JP2007024625A - 電圧測定方法および電圧測定装置 - Google Patents

電圧測定方法および電圧測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007024625A
JP2007024625A JP2005205625A JP2005205625A JP2007024625A JP 2007024625 A JP2007024625 A JP 2007024625A JP 2005205625 A JP2005205625 A JP 2005205625A JP 2005205625 A JP2005205625 A JP 2005205625A JP 2007024625 A JP2007024625 A JP 2007024625A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
measurement
capacitor
value
voltage source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005205625A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshihiro Kawamura
佳浩 河村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yazaki Corp
Original Assignee
Yazaki Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yazaki Corp filed Critical Yazaki Corp
Priority to JP2005205625A priority Critical patent/JP2007024625A/ja
Priority to US11/446,374 priority patent/US7656164B2/en
Publication of JP2007024625A publication Critical patent/JP2007024625A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/382Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC
    • G01R31/3835Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC involving only voltage measurements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/25Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
    • G01R19/2503Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques for measuring voltage only, e.g. digital volt meters (DVM's)
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/3644Constructional arrangements
    • G01R31/3648Constructional arrangements comprising digital calculation means, e.g. for performing an algorithm
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/396Acquisition or processing of data for testing or for monitoring individual cells or groups of cells within a battery

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Secondary Cells (AREA)

Abstract

【課題】電圧計測の精度の向上を図ると共にコストダウンが可能な電圧測定方法および電圧測定装置を提供すること。
【解決手段】測定すべき電圧源V1〜V5の電圧を充電系を介して所定の充電期間中にコンデンサ3に充電し、充電されたコンデンサ3の電荷を測定系を介して所定の電荷計測期間中に計測し、得られた電荷計測値から電圧源V1〜V5の電圧を算出する電圧測定装置であって、充電期間中に、測定系に補正計測用電圧源の電圧を印加して計測し、得られた計測値と補正計測用電圧源11の電圧の理論値の差から補正値を算出する補正値算出手段(マイコン)7と、電荷計測期間中に、電荷計測値から補正値算出手段(マイコン)7で算出された補正値を差し引く演算を行うことにより、電圧源V1〜V5の電圧を算出する電圧計測手段(マイコン)7とを備えている。
【選択図】図1

Description

本発明は、電圧測定方法および電圧測定装置に関し、特に、多数個の電圧源を直列接続して構成される高圧電源における各個別電圧源の電圧を計測するのに好適な電圧測定方法および電圧測定装置に関する。
電気自動車の電源のように、多数個の電池(電圧源)を直列接続して構成される高圧電源において、高圧電源を構成する各個別電池(電圧源)の電圧を、それぞれ測定する装置として、フライングキャパシタ方式電圧測定装置がある。このような装置は、たとえば、特開平11−248755号公報(特許文献1)に開示されている。
上記公報に開示されているフライングキャパシタ方式電圧測定装置では、充電系のスイッチの開閉により電圧源の電圧を一旦コンデンサに充電し、その後、電圧源とコンデンサ間のスイッチを切り離し、計測系において信号処理側とコンデンサ間を接続してコンデンサに充電された電荷を計測することにより、絶縁を保ちながら各電圧源の電圧をマルチプレクスして取り込んでいる。
このようなフライングキャパシタ方式電圧測定装置では、たとえば図8に示すように、直列接続された単電圧源V1,V2,...からなる高圧電源の各電圧源の電圧を計測する際、電圧源V1の計測は、まずコンデンサに電圧源V1の電圧を充電する充電期間を設け、続いて、充電されたコンデンサの電荷を計測して電圧源V1の電圧を計測する電荷計測期間を設ける。続いて、電圧源V2の充電期間および電荷計測期間を設け、以下、他の電圧源についても同様とする。
特開平11−248755号公報
上述の従来装置では、コンデンサの後段に、コンデンサの充電電圧の極性を補正する極性補正回路、コンデンサの充電電圧をアナログ/デジタル変換するA/Dコンバータ等の構成要素が設けられている。また、他の従来装置では、コンデンサの充電電圧をA/Dコンバータに印加する適正レベルに調整する分圧回路や、コンデンサとA/Dコンバータの間に接続され、ノイズを除去するバッファ・フィルタ回路等の種々の構成要素が設けられているものもある。
しかしながら、従来装置では、コンデンサの後段の計測系に設けられるこれらの構成要素における部品のバラツキ、温度特性、劣化等に起因して、電圧計測の精度が低下してしまうという問題がある。そのため、電圧計測の精度向上には、高精度、高信頼性の高価な部品の採用が必須となり、その結果、装置が高価なものとなる問題がある。
そこで本発明は、上述した課題に鑑み、電圧計測の精度の向上を図ると共にコストダウンが可能な電圧測定方法および電圧測定装置を提供することを目的としている。
請求項1記載の発明の電圧測定方法は、測定すべき電圧源の電圧を充電系を介して所定の充電期間中にコンデンサに充電し、充電された前記コンデンサの電荷を測定系を介して所定の電荷計測期間中に計測し、得られた電荷計測値から前記電圧源の電圧を算出する電圧測定方法であって、前記充電期間中に、前記測定系に補正計測用電圧源の電圧を印加して計測し、得られた計測値と前記補正計測用電圧源の電圧の理論値の差から補正値を算出し、前記電荷計測期間中に、前記電荷計測値から前記補正値を差し引く演算を行うことにより、前記電圧源の電圧を算出するを備えたことを特徴とする。
請求項2記載の発明の電圧測定装置は、測定すべき電圧源の電圧を充電系を介して所定の充電期間中にコンデンサに充電し、充電された前記コンデンサの電荷を測定系を介して所定の電荷計測期間中に計測し、得られた電荷計測値から前記電圧源の電圧を算出する電圧測定装置であって、前記充電期間中に、前記測定系に補正計測用電圧源の電圧を印加して計測し、得られた計測値と前記補正計測用電圧源の電圧の理論値の差から補正値を算出する補正値算出手段と、前記電荷計測期間中に、前記電荷計測値から前記補正値算出手段で算出された前記補正値を差し引く演算を行うことにより、前記電圧源の電圧を算出する電圧計測手段とを備えたことを特徴とする。
請求項3記載の発明の電圧測定装置は、コンデンサと、直列接続されたN個の電圧源に接続された(N+1)個の電圧検出端子のうちの奇数番目の電圧検出端子を前記コンデンサに選択的に接続する第1のマルチプレクサと、前記(N+1)個の電圧検出端子のうちの偶数番目の電圧検出端子を前記コンデンサに選択的に接続する第2のマルチプレクサと、前記コンデンサの両端電圧が供給される電圧計測手段とを備え、測定すべき前記電圧源の電圧を所定の充電期間中に前記コンデンサに充電し、充電された前記コンデンサの電荷を所定の電荷計測期間中に前記電圧計測手段で計測し、得られた電荷計測値から前記電圧源の電圧を算出する電圧測定装置であって、前記コンデンサと前記電圧計測手段の間に接続され、前記電荷計測期間中に前記電圧計測手段における電圧計測の基準電圧を供給する基準電圧源回路と、前記コンデンサと前記基準電圧源回路の間に接続され、前記充電期間中に補正計測用電圧源の電圧を印加する補正計測回路と、前記充電期間中に印加された前記補正計測用電圧源の電圧を計測し、得られた計測値と前記補正計測用電圧源の電圧の理論値の差から補正値を算出する補正値算出手段とをさらに備え、前記電圧計測手段は、前記電荷計測期間中に、前記電荷計測値から前記補正値算出手段で算出された前記補正値を差し引く演算を行うことにより、前記電圧源の電圧を算出することを特徴とする。
請求項4記載の発明は、請求項3記載の電圧測定装置において、前記基準電圧源回路は、前記電圧計測手段における電圧計測の基準電圧として、計測フルスケール値の中間の電圧を供給することを特徴とする。
請求項5記載の発明は、請求項3記載の電圧測定装置において、前記基準電圧源回路は、前記電圧計測手段における電圧計測の基準電圧として、計測フルスケール値の高電位電圧または低電位電圧を切り替えて供給し、前記補正計測回路は、補正計測用電圧源の電圧として、前記基準電圧源回路における計測フルスケール値の高電位電圧を印加し、前記第1および第2のマルチプレクサにより所望の電圧源を選択することにより、奇数番目の前記電圧源の電圧または偶数番目の前記電圧源の電圧を互いに逆極性で前記コンデンサへ充電した後に、前記第1および第2のマルチプレクサを開くと共に、奇数番目の電圧が充電されたときには前記基準電圧源回路で前記低電位電圧に切り替え、偶数番目の電圧が充電されたときには前記基準電圧源回路で前記高電位電圧に切り替えて、前記電圧源の電圧を測定することを特徴とする。
請求項6記載の発明の電圧測定装置は、コンデンサと、直列接続されたN個の電圧源に接続された(N+1)個の電圧検出端子のうちの奇数番目の電圧検出端子を前記コンデンサに選択的に接続する第1のマルチプレクサと、前記(N+1)個の電圧検出端子のうちの偶数番目の電圧検出端子を前記コンデンサに選択的に接続する第2のマルチプレクサと、前記コンデンサの両端電圧が供給される電圧計測手段とを備え、測定すべき前記電圧源の電圧を所定の充電期間中に前記コンデンサに充電し、充電された前記コンデンサの電荷を所定の電荷計測期間中に前記電圧計測手段で計測し、得られた電荷計測値から前記電圧源の電圧を算出する電圧測定装置であって、前記コンデンサと前記電圧計測手段の間に接続され、前記電圧計測手段における電圧計測の基準電圧を供給する基準電圧源回路と、前記充電期間中に印加された前記基準電圧源回路の電圧を計測し、得られた計測値と前記基準電圧源回路の電圧の理論値の差から補正値を算出する補正値算出手段とをさらに備え、前記電圧計測手段は、前記電荷計測期間中に、前記電荷計測値から前記補正値算出手段で算出された前記補正値を差し引く演算を行うことにより、前記電圧源の電圧を算出することを特徴とする。
請求項7記載の発明は、請求項3から6のいずれか1項に記載の電圧測定装置において、前記基準電圧源回路は、複数の抵抗を有し、前記コンデンサの両端電圧を分圧して前記電圧計測手段に供給する分圧回路と、該分圧回路に前記電圧計測手段における電圧計測の基準電圧を供給する基準電圧源とからなることを特徴とする。
