JP5021220B2 - 不揮発性メモリ装置及びそのマルチページコピーバック方法 - Google Patents

不揮発性メモリ装置及びそのマルチページコピーバック方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5021220B2
JP5021220B2 JP2006058628A JP2006058628A JP5021220B2 JP 5021220 B2 JP5021220 B2 JP 5021220B2 JP 2006058628 A JP2006058628 A JP 2006058628A JP 2006058628 A JP2006058628 A JP 2006058628A JP 5021220 B2 JP5021220 B2 JP 5021220B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
page
data
copyback
buffer
buffers
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2006058628A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006294218A (ja
Inventor
▲ミン▼建 朴
成奎 曹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JP2006294218A publication Critical patent/JP2006294218A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5021220B2 publication Critical patent/JP5021220B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/0223User address space allocation, e.g. contiguous or non contiguous base addressing
    • G06F12/023Free address space management
    • G06F12/0238Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory
    • G06F12/0246Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory in block erasable memory, e.g. flash memory
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/56Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency
    • G11C11/5621Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency using charge storage in a floating gate
    • G11C11/5628Programming or writing circuits; Data input circuits
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/72Details relating to flash memory management
    • G06F2212/7203Temporary buffering, e.g. using volatile buffer or dedicated buffer blocks

Description

本発明は不揮発性メモリ装置に係り、さらに具体的には不揮発性メモリ装置のためのマルチページコピーバック方法に関する。
半導体メモリ装置はデータを記憶しておき、必要時に読み出し可能な記憶装置である。半導体メモリ装置は大きくRAM(Random Access Memory)とROM(Read Only Memory)に区別される。RAMは電源が切れれば記憶されたデータが消滅するいわゆる揮発性メモリである。RAMにはDRAM(Dynamic RAM)とSRAM(Static RAM)などがある。ROMは電源が切れても記憶されたデータが消滅しない不揮発性メモリである。ROMにはPROM(Programmablerom ROM)、EPROM(Erasable PROM)、EEPROM(Electrically EPROM)、フラッシュメモリなどがある。不揮発性メモリの中でもフラッシュメモリはセルのデータを電気的に一括消去する機能を有しているので、コンピュータ及びメモリカードなどに広く用いられている。
