JP4703980B2 - 積層型ボールグリッドアレイパッケージ及びその製造方法 - Google Patents

積層型ボールグリッドアレイパッケージ及びその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4703980B2
JP4703980B2 JP2004178744A JP2004178744A JP4703980B2 JP 4703980 B2 JP4703980 B2 JP 4703980B2 JP 2004178744 A JP2004178744 A JP 2004178744A JP 2004178744 A JP2004178744 A JP 2004178744A JP 4703980 B2 JP4703980 B2 JP 4703980B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stacked
solder ball
bga package
package
semiconductor chip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2004178744A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005026680A (ja
Inventor
哲準 劉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JP2005026680A publication Critical patent/JP2005026680A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4703980B2 publication Critical patent/JP4703980B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/065Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L25/0657Stacked arrangements of devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/10Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers
    • H01L25/105Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32135Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/32145Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being stacked
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73215Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/85909Post-treatment of the connector or wire bonding area
    • H01L2224/8592Applying permanent coating, e.g. protective coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/04All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers
    • H01L2225/065All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/06503Stacked arrangements of devices
    • H01L2225/0651Wire or wire-like electrical connections from device to substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/04All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers
    • H01L2225/065All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/06503Stacked arrangements of devices
    • H01L2225/06575Auxiliary carrier between devices, the carrier having no electrical connection structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/04All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers
    • H01L2225/065All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/06503Stacked arrangements of devices
    • H01L2225/06582Housing for the assembly, e.g. chip scale package [CSP]
    • H01L2225/06586Housing with external bump or bump-like connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/10All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
    • H01L2225/1005All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/1011All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement
    • H01L2225/1017All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement the lowermost container comprising a device support
    • H01L2225/1023All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement the lowermost container comprising a device support the support being an insulating substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/10All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
    • H01L2225/1005All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/1011All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement
    • H01L2225/1041Special adaptations for top connections of the lowermost container, e.g. redistribution layer, integral interposer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/10All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
    • H01L2225/1005All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/1011All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement
    • H01L2225/1047Details of electrical connections between containers
    • H01L2225/1058Bump or bump-like electrical connections, e.g. balls, pillars, posts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1532Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate
    • H01L2924/1533Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate the connection portion being formed both on the die mounting surface of the substrate and outside the die mounting surface of the substrate
    • H01L2924/15331Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate the connection portion being formed both on the die mounting surface of the substrate and outside the die mounting surface of the substrate being a ball array, e.g. BGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • H01L2924/1815Shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • H01L2924/1815Shape
    • H01L2924/1816Exposing the passive side of the semiconductor or solid-state body
    • H01L2924/18165Exposing the passive side of the semiconductor or solid-state body of a wire bonded chip