請求項8記載の発明は、請求項7記載の電圧測定装置において、前記分圧回路は同一抵抗値を有する複数の抵抗で構成されることを特徴とする。
請求項1および2に記載の発明によれば、測定系における部品バラツキの影響を受けない電圧測定が可能となり、電圧測定の精度を向上させることができる。また、高精度の部品を採用しないで済むため、コストダウンが可能となり、部品選定、回路選定の自由度が広がる。
請求項3〜6に記載の発明によれば、測定系における部品バラツキの影響を受けない電圧測定が可能となり、電圧測定の精度を向上させることができるフライングキャパシタ方式電圧測定装置が実現できる。また、高精度の部品を採用しないで済むため、コストダウンが可能となり、部品選定、回路選定の自由度が広がる。
請求項7記載の発明によれば、基準電圧源回路を分圧回路と基準電圧源で構成することにより、電圧計測手段の計測スケールに合わせることができる。
請求項8記載の発明によれば、温度特性による分圧比変動がなくなるという大きな利点が得られる。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
(第1の実施形態)図1は、本発明に係る電圧測定方法を実施する電圧測定装置の第1の実施形態の構成を示す回路図である。電圧測定装置は、フライングキャパシタ方式電圧測定装置であり、高圧電源Vの電圧検出端子T1〜T6に接続された第1のマルチプレクサ1および第2のマルチプレクサ2、両極性のコンデンサ3、サンプルスイッチ4、マイクロコンピュータ(以下、マイコンという)7、基準電圧源回路8、バッファ・フィルタ9および補正計測回路10を含む。
高圧電源Vは、直列接続されたN個(この形態では、たとえばN=5)の電圧源(たとえば、単電池)V1〜V5を含む。各電圧源V1〜V5は、(N+1)個(この形態では、たとえば6個)の電圧検出端子T1〜T6にそれぞれ接続されている。
第1のマルチプレクサ1は、各電圧検出端子T1,T3,T5にそれぞれ接続されたスイッチS1,S3,S5を含む。また、第2のマルチプレクサ2は、各電圧検出端子T2,T4,T6にそれぞれ接続されたスイッチS2,S4,S6を含む。
第1のマルチプレクサ1のスイッチS1,S3,S5は、コンデンサ3の一方の端子に接続され、第2のマルチプレクサ2のスイッチS2,S4,S6は、コンデンサ3の他方の端子に接続されている。
サンプルスイッチ4は、コンデンサ3の一方の端子に接続されたスイッチ4aと、コンデンサ3の他方の端子に接続されたスイッチ4bを含む。
マイコン7は、電源+Vccからの駆動電圧が供給される電源ポートVccと、入力ポートA/D1およびA/D2を有し、電圧計測手段および補正値算出手段として働く。
基準電圧源回路8は、抵抗R1〜R3と、スイッチS8と、基準電圧源+Vrefを含む。抵抗R1は、その一方の端子がスイッチ4aに接続され、抵抗R2は、その一方の端子がスイッチ4bに接続され、抵抗R3は、抵抗R1の他方の端子と抵抗R2の他方の端子間に接続されている。抵抗R1〜R3は分圧回路を構成している。また、抵抗R2およびR3の接続点には、スイッチS8を介して基準電圧源+Vrefが接続されている。基準電圧源+Vrefの電圧は、マイコン7の計測フルスケール値の中間の電圧、たとえば、マイコン7の駆動電圧+Vccと同じかそれ以下の電圧+AVcc(≦+Vcc)を1/2した電圧(+AVcc/2)に設定されている。また、この設定電圧(+AVcc/2)は、各電圧源V1〜V5の個別電圧以上の電圧になるように設定されている。
バッファ・フィルタ9は、抵抗R1および抵抗R3の接続点とマイコン7の入力ポートA/D1の間に接続され、入力ポートA/D1にノイズが印加されるのを防止するためのものである。
補正計測回路10は、スイッチS9およびS10と、補正計測用電圧源11を含む。スイッチS9は、その一方の端子がスイッチ4aおよび抵抗R1の接続点に接続され、他方の端子が補正計測用電圧源11に接続されている。スイッチS10は、その一方の端子がスイッチ4bおよび抵抗R2の接続点に接続され、他方の端子が接地されている。
次に、上述の構成を有するフライングキャパシタ方式電圧測定装置の電圧計測処理について説明する。まず、第1および第2のマルチプレクサ1,2のスイッチS1〜S6、サンプルスイッチ4のスイッチ4a,4b、基準電圧源回路8のスイッチS8および補正計測回路10のスイッチS9,S10が全て開いている状態から、第1のマルチプレクサ1のスイッチS1と第2のマルチプレクサ2のスイッチS2を閉じると、電圧源V1、電圧検出端子T1、スイッチS1、コンデンサ3、スイッチS2および電圧検出端子T2により閉回路が形成される。それにより、電圧源V1の電圧が、スイッチS1に接続されているコンデンサ3の端子側がプラスの極性になるように、コンデンサ3に充電される。
次に、スイッチS1およびS2を開いて、サンプルスイッチ4のスイッチ4aおよび4bと基準電圧源回路8のスイッチS8を所定期間閉じ、充電されたコンデンサ3の電荷、すなわち電圧源V1の電圧をサンプルスイッチ4、抵抗R1〜R3およびバッファ・フィルタ9を介して、マイコン7の第1および第2の入力ポートA/D1およびA/D2に供給する。
このとき、第2の入力ポートA/D2には、基準電圧源+Vrefの電圧(+AVcc/2)が印加されているので、第1の入力ポートA/D1には、電圧源V1の電圧プラス(+AVcc/2)の電圧が供給される。そこで、マイコン7は、第1の入力ポートA/D1に供給された電圧と第2の入力ポートA/D2に供給された電圧との差分の絶対値、すなわち、|(第1の入力ポートA/D1に供給された電圧)−(第2の入力ポートA/D2に供給された電圧)|を計算し、その計算結果が、電圧源V1の電圧を示す電荷計測値として読み込まれる。なお、第1の入力ポートA/D1に供給された電圧は、A/D(アナログ/デジタル)変換してデジタル値とされると共に、第2の入力ポートA/D2に供給された電圧も、同様にA/D変換してデジタル値とされて、上述の計算が行われる。
次に、スイッチS2およびS3を閉じると、電圧源V2、電圧検出端子T2、スイッチS2、コンデンサ3、スイッチS3および電圧検出端子T3により閉回路が形成される。それにより、電圧源V2の電圧が、電圧源V1の測定時と逆極性で、すなわち、スイッチS2に接続されているコンデンサ3の端子側がプラスの極性になるように、コンデンサ3に充電される。
次に、スイッチS2およびS3を開いて、サンプルスイッチ4のスイッチ4aおよび4bと基準電圧源回路8のスイッチS8を所定期間閉じ、充電されたコンデンサ3の電荷、すなわち電圧源V2の電圧をサンプルスイッチ4、抵抗R1〜R3およびバッファ・フィルタ9を介して、マイコン7の第1および第2の入力ポートA/D1およびA/D2に供給する。
このとき、第2の入力ポートA/D2には、基準電圧源+Vrefの電圧(+AVcc/2)が印加されているので、第1の入力ポートA/D1には、電圧源V2の電圧プラス(+AVcc/2)の電圧が供給される。そこで、マイコン7は、第1の入力ポートA/D1に供給された電圧と、第2の入力ポートA/D2に供給された電圧との差分の絶対値、すなわち、|(第1の入力ポートA/D1に供給された電圧)−(第2の入力ポートA/D2に供給された電圧)|を計算し、その計算結果が、電圧源V2の電圧を示す電荷計測値として読み込まれる。
以下同様に、スイッチS3およびS4、S4およびS5、S5およびS6の組み合わせにより、それぞれ、電圧源V3、V4およびV5の各電圧を示す電荷計測値が、マイコン7で読み込まれる。
