JP5008055B2 - 半導体メモリ装置とそのレイテンシ信号発生方法 - Google Patents

半導体メモリ装置とそのレイテンシ信号発生方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5008055B2
JP5008055B2 JP2006128315A JP2006128315A JP5008055B2 JP 5008055 B2 JP5008055 B2 JP 5008055B2 JP 2006128315 A JP2006128315 A JP 2006128315A JP 2006128315 A JP2006128315 A JP 2006128315A JP 5008055 B2 JP5008055 B2 JP 5008055B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
latency
cycle
response
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006128315A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006313616A (ja
Inventor
光一 朴
永鉉 全
星珍 張
鎬永 宋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JP2006313616A publication Critical patent/JP2006313616A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5008055B2 publication Critical patent/JP5008055B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/1066Output synchronization
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1072Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories

Landscapes

  • Dram (AREA)

Description

本発明は、半導体メモリ装置に係わり、特に、リード動作時にデータのみでなく、データ出力ストローブ信号を発生する半導体メモリ装置及びこの装置のレイテンシ信号発生方法(Semiconductor memory device and data output strobe signal generating method thereof)に関するものである。
従来の半導体メモリ装置は、リード動作時に外部から印加されるクロック信号に同期したデータとデータストローブ信号を発生する。そして、データストローブ信号はプリアンブル信号とストローブ信号からなっていて、プリアンブル信号はストローブ信号が発生する以前に発生する。プリアンブル信号が発生している間にデータは出力せず、データはストローブ信号が出力する際に出力される。一般に、プリアンブル信号は1クロックサイクルの間に発生する。
しかしながら、半導体メモリ装置がさらに高速化されるにつれて1クロックサイクルの間に発生するプリアンブル信号を有するデータストローブ信号のストローブ信号が受信側に正確に印加できないという問題がある。このような問題を解決するためにプリアンブル信号の発生サイクルを増加させるとストローブ信号が受信側で正確に印加できる。
しかしながら、半導体メモリ装置の動作周波数を考慮せず、プリアンブル信号の発生サイクルを増加することは動作中にエラーを引き起こすこととなる。よって、半導体メモリ装置の動作周波数に適したクロックサイクルのプリアンブル信号を有するデータストローブ信号を発生させる半導体メモリ装置が必要とされる。
本発明の目的は、データストローブ信号におけるプリアンブル信号の発生サイクルを可変することができる半導体メモリ装置を提供することにある。
本発明の他の目的は、前記目的を果たすための半導体メモリ装置のレイテンシ信号発生方法を提供することにある。
前記目的を果たすために本発明の半導体メモリ装置の第1実施形態は、ライト動作時にデータを保存し、リード動作時にデータを出力するメモリセルアレイ、モード設定動作時に外部から印加されるコード信号に応答してCAS(Columm Address Strobe)レイテンシ信号、バースト長さ信号、及びプリアンブルサイクル信号を設定するモード設定手段、及び前記CASレイテンシ信号に相当するサイクルに前記メモリセルアレイに保存されたデータが外部に出力される前の前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルほど先立って活性化され、前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルに前記バースト長さ信号に相当するサイクルを加えたサイクル分が前記プリアンブルサイクル信号の活性化期間を維持した後に不活性化されるデータストローブレイテンシ信号及び前記データストローブレイテンシ信号の活性化期間を前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクル分に遅延させて前記データレイテンシ信号を発生するレイテンシ信号発生手段を具備することを特徴とする。
前記目的を果たすために本発明の半導体メモリ装置の第2実施形態は、ライト動作時にデータを保存し、リード動作時にデータを出力するメモリセルアレイ、モード設定動作時に外部から印加されるコード信号に応答してCASレイテンシ信号、バースト長さ信号、及びプリアンブルサイクル信号を設定するモード設定手段、前記CASレイテンシ信号に相当するサイクルに前記メモリセルアレイに保存されたデータが外部に出力される前の前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルほど先立って活性化され、前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルに前記バースト長さ信号に相当するサイクルを加えたサイクル分が前記プリアンブルサイクル信号の活性化期間を維持した後に不活性化されるデータストローブレイテンシ信号を発生するデータストローブレイテンシ信号発生手段、及び前記CASレイテンシ信号に相当するサイクルに前記メモリセルアレイに保存されたデータが出力されるサイクルに合わせてデータレイテンシ信号を活性化し、前記バースト長さ信号に相当するサイクル分が前記データレイテンシ信号の活性化期間を維持した後に不活性化されるデータレイテンシ信号を発生するデータレイテンシ信号発生手段を具備することを特徴とする。
前記第1及び第2実施形態の半導体メモリ装置は、外部から印加される命令信号をデコーディングして前記モード設定動作のためのモード設定信号、及び前記リード動作のためのリード信号を発生する命令語デコーダ、外部から印加される外部クロック信号に同期された遅延クロック信号を発生し、前記外部クロック信号と前記遅延クロック信号との間に同期が形成されると、スタート信号を発生する遅延同期ループ、及び前記外部クロック信号をバッファしてバッファされたクロック信号を発生するクロックバッファをさらに具備することを特徴とする。
前記第1実施形態の半導体メモリ装置の前記レイテンシ信号発生手段は、前記スタート信号に応答して初期化され、前記CASレイテンシ信号及び前記プリアンブルサイクル信号、前記バッファされたクロック信号、及び前記遅延クロック信号に応答して前記リード命令を入力して前記CASレイテンシ信号に相当するサイクルに、データが外部に出力する前の前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルほど先立って活性化されるレイテンシ信号を発生するレイテンシ信号発生器、前記レイテンシ信号の活性化期間を前記バースト長さ信号に相当するサイクルに、前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルを加えたサイクル分に維持した後に、不活性化される前記データストローブレイテンシ信号を発生するデータストローブレイテンシ信号発生器、及び前記データストローブレイテンシ信号の活性化の時点を前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクル分に遅延させてデータレイテンシ信号を発生するデータレイテンシ信号発生器を具備することを特徴とする。
