JP4790367B2 - 電子部品テストシステム - Google Patents
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- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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Description
請求項2の発明は、請求項1に記載した電子部品テストシステムにおいて、更にテストエリア取放装置を包含し、該テストエリア取放装置は上述各テストエリアに位置し、テストソケットと移載装置の間にテスト待ち部品の受け取りやテスト済み部品の保管を行ない、並びに該テストエリア取放装置はテスト待ち部品を直接テストソケットに圧接し、テスティングをすることができることを特徴とする電子部品テストシステムとしている。
請求項3の発明は、請求項1に記載した電子部品テストシステムにおいて、そのうち、上述の出入力エリア取放装置はテスト待ち部品を吸いつけ、場合によって回転することができるインプット吸着ヘッドと、場合によって回転することができるアウトプット吸着ヘッド、及びトレイを吸着するトレイ受取器を包含することを特徴とする電子部品テストシステムとしている。
請求項4の発明は、請求項1に記載した電子部品テストシステムにおいて、更に出入力エリア取放装置を移動させるためのY軸レールを包含することを特徴とする電子部品テストシステムとしている。
請求項5の発明は、請求項4に記載した電子部品テストシステムにおいて、更に出入力エリア取放装置を移動させるためのX軸レールを包含することを特徴とする電子部品テストシステムとしている。
12 集積回路(IC)部品
15 アウトプット・トレイ(output tray/bin)
16 インプット・トレイ(input tray)
18 イン・アウトプットエリアの取放装置(pick & place)
18a インプット吸着ヘッド
18b アウトプット吸着ヘッド
18c トレイ取り出し器
19 X軸レール
20 Y軸レール
22 移載装置(shuttle)
22a 前収納槽
22b 後収納槽
24 レール
26 テストエリア
27 テストエリアの取放装置(pick & place)
28 テストソケット(socket)
34 テスト待ち部品の進行方向
38 テスト済み部品の進行方向
40 インプット・トレイの進行方向
42 テスティングの進行方向
44 テスティングの進行方向
100 伝統的なICテスト用ハンドラー (handler)
104 インプット・トレイ(input tray)
105 アウトプット・トレイ(output tray/bin)
108 取放装置(pick & place)
109 X軸レール
110 Y軸レール
111 X軸レール
112 テストエリアの取放装置
113 Y軸レール
114 移載装置(shuttle)
115a 前収納槽
115b 後収納槽
116 移載レール
118 テストエリア
119 テストソケット(socket)
Claims (5)
- 電子部品テストシステムにおいて、テスト待ち部品を運ぶインプット装置、テスト済み部品を載せるアウトプット装置、複数のテストエリアであって、各該テストエリアが少なくとも一つのテストソケットと一つのテストエリア取放装置とを具え、該テスト待ち部品のピックアップ及びプレース、及び該テスト待ち部品のテスティングを行なう上記複数のテストエリア、該テストエリアとインプット装置、アウトプット装置の間に位置し、テスト待ち部品またはテスト済み部品を運搬し、並びに前収納槽と後収納槽を具え、それぞれテスト待ち部品またはテスト済み部品を収納または運搬をする複数の移載装置、複数のレールであって、該電子部品テストシステムを縦断し且つ該テストエリアを区画すると共に、該インプット装置及び該アウトプット装置を区画し、該移載装置を移動させ、各該レール上を該複数の移載装置が移動し、該テストエリアが両側に位置すると共に、該インプット装置と該アウトプット装置が両側に位置する該複数のレール、該テストエリア取放装置であって、該テストソケットと該移載装置の間で該テスト待ち部品或いはテスト済み部品をピックアップ及びプレースする該テストエリア取放装置、及び出入力エリア取放装置であって、該移載装置と該レールの両側に位置する該インプット装置と該アウトプット装置との間で該テスト待ち部品或いはテスト済み部品をピックアップ及びプレースする上記出入力エリア取放装置を包含することを特徴とする電子部品テストシステム。
- 請求項1記載の電子部品テストシステムにおいて、更にテストエリア取放装置を包含し、該テストエリア取放装置は上述各テストエリアに位置し、テストソケットと移載装置の間にテスト待ち部品の受け取りやテスト済み部品の保管を行ない、並びに該テストエリア取放装置はテスト待ち部品を直接テストソケットに圧接し、テスティングをすることができることを特徴とする電子部品テストシステム。
- 請求項1記載の電子部品テストシステムにおいて、そのうち、上述の出入力エリア取放装置はテスト待ち部品を吸いつけ、場合によって回転することができるインプット吸着ヘッドと、場合によって回転することができるアウトプット吸着ヘッド、及びトレイを吸着するトレイ受取器を包含することを特徴とする電子部品テストシステム。
- 請求項1記載の電子部品テストシステムにおいて、更に出入力エリア取放装置を移動させるためのY軸レールを包含することを特徴とする電子部品テストシステム。
- 請求項4記載の電子部品テストシステムにおいて、更に出入力エリア取放装置を移動させるためのX軸レールを包含することを特徴とする電子部品テストシステム。
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