JP4542259B2 - X線ctシステム及びx線診断装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明はX線CTシステム及びX線像診断装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
被検体のX線像を得て診断若しくは検査する場合において、被検体内に金属等の物質が存在すると診断の妨げになる。被検体内に金属が存在するのは、いくつかの要因がある。特に、被検体が人体の場合には、代表的なものとしては、接骨するための機具を埋め込んだり、金属製入れ歯、食物等に金属が含まれていた場合である。また、産業用X線検査の分野では、形成した材料、食料、製品、コンベアを流れる材料、食料から金属或いは異物あるいは欠陥を検出する場合にも使用される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
X線CT(Computerized Tomography)システムにおいては、ガントリ装置と呼ばれる、X線管とX線検出器が被検体を挟んで回転する装置を有する。この回転によって、異なるX線照射角度における被検体を透過したX線をX線検出器で検出することにより、X線断層像を再構成することになる。
【0004】
かかるシステムにおいて、金属等のX線吸収率が極端に高い物質が被検体内に存在すると、再構成されるX線断層像上にアーチファクトと呼ばれるノイズとなって顕れ、診断の大きな妨げになる。
【0005】
したがって、被検体内に金属が存在するか否か、存在する場合にはどの位置に存在するかを予め把握することができれば、診断に役立てることができるばかりか、X線断層像を再構成する処理にもそれを用いて最適な再構成処理を施すことが可能になり、非常に有益となる。また、産業用X線検査の分野では、材料、食料、製品の中の金属、異物、欠陥を検出する上で有益である。
【0006】
本発明はかかる課題に鑑みなされたものであり、被検体内に金属が含まれるか否かを高い精度で検出し、最適な再構成処理を施すことを可能ならしめるX線CTシステム及びX線診断装置を提供しようとするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
この課題を解決するため、本発明のX線CTシステムは、以下の構成を備える。すなわち、被検体のX線断層像を撮影するX線CTシステムにおいて、前記被検体のスカウト像を撮影するスカウトスキャン及び前記X線断層像を得るための本スキャンを行うスキャン手段と、前記スカウト像に基づいて、前記本スキャンの範囲に金属が含まれるか否かを判断する判断手段と前記判断手段によって判断された結果に基づいて、前記本スキャンによって得られたデータを用いたX線断層像の金属アーチファクト除去アルゴリズムに従った再構成処理又は金属アーチファクト除去アルゴリズムを用いない再構成処理を行う再構成手段とを備える。
また、本発明のX線診断装置は以下の構成を備える。すなわち、被検体を透過したX線を検出して前記被検体内の金属物の有無を診断するX線診断装置であって、X線吸収率を示す、前記被検体の二次元X線像を入力する入力手段と、入力した二次元X線像の低周波成分或いは背景成分を、所定のフィルタを用いることで除去する除去手段と、前記入力手段で入力した二次元X線像から、前記除去手段で得られた二次元X線像を減じ、所定閾値と比較することで2値化する2値化手段と、該2値化手段で得られた2値画像の有意なビットの連続する領域毎に、当該領域の特徴パラメータを抽出するパラメータ抽出手段と、該パラメータ抽出手段で得られた特徴パラメータに基づき、各領域が金属物であるか否かを判断する判断手段とを備える。
【0008】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面に従って本発明に係る実施形態を詳細に説明する。
【0009】
なお、実施形態ではX線診断装置としてX線CTシステムに適用した例を説明する。
【0010】
図1は、実施形態におけるX線CTシステムのブロック構成図である。図示の如く、システムは、被検体へのX線照射と被検体を透過したX線を検出するためのガントリ装置100と、ガントリ装置100に対して各種動作設定を行うと共に、ガントリ装置100から出力されてきたデータに基づいてX線断層像を再構成し、表示する操作コンソール200により構成されている。
【0011】
ガントリ装置100は、その全体の制御を司るメインコントローラ1を始め以下の構成を備える。
【0012】
2は操作コンソール200との通信を行うためのインタフェース、3はテーブル12上に横たえた被検体(被検者)を搬送するための空洞部を有するガントリであり、内部には、X線発生源であるX線管4(X線管コントローラ5により駆動制御される)、X線の照射範囲を画定するスリットを有するコリメータ6が設けられている。
【0013】
また、ガントリ3には、被検者を透過したX線を検出する検出素子が図示の如くガントリの空洞部の円周に沿って複数個(概ね1000個)を有するX線検出器である検出部8、及び検出部8より得られたデータを収集するデータ収集部9も備える。X線管4と検出部8は互いに空洞部分を挟んで対向する位置に設けられ、その関係が維持された状態でガントリ3に保持され回動するようになっている。この回動は、モータコントローラ11からの駆動信号により駆動される回転モータ10によって行われる。また、被検体を乗せるテーブル12は、被検体の体軸方向(Z軸方向)の搬送がなされるが、その駆動はテーブルモータ13によって行われる。なお、検出部8は、検出素子が1列、或いは多列のいずれでも構わない。1列の検出素子群で構成されるシステムをシングルスライスX線CTシステムと言い、多列の場合をマルチスライスX線CTシステムと言う。実施形態では、説明を簡単にするため、シングル紙スライスX線CTシステムとして説明する。
【0014】
メインコントローラ1は、I/F2を介して受信した各種コマンドの解析を行い、それに基づいて上記のX線管コントローラ5、モータコントローラ11、テーブルモータコントローラ14に対し、各種制御信号を出力することになる。また、メインコントローラ1は、データ収集部9で収集されたデータを、I/F2を介して操作コンソール200に送出する処理も行う。
【0015】
一方、操作コンソール200は、所謂ワークステーションであり、図示に示す如く、装置全体の制御を司るCPU51、ブートプログラムやBIOSを記憶しているROM52、主記憶装置として機能するRAM53を始め、以下の構成を備える。
【0016】
HDD54は、ハードディスク装置であって、ここにOS、ガントリ装置100に各種指示を与えたり、ガントリ装置100より受信したデータに基づいてX線断層像を再構成するための診断プログラム、更に、詳細については後述する条件テーブルが格納されている。
【0017】
VRAM55は表示しようとするイメージデータを展開するメモリであり、ここにイメージデータ等を展開することでCRT56に表示させることができる。57及び58は、各種設定を行うためのキーボード及びマウスである。また、59はガントリ装置100と通信を行うためのインタフェースである。
【0018】
さて、上記構成におけるX線CTシステムにおいて、被検体をテーブル12上に横たえさせ、設定したスケジュール(被検体の搬送方向に対して、どの範囲の断層像をどのようにして再構成するか等)に従って、テーブル12の搬送、ガントリ3の回転、X線管4の駆動を行うことになるが、一般に、それ以前に、そのスケジュールを決めるのスカウトスキャンと呼ばれる位置決用めX線画像を得る処理を行う。
【0019】
スカウトスキャンとは、ガントリ装置100におけるX線管4が被検体の例えば真上に位置した状態のまま、すなわち、ガントリ3を固定にしたままX線テーブル12をZ軸方向に移動させるスキャンである。より詳しくは、テーブル12の移動中、X線管4を駆動し、検出部8より1次元の透過X線強度を順に得、それを連続して得ることで被検体の二次元X線透過像を得るスキャンを言う。
【0020】
本実施形態では、このスカウトスキャンを利用し、被検体内の金属部分を検出処理を行う。
【0021】
図2は、スカウトスキャンによって得られた被検体のX線透過像(スカウト像という)の例である(操作コンソール200のRAM53上に格納される)。図示において、縦軸はZ軸(被検体の搬送方向)で、横軸はX線検出部8の各検出素子の位置に対応するものである。但し、検出素子から信号を得る際に通常はチャンネル毎に信号を得ることから、図示ではチャネルchで示した。また、検出素子より得られる信号はアナログ信号であるので、これをA/D変換してデジタルデータにし、各チャネルのデジタルデータを例えば8ビットに量子化する。つまり、図示の二次元X線透過像の各画素は0〜255の範囲の値を持つことになる。
【0022】
図3(a)は図2におけるZ軸方向の位置Ziにおけるデータを示している(縦軸はX線減衰率、横軸は上記のチャネルである)。
【0023】
図示において、A、Bは他の部分とくらべてX線減衰率が大きいことを示している。ただし、生体の場合、骨は他の組織と比較してX線減衰率が大きく、それがたまたま重なっている場合には、より大きな減衰率となって顕れるので、かかる減衰率の大きい部位が、金属物が存在すると断定することはできない。
【0024】
本実施形態では、スカウトスキャンによって得られた二次元X線像に基づき、いくつかの特徴パラメータを抽出し、それぞれの特徴パラメータが予め設定された条件に合致するとき、その部位は金属として認定するようにした。
【0025】
この処理を実現するため、実施形態では、まず、X線減衰率の大きい部位とそうでない部位を識別するための2値画像の生成処理を行う。次いで、その2値画像から、特徴パラメータを抽出する処理を行う。最後に、得られた特徴パラメータと予め設定された条件との照合を行い、金属の有無の判定を行うこととした。以下、順を追って詳細に説明する。
【0026】
<2値画像の生成>
X線減衰率(吸収率)の大きい部位(画素)とそうでない部位(画素)を区別するため、実施形態では、次の様にした。
【0027】
まず、RAM53上に作成されたスカウト像に対し、最小値フィルタを用いてフィルタリング処理を行う。最小値フィルタは例えば5×5画素ブロックサイズのフィルタであって、25画素中の最小値を注目画素(5×5の画素ブロックの中心画素)の出力値とするものである。フィルタリング処理は、このフィルタ処理を画像内をラスタースキャン順に1画素ずつずらして行うものである。
【0028】
スカウト像全体に対してこのフィルタ処理を行って1次最小値フィルタ処理像を得る。次いで、この1次最小値フィルタ処理像に対して、再び最小値フィルタ処理を行って2次最小値フィルタ処理像を得る。以下、この最小値フィルタ処理を所定回数(n回)繰り返す。
【0029】
この処理を行うと、図3(a)から図3(b)のようなn次最小値フィルタ処理像のデータを得ることができ、X線減衰率の大きい部位を除去することができる。
【0030】
次いで、n次最小値フィルタ処理像に対して、最大値フィルタ処理をn回行う。最大値フィルタとは、5×5の画素ブロックの中の最大値を、その注目画素(中心画素)の出力値とするものであり、画像内をラスタースキャンし1画素ずつずらしながら行うものである。n回最大値フィルタ処理像のZ軸の位置Ziにおけるデータは、図3(c)に示す様な状態になるのは容易に理解できよう。すなわち、スカウト像のX線減衰率の高周波成分の変化を除去することになる。
【0031】
さて、本実施形態では、上記のようにして生成されたn次最大値フィルタ像を、RAM53に格納されているスカウト像から減算する。例えば、図3(a)のスカウト像のZi位置における1次元データから、図3(c)の1次元データを減じると、図4に示す様なデータを得る、すなわち、低周波成分或いは背景画像を除去し、高周波成分が残るようにすることができる。
【0032】
この結果に対し、予め設定された閾値Thを当てはめ、閾値Thを越える画素に“1”、閾値以下の画素に“0”にする。これを全スカウト像に対して行うことで、図5に示す様なX線吸収率の大きい部分(その画素値が有意、すなわち、“1”)のみを抽出することに成功する。すなわち、X線吸収率の大きい画素の連続する領域を含んだ2値画像の生成が完了する。
【0033】
<特徴パラメータを抽出>
上記のようにして得られた2値画像中の有意(画素値が“1”)の中より連続領域を抽出する領域番号付け(ラベリング)処理を行う。図5では、4つの領域が発生していることを示している。ラベル付けは、ラスタースキャン順に行われる。
【0034】
そして、各ラベル付け領域(ラベル“1”〜“4”のそれぞれの領域)に対し、面積、フェレ径、面積率、画素値の総和、円形度、フェレ径比、楕円近似した長径・短径の特徴パラメータを抽出(算出)する。各パラメータの意味は図8を参照して説明すると次の通りである。なお、以下において「連続領域」とは「ラベル付けされた領域」を示すものである。
面積:連続領域の画素数S、
フェレ径:連続領域の外接矩形の近接する2辺(高さと幅)、Lx、Ly
面積率:S/(Lx・Ly)(外接矩形面積に対する連続領域の面積の比率)、
画素値の総和:連続領域に対応する、スカウト像内の各画素値の和
円形度:4πS/(周囲長さ2) (周囲長は「輪郭線検出」論理フィルタ処理後にヒストグラム測定により求められる。)
フェレ径比:Lx/Ly
楕円近似長径・短径: 楕円近似した際の長径と短径
上記において、円形度における「周囲長」の算出の仕方は、2値画像の該当する領域に“輪郭線抽出”論理フィルタ処理を行い、ヒストグラム測定することで実現できる。論理フィルタ処理としては、例えば3×3画素サイズとしたとき、「中央画素が“1”であって、且つ、その周囲の8画素のうち、周辺の少なくとも1つが“0”となっている」という条件を満たす場合に中央画素の値を“1”にする(条件を満たさない場合には中央画素の値を“0”にする)。この論理フィルタ処理を行うと、結局のところ、2値画像の“1”となっている領域の外周の画素のみが“1”となり、その領域内及び領域外は共に“0”となる。従って、この“1”となっている画素数を計数することで周囲長を得ることができる。なお、周囲長を算出する方法として、文献:「デジタル画像処理」Rosonfeld ,Kak 近代科学社出版 第9章の9.2の「面積と周囲長」を挙げることができる。
【0035】
また、楕円近似長径・短径を算出する方法を図9を参照しながら説明する。
【0036】
まず、その連続領域(仮にRsと名づける)の重心G(Gx,Gy)を次のようにして求める。
【0037】
Gx=Σx・Rs(x、y)/N (xについての積和)
Gy=Σy・Rs(x,y)/N (yについての積和)
ここで、Rs(x、y)は2値化後の領域Rs内の画素値(領域Rs(x,y)=“1”)であり、Nは領域の画素数である。
【0038】
次いで、この領域Rsを楕円に近似したとき、その2次モーメントによる主軸(長径の方向)と水平軸との角度θを求める。楕円の主軸と水平軸との角度θの求め方は、例えば文献「画像解析ハンドブック」(高木・下田監修;東大出版会)に示される手法を用いれば良い。こうして、先に求めた重心Gを中心として、求められた角度θだけその近似楕円を逆回転させることで主軸と水平軸とを一致させる。回転後の座標系(図示の*1式)において、画素値が“1”となっている画素をRs(x'、y')と表現すると、長径Ll及び短径Lsは以下のようにして求められる。
【0039】
Ll=(Σx'2・Rs(x'、y')/N)1/2 (x'についての積和)
L2=(Σy'2・Rs(x'、y')/N)1/2
(y'についての積和)
<金属の有無の判定>
さて、上記のようにして、スカウト像からX線吸収率の大きい領域の抽出し、或る面積以上の連続領域それぞれの領域に対する特徴パラメータの抽出(算出)が終えると、得られた特徴パラメータに従い、それぞれの領域における金属物の有無の判定を行うことになる。
【0040】
ただし、検出対象の金属物の種類に応じて、金属か否かの判断基準を適宜調整する必要がある。例えば、被検体が生体であって、その頭部のX線断層像を得ようとしている場合には、金属製の入れ歯が主な対象となるし、腹部であれば食物等に含まれる微小の金属片がその対象になる。
【0041】
そこで、本実施形態では、本スキャン(X線断層像を得るためのスキャン)のスケジュール設定において、被検体のどの部位をスキャンするのかに応じて、金属物の有無の判定のための条件を切り替えるようにした。
【0042】
図6は、この判定のための条件テーブルであって、HDD54内にファイルとして記憶されているものである。図示に示す如く、条件テーブルは複数種類存在し、スカウト像を表示して、技師(若しくは医師)がスキャンする部位(Z軸のスキャンする範囲)を指定した際に、いずれかの条件テーブルが選択されるようにする。
【0043】
さて、本スキャンのスケジュールが設定され、どの部位をスキャンするかが決まると、その決定された部位に応じて、条件テーブルの1つがHDD54から読み込まれる。例えば、図6における一番手前の条件テーブルが読み込まれたとすると、次のようになる(図示のT0〜T12は、スキャンする部位(もしくは対象毎に予め設定されている)。
【0044】
まず、1つのラベル付けされた領域の特徴パラメータ(実施形態では7つ)が読み込まれた条件テーブルの条件を全て満足するかを判断する。例えば、或るラベル付けされた領域から得られた面積SがT0≦S≦T1を満足し、フェレ径Lx(及びLy)が、T2≦Lx(及びLy)≦T3を満足し、…と、7つの条件全てを満足するかを判断する。そして、全条件を満足するとき、注目のラベル付けされた領域は金属物であると判断する。この処理を、全ラベル付けされた領域に対して行う。
【0045】
そして、本スキャンのスケジュールの設定で行われたZ軸方向の或る一定スキャン範囲内に、金属物であると判断されたラベル付け領域が含まれるとき、金属によるアーチファクト除去アルゴリズムを用いたX線断層像の再構成処理を行うようにする。
【0046】
なお、本願発明は、金属物の検出処理にその特徴がある。すなわち、金属アーチファクト除去アルゴリズム自身は本願発明とは直接は関係がないし、単に本願発明の適用例を示しているに過ぎない。ただし、金属アーチファクト除去アルゴリズムに関する技術については、特開平2000−83946号として既に本願出願人が提案しているものを採用するものとする。
【0047】
<全体の処理の流れ>
以上であるが、上記処理の具体的な手順を示すと、図7に示すフローチャートになる。なお、同フローチャートにかかるプログラムは、操作コンソール200内のHDD54に格納されており、RAM53にロードされ実行されるものである。
【0048】
まず、ステップS1において、ガントリ装置100に対し、X線管4を被検体の真上に位置させ(検出部8を真下に位置させ)、その位置でテーブル12の搬送と、X線管4の駆動を行うことでスカウトスキャンを行わされるための指示コマンドを発行し、開始させる。この結果、ガントリ装置100からは二次元のスカウト像データ(1画素当たり8ビット)が送られてくるので、それを受信し、RAM53の所定領域に格納する。
【0049】
次いで、ステップS2に進み、RAM53に格納されたスカウト像について、n回の最小値フィルタ処理を行う。次いで、ステップS3において、最大値フィルタ処理をn回行う。これら最小値フィルタ処理、最大値フィルタ処理は先に説明した通りである。
【0050】
ステップS4では、上記のようにして得られたフィルタ処理後の画像データを、スカウト像から減じ、ステップS5で閾値と比較することで2値化する。そして、ステップS6では、2値化後の画像データ(2値画像データ)の“1”となって連続して存在する領域に領域番号付け(ラベリング)処理を行い、ステップS7で、各ラベル付けされた領域から特徴パラメータ(実施形態では7つ)を抽出(或いは算出)する。
【0051】
次いで、ステップS8に進み、本スキャンのスケジュールの設定(ガントリ3の回転によるX線断層像を得るための設定)を行う。なお、ステップS2〜ステップS7までは、操作コンソール200の内部処理であるので、操作者(技師もしくは医師)にとっては、スカウトスキャンの開始指示(ステップS1)すると、その結果のスカウト像がステップS8で表示され、スケジュールの設定画面に進むかのように見える。操作者は、このスケジュールの設定で、X線断層像を得ようとする部位の指定(例えば頭部、胸部、腹部、手、足等)と、そのZ軸における範囲の指定を行うことになる。
【0052】
スケジュールの設定が終了し、本スキャンの開始指示が行われると、処理はステップS9に進み、HDD54に格納されている条件テーブル群の中の対応するテーブルを読み込む。
【0053】
次いで、ステップS10に進み、ラベル付けされた各領域毎の金属の有無の判断処理を、読み込んだテーブルを参照して行い、且つ、金属物であると判断された領域が、本スキャンの範囲に含まれるか否かを判断する。
【0054】
もし、本スキャンの範囲内に、金属物が含まれると判断した場合には、ステップS11に進み、金属アーチファクト除去アルゴリズムによるX線断層像の再構成処理を行うように設定する。また、本スキャンの範囲内に、金属物が含まれないと判断した場合には、通常の再構成処理を行うべく、ステップS11の処理はスキップする。
【0055】
ステップS12に進むと、ガントリ装置100に対して、設定されたスケジュールに従いスキャンを行わせるべく、各種指示コマンドを発行し、ステップS13において、ガントリ装置100より転送されてきたデータに基づくX線断層像の再構成処理を行う。なお、ステップS11を経た場合、この再構成処理は金属アーチファクト除去アルゴリズムに従って処理することになる。
【0056】
以上説明したように本実施形態によれば、被検体の部位毎に、最適な条件で金属物の有無を検出することが可能になる。従って、X線断層像を得るX線CTシステムに適用すれば、金属アーチファクトの除去する処理を適切な部位に適用させることができ、再構成されるX線断層像の信頼性を高めることができる。
【0057】
なお、上記実施形態では、最小値フィルタ処理及び最大値フィルタ処理の繰り返し回数をn回としたが、この回数を操作者が適宜設定できるようにしてもよい。また、2値化する際の閾値も操作者が自由に設定できるようにしてもよい。
【0058】
いずれの場合であっても、1回のスカウトスキャンした後の画像に対して、何度でも修正することが可能であり、被検体に対する負担はかからない。一例として挙げるのなら、スカウト像と2値画像を並べて表示し、意図した2値画像になるまで、上記回数、閾値を調整するようにすれば良い。
【0059】
また、条件テーブルの内容も自由に編集、追加、削除が行えるようにしても良い。例えば、例えば金属製入れ歯を検出する場合にはその多きは大人と子供では異なるので、適宜、判断基準値(T1〜T14)を修正できるようにすることが望まれる。
【0060】
また、上記実施形態では、金属物の検出する装置として、X線CTシステムに適用する例を示したが、本願発明の思想を逸脱しない限りは、他のシステム(例えば、アンギオ装置)でも構わない。特に、産業用分野の食品検査用、材料検査用、製品検査用のラインセンサX線システムにおいて金属物、異物、欠陥を含む製品、材料、食品を検査したら、それをはねる(除去)するようなシステムにおいても有効である。
【0061】
また、実施形態における処理のほとんどは、操作コンソール200側で行われ、その処理の大部分はソフトウェアで実現できるものである。従って、本願発明は、ソフトウェアを装置に組み込むことで実現できることになる。
【0062】
さらにまた、実施形態では、フィルタ処理におけるフィルタのサイズを5×5画素サイズとして説明したが、3×3でもそれ以外であっても構わない。
【0063】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、被検体内に金属が含まれるか否かを高い精度で検出、最適な再構成処理を施すことが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態におけるX線CTシステムのブロック構成図である。
【図2】実施形態におけるスカウト像の例を示す図である。
【図3】実施形態におけるフィルタ処理の概念を示す図である。
【図4】スカウト像データ中の1ラインからフィルタ処理後の像の1ラインのデータを減じた例を示す図である。
【図5】実施形態における2値画像の例を示す図である。
【図6】実施形態における条件テーブルの格納状態を示す図である。
【図7】実施形態における動作処理手順を示すフローチャートである。
【図8】実施形態における特徴パラメータの面積、フェレ径を示す図である。
【図9】実施形態における楕円近似による長径・短径の算出方法を示す図である。
Claims (7)
- 被検体のX線断層像を撮影するX線CTシステムにおいて、
前記被検体のスカウト像を撮影するスカウトスキャン及び前記X線断層像を得るための本スキャンを行うスキャン手段と、
前記スカウト像に基づいて、前記本スキャンの範囲に金属が含まれるか否かを判断する判断手段と
前記判断手段によって判断された結果に基づいて、前記本スキャンによって得られたデータを用いたX線断層像の金属アーチファクト除去アルゴリズムに従った再構成処理又は金属アーチファクト除去アルゴリズムを用いない再構成処理を行う再構成手段と
を備えることを特徴とするX線CTシステム。 - 前記判断手段は、
前記スカウト像を入力する入力手段と、
前記入力手段で入力したスカウト像の低周波成分或いは背景成分を、所定のフィルタを用いることで除去する除去手段と、
前記入力手段で入力したスカウト像から、前記除去手段で得られたスカウト像を減じ、所定閾値と比較することで2値化する2値化手段と、
該2値化手段で得られた2値画像の有意なビットの連続する領域毎に、当該領域の特徴パラメータを抽出するパラメータ抽出手段とをさらに備え、
該パラメータ抽出手段で得られた特徴パラメータに基づき、各領域が金属物であるか否かを判断するものである
ことを特徴とする請求項1に記載のX線CTシステム。 - 前記除去手段は、n×n画素サイズの領域内の最小値を、中心画素の値として出力する最小値フィルタ処理手段と、n×n画素サイズの領域内の最大値を、中心画素の値として出力する最大値フィルタ処理手段と、前記最小値フィルタ手段及び前記最大値フィルタ処理手段の順に、それぞれを所定回数繰り返し実行する制御手段とを含むことを特徴とする請求項2に記載のX線CTシステム。
- 前記特徴パラメータには、有意なビットの連続領域毎の面積、フェレ径、面積率、画素値の総和、円形度、フェレ径比、楕円近似長径・短径のうち少なくとも1つが含まれることを特徴とする請求項2又は請求項3に記載のX線CTシステム。
- 前記判断手段は、前記本スキャンを行う前記被検体の部位に応じて判断基準を変更することを特徴とする請求項1ないし請求項3の何れか一項に記載のX線CTシステム。
- 前記スカウト像は、X線CTシステムにおいて、ガントリの回動を停止した状態で、被検体を搬送することで撮影されたものであることを特徴とする請求項1ないし請求項5の何れか一項に記載のX線CTシステム。
- 請求項1ないし請求項5の何れか一項に記載のX線CTシステムにおける判断に用いられるプログラムコードを記憶する記憶媒体であって、
前記スカウト像を入力する入力工程のプログラムコードと、
前記入力工程で入力したスカウト像の低周波成分を、所定のフィルタを用いることで除去する除去工程のプログラムコードと、
前記入力工程で入力したスカウト像から、前記除去工程で得られたスカウト像を減じ、所定閾値と比較することで2値化する2値化工程のプログラムコードと、
該2値化工程で得られた2値画像の有意なビットの連続する領域毎に、当該領域の特徴パラメータを抽出するパラメータ抽出工程のプログラムコードと、
該パラメータ抽出工程で得られた特徴パラメータに基づき、各領域が金属物であるか否かを判断する判断工程のプログラムコードと
を格納することを特徴とする記憶媒体。
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