JP4552715B2 - 導電性基体の洗浄処理方法 - Google Patents
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Description
本実施形態においては、以下に説明する装置を用いて、平均直径が0.1μm〜100μmの気泡を含む水系処理液を導電性基体の表面に接触させる。
次に、本発明の電子写真感光体の実施形態について説明する。本発明の電子写真感光体は、上述の本発明の導電性基体の処理方法によって得られた導電性基体と、この基体上に設けられた感光層と、を備えて構成される。
図3は、本発明の画像形成装置の好適な一実施形態を示す模式図である。図3に示す画像形成装置200は、画像形成装置本体(図示せず)に、上記本発明の電子写真感光体1を備えるプロセスカートリッジ220と、露光装置230と、転写装置240と、中間転写体250とを備える。なお、画像形成装置200において、露光装置230はプロセスカートリッジ220の開口部から電子写真感光体1に露光可能な位置に配置されており、転写装置240は中間転写体250を介して電子写真感光体1に対向する位置に配置されており、中間転写体250はその一部が電子写真感光体1に当接可能に配置されている。
アルミニウム素管(A1050)をダイヤモンドバイトで鏡面切削加工することにより、厚さ0.75mm×外径30mm×長さ340mm、表面粗さRaが0.03〜0.04μmの円筒状の導電性基体を作製した。
脱脂処理は、2つの洗浄槽で順次行った。先ず、2つの洗浄槽を用意し、それぞれの洗浄槽には、底部より界面活性剤をイオン交換水に溶解させた洗浄液を供給し、上部からオーバーフローさせた。界面活性剤としては、非イオン性界面活性剤(ライオン(株)製、商品名「LH−600F」)を用い、洗浄液中の界面活性剤の濃度は、第1の洗浄槽では10〜20質量%とし、第2の洗浄槽では1〜2質量%とした。また、洗浄液のイオン交換水としては、電気伝導度が0.1μS/cm以下のものを使用した。
濯ぎ処理は、2つの濯ぎ槽で順次行った。先ず、2つの濯ぎ槽を用意し、第1の濯ぎ槽には、底部より、電気伝導度が0.1μS/cm以下のイオン交換水を供給し、上部からオーバーフローさせ、第2の濯ぎ槽には、底部より、温純水を供給し、上部からオーバーフローさせた。
上記濯ぎ処理工程後の導電性基体の表面を、湿式ホーニング装置を用いて粗面化した。この粗面化処理は、研磨材としての粒径35μmの酸化アルミニウム(昭和タイタニウム社製、アルナビーズ「CB−A35S」)5.7kgを水51Lに懸濁させた懸濁液を、10L/minの流量でガンに送り込み、0.1〜0.2MPaの圧縮空気圧で導電性基体の表面に吹きつけることにより行った。なお、粗面化処理は、基体の表面粗さRaが0.1〜0.3μmになるようにした。また、基体の表面に形成される凹凸の山間の平均距離Sm(JIS B0601−1994に基づいて測定)は、65μmであった。
上記粗面化処理工程後の導電性基体に対し、以下の方法でスクラブ処理を行った。先ず、基体に井戸水を25L/分の割合で60秒間吹きかけた。その後、0.2質量%の非イオン性界面活性剤(ライオン(株)製、商品名「LH−600F」)水溶液を2L/分の割合で吹きかけながら、押付けブラシを用いてスクラブ処理を行った。押付けブラシは、棒状の軸部材と、軸部材に放射状に取り付けられる多数のナイロン製ブラシとから構成されるものを用い、ブラシの線径は65μm、ブラシ部分の外径は130mm、ブラシ部分の長さは30mmとした。そして、スクラブ処理は、押付けブラシの軸部材が基体の回転軸と平行になるように且つブラシの先端が基体の表面に接触するように押付けブラシを配置し、基体及び押付ブラシの回転方向を同じ方向とし、回転速度を100rpmにして60秒間行った。
精密洗浄は4つの精密洗浄槽で順次行った。先ず、4つの精密洗浄槽を用意し、各洗浄槽には、底部よりイオン交換水を供給し、上部からオーバーフローさせた。さらに、第1の洗浄槽には、マイクロバブル発生器を設けてマイクロバブルが含まれるイオン交換水を供給した。このときのバブル流量は、20L/分とした。イオン交換水に含まれる気泡の面積平均直径は15μmであり、気泡の最頻値は15μmであった。なお、気泡の面積平均直径の測定及び最頻値の測定は、以下の方法により行った。先ず、気泡を含むイオン交換水が供給されている精密洗浄槽のバブル発生の位置からイオン交換水を10ml採取した。次に、採取したイオン交換水を、堀場社製レーザ回折/散乱式粒度分布測定装置LA300にて気泡粒度の測定を行いた。なお、測定装置の分解能は0.1μmである。また、洗浄槽内のイオン交換水の温度及び測定時のイオン交換水温度は20℃とした。この測定結果から、気泡の面積平均直径と、個数の最大値を示す直径を最頻値として求めた。
上記精密洗浄処理工程後の導電性基体を、クリーン度100に保たれた乾燥室で135℃の熱風(風速0.5m/s)を1.5分吹付けることにより乾燥させた。次に、この基体をクリーン度100に保たれた調温室に搬送し、23℃のエアー(風速0.5m/s)を300秒吹き付けることにより冷却を行った。
上記乾燥処理工程を経た導電性基体上に、以下の手順で下引層、電荷発生層及び電荷輸送層を形成し、電子写真感光体を作製した。
精密洗浄処理工程において、第1の洗浄槽の洗浄液中に含まれる気泡の面積平均直径が5μmの範囲内となり、気泡の直径の最頻値が5μmとなるようにマイクロバブル発生器を調節したこと以外は実施例1と同様にして、実施例2の電子写真感光体を作製した。
精密洗浄処理工程において、各精密洗浄槽に超音波発振器を設けて、洗浄中に常時超音波が印加されるようにしたこと以外は実施例1と同様にして、実施例3の電子写真感光体を作製した。
精密洗浄処理工程において、気泡を含むイオン交換水の供給を行わなかったこと以外は実施例1と同様にして、比較例1の電子写真感光体を作製した。
精密洗浄処理工程において、マイクロバブル発生器によって気泡を含むイオン交換水を供給する代わりに、エアストンを通じて圧力空気を洗浄槽内に送り込むことによりのイオン交換水中に気泡を供給したこと以外は実施例1と同様にして、比較例2の電子写真感光体を作製した。なお、イオン交換水中に供給された気泡は、最小の直径が1mm程度であり、洗浄槽中で成長したもので1cm程度となっており、気泡を保持した状態でのサンプル採取ができないため前記堀場社製レーザ回折/散乱式粒度分布測定装置LA300では計測できないものであった。
実施例1〜3、比較例1及び2の電子写真感光体、それぞれ1000本について、CCDカメラと顕微鏡とからなる表面欠陥評価装置を用いて電子写真感光体表面における直径が20μm以上の異物の有無を確認し、20μm以上の異物が認められた電子写真感光体の割合(欠陥発生率)を算出した。得られた結果を表1に示す。
実施例1〜3、比較例1及び2の電子写真感光体のうち、上記表面欠陥が見られなかったものを5本選択し、これらの電子写真感光体をマルチファンクションナルプリンター(富士ゼロックス社製、「Able−3321」:接触帯電ロールを備える接触帯電方式)に搭載し、中間調濃度を含む画像を連続50000枚出力する試験を行った。連続50000枚出力後の出力画像に、ハーフトーン画像のムラ、白点又は黒点の発生が見られた場合を、表1の画質欠陥の有無の欄に「あり」で示し、ハーフトーン画像のムラ、白点又は黒点の発生が見られなかった場合を「なし」で示した。
Claims (4)
- 感光層が形成されて電子写真感光体となるべき導電性基体の洗浄処理方法であって、
面積平均直径が0.1μm〜100μmの気泡を含む水系処理液を、前記導電性基体の表面に接触させる工程を備えることを特徴とする導電性基体の洗浄処理方法。 - 前記水系処理液中に含まれる気泡の直径の最頻値が0.1μm〜100μmにあること特徴とする請求項1に記載の導電性基体の洗浄処理方法。
- 前記工程において、超音波を印加しつつ前記水系処理液を導電性基体の表面に接触させることを特徴とする請求項1又は2に記載の導電性基体の洗浄処理方法。
- 前記導電性基体の表面が粗面化されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の導電性基体の洗浄処理方法。
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