JP4995847B2 - タンタル酸リチウム結晶の製造方法 - Google Patents
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リチウム化合物はタンタル酸リチウムウェハ中の酸素と結合し酸化リチウムの状態で放出される旨の説明があり、還元剤としての役割があるため、塗布する場合は高濃度にすると良い旨の記載がされている。
しかしながら、この方法の内、接触させることで製造したタンタル酸リチウム結晶の導電率はその面内で大きなバラツキが生じ、また、近接させる方法では1回の仕込み量が少なくなり、生産性が劣るという欠点があった。
このように、前記還元剤として、その範囲内で厚さと温度の条件を組み合わせて、得られるタンタル酸リチウム結晶の導電率をより確実に1×10−13Ω−1・cm−1以上、9.99×10−12Ω−1・cm−1以下とすることができる。その結果、SAWデバイスの歩留まりをより確実に向上することができる。
このように、前記金属のハロゲン化物として塩化ナトリウムまたは塩化カリウムを用いれば、溶液の導電率を上げることができ、製造するタンタル酸リチウム結晶の導電率を結晶面内でほぼ均一に向上させるという効果があり、この結果、導電率がほぼ均一なタンタル酸リチウム結晶を得ることができる。また、これらのものは高純度で安価なものを容易に入手できる利点もある。
このように、前記還元剤と前記タンタル酸リチウム結晶素材を重ね合わせて熱処理する際、及び前記還元剤に対して行う熱処理の前記還元雰囲気として、水素ガスを含む雰囲気ガスを使用すれば、タンタル酸リチウム結晶の還元処理を速やかに実施できる。
このように、前記還元剤と前記タンタル酸リチウム結晶素材を重ね合わせて熱処理する際の温度を500℃以上、600℃以下とすれば、圧電性を損なわずに導電性を向上して焦電性を抑制することができ、タンタル酸リチウム結晶の還元処理を速やかに実施できる。
このように、前記還元剤と前記タンタル酸リチウム結晶素材を重ね合わせて熱処理する際、該熱処理による反応が平衡状態になるまで熱処理を行えば、タンタル酸リチウム結晶の還元処理を十分行うことができ、より確実に得られるタンタル酸リチウム結晶の焦電性を抑制しつつ、導電率を1×10−13Ω−1・cm−1以上、9.99×10−12Ω−1・cm−1以下とすることができる。その結果、製品歩留まりをより確実に向上することができる。
このように、前記還元剤と前記タンタル酸リチウム結晶素材を重ね合わせて熱処理する際の時間を、少なくとも12時間以上とすれば、タンタル酸リチウム結晶の還元処理を十分行うことができ、より確実に得られるタンタル酸リチウム結晶の焦電性を抑制しつつ、導電率を1×10−13Ω−1・cm−1以上、9.99×10−12Ω−1・cm−1以下とすることができる。その結果、製品歩留まりをより確実に向上することができる。
このように、導電率が1×10−13Ω−1・cm−1以上、9.99×10−12Ω−1・cm−1以下であり、焦電性が抑制されたタンタル酸リチウム結晶であるので、目的の導電率特性を有したSAWデバイスの製造において好適に用いられる材料である。
従来から、SAWデバイスの素材としてタンタル酸リチウム結晶が使用されている。そして、このタンタル酸リチウム結晶は、SAWデバイス特性を発揮するために必要とされる圧電性を維持した上で、結晶外側表面に電荷の発生(焦電性)が見られないような特性を有するものが求められる。
しかし、このような従来の方法を用いてタンタル酸リチウム結晶を製造しても、結晶の面内で導電率が不均一となってしまい、焦電性を抑制する効果が安定して得られないという問題があった。
さらに、一部のデバイスにおいて、そのデバイス特性の関係から、導電率はWLTに近いものが良く、そのような特性のタンタル酸リチウム結晶が求められている。
本発明のタンタル酸リチウム結晶の製造方法では、まず、元材であるタンタル酸リチウム結晶素材を準備する(図1(A))。これは、例えば以下のようにして行うことができる。
まず、炭酸リチウムと五酸化タンタルとを秤量、混合し、電気炉で1000℃以上に加熱することで得られたタンタル酸リチウム多結晶を、イリジウムなどの貴金属性のルツボに入れる。そして、これを高純度の窒素にわずかの高純度の酸素を混合した雰囲気ガス下で、前記多結晶を加熱、溶融し、その後に種結晶を融液に浸漬して回転引上げ(いわゆるチョクラルスキー法)して結晶の育成を行うことで、タンタル酸リチウム結晶棒が得られる。
このように、タンタル酸リチウム結晶素材を、金属のハロゲン化物を含有する溶液に浸漬すれば、金属のハロゲン化物を含有する溶液は導電率が高く、各種陽イオン、陰イオンを含むため、タンタル酸リチウム結晶素材の表面の電荷がプラスの時には陰イオンが、またマイナスの時には陽イオンが表面に付着し、結果としてタンタル酸リチウム結晶素材の表面が安定化され、還元処理後のタンタル酸リチウム結晶の導電率を向上でき、かつ結晶面内の導電率を均一にすることができる。
このように、金属のハロゲン化物として塩化ナトリウムまたは塩化カリウムを用いれば、溶液の導電率を上げることができ、製造するタンタル酸リチウム結晶の導電率を結晶面内でほぼ均一に向上させることができ、この結果、導電率がほぼ均一なタンタル酸リチウム結晶を得ることができる。これらは安価で高純度のものを容易に得ることができる。
このように、金属のハロゲン化物を含む溶液の濃度を0.001〜1.0mol/lとすれば、溶液によってタンタル酸リチウム結晶素材がべた付いて炉内を汚染することもなく、また、水分が蒸発した後に前記素材表面に析出物が出るのを防ぐことができる。
本発明では、還元剤として、タンタル酸リチウム結晶を還元雰囲気下で熱処理して得られた多分極タンタル酸リチウムを用い、該熱処理の温度と熱処理前のタンタル酸リチウム結晶の厚さを、(温度、厚さ)の座標軸で表した際に、A(680℃、0.4mm)、B(850℃、0.4mm)、C(1060℃、0.1mm)、D(750℃、0.1mm)の4点で囲まれる範囲内、すなわち上記4点を頂点とする台形の範囲内の組み合わせとすることが好ましい。また、還元剤の厚さは、熱処理やハンドリングでクラックや欠け等といった問題を起こりにくくするため、0.2mm以上とするのがより好ましい。
そして、配設したタンタル酸リチウム結晶素材1を還元剤2と共に、キュリー温度以下の温度でかつ還元雰囲気下で熱処理する(図1(D))。
このように、還元雰囲気として、水素ガスを含む雰囲気ガスを使用すれば、タンタル酸リチウム結晶の還元処理を速やかに実施できる。
このように、還元剤2とタンタル酸リチウム結晶素材1を重ね合わせて熱処理する際の温度を500℃以上、600℃以下とすれば、圧電性を損なわずに導電性を向上して焦電性を抑制することができ、タンタル酸リチウム結晶の還元処理を速やかに実施できる。
このように、本発明のタンタル酸リチウム結晶は導電率が1×10−13Ω−1・cm−1以上、9.99×10−12Ω−1・cm−1以下であり、焦電性が抑制されたタンタル酸リチウム結晶であるので、目的の導電率特性を有したSAWデバイスの製造において好適に用いられる材料である。
ρ=(πd2/4t)・R
ρ: 体積抵抗率(Ω・cm)
π: 円周率
d: 中心電極直径(cm)
t: LTウェハ厚さ(cm)
R: 抵抗値(Ω)
この場合、例えば500ボルトの電圧を印加し、安定した測定値を得るため電圧を印加してから1分後の抵抗値を測定すれば良い。
本発明の製造方法を用い以下のようにしてタンタル酸リチウム結晶を製造し、得られたタンタル酸リチウム結晶の導電率、焦電性の測定を行いこれらを評価した。
まず、以下のようにしてタンタル酸リチウム結晶素材を準備した。
表面法線に対してy方向に36°回転して配向された直径100mm、長さ50mmのタンタル酸リチウム結晶棒をチョクラルスキー法により引き上げ、加工装置によって、結晶を切断、スライス加工後、ラップ加工を行い、厚さ0.3mmの両面ラップウェハを得てタンタル酸リチウム結晶素材とした。
上記と同様にして得た両面ラップウェハの片面を研磨してポリッシュウェハを得て、該ポリッシュウェハを金属製チャンバーよりなる炉内に配設し、水素100%の雰囲気下で650〜1050℃の温度で12時間処理して多分極タンタル酸リチウム結晶を得た。この際、ポリッシュウェハの厚さと熱処理の温度の条件を、厚さが0.25mm、温度が920℃(実施例1)、750℃(実施例2)、980℃(比較例3)として3つの還元剤を作製した。
次に、図2に示すように、タンタル酸リチウム結晶素材と上記で準備した還元剤である多分極タンタル酸リチウム結晶の内の1つとを重ね合わせて炉内に配設した。
そして、準備した5つの還元剤全てに対して上記を行い、得られたタンタル酸リチウム結晶の導電率、焦電性について評価した。
還元剤の厚さを0.35mm、還元剤の処理温度を700℃(実施例3)、650℃(比較例1)、920℃(比較例2)とし、それ以外は実施例1、2と同様にしてタンタル酸リチウム結晶の製造を行い、同様に評価した。
結果を表1に示す。表1に示すように、還元剤の作製の熱処理の温度が700℃(実施例3)の場合、目的の導電率とすることができ、また、焦電性も抑制されていることが分かる。一方、650℃(比較例1)、920℃(比較例2)の場合には、目的の導電率の範囲を超えてしまった。又、650℃(比較例1)の場合は、焦電性においても充分な抑制効果が得られなかった。
還元剤の厚さを0.15mm、還元剤の処理温度を980℃(実施例4)、1050℃(比較例4)とし、それ以外は実施例1、2と同様にしてタンタル酸リチウム結晶の製造を行い、同様に評価した。
結果を表1に示す。表1に示すように、還元剤の作製の熱処理の温度が980℃(実施例4)の場合、目的の導電率とすることができ、また、焦電性も抑制されていることが分かる。一方、1050℃(比較例4)の場合には、目的の導電率の範囲を超えてしまった。
このような還元剤の作製の適切な条件は予め求めておくことができ、そうすることで、得られるタンタル酸リチウム結晶の導電率を確実に1×10−13Ω−1・cm−1以上、9.99×10−12Ω−1・cm−1以下とすることができる。
還元剤とタンタル酸リチウム結晶素材とを重ね合わせて熱処理する際の条件(温度と熱処理時間)以外を実施例1と同様とし、その熱処理の温度を480℃(実施例5)とした時、得られるタンタル酸リチウム結晶の導電率を1×10−13Ω−1・cm−1以上、9.99×10−12Ω−1・cm−1以下とするまでの熱処理の時間を測定した。そして、得られたタンタル酸リチウム結晶の導電率、焦電性を評価した。
結果を表1に示す。表1に示すように、実施例5では熱処理時間は48時間であった。また、得られたタンタル酸リチウム結晶の導電率、焦電性の結果は実施例1と同一であった。
また、熱処理時間が長くなると生産性が落ちるという観点から、熱処理の温度はキューリー温度以下のなるべく高い温度とするのが好ましいと言える。
Claims (7)
- タンタル酸リチウム結晶素材を還元剤と共に還元雰囲気下で熱処理することによってタンタル酸リチウム結晶を製造する製造方法において、前記タンタル酸リチウム結晶素材と前記還元剤を準備し、前記素材を金属のハロゲン化物を含有する溶液に浸漬後、キュリー温度以下の温度で前記還元剤と前記タンタル酸リチウム結晶素材とを重ね合わせて熱処理し、該熱処理後に前記タンタル酸リチウム結晶素材から製造されるタンタル酸リチウム結晶の導電率を1×10−13Ω−1・cm−1以上、9.99×10−12Ω−1・cm−1以下とすることを特徴とするタンタル酸リチウム結晶の製造方法。
- 前記還元剤として、タンタル酸リチウム結晶を還元雰囲気下で熱処理して得られた多分極タンタル酸リチウムを用い、該熱処理の温度と熱処理前のタンタル酸リチウム結晶の厚さを、(温度、厚さ)の座標軸で表した際に、A(680℃、0.4mm)、B(850℃、0.4mm)、C(1060℃、0.1mm)、D(750℃、0.1mm)の4点で囲まれる範囲内とすることを特徴とする請求項1に記載のタンタル酸リチウム結晶の製造方法。
- 前記金属のハロゲン化物として塩化ナトリウムまたは塩化カリウムを用いることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のタンタル酸リチウム結晶の製造方法。
- 前記還元雰囲気として、水素ガスを含む雰囲気ガスを使用することを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載のタンタル酸リチウム結晶の製造方法。
- 前記還元剤と前記タンタル酸リチウム結晶素材を重ね合わせて熱処理する際の温度を500℃以上、600℃以下とすることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載のタンタル酸リチウム結晶の製造方法。
- 前記還元剤と前記タンタル酸リチウム結晶素材を重ね合わせて熱処理する際、該熱処理による反応が平衡状態になるまで熱処理を行うことを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか1に記載のタンタル酸リチウム結晶の製造方法。
- 前記還元剤と前記タンタル酸リチウム結晶素材を重ね合わせて熱処理する際の時間を、少なくとも12時間以上とすることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか1に記載のタンタル酸リチウム結晶の製造方法。
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