上述の測定時、奇数番目の電圧源V1,V3,V5の電圧と、偶数番目の電圧源V2,V4の電圧は、それぞれ逆極性でコンデンサ3に充電され、マイコン7に供給されるので、A/D2に予め印加される基準電圧源+Vrefの電圧(+AVcc/2)を基準電位として、奇数番目の電圧源V1,V3,V5の電圧は、第1の入力ポートA/D1において、A/D変換のフルスケールの上半分、すなわち、(+AVcc/2)(min)〜+AVcc(max)に換算され、偶数番目の電圧源V2,V4の電圧は、第1の入力ポートA/D1において、A/D変換のフルスケールの下半分、すなわち、(+AVcc/2)(min)〜ゼロ(0)ボルト(max)に換算される。図2は、この換算の様子を説明する図である。
このように、図1の電圧測定装置では、従来のように極性補正手段を用いることなく、マイコン7の計測フルスケール値の1/2の電圧、すなわち(+AVcc/2)を基準電圧として、奇数番目の電圧源V1,V3,V5の電圧は、(+AVcc/2)〜+AVccの範囲で検出され、偶数番目の電圧源V2,V4の電圧は、(+AVcc/2)〜ゼロ(0)ボルトの範囲で検出される。したがって、たとえば、+Vccが5ボルトであり、+AVcc=+Vccとした場合は、奇数番目の電圧源の電圧は、2.5V〜5Vの範囲で検出され、偶数番目の電圧源の電圧は、2.5V〜0Vの範囲で検出されることになる。
さらに、図1の電圧測定装置では、コンデンサ3の後段の計測系の構成要素の部品のバラツキ、温度特性、劣化等に起因する電圧源電圧の計測精度低下を防止するために、補正計測回路10により補正計測が行われる。この補正計測は、図3に示すように、コンデンサ3の充電期間中に行われる。
すなわち、コンデンサ3の充電期間中に、補正計測回路10のスイッチS9およびS10を閉じて、スイッチ4aおよび抵抗R1の接続点とスイッチ4bおよび抵抗R2の接続点の間に補正計測用電圧源11の電圧を印加する。このとき、基準電圧源回路8のスイッチS8は開いているので、基準電圧源+Vrefの電圧は、補正計測に影響を及ぼさない。また、サンプルスイッチ4のスイッチ4a,4bも開いているので、補正計測用電圧源11の電圧は、コンデンサ3の充電に影響を及ぼさない。
印加された補正計測用電圧源11の電圧は、抵抗R1〜R3で分圧され、バッファ・フィルタ9を介してマイコン7の第1および第2の入力ポートA/D1およびA/D2に供給される。マイコン7は、第1の入力ポートA/D1に供給された電圧と、第2の入力ポートA/D2に供給された電圧との差分の絶対値、すなわち、|(第1の入力ポートA/D1に供給された電圧)−(第2の入力ポートA/D2に供給された電圧)|を計算し、その計算結果が、補正計測用電圧源11の電圧を示す計測値として読み込まれる。この計測値は、コンデンサ3の後段の構成要素、すなわち、基準電圧源回路8から、バッファ・フィルタ9およびA/D変換までの計測系の回路の部品のバラツキ全てを含む値となる。
そこで、マイコン7は、補正計測期間中に、この計測値と予め分かっている補正計測用電圧源11の電圧の理論値との差を算出することにより、その各々の測定タイミングでのコンデンサ3の後段の計測系における全てのバラツキ(部品精度、温度特性、A/D変換誤差等)の値を補正値としてモニターできる。
(補正計測用電圧源11の電圧の理論値)−(計測値)=補正値・・・(1)
コンデンサ3をフル充電で使用すれば、計測する電圧源(V1,V2,・・・)からコンデンサ3までの充電系を構成する部品のバラツキは、コンデンサ3に充電された電荷に現れないため、電荷計測期間において、コンデンサ3の電荷計測値より、上記(1)式で求められた補正値を差し引くことにより、計測系の計測精度低下要因を全て排除した形での補正後計測値を得ることが可能となり、計測精度を理論上のバラツキゼロにまで向上させることができる。
(コンデンサ3の電荷計測値)−(補正値)=補正後計測値・・・(2)
しかも、コンデンサ3の充電時に、本来介在しないスイッチグループ、すなわちサンプルスイッチ4以降の計測を合わせて行うため、計測時間も従来より長く変更する必要はないため、高速、高精度、高信頼性(フライングキャパシタ方式のため、耐ノイズ性、絶縁が保てるなど)の電圧計測が可能となる。
(第2の実施形態)次に図4は、本発明に係る電圧測定方法を実施する電圧測定装置の第2の実施形態の構成を示す回路図である。
図4に示す電圧測定装置は、図1に示す装置とほぼ同じ構成であるが、基準電圧源回路8と補正計測回路10の構成が異なっている。すなわち、図4では、基準電圧源回路8は、抵抗R1〜R3に加えて、一端が抵抗R2およびR3の接続点に接続されかつ他端が、マイコン7における計測フルスケール値の高電位電圧、たとえば最大電圧を与える基準電圧源+Vrefに接続された第1のスイッチ8aと、一端が抵抗R2およびR3の接続点に接続されかつ他端がマイコン7における計測フルスケール値の低電位電圧、たとえば最小電圧を与える接地に接続された第2のスイッチ8bとを有する。
基準電圧源+Vrefの電圧は、マイコン7の駆動電圧+Vccと同じかまたはそれ以下の電圧+AVcc(≦+Vcc)に設定されている。
また、補正計測回路10は、スイッチS9およびS10を含む。スイッチS9は、その一方の端子がスイッチ4aおよび抵抗R1の接続点に接続され、他方の端子が基準電圧源+Vrefに接続されている。基準電圧源+Vrefは、図1における補正計測用電圧源11の役目を兼ねている。スイッチS10は、その一方の端子がスイッチ4bおよび抵抗R2の接続点に接続され、他方の端子が接地されている。
次に、上述の構成を有するフライングキャパシタ方式電圧測定装置の動作(測定手順)について説明する。まず、マルチプレクサ1および2のスイッチS1〜S6と、サンプルスイッチ4のスイッチ4a,4bと、基準電圧源回路8の第1のスイッチ8a,8bと、補正計測回路10のスイッチS9,S10が全て開いている状態から、第1のマルチプレクサ1のスイッチS1と第2のマルチプレクサ2のスイッチS2を閉じると、電圧源V1、電圧検出端子T1、スイッチS1、コンデンサ3、スイッチS2および電圧検出端子T2により閉回路が形成される。それにより、電圧源V1の電圧が、コンデンサ3に充電される。
次に、スイッチS1およびS2を開くと共に基準電圧源回路8の第2のスイッチ8bを閉じ、続いてサンプルスイッチ4のスイッチ4aおよび4bを所定期間閉じ、コンデンサ3の電荷、すなわち電圧源V1の電圧をサンプルスイッチ4および抵抗R1〜R3を介して、マイコン7の第1の入力ポートA/D1およびA/D2に供給する。
このとき、第2の入力ポートA/D2は、接地電位、すなわちゼロ(0)ボルトになっているので、第1の入力ポートA/D1には、電圧源V1の電圧が供給される。そこで、
マイコン7は、第1の入力ポートA/D1に供給された電圧と第2の入力ポートA/D2に供給された電圧との差分の絶対値、すなわち、|(第1の入力ポートA/D1に供給された電圧)−(第2の入力ポートA/D2に供給された電圧)|を計算し、その計算結果が、電圧源V1の電圧を示す電荷計測値として読み込まれる。
次に、スイッチS2およびS3を閉じると、電圧源V2、電圧検出端子T2、スイッチS2、コンデンサ3、スイッチS3および電圧検出端子T3により閉回路が形成される。それにより、電圧源V2の電圧が、電圧源V1の測定時と逆極性でコンデンサ3に充電される。
次に、スイッチS2およびS3を開くと共に基準電圧源回路8の第2のスイッチ8bを開きかつ第1のスイッチ8aを閉じ、続いて、サンプルスイッチ4のスイッチ4aおよび4bを所定期間閉じ、コンデンサ3の電荷、すなわち電圧源V2の電圧をサンプルスイッチ4および抵抗R1〜R3を介して、マイコン7の第1の入力ポートA/D1およびA/D2に供給する。
このとき、第2の入力ポートA/D2には、基準電圧源+Vrefの電圧+AVccが印加されているので、第1の入力ポートA/D1には、電圧源V2の電圧プラス基準電圧源+Vrefの電圧(+AVcc)の電圧が供給される。そこで、マイコン7は、第1の入力ポートA/D1に供給された電圧と、第2の入力ポートA/D2に供給された電圧との差分の絶対値、すなわち、|(第1の入力ポートA/D1に供給された電圧)−(第2の入力ポートA/D2に供給された電圧)|を計算し、その計算結果が、電圧源V2の電圧を示す電荷計測値として読み込まれる。
以下同様に、スイッチS3およびS4、S4およびS5、S5およびS6の組み合わせにより、それぞれ、電圧源V3、V4およびV5の各電圧を示す電荷計測値が、マイコン7で読み込まれる。
上述の測定時、奇数番目の電圧源V1,V3,V5の電圧と、偶数番目の電圧源V2,V4の電圧は、それぞれ逆極性でコンデンサ3に充電され、マイコン7に供給されるので、A/D2に予め印加される基準電圧源+Vrefの電圧(+AVcc)またはゼロ(0)ボルトを基準電位として、奇数番目の電圧源V1,V3,V5の電圧は、第1の入力ポートA/D1において、A/D変換のフルスケールの、ゼロ(0)ボルト(min)〜+AVcc(max)に換算され、偶数番目の電圧源V2,V4の電圧は、第1の入力ポートA/D1において、A/D変換のフルスケールの、+AVcc(min)〜ゼロ(0)ボルト(max)に換算される。図5は、この換算の様子を説明する図である。
このように、図4に示す第2の実施形態の電圧測定装置によれば、従来のように極性補正手段を用いることなく、マイコン7における計測フルスケール値の高電位電圧、たとえば最大電圧、すなわち(+AVcc)、または、マイコン7における計測フルスケール値の低電位電圧、たとえば最小電圧、すなわちゼロ(0)ボルトを基準電圧として、奇数番目の電圧源V1,V3,V5の電圧は、ゼロ(0)ボルト〜+AVccの範囲で検出され、偶数番目の電圧源V2,V4の電圧は、(+AVcc)〜ゼロ(0)ボルトの範囲で検出される。したがって、たとえば、+Vccが5ボルトであり、+AVcc=+Vccとした場合は、奇数番目の電圧源の電圧は、0V〜5Vの範囲で検出され、偶数番目の電圧源の電圧は、5V〜0Vの範囲で検出されることになる。
したがって、図4に示す第2の実施形態によれば、図1に示す第1の実施形態のように
A/Dフルスケールが1/2に狭められることなく、A/Dフルスケールでの電圧測定を、従来より少ない部品構成で可能とすることができ、検出精度の低下・SN比の低下を懸念する必要がない。
さらに、図4の電圧測定装置では、コンデンサ3の充電期間中に補正計測回路10により補正計測が行われる。
すなわち、コンデンサ3の充電期間中に、補正計測回路10のスイッチS9およびS10を閉じると、スイッチ4aおよび抵抗R1の接続点とスイッチ4bおよび抵抗R2の接続点の間に基準電圧源+Vrefの電圧が印加される。
印加された基準電圧源+Vrefの電圧は、抵抗R1〜R3で分圧され、バッファ・フィルタ9を介してマイコン7の第1および第2の入力ポートA/D1およびA/D2に供給される。マイコン7は、第1の入力ポートA/D1に供給された電圧と、第2の入力ポートA/D2に供給された電圧との差分の絶対値、すなわち、|(第1の入力ポートA/D1に供給された電圧)−(第2の入力ポートA/D2に供給された電圧)|を計算し、その計算結果が、基準電圧源+Vrefの電圧を示す計測値として読み込まれる。この計測値は、コンデンサ3の後段の構成要素、すなわち、基準電圧源回路8から、バッファ・フィルタ9およびA/D変換までの計測系の回路の部品のバラツキ全てを含む値となる。
そこで、マイコン7は、補正計測期間中に、この計測値と予め分かっている基準電圧源+Vrefの電圧の理論値との差を算出することにより、その各々の測定タイミングでのコンデンサ3の後段の計測系における全てのバラツキ(部品精度、温度特性、A/D変換誤差等)の値を補正値としてモニターできる。
(基準電圧源+Vrefの電圧の理論値)−(計測値)=補正値・・・(3)
このようにして算出された補正値を用いて、電荷計測期間において、コンデンサ3の電荷計測値より、上記(3)式で求められた補正値を差し引く演算を行うことにより、第2の実施形態においても、上記(2)式のように計測系の計測精度低下要因を全て排除した形での補正後計測値を得ることが可能となる。
(第3の実施形態)次に図6は、本発明に係る電圧測定方法を実施する電圧測定装置の第3の実施形態の構成を示す回路図である。
図6に示す電圧測定装置は、図4に示す装置とほぼ同じ構成であるが、基準電圧源回路8の構成が異なっており、さらに、基準電圧源回路8の基準電圧源+Vrefが、図4の場合と同様に補正計測用電源の役目を兼ねている。すなわち、図6では、基準電圧源回路8は、図4の第1のスイッチ8aに代えて、抵抗R4を備えている。
次に、上述の構成を有するフライングキャパシタ方式電圧測定装置の動作(測定手順)について説明する。まず、マルチプレクサ1および2のスイッチS1〜S6と、サンプルスイッチ4のスイッチ4a,4bと、基準電圧源回路8の第1のスイッチ8bが全て開いている状態から、第1のマルチプレクサ1のスイッチS1と第2のマルチプレクサ2のスイッチS2を閉じると、電圧源V1、電圧検出端子T1、スイッチS1、コンデンサ3、スイッチS2および電圧検出端子T2により閉回路が形成される。それにより、電圧源V1の電圧が、コンデンサ3に充電される。
次に、スイッチS1およびS2を開くと共に基準電圧源回路8の第2のスイッチ8bを閉じ、続いてサンプルスイッチ4のスイッチ4aおよび4bを所定期間閉じ、コンデンサ3の電荷、すなわち電圧源V1の電圧をサンプルスイッチ4および抵抗R1〜R3を介して、マイコン7の第1の入力ポートA/D1に供給する。
そこで、マイコン7は、第1の入力ポートA/D1に供給された電圧を計算し、その計算結果が、電圧源V1の電圧を示す値として読み込まれる。
次に、スイッチS2およびS3を閉じると、電圧源V2、電圧検出端子T2、スイッチS2、コンデンサ3、スイッチS3および電圧検出端子T3により閉回路が形成される。それにより、電圧源V2の電圧が、電圧源V1の測定時と逆極性でコンデンサ3に充電される。
次に、スイッチS2およびS3を開くと共に基準電圧源回路8の第2のスイッチ8bを開き、続いて、サンプルスイッチ4のスイッチ4aおよび4bを所定期間閉じ、コンデンサ3の電荷、すなわち電圧源V2の電圧をサンプルスイッチ4および抵抗R1〜R3を介して、マイコン7の第1の入力ポートA/D1に供給する。
このとき、抵抗R2および抵抗R3の接続点に、基準電圧源+Vrefの電圧+AVccが印加されているので、第1の入力ポートA/D1には、電圧源V2の電圧プラス基準電圧源+Vrefの電圧(+AVcc)の電圧が供給される。そこで、マイコン7は、第1の入力ポートA/D1に供給された電圧を計算し、その計算結果が、電圧源V2の電圧を示す値として読み込まれる。
以下同様に、スイッチS3およびS4、S4およびS5、S5およびS6の組み合わせにより、それぞれ、電圧源V3、V4およびV5の各電圧を示す値が、マイコン7で読み込まれる。
上述の測定時、奇数番目の電圧源V1,V3,V5の電圧と、偶数番目の電圧源V2,V4の電圧は、それぞれ逆極性でコンデンサ3に充電され、マイコン7に供給されるので、抵抗R2および抵抗R3の接続点に予め印加される基準電圧源+Vrefの電圧(+AVcc)またはゼロ(0)ボルトを基準電位として、奇数番目の電圧源V1,V3,V5の電圧は、第1の入力ポートA/D1において、A/D変換のフルスケールの、ゼロ(0)ボルト(min)〜+AVcc(max)に換算され、偶数番目の電圧源V2,V4の電圧は、第1の入力ポートA/D1において、A/D変換のフルスケールの、+AVcc(min)〜ゼロ(0)ボルト(max)に換算される。この換算の様子は、図4の装置の場合と同様に、図5に示される。
このように、図6に示す第3の実施形態によれば、従来のように極性補正手段を用いることなく、(+AVcc)またはゼロ(0)ボルトを基準電圧として、奇数番目の電圧源V1,V3,V5の電圧は、ゼロ(0)ボルト〜+AVccの範囲で検出され、偶数番目の電圧源V2,V4の電圧は、(+AVcc)〜ゼロ(0)ボルトの範囲で検出される。したがって、たとえば、+Vccが5ボルトであり、+AVcc=+Vccとした場合は、奇数番目の電圧源の電圧は、0V〜5Vの範囲で検出され、偶数番目の電圧源の電圧は、5V〜0Vの範囲で検出されることになる。
したがって、図6に示す第3の実施形態においても、図1に示す第1の実施形態のようにA/Dフルスケールが1/2に狭められることなく、A/Dフルスケールでの電圧測定を、従来より少ない部品構成で可能とすることができ、検出精度の低下・SN比の低下を懸念する必要がない。
さらに、図6の電圧測定装置では、コンデンサ3の充電期間中に補正計測が行われる。
すなわち、コンデンサ3の充電期間中に、基準電圧源回路8の第2のスイッチ8b
開いていると、抵抗R2および抵抗R3の接続点に基準電圧源+Vrefの電圧が印加される。
印加された基準電圧源+Vrefの電圧は、バッファ・フィルタ9を介してマイコン7の第1の入力ポートA/D1に供給される。マイコン7は、第1の入力ポートA/D1に供給された電圧を計算し、その計算結果が、基準電圧源+Vrefの電圧を示す計測値として読み込まれる。この計測値は、バッファ・フィルタ9およびA/D変換までの計測系の回路の部品のバラツキ全てを含む値となる。
そこで、マイコン7は、補正計測期間中に、上記(3)式で示すように、この計測値と予め分かっている基準電圧源+Vrefの電圧の理論値との差を算出することにより、その各々の測定タイミングでのバッファ・フィルタ9以降の計測系における全てのバラツキ(部品精度、温度特性、A/D変換誤差等)の値を補正値としてモニターできる。
このようにして算出された補正値を用いて、電荷計測期間において、コンデンサ3の電荷計測値より、上記(3)式で求められた補正値を差し引く演算を行うことにより、第3の実施形態においても、上記(2)式のようにバッファ・フィルタ9以降の計測系の計測精度低下要因を全て排除した形での補正後計測値を得ることが可能となる。
以上の通り、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこれに限らず、種々の変形、応用が可能である。
たとえば、上述の実施形態では、マルチプレクサ1,2の各スイッチS1〜S6と、サンプルスイッチ4のスイッチ4aおよび4bと、基準電圧源回路8のスイッチS8,8a、8bと、補正計測回路10のスイッチS9,S10の開閉は、CPU7の制御により自動的に適宜なタイミングで行われるが、これに代えて手動で開閉しても良い。
また、上述の第1の実施形態では、基準電圧源の+Vrefの電圧を+AVcc/2に設定しているが、これに限らず、マイコン7の計測フルスケール値の中間の電圧でありかつ各電圧源V1〜V5の個別電圧を測定可能な電圧であれば、それ以外の電圧に設定することができる。
また、上述の第2の実施形態では、基準電圧源回路8は、マイコン7の計測フルスケール値の最大電圧または最小電圧を切り替えて供給できるように構成されているが、これに限らず、最大電圧に近い高電位電圧または最小電圧に近い低電位電圧を切り替えて供給できるように構成しても良い。
また、上述の各実施形態では、補正計測期間は充電期間と同時期になっているが、これに代えて、充電期間の前あるいは充電期間と電荷計測期間の間に補正計測期間を設けても良い。
また、上述の各実施形態では、本発明がフライングキャパシタ方式電圧測定装置に適用された場合について説明したが、これに限らず、コンデンサの充電を利用する電圧測定装置であれば、フライングキャパシタを使用しない直接計測方式電圧測定装置や多重なしの電圧測定装置等の他の形式の電圧測定装置でも適用可能である。
また、基準電圧源回路8は、図7(A)に示すように、3個の抵抗R1〜R3を用いて分圧回路を構成しているが、分圧比に応じて異なる個数の抵抗を用いても良い。たとえば、図1、図4および図6の電圧測定装置において、抵抗R1〜R3は、R1=R2=2×R3の関係になるように各抵抗値が設定され、R3部分の分圧比は1:5とされている。すなわち、コンデンサ3の両端電圧が、1/5に分圧されてマイコン7の入力ポートA/D1およびA/D2に供給されている。
そこで、分圧回路を図7(B)に示すように、抵抗R1に代えて抵抗R1a,R1bを用い、抵抗R2に代えて抵抗R2a,R2bを用い、5個の抵抗を全て同一抵抗値、すなわち、R1a=R1b=R2a=R2b=R3のものを用いる。この5個の抵抗は、全て同じ高精度(分圧によるバラツキが、マイコン7の入力ポートA/D1およびA/D2のLSB(最下位ビット)以下に収まる精度)の同一品番の抵抗を採用する。それにより、常温での分圧比バラツキを少なくすることができるだけでなく、各抵抗の温度特性が同じとなるため、周囲温度による分圧比変動が発生しない分圧回路を構成することができるため、分圧回路部分のバラツキ補正が不要となる。
すなわち、図7(A)に示す分圧回路においては、抵抗R1,R2,R3の温度特性が同じタイプとした場合、抵抗R3部分の分圧比は1:5であるが、温度特性による抵抗R3部分の分圧比変動は1:3の割合で発生し、誤差要因となる。
一方、図7(B)に示す分圧回路においては、抵抗R1a,R1b,R2a,R2b,R3が同一品番の抵抗値とされているので、抵抗R3部分の分圧比は1:5であり、温度特性による抵抗R3部分の分圧比変動も1:5の割合となるので、結果的に温度特性による分圧比変動は発生しないことになる。また、抵抗R1,R2に代えて、その1/2の抵抗値の抵抗R1a,R1b,R2a,R2bを用いると、抵抗値を小さくできるので、精度の良い抵抗の入手が容易となる。
このように、同一抵抗値の複数の抵抗を採用することにより、異なる抵抗値を有する少ない個数の抵抗を用いて構成された分圧回路に比較して、抵抗の個数が多くなって抵抗配置のスペースが若干増大するものの、どんな分圧比にも対応できかつ温度特性による分圧比変動がなくなるという大きな利点のある分圧回路を構成することができる。
本発明に係る電圧測定方法を実施する電圧測定装置の第1の実施形態の構成を示す回路図である。(第1の実施形態) 図1の電圧測定装置における動作を説明する図である。(第1の実施形態) 図1の電圧測定装置における計測期間を説明する図である。(第1の実施形態) 本発明に係る電圧測定方法を実施する電圧測定装置の第2の実施形態の構成を示す回路図である。(第2の実施形態) 図4の電圧測定装置における動作を説明する図である。(第2の実施形態) 本発明に係る電圧測定方法を実施する電圧測定装置の第3の実施形態の構成を示す回路図である。(第3の実施形態) (A)および(B)は、それぞれ、本発明の電圧測定装置における分圧回路の構成例を示す回路図である。 従来のフライングキャパシタ方式電圧測定装置の計測期間を説明する図である。
符号の説明
V1〜V5 電圧源
1 第1のマルチプレクサ
2 第2のマルチプレクサ
3 コンデンサ
4 サンプルスイッチ
7 マイコン(電圧計測手段、補正値算出手段)
8 基準電圧源回路
10 補正計測回路

Claims (8)

  1. 測定すべき電圧源の電圧を充電系を介して所定の充電期間中にコンデンサに充電し、充電された前記コンデンサの電荷を測定系を介して所定の電荷計測期間中に計測し、得られた電荷計測値から前記電圧源の電圧を算出する電圧測定方法であって、
    前記充電期間中に、前記測定系に補正計測用電圧源の電圧を印加して計測し、得られた計測値と前記補正計測用電圧源の電圧の理論値の差から補正値を算出し、
    前記電荷計測期間中に、前記電荷計測値から前記補正値を差し引く演算を行うことにより、前記電圧源の電圧を算出する
    を備えたことを特徴とする電圧測定方法。
  2. 測定すべき電圧源の電圧を充電系を介して所定の充電期間中にコンデンサに充電し、充電された前記コンデンサの電荷を測定系を介して所定の電荷計測期間中に計測し、得られた電荷計測値から前記電圧源の電圧を算出する電圧測定装置であって、
    前記充電期間中に、前記測定系に補正計測用電圧源の電圧を印加して計測し、得られた計測値と前記補正計測用電圧源の電圧の理論値の差から補正値を算出する補正値算出手段と、
    前記電荷計測期間中に、前記電荷計測値から前記補正値算出手段で算出された前記補正値を差し引く演算を行うことにより、前記電圧源の電圧を算出する電圧計測手段と
    を備えたことを特徴とする電圧測定装置。
  3. コンデンサと、直列接続されたN個の電圧源に接続された(N+1)個の電圧検出端子のうちの奇数番目の電圧検出端子を前記コンデンサに選択的に接続する第1のマルチプレクサと、前記(N+1)個の電圧検出端子のうちの偶数番目の電圧検出端子を前記コンデンサに選択的に接続する第2のマルチプレクサと、前記コンデンサの両端電圧が供給される電圧計測手段とを備え、測定すべき前記電圧源の電圧を所定の充電期間中に前記コンデンサに充電し、充電された前記コンデンサの電荷を所定の電荷計測期間中に前記電圧計測手段で計測し、得られた電荷計測値から前記電圧源の電圧を算出する電圧測定装置であって、
    前記コンデンサと前記電圧計測手段の間に接続され、前記電荷計測期間中に前記電圧計測手段における電圧計測の基準電圧を供給する基準電圧源回路と、
    前記コンデンサと前記基準電圧源回路の間に接続され、前記充電期間中に補正計測用電圧源の電圧を印加する補正計測回路と、
    前記充電期間中に印加された前記補正計測用電圧源の電圧を計測し、得られた計測値と前記補正計測用電圧源の電圧の理論値の差から補正値を算出する補正値算出手段とをさらに備え、
    前記電圧計測手段は、前記電荷計測期間中に、前記電荷計測値から前記補正値算出手段で算出された前記補正値を差し引く演算を行うことにより、前記電圧源の電圧を算出する
    ことを特徴とする電圧測定装置。
  4. 請求項3記載の電圧測定装置において、
    前記基準電圧源回路は、前記電圧計測手段における電圧計測の基準電圧として、計測フルスケール値の中間の電圧を供給する
    ことを特徴とする電圧測定装置。
  5. 請求項3記載の電圧測定装置において、
    前記基準電圧源回路は、前記電圧計測手段における電圧計測の基準電圧として、計測フルスケール値の高電位電圧または低電位電圧を切り替えて供給し、
    前記補正計測回路は、補正計測用電圧源の電圧として、前記基準電圧源回路における計測フルスケール値の高電位電圧を印加し、
    前記第1および第2のマルチプレクサにより所望の電圧源を選択することにより、奇数番目の前記電圧源の電圧または偶数番目の前記電圧源の電圧を互いに逆極性で前記コンデンサへ充電した後に、前記第1および第2のマルチプレクサを開くと共に、奇数番目の電圧が充電されたときには前記基準電圧源回路で前記低電位電圧に切り替え、偶数番目の電圧が充電されたときには前記基準電圧源回路で前記高電位電圧に切り替えて、前記電圧源の電圧を測定する
    ことを特徴とする電圧測定装置。
  6. コンデンサと、直列接続されたN個の電圧源に接続された(N+1)個の電圧検出端子のうちの奇数番目の電圧検出端子を前記コンデンサに選択的に接続する第1のマルチプレクサと、前記(N+1)個の電圧検出端子のうちの偶数番目の電圧検出端子を前記コンデンサに選択的に接続する第2のマルチプレクサと、前記コンデンサの両端電圧が供給される電圧計測手段とを備え、測定すべき前記電圧源の電圧を所定の充電期間中に前記コンデンサに充電し、充電された前記コンデンサの電荷を所定の電荷計測期間中に前記電圧計測手段で計測し、得られた電荷計測値から前記電圧源の電圧を算出する電圧測定装置であって、
    前記コンデンサと前記電圧計測手段の間に接続され、前記電圧計測手段における電圧計測の基準電圧を供給する基準電圧源回路と、
    前記充電期間中に印加された前記基準電圧源回路の電圧を計測し、得られた計測値と前記基準電圧源回路の電圧の理論値の差から補正値を算出する補正値算出手段とをさらに備え、
    前記電圧計測手段は、前記電荷計測期間中に、前記電荷計測値から前記補正値算出手段で算出された前記補正値を差し引く演算を行うことにより、前記電圧源の電圧を算出する
    ことを特徴とする電圧測定装置。
  7. 請求項3から6のいずれか1項に記載の電圧測定装置において、
    前記基準電圧源回路は、複数の抵抗を有し、前記コンデンサの両端電圧を分圧して前記電圧計測手段に供給する分圧回路と、該分圧回路に前記電圧計測手段における電圧計測の基準電圧を供給する基準電圧源とからなる
    ことを特徴とする電圧測定装置。
  8. 請求項7記載の電圧測定装置において、
    前記分圧回路は同一抵抗値を有する複数の抵抗で構成される
    ことを特徴とする電圧測定装置。
JP2005205625A 2005-07-14 2005-07-14 電圧測定方法および電圧測定装置 Pending JP2007024625A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005205625A JP2007024625A (ja) 2005-07-14 2005-07-14 電圧測定方法および電圧測定装置
US11/446,374 US7656164B2 (en) 2005-07-14 2006-06-05 Method of voltage measurement and apparatus for same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005205625A JP2007024625A (ja) 2005-07-14 2005-07-14 電圧測定方法および電圧測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007024625A true JP2007024625A (ja) 2007-02-01

Family

ID=37693612

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005205625A Pending JP2007024625A (ja) 2005-07-14 2005-07-14 電圧測定方法および電圧測定装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7656164B2 (ja)
JP (1) JP2007024625A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010243157A (ja) * 2009-04-01 2010-10-28 Denso Corp 電圧検出装置
JP2012208067A (ja) * 2011-03-30 2012-10-25 Keihin Corp 電池電圧検出装置
CN103703380A (zh) * 2011-05-13 2014-04-02 法国大陆汽车公司 测量电压差动

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7288940B2 (en) * 2004-12-06 2007-10-30 Analog Devices, Inc. Galvanically isolated signal conditioning system
US8237447B2 (en) * 2007-05-11 2012-08-07 Panasonic Ev Energy Co., Ltd. Apparatus for detecting state of storage device
JP4991448B2 (ja) * 2007-08-24 2012-08-01 株式会社東芝 組電池の保護装置及びこれを含む組電池システム
KR101651440B1 (ko) * 2008-05-16 2016-08-26 코닌클리케 필립스 엔.브이. 셀프-믹싱 레이저 센서를 포함하는 방어 시스템 및 그러한 방어 시스템을 구동하는 방법
FR2938657B1 (fr) * 2008-11-17 2010-12-31 Vehicules Electr Soc D Procede de surveillance de la tension d'un element generateur d'energie electrique d'une batterie
US7928744B2 (en) * 2008-12-02 2011-04-19 Analog Devices, Inc. Monitoring circuit having a self test function
TW201027315A (en) * 2009-01-13 2010-07-16 Quanta Comp Inc Cell balancing apparatus and operating method thereof
US9259219B2 (en) 2009-11-09 2016-02-16 Ethicon, Llc Surgical needle coatings and methods
JP5571486B2 (ja) * 2010-07-14 2014-08-13 矢崎総業株式会社 組電池の電圧検出装置
JP5606871B2 (ja) * 2010-10-26 2014-10-15 ラピスセミコンダクタ株式会社 半導体回路、半導体装置、配線の異常診断方法、及び異常診断プログラム
US8933721B2 (en) * 2011-10-27 2015-01-13 Infineon Technologies Austria Ag Power source arrangement and method of diagnosing a power source arrangement
WO2014013293A1 (en) * 2012-07-19 2014-01-23 Freescale Semiconductor, Inc. System and method for on-die voltage difference measurement on a pass device, and integrated circuit
US9091738B2 (en) * 2012-10-10 2015-07-28 GM Global Technology Operations LLC Vehicle battery pack cell voltage determination
KR102008359B1 (ko) * 2013-02-25 2019-08-07 온세미컨덕터코리아 주식회사 전압 측정 장치 및 이를 포함하는 배터리 관리 시스템
US9966584B2 (en) 2013-03-11 2018-05-08 Atieva, Inc. Bus bar for battery packs
US20140266003A1 (en) * 2013-03-15 2014-09-18 Atieva, Inc. Cell balancing through a switched capacitor level shifter
US10063071B2 (en) 2013-03-15 2018-08-28 Atieva, Inc. Balance resistor and low pass filter
US10901019B2 (en) 2013-03-15 2021-01-26 Atieva, Inc. Method of connecting cell voltage sensors
US9041454B2 (en) 2013-03-15 2015-05-26 Atieva, Inc. Bias circuit for a switched capacitor level shifter
US10084214B2 (en) 2013-03-15 2018-09-25 Atieva, Inc. Automatic switchover from cell voltage to interconnect voltage monitoring
JP6298616B2 (ja) * 2013-11-14 2018-03-20 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置、電池パック及び携帯端末
US10539643B2 (en) * 2017-09-01 2020-01-21 Fluke Corporation Proving unit for use with electrical test tools
US11197666B2 (en) 2017-09-15 2021-12-14 Cilag Gmbh International Surgical coated needles

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5621417A (en) * 1979-07-31 1981-02-27 Mitsubishi Electric Corp Analogue-digital converting unit
JPS6141918A (ja) * 1984-08-02 1986-02-28 Toyo Commun Equip Co Ltd フライングキヤパシタ・マルチプレクサ回路用誤差補正装置
JPH0685669A (ja) * 1991-11-12 1994-03-25 Yokogawa Electric Corp オートゼロ補正回路
JPH08189940A (ja) * 1995-01-09 1996-07-23 Yokogawa Electric Corp ディジタル測定器
JPH08189845A (ja) * 1995-01-09 1996-07-23 Yokogawa Electric Corp ディジタル測定器

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3518318B2 (ja) 1998-03-06 2004-04-12 松下電器産業株式会社 積層電圧計測装置
WO1999045402A1 (fr) * 1998-03-06 1999-09-10 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Instrument de mesure de tension a condensateur volant
JP2001086656A (ja) * 1999-07-09 2001-03-30 Fujitsu Ltd バッテリ監視装置
JP4210030B2 (ja) * 2000-11-02 2009-01-14 パナソニック株式会社 積層電圧計測装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5621417A (en) * 1979-07-31 1981-02-27 Mitsubishi Electric Corp Analogue-digital converting unit
JPS6141918A (ja) * 1984-08-02 1986-02-28 Toyo Commun Equip Co Ltd フライングキヤパシタ・マルチプレクサ回路用誤差補正装置
JPH0685669A (ja) * 1991-11-12 1994-03-25 Yokogawa Electric Corp オートゼロ補正回路
JPH08189940A (ja) * 1995-01-09 1996-07-23 Yokogawa Electric Corp ディジタル測定器
JPH08189845A (ja) * 1995-01-09 1996-07-23 Yokogawa Electric Corp ディジタル測定器

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010243157A (ja) * 2009-04-01 2010-10-28 Denso Corp 電圧検出装置
JP2012208067A (ja) * 2011-03-30 2012-10-25 Keihin Corp 電池電圧検出装置
CN103703380A (zh) * 2011-05-13 2014-04-02 法国大陆汽车公司 测量电压差动
US9791481B2 (en) 2011-05-13 2017-10-17 Continental Automotive France Differential voltage measurement

Also Published As

Publication number Publication date
US20070024270A1 (en) 2007-02-01
US7656164B2 (en) 2010-02-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2007024625A (ja) 電圧測定方法および電圧測定装置
JP4900065B2 (ja) マルチチャネルサンプルホールド回路およびマルチチャネルa/d変換器
US7030791B2 (en) A/D conversion device having input level shift and output correction function
JP4520925B2 (ja) 電圧測定装置
KR20090084854A (ko) 직렬 연결 셀 전압을 측정하는 시스템과 방법
JP6103798B2 (ja) フライングキャパシタ式電圧検出回路及び電池保護用集積回路
JP2007240299A (ja) フライングキャパシタ方式電圧測定装置
JP4811339B2 (ja) A/d変換器
JP2014137272A (ja) 電圧監視装置
JP2006337130A (ja) フライングキャパシタ方式電圧測定装置
JPS58181323A (ja) 較正機能付きデジタルアナログ変換器
US10060988B2 (en) Semiconductor device and a method for measuring a cell voltage
JP2002156392A (ja) 組電池の電圧検出装置
JP2000199771A (ja) 組み電池の電圧検出装置
JP6922533B2 (ja) 電圧検出装置
JP4158352B2 (ja) 組電池電圧検出装置
JP4571888B2 (ja) 電圧測定装置およびその劣化判定方法
JP3978728B2 (ja) 多軸センサ装置
JP3877747B1 (ja) A/d変換装置
JP6489081B2 (ja) センサ装置
JP4482506B2 (ja) 電圧測定方法および電圧測定装置
JP2006234783A (ja) 電圧測定装置
KR100587526B1 (ko) 재충전 가능한 배터리의 셀 전압 측정 장치 및 그 방법
JPH118557A (ja) A/d変換器
US20240178851A1 (en) Internally calibrated analog-to-digital converter

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071127

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091117

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100118

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100406

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100727