JP4682796B2 - 封止用シート - Google Patents
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Description
請求項1記載の発明は、さらに品質安定性に優れた封止用シートを提供するものである。
請求項1記載の発明は、さらにレーザーマーキング性に優れた封止用シートを提供するものである。
請求項1記載の発明は、さらに樹脂封止性に優れた封止用シートを提供するものである。
請求項2〜3記載の発明は、請求項1の発明の効果を奏し、さらに樹脂封止性に優れた封止用シートを提供するものである。
請求項4記載の発明は、請求項1の発明の効果を奏し、さらに作業性に優れた封止用シートを提供するものである。
第1の樹脂層1は、架橋性官能基を有し、ガラス転移温度が−20℃以上20℃以下である第1の高分子量成分を含有してなる層である。
第2の樹脂層2は、熱硬化性成分、無機フィラー及び第2の高分子量成分を含有してなる層である。
本発明における第1の樹脂層1及び第2の樹脂層2は、基材層に、前記熱硬化性成分、前記高分子量成分、前記着色剤及び前記無機フィラー等の各樹脂層を形成するための材料を含む樹脂ワニスを塗工乾燥して作製することが好ましく、これに用いられる基材層としては、特に制限されることなく従来公知のものを使用することができる。なお、樹脂ワニスは、シクロヘキサノンなどの溶剤を加えて攪拌混合し、得ることができる。
封止用シートの使用方法としては、従来の固形状または液状封止材が使用されていた用途と同様の方法が考えられる。例えば、図1に示した構成の封止用シートを使用する場合には、剥離シート4を剥離した封止用シートを、半導体チップや部品を実装した基板上に、第2の樹脂層2が基板側となるように熱板プレスやラミネータなどを使用して積層した後、加熱硬化し、剥離シート3をはく離する方法を取る。なお、剥離シート3をはく離した後、更に加熱硬化してもよい。上記方法により封止用シートを基板上に積層することで、半導体チップ周辺に空隙が残らないように積層することが可能である。しかし、高周波用途のフリップチップ実装の場合などは、半導体チップや部品の下部に、あえて空隙が残るように積層することも可能である。図2に示したのは、本発明の封止用フィルムを用いて、前記の方法により作製した半導体パッケージの断面である。
第1の樹脂層A−1を以下の手順で作製した。まず、熱硬化性成分(エポキシ樹脂)としてビスフェノールF型エポキシ樹脂(エポキシ当量:175、東都化成株式会社製のYDF−8170Cを使用)29重量部、及び、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(エポキシ当量:220、東都化成株式会社製YDCN−703を使用)10重量部、熱硬化性成分(硬化剤)としてビスフェノールAノボラック樹脂(大日本インキ化学工業株式会社製のLF−2882を使用)27重量部、無機フィラーとしてシリカフィラー(株式会社アドマテックス製のSO−C2を使用)94重量部、着色剤としてカーボンブラック2重量部、第1の高分子量成分として、エポキシ基含有アクリルゴム(分子量:70万、Tg:−7℃、帝国化学産業株式会社製のHTR−860P−3)28重量部、硬化促進剤として1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール(キュアゾール2PZ−CNを使用)0.1重量部からなる成分に溶剤としてシクロヘキサノンを330重量部加えて攪拌混合し、樹脂ワニスを作製した。得られた樹脂ワニスを基材層である離型処理済みベースフィルム(帝人株式会社製ピューレックスA31)上に塗工し、90℃で2分間、次いで120℃で3分間乾燥して、厚み25μmの第1の樹脂層A−1を作製した。これにより、基材層と第1の樹脂層A−1とからなる積層体A−1を得た。
第1の樹脂層A−2を以下の手順で作製した。まず、熱硬化性成分として、クレゾ−ルノボラック型エポキシ樹脂(エポキシ当量220、東都化成株式会社製YDCN−703を使用)36重量部、及び、低吸水性フェノール樹脂(三井化学株式会社製XLC−LL使用)30重量部、無機フィラーとしてシリカフィラー(株式会社日本アエロジル製のR−972を使用)21重量部、着色剤としてカーボンブラック0.5重量部、第1の高分子量成分として、エポキシ基含有アクリルゴム(分子量:70万、Tg:−7℃、帝国化学産業株式会社製のHTR−860P−3)180重量部、硬化促進剤として1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール(キュアゾール2PZ−CNを使用)0.3重量部からなる成分に溶剤としてシクロヘキサノンを1500重量部加えて攪拌混合し、樹脂ワニスを作製した。得られた樹脂ワニスを基材層である離型処理済みベースフィルム(帝人株式会社製ピューレックスA31)上に塗工し、90℃で2分間、次いで120℃で3分間乾燥して、厚み25μmの第1の樹脂層A−2を作製した。これにより、基材層と第1の樹脂層A−2とからなる積層体A−2を得た。
上記第1の樹脂層A−2における第1の高分子量成分として、エポキシ基含有アクリルゴム(分子量:70万、Tg:−7℃、帝国化学産業株式会社製のHTR−860P−3)の代わりに、アクリル樹脂C1(分子量:40万、Tg:−40℃、ブチルアクリレート−アクリロニトリル共重合体)、アクリル樹脂C2(分子量:25万、Tg:−25℃、帝国化学産業株式会社製のWS−032)、アクリル樹脂C3(分子量:20万、Tg:28℃、帝国化学産業株式会社製のSG−P−26)、アクリル樹脂C4(分子量:5万、Tg:80℃、アクリロニトリル−スチレン共重合体)、フェノキシ樹脂C5(分子量:4万、Tg:100℃、東都化成株式会社製のYP−50)をそれぞれ用いた以外は実施例2と同様にして、比較例1〜5の封止用シートを得た。また、第1の樹脂層A−2を有しない、第2の樹脂層Bのみで構成される封止用シート(すなわち、積層体B)を比較例6とした。
熱硬化後の封止用シートについて、基材層を剥離した後、第1の樹脂層を有する場合は第1の樹脂層側に、第1の樹脂層を有しない場合は第2の樹脂層側に、出力1.9、2.5、4.0、5.0、5.7J/パルスのYAGレーザーによりレーザーマーキングを行って視認性を確認した。なお、視認性の評価は以下の手順で行った。まず、レーザーマーキング後のフィルム表面をスキャナによって画像取り込みを行い、画像処理ソフト(Adobe社製PHOTOSHOP)によってマーキング部分及びその周りの非マーキング部分の2階調化を行う。この操作により、画像は明度によって白黒の256段階に分けられる。次に、マーキング部分が白く、非マーキング部分が黒く表示される明度(マーキング部分及び非マーキング部分の両方が白く表示されていた状態から、マーキング部分が白く、非マーキング部分が黒く表示されるようになる明度)をしきい値Aとし、マーキング部も黒く表示されマーキング部分/非マーキング部分の境界が無くなる明度をしきい値Bとし、しきい値Aとしきい値Bとの差が40以上である場合に視認性が良好であるとし(○)、その差が30以上40未満である場合に視認性がほぼ良好であるとし(△)、その差が30未満である場合に視認性が不良である(×)として評価を行った。
熱硬化後の封止用シートについて、基材層を剥離した後、シリコンウェハに80℃、1.5kgf/cm、0.5m/minの条件で、第2の樹脂層がシリコンウェハと隣接するように熱ラミネートし、170℃で1時間熱硬化させた。次いで、85℃/85%RHの恒温恒湿槽に168時間放置し、その後IRリフロー装置により熱処理を行った後のデラミネーションなどの接着性に関わる状態を目視および顕微鏡にて観察し、耐リフロー性を評価した。封止用シートとシリコンウェハとの間での剥離、及び発泡の見られないものを良好(○)、見られるものを不良(×)として評価を行った。
Claims (4)
- 架橋性官能基を有し、ガラス転移温度が−20℃以上20℃以下である第1の高分子量成分、エポキシ樹脂、硬化剤、フィラー及び着色剤を含有する第1の樹脂層と、
熱硬化性成分、無機フィラー及び第2の高分子量成分を含有する第2の樹脂層と、
を備え、
前記架橋性官能基がエポキシ基であり、
前記第1の高分子量成分がアクリル樹脂であり、
前記第2の高分子量成分がエポキシ基を有するアクリル樹脂であり、
前記熱硬化性成分がエポキシ樹脂と硬化剤とを含むものであり、
前記第2の樹脂層において、前記無機フィラーの含有量が、前記第2の樹脂層全体の30〜80体積%であり、かつ、前記第2の高分子量成分の含有量が、前記熱硬化性成分100重量部に対して5〜30重量部であることを特徴とする封止用シート。 - 前記無機フィラーがシリカフィラーである、請求項1に記載の封止用シート。
- 前記第2の高分子量成分の重量平均分子量が10万〜100万である、請求項1又は2に記載の封止用シート。
- 前記第1の樹脂層における前記第2の樹脂層と反対側の面、及び、前記第2の樹脂層における前記第1の樹脂層と反対側の面の一方又は両方の面上に剥離シートを有する、請求項1〜3のうちのいずれか一項に記載の封止用シート。
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