フラッシュメモリはセルとビットラインの連結状態によってNOR型とNAND型に区別される。NOR型フラッシュメモリは1つのビットラインに2つ以上のセルトランジスタが並列で連結された形態であり、チャンネルホットエレクトロン(channel hot electron)方式を用いてデータを記憶して、F−Nトンネリング(Fowler−Nordheim tunneling)方式を用いてデータを消去する。そして、NAND型フラッシュメモリは1つのビットラインに2つ以上のセルトランジスタが直列で連結された形態であり、F−Nトンネリング方式を用いてデータを記憶及び消去する。一般的に、NOR型フラッシュメモリは電流消費が大きくて高集積化には不利であるが、高速化に容易に対処することができる長所があり、NAND型フラッシュメモリはNOR型フラッシュメモリに比べて少ないセル電流を用いるので、高集積化に有利な長所がある。NAND型フラッシュメモリの消去及びプログラム方法は特許文献1及び2に各々記載されている。
一方、NANDフラッシュメモリ装置はページコピーバック動作(page copy−back operation)を支援する。ページコピーバック動作とは、外部へデータを出力せず、1ページ(またはソースページ)に記憶されたデータを他のページ(または目標ページ)へ移すことを言う。例えば、フラッシュメモリ装置にデータを書き込む途中バッドブロック(Bad Block)が発生するようになれば、該当のブロックをバッドブロックとしてマーキングして使わなくなる。そして、以前まで順調に記憶されたデータを読み出して他のブロックに記憶するようになる。この際、NANDフラッシュメモリ装置で支援するページコピーバック動作を実行するようになれば、データの移動にかかる時間が減るようになる。
ページコピーバック動作を実行するNAND型フラッシュメモリの一例は特許文献3に記載されている。特許文献3の記載によると、NAND型フラッシュメモリがページコピーバック動作を実行するためにはデュアルレジスタ構造を有する複雑な形態のページバッファを要する。このように複雑な形態のページバッファは制御が複雑であるだけでなく、費用が増加する短所がある。特に、前記のようなコピーバック方式を複数個のページデータに対するコピーバック動作にそのまま適用する場合には、その制御及び構造が一層複雑になる。
米国特許第5,473,563号 米国特許第5,696,717号 米国特許第6,671,204号
本発明の目的は、上述の問題点を解決するために提案されたものであり、簡単な回路構成を有して高速のコピーバック動作が実行できる装置及び方法を提供することにある。
本発明の目的は、複数個のページデータに対するマルチページコピーバック動作を高速で実行できる装置及び方法を提供することにある。
本発明の他の目的は、複数個のコピーバックデータの位置及び個数に対する制約を受けず、マルチページコピーバック動作が実行できる装置及び方法を提供することにある。
上述の本発明の目的を達成するために本発明の特徴によると、不揮発性メモリ装置は、データを記憶する複数個のマットと、前記複数個のマットに対応してデータの書き込み及び読み出しを実行する複数個のページバッファと、少なくとも一つ以上のマットから読み出されたコピーバックデータを記憶する複数個のバッファと、前記複数個のページバッファが前記コピーバックデータを前記複数個のバッファから対応する前記複数個のマットに同時にプログラムするように制御する制御部とを含むことを特徴とする。
上述の本発明の目的を達成するために本発明の特徴によると、不揮発性メモリ装置のマルチページコピーバック方法は、少なくとも一つ以上のマットからコピーバックデータを読み出す段階と、前記読み出されたコピーバックデータを複数個のバッファに記憶する段階と、前記複数個のバッファに記憶されている前記コピーバックデータを複数個のページバッファに連続して提供する段階と、前記複数個のページバッファに提供された前記コピーバックデータを対応する複数個のマットに同時にプログラムする段階とを含むことを特徴とする。
上述の本発明の目的を達成するために本発明の特徴によると、不揮発性メモリ装置は、複数個のページバッファと、複数個のバッファとを含み、前記複数個のページバッファは対応する複数個のマットから読み出されたコピーバックデータを記憶して、前記複数個のバッファは前記複数個のページバッファから前記コピーバックデータを受け入れて一時記憶して、前記複数個のバッファは前記コピーバックデータを前記複数個のページバッファに連続して提供して、前記複数個のページバッファは前記複数個のページバッファから提供された前記コピーバックデータを前記複数個のマットに同時にプログラムすることを特徴とする。
本発明によると、簡単な回路構成を有していても複数個のページに対するコピーバックを同時に実行できるようになる。特に、本発明によるマルチページコピーバック方法は、コピーバックデータの位置及び個数に対する制約を受けず、複数個のコピーバックデータに対するプログラムを同時に実行するので、コピーバックされるページの個数が増加するほどコピーバックにかかる全体の時間が顕著に減るようになる。
以下、本発明による実施形態を添付の図を参照して詳細に説明する。
本発明の不揮発性メモリ装置は、1つまたはそれ以上のマットから読み出された複数個のコピーバックデータを複数個のバッファに順に記憶した後、バッファに記憶されたデータを互いに異なるマットに同時にプログラムする方式のマルチページコピーバックを実行する。この際、複数個のコピーバックデータはマットの位置及び各マットから読み出されたコピーバックデータの個数に制限を受けずに読み出されることができ、読み出された複数個のコピーバックデータは複数個のマットに同時にプログラムされる。したがって、マットあたりコピーされるデータの位置及び個数に制限されず、コピーバックデータに対するプログラム時間が減るようになる。
