JP4485831B2 - アーク放電型真空成膜装置および成膜方法 - Google Patents

アーク放電型真空成膜装置および成膜方法 Download PDF

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本発明は、アーク放電によって生成されたプラズマを蒸発材料に照射して加熱し、蒸発材料から蒸発した粒子によって基板表面に薄膜を形成するアーク放電型真空成膜装置および成膜方法に関する。
図3は従来のプラズマ成膜装置の概略構成図である。従来のプラズマ成膜装置31はプラズマチャンバー32と成膜チャンバー33とで構成されている。プラズマチャンバー32は、円筒状の真空容器34に陰極35と、第一の中間電極36と、第二の中間電極37が設けられ、陰極部にはプラズマチャンバー32の真空容器34内にAr、Heなどの放電ガス(キャリアガス)を導入するためのガス導入口38が設けられている。さらに、真空容器34の外周の成膜チャンバー33近傍に大口径空芯コイル39が配置されている。
成膜チャンバー33は、円筒状の真空容器40がプラズマチャンバー32の真空容器34に対向して配置されており、真空容器40内に永久磁石41を内設した坩堝を兼ねた陽極42と基板43が配置され、陽極42には蒸発源44が配置されている。さらに、真空容器40には真空容器40内およびプラズマチャンバー32の真空容器34内を一括して所望する圧力まで減圧するための排気口45が設けられ、排気口45は外部に配置された真空ポンプ(図示せず)に接続されている。
このような構成のプラズマ成膜装置を使用した成膜方法は、成膜チャンバー33の真空容器40に設けられた排気口45を介して外部に配置された真空ポンプによって成膜チャンバー33の真空容器40内とプラズマチャンバー32の真空容器34内とに存在する空気を一括排気して所望する圧力に減圧する。その後、陰極部に設けられたガス導入口38からAr、Heなどの放電ガスをプラズマチャンバー32の真空容器34内に導入する。
そして、直流電源Eのマイナス端46を陰極35に、プラス端47を抵抗R1を介してGNDに接続し、プラス端47はさらに陽極42と、抵抗R2およびR3を介して夫々第一の中間電極36および第二の中間電極37とに接続する。つまり、陰極35の電位に対して第一の中間電極36および第二の中間電極37の電位を高く、さらにそれよりも陽極42の電位を高くなるように電圧を印加する。
すると、陰極35と陽極42との間の電位差によって放電ガスの雰囲気中でグロー放電が発生し、それによってプラズマ48が生成される。このときプラズマ48は第一の中間電極36および第二の中間電極37によって電位勾配が与えられ、陽極42に向かって加速される。加速されたプラズマ48流は大口径空芯コイル39で円柱状に収束されて成膜チャンバー33の真空容器40内の陽極42の真上まで導かれ、坩堝を兼ねた陽極42によって90°進路を曲げられて陽極42の方向に向かい、陽極42に内設した永久磁石41によって収束されて坩堝に配置された蒸発源44に集中照射される。
このような状態でグロー放電が3〜5分程度続くと、電流密度が次第に増加して陰極35に衝突するイオンが増加し、その結果、陰極35の温度が上昇して熱電子を放出するようになる。すると、電離度が高くなってグロー放電が高密度放電のアーク放電に転移する。アーク放電によって生成されたプラズマは坩堝を兼ねた陽極42に配置された蒸発源44に多くの熱量を与えて蒸発を促進する。そして、直流電源Eの電圧を所望する電圧まで上昇させることによって基板43表面に蒸発物質を堆積させて薄膜を形成する。
基板43表面に所望する膜が成膜されると、直流電源Eの電圧を降下させてアーク放電によるプラズマ生成を止め、陰極35が大気に曝されても酸化しないように15分程度の自然冷却を行い、プラズマチャンバー32の真空容器34および成膜チャンバー33の真空容器40を大気圧まで戻して成膜された基板43を取出して一連の成膜工程を終了する。
また、図4は従来の他のプラズマ成膜装置の概略構成図である。これは、上記従来のプラズマ成膜装置31を並設して成膜チャンバー33の真空容器40のみを一体化した構成となっている。従って、一体化された成膜チャンバー33の真空容器内40及び成膜チャンバー33の真空容器40に対向して配置された各プラズマチャンバー32の真空容器34内の圧力制御以外は、上記プラズマ装置31の個々の独立した成膜工程によって薄膜を形成するのと同様の働きを為すものである。このような構成のプラズマ成膜装置31は、一度に複数の基板に薄膜を形成する場合あるいは大面積の基板に薄膜を形成する場合に使用される。
特開平9−324262号公報
しかしながら、図3及び図4のようなプラズマ成膜装置を使用した成膜方法には以下のような問題点がある。まず、図3のプラズマ成膜装置31は、プラズマチャンバー32の真空容器34内で生成されて成膜チャンバー33の真空容器40内に導入されたプラズマ48の進路を曲げて坩堝に配置された蒸発源44に集中照射するために設けられた坩堝を兼ねた陽極42が、グロー放電の発生および生成されたプラズマ48の加速等を制御する直流電源Eのプラス端47に直接接続されており、陰極35・陽極42間の電位差を個別に制御する自由度がない電気回路構成になっている。従って、坩堝に配置された蒸発源44に照射されるプラズマ48流の照射開始及び終了の制御、プラズマ48のエネルギーの制御などが不可能なために、基板43に形成する薄膜の制御及び再現性が難しく、所望する薄膜を安定して得ることが困難であった。
また、複数の基板あるいは大面積の基板に均一な薄膜を形成する場合、図4に示した構成のプラズマ成膜装置が使用されるが、成膜チャンバー33の真空容器40が一体化された以外は複数のプラズマ生成装置31を平行稼動したのと同様の構成であり、装置の大型化及び複雑化によって設備投資が増大し、製品のコストを上昇させることになる。同時に、装置に付随する電源や回路部品等の機器、部品も増加し、これも製品のコストアップの要因となる。
また、成膜工程においては、複数の成膜装置を操作するのと同様の手間が必要であり、人件費の増加も製品のコストアップに繋がる。さらに、プラズマチャンバー32の数が増えるために成膜チャンバー33の真空容器40とプラズマチャンバー32の真空容器34の合算容積が増え、排気・減圧する容積が大きくなるために所望する圧力に至るまでには相応の時間が必要となり、生産効率の良くない要因となっていた。
そこで、本発明は上記問題に鑑みて創案なされたもので、所望する厚みの薄膜が安定して得られ、多数の基板あるいは大型の基板であっても一括して所望する膜付けが高効率に再現性良く、且つ低コストで行われる成膜装置および成膜方法を提供するものである。
上記課題を解決するために、本発明の請求項1に記載された発明は、内部に有する陰極と第一の陽極の間のアーク放電によってプラズマを生成するプラズマチャンバーの真空容器と、該真空容器内で形成された前記プラズマを導入して坩堝を兼ねる第二の陽極に配置された蒸発材料に照射することによって該蒸発材料を過熱して蒸発させ、該蒸発粒子によって基板表面に薄膜を形成する成膜チャンバーの真空容器とを具備するアーク放電型真空成膜装置であって、前記第二の陽極は電位制御回路に接続され、前記電位制御回路は前記第二の陽極と前記陰極との間及び前記第一の陽極と前記第二の陽極での電位差を制御することを特徴とするものである。
また、本発明の請求項2に記載された発明は、請求項1において、前記成膜チャンバーの真空容器内に前記坩堝を兼ねる第二の陽極を少なくとも1つ以上備え、前記坩堝の少なくとも1つ以上に蒸発源が配置されていることを特徴とするものである。
また、本発明の請求項3に記載された発明は、プラズマチャンバーの真空容器内に設けられた陰極と第一の陽極の間のアーク放電で生成されたプラズマを成膜チャンバーの真空容器内に導入して坩堝を兼ねる第二の陽極に配置された蒸発材料に照射することによって該蒸発材料を過熱して蒸発させ、該蒸発粒子によって基板表面に薄膜を形成する成膜方法であって、前記坩堝を兼ねた第二の陽極に接続された電位制御回路を介して前記第二の陽極と前記陰極との間及び前記第一の陽極と前記第二の陽極での電位差を制御し、よって前記蒸発材料に照射されるプラズマのエネルギー及び照射開始・終了の時期を制御することによって前記蒸発材料の蒸発を制御して前記基板表面に所望する厚みの薄膜を形成することを特徴とするものである。
アーク放電によって生成されるプラズマを利用して成膜を行う成膜装置および成膜方法において、基板表面に所望する厚みの薄膜を形成する目的を、基板表面に堆積させる部材に照射するプラズマを制御することによって実現した。
以下、この発明の好適な実施例を図1および図2を参照しながら、詳細に説明する(同一部分については同じ符号を付す)。尚、以下に述べる実施例は、本発明の好適な具体例であるから、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨の記載がない限り、これらの実施例に限られるものではない。
図1は本発明のアーク放電型真空成膜装置の実施例1を示す概略構成図である。本実施例のアーク放電型真空成膜装置1は、プラズマチャンバー2と成膜チャンバー3との2つの部分で構成されている。プラズマチャンバー2は、円筒状の真空容器5に陰極6と、第一の中間電極7と、第二の中間電極8と、第一の陽極9が設けられ、陰極部にはプラズマチャンバー2の真空容器5内にAr、Heなどの放電ガス(キャリアガス)を導入するためのガス導入口10が設けられている。また、真空容器5の外周の成膜チャンバー3近傍に大口径空芯コイル11が配置されている。さらに、真空容器5には真空容器5内の空気を排気して所望する圧力まで減圧するための排気口12が設けられ、排気口12は外部に配置された真空ポンプ(図示せず)に接続されている。
成膜チャンバー3は、円筒状の真空容器13がプラズマチャンバー2の真空容器5に対向して配置されており、真空容器13内に坩堝を兼ねた第二の陽極15と基板16が配置され、第二の陽極15の周囲には電磁石22が設けられて坩堝には蒸発源17が配置されている。さらに、真空容器13には真空容器13内の空気を排気して所望する圧力まで減圧するための排気口18が設けられ、排気口18は外部に配置された真空ポンプ(図示せず)に接続されている。
なお、第二の陽極15と後に述べる直流電源Eのプラス端20の間に電位制御回路23が設けられている。これは、第二の陽極15の陰極6に対する電位差の制御及び第二の電極15に対する電気的接続・開放を行うものである。
次に、このような構成のアーク放電型真空成膜装置を使用した成膜方法を以下に順を追って説明する。まず電位制御回路23で第二の陽極15を電気的に開放し、成膜チャンバー3の真空容器13内の坩堝を兼ねた第二の陽極15に蒸発源17を配置し、その上方に薄膜を形成する基板16を配置する。そして、真空容器13に設けられた排気口18を介して外部に配置された真空ポンプによって真空容器13内に存在する空気を排気し、真空容器13内を所望する圧力に減圧する。同時に、プラズマチャンバー2の真空容器5に設けられた排気口12を介して外部に配置された真空ポンプによって真空容器5内に存在する空気を排気し、真空容器5内を所望する圧力に減圧する。その後、陰極部に設けられたガス導入口10からAr、Heなどの放電ガスをプラズマチャンバー2の真空容器5内に導入する。
そして、直流電源Eのマイナス端19を陰極6に、プラス端20を抵抗R1を介してGNDに接続し、プラス端20はさらに第一の陽極9と電位制御回路23を介して第二の陽極15と、抵抗R2およびR3を介して夫々第一の中間電極7および第二の中間電極8とに接続する。つまり、陰極6の電位に対して第一の中間電極7および第二の中間電極8の電位を高く、さらにそれよりも第一の陽極9の電位を高くなるように電圧を印加する。
すると、陰極6と第一の陽極9との間の電位差によって放電ガスの雰囲気中でグロー放電が発生し、それによってプラズマチャンバー2の真空容器5内でプラズマが生成される。
このときプラズマは第一の中間電極7および第二の中間電極8によって電位勾配が与えられ、陰極6から第一の陽極9に至るプラズマの円滑な流れが形成され、大口径空芯コイル11の磁場の影響を受けて成膜チャンバー3の真空容器13内に導入される。
このような状態でグロー放電が3〜5分程度続くと、電流密度が次第に増加して陰極6に衝突するイオンが増加し、その結果、陰極6の温度が上昇して熱電子を放出するようになる。すると、電離度が高くなってグロー放電が高密度放電のアーク放電に転移する。そして、直流電源Eの電圧を制御してアーク放電の放電電流を10A程度に維持し、プラズマの安定状態を形成する。
そして、プラズマが安定した時点で電位制御回路23を作動させて陰極6と第二の陽極15とに間に設定した電位差を生じさせると、陰極6と第二の陽極15との間でプラズマが生成されるようになる。このときプラズマ21は第一の中間電極7および第二の中間電極8によって電位勾配が与えられ、第二の陽極15に向かって加速される。加速されたプラズマ21は大口径空芯コイル11で円柱状に収束されて成膜チャンバー3の真空容器13内の第二の陽極15の真上まで導かれ、第二の陽極15によって90°進路を曲げられて坩堝を兼ねた第二の陽極15に向かい、第二の陽極15周囲に設けられた電磁石22によって収束されて坩堝に配置された蒸発源17に集中照射される。
アーク放電によって生成されたプラズマは坩堝を兼ねた第二の陽極15に配置された蒸発源17に多くの熱量を与えて蒸発を促進する。そして、直流電源Eの電圧を所望する電圧まで上昇させることによって基板16表面に蒸発粒子を堆積させて薄膜を形成する。
基板16表面に所望する膜が成膜されると、電位差制御回路23によって第二の陽極15を電気的に開放し、直流電源Eの電圧を降下させてアーク放電の放電電流を10A程度に維持し、成膜を終了する。その後、成膜チャンバー3の真空容器13内とプラズマチャンバー2の真空容器5内とを大気圧まで戻して成膜された基板16を取出し、一連の成膜工程を終了する。
なお、上述した実施例では、プラズマチャンバー2の真空容器5と成膜チャンバー3の真空容器13の夫々に排気口を設け、各真空容器内を分担して減圧できるようにしているが、プラズマチャンバー2の真空容器5には排気口は設けず、成膜チャンバー3の真空容器13だけに排気口を設けることもできる。
図2は本発明のアーク放電型真空成膜装置の実施例2を示す概略構成図である。本実施例のアーク放電型真空成膜装置1は、プラズマチャンバー2と成膜チャンバー3との2つの部分で構成されてい点および成膜工程は上記実施例1と同様であるが、成膜チャンバー2の真空容器5内に2つの坩堝を兼ねた第二の陽極15を設け、1つの成膜チャンバー2の真空容器5内で生成されたプラズマを分離して夫々独立して制御される2つの坩堝に配置された蒸発源17を夫々蒸発させて基板16表面に薄膜を形成するところが異なる。なお、坩堝は2つに限られるものではなく、必要に応じて3つ以上配置されることも可能である。
本実施例の成膜装置は、蒸発源が多いために広範囲に亘って均一な膜を形成することが可能であり、複数の基板あるいは大面積の基板に一括して薄膜を形成する場合には非常に有効な手法である。
ここで、本発明のアーク放電型真空成膜装置を使用した成膜方法の効果について説明する。まず、坩堝を兼ねる第二の電極に電位制御回路を設け、第二の陽極の陰極に対する電位差の制御及び第二の電極に対する電気的接続・開放を行うようにした。その結果、電位制御回路を介して陰極・第二の陽極間のプラズマ流の制御が可能となり、成膜の開始・終了及び成膜状態の制御を第二の陽極側で制御して所望する状態に薄膜を形成することができるようになった。
また、第二の陽極を電気的に開放することにより、成膜チャンバーの真空容器内に導入されたプラズマが第二の陽極に向かわないようにすることができる。このときのプラズマを成膜チャンバーの真空容器内や基板のクリーニングなど成膜処理以外の目的に使用することができる。
更に、複数の基板あるいは大面積の基板に一括して均一に薄膜を形成したい場合、成膜チャンバーの真空容器内に複数の蒸発源を設けるだけで特別な工程を設けることなく目的を達成することができる。従って、成膜装置、電源及び工数に大幅なコストアップの要因がなく、多量の基板あるいは大面積の基板に効率良く低コストで均一性のある薄膜を形成することができる。
本発明の実施例1に係わるアーク放電型真空成膜装置の概略構成図である。 同じく、本発明の実施例2に係わるアーク放電型真空成膜装置の概略構成図である。 従来のアーク放電型真空成膜装置の概略構成図である。 同じく、従来の他のアーク放電型真空成膜装置の概略構成図である。
符号の説明
1 アーク放電型真空成膜装置
2 プラズマチャンバー
3 成膜チャンバー
5 真空容器
6 陰極
7 第一の中間電極
8 第二の中間電極
9 第一の陽極
10 ガス導入口
11 大口径空芯コイル
12 排気口
13 真空容器
14 永久磁石
15 第二の陽極
16 基板
17 蒸発源
18 排気口
19 マイナス端
20 プラス端
21 プラズマ
22 電磁石
23 電位制御回路

Claims (3)

  1. 内部に有する陰極と第一の陽極の間のアーク放電によってプラズマを生成するプラズマチャンバーの真空容器と、該真空容器内で形成された前記プラズマを導入して坩堝を兼ねる第二の陽極に配置された蒸発材料に照射することによって該蒸発材料を過熱して蒸発させ、該蒸発粒子によって基板表面に薄膜を形成する成膜チャンバーの真空容器とを具備するアーク放電型真空成膜装置であって、前記第二の陽極は電位制御回路に接続され、前記電位制御回路は前記第二の陽極と前記陰極との間及び前記第一の陽極と前記第二の陽極での電位差を制御することを特徴とするアーク放電型真空成膜装置。
  2. 前記成膜チャンバーの真空容器内に前記坩堝を兼ねる第二の陽極を少なくとも1つ以上備え、前記坩堝の少なくとも1つ以上に蒸発源が配置されていることを特徴とする請求項1に記載のアーク放電型真空成膜装置。
  3. プラズマチャンバーの真空容器内に設けられた陰極と第一の陽極の間のアーク放電で生成されたプラズマを成膜チャンバーの真空容器内に導入して坩堝を兼ねる第二の陽極に配置された蒸発材料に照射することによって該蒸発材料を過熱して蒸発させ、該蒸発粒子によって基板表面に薄膜を形成する成膜方法であって、前記坩堝を兼ねた第二の陽極に接続された電位制御回路を介して前記第二の陽極と前記陰極との間及び前記第一の陽極と前記第二の陽極での電位差を制御し、よって前記蒸発材料に照射されるプラズマのエネルギー及び照射開始・終了の時期を制御することによって前記蒸発材料の蒸発を制御して前記基板表面に所望する厚みの薄膜を形成することを特徴とする成膜方法。
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