そして、第1実施形態の半導体メモリ装置の前記レイテンシ信号発生器は、前記CASレイテンシ信号に相当するサイクルにおいて、前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクル分を差し引いたサイクルに相当する第1制御信号を発生する第1制御信号発生器、前記バースト長さ信号に相当するサイクルに前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルを加えたサイクルに相当する第2制御信号を発生する第2制御信号発生器、前記スタート信号を所定時間程に遅延して遅延されたスタート信号を発生する遅延器、前記スタート信号に応答して初期値に設定され、前記第1制御信号に応答して前記初期値のシフティングビット数が決定され、前記バッファされたクロック信号に応答してシフティング動作を行って第1シフティング出力信号を発生する第1シフトレジスタ、前記遅延されたスタート信号に応答して初期値が設定され、前記第1制御信号に応答して前記初期値のシフティングビット数が決定され、前記遅延クロック信号に応答してシフティング動作を行って第2シフティング出力信号を発生する第2シフトレジスタ、前記第1シフティング出力信号に応答して前記リード信号を伝送する第1スイッチ、前記第1スイッチから出力される信号を保存するレジスタ、前記第2シフティング出力信号に応答して前記レジスタから出力される信号を前記レイテンシ信号として発生する第2スイッチを具備することを特徴とし、前記データストローブレイテンシ信号発生器は前記バースト長さ信号に相当するサイクルに前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルを加えたサイクルに相当する信号をエンコーディングするエンコーダ、及び前記レイテンシ信号を入力して前記遅延クロック信号に応答して前記レイテンシ信号を前記エンコーダの出力信号に相当するサイクル分に伸張して前記データストローブレイテンシ信号を発生するパルス幅伸張器を具備することを特徴とし、前記データレイテンシ信号発生器は前記プリアンブルサイクル信号をデコーディングするデコーダ、及び前記データストローブレイテンシ信号を入力し、前記遅延クロック信号に応答して前記データストローブレイテンシ信号の活性化時点を前記デコーダの出力信号に相当するサイクル分に遅延させて前記データレイテンシ信号を発生するパルス幅減少器を具備することを特徴とする。
前記第2実施形態の半導体メモリ装置の前記データストローブレイテンシ信号発生手段は、前記スタート信号に応答して初期化され、前記CASレイテンシ信号及び前記プリアンブルサイクル信号、前記バッファされたクロック信号、及び前記遅延クロック信号に応答して前記リード命令を入力して前記CASレイテンシ信号に相当するサイクルに、データが外部に出力される前の前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルほど先立って活性化されるレイテンシ信号を発生するレイテンシ信号発生器、及び前記レイテンシ信号の活性化期間を前記バースト長さ信号に相当するサイクルに、前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルを加えたサイクル分を維持した後に不活性化される前記データストローブレイテンシ信号を発生するデータストローブレイテンシ信号発生器を具備することを特徴とし、前記レイテンシ信号発生器及び前記データストローブレイテンシ信号発生器は、前記第1実施形態の半導体メモリ装置における前記レイテンシ信号発生手段の前記レイテンシ信号発生器及び前記データストローブレイテンシ信号発生器と同一構成を有することを特徴とする。
そして、第2実施形態の半導体メモリ装置の前記データレイテンシ信号発生器は、前記スタート信号を前記所定時間ほど遅延させて遅延されたスタート信号を発生する遅延器と、前記スタート信号に応答して初期値に設定され、前記CASレイテンシ信号に応答して前記初期値のシフティングビット数が決定され、前記バッファされたクロック信号に応答してシフティング動作を行って第1シフティング出力信号を発生する第1シフトレジスタと、前記遅延されたスタート信号に応答して初期値が設定され、前記CASレイテンシ信号に応答して前記初期値のシフティングビット数が決定され、前記遅延クロック信号に応答してシフティング動作を行って第2シフティング出力信号を発生する第2シフトレジスタと、前記第1シフティング出力信号に応答して前記リード信号を伝送する第1スイッチ、前記第1スイッチから出力される信号を保存するレジスタ、前記第2シフティング出力信号に応答して前記レジスタから出力される信号を前記レイテンシ信号として発生する第2スイッチ、及び前記レイテンシ信号に応答して活性化され、前記バースト長さ信号に相当するサイクル分に前記レイテンシ信号の活性化期間が伸張するパルス幅伸張器を具備することを特徴とする。
前記他の目的を果たすための本発明の半導体メモリ装置のレイテンシ信号発生方法は、モード設定動作時に外部から印加されるコード信号に応答してCASレイテンシ信号、バースト長さ信号、及びプリアンブルサイクル信号を設定するモード設定段階、前記CASレイテンシ信号に相当するサイクルにメモリセルアレイに、保存されたデータが外部に出力される前の前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルほど先立って活性化され、前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルに前記バースト長さ信号に相当するサイクルを加えたサイクル分に前記プリアンブルサイクル信号の活性化期間を維持した後に不活性化されるデータストローブレイテンシ信号を発生するデータストローブレイテンシ信号発生段階、及び前記データストローブレイテンシ信号の活性化期間を前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクル分に遅延させて前記データレイテンシ信号を発生するレイテンシ信号発生段階を具備することを特徴とする。
本発明に係る半導体メモリ装置及びこの装置のレイテンシ信号発生方法は、動作周波数によってデータストローブレイテンシ信号のプリアンブル信号の発生サイクルを可変することができる。
したがって、半導体メモリ装置の動作信頼性が向上することができる。
以下、添付した図面を参照しながら本発明の半導体メモリ装置及びその装置のデータストローブ信号発生方法を説明する。
図1は、本発明に係る半導体メモリ装置の実施形態の構成を示すブロック図であり、メモリセルアレイ10−1,10−2、センス増幅器12−1,12−2、データ出力バッファ14−1,14−2、データ出力ドライバ16、遅延同期ループ18、クロックバッファ20、命令語デコーダ22、モード設定回路24、レイテンシ信号発生回路26、データストローブ信号バッファ28、及びデータストローブ信号ドライバ30で構成されている。図1は、ダブルデータレート(double data rate)でデータを入出力する半導体メモリ装置として、リード動作に係るブロックのみを示したものである。
図1で、CLK、CMD、CODEは外部から印加されるクロック信号、命令信号、及びコード信号をそれぞれ示す。一般的に、コード信号(CODE)は半導体メモリ装置のアドレスピン(図示せず)によって印加される。DQ、DQSは外部に出力されるデータ及びデータストローブ信号を示す。そして、PSTARTは遅延同期ループ18の動作によってクロック信号CLKと遅延クロック信号DCLKとの位相間に同期されると所定時間の間にイネーブルされる信号である。
次に、図1のブロックそれぞれの機能を説明する。
メモリセルアレイは第1及び第2メモリセルアレイ10−1,10−2からなり、リード動作時に第1及び第2メモリセルアレイそれぞれに保存されたデータを同時に出力する。センス増幅器12−1,12−2それぞれは、リード動作時に第1及び第2メモリセルアレイそれぞれから出力されるデータを増幅して出力する。データ出力バッファ14−1は、遅延クロック信号DCLK及びレイテンシ信号LATDQに応答してセンス増幅器12−1から出力されるデータをバッファして出力し、データ出力バッファ14−2は遅延クロック信号DCLKの反転された信号及びレイテンシ信号LATDQに応答してセンス増幅器12−2から出力されるデータをバッファして出力する。データ出力ドライバ16はデータ出力バッファ14−1,14−2から出力されるデータを駆動してデータDQを発生する。遅延同期ループ18はクロック信号CLKを入力して遅延クロック信号DCLKを発生し、クロック信号CLKと遅延クロック信号DCLKの位相が同期されると、スタート信号PSTARTを発生する。クロックバッファ20はクロック信号CLKをバッファしてバッファされたクロック信号PCLKを発生する。命令語デコーダ22はクロック信号CLKに応答して外部から印加される命令信号CMDをデコーディングしてリード命令PREAD及びモード設定命令MRSを発生する。モード設定回路24はモード設定命令MRSに応答して外部から印加されるコード信号CODEを入力し、CASレイテンシ信号CL、バースト長さ信号BL、及びプリアンブルサイクル信号PAMを設定する。レイテンシ信号発生回路26はスタート信号PSTARTに応答して初期値が設定され、バッファされたクロック信号PCLK及び遅延クロック信号DCLKに応答して動作が行われ、CASレイテンシ信号CL及びリード命令PREADに応答して活性化された後、バースト長さ信号BLに相当する期間のうち維持した後に不活性化されるデータレイテンシ信号LATDQを発生し、CASレイテンシ信号CLからプリアンブルサイクル信号PAMを差し引いた信号及びリード命令PREADに応答して活性化された後にバースト長さ信号BLにプリアンブルサイクル信号PAMを加えた期間中維持した後に不活性化されるデータストローブレイテンシ信号LATDQSを発生する。データストローブ信号バッファ28は、データストローブレイテンシ信号LATDQSに応答して遅延クロック信号DCLKをバッファしてバッファされた遅延クロック信号DCLKを発生する。データストローブ信号ドライバ30は、バッファされた遅延クロック信号DCLKを駆動してデータストローブ信号DQSを発生する。
図1に示された本発明の半導体メモリ装置は、モード設定動作時にモード設定命令MRSに応答してプリアンブルサイクル信号PAMを可変することがである。これによって、半導体メモリ装置の動作周波数に従って互いに異なるプリアンブルサイクルを有するデータ出力ストローブ信号を発生することができる。
図2は、図1に示されたレイテンシ信号発生回路の一実施形態の構成を示すブロック図であり、シフトレジスタ40,48、選択器42,46、レジスタ44、第1及び第2制御信号発生器50,54、遅延器52、データストローブレイテンシ信号発生器56、データレイテンシ信号発生器58で構成されている。図2で、シフトレジスタ40,48、選択器42,46、レジスタ44、第1及び第2制御信号発生器50,54、及び遅延器52はレイテンシ信号発生器を構成する。
次に、図2に示されたブロックそれぞれの機能について説明する。
第1制御信号発生器50は、CASレイテンシ信号CLからプリアンブルサイクル信号PAMを減算して制御信号CON1を発生する。すなわち、CASレイテンシ信号CLが“1010”であり、プリアンブル信号PAMが“0010”なら、 第1制御信号発生器50は“1000”の制御信号CON1を発生する。第2制御信号発生器54は、バースト長さ信号BLにプリアンブルサイクル信号PAMに2を掛けた値を加算して制御信号CON2を発生する。すなわち、バースト長さ信号BLが“0100”であり、プリアンブルサイクル信号PAMが“0010”なら、第2制御信号発生器54は“1000”の制御信号CON2を発生する。遅延器52は、スタート信号PSTARTを時間tSAC+tREAD程に遅延して遅延されたスタート信号PSTART’を発生する。ここで、時間tSACは、遅延クロック信号DCLKがクロック信号CLKに比べて先立つ時間を、時間tREADは命令語デコーダ22がリード命令をくだす命令信号CMDを入力した後、リード信号PREADを発生するときまでの時間を示す。シフトレジスタ40は、遅延されたスタート信号PSTART’に応答してイネーブルされ、バッファされたクロック信号PCLKに応答して“10...0”の信号をシフティングし、制御信号CON1に応答して該当のビット程のデータをシフティングする。もしも制御信号CON1が“1000”なら“10000000”のデータをシフティングする。選択器42はシフトレジスタ40から出力される各ビットデータに応答してリード信号PREADを選択して出力する。レジスタ44は選択器42から出力されるデータを保存して信号r1〜r11を発生する。シフトレジスタ48はスタート信号PSTARTに応答してイネーブルされ、遅延クロック信号DCLKに応答して“10...0”の信号をシフティングし、制御信号CON1に応答して該当のビット程のデータをシフティングする。もしも制御信号CON1が“1000”なら“10000000”のデータをシフティングする。選択器46は、シフトレジスタ48から出力される各ビットデータに応答してレジスタ44から出力される信号r1〜r11の中一つの信号を選択してレイテンシ信号LATとして発生する。結果的に、レイテンシ信号発生器はリード動作時にCASレイテンシ信号CL及びプリアンブルサイクル信号PAMを入力してCASレイテンシ信号CLに相当するサイクルにデータが外部に出力される前のプリアンブルサイクル信号PAMに相当するサイクル分に先に進んだ時点で活性化させてレイテンシ信号LATを発生する。
データストローブレイテンシ信号発生器56はレイテンシ信号LATに応答して活性化され、制御信号CON2に応答して活性化を維持した後、不活性化されるデータストローブレイテンシ信号LATDQSを発生する。例えば、制御信号CON2が“1000”ならデータストローブレイテンシ信号発生器56はレイテンシ信号LATの活性化期間を遅延クロック信号DCLKに応答して8サイクル間伸張してデータストローブレイテンシ信号LATDQSを発生する。
データレイテンシ信号発生器58はデータストローブレイテンシ信号LATDQSを入力してデータストローブレイテンシ信号LATDQSの活性化期間を遅延クロック信号DCLKに応答してプリアンブルサイクル信号PAMに相当するサイクル程減らしてデータレイテンシ信号LATDQを発生する。
図3は、図2に示されたレイテンシ信号発生器のシフトレジスタ、及び選択器の実施形態の構成を示す図であり、シフトレジスタ40は従属接続されたDフリップフロップ40−1〜40−11、スイッチ41−1〜41−7、及びデコーダ41−8で構成され、選択器42はスイッチ42−1〜42−11で構成され、選択器46はスイッチ46−1〜46−11で構成され、シフトレジスタ48は従属接続されたDフリップフロップ48−1〜48−11及びスイッチ49−1〜49−7で構成されている。
次に、図3に示されたシフトレジスタ及び選択器それぞれの機能を説明する。
デコーダ41−8は、第1制御信号CON1をデコーディングしてシフティング制御信号CL5〜CL11を発生する。もし、第1制御信号CON1が“1000”ならシフティング制御信号CL8を活性化させる。スイッチ41−1〜41−7はシフティング制御信号CL5〜CL11それぞれに応答してオンされる。シフトレジスタ40は、遅延されたスタート信号PSTART’に応答して“10...0”に初期化されて、スイッチ41−1〜41−7中の一つのスイッチがオンとされて、バッファされたクロック信号PCLKに応答してシフティング動作を行って信号s1〜s11を発生する。もし、スイッチ41−4がオンされると、シフトレジスタ40は“10...0”に初期化されて、バッファされたクロック信号PCLKに応答してシフティング動作を行う。シフトレジスタ48は、スタート信号PSTARTに応答して“10...0”に初期化されて、制御信号CON2に応答してスイッチ49−1〜49−7中の一つのスイッチがオンされて、遅延クロック信号DCLKに応答してシフティング動作を行って信号t1〜t11を発生する。もし、スイッチ49−4がオンされたら、シフトレジスタ48は“100000000”に初期化され、遅延クロック信号DCLKに応答してシフティング動作を行う。スイッチ42−1〜42−11は、信号s1〜s11それぞれに応答して一つのスイッチがオンされてリード信号PREADを伝送する。レジスタ44は、スイッチ42−1〜42−11から送信される信号を保存し、信号r1〜r11を発生する。スイッチ46−1〜46−11は、信号t1〜t11それぞれに応答して一つのスイッチがオンされてレジスタ44に保存された信号r1〜r11中の一つの信号をレイテンシ信号LATに送る。レイテンシ信号LATの活性化期間は1クロックサイクルであり、レイテンシ信号LATの活性化時点によってデータストローブレイテンシ信号LATDQSの活性化時点が決定される。
図3に示されたシフトレジスタ40、48は、11個のDフリップフロップで構成されているが、CASレイテンシ信号CLが大きくなると、12個以上のDフリップフロップで構成される。そして、Dフリップフロップの個数が増加するによってスイッチの個数も増加するのは当然である。
図4は、図2に示されたデータストローブレイテンシ信号発生器の実施形態の構成を示す図であり、Dフリップフロップ56−1〜56−4、エンコーダ56−5、ANDゲートAND1〜AND4、及びORゲートOR1で構成されている。
次に、図4に示された構成それぞれの機能を説明する。
エンコーダ56−5は、制御信号CON2をエンコーディングして信号b1〜b4を発生する。もし、制御信号CON2が“1000”なら信号b1〜b3が活性化され、“0100”なら信号b1が活性化され、“0110”なら信号b1、b2が活性化される。Dフリップフロップ56−1〜56−4それぞれは、遅延クロック信号DCLKに応答してレイテンシ信号LAT、ANDゲートAND1〜AND3の出力信号それぞれを入力して1クロックサイクル程が遅延させて出力される。ANDゲートAND1〜AND4それぞれは、Dフリップフロップ56−1〜56−4の出力信号それぞれと信号b1〜b4それぞれとを論理積する。ORゲートOR1は、レイテンシ信号LATとDフリップフロップ56−1〜56−4との出力信号を論理和してデータストローブレイテンシ信号LATDQSを発生する。結果的に、Dプルリブプルロブ56−1とANDゲートAND1とがレイテンシ信号LATを1クロックサイクルほど遅延させて、Dプルリブプルロブ56−2とANDゲートAND2とがレイテンシ信号LATを2クロックサイクルほど遅延させる。このような方法で、レイテンシ信号LATを総4クロックサイクルほど遅延させることが可能である。もし、信号b1〜b3が活性化されたら、レイテンシ信号LATが3クロックサイクルほど遅延され、これによってレイテンシ信号LATの活性化期間が3クロックサイクルほど伸張されて、データストローブレイテンシ信号LATDQSの活性化期間が総4クロックサイクルとなる。そして、図4に示せなかったが、場合によってはデータストローブレイテンシ信号LATDQSの活性化期間を所定時間さらに伸張させるための追加的な回路が必要とされる場合もある。
図4に示されたデータストローブレイテンシ信号発生器は、レイテンシ信号LATのパルス幅を総4クロックサイクルほど追加的に伸張させることが可能な構成であり、図4の構成にDプルリブプルロブとANDゲートとで構成される回路を追加的に従属接続することでレイテンシ信号LATのパルス幅を総5クロックサイクル以上追加的に伸張させることが可能である。すなわち、図4のDプルリブプルロブとANDゲートとで構成される回路を5段に従属接続させて構成すると、レイテンシ信号LATのパルス幅を総5クロックサイクルほど追加的に伸張させることが可能となる。
図5は、図2に示されたデータレイテンシ信号発生器の実施形態の構成を示す図であり、Dフリップフロップ58−1〜58−4、スイッチ59−1〜59−4、ANDゲートAND5〜AND8、及びデコーダ59−5で構成されている。
次に、図5に示された構成それぞれの機能を説明する。
デコーダ59−5は、プリアンブル信号PAMをデコーディングして信号p1〜p4を発生する。もし、プリアンブル信号PAMが“0001”なら信号p1を活性化し、プリアンブル信号PAMが“0010”なら信号p2を活性化し、プリアンブル信号PAMが“0100”なら信号p4を活性化させる。Dフリップフロップ58−1〜58−4それぞれは、遅延クロック信号DCLKに応答してデータストローブレイテンシ信号LATDQS、ANDゲートAND5〜AND8の出力信号それぞれを入力して1クロックサイクルほど遅延させる。ANDゲートAND5〜AND8それぞれは、Dフリップフロップ58−1〜58−4の出力信号それぞれとデータストローブレイテンシ信号LATDQSとを論理積して信号e1〜e4を発生する。スイッチ59−1〜59−4それぞれは、信号p1〜p4それぞれに応答して信号e1〜e4をデータレイテンシ信号LATDQとして発生する。例え、プリアンブルサイクル信号PAMが“0001”なら信号p1が活性化され、これによって、スイッチ59−1がオンされて信号e1をデータレイテンシ信号LATDQとして発生する。結果的に、Dプルリブプルロブ58−1とANDゲートAND5がデータストローブレイテンシ信号LATDQSの活性化時点を1クロックサイクルほど遅延させて信号e1を発生し、Dプルリブプルロブ58−2とANDゲートAND6がデータストローブレイテンシ信号LATDQSの活性化時点を2クロックサイクルほど遅延させて信号e2を発生する。このような方法でデータストローブレイテンシ信号LATDQSの活性化時点を総4クロックサイクルほど遅延させることが可能である。もし、信号p2が活性化されたらスイッチ59−2がオンされて信号e2をデータレイテンシ信号LATDQとして発生する。この際に発生されるデータレイテンシ信号LATDQはデータストローブレイテンシ信号LATDQSの活性化時点を2クロックサイクルほど遅延させた信号であり、データストローブレイテンシ信号LATDQSの活性化期間に比べてデータレイテンシ信号LATDQの活性化期間が2サイクルほど減少された信号である。
図6Aは、図2ないし図5に示されたレイテンシ信号発生回路の実施形態の動作を説明するための動作タイミング図であり、CASレイテンシ信号CLが“1010”、バースト長さ信号BLが“0100”、プリアンブルサイクル信号PAMが“0010”に設定された半導体メモリ装置、すなわち、CASレイテンシが10、バースト長さが4、プリアンブルサイクルが2に設定された半導体メモリ装置の動作を説明するためのタイミング図である。
スタート信号PSTARTが活性化され、時間tRS1後に遅延クロック信号DCLKが発生し、時間tRS2後にバッファされたクロック信号PCLKが発生する。そして、時間tRS1と時間tRS2との差が時間tSAC+tREADとなる。時間tREADは、図1の命令語デコーダ22がリード命令READを示す命令信号CMDを入力した後リード信号PREADを発生するまでの時間を示し、時間tSは遅延クロック信号DCLKに応答してデータストローブレイテンシ信号LATDQSが発生するまでの時間を、時間tACは遅延クロック信号DCLKに応答してデータストローブ信号DQSが発生するまでの時間を示し、時間tSACは時間tACと時間tSとを合わせた時間であり、遅延クロック信号DCLKがクロック信号CLKに比べて先に進む時間を示す。
遅延器52は、スタート信号PSTARTを時間tSAC+tREADほど遅延させて遅延されたスタート信号PSTART’を発生する。デコーダ41−6は“1000”の制御信号CON1をデコーディングしてシフティング制御信号CL8を活性化させる。シフトレジスタ40は、遅延されたスタート信号PSTART’に応答して“10...0”に初期化されて、スイッチ41−4がオンすることによってDフリップフロップ40−1〜40−8がバッファされたクロック信号PCLKに応答して1ビットずつシフティング動作を行って信号s1〜s8を発生する。図6Aのタイミング図に示したように、信号s1〜s8が順次に活性化される。シフトレジスタ48は、スタート信号PSTARTに応答して“10...0”に初期化されて、スイッチ49−4がオンすることによってDフリップフロップ48−1〜48−8が遅延クロック信号DCLKに応答して1ビットずつシフティング動作を行って信号t1〜t8が順次に活性化される。図に示されてないスイッチ42−4が信号s4によってオンされると、リード信号READがレジスタ44に保存され、これによってレジスタ44は“00010000000”の出力信号r1〜r11を発生する。この信号は、次に信号s4が活性化されるまで維持される。そして、レジスタ44に保存された“1”の出力信号r4は、信号t4に応答してスイッチ46−4がオンされたらレイテンシ信号LATを“1”とさせる。すなわち、レイテンシ信号LATが信号t4に応答して1クロックサイクルの間活性化される。図4のエンコーダ56−5は“1000”の制御信号CON2をエンコーディングして信号b1〜b3を活性化させる。それでは、Dプルリブプルロブ56−1及びANDゲートAND1がレイテンシ信号LATを1クロックサイクルほど遅延させて信号LATD1を発生し、Dプルリブプルロブ56−2及びANDゲートAND2が信号LATD1を1クロックサイクルほど遅延させて信号LATD2を発生し、Dプルリブプルロブ56−3及びANDゲートAND3が信号LATD2を1クロックサイクルほど遅延させて信号LATD3を発生する。これによって、ORゲートOR1はレイテンシ信号LAT及び信号LATD1〜LATD3を論理和してレイテンシ信号LATの活性化期間を3クロックサイクルほど伸張させたデータストローブレイテンシ信号LATDQSを発生する。図5のデコーダ59−5は、“0010”のプリアンブルサイクル信号PAMをデコーディングして信号p2を活性化させる。Dプルリブプルロブ58−1及びANDゲートAND5は、データストローブレイテンシ信号LATDQSの活性化時点を1クロックサイクルほど遅延させて信号e1を発生し、Dプルリブプルロブ58−2及びANDゲートAND6は信号e1の活性化時点を1クロックサイクルほど遅延させて信号e2を発生する。スイッチ59−2は、信号p2に応答して信号e2をデータレイテンシ信号LATDQとして発生する。結果的に、データストローブレイテンシ信号LATDQSの活性化時点をプリアンブルサイクル信号PAMに相当するサイクルほど遅延させてデータレイテンシ信号LATDQを活性化させる。それでは、データストローブレイテンシ信号LATDQSに応答してデータストローブレイテンシ信号LATDQSの活性化期間と同一期間の間、クロック信号CLKに同期されたデータストローブ信号DQSを発生する。そして、データレイテンシ信号LATDQの活性化期間内でクロック信号CLKの上昇及び下降エッジに同期されて4個のデータDQを順次に発生する。図6Aのタイミング図に示したように、データストローブ信号DQSは2サイクルの期間tPAMの間に発生されるプリアンブル信号と2サイクルの期間tDSの間に発生されるストローブ信号とからなる。
図6Bは、図2ないし図5に示されたレイテンシ信号発生回路の実施形態の動作を説明するための動作タイミング図であり、CASレイテンシ信号CLが“1010”、バースト長さ信号BLが“0100”、プリアンブルサイクル信号PAMが“0011”に設定された半導体メモリ装置、すなわち、CASレイテンシが10、バースト長さが4、プリアンブルサイクルが3に設定された半導体メモリ装置の動作を説明するためのタイミング図である。
この場合、図6Aに示したように、信号PSTART、PSTART’、DCLK、PCLK、PREADが発生する。
デコーダ41−6は、“0111”の制御信号CON1をデコーディングしてシフティング制御信号CL8を活性化させる。シフトレジスタ40は遅延されたスタート信号PSTART’に応答して“10...0”に初期化されて、スイッチ41−3がオンされることによってDフリップフロップ40−1〜40−7がバッファされたクロック信号PCLKに応答して1ビットずつシフティング動作を行って信号s1〜s7を発生する。図6Bのタイミング図に示したように、信号s1〜s7が順次に活性化される。シフトレジスタ48は、スタート信号PSTARTに応答して“10...0”に初期化されて、スイッチ49−3がオンドエムによってDフリップフロップ48−1〜48−7が遅延クロック信号DCLKに応答して1ビットずつシフティング動作を行って信号t1〜t7が順次に活性化される。図に示されてないスイッチ42−4が信号s4によってオンされると、リード信号READがレジスタ44に保存され、これによってレジスタ44は“00010000000”の出力信号r1〜r11を発生する。この信号は、次に信号s4が活性化されるまで維持される。そして、レジスタ44に保存された“1”の出力信号r4は、信号t4に応答してスイッチ46−4がオンされたらレイテンシ信号LATを“1”とさせる。すなわち、レイテンシ信号LATが信号t4に応答して1クロックサイクルの間活性化され、図6Aのタイミング図に示されたレイテンシ信号LATに比べて1クロックサイクルほど先立って活性化される。図4のエンコーダ56−5は、“1010”の制御信号CON2をエンコーディングして信号b1〜b4を活性化させる。それでは、図6Aのタイミング図に示されたデータストローブレイテンシ信号LATDQSに比べて1クロックサイクルほど先立って活性化され、図6Aのタイミング図に示されたデータストローブレイテンシ信号LATDQSと同一時点に不活性化されるデータストローブレイテンシ信号LATDQSを発生する。図5のデコーダ59−5は、“0011”のプリアンブルサイクル信号PAMをデコーディングして信号p3を活性化させる。スイッチ59−3は信号p3に応答して信号e3をデータレイテンシ信号LATDQとして発生する。結果的に、データストローブレイテンシ信号LATDQSの活性化時点をプリアンブルサイクル信号PAMに相当する3クロックサイクルほど遅延させてデータレイテンシ信号LATDQを活性化させる。図6Bのタイミング図に示すように、データストローブ信号DQSは3サイクルの期間tPAMの間に発生されるプリアンブル信号と2サイクルの期間tDSの間に発生されるストローブ信号とからなる。
図6A、Bの動作タイミング図からプリアンブルサイクル信号PAMを可変するによってデータストローブレイテンシ信号LATDQSのプリアンブル信号の発生サイクルを可変することが可能であることがわかる。
図7は、図1に示されたレイテンシ信号発生回路における他の実施形態の構成を示すブロック図であり、データレイテンシ信号発生回路100とデータストローブレイテンシ信号発生回路200とで構成され、データレイテンシ信号発生回路100は図2のレイテンシ信号発生回路から第2制御信号発生器54及びデータレイテンシ信号発生器58を除去し、第1制御信号発生器50を第1制御信号発生器50’に代替し、データストローブレイテンシ信号発生回路200は図2のレイテンシ信号発生回路からデータレイテンシ信号発生器58を除去して構成されている。
図7に示されたレイテンシ信号発生回路は、データレイテンシ信号発生回路100とデータストローブレイテンシ信号発生回路200とが分離されて構成されている。
図7に示されたブロックのうち、図2に示された同一番号を有するブロックの機能は、図2の機能説明を参照することでよく理解することができるので、ここでは他の番号を有するブロックの機能についてのみ説明する。
第1制御信号発生器50は、CASレイテンシ信号CLを第1制御信号として発生する。すなわち、データレイテンシ信号発生回路100は、プリアンブルサイクル信号PAMに関係なく、CASレイテンシ信号CLに相当するサイクルほど遅延された後、活性化されるデータレイテンシ信号LATDQを発生し、データレイテンシ信号LATDQの活性化期間をバースト長さ信号BLに相当するサイクルほど伸張させた後不活性化する。
データストローブレイテンシ信号発生回路200は、図2に示されたレイテンシ信号発生回路と同一動作を行ってデータストローブレイテンシ信号LATDQSを発生する。
図8は、図7に示されたレイテンシ信号発生回路の実施形態の動作を説明するための動作タイミング図であり、CASレイテンシ信号CLが“1010”、バースト長さ信号BLが“0100”、プリアンブルサイクル信号PAMが“0010”に設定された半導体メモリ装置、すなわち、CASレイテンシが10、バースト長さが4、プリアンブルサイクルが2に設定された半導体メモリ装置の動作を説明するためのタイミング図である。
データストローブレイテンシ信号発生回路200の動作タイミングは、図6Aの動作タイミング図と同様であるので、図8ではデータレイテンシ信号発生回路100の動作タイミングのみ示した。
第1制御信号発生回路50’は、CASレイテンシ信号CL“1010”を制御信号CON1として発生する。シフトレジスタ40は、遅延されたスタート信号PSTART’に応答して“10...0”に初期化され、バッファされたクロック信号PCLKに応答して1ビットずつシフティング動作を行って信号s1〜s10を発生する。図6Aのタイミング図に示されたように、信号s1〜s10が順次に活性化される。信号s4が活性化されると、リード信号PREADがレジスタ44に保存され、“00010000000”が出力信号r1〜r11を発生し、この信号は次に信号s4が活性化されるまで維持される。シフトレジスタ48は、スタート信号PSTARTに応答して“10...0”に初期化され、遅延クロック信号DCLKに応答して1ビットずつシフティング動作を行って信号t1〜t10が順次に活性化される。信号t4が活性化されると、レイテンシ信号LAT1が活性化される。図4のエンコーダ56−5は、“1000”の制御信号CON2をエンコーディングして信号b1〜b3を活性化させる。それでは、Dプルリブプルロブ56−1及びANDゲートAND1がレイテンシ信号LATを1クロックサイクルほど遅延させて信号LATD1を発生する。これによって、ORゲートOR1は、レイテンシ信号LAT及び信号LATD1を論理和してレイテンシ信号LATの活性化期間を1クロックサイクルほど伸張させたデータレイテンシ信号LATDQを発生する。そして、データレイテンシ信号LATDQに応答してデータレイテンシ信号LATDQの活性化期間と同一期間の間クロック信号CLKの上昇及び下降エッジに同期されて4個のデータDQを順次に発生する。
上述した実施形態では、ダブルデータレートで動作する半導体メモリ装置について説明したが、シングルデータレートまたはクォドデータレートで動作する半導体メモリ装置の場合にも適用することができる。
上述のように本発明の半導体メモリ装置は、動作周波数によってプリアンブルサイクルを可変することができる。
上述では、本発明の好ましい実施形態を参照しながら説明したが、当該技術分野の熟練した当業者は、添付の特許請求範囲に記載された本発明の思想及び領域から逸脱しない範囲で、本発明を多様に修正及び変更させることができる。
本発明に係る半導体メモリ装置の実施形態の構成を示すブロック図である。 図1に示されたレイテンシ信号発生回路の一実施形態の構成を示すブロック図である。 図2に示されたレイテンシ回路におけるシフトレジスタ及び選択器の実施形態の構成を示す図である。 図2に示されたデータストローブレイテンシ信号発生器の実施形態の構成を示す図である。 図2に示されたデータレイテンシ信号発生器の実施形態の構成を示す図である。 図2ないし図5に示されたレイテンシ信号発生回路の実施形態の動作を説明するための動作タイミング図である。 図2ないし図5に示されたレイテンシ信号発生回路の実施形態の動作を説明するための動作タイミング図である。 図1に示されたレイテンシ信号発生回路における他の実施形態の構成を示すブロック図である。 図7に示されたレイテンシ信号発生回路の実施形態の動作を説明するための動作タイミング図である。
符号の説明
10−1,10−2 メモリセルアレイ
12−1,12−2 センス増幅器
14−1,14−2 データ出力バッファ
16 データ出力ドライバ
18 遅延同期ループ
20 クロックバッファ
22 命令語デコーダ
24 モード設定回路
26 レイテンシ信号発生回路
28 データストローブ信号バッファ
30 データストローブ信号ドライバ
40,48 シフトレジスタ
42,46 選択器
44 レジスタ
50,54 第1及び第2制御信号発生器
52 遅延器
56 データストローブレイテンシ信号発生器
58 データレイテンシ信号発生器
BL バースト長さ信号
CL CASレイテンシ信号
CLK クロック信号
CODE コード信号
DCLK 遅延クロック信号
DQ データ
LATDQ データレイテンシ信号
MRS モード設定命令
PAM プリアンブルサイクル信号
PSTART スタート信号
PREAD リード命令

Claims (18)

  1. ライト動作時にデータを保存し、リード動作時にデータを出力するメモリセルアレイと、
    モード設定動作時に外部から印加されるコード信号に応答してCASレイテンシ信号、バースト長さ信号、及びプリアンブルサイクル信号を設定するモード設定手段と、
    前記CASレイテンシ信号に相当するサイクルに前記メモリセルアレイに保存されたデータが外部に出力される前の前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクル分が先立って活性化され、前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルに前記バースト長さ信号に相当するサイクルを加えたサイクルほど前記プリアンブルサイクル信号の活性化期間を維持した後に不活性化されるデータストローブレイテンシ信号及び前記データストローブレイテンシ信号の活性化期間を前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルほど遅延させて前記データレイテンシ信号を発生するレイテンシ信号発生手段と、を具備する
    ことを特徴とする半導体メモリ装置。
  2. 前記半導体メモリ装置は、
    外部から印加される命令信号をデコーディングして前記モード設定動作のためのモード設定信号、及び前記リード動作のためのリード信号を発生する命令語デコーダと、
    外部から印加される外部クロック信号に同期された遅延クロック信号を発生し、前記外部クロック信号と前記遅延クロック信号との間に同期されると、スタート信号を発生する遅延同期ループと、
    前記外部クロック信号をバッファしてバッファされたクロック信号を発生するクロックバッファと、をさらに具備する
    ことを特徴とする請求項1記載の半導体メモリ装置。
  3. 前記遅延クロック信号及び前記バッファされたクロック信号は前記外部クロック信号と同一の周波数を有し、前記遅延クロック信号は前記バッファされたクロック信号に比べて所定時間ほど先立って発生する
    ことを特徴とする請求項2記載の半導体メモリ装置。
  4. 前記レイテンシ信号発生手段は、
    前記スタート信号に応答して初期化され、前記CASレイテンシ信号及び前記プリアンブルサイクル信号、前記バッファされたクロック信号、及び前記遅延クロック信号に応答して前記リード命令を入力して前記CASレイテンシ信号に相当するサイクルにデータが外部に出力される前の前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクル分を先立って活性化されるレイテンシ信号を発生するレイテンシ信号発生器と、
    前記レイテンシ信号の活性化期間を前記バースト長さ信号に相当するサイクルに前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルを加えたサイクル分を維持した後に不活性化される前記データストローブレイテンシ信号を発生するデータストローブレイテンシ信号発生器と、
    前記データストローブレイテンシ信号の活性化時点を前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクル分遅延させてデータレイテンシ信号を発生するデータレイテンシ信号発生器と、を具備する
    ことを特徴とする請求項3記載の半導体メモリ装置。
  5. 前記レイテンシ信号発生器は、
    前記CASレイテンシ信号に相当するサイクルから前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルを差し引いたサイクルに相当する第1制御信号を発生する第1制御信号発生器と、
    前記バースト長さ信号に相当するサイクルに前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルを加えたサイクルに相当する第2制御信号を発生する第2制御信号発生器と、
    前記スタート信号を前記所定時間分遅延させ、遅延されたスタート信号を発生する遅延器と、
    前記遅延されたスタート信号に応答して初期値に設定され、前記第1制御信号に応答して前記初期値のシフティングビット数が決定され、前記バッファされたクロック信号に応答してシフティング動作を行って第1シフティング出力信号を発生する第1シフトレジスタと、
    前記スタート信号に応答して初期値が設定され、前記第1制御信号に応答して前記初期値のシフティングビット数が決定され、前記遅延クロック信号に応答してシフティング動作を行って第2シフティング出力信号を発生する第2シフトレジスタと、
    前記第1シフティング出力信号に応答して前記リード信号を伝送する第1スイッチと、 前記第1スイッチから出力される信号を保存するレジスタと、
    前記第2シフティング出力信号に応答して前記レジスタから出力される信号を前記レイテンシ信号として発生する第2スイッチと、を具備する
    ことを特徴とする請求項4記載の半導体メモリ装置。
  6. 前記データストローブレイテンシ信号発生器は、
    前記バースト長さ信号に相当するサイクルに前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルを加えたサイクルに相当する信号をエンコーディングするエンコーダと、
    前記レイテンシ信号を入力して前記遅延クロック信号に応答して前記レイテンシ信号を前記エンコーダの出力信号に相当するサイクル分伸張させて前記データストローブレイテンシ信号を発生するパルス幅伸張器と、を具備する
    ことを特徴とする請求項5記載の半導体メモリ装置。
  7. 前記データレイテンシ信号発生器は、
    前記プリアンブルサイクル信号をデコーディングするデコーダと、
    前記データストローブレイテンシ信号を入力し、前記遅延クロック信号に応答して前記データストローブレイテンシ信号の活性化時点を前記デコーダの出力信号に相当するサイクル分に遅延させて前記データレイテンシ信号を発生するパルス幅減少器と、を具備する ことを特徴とする請求項6記載の半導体メモリ装置。
  8. ライト動作時にデータを保存し、リード動作時にデータを出力するメモリセルアレイと、
    モード設定動作時に外部から印加されるコード信号に応答してCASレイテンシ信号、バースト長さ信号、及びプリアンブルサイクル信号を設定するモード設定手段と、
    前記CASレイテンシ信号に相当するサイクルに前記メモリセルアレイに保存されたデータが外部に出力される前の前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクル分が先立って活性化され、前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルに前記バースト長さ信号に相当するサイクルを加えたサイクルほど前記プリアンブルサイクル信号の活性化期間を維持した後に不活性化されるデータストローブレイテンシ信号を発生するデータストローブレイテンシ信号発生手段と、
    前記CASレイテンシ信号に相当するサイクルに前記メモリセルアレイに保存されたデータが出力されるサイクルに合わせてデータレイテンシ信号を活性化し、前記バースト長さ信号に相当するサイクルほど前記データレイテンシ信号の活性化期間を維持した後に不活性化されるデータレイテンシ信号を発生するデータレイテンシ信号発生手段と、を具備する
    ことを特徴とする半導体メモリ装置。
  9. 前記半導体メモリ装置は、
    外部から印加される命令信号をデコーディングして前記モード設定動作のためのモード設定信号、及び前記リード動作のためのリード信号を発生する命令語デコーダと、
    外部から印加される外部クロック信号に同期された遅延クロック信号を発生し、前記外部クロック信号と前記遅延クロック信号との間に同期されるとスタート信号を発生する遅延同期ループと、
    前記外部クロック信号をバッファしてバッファされたクロック信号を発生するクロックバッファと、をさらに具備する
    ことを特徴とする請求項8記載の半導体メモリ装置。
  10. 前記遅延クロック信号及び前記バッファされたクロック信号は前記外部クロック信号と同一の周波数を有し、前記遅延クロック信号は前記バッファされたクロック信号に比べて所定時間ほど先立って発生される
    ことを特徴とする請求項9記載の半導体メモリ装置。
  11. 前記データストローブレイテンシ信号発生手段は、
    前記スタート信号に応答して初期化され、前記CASレイテンシ信号及び前記プリアンブルサイクル信号、前記バッファされたクロック信号、及び前記遅延クロック信号に応答して前記リード命令を入力して前記CASレイテンシ信号に相当するサイクルにデータが外部に出力される前の前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルほど先立って活性化されるレイテンシ信号を発生するレイテンシ信号発生器と、
    前記レイテンシ信号の活性化期間を前記バースト長さ信号に相当するサイクルに前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルを加えたサイクルほど維持した後に不活性化される前記データストローブレイテンシ信号を発生するデータストローブレイテンシ信号発生器と、を具備する
    ことを特徴とする請求項10記載の半導体メモリ装置。
  12. 前記レイテンシ信号発生器は、
    前記CASレイテンシ信号に相当するサイクルから前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルを差し引いたサイクルに相当する第1制御信号を発生する第1制御信号発生器と、
    前記バースト長さ信号に相当するサイクルに前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルを加えたサイクルに相当する第2制御信号を発生する第2制御信号発生器と、
    前記スタート信号を前記所定時間ほど遅延させて遅延されたスタート信号を発生する遅延器と、
    前記遅延されたスタート信号に応答して初期値に設定され、前記第1制御信号に応答して前記初期値のシフティングビット数が決定され、前記バッファされたクロック信号に応答してシフティング動作を行って第1シフティング出力信号を発生する第1シフトレジスタと、
    前記スタート信号に応答して初期値が設定され、前記第1制御信号に応答して前記初期値のシフティングビット数が決定され、前記遅延クロック信号に応答してシフティング動作を行って第2シフティング出力信号を発生する第2シフトレジスタと、
    前記第1シフティング出力信号に応答して前記リード信号を伝送する第1スイッチと、 前記第1スイッチから出力される信号を保存するレジスタと、
    前記第2シフティング出力信号に応答して前記レジスタから出力される信号を前記レイテンシ信号として発生する第2スイッチと、を具備する
    ことを特徴とする請求項11記載の半導体メモリ装置。
  13. 前記データストローブレイテンシ信号発生器は、
    前記バースト長さ信号に相当するサイクルに前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルを加えたサイクルに相当する信号をエンコーディングするエンコーダと、
    前記レイテンシ信号を入力して前記遅延クロック信号に応答して前記レイテンシ信号を前記エンコーダの出力信号に相当するサイクル分に伸張させて前記データストローブレイテンシ信号を発生するパルス幅伸張器と、を具備する
    ことを特徴とする請求項12記載の半導体メモリ装置。
  14. 前記データレイテンシ信号発生器は、
    前記スタート信号を前記所定時間ほど遅延させて遅延されたスタート信号を発生する遅延器と、
    前記遅延されたスタート信号に応答して初期値に設定され、前記CASレイテンシ信号に応答して前記初期値のシフティングビット数が決定され、前記バッファされたクロック信号に応答してシフティング動作を行って第1シフティング出力信号を発生する第1シフトレジスタと、
    前記スタート信号に応答して初期値が設定され、前記CASレイテンシ信号に応答して前記初期値のシフティングビット数が決定され、前記遅延クロック信号に応答してシフティング動作を行って第2シフティング出力信号を発生する第2シフトレジスタと、
    前記第1シフティング出力信号に応答して前記リード信号を伝送する第1スイッチと、前記第1スイッチから出力される信号を保存するレジスタと、
    前記第2シフティング出力信号に応答して前記レジスタから出力される信号を前記レイテンシ信号として発生する第2スイッチと、
    前記レイテンシ信号に応答して活性化され、前記バースト長さ信号に相当するサイクル分に前記レイテンシ信号の活性化期間を伸張させるパルス幅伸張器と、を具備する
    ことを特徴とする請求項8記載の半導体メモリ装置。
  15. モード設定動作時に外部から印加されるコード信号に応答してCASレイテンシ信号、バースト長さ信号、及びプリアンブルサイクル信号を設定するモード設定段階と、
    前記CASレイテンシ信号に相当するサイクルにメモリセルアレイに保存されたデータが外部に出力される前の前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルほど先立って活性化され、前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルに前記バースト長さ信号に相当するサイクルを加えたサイクル分に前記プリアンブルサイクル信号の活性化期間を維持した後に不活性化されるデータストローブレイテンシ信号を発生するデータストローブレイテンシ信号発生段階と、
    前記データストローブレイテンシ信号の活性化期間を前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクル分に遅延させて前記データレイテンシ信号を発生するレイテンシ信号発生段階と、を具備する
    ことを特徴とする半導体メモリ装置のレイテンシ信号発生方法。
  16. 外部から印加される命令信号をデコーディングして前記モード設定動作のためのモード設定信号、及び前記リード動作のためのリード信号を発生するモード設定信号及びリード信号発生段階と、
    外部から印加される外部クロック信号に同期された遅延クロック信号を発生し、前記外部クロック信号と前記遅延クロック信号との間に同期されると、スタート信号を発生する遅延クロック信号発生段階と、
    前記外部クロック信号をバッファしてバッファされたクロック信号を発生するバッファされたクロック信号発生段階と、をさらに具備する
    ことを特徴とする請求項15記載の半導体メモリ装置のレイテンシ信号発生方法。
  17. 前記遅延クロック信号及び前記バッファされたクロック信号は前記外部クロック信号と同一の周波数を有し、前記遅延クロック信号は前記バッファされたクロック信号に比べて所定時間ほど先立って発生する
    ことを特徴とする請求項16記載の半導体メモリ装置のレイテンシ信号発生方法。
  18. 前記レイテンシ信号発生段階は、
    前記スタート信号に応答して初期化され、前記CASレイテンシ信号及び前記プリアンブルサイクル信号、前記バッファされたクロック信号、及び前記遅延クロック信号に応答して前記リード命令を入力して前記CASレイテンシ信号に相当するサイクルにデータが外部に出力される前の前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルほど先立って活性化するレイテンシ信号を発生する段階と、
    前記レイテンシ信号の活性化期間を前記バースト長さ信号に相当するサイクルに前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクルを加えたサイクルほど維持した後に不活性化される前記データストローブレイテンシ信号を発生するデータストローブレイテンシ信号発生段階と、
    前記データストローブレイテンシ信号の活性化時点を前記プリアンブルサイクル信号に相当するサイクル分に遅延させてデータレイテンシ信号を発生するデータレイテンシ信号発生段階と、を具備する
    ことを特徴とする請求項17記載の半導体メモリ装置のレイテンシ信号発生方法。
JP2006128315A 2005-05-03 2006-05-02 半導体メモリ装置とそのレイテンシ信号発生方法 Expired - Fee Related JP5008055B2 (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20050037256 2005-05-03
KR10-2005-0037256 2005-05-03
KR10-2006-0034717 2006-04-17
KR1020060034717A KR100755371B1 (ko) 2005-05-03 2006-04-17 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 데이터 스트로우브 신호발생방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006313616A JP2006313616A (ja) 2006-11-16
JP5008055B2 true JP5008055B2 (ja) 2012-08-22

Family

ID=37393888

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006128315A Expired - Fee Related JP5008055B2 (ja) 2005-05-03 2006-05-02 半導体メモリ装置とそのレイテンシ信号発生方法

Country Status (5)

Country Link
US (3) US7453745B2 (ja)
JP (1) JP5008055B2 (ja)
KR (1) KR100755371B1 (ja)
CN (1) CN100592422C (ja)
DE (1) DE102006020773B4 (ja)

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
MXPA04001905A (es) * 2001-08-31 2005-04-19 Btg Int Ltd Compuestos anti-cancer de ciclopenta[g]quinazolina.
KR100755371B1 (ko) * 2005-05-03 2007-09-04 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 데이터 스트로우브 신호발생방법
KR100805004B1 (ko) * 2006-06-15 2008-02-20 주식회사 하이닉스반도체 조절 가능한 프리앰블 값에 기초하여 데이터 스트로브신호를 발생하는 데이터 스트로브 신호 발생기 및 이를포함하는 반도체 메모리 장치
KR100834398B1 (ko) * 2007-01-10 2008-06-04 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치 및 그의 구동방법
KR100853479B1 (ko) * 2007-02-28 2008-08-21 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치
US7656745B2 (en) * 2007-03-15 2010-02-02 Micron Technology, Inc. Circuit, system and method for controlling read latency
KR20090074969A (ko) * 2008-01-03 2009-07-08 삼성전자주식회사 레이턴시를 제어하는 반도체 메모리 장치
KR101009336B1 (ko) 2008-12-31 2011-01-19 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치 및 그 구동 방법
US8098535B2 (en) * 2009-03-30 2012-01-17 Cadence Design Systems, Inc. Method and apparatus for gate training in memory interfaces
KR101096267B1 (ko) * 2010-03-31 2011-12-22 주식회사 하이닉스반도체 출력인에이블신호 생성회로를 포함하는 멀티칩 패키지 및 멀티칩 패키지의 데이터출력 제어방법
KR101131893B1 (ko) * 2010-07-06 2012-04-03 주식회사 하이닉스반도체 지연고정루프
US8611163B2 (en) * 2011-03-21 2013-12-17 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Digital DLL for timing control in semiconductor memory
KR101895519B1 (ko) 2011-12-19 2018-09-05 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치
US9036434B1 (en) * 2013-10-31 2015-05-19 Nanya Technology Corporation Random access memory and method of adjusting read timing thereof
KR102235521B1 (ko) 2015-02-13 2021-04-05 삼성전자주식회사 특정 패턴을 갖는 저장 장치 및 그것의 동작 방법
US9892770B2 (en) 2015-04-22 2018-02-13 Micron Technology, Inc. Methods and apparatuses for command shifter reduction
US9813067B2 (en) 2015-06-10 2017-11-07 Micron Technology, Inc. Clock signal and supply voltage variation tracking
US9865317B2 (en) 2016-04-26 2018-01-09 Micron Technology, Inc. Methods and apparatuses including command delay adjustment circuit
US9997220B2 (en) * 2016-08-22 2018-06-12 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for adjusting delay of command signal path
US10331517B2 (en) * 2016-08-26 2019-06-25 Qualcomm Incorporated Link error correction in memory system
US10224938B2 (en) 2017-07-26 2019-03-05 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for indirectly detecting phase variations
US10366737B2 (en) 2017-12-21 2019-07-30 Micron Technology, Inc. Management of strobe/clock phase tolerances during extended write preambles
US10608620B2 (en) 2018-06-19 2020-03-31 Micron Technology, Inc. Shifter circuits having registers arranged in a folded topology
CN110489363B (zh) * 2019-10-08 2024-03-22 灿芯半导体(上海)股份有限公司 基于ddr写通道的发送电路
KR20220031791A (ko) 2020-09-03 2022-03-14 삼성전자주식회사 메모리 장치와 그 동작 방법, 및 메모리 시스템

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5272728A (en) * 1990-03-20 1993-12-21 Fumio Ogawa Preamble length adjustment method in communication network and independent synchronization type serial data communication device
KR100486199B1 (ko) * 1997-08-11 2005-09-12 삼성전자주식회사 반도체메모리장치의하이임피던스제어신호발생회로
JPH1166841A (ja) * 1997-08-22 1999-03-09 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JPH11213666A (ja) * 1998-01-30 1999-08-06 Mitsubishi Electric Corp 出力回路および同期型半導体記憶装置
KR100303775B1 (ko) * 1998-10-28 2001-09-24 박종섭 디디알 에스디램에서 데이터스트로브신호를 제어하기 위한 방법및 장치
JP3416083B2 (ja) * 1999-08-31 2003-06-16 株式会社日立製作所 半導体装置
US6240042B1 (en) 1999-09-02 2001-05-29 Micron Technology, Inc. Output circuit for a double data rate dynamic random access memory, double data rate dynamic random access memory, method of clocking data out from a double data rate dynamic random access memory and method of providing a data strobe signal
KR100311044B1 (ko) * 1999-10-05 2001-10-18 윤종용 클럭 주파수에 따라 레이턴시 조절이 가능한 레이턴시 결정 회로 및 레이턴시 결정 방법
KR100618797B1 (ko) * 2000-02-03 2006-09-08 삼성전자주식회사 지연 동기 루프를 사용하는 반도체 장치의 레이턴시 제어회로
JP2002007200A (ja) * 2000-06-16 2002-01-11 Nec Corp メモリ制御装置及び動作切替方法並びにインターフェース装置、半導体集積チップ、記録媒体
US6512704B1 (en) * 2001-09-14 2003-01-28 Sun Microsystems, Inc. Data strobe receiver
KR100507876B1 (ko) 2002-03-29 2005-08-17 주식회사 하이닉스반도체 로우 레이턴시 리드를 위한 데이터 스토로브 신호제어부를 포함하는 동기식 메모리장치
US7003686B2 (en) * 2002-05-20 2006-02-21 Hitachi Ltd. Interface circuit
KR100480598B1 (ko) * 2002-05-25 2005-04-06 삼성전자주식회사 프리앰블 기능을 갖는 반도체 메모리 장치
KR100486250B1 (ko) * 2002-07-10 2005-05-03 삼성전자주식회사 고주파수 동작을 위한 동기식 반도체 장치의 레이턴시제어 회로 및 그 방법
US6944091B2 (en) * 2002-07-10 2005-09-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Latency control circuit and method of latency control
US6819599B2 (en) * 2002-08-01 2004-11-16 Micron Technology, Inc. Programmable DQS preamble
KR100536598B1 (ko) * 2003-04-18 2005-12-14 삼성전자주식회사 클럭활성화 시점을 선택하는 반도체메모리장치
US6922367B2 (en) * 2003-07-09 2005-07-26 Micron Technology, Inc. Data strobe synchronization circuit and method for double data rate, multi-bit writes
KR100626375B1 (ko) * 2003-07-21 2006-09-20 삼성전자주식회사 고주파로 동작하는 반도체 메모리 장치 및 모듈
KR100550633B1 (ko) * 2003-12-04 2006-02-10 주식회사 하이닉스반도체 반도체 기억 소자의 지연 고정 루프 및 그의 제어 방법
US7336547B2 (en) * 2004-02-27 2008-02-26 Micron Technology, Inc. Memory device having conditioning output data
US7092312B2 (en) * 2004-08-03 2006-08-15 Micron Technology, Inc. Pre-emphasis for strobe signals in memory device
KR100568546B1 (ko) * 2004-10-19 2006-04-07 삼성전자주식회사 메모리 시스템, 반도체 메모리 장치, 및 이 시스템과장치의 출력 데이터 스트로우브 신호 발생 방법
DE102004057232B4 (de) * 2004-11-26 2013-04-11 Qimonda Ag Verfahren zum Betreiben einer Halbleiterspeichervorrichtung und Halbleiterspeichersystem
KR100625296B1 (ko) * 2004-12-30 2006-09-19 주식회사 하이닉스반도체 고주파수 동작을 위한 동기식 반도체 장치의 레이턴시제어장치 및 그 제어방법
KR100755371B1 (ko) * 2005-05-03 2007-09-04 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 데이터 스트로우브 신호발생방법
JP4936421B2 (ja) * 2005-09-14 2012-05-23 エルピーダメモリ株式会社 Dram、入力制御回路、及び入力制御方法
KR100805004B1 (ko) * 2006-06-15 2008-02-20 주식회사 하이닉스반도체 조절 가능한 프리앰블 값에 기초하여 데이터 스트로브신호를 발생하는 데이터 스트로브 신호 발생기 및 이를포함하는 반도체 메모리 장치

Also Published As

Publication number Publication date
CN1862703A (zh) 2006-11-15
CN100592422C (zh) 2010-02-24
US7778094B2 (en) 2010-08-17
US7453745B2 (en) 2008-11-18
US20080291753A1 (en) 2008-11-27
KR20060115336A (ko) 2006-11-08
US20060250861A1 (en) 2006-11-09
JP2006313616A (ja) 2006-11-16
KR100755371B1 (ko) 2007-09-04
DE102006020773B4 (de) 2015-03-19
US20100271886A1 (en) 2010-10-28
DE102006020773A1 (de) 2007-02-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5008055B2 (ja) 半導体メモリ装置とそのレイテンシ信号発生方法
US6215710B1 (en) Apparatus and method for controlling data strobe signal in DDR SDRAM
US7606089B2 (en) Data strobe signal generator for generating data strobe signal based on adjustable preamble value and semiconductor memory device with the same
US6151271A (en) Integrated circuit memory devices having data selection circuits therein which are compatible with single and dual rate mode operation and methods of operating same
JP5160770B2 (ja) レイテンシー制御回路及びその方法、そして、自動プリチャージ制御回路及びその方法
US7710799B2 (en) Circuit for generating data strobe in DDR memory device, and method therefor
KR100306966B1 (ko) 동기형버스트반도체메모리장치
US6636446B2 (en) Semiconductor memory device having write latency operation and method thereof
US7327613B2 (en) Input circuit for a memory device
US7715245B2 (en) Pipe latch device of semiconductor memory device
US7551499B2 (en) Semiconductor memory device capable of performing low-frequency test operation and method for testing the same
JP2007087436A (ja) 半導体記憶装置
KR100596435B1 (ko) 어드레스 억세스타임을 줄일 수 있는 반도체 메모리 장치
JP2007052910A (ja) 同期式メモリ装置のウェーブパイプライン構造の出力回路
JP3685709B2 (ja) 同期型メモリ装置及びその連続読出方法
KR100546389B1 (ko) 카스 레이턴시에 따라 동기되는 타이밍이 변하는 반도체메모리 장치
US7376041B2 (en) Semiconductor memory device and data read and write method of the same
JP5431028B2 (ja) 半導体記憶装置
JP4756729B2 (ja) 半導体記憶装置
US7385859B2 (en) Semiconductor memory devices and methods for generating column enable signals thereof
JPH0750094A (ja) 半導体メモリ回路
JP3161377B2 (ja) 半導体記憶装置
KR20050064035A (ko) 파이프 래치 회로
KR20050055488A (ko) 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 데이터 리드 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090401

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110829

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110906

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111206

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120104

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120404

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120424

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120524

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150608

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees