JP4900065B2 - マルチチャネルサンプルホールド回路およびマルチチャネルa/d変換器 - Google Patents
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Description
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的は、信号入力端子の電気的な入力条件によらず、小さいチップ面積で且つ高精度のチャネル切り替えを可能とするマルチチャネルサンプルホールド回路およびそれを用いたマルチチャネルA/D変換器を提供することにある。
以下、本発明の第1の実施形態について図1を参照しながら説明する。
図1は、車載用制御ICに用いられるマルチチャネルサンプルホールド回路(以下、サンプルホールド回路という)の構成を示している。このサンプルホールド回路1は、各チャネル(Ch1、Ch2、Ch3)の入力端子10、20、30にそれぞれ入力される入力信号Vin1、Vin2、Vin3の中から1つを選択してホールドし、そのホールドした信号電圧Voutを出力端子2から出力するものである。サンプルホールド回路1の後段には、A/D変換器(図示せず)が接続されている。本実施形態は3チャネルの構成であるが、実際の車載用制御ICでは、本実施形態のチャネル数を拡張することにより、各種車両用センサの出力信号、ECU回路電圧、バッテリ電圧など数十以上の信号電圧をマルチプレクスしてホールドすることも可能である。
初期状態において、全てのチャネルが非選択の状態つまりサンプリング状態にある場合、制御回路4は、スイッチS11、S12、S21、S22、S31、S32およびS1をオンとし、スイッチS13、S14、S23、S24、S33、S34をオフとする。この時、コンデンサCS10、CS20、CS30は、オペアンプ3から電気的に切り離され、それぞれ入力信号Vin1、Vin2、Vin3に応じた電荷が充電される。また、オペアンプ3はボルテージフォロアとして動作し、上述したように出力電圧Voutは0Vになる。
次に、本発明の第2の実施形態について図2を参照しながら説明する。
図2は、車載用制御ICに用いられるマルチチャネルサンプルホールド回路の構成を示している。このサンプルホールド回路6も、図1に示すサンプルホールド回路1と同様に、各チャネルの入力端子10、20、30にそれぞれ入力される入力信号Vin1、Vin2、Vin3の中から1つを選択してホールドし、そのホールドした信号電圧Voutを出力端子2から出力するものである。後段にはA/D変換器が接続され、実際の車載用制御ICでは数十以上の信号電圧をマルチプレクスしてホールドするようになっている。なお、図2において、図1と同一構成部分または対応する構成部分には同一符号を付している。
初期状態において、全てのチャネルが非選択の状態つまりサンプリング状態にある場合、制御回路7は、スイッチS11、S12、S21、S22、S31、S32およびS1をオンとし、スイッチS13、S15、S23、S25、S33、S35をオフとする。この時、コンデンサCS10、CS20、CS30は、オペアンプ3から電気的に切り離され、それぞれ入力信号Vin1、Vin2、Vin3に応じた電荷が充電される。また、オペアンプ3はボルテージフォロアとして動作して出力電圧Voutは0Vになり、コンデンサCFの電荷はゼロに初期化される。
Vout=(CS10/CF)・Vin1 …(1)
Vout=(CS20/CF)・Vin2 …(2)
図3は、図1に示すサンプルホールド回路1を差動構成としたマルチチャネルサンプルホールド回路を示している。サンプルホールド回路51は、差動出力型のオペアンプ52と制御回路53を備えている。オペアンプ52の反転入力端子(コモンライン5p)と非反転出力端子との間にはスイッチS1pが接続されており、非反転入力端子(コモンライン5m)と反転出力端子との間にはスイッチS1mが接続されている。
図4は、図2に示すサンプルホールド回路6を差動構成としたマルチチャネルサンプルホールド回路を示している。サンプルホールド回路54は、差動出力型のオペアンプ52と制御回路55を備えている。オペアンプ52の反転入力端子と非反転出力端子との間には、ホールドコンデンサCFpとスイッチS1pとが並列に接続されており、オペアンプ52の非反転入力端子と反転出力端子との間には、ホールドコンデンサCFmとスイッチS1mとが並列に接続されている。
図5は、図1に示すサンプルホールド回路を用いたマルチチャネル巡回型A/D変換器の構成を示している。このA/D変換器56は、各チャネルの入力端子10、20、30、40にそれぞれ入力される入力信号Vin1、Vin2、Vin3、Vin4の中から1つを選択してホールドし、そのホールドした信号電圧をA/D変換して6ビットのA/D変換値を出力するもので、マルチチャネルサンプルホールド回路57、3ビットのA/D変換回路58、3ビットのマルチプライングD/A変換器59および制御回路60から構成されている。オペアンプ3とスイッチS1は、サンプルホールド回路57とマルチプライングD/A変換器59とで共用されている。サンプルホールド回路57は、4チャネル(Ch1〜Ch4)の構成である点およびオペアンプ3とスイッチS1を共用している点を除き図1に示すサンプルホールド回路1と同じ構成である。
図9は、図1に示すサンプルホールド回路を用いた10ビットマルチチャネル巡回型A/D変換器の構成を示しており、図5と同一部分には同一符号を付している。このA/D変換器64は、マルチチャネルサンプルホールド回路57、1.5ビットのA/D変換回路65、1.5ビットのマルチプライングD/A変換器66および制御回路67から構成されている。コンデンサCFを充電するため、スイッチS5が必要となる。
図12は、図1に示すサンプルホールド回路を用いたマルチチャネル巡回型A/D変換器の構成を示している。このA/D変換器71は、各チャネルの入力端子10、20、…にそれぞれ入力される入力信号Vin1、Vin2、…の中から1つを選択してホールドし、そのホールドした信号電圧をA/D変換して10ビットのA/D変換値を出力するものである。図1、図9と同一の構成部分または対応する構成部分には同一符号を付している。
図14は、車載用制御ICに用いられるマルチチャネルサンプルホールド回路の構成を示している。このサンプルホールド回路73も、図2に示すサンプルホールド回路6と同様に、各チャネルの入力端子10、20、30にそれぞれ入力される入力信号Vin1、Vin2、Vin3の中から1つを選択してホールドし、そのホールドした信号電圧Voutを出力端子2から出力するものである。ただし、後述するように入出力の極性が反転する。この図14において、図2と同一構成部分または対応する構成部分には同一符号を付している。
初期状態において、全てのチャネルが非選択の状態つまりサンプリング状態にある場合、制御回路74は、スイッチS11、S21、S31およびS1をオンとし、スイッチS13、S23、S33をオフとする。この時、コンデンサCS10、CS20、CS30は、オペアンプ3から電気的に切り離され、それぞれ入力信号Vin1、Vin2、Vin3に応じた電荷が充電される。また、オペアンプ3はボルテージフォロアとして動作して出力電圧Voutは0Vになり、コンデンサCFの電荷はゼロに初期化される。
Vout=−(CS10/CF)・Vin1 …(3)
Vout=−(CS20/CF)・Vin2 …(4)
図15に示すマルチチャネルサンプルホールド回路75は、図1に示すマルチチャネルサンプルホールド回路1に対し、コンデンサCINとスイッチS7が追加されたものである。コンデンサCIN(オフセット補償コンデンサに相当)は、コモンライン5に設けられており、オペアンプ3のオフセット電圧に応じた電荷を保持するようになっている。スイッチS7は、コモンライン5とグランドとの間に接続されている。
図16に示すマルチチャネルサンプルホールド回路77は、図2に示すマルチチャネルサンプルホールド回路6に対し、コンデンサCINとスイッチS7が追加されたものである。コンデンサCINはコモンライン5に設けられており、スイッチS7はコモンライン5とグランドとの間に接続されている。
なお、本発明は上記し且つ図面に示す各実施形態に限定されるものではなく、例えば以下のように変形または拡張が可能である。
第1ないし第4、第8ないし第10の各実施形態に示したマルチチャネルサンプルホールド回路1、6、51、54、73、75、77の後段に接続されるA/D変換器は、巡回型に限られず例えばパイプライン型、遂次比較型などであってもよい。
第5ないし第7の実施形態に示したマルチチャネルA/D変換器は、差動構成であってもよい。また、回路構成は複雑化するが、第1、第2のスイッチを除いて、マルチプライングD/A変換器の出力と入力との間にサンプルホールド回路を設けてもよい。
Claims (12)
- 演算増幅器および制御回路を備えるとともに、各チャネルごとに信号電荷設定用コンデンサ、各チャネルの信号入力端子から前記信号電荷設定用コンデンサに至る電荷設定経路を開閉する電荷設定用スイッチ、前記信号電荷設定用コンデンサと前記演算増幅器とを電気的に切り離す分離用スイッチ、および前記信号電荷設定用コンデンサを前記演算増幅器の入出力端子間に接続するホールド用スイッチを備え、
前記制御回路は、前記複数チャネルの中から選択したホールド対象チャネルについて、前記電荷設定用スイッチを開き、前記分離用スイッチと前記ホールド用スイッチを閉じることにより前記信号電荷設定用コンデンサを前記演算増幅器の入出力端子間に接続し、その他のチャネルについて、前記分離用スイッチと前記ホールド用スイッチを開くことにより前記信号電荷設定用コンデンサと前記演算増幅器とを切り離し、前記電荷設定用スイッチを閉じることを特徴とするマルチチャネルサンプルホールド回路。 - 前記演算増幅器は差動出力可能に構成され、
各チャネルごとに、前記演算増幅器の各差動入出力端子に対し前記信号電荷設定用コンデンサ、前記電荷設定用スイッチ、前記分離用スイッチ、および前記ホールド用スイッチがそれぞれ設けられていることを特徴とする請求項1記載のマルチチャネルサンプルホールド回路。 - 前記分離用スイッチと前記ホールド用スイッチは共通のスイッチとされていることを特徴とする請求項1または2記載のマルチチャネルサンプルホールド回路。
- 前記演算増幅器のオフセット電圧に応じた電荷を保持するオフセット補償コンデンサを備え、
前記制御回路は、前記ホールド対象チャネルについて、前記信号電荷設定用コンデンサを前記オフセット補償コンデンサを介して前記演算増幅器の入出力端子間に接続することを特徴とする請求項1ないし3の何れかに記載のマルチチャネルサンプルホールド回路。 - 演算増幅器、この演算増幅器の入出力端子間に接続されたホールドコンデンサ、このホールドコンデンサの電荷を初期化する初期化回路、および制御回路を備えるとともに、各チャネルごとに信号電荷設定用コンデンサ、各チャネルの信号入力端子から前記信号電荷設定用コンデンサに至る電荷設定経路を開閉する電荷設定用スイッチ、前記信号電荷設定用コンデンサと前記演算増幅器とを電気的に切り離す分離用スイッチ、および所定の基準電圧線と前記演算増幅器の入力端子との間に前記信号電荷設定用コンデンサを接続するホールド用スイッチを備え、
前記制御回路は、前記複数チャネルの中から選択したホールド対象チャネルについて、前記電荷設定用スイッチを開き、前記分離用スイッチと前記ホールド用スイッチを閉じることにより前記所定の基準電圧線と前記演算増幅器の入力端子との間に前記信号電荷設定用コンデンサを接続し、その他のチャネルについて、前記分離用スイッチと前記ホールド用スイッチを開くことにより前記信号電荷設定用コンデンサと前記演算増幅器とを切り離し、前記電荷設定用スイッチを閉じることを特徴とするマルチチャネルサンプルホールド回路。 - 前記演算増幅器は差動出力可能に構成され、その演算増幅器の各入出力端子間にはそれぞれ前記ホールドコンデンサおよび前記初期化回路が設けられ、
各チャネルごとに、前記演算増幅器の各差動入力端子に対し前記信号電荷設定用コンデンサ、前記電荷設定用スイッチ、前記分離用スイッチ、および前記ホールド用スイッチがそれぞれ設けられていることを特徴とする請求項5記載のマルチチャネルサンプルホールド回路。 - 前記分離用スイッチと前記ホールド用スイッチは共通のスイッチとされていることを特徴とする請求項5または6記載のマルチチャネルサンプルホールド回路。
- 前記演算増幅器のオフセット電圧に応じた電荷を保持するオフセット補償コンデンサを備え、
前記制御回路は、前記ホールド対象チャネルについて、前記所定の基準電圧線と前記演算増幅器の入力端子との間に前記オフセット補償コンデンサを介して前記信号電荷設定用コンデンサを接続することを特徴とする請求項5ないし7の何れかに記載のマルチチャネルサンプルホールド回路。 - 請求項1ないし8の何れかに記載のマルチチャネルサンプルホールド回路と、このマルチチャネルサンプルホールド回路から出力されるホールド電圧を入力電圧としてA/D変換を実行するA/D変換器とから構成されていることを特徴とするマルチチャネルA/D変換器。
- A/D変換回路、演算増幅器、この演算増幅器の入出力端子間に接続可能な積分コンデンサ、1または複数のアレイコンデンサを有し、当該各アレイコンデンサの一端が共通側電極として前記演算増幅器に接続可能とされ、他端が非共通側電極として複数の基準電圧線および前記演算増幅器の出力端子のうちの何れかに接続されるコンデンサアレイ回路、および制御回路を備えるとともに、各チャネルごとに信号電荷設定用コンデンサ、各チャネルの信号入力端子から前記信号電荷設定用コンデンサに至る電荷設定経路を開閉する電荷設定用スイッチ、前記信号電荷設定用コンデンサと前記演算増幅器とを電気的に切り離す分離用スイッチ、および前記信号電荷設定用コンデンサを前記演算増幅器の入出力端子間に接続するためのホールド用スイッチを備え、
前記制御回路は、複数チャネルの中から選択したA/D変換対象チャネルについて、前記電荷設定用スイッチを開き、前記分離用スイッチと前記ホールド用スイッチを閉じることにより前記信号電荷設定用コンデンサを前記演算増幅器の入出力端子間に接続した上で、前記A/D変換回路によりA/D変換を実行し、前記積分コンデンサと前記アレイコンデンサとの中から選択したコンデンサに対し前記演算増幅器から出力される電圧に応じた電荷を設定するとともに残る非選択のコンデンサを初期化し、その後、前記分離用スイッチと前記ホールド用スイッチを開くことにより前記信号電荷設定用コンデンサを前記演算増幅器から切り離し、前記積分コンデンサを前記演算増幅器の入出力端子間に接続した状態で前記A/D変換回路の変換結果に応じて前記各アレイコンデンサの非共通側電極をそれぞれ前記複数の基準電圧線の何れかに接続して電荷再分配を行い、以降必要回数だけ前記演算増幅器から出力される残余電圧の前記A/D変換回路によるA/D変換、前記残余電圧による前記電荷設定と前記初期化および前記電荷再分配を行うことによりA/D変換を実行し、前記A/D変換対象チャネル以外のチャネルについて、前記分離用スイッチと前記ホールド用スイッチを開くことにより前記信号電荷設定用コンデンサと前記演算増幅器とを切り離し、前記電荷設定用スイッチを閉じることを特徴とするマルチチャネルA/D変換器。 - 前記アレイコンデンサの共通側電極と前記演算増幅器の入力端子との間に接続された第1のスイッチと、前記アレイコンデンサの共通側電極と所定の電圧線との間に接続された第2のスイッチとを備え、
前記制御回路は、前記第1のスイッチを開いて前記第2のスイッチを閉じた状態で前記選択したコンデンサに対する電荷設定と前記非選択のコンデンサに対する初期化を実行し、その後、前記第2のスイッチを開いて前記第1のスイッチを閉じるとともに前記積分コンデンサを前記演算増幅器の入出力端子間に接続した状態で前記電荷再分配を実行し、前記第1のスイッチを開いて前記第2のスイッチを閉じることにより前記電荷設定を実行することを特徴とする請求項10記載のマルチチャネルA/D変換器。 - A/D変換回路、演算増幅器および制御回路を備えるとともに、各チャネルごとに第1の信号電荷設定用コンデンサ、各チャネルの信号入力端子から前記第1の信号電荷設定用コンデンサに至る電荷設定経路を開閉する電荷設定用スイッチ、前記第1の信号電荷設定用コンデンサと前記演算増幅器とを電気的に切り離す分離用スイッチ、前記第1の信号電荷設定用コンデンサを前記演算増幅器の入出力端子間に接続するホールド用スイッチ、一端が非共通側電極として複数の基準電圧線、前記信号入力端子および前記演算増幅器の出力端子のうちの何れかに接続される第2の信号電荷設定用コンデンサ、この第2の信号電荷設定用コンデンサの共通側電極と前記演算増幅器の入力端子との間に接続された第1のスイッチ、および前記第2の信号電荷設定用コンデンサの共通側電極と所定の電圧線との間に接続された第2のスイッチを備え、
前記制御回路は、複数チャネルの中から選択したA/D変換対象チャネルについて、前記電荷設定用スイッチを開き、前記分離用スイッチと前記ホールド用スイッチを閉じることにより前記第1の信号電荷設定用コンデンサを前記演算増幅器の入出力端子間に接続し、前記第1および第2のスイッチを開いた状態とした上で前記A/D変換回路によりA/D変換を実行し、その後、前記第1のスイッチを閉じて前記A/D変換回路の変換結果に応じて前記第2の信号電荷設定用コンデンサの非共通側電極を前記複数の基準電圧線の何れかに接続して電荷再分配を行い、以降必要回数だけ前記演算増幅器から出力される残余電圧の前記A/D変換回路によるA/D変換、前記残余電圧による前記第2の信号電荷設定用コンデンサへの電荷設定および前記電荷再分配を行うことによりA/D変換を実行し、前記A/D変換対象チャネル以外のチャネルについて、前記分離用スイッチと前記ホールド用スイッチを開くことにより前記第1の信号電荷設定用コンデンサと前記演算増幅器とを切り離し、前記第1のスイッチを開き、前記電荷設定用スイッチと前記第2のスイッチを閉じ、前記第2の信号電荷設定用コンデンサの非共通側電極を前記信号入力端子に接続することを特徴とするマルチチャネルA/D変換器。
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US7746261B2 (en) * | 2007-08-01 | 2010-06-29 | Denso Corporation | Variable gain amplifier and D/A converter |
US7746254B2 (en) * | 2007-12-26 | 2010-06-29 | Denso Corporation | Sample and hold circuit, multiplying D/A converter having the same, and A/D converter having the same |
JP5287291B2 (ja) * | 2009-01-26 | 2013-09-11 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 逐次比較型a/d変換器 |
US8072360B2 (en) * | 2009-05-08 | 2011-12-06 | Analog Devices, Inc. | Simultaneous sampling analog to digital converter |
JP5136587B2 (ja) | 2010-04-01 | 2013-02-06 | 株式会社デンソー | 増幅回路、信号処理回路および半導体集積回路装置 |
EP2437268B1 (en) * | 2010-09-30 | 2013-01-02 | ST-Ericsson SA | Single-ended to differential buffer circuit and method for coupling at least a single-ended input analog signal to a receiving circuit with differential inputs |
US8604774B2 (en) * | 2010-12-07 | 2013-12-10 | Himax Technologies Limited | Current sensing circuit with feedback control and dual capacitor set range setting |
DE102011013529B4 (de) * | 2011-03-10 | 2013-11-21 | Texas Instruments Deutschland Gmbh | Leistungsversorgungs-Auswahleinrichtung und Verfahren zum Minimieren eines Einschaltstroms in einer Leistungsversorgungs-Auswahleinrichtung und Leistungsversorgungs-Auswahlsystem |
KR101919056B1 (ko) * | 2011-04-28 | 2018-11-15 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 회로 |
US8643522B2 (en) * | 2011-06-07 | 2014-02-04 | Microchip Technology Incorporated | Multichannel analog to digital converter apparatus and method for using |
US8742963B2 (en) | 2011-09-09 | 2014-06-03 | Agency For Science, Technology And Research | Recording circuit and a method of controlling the same |
KR101926605B1 (ko) | 2012-02-27 | 2018-12-07 | 삼성전자 주식회사 | 멀티 입력채널을 가지는 샘플 앤 홀드 회로 및 이를 이용한 아날로그 디지털 변환기 |
US8610467B2 (en) * | 2012-04-25 | 2013-12-17 | Freescale Semiconductor, Inc. | Sample and hold circuit |
JP5651142B2 (ja) * | 2012-06-12 | 2015-01-07 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | D/a変換器 |
JP5845160B2 (ja) * | 2012-09-26 | 2016-01-20 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
US8941439B2 (en) * | 2013-02-15 | 2015-01-27 | Analog Devices, Inc. | Differential charge reduction |
US8878707B1 (en) * | 2013-07-12 | 2014-11-04 | Broadcom Corporation | Time-interleaved skew reduced pipelined analog to digital converter |
JP5962636B2 (ja) * | 2013-11-29 | 2016-08-03 | 株式会社デンソー | 電圧検出装置 |
JP5850975B2 (ja) * | 2014-04-24 | 2016-02-03 | キヤノン株式会社 | パルス生成回路、サンプルホールド回路、固体撮像装置 |
US9455732B2 (en) * | 2014-12-19 | 2016-09-27 | Stmicroelectronics S.R.L. | Method and device for analog-to-digital conversion of signals, corresponding apparatus |
JP6215398B1 (ja) * | 2016-06-22 | 2017-10-18 | 力晶科技股▲ふん▼有限公司 | スイッチドキャパシタ回路及びad変換装置 |
JP6981774B2 (ja) * | 2017-05-09 | 2021-12-17 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | スイッチトキャパシタ増幅回路、電圧増幅方法及び赤外線センサ装置 |
JP7200476B2 (ja) * | 2017-12-28 | 2023-01-10 | セイコーエプソン株式会社 | 回路装置、振動デバイス、電子機器及び移動体 |
KR20210066828A (ko) | 2018-09-28 | 2021-06-07 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 |
US11165286B1 (en) * | 2020-06-12 | 2021-11-02 | Stmicroelectronics Asia Pacific Pte Ltd | Adaptive baseline correction for delta amplification |
CN113114254B (zh) * | 2021-05-18 | 2022-08-26 | 天津凯发电气股份有限公司 | 一种高速多通道同步模拟量采集控制方法 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2698225B2 (ja) * | 1991-04-15 | 1998-01-19 | シャープ株式会社 | サンプルホールド回路 |
JP3024378B2 (ja) * | 1992-08-13 | 2000-03-21 | 日本電気株式会社 | サンプル・ホールド回路 |
US5389833A (en) | 1992-08-27 | 1995-02-14 | Texas Instruments Incorporated | Analog multiplexer |
US5281867A (en) * | 1993-02-23 | 1994-01-25 | Motorola, Inc. | Multiple channel sampling circuit having minimized crosstalk interference |
JPH08125495A (ja) * | 1994-10-20 | 1996-05-17 | Asahi Kasei Micro Syst Kk | アナログ入力選択回路 |
DE19653192C2 (de) * | 1996-12-19 | 1999-01-07 | Sgs Thomson Microelectronics | Monolithisch integrierte Signalverarbeitungsschaltung |
KR100286322B1 (ko) * | 1997-09-11 | 2001-04-16 | 김영환 | 아날로그/디지털변환회로 |
US6300823B1 (en) | 1998-03-02 | 2001-10-09 | Yozan Inc. | Filter circuit |
JP3458812B2 (ja) | 1999-06-01 | 2003-10-20 | 株式会社デンソー | 巡回型a/d変換器 |
US6636084B2 (en) * | 1999-12-22 | 2003-10-21 | Texas Instruments Incorporated | Sample and hold circuit |
JP4582890B2 (ja) | 2000-09-28 | 2010-11-17 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | アナログスイッチ回路、アナログマルチプレクサ回路、ad変換器及びアナログ信号処理システム |
JP3962788B2 (ja) | 2003-10-29 | 2007-08-22 | 国立大学法人静岡大学 | A/d変換アレイ及びイメージセンサ |
JP4268580B2 (ja) * | 2004-09-27 | 2009-05-27 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | スイッチトキャパシタ回路 |
US7113116B2 (en) * | 2005-01-26 | 2006-09-26 | Analog Devices, Inc. | Sample and hold apparatus |
JP2006279452A (ja) | 2005-03-29 | 2006-10-12 | Sharp Corp | サンプルホールド回路および半導体装置 |
JP4470830B2 (ja) | 2005-07-26 | 2010-06-02 | 株式会社デンソー | 巡回型a/d変換器 |
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