JP4680815B2 - 増幅回路および光ピックアップ - Google Patents

増幅回路および光ピックアップ Download PDF

Info

Publication number
JP4680815B2
JP4680815B2 JP2006097024A JP2006097024A JP4680815B2 JP 4680815 B2 JP4680815 B2 JP 4680815B2 JP 2006097024 A JP2006097024 A JP 2006097024A JP 2006097024 A JP2006097024 A JP 2006097024A JP 4680815 B2 JP4680815 B2 JP 4680815B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
operational amplifier
input terminal
amplifier
resistor
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006097024A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007274316A (ja
Inventor
博史 山口
哲夫 茶藤
雄三 志水
泰史 白川
伸一 宮本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2006097024A priority Critical patent/JP4680815B2/ja
Priority to US11/687,715 priority patent/US7449670B2/en
Publication of JP2007274316A publication Critical patent/JP2007274316A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4680815B2 publication Critical patent/JP4680815B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/04Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only
    • H03F3/08Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only controlled by light
    • H03F3/087Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only controlled by light with IC amplifier blocks
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F1/00Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
    • H03F1/34Negative-feedback-circuit arrangements with or without positive feedback
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45076Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
    • H03F3/4508Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using bipolar transistors as the active amplifying circuit
    • H03F3/45085Long tailed pairs
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45076Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
    • H03F3/45475Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using IC blocks as the active amplifying circuit
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03GCONTROL OF AMPLIFICATION
    • H03G1/00Details of arrangements for controlling amplification
    • H03G1/0005Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal
    • H03G1/0088Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal using discontinuously variable devices, e.g. switch-operated
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45106A diode being used as clamping element at the output of the dif amp
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45528Indexing scheme relating to differential amplifiers the FBC comprising one or more passive resistors and being coupled between the LC and the IC
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45534Indexing scheme relating to differential amplifiers the FBC comprising multiple switches and being coupled between the LC and the IC
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45536Indexing scheme relating to differential amplifiers the FBC comprising a switch and being coupled between the LC and the IC
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45634Indexing scheme relating to differential amplifiers the LC comprising one or more switched capacitors
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45636Indexing scheme relating to differential amplifiers the LC comprising clamping means, e.g. diodes
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45682Indexing scheme relating to differential amplifiers the LC comprising one or more op-amps
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45684Indexing scheme relating to differential amplifiers the LC comprising one or more buffers or driving stages not being of the emitter respectively source follower type, between the output of the dif amp and the output stage
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45722Indexing scheme relating to differential amplifiers the LC comprising one or more source followers, as post buffer or driver stages, in cascade in the LC

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Optical Head (AREA)
  • Control Of Amplification And Gain Control (AREA)

