JP4463960B2 - Ｘ線ｃｔシステムおよび操作コンソール、それらの制御方法ならびに記憶媒体 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、Ｘ線照射によって被検体のＸ線断層像を再構成するＸ線ＣＴ（Computerized Tomograpy ）システムおよび操作コンソール、それらの制御方法ならびに記憶媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線ＣＴシステムは、一般に、Ｘ線発生源であるＸ線管からのＸ線ファンビームを、所定の照射角度（例えば、６０度）にコリメートしたうえで被検体に照射し、その透過Ｘ線を、Ｘ線の照射角度に依存した長さにわたる複数（例えば、１０００個）の検出チャネルを有するＸ線検出部で検出して得られる投影データの収集を、Ｘ線管とＸ線検出部を被検体の周囲を回転させながら複数（例えば、１０００）の投影角度で行い（スキャン）、各投影角度の投影データに基づいてＸ線断層像を再構成する。
【０００３】
現在、スキャンの方式として、投影角度の変化に同期して被検体をその体軸方向（ｚ軸方向ともいう）に移動させながら（すなわち、Ｘ線管とＸ線検出部とが被検体の周囲をらせん状に周回することになる）投影データを収集する、ヘリカルスキャン方式が、高速撮影を実現するものとして知られている。
【０００４】
ヘリカルスキャンの場合、らせん状に投影データが収集されていくことから、目的のスライス位置における投影データは、１つの投影角度におけるデータしか収集されないことになる。そのため、画像再構成に先立ち、投影データをｚ軸方向に補間することが必要となる。
【０００５】
ところで、ヘリカルスキャン方式によるＸ線ＣＴシステムにおいては、回転中心におけるスライス厚Ｔ（Ｘ線検出器のｚ軸方向の幅で決まる）と、１スキャン（３６０度分の投影データを収集すること）あたりの被検体の搬送量Ｓとの比率Ｓ／Ｔのことをヘリカルピッチ（以下、単にピッチという）と称し、このパラメータは一般に、スキャン条件設定項目の１つに含まれる。例えば、スライス厚を10mm、１スキャンあたりの被検体の搬送量（すなわち、搬送速度）を10mmとしたときのピッチは、10/10=１となる。
【０００６】
ピッチの設定は、撮影時間および得られる断層像のｚ軸方向の分解能に関係する。ピッチを大きくとれば撮影時間を短縮することになるけれども、一方で補間データに矛盾が生じアーティファクトを引き起こす原因になる。逆に、ピッチを小さくとると、撮影時間が長くなってしまうが、補間精度が高まり再構成画像の高画質化が望める。すなわち、ピッチは、撮影対象／目的に求められる断層像の画質と補間精度とのトレードオフの関係において、決定されることになる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、例えば胸部では、肺が大部分を占めるためＸ線減衰量は小さいのに対し、腹部では、臓器が多く存在するのでