JP2000282223A - 成膜装置及び方法 - Google Patents

成膜装置及び方法

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JP2000282223A
JP2000282223A JP11092169A JP9216999A JP2000282223A JP 2000282223 A JP2000282223 A JP 2000282223A JP 11092169 A JP11092169 A JP 11092169A JP 9216999 A JP9216999 A JP 9216999A JP 2000282223 A JP2000282223 A JP 2000282223A
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annular
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Masaru Tanaka
勝 田中
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡易な機構で成膜室を大きくすることなく更
に均一な成膜を行うこと。 【解決手段】 プラズマビームPBは、ステアリングコ
イル47と環状陽極51内の永久磁石53等とにより決
定される磁界に案内されて環状陽極51に到達する。環
状陽極51の環状凹部51a中の蒸発金属は、プラズマ
ビームPBにより加熱され、溶融して凹部51aに溶融
金属M1として溜まる。溶融金属M1の表面からは、溶融
金属M1の蒸気が出射する。この蒸気は、プラズマビー
ムPBによりイオン化され、負電圧が印加された基板W
Aの表面に付着して被膜が形成される。この場合、溶融
金属M1の蒸気が一定の比較的均一な広がりを有する環
状凹部51aから基板WAの表面に供給されることにな
り、陽極部材50から基板WAまでの距離が比較的近い
場合にも基板WA上には均一な膜厚分布の膜を形成する
ことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術の分野】本発明は、プラズマを用い
てイオンプレーティングを行うことができる成膜装置及
び方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の成膜装置として、圧力勾配型のプ
ラズマガンからのプラズマビームをハースに導き、ハー
ス上に配置したルツボ状のハース本体中の蒸着物質を蒸
発・イオン化し、このように蒸発・イオン化した蒸着物
質をハースに対向して配置された基板の表面に付着させ
るイオンプレーティング装置が知られている。
【0003】特開平7−138743号公報には、この
種のイオンプレーティング装置において、ハース内に配
置された棒磁石とハースの周囲に同心に配置された永久
磁石とからなる入射ビーム方向調整手段を組み込むこと
によってハースの入射面上方にカスプ磁場を形成するも
のが開示されている。このイオンプレーティング装置で
は、ハース上方のカスプ磁場によってハースに入射する
プラズマビームを修正し、プラズマビームをハースの真
上から直線的に入射させることにより、基板の表面に形
成される膜を均一化する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記イオンプ
レーティング装置では、材料蒸発源がハース中央のほぼ
点状の領域である。このため、基板上の膜厚分布が単純
にCOS則に決定されることになるが、この場合に良好
な膜厚分布を得るためには、基板とハースの距離を大き
くとることになり、装置が大型化するとともに成膜速度
の低下が避けられない。この際、ハース上方のカスプ磁
場をさらに微妙に調整することによって、COS則に起
因する膜厚分布を打ち消すような角度分布で蒸発物質を
蒸発させることも考えられるが、制御や調整が必要とな
る。
【0005】そこで、本発明は、簡易な機構で成膜室を
大きくすることなく更に均一な成膜を行うことを目的と
する。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の成膜装置は、プラズマビームを成膜室中に
供給するプラズマ源と、膜材料を収容する環状凹部から
なる環状材料蒸発源を備えるとともに成膜室中に配置さ
れて材料蒸発源にプラズマビームを導くハースと、成膜
対象である基板を成膜室中で環状材料蒸発源に対向する
ように配置する基板ホルダとを備える。
【0007】この場合、ハースが膜材料を収容する環状
凹部からなる環状材料蒸発源を備えるので、膜材料が一
定の比較的均一な広がりを有する範囲から基板ホルダ上
の基板に供給されることになり、ハースから基板ホルダ
までの距離が比較的近い場合にも基板上には均一な膜厚
分布の膜を形成することができる。つまり、簡易かつ小
型の成膜装置によって均一な厚さの膜を基板上に形成す
ることができる。ここで、環状材料蒸発源から出射した
膜材料は、ハースに導かれたプラズマ中を通過する際に
活性化され、基板上に結果的に形成される膜を良質なも
のとすることができる。なお、環状材料蒸発源に形成さ
れる環状凹部は、概ね環状になっておれば足り、複数の
凹部をほぼ連続的になるよう環状に配置したものであっ
てもよい。
【0008】また、上記成膜装置の好ましい態様では、
ハースが、環状材料蒸発源の中央に膜材料を収容する中
央材料蒸発源をさらに備えることを特徴とする。
【0009】この場合、ハースが環状材料蒸発源の中央
に膜材料を収容する中央材料蒸発源をさらに備えるの
で、膜材料がさらに広い範囲から供給されることになっ
てさらに均一な膜厚分布の成膜が可能になる。しかも、
中央材料蒸発源を増やした分だけ膜材料供給量も増える
ことになり、成膜速度を増加させることもできる。な
お、中央材料蒸発源に収容する膜材料を環状材料蒸発源
に収容する膜材料と異なるものにすれば、2元の材料か
らなる成膜も可能になる。
【0010】また、上記成膜装置の好ましい態様では、
環状材料蒸発源の直下に環状に配置された磁石、又は磁
石及びコイルからなりハースの近接した上方の磁界を制
御する磁場制御部材をさらに備え、プラズマ源が、圧力
勾配型のプラズマガンであることを特徴とする。
【0011】この場合、磁場制御部材がハースの近接し
た上方の磁界を制御するので、ハースに入射するプラズ
マビームをカスプ状磁場によって修正してより均一な厚
みの膜を形成することができる。
【0012】また、本発明の成膜方法は、膜材料を収容
するとともに環状凹部からなる環状材料蒸発源にプラズ
マを導きつつ膜材料を蒸発させ、環状材料蒸発源に対向
して配置された成膜対象である基板の表面に膜材料を付
着させる。
【0013】この場合、環状材料蒸発源にプラズマを導
きつつ膜材料を蒸発させるので、膜材料が一定の均一な
広がりを有する範囲から対向して配置された基板に供給
されることになり、環状材料蒸発源から基板までの距離
が比較的近い場合にも基板上には均一な膜厚分布の膜を
形成することができる。
【0014】
【発明の実施の形態】図1は、本発明に係る成膜装置の
一実施形態であるイオンプレーティング装置の全体構造
を概略的に説明する図である。この成膜装置は、成膜室
である真空容器10と、真空容器10中にプラズマビー
ムを供給するプラズマ源であるプラズマガン30と、真
空容器10内の底部に配置されてプラズマビームの流れ
を制御するとともに材料蒸発源となる陽極部材50と、
真空容器10の上部に配置されて基板WAを保持する保
持機構60とを備える。
【0015】プラズマガン30は、プラズマビームを発
生する圧力勾配型のプラズマガンであり、その本体部分
は、真空容器10の側壁から延びる筒状部12に装着さ
れている。この本体部分は、陰極31によって一端が閉
塞されたガラス管32からなる。ガラス管32内には、
モリブデンMoで形成された円筒33が陰極31に固定
されて同心状に配置されており、この円筒33内には、
LaB6で形成された円盤34とタンタルTaで形成さ
れたパイプ35とが内蔵されている。ガラス管32の両
端部のうち陰極31とは反対側の端部と、真空容器10
に設けた筒状部12の端部との間には、第1及び第2中
間電極41、42が同心状に直列に配置されている。一
方の第1中間電極41内には、プラズマビームを収束す
るための環状永久磁石44が内蔵されている。第2中間
電極42内にも、プラズマビームを収束するための電磁
石コイル45が内蔵されている。なお、筒状部12の周
囲には、陰極31側で発生して第1及び第2中間電極4
1、42まで引き出されたプラズマビームを真空容器1
0内に導くステアリングコイル47が設けられている。
【0016】なお、プラズマガン30の最も内心側に配
置されるパイプ35は、プラズマビームのもととなるA
r等のキャリアガスCGをプラズマガン30中に導入す
るためものである。
【0017】プラズマガン30の動作は、ガン駆動装置
48によって制御されている。このガン駆動装置48
は、陰極31への給電をオン・オフしたりこれへの供給
電圧等を調整することができ、さらに第1及び第2中間
電極41、42、電磁石コイル45、及びステアリング
コイル47への給電を調整する。このようなガン駆動装
置48によって、真空容器10中に供給されるプラズマ
ビームの状態が制御される。
【0018】真空容器10中の下部に配置されたハース
である陽極部材50は、プラズマビームを下方に導くこ
とができる環状材料蒸発源である環状陽極51と、その
中央に配置された中央材料蒸発源である中央陽極52と
からなる。
【0019】前者の環状陽極51は、上部に環状凹部5
1aを備える環状容器から構成されている。この容器
は、熱伝導率の良い導電性材料で形成され、真空容器1
0及び陽極部材50に対して図示を省略する絶縁物を介
して取り付けられている。陽極電源装置58は、環状陽
極51を適当な正電位に制御し、プラズマガン30から
出射したプラズマビームを必要に応じて下方に吸引す
る。
【0020】環状陽極51の環状容器内には、フェライ
ト等で形成された環状の永久磁石53と、これと同心的
に積層されたコイル54とが収納されている。これら永
久磁石53及びコイル54は、磁場制御部材であり、陽
極部材50の直上方にカスプ状磁場を形成する。これに
より、環状陽極51に入射するプラズマビームの向き等
を修正することができる。
【0021】環状陽極51内のコイル54は電磁石を構
成し、陽極電源装置58から給電される。この場合、励
磁されたコイル54における中心側の磁界の向きは、永
久磁石53により発生する中心側の磁界と同じ向きにな
るように構成される。陽極電源装置58は、コイル54
に供給する電流を変化させることができ、中央陽極52
に入射するプラズマビームPBの向きの微調整が可能に
なる。
【0022】後者の中央陽極52は、熱伝導率の良い導
電性材料で形成されるとともに、接地された真空容器1
0に図示を省略する絶縁物を介して支持されている。こ
の中央陽極52も、陽極電源装置58によって適当な正
電位に制御されており、必要に応じてプラズマガン30
から出射したプラズマビームを下方に吸引する。なお、
中央陽極52は、プラズマガン30からのプラズマビー
ムが入射する中央上部に、ルツボである凹部52aを有
している。
【0023】真空容器10中の上部に配置される保持機
構60は、陽極部材50に対向してその上方に配置され
るとともに成膜面を下側にして基板WAを保持するため
の基板ホルダ61と、この基板ホルダ61を成膜中に水
平面内で回転させる回転装置62とを備える。基板ホル
ダ61は、真空容器10に対して絶縁された状態で基板
電源装置68から給電されており、ゼロ電位の真空容器
10に対して負電位にバイアスされている。
【0024】図2は、図1のイオンプレーティング装置
のハースを構成する陽極部材50の構造を説明する斜視
図である。円柱状の中央陽極52の周囲に配置された円
筒状の環状陽極51の上部に同心状に形成された環状凹
部51aには、成膜時に溶融したCu等の金属M1が収
容される。環状陽極51の中心に配置された中央陽極5
2の上部に形成された凹部52aにも、成膜時に溶融し
たCu等の金属M2が収容される。
【0025】図3は、図1のイオンプレーティング装置
の電気回路の構成例を説明する概念図である。陰極31
と第1及び第2中間電極41、42との間には、それぞ
れ垂下抵抗器21、22を介して可変の主電源23が接
続されている。また、第2中間電極42の電磁石コイル
45は電源24から給電され、ステアリングコイル47
は電源25から給電されている。
【0026】陽極部材50を構成する環状陽極51と中
央陽極52は、それぞれ切り替えスイッチ71、72を
介して主電源23の正側に接続されており、それぞれプ
ラズマガン30から出射したプラズマビームPBを個別
に吸引することができるようになっている。つまり、切
り替えスイッチ71、72の組み合わせを適宜設定する
ことにより、プラズマビームPBを環状陽極51に主に
入射させる第1の動作状態と、プラズマビームPBを環
状陽極51及び中央陽極52に主に入射させる第1の動
作状態との間で切り換えるといった状態制御が可能とな
る。
【0027】環状陽極51の容器に収容されたコイル5
4は電磁石を構成し、コイル電源73から給電される。
この場合、励磁されたコイル54における中心側の磁界
の向きは、永久磁石53により発生する中心側の磁界と
同じ向きになるように構成される。コイル電源73は可
変電源であり、電圧を変化させることにより、コイル5
4に供給する電流を変化させることができる。
【0028】なお、可変の主電源23には、これと並列
に垂下抵抗器27と補助放電電源28とがスイッチS1
を介して接続されている。このスイッチS1や切り替え
スイッチ71、72の状態、さらに主電源23の出力等
は、図示を省略する制御回路によって制御されている。
【0029】以下、図1〜図3に示すイオンプレーティ
ング装置の動作について説明する。この成膜装置におい
ては、プラズマガン30の陰極31と、真空容器10内
の環状陽極51及び/又は中央陽極52との間で放電が
生じ、これによりプラズマビームPBが生成される。こ
のプラズマビームPBは、ステアリングコイル47と環
状陽極51内の永久磁石53等とにより決定される磁界
に案内されて環状陽極51及び/又は中央陽極52に到
達する。環状陽極51の環状凹部51aや中央陽極52
の凹部52a中の蒸発金属は、プラズマビームPBによ
り加熱され、溶融して両凹部51a、52aに溶融金属
M1、M2として溜まる。溶融金属M1、M2の表面から
は、溶融金属M1、M2が蒸発する。この蒸気は、プラズ
マビームPBによりイオン化され、負電圧が印加された
基板WAの表面に付着して被膜が形成される。ここで、
環状陽極51の環状凹部51aから溶融金属M1を蒸発
させる場合、膜材料が一定の比較的均一な広がりを有す
る連続的な領域から基板WAの表面に供給されることに
なり、陽極部材50から基板WAまでの距離が比較的近
い場合にも基板WA上には均一な膜厚分布の膜を形成す
ることができる。このような環状凹部51aを利用した
成膜は、複数の点状材料蒸発源を設ける場合に比較して
構造が簡単で、しかも膜厚の均一性が増す。
【0030】なお、以上の説明では、環状陽極51の環
状凹部51aから溶融金属M1を蒸発させる場合につい
て説明したが、環状凹部51aからだけでなく中央陽極
52の凹部52aからも溶融金属M2を蒸発させること
ができる。この場合、さらに均一な膜厚分布の成膜が可
能になり、成膜速度を増加させることにもなる。さら
に、溶融金属M1と溶融金属M2とを異なるものにすれ
ば、2元素系の成膜も可能になる。
【0031】図4は、図3に示す陽極部材50の変形例
を説明する斜視図である。円柱状の中央陽極52の周囲
に配置された円筒状の環状陽極151の上部には、4つ
の円弧状凹部151a〜151dが環状に形成されてお
り、これらには溶融したCu等の金属M1が収容され
る。この場合も上記と同様に、4つの円弧状凹部151
a〜151dから溶融金属M1を蒸発させることによ
り、環状陽極151から基板WAまでの距離が比較的近
い場合にも基板WA上には均一な膜厚分布の膜を形成す
ることができる。
【0032】以上、実施形態に即してこの発明を説明し
たが、この発明は上記実施形態に限定されるものではな
い。例えば、環状陽極51と中央陽極52を直結して単
一の切替スイッチでプラズマの流入を調節することがで
きる。この際、補助の中央陽極52と切替スイッチとの
間に安定化抵抗を挿入したカップリングを行うこともで
きる。さらに、中央陽極52を省略することもできる。
【0033】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の成膜装置によれば、ハースが膜材料を収容する環状凹
部からなる環状材料蒸発源を備えるので、膜材料が一定
の比較的均一な広がりを有する範囲から基板ホルダ上の
基板に供給されることになり、ハースから基板ホルダま
での距離が比較的近い場合にも基板上には均一な膜厚分
布の膜を形成することができる。つまり、簡易かつ小型
の成膜装置によって均一な厚さの膜を基板上に形成する
ことができる。ここで、環状材料蒸発源から出射した膜
材料は、ハースに導かれたプラズマ中を通過する際に活
性化され、基板上に結果的に形成される膜を良質なもの
とすることができる。なお、環状材料蒸発源に形成され
る環状凹部は、概ね環状になっておれば足り、複数の凹
部をほぼ連続的になるよう環状に配置したものであって
もよい。
【0034】また、本発明の成膜方法によれば、環状材
料蒸発源にプラズマを導きつつ膜材料を蒸発させるの
で、膜材料が一定の均一な広がりを有する範囲から対向
して配置された基板に供給されることになり、環状材料
蒸発源から基板までの距離が比較的近い場合にも基板上
には均一な膜厚分布の膜を形成することができる。
【0035】
【図面の簡単な説明】
【0036】
【図1】本発明の一実施形態に係る成膜装置の構造を説
明する図である。
【0037】
【図2】第1実施形態に係る成膜装置の陽極部材の斜視
図である。
【0038】
【図3】図1の成膜装置を構成する一部の電気回路の概
念図である。
【0039】
【図4】図3の陽極部材の変形例の斜視図である。
【0040】
【符号の説明】
10 真空容器 30 プラズマガン 44 環状永久磁石 45 電磁石コイル 47 ステアリングコイル 48 ガン駆動装置 50 陽極部材 51 環状陽極 51a 環状凹部 52 中央陽極 53 永久磁石 54 コイル 58 陽極電源装置 60 保持機構 61 基板ホルダ 62 回転装置 151 環状陽極 151a〜151d 円弧状凹部 WA 基板

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プラズマビームを成膜室中に供給するプ
    ラズマ源と、 膜材料を収容する環状凹部からなる環状材料蒸発源を備
    えるとともに、前記成膜室中に配置されて前記材料蒸発
    源に前記プラズマビームを導くハースと、 成膜対象である基板を前記成膜室中で前記環状材料蒸発
    源に対向するように配置する基板ホルダとを備える成膜
    装置。
  2. 【請求項2】 前記ハースは、前記環状材料蒸発源の中
    央に膜材料を収容する中央材料蒸発源をさらに備えるこ
    とを特徴とする請求項1記載の成膜装置。
  3. 【請求項3】 前記環状材料蒸発源の直下に環状に配置
    された磁石、又は磁石及びコイルからなり前記ハースの
    近接した上方の磁界を制御する磁場制御部材をさらに備
    え、前記プラズマ源は、圧力勾配型のプラズマガンであ
    ることを特徴とする請求項1及び2のいずれか記載の成
    膜装置。
  4. 【請求項4】 膜材料を収容するとともに環状凹部から
    なる環状材料蒸発源にプラズマを導きつつ前記膜材料を
    蒸発させ、前記環状材料蒸発源に対向して配置された成
    膜対象である基板の表面に前記膜材料を付着させる成膜
    方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101773890B1 (ko) 2013-06-13 2017-09-01 스미도모쥬기가이고교 가부시키가이샤 성막장치

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