液に凝集剤等を添加することが考えられる。
次いで、捕集用フィルタを用いて電解液のろ過を行い、固液分離し、析出物等を捕集する。ろ過捕集に替わり遠心分離操作を行うことも可能である。
次いで、捕集用フィルタを分散性を有する溶液に浸漬して、電解液中の析出物及び/又は介在物を分離する。ここで、分散性溶液中に浸漬したまま超音波を照射することが好ましい。超音波を照射することで試料表面に付着している析出物等を剥離して、より効率よく分散性溶液中に分離することができる。
通常、電解操作には数百mlの電解液を用いるので、全量をろ過するのは時間を要する。捕集用フィルタとして、孔径の大きいフィルタを用いればろ過に要する時間は短くできるが、ろ過漏れの懸念が大きくなる。時間とろ過漏れ防止の両者を満足するには、孔径が小さく、且つ、開口率の大きいフィルタが好ましい。各種のフィルタを調査した結果、捕集用フィルタとしては、アルミナフィルタが極めて高い透過特性を有しており、好適に利用できることが分かった。アルミナフィルタが好適に利用できる理由としては、孔径が小さいにも関わらず、高い空隙率を有しているためであると考えられる。すなわち、他のフィルタと比較して極めて短時間でろ過操作を行なえるため、化学的に不安定な析出物等を電解液に溶解させることなく捕集することができる。また、後の工程で析出物等を大きさ別に分級分別するため、捕集した析出物等は、分散性溶液中に分離し分散した状態で回収する必要がある。よって、析出物等が強固にフィルタに付着しないことも重要な要素である。アルミナフィルタはこの観点からも好ましい。
また、「電解後の電解液を、液中に含まれる析出物等がある程度の凝集体を形成する様な液性にする」とは、析出物等が溶解しないことに加えて、ろ過捕集時に、析出物等が捕集用フィルタを通過しない程度に適度に析出物等が凝集した状態のことを示す。上記特性を満たせば種類は問わない。なお、今回のケースでは電解液の主成分であるメタノール中において析出物等が適度な凝集体を形成することが確認できたため、電解液をそのままろ過することで析出物等の全量回収ができ、次工程でも分散性溶液中で分散状態とすることが可能であった。
また、ここで用いる分散性溶液は、電解液中に脱落した析出物等の分散性が、電解後試料残部に付着していたものと等しい場合には同一の溶液で行うことができ、これらを混合して次工程の分析を行うこともできる。分散性が異なる場合や、分析操作上、分別して分析する事が好ましい場合には、以降の工程をそれぞれ独立に実施してもよい。特に、析出物の脱落が発生するかどうか不明な場合には、独立して分析することで確認が可能であり、脱落のほとんど認められない試料の場合には、電解液の分析は省略しても実用上問題ない。
(5)上記(4)で作製した、析出物等を含んだ分散性溶液のゼータ電位を計測する。
なお、図1においては、試料から析出物を分離した分散性溶液と電解液をろ過・捕集することにより析出物等を分離した分散性溶液とを合わせ、この合わせた溶液のゼータ電位を計測する。しかし、ゼータ電位を計測するにあたっては、上記分散性溶液のうち、いずれか一つの溶液でもよい。例えば、ゼータ電位の決定時には電解液のろ過分をいれてもいれなくても問題ないため、試料から析出物を分離した分散性溶液のみのゼータ電位を計測してもよい。(6)上記(5)で計測したゼータ電位の絶対値が30mVに満たない場合には、分散剤の種類及び/又は濃度をかえて上記(2)から(6)までを繰り返す。一方、ゼータ電位が30mV以上に達した場合には、その時の分散剤と濃度を、対象析出物等に対する分散性溶液の最適条件と決定し、操作を終了する。なお、図1においては、ゼータ電位を測定し、ゼータ電位が30mV以上に達した場合に、その時の分散剤と濃度を、対象析出物等に対する分散性溶液の最適条件と決定したが、本発明においては、析出物及び/又は介在物が分散性溶液中に回収された際にほとんど凝集することなく十分に分散していればよく、分散性溶液を選択・決定するための手段として、ゼータ電位測定に限定されるものではない。なお、詳細は後述する。
(7)新たに図1の上記(1)から(4)までと同様の操作を行い、図1の(1)から(6)で決定し最適化された分散性溶液に、実際に分析対象とする析出物等を分離する。
(8)析出物等を含む分散性溶液を1つ以上の分別フィルタでろ過して、フィルタ上に捕集された残渣とろ液をそれぞれ回収する。析出物等を(n+1)区分の大きさに分別する場合には、孔径の大きい分別フィルタからろ過を行い、孔径の大きいフィルタでのろ液を小さいフィルタでろ過する操作を順次n回行なって、それぞれのフィルタ上に捕集された残渣とn回目のろ液を回収する。なお、分別用フィルタとしては、目詰まりせずに析出物等の大きさに応じた分別が行えればよく、特に限定しない。但し、確実に分別するためには、分別用フィルタの空隙率が4%以上であり、かつフィルタ孔には直孔を有するフィルタを分別用フィルタとして選ぶことが好ましい。これは、空隙率が4%未満だと、粗大粒子や凝集粒子による孔の閉塞が起こりやすくなり、フィルタ孔が直孔でないと、析出物等の大きさ別の分離分解能が低下しやすくなるためである。なおここで、直孔とは、一定の開口形状でフィルタ面を貫通しているフィルタ孔のことをいう。また、空隙率の算出方法としては、一例として次式(1)のようなものがある。
空隙率=(フィルタ体積-フィルタ重量/比重)/フィルタ体積×100(%)・・・式(1)
(9)以上の操作で得られたフィルタ上の捕集残渣及びろ液をそれぞれ酸溶解し、次いで、元素分析を行い、析出物等の大きさ別における元素の含有率を計算する。
そこで発明者らは、この誤差が電解液に由来することに着眼して、この混入着目元素量を定量化し、析出物等の分析値から差し引くことで、金属材料中で着目元素が非常に微細な析出物等を形成している場合やマトリクス中への着目元素の固溶含有率が高い場合でも、誤差の少ない補正された分析結果を得られる手法を発明した。この発明は、混入着目元素量を定量化し、析出物等の分析値から差し引く補正を行うにあたって、標識元素(以下に説明する)量に対する着目元素量の比を用いることを特徴とする。
これ以外に、試料中にほとんど含有されていない元素を、電解前の電解液中に予め添加して標識元素とすることも可能である。例えば、リチウム、イットリウム、ロジウムなどが好適に選ばれる。
1)電解終了後に電解液を適量採取して、電解液に含まれる着目元素量(通常、単位体積あたりの質量で示される)Ciと標識元素量(通常、単位体積あたりの質量で示される)Ctを別途測定し、その測定結果から比Ci/Ctを算出する。
2)一方で、上記(4)の分散性溶液中の標識元素の質量(通常、絶対量で示される)Xtを測定する。なお、分散性溶液中に含有される標識元素としては、分散性溶液中に分離された析出物等に含有される標識元素を含まない場合が好ましい。しかし、例えば、設備事情や分析事情により、標識元素として分散性溶液中に分離された析出物等に含有される標識元素を含む場合でも本発明の効果は得られる。
3)2)により求めた標識元素の質量(通常、絶対量で示される)Xtに、1)により求めた比Ci/Ctを乗算する。この乗算して得られた値が、混入着目元素量を定量化した値である。
4)3)により求めた混入着目元素量を、上記(4)の分散性溶液の着目元素の質量(通常、絶対量で示される)、すなわち、浸漬ステップ後の前記分散性を有する溶液中に含有される着目元素の質量Xiから差し引く。なお、分散性溶液中に含有される着目元素とは、分散性溶液中に分離された析出物等に含有される着目元素も含むものとする。
このようにして得られた値が、析出物等由来の補正された着目元素の質量である。この補正された着目元素の質量を、別途測定しておいた試料の電解重量Mで除すれば、析出物等由来の補正された着目元素の析出量Wiが求められる(下記式(2))。
Wi=(Xi−Xt×Ci/Ct)×100/M ・・・(2)
ここで、
Wi:析出物等由来の補正された着目元素の析出量(単位は通常mass%で、この場合、金属試料の全組成の合計を100mass%とする)
Xi:分散性溶液中に含有される着目元素の質量
Xt:分散性溶液中に含有される標識元素の質量
Ci:採取した電解液中の着目元素の、単位体積あたりの質量
Ct:採取した電解液中の標識元素の、単位体積あたりの質量
M:試料の電解重量
なお、上記析出物等由来の補正された着目元素の析出量Wiを求める方法は、上記(8)の分散性溶液中に分離された析出物及び/又は介在物を1以上のフィルタにより1回以上ろ過する分別操作を行った後のろ液を分析する際にも適用することができる。この場合、以下の工程により行うことになる。
1)電解終了後の前記電解液中における標識元素量Ctに対する着目元素量Ciの比Ci/Ctを求める。
2)前記分別操作により得られたろ液中に含有される標識元素の質量Xtを求める。なお、ろ液中に含有される標識元素としては、ろ液中に分離された析出物等に含有される標識元素を含まない場合が好ましい。しかし、例えば、設備事情や分析事情により、標識元素としてろ液中に分離された析出物等に含有される標識元素を含む場合でも本発明の効果は得られる。
3)前記2)にて求めた標識元素の質量Xtに、前記1)にて求めた比Ci/Ctを乗じる。
4)ろ液中に含有される着目元素の質量Xiから、前記3)により求め乗じた値を差し引く。なお、ろ液中に含有される着目元素とは、ろ液中に回収された析出物等に含有される着目元素も含むものとする。
5)前記4)により求め差し引いた値を基に、補正された着目元素の析出量Wiを求める。
まず、電解操作は、図3に示す装置構成にて行い、約300mlの10%AA系電解液(10vol%アセチルアセトン-1mass%塩化テトラメチルアンモニウム-メタノール)を用いて、あらかじめ天秤で重量を測定した前記鉄鋼試料を陽極として約0.5gを電流密度20mA/cm2で定電流電解した。
次いで、通電完了後、試料を電解液中から静かに引き上げて取り出し、約100mlのSHMP水溶液(濃度500mg/l)を入れた別の容器に移し変え、超音波振動を与えて試料表面に付着した析出物等を容器中で剥離させSHMP水溶液中に分離した。試料表面が金属光沢を呈したら超音波振動を停止し、試料を容器から取り出して500mg/lのSHMP水溶液と純水で洗浄してから乾燥した。乾燥後、天秤で試料重量を測定して、電解前の試料重量から差し引いて電解重量を計算した。
一方、電解後の電解液は、孔径20nmのアルミナフィルタで吸引ろ過した。ろ過後、前記アルミナフィルタに、更に少量のメタノールを注ぎ、ろ過することで析出物等を洗浄した。続いて、捕集された析出物等を前記アルミナフィルタごと、上記とは別の500mg/lのヘキサメタリン酸(SHMP)水溶液を入れたビーカーに移し、前記アルミナフィルタを浸漬し、超音波振動を与え、析出物等を容器中で剥離し、SHMP水溶液中に析出物等を分離した。
次に、上記により得られた容器中に析出物等が分散したSHMP溶液に対して分析を行った。なお、実施例2では、試料から分離した析出物等が分散したSHMP溶液と電解液から分離した析出物等が分散したSHMP溶液をそれぞれ別々に分析した。
まず、孔径100nmのフィルタで吸引ろ過して、残渣をフィルタ上に捕集した。さらに、残渣をフィルタとともに硝酸、過塩素酸並びに硫酸の混合溶液で加熱溶解して溶液化したのち、ICP発光分光分析装置で分析して残渣中のチタン絶対量を測定した。前記残渣中のチタン絶対量を前記電解重量で除して、大きさが100nm以上の析出物等を分析対象とした場合の析出物等の析出量を得た。
次に前記孔径100nmのフィルタを通過したろ液を、80℃のホットプレート上で加温した。乾燥残留物を硝酸、過塩素酸並びに硫酸の混合溶液で加熱溶解して溶液化したのち、ICP発光分光分析装置で分析してろ液中のチタンの絶対量を測定した。前記ろ液中のチタン絶対量を前記電解重量で除して、大きさが100nm未満の析出物等を分析対象とした場合の析出物等の析出量を得た。
なお、これら各元素の析出量は、試料とした鋼の全組成を100mass%とした値である。
まず、析出物等の一部が電解液中に脱落するがどうかを確認した。
金属試料として、mass%で、C:0.05%、N:0.06、Si:0.3%、Al:0.003%、Mn:1.5%、Cr:12.2%、Nb:0.2%、V:0.2%、Ni:0.6%を含み、残部がFeおよび不可避的不純物から成る組成の鋼を高周波溶解炉で溶製し、100kgの鋼塊とした。次いで、1150℃に加熱後、熱間圧延によって板厚4mmの熱延鋼板とした。さらに、800〜850℃で10時間保持した後、200℃まで20℃/時間で徐却し、その後空冷する焼鈍を施した。以上により得られた熱延焼鈍板に対して、1150で1分加熱し空冷する焼入れ処理を施した後、700℃で1分もしくは10時間の焼戻し処理を行なった。
表3によると、Nb、Vのいずれについても、全析出量のおよそ1割前後が、電解液中に脱落していることが分かるが、明らかに電解液中に脱落した析出物等の量は無視できないレベルにあることがわかる。特に10時間の焼戻しを行った試料と比較して、1分の焼戻しを行った試料で電解液に含まれる析出物等の割合が多くなっていることから鑑みると、鋼の特性に与える影響の大きいと考えられる微細な析出物等の定量に対して、本鋼種において電解液を無視した場合には大きな誤差要因を与えることが懸念される。
上記熱延焼鈍板に対して、1150で1分加熱し空冷する焼入れ処理を施した後、700℃で1分、1時間もしくは240時間の焼戻し処理を行なった。
なお、電解液としては4%MS系電解液(4体積/体積%サリチル酸メチル-1質量/体積%サリチル酸-1質量/体積%塩化テトラメチルアンモニウム-メタノール)を使用した。ここで、電解液として一般的な10%AA系電解液(10vol%アセチルアセトン-1mass%塩化テトラメチルアンモニウム-メタノール)を用いなかったのは、上記の組成からなる試料中に含まれる析出物等が化学的に不安定であり、同電解液に対して溶解することが判明したからである。
電解は、あらかじめ天秤で重量を測定した前記鉄鋼試料を陽極として、図3に示した装置構成にて、約0.5gを電流密度20mA/cm2で定電流電解した。通電完了後の試料は別途準備した500mg/lのヘキサメタリン酸(SHMP)水溶液を入れたビーカーに移し、超音波振動を与えて試料表面に付着した析出物等を容器中に分離させた。なお、最適SHMP濃度については、ゼータ電位計による評価の結果、決定した。試料表面が金属光沢を呈したら超音波振動を停止し、試料を容器から取り出してメタノールで洗浄してから乾燥した。乾燥後、天秤で試料重量を測定して、電解前の試料重量から差し引いて電解重量を計算した。
一方、電解後の電解液は、孔径20nmのアルミナフィルタで吸引ろ過した。ろ過後、前記アルミナフィルタに、更に少量のメタノールを注ぎ、ろ過することで析出物等を洗浄した。続いて、捕集された析出物等を前記アルミナフィルタごと、500mg/lのヘキサメタリン酸(SHMP)水溶液を入れたビーカーに移し、前記アルミナフィルタを浸漬し、超音波振動を与え、析出物等を容器中で剥離し、SHMP水溶液中に析出物等を分離した。なお、ここで示す500mg/lのヘキサメタリン酸(SHMP)水溶液は、試料に付着した析出物等を回収したスラリー溶液でも構わないが、本実施例では誤差を少なくする意図から別途準備した新規なSHMP水溶液中に回収した。
いずれの元素に関しても、大きさが20nm未満の析出物等を対象とした場合の析出物等の析出量は、焼戻し時間が1分の場合が最も多くなっており、240時間の熱処理ではほとんど存在していない事が分かったが、この実験結果は、電子顕微鏡で観察される微細な析出物等の生成状況の傾向と一致するものであった。
以上の結果、本発明で求められる粒度別の定量値が材料開発において重要であることを示すものと考えられる。
2 電解用試料の固定用治具
3 電極
4 ビーカー
5 定電流電源
6 電解液
7 電解装置
Claims (8)
- 金属試料を電解する電解ステップと、前記電解後の金属試料の残部を、分散性を有する溶液に浸漬して、前記金属試料中の析出物及び/又は介在物を分離する分離ステップAと、前記電解後の電解液の中に含まれる析出物及び/又は介在物を、捕集用フィルタによりろ過捕集した後、該捕集用フィルタを分散性を有する溶液に浸漬して、前記電解液中の析出物及び/又は介在物を分離する分離ステップBと、前記分離ステップAおよび前記分離ステップBにより分離された析出物及び/又は介在物を分析する分析ステップとを有することを特徴とする金属材料中の析出物及び/又は介在物の分析方法。
- 前記分散性を有する溶液は、分析対象の析出物及び/又は介在物に対するゼータ電位の絶対値が30mV以上であることを特徴とする請求項1に記載の金属材料中の析出物及び/又は介在物の分析方法。
- 前記分析ステップでは、大きさが1μm以下の析出物及び/又は介在物を分析することを特徴とする請求項1または2に記載の金属材料中の析出物及び/又は介在物の分析方法。
- 前記分析ステップでは、前記金属試料の残部に付着した析出物及び/又は介在物を分析することを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の金属材料中の析出物及び/又は介在物の分析方法。
- 前記分析ステップは、前記溶液中に分離された析出物及び/又は介在物を1以上の分別フィルタにより1回以上ろ過する分別操作と、前記各分別フィルタに捕集された析出物及び/又は介在物、ろ液中に回収された析出物及び/又は介在物のうちの少なくとも1以上を分析する分析操作とを有することを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の金属材料中の析出物及び/又は介在物の分析方法。
- 前記分析ステップでは、以下の工程を行うことを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の金属材料中の析出物及び/又は介在物の分析方法。
1)電解終了後の前記電解液中における標識元素量に対する着目元素量の比を求める。
2)浸漬ステップ後の前記分散性を有する溶液中に含有される標識元素の質量を求める。
3)前記2)にて求めた標識元素の質量に、前記1)にて求めた比を乗じる。
4)浸漬ステップ後の前記分散性を有する溶液中に含有される着目元素の質量から、前記3)により求め乗じた値を差し引く。
5)前記4)により求め差し引いた値を基に、着目元素の含有率を求める。 - 前記分析操作では、ろ液中に回収された析出物及び/又は介在物を分析する場合に、以下の工程を行うことを特徴とする請求項5に記載の金属材料中の析出物及び/又は介在物の分析方法。
1)電解終了後の前記電解液中における標識元素量に対する着目元素量の比を求める。
2)前記分別操作により得られたろ液中に含有される標識元素の質量を求める。
3)前記2)にて求めた標識元素の質量に、前記1)にて求めた比を乗じる。
4)ろ液中に含有される着目元素の質量から、前記3)により求め乗じた値を差し引く。
5)前記4)により求め差し引いた値を基に、着目元素の含有率を求める。 - 前記分散性を有する溶液は、ゼータ電位の値を指標として種類及び/又は濃度が決定されることを特徴とする請求項1ないし7のいずれかに記載の金属材料中の析出物及び/又は介在物の分析方法。
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