Description

本発明は半導体パッケージに係り、さらに具体的には少なくとも1つのチップを含む積層型ボールグリッドアレイパッケージに関する。
個人用携帯電子製品を始めとする電子機器の容量及び速度が向上しつつ、そのサイズも小型化されるにつれ、半導体パッケージもやはり大容量化、高速化及び軽薄短小化されていく趨勢である。
現在、パッケージのサイズを小さくするために、ピンの代わりにボールを使用するボールグリッドアレイ(Ball Grid Array、以下、BGA)パッケージ及びチップの大きさを大きく外れない範囲内で組立てられうるチップスケールパッケージ(Chip Scale Package:CSP)が提案されている。
従来より、単位半導体パッケージ当たり実装密度を高めつつ、1つのパッケージで多数の機能を行えるように積層型パッケージが提案されており、その一例が特許文献1に開示されている。
同特許文献1は、多数個のBGAパッケージが上下に積層された構造を開示する。前記特許で、単位BGAパッケージは、基板と、基板上部の中央に配されるモールディングされた半導体チップと、半導体チップを中心に両側の基板底面に配されるソルダボールとを含み、前記特許の積層型パッケージはこのような構造の単位BGAパッケージがソルダボールを電気的媒介体に利用して上下積層されている。しかし、前記の積層型BGAパッケージはソルダボールが半導体チップ両側に配されることにより、パッケージサイズがチップサイズより大きくなる問題点がある。また、単位BGAパッケージの高さは1つの半導体チップの高さと比較してはるかに高いので、多数の単位BGAパッケージを積層する時、パッケージの高さが高くなる問題点がある。
これにより、従来、多数のパッケージを積層しつつパッケージのサイズ及び高さを小さくできるようにフレキシブル基板(flexible printed circuit board)を使用する技術が開示され、前記技術は特許文献2に開示された。これについてさらに詳細に述べれば、図1に図示されたように、積層型パッケージはフレキシブル基板20を挟んで積層される第1及び第2パッケージ10,30を含む。第1及び第2パッケージ10,30は半導体チップ(図示せず)を含む本体12,32と、本体外部に突出されたソルダボール14,34とを含み、第1及び第2パッケージ10,30のソルダボール14,34は互いに対向するように配される。フレキシブル基板20は第1及び第2パッケージ10,30のソルダボール14,34間に介在される第1部分と、第1部分から延びて第2パッケージの側面を覆い包みつつ第2パッケージ30の本体表面と接着される第2部分とを含む。この時、第2部分には外部接続端子40が設けられる。このような積層型BGAパッケージはチップ下部にソルダボールが形成されるので、パッケージサイズを小さくすると共に個別パッケージの容量を大きくできるという長所を有する。
しかし、前記のフレキシブル基板20を使用するBGAパッケージは、上部パッケージ(第1パッケージ)と下部パッケージ(第2パッケージ)間に電気的連結長さ(信号伝達経路)が長くなる短所がある。併せて、別途のフレキシブル基板を使用しなければならない面倒さが伴う。
米国特許第6268649号公報 大韓民国実用新案登録第283907号公報
従って、本発明が解決しようとする技術的課題の一側面は、パッケージサイズを小さくすると共に積層されるパッケージ間の電気的連結の長さを縮めることができる積層型BGAパッケージを提供することである。
また、本発明が解決しようとする技術的課題の他側面は、高さを高くせずとも実装密度を改善できる積層型BGAパッケージを提供することである。
また、本発明が解決しようとする他の技術的課題は、前記の積層型BGAパッケージの製造方法を提供することである。
前記の本発明が解決しようとする課題をなすための積層型BGAパッケージは、少なくとも1つのチップを含むベースBGAパッケージ及び前記ベースBGAパッケージ上に積層され、少なくとも1つのチップを含む多数のBGAパッケージを含む。前記ベースBGAパッケージ及びその上部に積層される多数のBGAパッケージはソルダボールによって電気的に導通される。また、本発明の他の実施例によれば、第1ないし第nパッケージが順次に積層、連結された積層型BGA半導体パッケージであり、前記第1ないし第nパッケージは、上面にワイヤボンディングパッドが配列されて底面にソルダボール載置パッドが配列された印刷回路基板と、前記印刷回路基板の上面に付着されて上面にボンディングパッドが配列されている少なくとも1つの半導体チップと、前記印刷回路基板のワイヤボンディングパッドと前記半導体チップのボンディングパッドとを連結するワイヤと、前記ワイヤボンディングパッド、ボンディングパッド及びワイヤを覆い包むように前記印刷回路基板の所定部分に形成される封止体、及び前記印刷回路基板の底面に付着されるソルダボールを含む。このような第1ないし第n−1パッケージの上部に、前記最上部半導体チップと電気的に連結されるように回路層が付着され、前記回路層は上部に積層されるパッケージのソルダボールと電気的に連結される。
前記少なくとも1つの半導体チップは素子が形成された面が上部を向くように付着されることが望ましく、前記第1ないし第n−1パッケージの封止体は最上部に付着される半導体チップの表面が露出されるように形成されることが望ましい。
前記回路層はソルダボール載置パッド及び前記ソルダボール載置パッドと半導体チップのボンディングパッドとを連結する導電パターンを備えるテープであるか、前記回路層のソルダボール載置パッドと導電パターンとは前記半導体チップのボンディングパッドと一体に構成されうる。
また、前記回路層のソルダボール載置パッドは前記基板底面のソルダボール載置パッドと対応するように配され、前記ソルダボールは回路層のソルダボール載置パッド及び基板のソルダボール載置パッドとコンタクトされるように付着される。
一方、前記第nパッケージの封止体は該当パッケージ内の最上部に付着されるチップの表面を覆うように形成されることが望ましい。また、前記第1ないし第nパッケージそれぞれは同一数または相異なる数の半導体チップを含められ、前記第2ないし第nパッケージのソルダボールは密封剤によって封止されうる。
本発明の積層型BGAパッケージの製造方法は次の通りである。まず、少なくとも1つの半導体チップを備えるBGAパッケージを準備する。その後、前記BGAパッケージ上部に前記半導体チップと電気的に連結されるように回路層を形成する。その後、前記回路層の上部に他のBGAパッケージを少なくとも1つ積層させる。この時、それらBGAパッケージは前記回路層及びソルダボールによって電気的に導通され、回路層上に積層される少なくとも1つのBGAパッケージもまた、上記の通りに回路層及びソルダボールにより積層される。
前記BGAパッケージを準備する段階は、上面にワイヤボンディングパッドが配列されており、底面にソルダボール載置パッドを備えた印刷回路基板を提供する段階と、前記印刷回路基板の上面に、ボンディングパッドを備えた第1半導体チップを付着する段階と、前記第1半導体チップのボンディングパッドと前記印刷回路基板のワイヤボンディングパッドとをワイヤでボンディングする段階と、前記第1半導体チップ上部に、ボンディングパッドを備えた第2半導体チップを付着する段階と、前記第2半導体チップのボンディングパッドと前記印刷回路基板のワイヤボンディングパッドとをワイヤでボンディングする段階と、前記印刷回路基板のワイヤボンディングパッド、第1及び第2半導体チップのボンディングパッド及びワイヤを保護するように印刷回路基板の所定部分に封止体を形成する段階、及び前記印刷回路基板の背面にソルダボールをソルダリングする段階を含む。
前記回路層を形成する段階は、ソルダボール載置パッド及び前記ソルダボール載置パッドと前記第2半導体チップのボンディングパッドとを連結させるための導電パターンを有するテープを前記BGAパッケージ上部に付着する。
また、前記回路層を形成するための他の方法としては、前記第2半導体チップのボンディングパッドの形成と同時にソルダボール載置パッドと、ソルダボール載置パッド及びボンディングパッドを連結する導電パターンを形成する。
前記最上部に積層されるBGAパッケージの封止体を形成する段階は、前記第2チップ表面が覆われるように封止体を形成することが望ましい。
前記ソルダボールをソルダリングする段階後に、前記パッケージとパッケージ間を連結するソルダボールを密封剤で封止する段階をさらに含みうる。
本発明による積層型BGAパッケージは少なくとも1つのチップを含む多数の積層されたBGAパッケージより構成される。積層されたBGAパッケージはソルダボールにより電気的に導通される。この時、ソルダボールは半導体チップと対応する部分に形成されるので、積層型BGAパッケージのサイズをチップサイズに縮小できる。
併せて、ソルダボールを媒介として多数のBGAパッケージを積層することにより、別途のフレキシブル基板を使用せずともよいので、電気的連結長を短くできる。
また、少なくとも1つ、望ましくは不良が発生しないほどの半導体チップを含むBGAパッケージを多数積層することにより、実装密度を下げられるだけではなく、1つのパッケージ内に所望の全ての数のチップを実装する時より不良率を下げられる。
併せて、BGAパッケージ間を導通させるソルダボールは密封剤により封止されているので、ボールに加えられるストレスを減らせ、下部BGAパッケージの回路層を保護でき、パッケージ信頼性が改善される。
以下、添付した図面に基づいて本発明の望ましい実施例を説明する。しかし、本発明の実施例はさまざまな異なる形態に変形でき、本発明の範囲が後述の実施例だけによって限定されると解釈されてはならない。本発明の実施例は当業界で当業者に本発明をより完全に説明するために提供されるものである。従って、図面での要素の形状はさらに明確な説明を強調するために誇張されているのであり、図面上で同符号で表示された要素は同じ要素を意味する。
本実施例の半導体パッケージ200は図2に図示されたように、積層された多数の単位BGAパッケージ100a,100b,100c,100dを含む。積層されたそれぞれの単位BGAパッケージ100aないし100dは少なくとも1つの半導体チップ、例えばそれぞれ2個の積層された半導体チップ103,105を含みうる。積層された単位BGAパッケージ100aないし100dはソルダボール115,116によって電気的に導通され、このようなソルダボール115,116によってそれぞれのBGAパッケージ100aないし100d内の半導体チップ103,105に外部信号が印加される。
図3を参照して単位BGAパッケージ100aないし100dをさらに詳細に説明すれば、単位BGAパッケージ100aないし100dは印刷回路基板101を含み、印刷回路基板101の上部に少なくとも1つの半導体チップ、望ましくは不良が発生しないほど数、例えば2個または3個の半導体チップが積層されうる。本実施例では、例えば2個の半導体チップが積層されており、そのうち下部半導体チップを第1チップ103、上部半導体チップを第2チップ105という。このような第1及び第2チップ103,105は素子が形成された面が上部を向くように順次に積層及び付着されている。また、第1及び第2チップ103,105は上部縁に多数のボンディングパッド103a,105aが配列されており、それらチップ103,105は接着層107を挟んで接着される。ここで、接着層107は第1チップ103のボンディングパッド103aが露出されるように形成される。また、第1及び第2チップ103,105のボンディングパッド103a,105aは印刷回路基板101の縁部に位置したワイヤボンディングパッド109とワイヤ111a,111bとによってそれぞれ連結され、ボンディングパッド103a,105a、ワイヤボンディングパッド109及びワイヤ111a,111bは封止体113により密封される。この時、最上部に積層されるBGAパッケージ100dは第2チップ105(最上部に位置するチップ)の表面が覆われるように封止されることが望ましく、その他の単位BGAパッケージ100a,100b,100cは第2チップ105(最上部に位置するチップ)の表面が露出されるように封止されることが望ましい。露出された第2チップ105の表面に回路層120が形成される。
回路層120は図4に図示されたように、ソルダボール載置パッド121と、このソルダボール載置パッド121と第2半導体チップ105のボンディングパッド105a間を連結させるための導電パターン123とを含む。多数のソルダボール載置パッド121及び導電パターン123それぞれは隣接する他のソルダボール載置パッド121及び導電パターン123と電気的に絶縁されるように所定距離だけ離される。
この時、回路層120は図5Aでのように、ソルダボール載置パッド121及び導電パターン123が形成された一種のテープでありうる。このような場合、導電パターン123はボンディングパッド105aとコンタクトされるように回路層120外部に延びる。このような回路層121のソルダボール載置パッド121上にはソルダボール121が付着され、ソルダボール121は導電パターン123によりボンディングパッド105aと電気的に連結される。
また、回路層120は図5Bに図示されたように、半導体チップ105と一体に構成されうる。すなわち、半導体チップ製造工程で、ボンディングパッド105aを形成するための金属配線工程時、ソルダボール載置パッド121と導電パターン123とが同時にパターニングされ、ボンディングパッド105aの形成と同時に回路層120が形成されうる。このような方式をラウティング方式と言い、ラウティング方式は別途のテープを付着する工程及び別途のフォトリソグラフィ工程が要求されずに簡単な方式で回路層120を具現できるという長所がある。
一方、それぞれの印刷回路基板101の底面にも図6に図示されたように、ソルダボールが載置される載置パッド130と、ソルダボール載置パッド130と印刷回路基板101上に位置したワイヤボンディングパッド109間を電気的に連結させるためのホール133及び導電パターン135が形成されている。ホール133はワイヤボンディングパッド109と載置パッド130間を連結させるために印刷回路基板101を貫通するホールであり、ホール133内には導電物(図示せず)が挿入されている。導電パターン135はホール133内に挿入された導電物と載置パッド130間を連結する経路であり、それぞれの導電パターン135は所定間隔をおいて離される。この時、基板101底面のソルダボール載置パッド130と回路層120のソルダボール載置パッド121とは互いに対応するように形成されねばならない。単位BGAパッケージの印刷回路基板101の底面にソルダボール115,116が付着される。ソルダボール115,116は印刷回路基板101のソルダボール載置パッド130または印刷回路基板101のソルダボール載置パッド130及び回路層120のソルダボール載置パッド121と同時にコンタクトされるようにソルダリングされる。ここで、最下部パッケージ100a(ベースパッケージ)のソルダボール115はその後回路ボード(図示せず)に挿入、固定されるように密封されていない状態で利用される一方、上下部BGAパッケージ100b,100c,100d間を連結するソルダボール116は密封剤140(図8B)により封止されることが望ましい。これは、ソルダボール116に加えられるストレスを分散させてパッケージの信頼性を改善し、露出される回路層120を保護するためである。このようなソルダボール115,116によって積層されたBGAパッケージ100aないし100dは相互に電気的に導通される。
このように構成された単位BGAパッケージの製造方法を説明する。
まず、図7Aに図示されたように、基板101上に第1チップ103を、例えば接着剤(図示せず)により付着する。印刷回路基板101の底面には図6のようにソルダボール載置パッド130及び導電パターン135が形成されており、上面縁にワイヤボンディングパッド109が形成されている。第1チップ103は上面縁にボンディングパッド103aを備えており、このような第1チップ103は素子形成面が上部を向きつつ基板101のワイドボンディングパッド109が露出されるように印刷回路基板101に付着される。その後、ボンディングパッド103aとワイヤボンディングパッド109とが連結されるようにワイヤ111aでボンディングする。その後、図7Bに図示されたように、接着層107を利用して第1チップ103上に第2チップ105を付着する。この時、第2チップ105もまた上面縁にボンディングパッド105aを備えており、第2チップ105の背面と第1チップ103の上面とが接触されるように付着する。ここで、第2チップ105は第1チップ103と同じ機能を行うか、全く異なる機能を行える。その後、第2チップ105のパッド105aと印刷回路基板101のワイヤボンディングパッド109間にワイヤ111bを連結し、第2チップ105と印刷回路基板101とを電気的に導通させる。
次に図7Cでのように、チップ103,105とワイヤ111a,111bとを外部環境から保護するために、モールディング樹脂を利用してチップ103,105両側部に封止体113を形成する。この時、追加BGAパッケージの積層を考慮し、最上部のチップ、すなわち第2チップ105の表面が露出されるように封止体113を形成するのが望ましい。その後、印刷回路基板101底面のソルダボール載置パッド130それぞれに第1及び第2チップ103,105の入出力リードの役割を行うソルダボール115をソルダリングする。これにより、単位BGA半導体パッケージ100を完成する。前記図7Cで図示されたBGA半導体パッケージは積層型BGA半導体パッケージで最下端に形成されるBGAパッケージ100aを示したものであり、中間に形成されるBGA半導体パッケージ100b,100c,100dのソルダボール115は密封剤140により密封される。一方、最上端に付着されるBGAパッケージはそれ以上の上部にパッケージが積層されないので、第2チップ105の表面が覆われるように封止体113’が形成される(図2参照)。
このように形成された単位BGAパッケージを利用して積層型BGAパッケージを形成する方法は次の通りである。
図8Aを参照すれば、前記のような方式で形成された単位BGAパッケージ100aの上部、すなわち封止体113’に覆われないことによって露出された第2チップ105の上面に回路層120を形成する。この時、回路層120は図4に図示されたように、ソルダボール載置パッド121及び導電パッド123を含み、図5Aでのようにテープ状であってもよく、図5Bでのようにチップ105のボンディングパッド105aと一体であってもよい。その後、図8Bでのように、回路層120が形成された単位BGAパッケージ100a(ベースパッケージ)の上部にソルダボール116を挟んで他の単位BGAパッケージ100bを積層する。この時、積層される単位BGAパッケージ100b(以下、上部BGAパッケージ)はパッケージテストが完了した状態であり、下部に位置するベースBGAパッケージ100aと同じ構成を有するか、異なる構成を有しうる。この時、BGAパッケージ100a,100b間に介在されるソルダボール116は回路層120のソルダボール載置パッド121と接触されつつ、上部BGAパッケージ100bの印刷回路基板101底面のソルダボール載置パッド130と同時にコンタクトされ、上下部BGAパッケージを電気的に導通させる。その後、ソルダボール116に加えられるストレスを分散させると共に回路層120を保護するために、上下BGAパッケージ100a,100b間に介在されるソルダボール116を密封剤140によってモールディングする。
その後、上部BGAパッケージ上にさらに他の単位BGAパッケージを前記と同じ方式で積層できる。
ここで、最上端に積層される単位BGAパッケージの場合、第2チップ105(最上端に配されるチップ)の上部に回路層120を形成せずともよく、第2チップ105の表面を覆うように封止体113’を形成しなければならない。
このように形成された積層型BGA半導体パッケージは半導体チップの下端にソルダボールが付着されることにより、チップサイズ状にパッケージを具現でき、別途のフレキシブル基板を使用せずとも多層のBGAパッケージを形成できて信号遅延による信頼性低下を防止できる。また、本発明の積層型BGA半導体パッケージの場合、少なくとも1つの半導体チップを含むBGAパッケージを多数個積層することにより、1つの半導体チップを含むBGAパッケージの高さを多数個積層するパッケージよりはるかに低くでき、積層収率を改善できる。これについてさらに詳細に説明すれば、図9のように、1つの封止体60内に積層しようとする全てのチップ52aないし52eが積層される場合、いずれか1つの半導体チップ52aないし52eに不良が発生すればそのパッケージは不良になってしまう(ここで、符号50は基板、54は接着剤、56はワイヤ及び65はソルダボールである)。しかし本実施例の通り、1つのパッケージ内に不良が発生しないほどの数の半導体チップを実装し、このようなパッケージを多数個積層すれば、前記図9のパッケージより単位BGAパッケージ当たり不良発生率が低くなる。それだけではなく、それぞれに積層される単位BGAパッケージは積層前のパッケージテストが完了した状態であるから、多数個を積層してパッケージを構成するとしても不良が発生する確率が低い。
以下、図10を参照して本発明の他の実施例による積層型BGA半導体パッケージを説明する。
本実施例による積層型BGAパッケージ200は、図10に図示されたように、多数個積層されたBGAパッケージ200aないし200dを含む。ここで、最下端に位置するBGAパッケージ200aを第1 BGAパッケージと呼び、上部に積層されたパッケージを順次に第2、第3及び第4 BGAパッケージ200b,200c,200dと呼ぶ。第1ないし第4 BGAパッケージ200aないし200dはそれぞれ相異なる数の半導体チップを含みうる。例えば、本実施例では第1及び第4 BGAパッケージ200a,200dはそれぞれ1つの半導体チップ203を含む一方、第2及び第3 BGAパッケージ200b,200cは多数の半導体チップ、望ましくは2個の半導体チップ203,205を含む。この時、第1及び第4 BGAパッケージ200a,200dもまたそれぞれ他の数の半導体チップを含むことができ、第2及び第3 BGAパッケージ200b,200cもまたそれぞれ異なる数の半導体チップを含みうる。
第1及び第4 BGAパッケージ200a,200dは、例えば1つの半導体チップ203が付着された印刷回路基板201を含む。半導体チップ203は上面縁にボンディングパッド203aを含んでおり、印刷回路基板201もまた上面縁にワイヤボンディングパッド209を含んでいる。ボンディングパッド203aとワイヤボンディングパッド209とはワイヤ211によって連結され、ボンディングパッド203a、ワイヤボンディングパッド209及びワイヤ211を保護するために印刷回路基板201上部に封止体213が形成される。この時、第1 BGAパッケージ200aの場合、上部に第2 BGAパッケージ200bが接着されることを勘案し、半導体チップ203の上部面が露出されるように封止体213’が形成される。一方、第4 BGAパッケージ200dの場合、上部にいかなるパッケージも積層されないので、半導体チップ203の表面が全て覆われるように封止体213が形成される。印刷回路基板201の底面に電気接続端子として、多数のソルダボール215が付着される。ソルダボール215は半導体チップ203の底面に位置させるのが望ましい。この時、第2ないし4パッケージ200bないしdのソルダボール216は密封剤240によって密封されることが望ましい。併せて、上部に第2 BGAパッケージ200bが付着される第1 BGAパッケージ200aの上面には図4のような回路層120が形成される。第2及び第3 BGAパッケージ200b,200cは前記実施例1の単位BGAパッケージの構成のように、印刷回路基板201、積層された第1及び第2チップ203,205、印刷回路基板201のワイヤボンディングパッド209と第1及び第2チップ203,205のボンディングパッド203a,205aとを連結するワイヤ211a,211b、印刷回路基板201の側部を封止する封止体213’及び印刷回路基板201の底面とコンタクトされるソルダボール216を含む。
このように、積層型BGAパッケージ内に実装される相異なる数の半導体チップを実装しても、同じ効果を発揮できる。
以上、本発明を望ましい実施例を詳細に説明したが、本発明は前記実施例に限定されず、本発明の技術的思想の範囲内で当分野で当業者によってさまざまな変形が可能である。
チップサイズ状を有し、多数の半導体チップを積載できるので、高集積半導体素子のパッケージに利用可能である。
従来のフレキシブル基板を利用した積層型BGAパッケージを示した断面図である。 本発明の一実施例によるマルチチップを含む積層型BGAパッケージを示した断面図である。 図2の単位BGAパッケージを示した断面図である。 図2の回路層を示した平面図である。 図2の回路層部分を拡大して示した断面図である。 図2の回路層部分を拡大して示した他の例の断面図である。 図2の印刷回路基板の底面を示した平面図である。 本発明の一実施例による単位BGAパッケージの製造方法を説明するための各工程の断面図である。 本発明の一実施例による単位BGAパッケージの製造方法を説明するための各工程の断面図である。 本発明の一実施例による単位BGAパッケージの製造方法を説明するための各工程の断面図である。 本発明の一実施例による積層型BGAパッケージの製造方法を説明するための各工程の断面図である。 本発明の一実施例による積層型BGAパッケージの製造方法を説明するための各工程の断面図である。 従来のマルチチップを有するBGAパッケージを示した断面図である。 本発明の他の実施例による積層型BGAパッケージを示した断面図である。
符号の説明
100a,b,c,d BGAパッケージ
101 印刷回路基板
103,105 半導体チップ
103a,105a ボンディングパッド
107 接着層
109 ワイヤボンディングパッド
111a,111b ワイヤ
113,113’ 封止体
115,116 ソルダボール
200 半導体パッケージ

Claims (19)

  1. 少なくとも1つのチップを含むベースボールグリッドアレイ(BGA)パッケージと、
    前記ベースBGAパッケージ上に積層され、少なくとも1つのチップを含む多数のBGAパッケージとを含み、
    前記ベースBGAパッケージ及びその上部に積層される多数のBGAパッケージはソルダボールによって電気的に導通され
    前記ベースBGAパッケージ及びベースBGAパッケージ上に積層されるそれぞれのBGAパッケージは、
    表面にワイヤボンディングパッドが配列され、背面に前記ワイヤボンディングパッドと電気的に連結されるソルダボール載置パッドが配列された印刷回路基板と、
    前記印刷回路基板の表面に付着され、ボンディングパッドを含む少なくとも1つの半導体チップと、
    前記半導体チップのボンディングパッドと前記印刷回路基板のワイヤボンディングパッドとを連結するワイヤと、
    前記ワイヤボンディングパッド、ボンディングパッド及びワイヤを覆い包むように印刷回路基板の所定部分に形成される封止体と、
    前記印刷回路基板の底面のソルダボール載置パッドに付着されるソルダボールとを含み、
    前記最上部BGAパッケージを除外したBGAパッケージの封止体は最上部に位置する半導体チップの表面が露出されるように形成され、
    前記封止体によって露出された最上部の半導体チップ表面と、その上部に積層されるBGAパッケージのソルダボール間に回路層が介在され、
    前記回路層は前記ソルダボール載置パッド及び前記ソルダボール載置パッドと半導体チップのボンディングパッドとを連結する導電パターンを備え、
    前記回路層のソルダボール載置パッドと導電パターンとは前記半導体チップのボンディングパッドと一体に構成されたことを特徴とする積層型BGAパッケージ。
  2. 前記少なくとも1つの半導体チップは、素子が形成された面が上部を向くように付着されることを特徴とする請求項に記載の積層型BGAパッケージ。
  3. 前記回路層のソルダボール載置パッドは前記基板底面のソルダボール載置パッドと対応するように配され、
    前記ソルダボールは回路層のソルダボール載置パッド及び基板のソルダボール載置パッドとコンタクトされるように付着されることを特徴とする請求項に記載の積層型BGAパッケージ。
  4. 前記最上部に積層されるBGAパッケージの封止体は該当パッケージ内の最上部に付着されるチップの表面を覆うように形成されることを特徴とする請求項に記載の積層型パッケージ。
  5. 前記ベースパッケージ及び積層される多数のBGAパッケージそれぞれは同一数の半導体チップを含むことを特徴とする請求項1に記載の積層型BGAパッケージ。
  6. 前記ベースパッケージ及び積層される多数のBGAパッケージは相異なる数の半導体チップを含むことを特徴とする請求項1に記載の積層型BGAパッケージ。
  7. 前記積層されたBGAパッケージ間を連結するソルダボールは密封剤により封止されることを特徴とする請求項1に記載の積層型BGAパッケージ。
  8. 前記1つのBGAパッケージに実装される半導体チップの数は2つまたは3つであることを特徴とする請求項1に記載の積層型BGAパッケージ。
  9. 第1ないし第nパッケージが順次に積層、連結された積層型BGA半導体パッケージであり、
    前記第1ないし第nパッケージは、上面にワイヤボンディングパッドが配列されて底面にソルダボール載置パッドが配列された印刷回路基板と、前記印刷回路基板の上面に付着されて上面にボンディングパッドが配列されている少なくとも1つの半導体チップと、前記印刷回路基板のワイヤボンディングパッドと前記半導体チップのボンディングパッドとを連結するワイヤと、前記ワイヤボンディングパッド、ボンディングパッド及びワイヤを覆い包むように前記印刷回路基板の所定部分に形成される封止体、及び前記印刷回路基板の底面に付着されるソルダボールを含み、前記第1ないし第n−1パッケージの上部に、上部半導体チップと電気的に連結されるように回路層が付着され、
    前記回路層は上部に積層されるパッケージのソルダボールと電気的に連結され
    前記回路層は前記ソルダボール載置パッド及び前記ソルダボール載置パッドと半導体チップのボンディングパッドとを連結する導電パターンを備え、
    前記回路層のソルダボール載置パッドと導電パターンとは前記半導体チップのボンディングパッドと一体に構成されたことを特徴とする積層型BGA半導体パッケージ。
  10. 前記少なくとも1つの半導体チップは素子が形成された面が上部を向くように付着されることを特徴とする請求項に記載の積層型BGAパッケージ。
  11. 前記第1ないし第n−1パッケージの封止体は最上部に付着される半導体チップの表面が露出されるように形成されることを特徴とする請求項に記載の積層型BGAパッケージ。
  12. 前記回路層のソルダボール載置パッドは前記基板底面のソルダボール載置パッドと対応するように配され、
    前記ソルダボールは回路層のソルダボール載置パッド及び基板のソルダボール載置パッドとコンタクトされるように付着されることを特徴とする請求項に記載の積層型BGAパッケージ。
  13. 前記第nパッケージの封止体は該当パッケージ内の最上部に付着されるチップの表面を覆うように形成されることを特徴とする請求項に記載の積層型BGAパッケージ。
  14. 前記第1ないし第nパッケージそれぞれは同一数の半導体チップを含むことを特徴とする請求項に記載の積層型BGAパッケージ。
  15. 前記第1ないし第nパッケージは相異なる数の半導体チップを含むことを特徴とする請求項に記載の積層型BGAパッケージ。
  16. 前記第2ないし第nパッケージのソルダボールは密封剤によって封止されることを特徴とする請求項に記載の積層型BGAパッケージ。
  17. (a)少なくとも1つの半導体チップを備えるBGAパッケージを準備する段階と、
    (b)前記BGAパッケージ上部に前記半導体チップと電気的に連結されるように回路層を形成する段階と、
    (c)前記回路層の上部に他のBGAパッケージを少なくとも1つ積層させる段階とを含み、
    前記BGAパッケージを準備する段階は、
    上面にワイヤボンディングパッドが配列されており、底面にソルダボール載置パッドを備えた印刷回路基板を提供する段階と、
    前記印刷回路基板の上面に、ボンディングパッドを備えた第1半導体チップを付着する段階と、
    前記第1半導体チップのボンディングパッドと前記印刷回路基板のワイヤボンディングパッドとをワイヤでボンディングする段階と、
    前記第1半導体チップ上部に、ボンディングパッドを備えた第2半導体チップを付着する段階と、
    前記第2半導体チップのボンディングパッドと前記印刷回路基板のワイヤボンディングパッドとをワイヤでボンディングする段階と、
    前記印刷回路基板のワイヤボンディングパッド、第1及び第2半導体チップのボンディングパッド及びワイヤを保護するように印刷回路基板の所定部分に封止体を形成する段階と、
    前記印刷回路基板の背面にソルダボールをソルダリングする段階とを含み、
    前記回路層を形成する段階は、
    前記第2半導体チップのボンディングパッドの形成と同時に、ソルダボール載置パッドと、ソルダボール載置パッド及びボンディングパッドを連結する導電パターンとを形成することを特徴とする積層型BGAパッケージの製造方法。
  18. 前記最上部に積層されるBGAパッケージの封止体を形成する段階は、前記第2チップ表面が覆われるように封止体を形成することを特徴とする請求項17に記載の積層型BGAパッケージの製造方法。
  19. 前記ソルダボールをソルダリングする段階後に、前記パッケージとパッケージ間を連結するソルダボールを密封剤で封止する段階をさらに含むことを特徴とする請求項17に記載の積層型BGAパッケージの製造方法。
JP2004178744A 2003-06-30 2004-06-16 積層型ボールグリッドアレイパッケージ及びその製造方法 Active JP4703980B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020030043574A KR100604821B1 (ko) 2003-06-30 2003-06-30 적층형 볼 그리드 어레이 패키지 및 그 제조방법
KR2003-043574 2003-06-30

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005026680A JP2005026680A (ja) 2005-01-27
JP4703980B2 true JP4703980B2 (ja) 2011-06-15

Family

ID=33536393

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004178744A Active JP4703980B2 (ja) 2003-06-30 2004-06-16 積層型ボールグリッドアレイパッケージ及びその製造方法

Country Status (3)

Country Link
US (2) US7298033B2 (ja)
JP (1) JP4703980B2 (ja)
KR (1) KR100604821B1 (ja)

Families Citing this family (96)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6853064B2 (en) * 2003-05-12 2005-02-08 Micron Technology, Inc. Semiconductor component having stacked, encapsulated dice
KR100604821B1 (ko) * 2003-06-30 2006-07-26 삼성전자주식회사 적층형 볼 그리드 어레이 패키지 및 그 제조방법
KR100564585B1 (ko) * 2003-11-13 2006-03-28 삼성전자주식회사 이중 스택된 bga 패키지 및 다중 스택된 bga 패키지
CN101053079A (zh) 2004-11-03 2007-10-10 德塞拉股份有限公司 堆叠式封装的改进
WO2006088270A1 (en) * 2005-02-15 2006-08-24 Unisemicon Co., Ltd. Stacked package and method of fabricating the same
FR2884049B1 (fr) * 2005-04-01 2007-06-22 3D Plus Sa Sa Module electronique de faible epaisseur comprenant un empilement de boitiers electroniques a billes de connexion
SG130055A1 (en) 2005-08-19 2007-03-20 Micron Technology Inc Microelectronic devices, stacked microelectronic devices, and methods for manufacturing microelectronic devices
SG130066A1 (en) 2005-08-26 2007-03-20 Micron Technology Inc Microelectronic device packages, stacked microelectronic device packages, and methods for manufacturing microelectronic devices
JP5522561B2 (ja) 2005-08-31 2014-06-18 マイクロン テクノロジー, インク. マイクロ電子デバイスパッケージ、積重ね型マイクロ電子デバイスパッケージ、およびマイクロ電子デバイスを製造する方法
SG130073A1 (en) * 2005-09-01 2007-03-20 Micron Technology Inc Stacked microelectronic devices and methods for manufacturing microelectronic devices
US7485969B2 (en) * 2005-09-01 2009-02-03 Micron Technology, Inc. Stacked microelectronic devices and methods for manufacturing microelectronic devices
US8058101B2 (en) * 2005-12-23 2011-11-15 Tessera, Inc. Microelectronic packages and methods therefor
SG135074A1 (en) * 2006-02-28 2007-09-28 Micron Technology Inc Microelectronic devices, stacked microelectronic devices, and methods for manufacturing such devices
US20070187836A1 (en) * 2006-02-15 2007-08-16 Texas Instruments Incorporated Package on package design a combination of laminate and tape substrate, with back-to-back die combination
US9202776B2 (en) * 2006-06-01 2015-12-01 Stats Chippac Ltd. Stackable multi-chip package system
US7339794B1 (en) * 2006-10-24 2008-03-04 Transcend Information, Inc. Stacked memory module in mirror image arrangement and method for the same
US8367471B2 (en) * 2007-06-15 2013-02-05 Micron Technology, Inc. Semiconductor assemblies, stacked semiconductor devices, and methods of manufacturing semiconductor assemblies and stacked semiconductor devices
US7972902B2 (en) * 2007-07-23 2011-07-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Method of manufacturing a wafer including providing electrical conductors isolated from circuitry
KR101185886B1 (ko) * 2007-07-23 2012-09-25 삼성전자주식회사 유니버설 배선 라인들을 포함하는 반도체 칩, 반도체패키지, 카드 및 시스템
US7985628B2 (en) * 2007-12-12 2011-07-26 Stats Chippac Ltd. Integrated circuit package system with interconnect lock
US8536692B2 (en) * 2007-12-12 2013-09-17 Stats Chippac Ltd. Mountable integrated circuit package system with mountable integrated circuit die
US7781261B2 (en) * 2007-12-12 2010-08-24 Stats Chippac Ltd. Integrated circuit package system with offset stacking and anti-flash structure
US8084849B2 (en) * 2007-12-12 2011-12-27 Stats Chippac Ltd. Integrated circuit package system with offset stacking
US20090152740A1 (en) * 2007-12-17 2009-06-18 Soo-San Park Integrated circuit package system with flip chip
US7800212B2 (en) * 2007-12-27 2010-09-21 Stats Chippac Ltd. Mountable integrated circuit package system with stacking interposer
US8247893B2 (en) * 2007-12-27 2012-08-21 Stats Chippac Ltd. Mountable integrated circuit package system with intra-stack encapsulation
JP5543072B2 (ja) 2008-01-23 2014-07-09 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル 積層型半導体装置
SG155793A1 (en) * 2008-03-19 2009-10-29 Micron Technology Inc Upgradeable and repairable semiconductor packages and methods
US7919871B2 (en) * 2008-03-21 2011-04-05 Stats Chippac Ltd. Integrated circuit package system for stackable devices
US20090243069A1 (en) * 2008-03-26 2009-10-01 Zigmund Ramirez Camacho Integrated circuit package system with redistribution
KR20090130702A (ko) * 2008-06-16 2009-12-24 삼성전자주식회사 반도체 패키지 및 그 제조방법
US9293385B2 (en) * 2008-07-30 2016-03-22 Stats Chippac Ltd. RDL patterning with package on package system
US7750455B2 (en) * 2008-08-08 2010-07-06 Stats Chippac Ltd. Triple tier package on package system
JP2010056099A (ja) * 2008-08-26 2010-03-11 Hitachi Ltd 半導体装置
KR101623880B1 (ko) 2008-09-24 2016-05-25 삼성전자주식회사 반도체 패키지
US7859094B2 (en) * 2008-09-25 2010-12-28 Stats Chippac Ltd. Integrated circuit package system for stackable devices
KR20100121231A (ko) * 2009-05-08 2010-11-17 삼성전자주식회사 회로패턴 들뜸 현상을 억제하는 패키지 온 패키지 및 그 제조방법
KR101624973B1 (ko) * 2009-09-23 2016-05-30 삼성전자주식회사 패키지 온 패키지 타입의 반도체 패키지 및 그 제조방법
US8476775B2 (en) * 2009-12-17 2013-07-02 Stats Chippac Ltd. Integrated circuit packaging system with embedded interconnect and method of manufacture thereof
JP2011211077A (ja) * 2010-03-30 2011-10-20 Oki Semiconductor Co Ltd 半導体積層パッケージ及びその製造方法
US8482111B2 (en) 2010-07-19 2013-07-09 Tessera, Inc. Stackable molded microelectronic packages
US9159708B2 (en) 2010-07-19 2015-10-13 Tessera, Inc. Stackable molded microelectronic packages with area array unit connectors
KR101692441B1 (ko) * 2010-08-25 2017-01-03 삼성전자주식회사 반도체 패키지
US9070851B2 (en) 2010-09-24 2015-06-30 Seoul Semiconductor Co., Ltd. Wafer-level light emitting diode package and method of fabricating the same
KR20120035297A (ko) * 2010-10-05 2012-04-16 삼성전자주식회사 반도체 패키지 및 이의 제조 방법
KR101075241B1 (ko) 2010-11-15 2011-11-01 테세라, 인코포레이티드 유전체 부재에 단자를 구비하는 마이크로전자 패키지
US20120146206A1 (en) 2010-12-13 2012-06-14 Tessera Research Llc Pin attachment
KR101128063B1 (ko) 2011-05-03 2012-04-23 테세라, 인코포레이티드 캡슐화 층의 표면에 와이어 본드를 구비하는 패키지 적층형 어셈블리
US8618659B2 (en) 2011-05-03 2013-12-31 Tessera, Inc. Package-on-package assembly with wire bonds to encapsulation surface
US8954948B2 (en) 2011-06-17 2015-02-10 Bae Systems Controls Inc. Obsolescence tolerant flash memory architecture and physical building block (PBB) implementation
KR101209475B1 (ko) 2011-08-11 2012-12-07 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 인터포져를 이용한 반도체 패키지
US8872318B2 (en) 2011-08-24 2014-10-28 Tessera, Inc. Through interposer wire bond using low CTE interposer with coarse slot apertures
US8836136B2 (en) 2011-10-17 2014-09-16 Invensas Corporation Package-on-package assembly with wire bond vias
US8946757B2 (en) 2012-02-17 2015-02-03 Invensas Corporation Heat spreading substrate with embedded interconnects
US9349706B2 (en) 2012-02-24 2016-05-24 Invensas Corporation Method for package-on-package assembly with wire bonds to encapsulation surface
US8372741B1 (en) 2012-02-24 2013-02-12 Invensas Corporation Method for package-on-package assembly with wire bonds to encapsulation surface
US9768137B2 (en) 2012-04-30 2017-09-19 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Stud bump structure for semiconductor package assemblies
US8835228B2 (en) 2012-05-22 2014-09-16 Invensas Corporation Substrate-less stackable package with wire-bond interconnect
US9391008B2 (en) 2012-07-31 2016-07-12 Invensas Corporation Reconstituted wafer-level package DRAM
US9502390B2 (en) 2012-08-03 2016-11-22 Invensas Corporation BVA interposer
US8975738B2 (en) 2012-11-12 2015-03-10 Invensas Corporation Structure for microelectronic packaging with terminals on dielectric mass
US8878353B2 (en) 2012-12-20 2014-11-04 Invensas Corporation Structure for microelectronic packaging with bond elements to encapsulation surface
US9136254B2 (en) 2013-02-01 2015-09-15 Invensas Corporation Microelectronic package having wire bond vias and stiffening layer
KR102053349B1 (ko) 2013-05-16 2019-12-06 삼성전자주식회사 반도체 패키지
US9023691B2 (en) 2013-07-15 2015-05-05 Invensas Corporation Microelectronic assemblies with stack terminals coupled by connectors extending through encapsulation
US9034696B2 (en) 2013-07-15 2015-05-19 Invensas Corporation Microelectronic assemblies having reinforcing collars on connectors extending through encapsulation
US8883563B1 (en) 2013-07-15 2014-11-11 Invensas Corporation Fabrication of microelectronic assemblies having stack terminals coupled by connectors extending through encapsulation
US9167710B2 (en) 2013-08-07 2015-10-20 Invensas Corporation Embedded packaging with preformed vias
US9685365B2 (en) 2013-08-08 2017-06-20 Invensas Corporation Method of forming a wire bond having a free end
US20150076714A1 (en) 2013-09-16 2015-03-19 Invensas Corporation Microelectronic element with bond elements to encapsulation surface
US9082753B2 (en) 2013-11-12 2015-07-14 Invensas Corporation Severing bond wire by kinking and twisting
US9087815B2 (en) 2013-11-12 2015-07-21 Invensas Corporation Off substrate kinking of bond wire
US9379074B2 (en) 2013-11-22 2016-06-28 Invensas Corporation Die stacks with one or more bond via arrays of wire bond wires and with one or more arrays of bump interconnects
US9583456B2 (en) 2013-11-22 2017-02-28 Invensas Corporation Multiple bond via arrays of different wire heights on a same substrate
US9263394B2 (en) 2013-11-22 2016-02-16 Invensas Corporation Multiple bond via arrays of different wire heights on a same substrate
US9583411B2 (en) 2014-01-17 2017-02-28 Invensas Corporation Fine pitch BVA using reconstituted wafer with area array accessible for testing
US9214454B2 (en) 2014-03-31 2015-12-15 Invensas Corporation Batch process fabrication of package-on-package microelectronic assemblies
US10381326B2 (en) 2014-05-28 2019-08-13 Invensas Corporation Structure and method for integrated circuits packaging with increased density
US9646917B2 (en) 2014-05-29 2017-05-09 Invensas Corporation Low CTE component with wire bond interconnects
US9412714B2 (en) 2014-05-30 2016-08-09 Invensas Corporation Wire bond support structure and microelectronic package including wire bonds therefrom
US9735084B2 (en) 2014-12-11 2017-08-15 Invensas Corporation Bond via array for thermal conductivity
US9888579B2 (en) 2015-03-05 2018-02-06 Invensas Corporation Pressing of wire bond wire tips to provide bent-over tips
US9502372B1 (en) 2015-04-30 2016-11-22 Invensas Corporation Wafer-level packaging using wire bond wires in place of a redistribution layer
US9761554B2 (en) 2015-05-07 2017-09-12 Invensas Corporation Ball bonding metal wire bond wires to metal pads
US9490222B1 (en) 2015-10-12 2016-11-08 Invensas Corporation Wire bond wires for interference shielding
US10490528B2 (en) 2015-10-12 2019-11-26 Invensas Corporation Embedded wire bond wires
US10332854B2 (en) 2015-10-23 2019-06-25 Invensas Corporation Anchoring structure of fine pitch bva
US10181457B2 (en) 2015-10-26 2019-01-15 Invensas Corporation Microelectronic package for wafer-level chip scale packaging with fan-out
US9911718B2 (en) 2015-11-17 2018-03-06 Invensas Corporation ‘RDL-First’ packaged microelectronic device for a package-on-package device
US9659848B1 (en) 2015-11-18 2017-05-23 Invensas Corporation Stiffened wires for offset BVA
US9984992B2 (en) 2015-12-30 2018-05-29 Invensas Corporation Embedded wire bond wires for vertical integration with separate surface mount and wire bond mounting surfaces
CN205944139U (zh) 2016-03-30 2017-02-08 首尔伟傲世有限公司 紫外线发光二极管封装件以及包含此的发光二极管模块
US9935075B2 (en) 2016-07-29 2018-04-03 Invensas Corporation Wire bonding method and apparatus for electromagnetic interference shielding
US10299368B2 (en) 2016-12-21 2019-05-21 Invensas Corporation Surface integrated waveguides and circuit structures therefor
US10403594B2 (en) * 2018-01-22 2019-09-03 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Hybrid bonding materials comprising ball grid arrays and metal inverse opal bonding layers, and power electronics assemblies incorporating the same
KR102596756B1 (ko) * 2019-10-04 2023-11-02 삼성전자주식회사 PoP 구조의 반도체 패키지

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11354669A (ja) * 1998-05-30 1999-12-24 Lg Semicon Co Ltd ボ―ルグリッドアレイ型半導体パッケ―ジ及びその製造方法
KR20000056804A (ko) * 1999-02-26 2000-09-15 윤종용 적층형 볼 그리드 어레이 패키지
JP2001217337A (ja) * 2000-01-31 2001-08-10 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP2002170906A (ja) * 2000-12-04 2002-06-14 Fujitsu Ltd 半導体装置及び半導体装置の製造方法
JP2003068740A (ja) * 2001-08-30 2003-03-07 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置およびその製造方法
JP2003086733A (ja) * 2001-09-11 2003-03-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置とその製造方法およびそれを用いた電子機器
JP2004172157A (ja) * 2002-11-15 2004-06-17 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体パッケージおよびパッケージスタック半導体装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6297548B1 (en) * 1998-06-30 2001-10-02 Micron Technology, Inc. Stackable ceramic FBGA for high thermal applications
JP2001077301A (ja) * 1999-08-24 2001-03-23 Amkor Technology Korea Inc 半導体パッケージ及びその製造方法
US6778404B1 (en) * 2000-06-02 2004-08-17 Micron Technology Inc Stackable ball grid array
KR100375168B1 (ko) 2000-11-02 2003-03-08 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 반도체 패키지 및 그 제조방법
US6774475B2 (en) * 2002-01-24 2004-08-10 International Business Machines Corporation Vertically stacked memory chips in FBGA packages
US20030170450A1 (en) * 2002-03-05 2003-09-11 Stewart Steven L. Attachment of surface mount devices to printed circuit boards using a thermoplastic adhesive
US6700783B1 (en) * 2003-01-15 2004-03-02 Industrial Technology Research Institute Three-dimensional stacked heat spreader assembly for electronic package and method for assembling
US7388294B2 (en) * 2003-01-27 2008-06-17 Micron Technology, Inc. Semiconductor components having stacked dice
KR100604821B1 (ko) * 2003-06-30 2006-07-26 삼성전자주식회사 적층형 볼 그리드 어레이 패키지 및 그 제조방법

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11354669A (ja) * 1998-05-30 1999-12-24 Lg Semicon Co Ltd ボ―ルグリッドアレイ型半導体パッケ―ジ及びその製造方法
KR20000056804A (ko) * 1999-02-26 2000-09-15 윤종용 적층형 볼 그리드 어레이 패키지
JP2001217337A (ja) * 2000-01-31 2001-08-10 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP2002170906A (ja) * 2000-12-04 2002-06-14 Fujitsu Ltd 半導体装置及び半導体装置の製造方法
JP2003068740A (ja) * 2001-08-30 2003-03-07 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置およびその製造方法
JP2003086733A (ja) * 2001-09-11 2003-03-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置とその製造方法およびそれを用いた電子機器
JP2004172157A (ja) * 2002-11-15 2004-06-17 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体パッケージおよびパッケージスタック半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR20050002220A (ko) 2005-01-07
US7939924B2 (en) 2011-05-10
JP2005026680A (ja) 2005-01-27
US7298033B2 (en) 2007-11-20
US20040262734A1 (en) 2004-12-30
US20080042253A1 (en) 2008-02-21
KR100604821B1 (ko) 2006-07-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4703980B2 (ja) 積層型ボールグリッドアレイパッケージ及びその製造方法
JP4808408B2 (ja) マルチチップパッケージ、これに使われる半導体装置及びその製造方法
KR100546374B1 (ko) 센터 패드를 갖는 적층형 반도체 패키지 및 그 제조방법
US6731009B1 (en) Multi-die assembly
US6876074B2 (en) Stack package using flexible double wiring substrate
US6545366B2 (en) Multiple chip package semiconductor device
US6414381B1 (en) Interposer for separating stacked semiconductor chips mounted on a multi-layer printed circuit board
JP6027966B2 (ja) エリアアレイユニットコネクタを備えるスタック可能モールド超小型電子パッケージ
US20050104182A1 (en) Stacked BGA packages
JP2002110898A (ja) 半導体装置
JP2004172157A (ja) 半導体パッケージおよびパッケージスタック半導体装置
JPH11220088A (ja) 積層型ボールグリッドアレイ半導体パッケージ及びその製造方法
US6300685B1 (en) Semiconductor package
KR100521279B1 (ko) 적층 칩 패키지
KR100744146B1 (ko) 연성 접속판을 이용하여 배선 기판과 칩을 연결하는 반도체패키지
JPH11135670A (ja) ボールグリッドアレイパッケージ
JP2001077294A (ja) 半導体装置
KR100618542B1 (ko) 적층 패키지의 제조 방법
KR19990069438A (ko) 칩 스택 패키지
US20050098869A1 (en) Semiconductor device and method of manufacturing the same, circuit board, and electronic instrument
JP4189327B2 (ja) 半導体装置
KR100592785B1 (ko) 칩 스케일 패키지를 적층한 적층 패키지
JP3850712B2 (ja) 積層型半導体装置
JP3418759B2 (ja) 半導体パッケージ
JP2012227320A (ja) 半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070530

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100408

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100413

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100712

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110208

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110309

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4703980

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250