JP2006343152A - 印刷はんだ検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 測定手段2により、複数のプリント板に印刷された複数はんだ箇所のはんだ状態を測定し、その測定値を基に、ヒストグラム算出手段5aによりはんだ状態を量として表す形状値の度数分布を求め、表示制御手段6によって、表示手段7に度数分布を表示させるとともに、可変入力された分布範囲を視認可能に表示させる。そして、NG率算出手段5bが、度数分布に対する、分布範囲外の不良率又は前記分布範囲内の良率を算出する構成とし、所望の分布範囲(許容値)を確定できる構成とした。
【選択図】 図1
Description
ステップS1(準備段階):予め設計情報記憶手段13に、検査位置に配置された状態における基板1の名称(識別符号)、そのレイアウトとして、寸法を含む外形情報、基板1上のはんだ箇所の位置情報を記憶しておく(複数のはんだ箇所を有する一枚の基板1、或いは同一種類で複数枚の基板1を対象とする。)。さらに、基板1の各はんだ箇所におけるはんだの形状値に対する基準データ(はんだの高さ、面積、体積、ずれ、高さムラ、欠損等の設計値)を記憶しておく。また、基板1の各はんだ箇所におけるはんだの形状値に対する許容値(上限値、下限値)のデフォルト値を記憶しておいても良い。
ステップS21:例えば、試験しようとする基板について、最初から本来の検査目的の測定を行う。そして測定し、演算して求めた判定用のデータである各形状値をメモリに記憶するとともに、判定手段4で判定し、結果を表示する。
ステップS22:操作者が、判定結果に疑問点がないかどうか考察して、細部を調査、検討する必要がないとすれば、その時点で検査を終了し、調査を必要とすれば、ステップ24へ進む。
ステップS31:調べた後に、新たな上限値、下限値を確定したとき、操作により再判定を指示することにより、許容値変更手段10が判定手段4にステップS24で指定された範囲のはんだ箇所の指定されて形状値の上限値、下限値を、確定した上限値、下限値に変更設定する。そして、判定手段4が、再判定指示を受けたメモリからその指定された範囲のはんだ箇所の指定されて形状値を受けて、変更設定された上限値、下限値と比較し、良否判定して出力、表示させる。
ステップS3a(測定段階):測定して、判定用データ生成手段3は、指定されたはんだ箇所の指定された形状値を演算して求め、メモリに記憶する。判定手段4は、各はんだ箇所ごとに、各形状値毎に、デフォルトの上限値、下限値を許容値として判定し、出力し、判定結果を表示制御手段6に表示させる。
ステップS3b:分布を調べたいはんだ箇所(範囲)及び形状を指定する。
ステップS4〜S7:指定された測定範囲及び形状値についてヒストグラムを算出し分布を表示するとともに、デフォルトの上限値、下限値又は変更入力された上限値、下限値についてNG率を算出して表示させる。
ステップS11:指定された範囲の指定された形状値をメモリから読み出して、判定手段4が再びステップ8aで確定した上限値、下限値を許容値として判定する。
ステップ12:判定手段4は、NG箇所特定手段により制御手段8から受けたレイアウト上のNG箇所のはんだ位置を特定する。それらの特定した情報を表示制御手段6を介して表示手段9へ表示させる。そのとき、表示制御手段6は、図7のレイアウト欄に示すようにNG箇所とNGでない箇所(合格したはんだ箇所)とを識別可能に、例えば、NG箇所を黒色で、そうでないところを白色で表示する。NG箇所を−NG箇所と+NG箇所とを識別できるように、それぞれ赤色と黄色とに分けて表示しても良い。
ステップS14:次に、違った測定範囲又は違った形状値についてNG率を調査してみたい場合は、ステップ3aに戻って再設定し、ステップ3a〜S13を繰り返し行わせることにより、再設定された測定範囲又は形状値等の条件でのNG率、レイアウト上のNG箇所を知ることができる。
Claims (9)
- 1又は複数のプリント板に印刷された複数はんだ箇所のはんだ状態を測定するための測定手段(2)と、前記測定手段が出力する測定値を基に前記はんだ状態を量として表わされた形状値の度数分布を求めるヒストグラム算出手段(5a)と、可変入力された分布範囲を受けて、前記度数分布に対する、前記分布範囲外の不良率又は前記分布範囲内の良率を算出するNG率算出手段(5b)と、表示手段(7)と、前記度数分布、前記入力された分布範囲、及び前記不良率もしくは良率を視認可能に表示させる表示制御手段(6)と、を備えたことを特徴とする印刷はんだ検査装置。
- 操作手段(9)を備え、一旦、前記入力された分布範囲、及び前記不良率もしくは良率のいずれかを視認可能に表示された後に、前記表示制御手段は、該操作手段によって不良率又は良率が入力されたときに、前記NG率算出手段に対して該入力された不良率又は良率に対する分布範囲を算出させ、該算出された分布範囲及び該入力された不良率又は良率を前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項1に記載の印刷はんだ検査装置。
- 一旦、前記入力された分布範囲、及び前記不良率もしくは良率のいずれかを視認可能に表示された後に、前記表示制御手段は、該操作手段によって前記分布範囲が変更されたときは、前記NG率算出手段に対して該変更された分布範囲に対する不良率又は良率を算出させ、該変更された分布範囲及び該算出された不良率又は良率を前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項2に記載の印刷はんだ検査装置。
- 入力された分布範囲、NG率算出手段で算出された分布範囲、又は変更された分布範囲を基に、前記測定手段が測定した判定対象のプリント板のはんだ状態を表す形状値についての良否判定を行う判定手段(4)を備えたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の印刷はんだ検査装置。
- 前記判定手段は、前記はんだ箇所毎に前記形状値の判定を行い、前記表示制御手段は、前記表示手段に対して、測定対象とした前記プリント基板のはんだ箇所を表すレイアウトを表示させるとともに、その表示されたレイアウト上に前記判定手段が否と判定した箇所を識別可能にして表示させることを特徴とする請求項4に記載の印刷はんだ検査装置。
- 前記測定手段は、印刷はんだ箇所の高さ方向の変位を測定して前記測定値として出力し、
さらに、前記測定手段の測定値を受けて、少なくともはんだの体積を含む形状値を求める判定用データ生成手段(3)を備えたことを特徴とする請求項1〜5のいずれか一つに記載の印刷はんだ検査装置。 - 前記形状値は、前記判定用データ生成手段によって、少なくともはんだの体積を含む形状値と、予め記憶された少なくとも体積を含む基準データとの比から求められた基準化された形状値であることを特徴とする請求項6に記載の印刷はんだ検査装置。
- 予め、1又は複数のプリント板に印刷された複数はんだ箇所のはんだ状態を測定するテスト測定段階と、
前記測定値を基に、前記はんだ状態を量として表す形状値の度数分布を求めるヒストグラム算出段階と、
前記形状値における前記度数分布を前記表示手段に表示させる分布表示段階と、
操作手段により分布範囲が可変入力されたときは、その分布範囲を前記度数分布に重ねて表示させるとともに、前記度数分布に対する、前記分布範囲外の不良率又は前記分布範囲内の良率を算出して表示させ、前記操作手段により不良率又は良率が可変入力されたときは、その不良率又は良率の範囲を示す分布範囲を算出して表示させるNG率算出段階と、
前記NG率算出段階を経て、前記可変入力された分布範囲又は算出された分布範囲のうち、いずれかを所望の分布範囲として確定される確定段階と、を備えたことを特徴とする印刷はんだ検査方法。 - 前記確定段階後に、判定対象のプリント板のはんだ状態を表す形状値を測定する検査測定段階と、
前記検査測定段階の該形状値を前記所望の分布範囲を基に良否判定する判定段階と、を備えたことを特徴とする請求項8に記載の印刷はんだ検査方法。
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