JP4694272B2 - 印刷はんだ検査装置及び印刷はんだ検査方法 - Google Patents
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Description
ステップS1(準備段階):予め設計情報記憶手段13に、検査位置に配置された状態における基板1の名称(識別符号)、そのレイアウトとして、寸法を含む外形情報、基板1上のはんだ箇所の位置情報を記憶しておく(複数のはんだ箇所を有する一枚の基板1、或いは同一種類で複数枚の基板1を対象とする。)。さらに、基板1の各はんだ箇所におけるはんだの形状値に対する基準データ(はんだの高さ、面積、体積、ずれ、高さムラ、欠損等の設計値)を記憶しておく。また、基板1の各はんだ箇所におけるはんだの形状値に対する許容値(上限値、下限値)のデフォルト値を記憶しておいても良い。
ステップS21:例えば、試験しようとする基板について、最初から本来の検査目的の測定を行う。そして測定し、演算して求めた判定用のデータである各形状値をメモリに記憶するとともに、判定手段4で判定し、結果を表示する。
ステップS22:操作者が、判定結果に疑問点がないかどうか考察して、細部を調査、検討する必要がないとすれば、その時点で検査を終了し、調査を必要とすれば、ステップ24へ進む。
ステップS31:調べた後に、新たな上限値、下限値を確定したとき、操作により再判定を指示することにより、許容値変更手段10が判定手段4にステップS24で指定された範囲のはんだ箇所の指定されて形状値の上限値、下限値を、確定した上限値、下限値に変更設定する。そして、判定手段4が、再判定指示を受けたメモリからその指定された範囲のはんだ箇所の指定されて形状値を受けて、変更設定された上限値、下限値と比較し、良否判定して出力、表示させる。
ステップS3a(測定段階):測定して、判定用データ生成手段3は、指定されたはんだ箇所の指定された形状値を演算して求め、メモリに記憶する。判定手段4は、各はんだ箇所ごとに、各形状値毎に、デフォルトの上限値、下限値を許容値として判定し、出力し、判定結果を表示制御手段6に表示させる。
ステップS3b:分布を調べたいはんだ箇所(範囲)及び形状を指定する。
ステップS4〜S7:指定された測定範囲及び形状値についてヒストグラムを算出し分布を表示するとともに、デフォルトの上限値、下限値又は変更入力された上限値、下限値についてNG率を算出して表示させる。
ステップS11:指定された範囲の指定された形状値をメモリから読み出して、判定手段4が再びステップ8aで確定した上限値、下限値を許容値として判定する。
ステップ12:判定手段4は、NG箇所特定手段により制御手段8から受けたレイアウト上のNG箇所のはんだ位置を特定する。それらの特定した情報を表示制御手段6を介して表示手段9へ表示させる。そのとき、表示制御手段6は、図7のレイアウト欄に示すようにNG箇所とNGでない箇所(合格したはんだ箇所)とを識別可能に、例えば、NG箇所を黒色で、そうでないところを白色で表示する。NG箇所を−NG箇所と+NG箇所とを識別できるように、それぞれ赤色と黄色とに分けて表示しても良い。
ステップS14:次に、違った測定範囲又は違った形状値についてNG率を調査してみたい場合は、ステップ3aに戻って再設定し、ステップ3a〜S13を繰り返し行わせることにより、再設定された測定範囲又は形状値等の条件でのNG率、レイアウト上のNG箇所を知ることができる。
Claims (5)
- プリント板に印刷された複数のはんだの変位を測定するための測定手段(2)と、前記測定手段が出力する測定値に基づいて前記はんだの状態を形状として求められた1つもしくは複数の種類の判定用形状毎にその判定用形状値の度数分布を求めるヒストグラム算出手段(5a)と、求められた前記度数分布と前記印刷されたはんだの形状の良の範囲を表す分布範囲とによって、前記印刷されたはんだの形状の不良率を算出するNG率算出手段(5b)と、操作手段(9)と、表示手段(7)と、前記算出された前記不良率を前記表示手段に表示させる表示制御手段(6)と、を備えた印刷はんだ検査装置において、
前記操作手段は、上限値と下限値で表される前記分布範囲を、又は前記表示手段に表示されている前記不良率の変更を、指示可能にされ、
前記NG率算出手段は、前記分布範囲の指示があったときは、該指示による上限値及び下限値と前記度数分布とを基に、新たに前記上限値に対する不良率(+NG率)と前記下限値に対する前記不良率(−NG率)を算出し、
前記表示制御手段は、前記度数分布を表示するとともに、該指示の前に前記度数分布上に表示していた前記上限値及び下限値に対応する位置を、該指示による前記上限値及び下限値に対応する位置に変更して表示し、かつ該指示の前に表示していた前記上限値及び下限値のそれぞれに対応する前記不良率を該新たに算出したそれぞれの前記不良率に変更して表示し、
一方、前記NG率算出手段は、前記操作手段から前記不良率を変更する指示があったときは、前記度数分布を基に該指示された不良率に基づく上限値及び下限値を算出し、
前記表示制御手段は、前記変更する指示以前に前記表示手段に表示されている上限値及び下限値を前記新たに算出された上限値及び下限値に変更して、前記分布範囲を前記新たに算出された上限値及び下限値に対応する度数分布上の位置に表示させることを特徴とする印刷はんだ検査装置。 - 前記測定手段の測定値を受けて、前記印刷はんだ箇所毎の判定用形状値を求める判定用データ生成手段(3)と、
該判定用データ生成手段が出力する判定用形状値を前記指示による上限値及び下限値に基づく新たな許容値に基づいて、前記印刷はんだ箇所毎に不良もしくは良と判定する判定手段(4)と、を備えたことを特徴とする請求項1に記載の印刷はんだ検査装置。 - 前記測定手段の測定値を受けて、前記印刷はんだ箇所毎の判定用形状値を求める判定用データ生成手段(3)と、
該判定用データ生成手段が出力する判定用形状値を、
前記NG率算出手段で新たに算出された上限値及び下限値に基づく新たな許容値に基づいて、前記印刷はんだ箇所毎に不良もしくは良と判定する判定手段(4)と、を備えたことを特徴とする請求項1に記載の印刷はんだ検査装置。 - 前記表示制御手段は、前記表示手段に対して、前記プリント基板のはんだ箇所を表すレイアウトを表示させるとともに、その表示されたレイアウト上に前記判定手段が不良と判定した箇所を識別可能にして表示させることを特徴とする請求項2又は3に記載の印刷はんだ検査装置。
- 予め、プリント板に印刷された複数のはんだの変位を測定し、測定した測定値に基づいて前記はんだ状態を表す形状値を求める測定段階と、前記測定段階で求められた1つもしくは複数の種類の判定用形状毎にその判定用形状値の度数分布を求めるヒストグラム算出段階と、求められた前記度数分布と前記印刷されたはんだの形状の良の範囲を表す分布範囲とによって、前記印刷されたはんだの不良率を算出するNG率算出段階と、前記算出された不良率を表示手段に表示させる良否表示段階と、を備えた印刷はんだ検査方法において、
操作手段によって、前記上限値及び下限値で表される前記分布範囲を変更して指示される段階と、
前記操作手段から下限値及び上限値で示される前記分布範囲の指示を受けたとき、該指示の前に表示されている上限値及び下限値に対応する前記度数分布上の位置を、該指示による上限値及び下限値に対応する前記度数分布上の位置に変更して表示するとともに、該指示による前記上限値に対する不良率(+NG率)と前記下限値に対する前記不良率(−NG率)率を算出して前記表示手段に表示させる第1の範囲表示段階と、
前記操作手段によって、前記表示手段に表示されている不良率を変更して指示される段階と、
前記操作手段が、前記表示手段に表示されている不良率を変更して指示された場合、前記度数分布を基に該指示された不良率に基づく上限値及び下限値を算出する段階と、
前記変更する指示以前に前記表示手段に表示されている上限値及び下限値を前記新たに算出された上限値及び下限値に変更して、前記分布範囲を前記新たに算出された上限値及び下限値に対応する度数分布上の位置に表示させる第2の範囲表示段階と、
前記分布範囲の指示を、又は前記不良率の変更の指示を受ける度に、その指示に対応して、前記第1の範囲表示段階、又は前記第2の表示段階を繰り返す段階と、
前記繰り返す段階において、所望の上限値及び下限値が確定される確定段階と、
前記確定段階後に、前記測定段階で取得された前記形状値を前記確定した所望の上限値及び下限値に基づいて、良否判定する判定段階と、を備えたことを特徴とする印刷はんだ検査方法。
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