Description

本発明は、フォトダイオードからの信号を増幅する増幅回路および光ピックアップに関する。
特許文献1には、光ディスクの反射光を受けるフォトダイオードからの受光信号を増幅するフォトダイオード増幅回路が開示されている。
図15は、このフォトダイオード増幅回路の構成を示す図である。同図のフォトダイオード増幅回路は、フォトダイオードPD、演算増幅器OP、帰還抵抗R10、抵抗R11を有する。図中のCsは寄生容量を示す。フォトダイオードPDに入射された光は、フォトダイオードPDによって電流に変換される。この電流は演算増幅器OPの負入力端子に入力される。演算増幅器OPと帰還抵抗R10は電流を電圧に変換する電流電圧増幅器として機能する。
特開平10−256841号公報
しかしながら従来技術における増幅回路は、受光信号の高周波化が困難であるという問題がある。具体的には、次世代DVDと呼ばれるBD(Blue ray Disc)での高速読み出し/書き込みが困難であるという問題がある。例えば、DVDでは読み出し速度が16倍速の場合に、増幅回路は約80MHzの周波数に応答できればよい。ところが、BDでは例えば12倍速の読み出し速度の場合に約180MHzの周波数に応答できることが必要とされる。
図16は、従来技術における増幅回路の利得−周波数特性を示す。同図における細線は開ループ時の特性を示し、太線は変換抵抗R10により定まる閉ループ特性を示している。細線で示す特性には、オペアンプ内の位相補償回路に起因するポール周波数fp1と、変換抵抗R10および寄生容量Csに起因するポール周波数fp2の2箇所で周波数特性が劣化する。ポール周波数fp2は単純には1/(2π・R10・Cs)によって定まる。
そのため、BDにおけるフォトダイオードの感度の低さを補うために単に帰還抵抗R10の値を大きくして演算増幅器OPの利得を上げようとすれば、ポール周波数fp2が低域側にシフトし、閉ループ特性の周波数特性が劣化する(帯域が狭くなる)ことから、利得向上と周波数の向上とを両立させることが困難である。
また、利得を下げずに周波数特性を向上させる手法として変換抵抗R10を小さくし、その分、次段のアンプで増幅し見かけ上トータルの増幅率を同じにする手法が一般的である。この手法は変換抵抗R10を小さく出来るため周波数特性を向上することが可能であるが、ノイズ特性に不利でなる。例えば、変換抵抗R10のみで利得を稼ぐ場合のノイズは変換抵抗R10の熱雑音の大きさは、√(4kT×R10×Δf) で表される。ここでk:ボルツマン定数、T:絶対温度、R10:R10の抵抗値、Δf:帯域幅である。この熱雑音が図16の回路のノイズ理論限界となる。但し、R11の熱雑音は考慮していない。これに対し変換抵抗R10を1/2、次段のアンプで2倍の増幅をした場合の熱雑音は、(√(4kT×R10/2))×2倍=√(4kT×R10)×√2となり、√2倍熱雑音が大きくなる。この様にノイズレベルが高いことは、DVDやCDを受けるフォトダイオードPDの光−電流効率の約7割しかないBDにとってS/N比(信号(S)対雑音(N)比)が悪くなることは信号品質の劣化に繋がる。
上記課題に鑑み本発明は、ノイズ特性を悪化させることなく周波数特性を高周波まで広げることが可能な増幅回路および光ピックアップを提供することを目的とする。
上記課題を解決するため本発明の増幅回路は、負入力端子と正入力端子と出力端子とを有する第1の演算増幅器と、前記負入力端子に接続されたフォトダイオードと、前記出力端子と前記負入力端子の間に挿入された第1の抵抗と、前記出力端子と前記正入力端子の間に挿入された第2の抵抗とを備え、前記出力端子から前記第2の抵抗を介して電流を出力することを特徴とする。この構成によれば、ノイズ特性を悪化させることなく、第1の抵抗と第1フォトダイオードの寄生容量で決まる周波数特性を高周波まで広げることができる。
ここで、前記増幅回路は、さらに、第2の演算増幅器を備え、前記第1の演算増幅器の正入力端子と前記第2の演算増幅器の入力端子とが接続され、前記第2の演算増幅器の入力端子と前記第2の演算増幅器の出力端子の間に第3の抵抗が挿入される構成としてもよい。この構成によれば、第2の演算増幅器は第1の演算増幅器によって電流増幅された信号を電圧に変換および増幅するので、周波数特性を高周波まで広げることができ且つ利得を落とさないという効果がある。
ここで、前記増幅回路は、さらに、前記第1の演算増幅器の出力端子から前記第2の抵抗を介して出力される電流が入力される電流バッファ回路を備える構成としてもよい。この構成によれば、電流バッファ回路を入れることで第1の演算増幅器の後段から第1の演算増幅器の正入力端子への回り込みノイズを遮断することができるので、広帯域に渡って信号歪のない高品質の信号を出力することが可能となる。
ここで、前記電流バッファ回路は、電流増幅機能を有する構成としてもよい。この構成によれば、電流バッファ回路が電流増幅機能を有することにより、第1の抵抗と第2の抵抗の比で定まる第1の演算増幅器の増幅率を小さくすることができ、周波数特性をより向上させることができる。
ここで、前記電流バッファ回路は、前記第1の演算増幅器の前記出力端子から前記第2の抵抗を介して電流を出力する出力信号線にバイアス電圧を設定するためのバイアス回路を有する構成としてもよい。この構成によれば、上記出力信号線にバイアスを設定すれば、フォトダイオードのバイアスも設定でき、フォトダイオードの逆バイアスが大きければ寄生容量Csが小さくなりfp2を高域にすることでノイズ、周波数特性を向上させることができる。
ここで、前記第1の抵抗は、複数の抵抗素子と、前記第1の演算増幅器の前記出力端子と前記第1の演算増幅器の前記負入力端子の間に挿入すべき抵抗素子を選択的に切り換える第1のスイッチ回路とを有する構成としてもよい。この構成によれば、異なる反射率をもつメディア例えば、BD−ROM、BD−Rに対応して、第1の抵抗と第2の抵抗の比により定まる第1の演算増幅器の増幅率を切り替えることができる。
