JP2007033426A - 電子部品テストシステム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は一種の電子部品テストシステムであり、多数のテストエリアを包含し、各テストエリアはそれぞれ、取放(pick & place)装置が設けられる。テストシステムは更にインプット/アウトプット・トレイの間に設けられる、いくつかの移載装置(shuttle )を包含する。また、テスト待ち部品またはテスト済み部品を出し入れするように、移載装置とインプット/アウトプット・トレイの間にインプット・アウトプットエリアに取放装置を設ける。
【選択図】図2
Description
請求項2は請求項1に記載した電子部品テストシステムにおいて、更にテストエリア取放装置を包含し、該テストエリア取放装置は上述各テストエリアに位置し、テストソケットと移載装置の間にテスト待ち部品の受け取りやテスト済み部品の保管を行ない、並びに該テストエリア取放装置はテスト待ち部品を直接テストソケットに圧接し、テスティングをすることができることを特徴とする電子部品テストシステムとしている。
請求項3は請求項1に記載した電子部品テストシステムにおいて、そのうち、上述の出入力エリア取放装置はテスト待ち部品を吸いつけ、場合によって回転することができるインプット吸着ヘッドと、場合によって回転することができるアウトプット吸着ヘッド、及びトレイを吸着するトレイ受取器を包含することを特徴とする電子部品テストシステムとしている。
請求項4は請求項1に記載した電子部品テストシステムにおいて、更に出入力エリア取放装置を移動させるためのY軸レールを包含することを特徴とする電子部品テストシステムとしている。
請求項5は請求項4に記載した電子部品テストシステムにおいて、更に出入力エリア取放装置を移動させるためのX軸レールを包含することを特徴とする電子部品テストシステムとしている。
12 集積回路(IC)部品
15 アウトプット・トレイ(output tray/bin)
16 インプット・トレイ(input tray)
18 イン・アウトプットエリアの取放装置(pick & place)
18a インプット吸着ヘッド
18b アウトプット吸着ヘッド
18c トレイ取り出し器
19 X軸レール
20 Y軸レール
22 移載装置(shuttle)
22a 前収納槽
22b 後収納槽
24 レール
26 テストエリア
27 テストエリアの取放装置(pick & place)
28 テストソケット(socket)
34 テスト待ち部品の進行方向
38 テスト済み部品の進行方向
40 インプット・トレイの進行方向
42 テスティングの進行方向
44 テスティングの進行方向
100 伝統的なICテスト用ハンドラー (handler)
104 インプット・トレイ(input tray)
105 アウトプット・トレイ(output tray/bin)
108 取放装置(pick & place)
109 X軸レール
110 Y軸レール
111 X軸レール
112 テストエリアの取放装置
113 Y軸レール
114 移載装置(shuttle)
115a 前収納槽
115b 後収納槽
116 移載レール
118 テストエリア
119 テストソケット(socket)
Claims (5)
- 本発明は一種の電子部品テストシステムに関するものであり、テスト待ち部品を運ぶインプット装置、テスト済み部品を載せるアウトプット装置、テスト待ち部品を保管しテスティングを行なうテストソケットを具える複数のテストエリア、テストエリアとインプット装置、アウトプット装置の間に位置し、テスト待ち部品またはテスト済み部品を運搬し、並びに前収納槽と後収納槽を具え、それぞれテスト待ち部品またはテスト済み部品を収納または運搬をする複数個の移載装置、移載装置を移動させ、その上を複数の移載装置が移動する複数のレール、及び該移載装置とインプット装置、アウトプット装置の間に位置し、テスト待ち部品またはテスト済み部品を受取ったり置いたりする出入力エリア取放装置を包含することを特徴とする電子部品テストシステム。
- 請求項1に記載した電子部品テストシステムは、更にテストエリア取放装置を包含し、該テストエリア取放装置は上述各テストエリアに位置し、テストソケットと移載装置の間にテスト待ち部品の受け取りやテスト済み部品の保管を行ない、並びに該テストエリア取放装置はテスト待ち部品を直接テストソケットに圧接し、テスティングをすることができることを特徴とする電子部品テストシステム。
- 請求項1に記載した電子部品テストシステムにおいて、そのうち、上述の出入力エリア取放装置はテスト待ち部品を吸いつけ、場合によって回転することができるインプット吸着ヘッドと、場合によって回転することができるアウトプット吸着ヘッド、及びトレイを吸着するトレイ受取器を包含することを特徴とする電子部品テストシステム。
- 請求項1に記載した電子部品テストシステムは、更に出入力エリア取放装置を移動させるためのY軸レールを包含することを特徴とする電子部品テストシステム。
- 請求項4に記載した電子部品テストシステムは、更に出入力エリア取放装置を移動させるためのX軸レールを包含することを特徴とする電子部品テストシステム。
電子部品テストシステム。
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