JP4585260B2 - 半導体製造装置用部品及び半導体製造装置 - Google Patents
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Description
以下、本発明の実施例を詳細に説明する。
前述した図6に示すようなプラズマエッチング装置の石英チャンバーおよび石英インシュレータに、ガス溶射法により、平均粒径が2.5μmのAl2O3粉末を使用し、燃焼ガスであるアセチレンの供給量を20L/minとし、酸素ガスの供給量を50L/minとし、Al2O3の酸化物溶射被膜を膜厚150μm一定として施した。
前述した図6に示すようなプラズマエッチング装置の石英チャンバーおよび石英インシュレータに、プラズマ溶射法により、電流500A、電圧85V、Arガス流量/圧力を100/100に設定し、平均粒径が35μmのAl2O3粉末を使用し、Al2O3の酸化物溶射被膜を膜厚150μm一定として施した。
前述した図6に示すようなプラズマエッチング装置の石英チャンバーおよび石英インシュレータに、ガス溶射法により、平均粒径が3μmのY2O3粉末を使用し、燃焼ガスであるアセチレンの供給量を20L/minとし、酸素ガスの供給量を50L/minとし、Y2O3の酸化物溶射被膜を膜厚150μm一定として施した。
前述した図6に示すようなプラズマエッチング装置の石英チャンバーおよび石英インシュレータに、プラズマ溶射法により、電流550A、電圧75V、Arガス流量/圧力を100/100に設定し、平均粒径が33μmのY2O3粉末を使用し、Y2O3の酸化物溶射被膜を膜厚150μm一定として施した。
JIS B 0601−1994で規定する算術平均粗さを表面粗さRaとした。
溶射被膜の膜厚方向に切断した断面組織を光学顕微鏡で倍率500倍で観察し、縦210μm、横270μmの視野で空孔の面積を測定し、下記(1)式から気孔率(%)として換算し、視野10箇所の平均値を気孔率として下記表1に示す。
Claims (8)
- 部品本体と、平均粒径が10μm未満の酸化物粒子の溶射により前記部品本体の表面に形成された溶射被膜とを具備する半導体製造装置用部品であって、
前記溶射被膜中の酸化物粒子の一部は未溶融のままであり、前記溶射被膜の気孔率は5%以下で、かつ前記溶射被膜の表面粗さは平均粗さRaで5μm以下であることを特徴とする半導体製造装置用部品。 - 前記酸化物粒子は溶融により結晶構造が変化するものであり、前記未溶融の酸化物粒子は溶融前の結晶構造を維持していることを特徴とする請求項1記載の半導体製造装置用部品。
- 前記酸化物粒子はAl2O3、Y 2 O 3 またはZrO 2 粒子であることを特徴とする請求項1または2記載の半導体製造装置用部品。
- 前記酸化物粒子はAl 2 O 3 粒子であり、前記未溶融の酸化物粒子はα−Al 2 O 3 粒子であり、前記溶射被膜を構成するAl 2 O 3 のうちα−Al 2 O 3 の比率が70%以上、98%以下であることを特徴とする請求項1〜2いずれか1項記載の半導体製造装置用部品。
- 前記酸化物粒子はY 2 O 3 粒子であり、前記未溶融の酸化物粒子はβ型Y 2 O 3 粒子であり、前記溶射被膜を構成するY 2 O 3 のうちβ型Y 2 O 3 の比率が70%以上、98%以下であることを特徴とする請求項1〜2いずれか1項記載の半導体製造装置用部品。
- 前記溶射被膜が超高速フレーム溶射法で形成されたものであることを特徴とする請求項1〜5いずれか1項記載の半導体製造装置用部品。
- 前記酸化物粒子の平均粒径が2.5μm以上、3μm以下であることを特徴とする請求項1〜6いずれか1項記載の半導体製造装置用部品。
- 請求項1〜7に記載の半導体製造装置用部品を備えたことを特徴とする半導体製造装置。
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Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000219574A (ja) * | 1999-01-27 | 2000-08-08 | Taiheiyo Cement Corp | 耐蝕性部材 |
JP2001308011A (ja) * | 2000-04-18 | 2001-11-02 | Ngk Insulators Ltd | 半導体製造装置用チャンバー部材 |
JP2002293630A (ja) * | 2001-03-29 | 2002-10-09 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 耐プラズマ性部材およびその製造方法 |
JP2002348653A (ja) * | 2001-03-21 | 2002-12-04 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 希土類酸化物溶射用粒子、溶射部材および耐食性部材 |
JP2003055050A (ja) * | 2001-08-20 | 2003-02-26 | Nihon Ceratec Co Ltd | 酸化イットリウム質部材 |
JP2003212598A (ja) * | 2001-11-13 | 2003-07-30 | Tosoh Corp | 石英ガラス部品及びセラミック部品並びにそれらの製造方法 |
JP2004003022A (ja) * | 2003-05-19 | 2004-01-08 | Tocalo Co Ltd | プラズマ処理容器内部材 |
JP2004241203A (ja) * | 2003-02-04 | 2004-08-26 | Hitachi High-Technologies Corp | プラズマ処理室壁処理方法 |
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---|---|---|---|---|
JPS62109960A (ja) * | 1985-11-08 | 1987-05-21 | Toshiba Corp | プラズマ溶射被覆耐熱部材 |
JPH0726187B2 (ja) * | 1986-12-24 | 1995-03-22 | トヨタ自動車株式会社 | 断熱溶射層の形成方法 |
JPH10226869A (ja) * | 1997-02-17 | 1998-08-25 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | プラズマ溶射法 |
JPH10236871A (ja) * | 1997-02-26 | 1998-09-08 | Kyocera Corp | 耐プラズマ部材 |
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000219574A (ja) * | 1999-01-27 | 2000-08-08 | Taiheiyo Cement Corp | 耐蝕性部材 |
JP2001308011A (ja) * | 2000-04-18 | 2001-11-02 | Ngk Insulators Ltd | 半導体製造装置用チャンバー部材 |
JP2002348653A (ja) * | 2001-03-21 | 2002-12-04 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 希土類酸化物溶射用粒子、溶射部材および耐食性部材 |
JP2002293630A (ja) * | 2001-03-29 | 2002-10-09 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 耐プラズマ性部材およびその製造方法 |
JP2003055050A (ja) * | 2001-08-20 | 2003-02-26 | Nihon Ceratec Co Ltd | 酸化イットリウム質部材 |
JP2003212598A (ja) * | 2001-11-13 | 2003-07-30 | Tosoh Corp | 石英ガラス部品及びセラミック部品並びにそれらの製造方法 |
JP2004241203A (ja) * | 2003-02-04 | 2004-08-26 | Hitachi High-Technologies Corp | プラズマ処理室壁処理方法 |
JP2004003022A (ja) * | 2003-05-19 | 2004-01-08 | Tocalo Co Ltd | プラズマ処理容器内部材 |
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