ここで、前記第1増幅回路は、さらに、位相補償用の複数の容量素子を有し、前記第1のスイッチ回路は、前記抵抗素子の切り換えと連動して容量素子を切り換える構成としてもよい。この構成によれば、第1の抵抗としても抵抗値と容量素子との組み合わせを切り替えることができ、発振しない最適な周波特性を得ることができる。
ここで、前記第2の抵抗は、複数の抵抗素子と、前記第1の演算増幅器の前記出力端子と前記第1の演算増幅器の前記正入力端子の間に挿入すべき抵抗素子を選択的に切り換える第2のスイッチ回路とを有する構成としてもよい。この構成によれば、異なる反射率をもつメディア例えば、BD−ROM、BD−Rに対応して、第1の抵抗と第2の抵抗の比により定まる第1の演算増幅器の増幅率を切り替えることができる。
ここで、前記増幅回路は、さらに、第1の演算増幅器の前記出力端子の電圧が、所定電圧以上になることを防止する出力電圧制御回路を備える構成としてもよい。この構成によれば、出力信号がダイナミックレンジ一杯に飽和してから復帰するまでの時間を短縮することができる。すなわち、第1の演算増幅器の出力がダイナミックレンジ一杯になるような、大きい振幅の入力信号が負入力端子に入った場合、第1の演算増幅器の内部回路が飽和してから、飽和が解消されるまで飽和復帰時間が遅くなる。これを防止するために振幅制御回路(クリップ回路)として上記の出力電圧制御回路を備え応答性をよくする。
ここで、第1の演算増幅器の前記負入力端子と第1の演算増幅器の正入力端子とに接続され、第1の演算増幅器内部の入力トランジスタのベース電流を補償するベース電流補償回路を備える構成としてもよい。この構成によれば、バイポーラトランジスタで第1の演算増幅器を構成した場合、負入力端子と正入力端子には、ベース電流IBが発生しそれが増幅され出力されるため、オフセット電圧が悪くなるが、ベース電流補償回路を備えることによりオフセット電圧の発生を防止することができる。
また発明の光ピックアップは、上記の増幅回路を備えるので、上記と同様の作用効果を奏する。
本発明の増幅回路によれば、抵抗の熱雑音で発生するノイズ特性を悪化させることなく周波数特性を高周波まで広げることができる。周波数特性を高周波まで広げることができ且つ利得を落とさないという効果がある。また、回り込みノイズを遮断することができるので、さらに信号歪のない高品質の信号を出力させることができる。
(第1の実施形態)
本実施の形態では、演算増幅器に対して、負入力端子への帰還抵抗R1と、正入力端子への帰還抵抗R2とを付加する。これにより、2つの帰還抵抗の比により増幅率と周波数特性におけるポール周波数とを任意に定めることができ、ポール周波数の高周波化を実現している。また、負入力端子への帰還抵抗R1と、正入力端子への帰還抵抗R2の抵抗値と2つの帰還抵抗の比を適切に選択することで熱雑音を低く抑える事が可能となる。
図1は、第1の実施形態における増幅回路を示す図である。同図の増幅回路は、第1の演算増幅器OP1と、フォトダイオードPDと、第1の抵抗R1と、第2の抵抗R2とを備える。第1の演算増幅器OP1は、負入力端子と正入力端子と出力端子とを有し、電流増幅アンプとして機能する。フォトダイオードPDは、光ディスクに反射されたレーザ光を受け、負入力端子に接続される。第1の抵抗R1は、出力端子と負入力端子の間に挿入される。第2の抵抗R2は、出力端子と正入力端子の間に挿入される。第1の演算増幅器OP1によって増幅された電流は、第2の抵抗R2を介して電流出力端子IOUTから出力される。また、フォトダイオードPDのカソードと第1の演算増幅器OP1の負入力端子と第1の抵抗R1の一端とを接続する配線には、浮遊容量Csが存在する。浮遊容量Csの容量は0.数pF程度である。
第1の演算増幅器OP1の負入力端子と正入力端子と負入力端子がイマジナリーショートしていると考えられるので、第1の抵抗R1両端の電圧i1・R1と第2の抵抗R2両端の電圧i2・R2は等しい。それゆえ、電流出力端子IOUTから出の電流i2=(R1/R2)i1となる。第1の抵抗R1を流れる電流は、フォトダイオードPDに流れる受光量を示す受光信号の電流とみなせるので、増幅率は(R1/R2)である。例えばR1=60kΩ、R2=2kΩの場合、i2=30・i1となる。
第1の演算増幅器OP1の周波数特性について考える。寄生容量Csと第1の抵抗R1で定まるポール周波数は、第1の抵抗R1と第2の抵抗R2の比によって一意に定めることができる。また、上記の増幅率も第1の抵抗R1と第2の抵抗R2の比によって一意に定めることができる。それゆえ、第1の抵抗R1を従来よりも小さい値に定めれば周波数特性の広帯域化することができる。
また、第1の抵抗R1を第2の抵抗R2より十分に大きくし、増幅率(R1/R2)を大きくすれば、電流出力端子IOUTから出る電流の熱雑音は、ほぼR1の熱雑音で決定され、その大きさは、√(4kT×R1×Δf) で表される。ここでk:ボルツマン定数、T:絶対温度、R1:R1の抵抗値、Δf:帯域幅である。
ここで、第1の抵抗R1を従来よりも小さい値に定めれば、熱雑音の低減と周波数特性の広帯域化の両立が可能となる。
図2は、増幅回路のより詳細な等価回路図である。図中、第1の演算増幅器OP1の負入力端子を−IN、正入力端子を+IN、出力端子をOUT、増幅回路の電流出力端子をIOUTと記している。同図のように、第1の演算増幅器OP1は、3つの電流源S1〜S3と、トランジスタTr1〜Tr3と、容量Ccとを有している。
トランジスタTr1、Tr2のベースは、負入力端子−IN、正入力端子+INに接続され、差動トランジスタとして機能する。電流源S1は、負入力端子を−INの電流に応じた電流を流すが、電流源S2の電流の1/2を保つ。容量Ccは位相補償用の容量である。トランジスタTr3は増幅出力用である。
図3は、増幅回路の利得−周波数特性を示す図である。同図において細線は開ループ時の特性を示し、太線は、第1の抵抗R1により定まる閉ループ特性を示している。細線で示す特性には、オペアンプ内の位相補償回路に起因するポール周波数f1と、変換抵抗R1および寄生容量Csに起因するポール周波数f3の2箇所で周波数特性が劣化する。なお、図中の周波数f2は従来技術と対比するために記してある。同図に示すように、第1の抵抗R1を従来よりも小さい値に定めれば周波数特性の広帯域化することができる。また、利得(増幅率)は、第1の抵抗R1と第2の抵抗R2の比により定めることができる。
このように本実施の形態における増幅回路によれば、第1の抵抗R1と第1フォトダイオードの寄生容量Csで決まる周波数特性を高周波まで広げることができる。
(第2の実施形態)
本実施の形態では、周波数特性の広帯域化すると同時に利得を大きくする増幅回路について説明する。第1の実施形態では、増幅率は、R1/R2であるため、R1を小さくすると増幅率が低下する。この低下を解消するため、本実施形態では、後段に電流を電圧に変換および増幅する第2の演算増幅器備えることを特徴とする。
図4は、第2の実施形態における増幅回路を示す図である。同図の増幅回路は、図1と比較して、第2の演算増幅器OP2、第3の抵抗R3、抵抗R4を追加した点が異なる。同じ構成要素には同じ符号を付しているので説明を省略し、以下異なる点を中心に説明する。
第2の演算増幅器OP2は、負入力端子に帰還抵抗としての第3の抵抗R3が接続され、正入力端子に基準電位VREFを入力するための抵抗R4が接続される。また、第2の演算増幅器OP2の負入力端子には、電流出力端子と接続される。これにより第2の演算増幅器OP2は、前段の第1の演算増幅器OP1からの電流を電圧に変換および増幅する。
このように本実施の形態における増幅回路によれば、第2の演算増幅器は第1の演算増幅器によって電流増幅された信号を電圧に変換および増幅するので、周波数特性を高周波まで広げることができ且つ利得を落とさないという効果がある。
また、第2の演算増幅OP2の出力電圧は、(R1/R2)×R3となり、増幅率R1/R2を一定のまま、第1の抵抗R1の抵抗値を小さく設定すれば、第2の演算増幅器OP2の出力の熱雑音は、ほぼ{√(4kT×R1×Δf) }×R3で表される。よって、第1の抵抗R1と第2の抵抗R2、第3の抵抗R3を適切に設定すれば、図15の変換抵抗R10で発生する熱雑音より小さくする事が可能である。
よって、第1の抵抗R1を小さく設定すれば、熱雑音の低下と周波数特性の高周波化を両立することが可能となる。
(第3の実施形態)
本実施の形態では、さらにノイズ耐性を向上させた増幅回路について説明する。第2の実施形態では、第2の演算増幅器OP2の負入力端子から電流出力端子IOUTを介して第1の演算増幅器OP1の正入力端子に、第2の演算増幅器OP2で生じるノイズが回り込む可能性がある。本実施形態ではこのノイズの回り込みを遮断する構成について説明する。
図5Aは、第3の実施形態における増幅回路を示す図である。同図の増幅回路は、図4と比較して、バッファ回路BUF1、可変バイアス回路V1を追加した点が異なる。同じ構成要素には同じ符号を付しているので説明を省略し、以下異なる点を中心に説明する。
バッファ回路BUF1は、負入力端子に電流出力端子IOUTが接続され、電流出力端子IOUTから入力される電流をバッファする回路である。つまり、入力される電流を増幅率1倍の電流として、第2の演算増幅器OP1の負入力端子に出力するバッファとして機能する。
可変バイアス回路V1は、可変直流電源V1と抵抗R5からなり、バッファ回路BUF1の正入力端子に任意の定電圧を設定する。
図5Bは、バッファ回路V1のより詳細な構成を示す図である。バッファ回路V1は、2つのダイオードD1、D2、トランジスタTr4〜Tr9を備える。2つのダイオードD1、D2は電源−グラウンド間に直列接続され、その中間点は、可変バイアス回路V1から出力される定電圧が入力される正入力端子+inに接続される。2つのダイオードD1、D2の両端はそれぞれトランジスタTr5、TR6のベースに接続される。これにより、トランジスタTr5のエミッタとトランジスタTR6のコレクタに接続された負入力端子−inの電位を上記定電圧にバイアスする。負入力端子−inに入力される電流は、
トランジスタTr4およびTr5と、Tr6およびTr7とのプッシュプル動作により、カレントミラー回路としてのトランジスタTr8およびTr9に電流を流す。この電流によりトランジスタTr8およびTr9の中間点に接続された出力端子outから、入力電流に応じた電流が出力される。出力端子outからの出力電流は、カレントミラーの電流の大きさを設定することにより、入力電流の1倍から数倍に定めることができる。
このように本実施の形態における増幅回路によれば、電流をバッファリングするバッファ回路V1を第1の演算増幅器OP1と第2の演算増幅器OP2の間に挿入することによって、第2の演算増幅器OP2から第1の演算増幅器の正入力端子に回り込むノイズを遮断することができるので、広帯域に渡って信号歪のない高品質の信号を出力することが可能となる。また、バイアス電圧は可変なので、第1の演算増幅器OP1の出力電流の大きさに応じてノイズ遮断に最適なバイアス電圧を設定することができる。
(第4の実施形態)
本実施の形態では、さらに第1の演算増幅器OP1の増幅率を切り換え可能な増幅回路について説明する。第1の実施形態では、第2の演算増幅器OP2の増幅率は(R1/R2)で定まる固定値であったが、本実施形態では、増幅率を切り換え可能な構成について説明する。
図6は、本実施形態における増幅回路を示す図である。同図は、図1と比較して、第1の抵抗R1の代わりに、複数の抵抗素子R1A、・・・R1Bと第1のスイッチ回路SW1とを有する点が異なる。同じ構成要素には同じ符号を付しているので説明を省略し、以下異なる点を中心に説明する。
複数の抵抗素子R1A、・・・、R1Bは、互いに異なる抵抗値を有する。
第1のスイッチ回路SW1は、第1の演算増幅器OP1の出力端子OUTと第1の演算増幅器OP1の負入力端子−INの間に挿入すべき抵抗素子を選択的に切り換える。ここでは、複数の抵抗素子R1A、・・・R1Bのうち任意の1つを選択するものとする。
本実施の形態における増幅回路によれば、第1の演算増幅器OP1の増幅率は、選択された抵抗素子と第2の抵抗R2の比により定まる。それゆえ、第1のスイッチ回路SW1は、増幅率を切り換えることができる。増幅率を切り換えは、例えば、本増幅回路が装備される光ディスクドライブにおける読み出し速度や書き込み速度(つまり、1倍速、2倍速、・・・16倍速など)に応じて切り換えることができる。また、同じ速度でも読み出し速度時と書き込み速度時とで切り換えるようにしてもよい。さらに、異なる反射率をもつメディア例えば、BD−ROMとBD−Rに対応して切り換えるようにしてもよい。
なお、第1のスイッチ回路SW1は、複数の抵抗素子R1A、・・・R1Bのうち任意の組み合わせを選択するようにしてもよい。
(第5の実施形態)
本実施形態では、さらに位相補償特性を切り替え可能な増幅回路について説明する。第4の実施の形態では、増幅率の切り換えに伴って第1の演算増幅器OP1内の位相補償回路(図2に示した補償用容量Cc保障法)による位相補償の特性が異なってしまい、最悪ケースでは演算増幅器OP1の出力が発振するかもしれない。本実施形態では、位相補償用の容量を可変キャパシタにすることによって、増幅率の切り替えと連動して位相補償用の容量の容量値を切り換える構成について説明する。
図7は、本実施形態における増幅回路を示す図である。同図は、図6と比較して、第1の演算増幅器OP1の代わりに第1の演算増幅器OP11を備える点が異なっている。第1の演算増幅器OP11は、第1の演算増幅器OP1と比べて、固定容量値の容量Ccの代わりに可変キャパシタCvを備える点が異なる。同じ構成要素には同じ符号を付しているので説明を省略し、以下異なる点を中心に説明する。
可変キャパシタCvは、位相補償用の容量であり、任意の容量値に可変である。
図8は、本実施形態における増幅回路のより詳細な構成例を示す図である。同図は、図2と比較して、第1の抵抗R1の代わりに、複数の抵抗素子R1A、・・・R1Bと第1のスイッチ回路SW1とを有する点と、容量Ccの代わりに複数の容量素子CA、・・・CBとスイッチ回路SW1Bとを有する点とが異なる。
複数の抵抗素子R1A、・・・R1Bおよび第1のスイッチ回路SW1は、実施の形態4と同様であるので省略する。
複数の容量素子CA、・・・CBは、互いに異なる容量値を有する。
スイッチ回路SW1Bは、出力トランジスタTr3のベースと電源線Vddの間に挿入すべき容量素子を選択的に切り換える。ここでは、複数の容量素子R1A、・・・R1Bのうち任意の1つを選択するものとする。
本実施の形態における増幅回路によれば、第1の演算増幅器OP11の位相補償特性は、選択された容量素子の容量値により定まる。それゆえ、スイッチ回路SW1Bは、増幅率を切り換えと連動して最適な位相補償特性に切り換えることができる。
なお、スイッチ回路SW1Bは、複数の容量素子CA、・・・CBのうち任意の組み合わせを選択するようにしてもよい。また、スイッチ回路SW1Bは、第1のスイッチ回路SW1と連動しないで、独立に切り換えるようにしてもよい。
(第6の実施形態)
本実施の形態では、さらに第1の演算増幅器OP1の増幅率を切り換え可能な増幅回路について説明する。第1の実施形態では、第2の演算増幅器OP2の増幅率は(R1/R2)で定まる固定値であったが、本実施形態では、増幅率を切り換え可能な構成について説明する。
図9は、本実施形態における増幅回路を示す図である。同図は、図1と比較して、第2の抵抗R2の代わりに、複数の抵抗素子R2A、・・・R2Bと第2のスイッチ回路SW2とを有する点が異なる。同じ構成要素には同じ符号を付しているので説明を省略し、以下異なる点を中心に説明する。
複数の抵抗素子R2A、・・・、R2Bは、互いに異なる抵抗値を有する。
第2のスイッチ回路SW2は、第1の演算増幅器OP1の出力端子OUTと第1の演算増幅器OP1の正入力端子+INの間に挿入すべき抵抗素子を選択的に切り換える。ここでは、複数の抵抗素子R2A、・・・R2Bのうち任意の1つを選択するものとする。
本実施の形態における増幅回路によれば、第1の演算増幅器OP1の増幅率は、選択された抵抗素子と第2の抵抗R2の比により定まる。それゆえ、第2のスイッチ回路SW2は、増幅率を切り換えることができる。増幅率を切り換えは、例えば、本増幅回路が装備される光ディスクドライブにおける読み出し速度や書き込み速度(つまり、1倍速、2倍速、・・・16倍速など)に応じて切り換えることができる。また、同じ速度でも読み出し速度時と書き込み速度時とで切り換えるようにしてもよい。
なお、第2のスイッチ回路SW2は、複数の抵抗素子R2A、・・・R2Bのうち任意の組み合わせを選択するようにしてもよい。
(第7の実施形態)
本実施の形態では、フォトダイオードPDをカソードコモンで演算増幅器OP1に接続する構成を説明する。
図10は、第7の実施形態における増幅回路を示す図である。同図は、図1と比較して、フォトダイオードPDの変わりにフォトダイオードPD1を備える点が異なる。同じ構成要素には同じ符号を付しているので説明を省略し、以下異なる点を中心に説明する。
フォトダイオードPD1は、そのカソードが第1の演算増幅器OP1の負入力端子−INに接続され、そのアノードが電源線Vddなど共通線に接続されている。
フォトダイオードは、本実施の形態のようにカソードコモンとすることも、他の実施の形態のようにアノードコモンとすることもできる。
(第8の実施形態)
本実施の形態では、さらに第1の演算増幅器OP1に接続されるフォトダイオードを切り換え可能な増幅回路について説明する。
図11は、本実施形態における増幅回路を示す図である。同図は、図1と比較して、フォトダイオードPDの代わりに、複数のフォトダイオードPDA、・・・PDBと第3のスイッチ回路SW3とを有する点が異なる。同じ構成要素には同じ符号を付しているので説明を省略し、以下異なる点を中心に説明する。
複数のフォトダイオードPDA・・・、PDBは、異なる波長のレーザ光を発振出力する。さらに、波長が同じで感度が異なるフォトダイオードを含んでいてもよい。
第3のスイッチ回路SW3は、第1の演算増幅器OP1の負入力端子−INに接続すべきフォトダイオードを選択的に切り換える。ここでは、複数のフォトダイオードPDA・・・、PDBのうち任意の1つを選択するものとする。
本実施の形態における増幅回路によれば、例えば、異なる反射率をもつメディア(BD−ROMとBD−Rなど)に対応して、最適なフォトダイオードに切り換えることができる。また、光ディスクの種類に対応して、最適なフォトダイオードに切り換えることができる。また、異なる方式の光学系に1つの増幅器に対応することができ、小型化に貢献できる。
(第9の実施形態)
本実施の形態では、第1の演算増幅器OP1の負入力端子−INに通常よりも大きい振幅の入力信号が入った場合に、応答が劣化するのを防止する増幅回路について説明する。
図12は、本の実施形態における増幅回路を示す図である。同図は、図1と比較して、新たに出力電圧制御回路12が追加されている点が異なる。同じ構成要素には同じ符号を付しているので説明を省略し、以下異なる点を中心に説明する。
出力電圧制御回路12は、第1の演算増幅器OP1の電流出力がダイナミックレンジを越えそうな場合に、当該電流出力をダイナミックレンジの許容最大値にクリップする回路である。
本実施の形態における増幅回路によれば、出力信号がダイナミックレンジ一杯に飽和してから復帰するまでの時間を短縮することができる。すなわち、第1の演算増幅器の出力がダイナミックレンジ一杯になるような、言い換えれば、大きい振幅の入力信号が負入力端子に入った場合、第1の演算増幅器の内部回路が飽和してから、飽和が解消されるまで飽和復帰時間が遅くなる。これを防止するために振幅制御回路(クリップ回路)を入れて応答性をよくする。
なお、出力電圧制御回路12の代わりに第1の抵抗R1に対して並列にダイオードを接続してもよい。このダイオードは、第1の抵抗R1を流れる電流i1が許容最大値に対応する電圧i1・R1を降伏電圧とし、許容最大値を超える場合に導通するようにすればよい。
(第10の実施形態)
本実施の形態では、バイポーラトランジスタで第1の演算増幅器OP1を構成した場合に、負入力端子と正入力端子のベース電流IBによって生じる得るオフセット電圧を防止する増幅回路について説明する。
図13は、第10の実施形態における増幅回路を示す図である。
第1の演算増幅器OP1の負入力端子−INに通常よりも大きい振幅の入力信号が入った場合に、応答が劣化するのを防止する増幅回路について説明する。同図は、図1と比較して、新たにベース電流補償回路13が追加されている点が異なる。同じ構成要素には同じ符号を付しているので説明を省略し、以下異なる点を中心に説明する。
ベース電流補償回路13は、第1の演算増幅器の前記負入力端子と第1の演算増幅器の正入力端子とに接続され、第1の演算増幅器内部の入力トランジスタのベース電流を補償する。これにより、両者のベース電流に起因するオフセット電圧の発生を防止する。
(第11の実施形態)
図14は、第11の実施形態における光ピックアップの構成を示す図である。
同図の光ピックアップは、発光素子21、集光レンズ22、光学素子22、対物レンズ24、受光素子25、増幅部26を備える。
発光素子21は、レーザ光を発振出力する。
集光レンズ22は、発光素子21からのレーザ光を集光する。
光学素子22は、ダイクロイックフィルタやホログラムなどで構成され、集光レンズ22からのレーザ光を対物レンズ24に向けて反射し、さらに、光ディスクによって反射されたレーザ光を透過し、受光素子25に出射する。
受光素子25は、1つ以上のフォトダイオードPDを有し、光ディスクによって反射されたレーザ光を集光レンズ22を介して受光し、受光信号を出力する。
増幅部26は、受光素子25のフォトダイオードPDと同数の増幅回路を有する。各増幅回路は、上記各実施の形態で説明した増幅回路である。
なお、上記各実施の形態において、第1の演算増幅器を電界効果トランジスタで構成するようにしてもよい。すなわち、第1の演算増幅器をCMOSで構成することにより第1の演算増幅器の負入力端子と正入力端子に流れる電流がなくなりオフセット電圧が発生しにくくなる。
さらに、上記各実施の形態において、第1の演算増幅器を電界効果トランジスタとバイポーラトランジスタの混在プロセスで構成するようにしてもよい。たとえば、演算増幅器を差動トランジスタのみCMOSで構成することにより第1の演算増幅器の負入力端子と正入力端子に流れる電流がなくなりオフセット電圧がよくなる。
上記各実施の形態において、複数個のフォトダイオードを第3のSW回路で任意のフォトダイオードに切換えるようにしてもよい。
また、上記各実施の形態について、組み合わせ可能なものは当然に組み合わせてもよい。
本発明は、フォトダイオードからの受光信号を増幅する増幅回路に適しており、例えば、BD−ROM、BD−Rなどに光ディスク、光磁気ディスクなどに適している。
第1の実施形態における増幅回路を示す図である。 増幅回路のより詳細な回路図である。 増幅回路の利得−周波数特性を示す図である。 第2の実施形態における増幅回路を示す図である。 第3の実施形態における増幅回路を示す図である。 バッファ回路のより詳細な構成を示す図である。 第3の実施形態における増幅回路を示す図である。 第4の実施形態における増幅回路を示す図である。 演算増幅器のより詳細な構成を示す図である。 第5の実施形態における増幅回路を示す図である。 第6の実施形態における増幅回路を示す図である。 第7の実施形態における増幅回路を示す図である。 第8の実施形態における増幅回路を示す図である。 第9の実施形態における増幅回路を示す図である。 第10の実施形態における増幅回路を示す図である。 従来技術における増幅回路を示す図である。 従来技術における増幅回路の利得−周波数特性を示す図である。
符号の説明
12 出力電圧制御回路
13 ベース電流補償回路
20 光ピックアップ
21 発光素子
22 集光レンズ
23 光学素子
24 対物レンズ
25 受光素子
26 増幅部
−IN 負入力端子
+IN 正入力端子
f1、f2、f3 ポート周波数
D1、D2 ダイオード
IN 入力端子
OP1 第1の演算増幅器
OP2 第2の演算増幅器
OUT 出力端子
PD フォトダイオード
R1 第1の抵抗
R2 第2の抵抗
R3 第3の抵抗
S1、S2、S3 電流源
SW1 第1のスイッチ回路SW1
SW2 第1のスイッチ回路SW2
Tr1、Tr2、Tr3 トランジスタ

Claims (10)

  1. 負入力端子と正入力端子と出力端子とを有する第1の演算増幅器と、
    前記負入力端子に接続されたフォトダイオードと、
    前記出力端子と前記負入力端子の間に挿入された第1の抵抗と、
    前記出力端子と前記正入力端子の間に挿入された第2の抵抗と
    前記第1の演算増幅器の出力端子から前記第2 の抵抗を介して出力される電流が入力される電流バッファ回路と、
    第2の演算増幅器とを備え、
    前記バッファ回路の出力端子と前記第2の演算増幅器の入力端子とが接続され、
    前記第2の演算増幅器の入力端子と前記第2の演算増幅器の出力端子の間に第3の抵抗が挿入されていることを特徴とする増幅回路。
  2. 前記電流バッファ回路は、電流増幅機能を有することを特徴とする請求項記載の増幅回路。
  3. 前記電流バッファ回路は、前記第1の演算増幅器の前記出力端子から前記第2の抵抗を介して電流を出力する出力信号線にバイアス電圧を設定するためのバイアス回路を有することを特徴とする請求項記載の増幅回路。
  4. 前記第1の抵抗は、複数の抵抗素子と、前記第1の演算増幅器の前記出力端子と前記第1の演算増幅器の前記負入力端子の間に挿入すべき抵抗素子を選択的に切り換える第1のスイッチ回路とを有する
    ことを特徴とする請求項1記載の増幅回路。
  5. 前記第1増幅回路は、さらに、位相補償用の複数の容量素子を有し、
    前記第1のスイッチ回路は、前記抵抗素子の切り換えと連動して容量素子を切り換える
    ことを特徴とする請求項記載の増幅回路。
  6. 前記第2の抵抗は、複数の抵抗素子と、前記第1の演算増幅器の前記出力端子と前記第1の演算増幅器の前記正入力端子の間に挿入すべき抵抗素子を選択的に切り換える第2のスイッチ回路とを有する
    ことを特徴とする請求項1記載の増幅回路。
  7. 前記増幅回路は、さらに、第1の演算増幅器の前記出力端子の電圧が、所定電圧以上になることを防止する出力電圧制御回路を備えることを特徴とする請求項1記載の増幅回路。
  8. 第1の演算増幅器の前記負入力端子と第1の演算増幅器の正入力端子とに接続され、第1の演算増幅器内部の入力トランジスタのベース電流を補償するベース電流補償回路を備えることを特徴とする請求項1記載の増幅回路。
  9. 前記フォトダイオードは、光ディスクに反射されたレーザ光を受けることを特徴とする請求項1から8の何れかに1項に記載の増幅回路。
  10. 請求項1から9の何れかに1項に記載の増幅回路を備えることを特徴とする光ピックアップ。
JP2006097024A 2006-03-31 2006-03-31 増幅回路および光ピックアップ Expired - Fee Related JP4680815B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006097024A JP4680815B2 (ja) 2006-03-31 2006-03-31 増幅回路および光ピックアップ
US11/687,715 US7449670B2 (en) 2006-03-31 2007-03-19 Amplifier circuit and optical pickup device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006097024A JP4680815B2 (ja) 2006-03-31 2006-03-31 増幅回路および光ピックアップ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007274316A JP2007274316A (ja) 2007-10-18
JP4680815B2 true JP4680815B2 (ja) 2011-05-11