図1は本発明の望ましい実施形態による不揮発性メモリ装置の概略的な構成を示すブロック図である。図1には本発明による不揮発性メモリ装置の一例として、ランダムアクセスが可能なバッファメモリ170を内蔵したフラッシュメモリ装置100の構成が示している。
図1を参照すると、本発明によるフラッシュメモリ装置100は大きくフラッシュメモリ150、バッファメモリ170、及びこれらメモリ150、170のデータ入出力を制御する制御部110で構成される。ここで、フラッシュメモリ150、バッファメモリ170、及び制御部110は各々が個別的な素子で構成されることもでき、単一素子内に全部具備されることもできる。
フラッシュメモリ装置100はバスを通じてホスト(図示しない)と連結される。フラッシュメモリ装置100は制御部110を通じてホストとのインターフェースを実行する。フラッシュメモリ装置100は制御部110の制御に応じてデータをフラッシュメモリ150に入力するか、フラッシュメモリ150に記憶されたデータを出力する。
本発明に用いられるフラッシュメモリ150はコピーバック機能を支援するNANDタイプのフラッシュメモリで構成される。フラッシュメモリ150内には各々が同一のメモリセルアレイ構造を有する複数個のマット151、153と、各々のマットに対するデータ入出力を実行する複数個のページバッファ155、157とが含まれる。ページバッファ155、157の個数はフラッシュメモリ150内に具備されたマット151、153の個数と同一である。この分野に対する通常の知識を持った者には周知のように、各々のページバッファ155、157内部には各々のマット151、153に書き込まれるデータと読み出されるデータとをラッチするラッチ回路が具備されている。本発明の場合、前記ページバッファ155、157は基本的なデータ感知及び書き込み動作を実行することができる程度の単純な構成だけ有してもよい。後述するが、本発明では特殊な構造のページバッファ155、157を使用しなくても、フラッシュメモリ装置100の内部に具備されたバッファメモリ170を利用して複数個のページに対するコピーバックを同時に実行することができる。したがって、前記ページバッファ155、157は単純な形態(例えば、単一ラッチ構造)を有してもマルチページコピーバック機能を支援できるようになる。したがって、回路の構造が簡単になり、製造単価か低くなる。そして、前記ページバッファ155、157の各々は制御部110の制御に応答して、対応するマット151、153にデータを同時にプログラムすることができるマルチページプログラム機能を提供する。このために前記マット151、153は各々が別途のXデコーダを具備することもでき、複数個のマットが一つのXデコーダを共有することもできる。
一般的に、フラッシュメモリ150はRAMに比べてデータを読み出して書き込む時間が長く、ランダムアクセスが不可能な問題を有している。このような問題を解決するため、本発明によるフラッシュメモリ装置100はバッファメモリ170を利用してフラッシュメモリ150がデータを読み出して書き込む時間を向上させる。バッファメモリ170はランダムアクセスが可能なメモリ(例えば、DRAMやSRAM)で構成される。バッファメモリ170にはフラッシュメモリ150に含まれたマット151、153の個数と同一の個数のバッファ175、177が具備され、各々のバッファ175、177は少なくとも1ページ以上のメモリ容量を有する。フラッシュメモリ150内にN個のマットが具備された場合、バッファメモリ170にはN個のバッファが具備される。この場合、N個のページに対するプログラム動作が同時に実行されることができ、N個のページに対するコピーバック動作が同時に実行されることができる。
ランダムアクセスが可能なバッファメモリ170を具備したフラッシュメモリ装置100は、ホストから伝送されたデータを直接フラッシュメモリ150に記憶せず、ランダムアクセスが可能なバッファメモリ170にまず記憶する。そして、バッファメモリ170に記憶されたデータをフラッシュメモリ150に記憶する。同様に、フラッシュメモリ150に記憶されたデータを読み出す場合、フラッシュメモリ150から読み出されたデータを直接ホストに伝送せず、バッファメモリ170にまず記憶した後、バッファメモリ170に記憶されたデータをホストに伝送する。このようなフラッシュメモリ150とバッファメモリ170との間のデータ入出力関係はノーマルデータだけでなく、コピーバックデータの場合にも同様に適用される。
特に、本発明によるフラッシュメモリ装置100のコピーバック動作では、第1マット151から読み出されたデータが必ず第1バッファ175に記憶されるのではなく、第1バッファ175及び第2バッファ177のうちいずれか1つに記憶されることができる。同様に、第2マット153から読み出されたデータも必ず第2バッファ177に記憶されるのではなく、第1バッファ175及び第2バッファ177のうちいずれか1つに記憶されることができる。すなわち、本発明によるフラッシュメモリ装置100はマルチページコピーバック動作の際、1つまたはそれ以上のマット151、153から読み出された複数個のコピーバックデータを複数個のバッファ175、177に順に記憶した後、バッファ175、177に記憶されたデータを互いに異なるマット151、153に同時にプログラムする。この際、複数個コピーバックデータはマット151、153の位置及び各マットから読み出されるコピーバックデータの個数に制限されず、読み出し可能であり、読み出された複数個のコピーバックデータは複数個のページバッファ155、157を通じて複数個のマット151、153に同時に書き込まれる。この場合、第1バッファ175に記憶されたコピーバックデータは第1マット151に書き込まれ、第2バッファ177に記憶されたコピーバックデータは第3マット153に各々書き込まれる。もし、第1バッファ175及び第2バッファ177に記憶されたコピーバックデータが全部第1マット151から読み出されたコピーバックデータの場合、前記コピーバックデータは互いに重複されない複数個のマット151、153に同時に書き込まれる。そして、第1バッファ175及び第2バッファ177に記憶されたコピーバックデータが各々第1マット151及び第2マット153から読み出されたコピーバックデータの場合にも、前記コピーバックデータは互いに重複されない複数個のマット151、153に同時に書き込まれる。
本発明では説明の便宜のために、2つのマット151、153と2つのバッファ175、177とが具備された場合のマルチページコピーバックについて説明しているが、これは一例に過ぎず、N個のマットとN個のバッファとが具備された不揮発性メモリ装置にも本発明によるマルチページコピーバック方式がそのまま適用できる。また、本発明による複数個のページに対するデータの読み出し及び再書き込み動作は、コピーバック動作だけでなく、読み出されたデータの内容を部分的に補正して再び書き込む場合にも適用されることができる。本発明によるフラッシュメモリ装置100のマルチページコピーバック方法をより具体的に説明すれば、次の通りになる。
図2及び図3は本発明の望ましい実施形態によるマルチページコピーバック方法を示す図である。図2には1つのマットから複数個のコピーバックデータを読み出してコピーバックを実行する場合が示されており、図3には各々のマットからコピーバックデータを読み出してコピーバックを実行する場合が各々示されている。
まず、図2を参照すると、フラッシュメモリ150に含まれた複数個のマット151、153のうちいずれか一つのマット153に複数個のエラーが発生した場合、まずページバッファ157を通じてエラーが発生したページから1番目のコピーバックデータを読み出す(矢印1参照、tRの時間がかかる)。この際読み出されるコピーバックデータは1ページのデータ大きさ(例えば、2K Byte)を有する。ページバッファ157から読み出された1番目のコピーバックデータは複数個のバッファ175、177のうち1番目のバッファ175に記憶される(矢印2参照、tTの時間がかかる)。そしてから、前記ページバッファ157を通じてエラーが発生したページから2番目のコピーバックデータが読み出される(矢印3参照、tRの時間がかかる)。ページバッファ157から読み出された2番目のコピーバックデータは複数個のバッファ175、177のうち2番目のバッファ175に順に記憶される(矢印4参照、tTの時間がかかる)。第1及び第2バッファ175、177にコピーバックデータが全部記憶されてからは、第1バッファ175に記憶された1番目のコピーバックデータは第1ページバッファ155にローディングされ(矢印5参照、tTの時間がかかる)、第2バッファ177に記憶された1番目のコピーバックデータは第2ページバッファ157に各々ローディングされる(矢印6参照、tTの時間がかかる)。そして、各々のコピーバックデータは第1及び第2ページバッファ155、157を通じて第1及び第2マット151、153の新しいターゲットページに同時にプログラムされる(矢印7参照、ページの個数に関係なしに総tPROGの時間がかかる)。このようなフラッシュメモリ150とバッファメモリ170との間で内部的に実行されるコピーバックデータの読み出し及び書き込み動作は制御部110の制御によって実行される。フラッシュメモリ150のエラーが発生されたページと、コピーバックデータが移動されたターゲットページのアドレスなどはFTL(flash translation layer)によって管理される。
続いて、図3を参照すると、フラッシュメモリ150に含まれた各々のマット151、153にエラーが発生した場合、まず第1ページバッファ155を通じて第1マット151から1番目のコピーバックデータが読み出される(矢印1参照、tRの時間がかかる)。第1マット151から読み出された1番目のコピーバックデータは複数個のバッファ175、177のうち1番目のバッファ175に記憶される(矢印2参照、tTの時間がかかる)。そしてから、第2ページバッファ157を通じて第2マット153から2番目のコピーバックデータが読み出される(矢印3参照、tRの時間がかかる)。第2マット153から読み出された2番目のコピーバックデータは複数個のバッファ175、177のうち2番目のバッファ175に記憶される(矢印4参照、tTの時間がかかる)。第1及び第2バッファ175、177にコピーバックデータが全部記憶されてからは、第1バッファ175に記憶された1番目のコピーバックデータは第1ページバッファ155にローディングされ(矢印5参照、tTの時間がかかる)、第2バッファ177に記憶された1番目のコピーバックデータは第2ページバッファ157に各々ローディングされる(矢印6参照、tTの時間がかかる)。そして、各々のページバッファ155、157にコピーバックデータが全部ローディングされてからは、第1及び第2ページバッファ155、157は自己にローディングされたコピーバックデータを第1及び第2マット151、153に同時にプログラムする(矢印7参照、ページの個数に関係なく総tPROGの時間がかかる)。フラッシュメモリ150とバッファメモリ170との間で内部的に実行されるコピーバックデータの読み出し及び書き込み動作も制御部110の制御によって実行される。マットに発生したエラーは制御部110の内部に具備されたECC回路またはフラッシュメモリ150の内部に具備されたベリファイ回路(図示しない)などを通じて検出される。
上述の本発明によるフラッシュメモリ装置100のマルチページコピーバック方法と従来のコピーバック方法でかかるコピーバック時間を比較すると、次の通りになる。
図4は従来のコピーバック方法で必要とする複数個のページに対するコピーバック時間を示す図であり、図5は本発明で必要とする複数個のページに対するコピーバック時間を示す図である。
まず、図4を参照すると、従来の不揮発性メモリ装置では複数個のページに対するコピーバックを実行する場合、1つのページに対するコピーバックが全部完了した後、次のページに対するコピーバック動作を実行する。例えば、1つのページに該当するコピーバックデータを読み出して(tRの時間がかかる)バッファに記憶した後(tTの時間がかかる)、これをページバッファにローディングする(tTの時間がかかる)。そして、ページバッファにローディングされたデータを該当のマット(またはメモリセルアレイ)に記憶する(各々のページ別にtPROGの時間がかかる)。この場合、1つのページをコピーバックするのにかかる時間はtR+2tT+tPROGであり、N個のページをコピーバックするにはNx(tR+2tT+tPROG)の時間がかかる。すなわち、従来のコピーバック方式によると、ページの個数に比例してコピーバックにかかる時間が増加するようになる。
一方、図5に示したように、本発明によるフラッシュメモリ装置100のマルチページコピーバック方法は、1つのページに対するコピーバック動作が全部完了するまで次のページに対するコピーバック動作を待機させず、複数個のページに対するコピーバック動作を同時に実行する。
例えば、本発明によるマルチページコピーバック方法では、1つまたはそれ以上のマットから読み出された複数個のコピーバックデータを複数個のバッファに順に記憶する。そして、バッファに記憶されたデータを互いに異なるマットに同時にプログラムする。この際、複数個のコピーバックデータはマットの位置及び各マットから読み出されるコピーバックデータの個数に制限を受けず、読み出すことができ、読み出された複数個のコピーバックデータは複数個のマットに同時にプログラムされる。その結果、コピーバック動作で最大の時間がかかるプログラム時間tPROGが顕著に減るようになり、コピーバックにかかる全体の時間は減るようになる。本発明によるマルチページコピーバックにかかる時間は、N個のページに対するコピーバックを実行する場合、Nx(tR+2tT)+tPROGの時間がかかる。本発明によるコピーバック時間の節減効果は同時にプログラムできるページの個数が増加するほど一層大きくなる。
以上、本発明による回路の構成及び動作を上述の説明及び図によって示したが、これは例をあげて説明したに過ぎず、本発明の技術的思想を逸脱しない範囲内で多様な変化及び変更が可能であることは勿論である。例えば、上記では複数個のページに対するコピーバック方法について説明したが、コピーバックはもちろん複数個のページデータの内容を一部変更した後、再び書き込む場合にも本発明の特徴がそのまま適用できる。
一方、図面と明細書の記述において、特定の用語が使用されたが、これはただ本発明を説明するための目的として使用されたものであり、意味の限定や特許請求の範囲に記載した本発明の範囲を制限するために使用したものではない。したがって、本技術分野の通常の知識を持った者であれば、今後、多様な変形及び均等な他の実施形態が可能であることが分かるであろう。したがって、本発明の真の技術的保護範囲は特許請求の範囲の技術的思想によって決められるべきである。
また、本発明はコンピュータで読み出せる記録媒体にコンピュータが読み出せるコードとして実現することが可能である。コンピュータが読み出せる記録媒体はコンピュータシステムによって読み出されるデータが記憶されるすべての種類の記録装置を含む。コンピュータが読み出せる記録媒体の例としては、ROM、RAM、CD−ROM、磁気テープ、フロッピー(登録商標)ディスク、光データ記憶装置などがあり、またキャリアウエーブ(例えばインターネットを通じた伝送)の形態で実現されることも含む。またコンピュータが読み出せる記録媒体はネットワークで連結されたコンピュータシステムに分散して、分散方式でコンピュータが読み出せるコードに記憶されて実行できる。
本発明の望ましい実施形態による不揮発性メモリ装置の概略的な構成を示すブロック図である。 本発明の望ましい実施形態によるマルチページコピーバック方法を示す図である。 本発明の望ましい実施形態によるマルチページコピーバック方法を示す図である。 従来のコピーバック方法で必要とする複数個のページに対するコピーバック時間を示す図である。 本発明で必要とする複数個のページに対するコピーバック時間を示す図である。
符号の説明
100 不揮発性メモリ装置
110 制御部
150 フラッシュメモリ
170 バッファメモリ

Claims (20)

  1. データを記憶する複数個のマットと、
    前記複数個のマットに対応してデータの書き込み及び読み出しを実行する複数個のページバッファと、
    少なくとも一つ以上のマットから読み出されたコピーバックデータを記憶する複数個のバッファと、
    前記複数個のページバッファが前記コピーバックデータを前記複数個のバッファから対応する前記複数個のマットに同時にプログラムするように、前記複数個のページバッファを制御する制御部とを含み、
    前記各バッファに記憶されたコピーバックデータを、各バッファと対応する一つのページバッファを経由して、対応する一つのマットに対して前記コピーバックデータをプログラムする構成を備え、
    前記バッファと前記ページバッファとの間は、互いに一対マットの総数の関係となるように電気的にマルチ接続される
    ことを特徴とする不揮発性メモリ装置。
  2. 前記複数個のページバッファは前記複数個のマットから前記コピーバックデータをランダムに読み出す
    ことを特徴とする請求項1に記載の不揮発性メモリ装置。
  3. 前記複数個のページバッファは同一のマットの互いに異なるページから前記コピーバックデータを読み出す場合に、
    エラーが発生したページから1ページのデータ大きさの1番目のコピーバックデータを読み出して1番目のバッファに記憶した後、エラーが発生したページから2番目のコピーバックデータを読み出し、2番目のバッファに順に記憶する
    ことを特徴とする請求項1に記載の不揮発性メモリ装置。
  4. 前記複数個のページバッファは互いに異なる2つ以上のマットから前記コピーバックデータを読み出す
    ことを特徴とする請求項1に記載の不揮発性メモリ装置。
  5. 前記マットと同一の個数の前記ページバッファを具備する
    ことを特徴とする請求項1に記載の不揮発性メモリ装置。
  6. 前記ページバッファは少なくとも1ページ以上のデータ記憶空間を有する
    ことを特徴とする請求項1に記載の不揮発性メモリ装置。
  7. 前記各々のコピーバックデータは1ページのデータサイズを有する
    ことを特徴とする請求項1に記載の不揮発性メモリ装置。
  8. 少なくとも一つ以上のマットからコピーバックデータを読み出す段階と、
    前記読み出されたコピーバックデータを複数個のバッファに記憶する段階と、
    前記複数個のバッファに記憶されている前記コピーバックデータを複数個のページバッファに連続して提供する段階と、
    前記複数個のページバッファに提供された前記コピーバックデータを対応する複数個のマットに同時にプログラムする段階とを含み、
    前記各バッファに記憶されたコピーバックデータを、各バッファと対応する一つのページバッファを経由して、対応する一つのマットに対して前記コピーバックデータをプログラムする構成を備え、
    前記バッファと前記ページバッファとの間は、互いに一対マットの総数の関係となるように電気的にマルチ接続される
    ことを特徴とする不揮発性メモリ装置のマルチページコピーバック方法。
  9. 前記読み出し段階は前記少なくとも1つのマットから前記コピーバックデータをランダムに読み出す
    ことを特徴とする請求項8に記載の不揮発性メモリ装置のマルチページコピーバック方法。
  10. 前記読み出し段階は前記少なくとも1つのマットの互いに異なるページから前記コピーバックデータを読み出す
    ことを特徴とする請求項8に記載の不揮発性メモリ装置のマルチページコピーバック方法。
  11. 前記読み出し段階は互いに異なる2つ以上のマットから前記コピーバックデータを読み出す
    ことを特徴とする請求項8に記載の不揮発性メモリ装置のマルチページコピーバック方
    法。
  12. 前記複数個のページバッファと前記複数個のマットの個数は同一である
    ことを特徴とする請求項8に記載の揮発性メモリ装置のマルチページコピーバック方法。
  13. 前記各々のバッファは少なくとも1ページのデータ記憶空間を有する
    ことを特徴とする請求項8に記載の不揮発性メモリ装置のマルチページコピーバック方法。
  14. 前記読み出し段階は1ページのデータサイズを有する前記コピーバックデータを読み出す
    ことを特徴とする請求項8に記載の不揮発性メモリ装置のマルチページコピーバック方法。
  15. 複数個のページバッファと、
    複数個のバッファとを含み、
    前記複数個のページバッファは対応する複数個のマットから読み出されたコピーバックデータを記憶して、
    前記複数個のバッファは前記複数個のページバッファから前記コピーバックデータを受け入れて一時記憶して、
    前記複数個のバッファは前記コピーバックデータを前記複数個のページバッファに連続して提供して、
    前記複数個のページバッファは前記複数個のバッファから提供された前記コピーバックデータを前記複数個のマットに同時にプログラムし、
    前記各バッファに記憶されたコピーバックデータを、各バッファと対応する一つのページバッファを経由して、対応する一つのマットに対して前記コピーバックデータをプログラムする構成を備え、
    前記バッファと前記ページバッファとの間は、互いに一対マットの総数の関係となるように電気的にマルチ接続される
    ことを特徴とする不揮発性メモリ装置。
  16. 前記複数個のページバッファは前記少なくとも一つのマットから前記コピーバックデータをランダムに読み出す
    ことを特徴とする請求項15に記載の不揮発性メモリ装置。
  17. 前記コピーバックデータは少なくとも1ページのデータサイズを有する
    ことを特徴とする請求項15に記載の不揮発性メモリ装置。
  18. 前記複数個のページバッファは同一のマットの互いに異なるページから前記コピーバックデータを読み出す場合に、
    エラーが発生したページから1ページのデータ大きさの1番目のコピーバックデータを読み出して1番目のバッファに記憶した後、エラーが発生したページから2番目のコピーバックデータを読み出し、2番目のバッファに順に記憶する
    ことを特徴とする請求項15に記載の不揮発性メモリ装置。
  19. 前記複数個のページバッファは互いに異なる2つ以上のマットから前記コピーバックデータを読み出す
    ことを特徴とする請求項15に記載の不揮発性メモリ装置。
  20. 前記ページバッファは前記複数個のマットと同一の個数を有する
    ことを特徴とする請求項15に記載の不揮発性メモリ装置。
JP2006058628A 2005-04-07 2006-03-03 不揮発性メモリ装置及びそのマルチページコピーバック方法 Active JP5021220B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2005-0029067 2005-04-07
KR1020050029067A KR100626393B1 (ko) 2005-04-07 2005-04-07 불휘발성 메모리 장치 및 그것의 멀티-페이지 카피백 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006294218A JP2006294218A (ja) 2006-10-26
JP5021220B2 true JP5021220B2 (ja) 2012-09-05

Family

ID=37082995

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006058628A Active JP5021220B2 (ja) 2005-04-07 2006-03-03 不揮発性メモリ装置及びそのマルチページコピーバック方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7295470B2 (ja)
JP (1) JP5021220B2 (ja)
KR (1) KR100626393B1 (ja)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100669349B1 (ko) * 2005-12-02 2007-01-16 삼성전자주식회사 플래시 메모리 장치 및 그것의 읽기 방법
KR100754226B1 (ko) * 2006-08-22 2007-09-03 삼성전자주식회사 비휘발성 데이터 저장장치의 프로그래밍 방법 및 그 장치
KR100806119B1 (ko) * 2006-10-23 2008-02-22 삼성전자주식회사 플래시 메모리 장치 및 플래시 메모리 장치의 멀티-페이지프로그램 방법
US7848141B2 (en) * 2006-10-31 2010-12-07 Hynix Semiconductor Inc. Multi-level cell copyback program method in a non-volatile memory device
KR101354152B1 (ko) * 2006-12-18 2014-01-27 삼성전자주식회사 비휘발성 데이터 저장장치에 구비된 가상 파일 시스템의작업 스케줄링 방법 및 장치
US7554855B2 (en) * 2006-12-20 2009-06-30 Mosaid Technologies Incorporated Hybrid solid-state memory system having volatile and non-volatile memory
KR100918707B1 (ko) 2007-03-12 2009-09-23 삼성전자주식회사 플래시 메모리를 기반으로 한 메모리 시스템
JP5579972B2 (ja) * 2008-08-01 2014-08-27 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル 半導体記憶装置及び半導体記憶装置のテスト方法
KR101543431B1 (ko) 2008-11-20 2015-08-11 삼성전자주식회사 불휘발성 메모리 시스템 및 그것의 액세스 방법
US8266361B1 (en) 2009-01-28 2012-09-11 Cypress Semiconductor Corporation Access methods and circuits for devices having multiple buffers
US8099543B2 (en) 2009-02-03 2012-01-17 Micron Technology, Inc. Methods of operarting memory devices within a communication protocol standard timeout requirement
KR101005164B1 (ko) * 2009-05-29 2011-01-04 주식회사 하이닉스반도체 불휘발성 메모리 소자 및 이의 프로그램 방법
TWI426522B (zh) * 2009-08-10 2014-02-11 Silicon Motion Inc 資料儲存裝置及將測試資料寫入記憶體之方法
JP2011070365A (ja) * 2009-09-25 2011-04-07 Toshiba Corp メモリシステム
JP2012088816A (ja) 2010-10-15 2012-05-10 Toshiba Corp メモリシステム
KR101148352B1 (ko) * 2010-11-02 2012-05-21 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치 및 그의 동작 방법
KR20130052971A (ko) 2011-11-14 2013-05-23 삼성전자주식회사 비휘발성 메모리 장치의 동작 방법
KR20130076430A (ko) 2011-12-28 2013-07-08 삼성전자주식회사 적응적 카피백 방법 및 이를 이용한 저장 장치
KR102083450B1 (ko) 2012-12-05 2020-03-02 삼성전자주식회사 페이지 버퍼를 포함하는 불휘발성 메모리 장치 및 그것의 동작 방법
KR20180026022A (ko) 2016-09-01 2018-03-12 삼성전자주식회사 스토리지 장치 및 그것의 카피백 방법
JP6178909B1 (ja) * 2016-09-15 2017-08-09 ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション 不揮発性半導体記憶装置
JP7248842B1 (ja) 2022-03-24 2023-03-29 ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション 半導体装置

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR960000616B1 (ko) * 1993-01-13 1996-01-10 삼성전자주식회사 불휘발성 반도체 메모리 장치
KR0169412B1 (ko) * 1995-10-16 1999-02-01 김광호 불휘발성 반도체 메모리 장치
KR0172366B1 (ko) * 1995-11-10 1999-03-30 김광호 불휘발성 반도체 메모리 장치의 독출 및 프로그램 방법과 그 회로
JP3586993B2 (ja) 1996-10-04 2004-11-10 ソニー株式会社 半導体不揮発性記憶装置
US6469955B1 (en) * 2000-11-21 2002-10-22 Integrated Memory Technologies, Inc. Integrated circuit memory device having interleaved read and program capabilities and methods of operating same
JP2001167586A (ja) * 1999-12-08 2001-06-22 Toshiba Corp 不揮発性半導体メモリ装置
JP3871184B2 (ja) * 2000-06-12 2007-01-24 シャープ株式会社 半導体記憶装置
JP2002074941A (ja) * 2000-08-23 2002-03-15 Nec Corp 複数ラインバッファ型メモリlsi
US6377507B1 (en) * 2001-04-06 2002-04-23 Integrated Memory Technologies, Inc. Non-volatile memory device having high speed page mode operation
US6671204B2 (en) * 2001-07-23 2003-12-30 Samsung Electronics Co., Ltd. Nonvolatile memory device with page buffer having dual registers and methods of using the same
CN1278239C (zh) 2002-01-09 2006-10-04 株式会社瑞萨科技 存储系统和存储卡
JP2003308698A (ja) * 2002-04-12 2003-10-31 Toshiba Corp 不揮発性半導体メモリ装置
KR100479170B1 (ko) * 2002-06-14 2005-03-28 주식회사 포인칩스 메모리 억세스 제어장치 및 방법
JP2004030784A (ja) 2002-06-26 2004-01-29 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
US6850438B2 (en) * 2002-07-05 2005-02-01 Aplus Flash Technology, Inc. Combination nonvolatile memory using unified technology with byte, page and block write and simultaneous read and write operations
JP2004178620A (ja) 2002-11-22 2004-06-24 Ememory Technology Inc フラッシュメモリ
KR100543447B1 (ko) 2003-04-03 2006-01-23 삼성전자주식회사 에러정정기능을 가진 플래쉬메모리장치
JP2003331588A (ja) * 2003-04-14 2003-11-21 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置
KR100624960B1 (ko) * 2004-10-05 2006-09-15 에스티마이크로일렉트로닉스 엔.브이. 반도체 메모리 장치 및 이의 패키지 및 이를 이용한메모리 카드

Also Published As

Publication number Publication date
US7295470B2 (en) 2007-11-13
US20060227607A1 (en) 2006-10-12
JP2006294218A (ja) 2006-10-26
KR100626393B1 (ko) 2006-09-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5021220B2 (ja) 不揮発性メモリ装置及びそのマルチページコピーバック方法
KR101152283B1 (ko) 파이프라인 데이터 재배치 및 개선된 칩 구조
US7472331B2 (en) Memory systems including defective block management and related methods
JP5612514B2 (ja) 不揮発性メモリコントローラ及び不揮発性記憶装置
JP3892851B2 (ja) メモリカード及び半導体装置
US8055873B2 (en) Data writing method for flash memory, and controller and system using the same
US7529879B2 (en) Incremental merge methods and memory systems using the same
US7773420B2 (en) Memory card system including NAND flash memory and SRAM/NOR flash memory, and data storage method thereof
US9122498B2 (en) Firmware code loading method, memory controller and memory storage apparatus
JP4984666B2 (ja) 不揮発性メモリ
JP2004507007A (ja) 不揮発性メモリに対する信頼性の高いデータコピー処理を行うための新規の方法および構造
WO2003085676A1 (fr) Dispositif de stockage non volatil
JP4460967B2 (ja) メモリカード、不揮発性半導体メモリ、及び半導体メモリの制御方法
JP4177360B2 (ja) メモリコントローラ、フラッシュメモリシステム及びフラッシュメモリの制御方法
US10365834B2 (en) Memory system controlling interleaving write to memory chips
JP2005339231A (ja) メモリカード、半導体装置、及び半導体メモリの制御方法
JP2010160605A (ja) 半導体記憶装置、ホスト機器及び半導体記憶システム
JPWO2007105688A1 (ja) メモリコントローラ、不揮発性記憶装置、及び不揮発性記憶システム
JP4661369B2 (ja) メモリコントローラ
JP2010128697A (ja) メモリシステム
JP4177292B2 (ja) メモリンコントローラ、フラッシュメモリシステム及びフラッシュメモリの制御方法
JP4273106B2 (ja) メモリコントローラ、フラッシュメモリシステム及びフラッシュメモリの制御方法
JP2005292925A (ja) メモリコントローラ、フラッシュメモリシステム、並びに、フラッシュメモリの制御方法
JP4177301B2 (ja) メモリコントローラ、フラッシュメモリシステム及びフラッシュメモリの制御方法
JP4304167B2 (ja) メモリコントローラ、フラッシュメモリシステム及びフラッシュメモリの制御方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090212

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110729

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110816

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111024

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120214

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120418

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120515

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120614

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5021220

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150622

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250