Family

ID=38557419

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006097024A Expired - Fee Related JP4680815B2 (ja) 2006-03-31 2006-03-31 増幅回路および光ピックアップ

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7449670B2 (ja)
JP (1) JP4680815B2 (ja)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4884018B2 (ja) * 2005-05-12 2012-02-22 パナソニック株式会社 増幅装置、および光ディスクドライブ装置
JP2007280556A (ja) * 2006-04-11 2007-10-25 Nec Electronics Corp 受光用の半導体装置、光ピックアップ装置、及び光ディスク装置
JP4734208B2 (ja) * 2006-09-29 2011-07-27 三洋電機株式会社 光ディスク用集積回路
JP4829075B2 (ja) * 2006-11-02 2011-11-30 パナソニック株式会社 受光増幅装置
JP2009094291A (ja) * 2007-10-09 2009-04-30 Panasonic Corp 光半導体装置及び赤外線データ通信装置
US7626460B2 (en) * 2007-10-30 2009-12-01 Raytheon Company Low noise, low power and high bandwidth capacitive feedback trans-impedance amplifier with differential FET input and bipolar emitter follower feedback
US20090115465A1 (en) * 2007-11-05 2009-05-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Low power, high slew rate ccd driver
US7760015B2 (en) * 2008-03-13 2010-07-20 Exar Corporation Combination offset voltage and bias current auto-zero circuit
JP2010114877A (ja) * 2008-10-06 2010-05-20 Panasonic Corp 演算増幅回路及び表示装置
JP5071467B2 (ja) * 2009-12-09 2012-11-14 Tdk株式会社 電流電圧変換回路、光学機器、及び光学ドライブ装置
TWI437293B (zh) * 2010-08-13 2014-05-11 Nat Univ Tsing Hua 具有接地共平面波導之光通信系統
US8680919B2 (en) * 2012-03-23 2014-03-25 Fujitsu Limited Impedance adjustments in amplifiers

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005175596A (ja) * 2003-12-08 2005-06-30 Sumitomo Electric Ind Ltd 光受信回路および光受信モジュール
JP2005192141A (ja) * 2003-12-26 2005-07-14 Yokogawa Electric Corp 電流増幅回路

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6450603A (en) * 1987-08-21 1989-02-27 Toshiba Corp Current amplifying circuit
JPH0766636A (ja) * 1993-08-25 1995-03-10 Sony Corp I−v変換回路
US5670775A (en) * 1995-06-23 1997-09-23 Ardac, Inc. Current-boosted positive feedback logarithmic transresistance amplifier for currency validators
JPH10256841A (ja) 1997-03-14 1998-09-25 Sony Corp フォトダイオード増幅回路
JPH11205247A (ja) * 1998-01-16 1999-07-30 Mitsubishi Electric Corp 光電変換回路
JP2003152469A (ja) * 2001-11-09 2003-05-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 差動増幅器
JP2003254850A (ja) * 2002-03-01 2003-09-10 Denso Corp 自己診断機能付きセンサ出力処理回路
JP3823892B2 (ja) * 2002-07-30 2006-09-20 ティアック株式会社 光量検出器および光ピックアップ装置
JP2007028372A (ja) 2005-07-20 2007-02-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd 受光増幅回路およびそれを用いた光ピックアップ装置
JP4646772B2 (ja) 2005-09-30 2011-03-09 パナソニック株式会社 光電流増幅回路、及び光ピックアップ装置
JP4844072B2 (ja) 2005-10-03 2011-12-21 パナソニック株式会社 受光増幅回路、及びそれを用いた光ピックアップ装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005175596A (ja) * 2003-12-08 2005-06-30 Sumitomo Electric Ind Ltd 光受信回路および光受信モジュール
JP2005192141A (ja) * 2003-12-26 2005-07-14 Yokogawa Electric Corp 電流増幅回路

Also Published As

Publication number Publication date
US20070228258A1 (en) 2007-10-04
US7449670B2 (en) 2008-11-11
JP2007274316A (ja) 2007-10-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4680815B2 (ja) 増幅回路および光ピックアップ
US7868702B2 (en) Photoreceiver/amplifier circuit, optical pickup device, and optical disk device
US5981936A (en) Photo detector circuit having a current mirror circuit
US7391265B2 (en) Amplifier unit and optical disc drive
JP4829075B2 (ja) 受光増幅装置
US7057423B2 (en) Current-voltage transforming circuit employing limiter circuit
JP2007028372A (ja) 受光増幅回路およびそれを用いた光ピックアップ装置
KR19980081512A (ko) 전류-전압변환ic 및 광-전기변환ic 및 이것을 이용한 광판독장치
US7245188B2 (en) Light receiving amplification circuit
US7714269B2 (en) Light receiving circuit
JP4696631B2 (ja) 光電流増幅回路
WO2010064442A1 (ja) 受光増幅回路および光ディスク装置
JP4230391B2 (ja) 受光アンプ素子、光ピックアップ装置、および光ディスク装置
JP4507754B2 (ja) 電流電圧変換回路および光検出回路
JP2007294492A (ja) 光電変換装置
JP4837585B2 (ja) 受光回路
JP2008306673A (ja) 増幅回路
JP2008277915A (ja) 光電変換装置
JP2013020673A (ja) 受光増幅回路及びそれを用いた光ピックアップ装置
JP2005244864A (ja) 差動アンプ回路およびそれを備えた光ピックアップ装置
JP2011108331A (ja) 増幅回路及び光ピックアップ装置
JP4680118B2 (ja) 受光増幅回路および光ピックアップ
JP2010011216A (ja) 受光増幅器
JP4068590B2 (ja) 電流電圧変換回路
JP2009044684A (ja) 増幅回路

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080611

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100602

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100608

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100803

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110118

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110203

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140210

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees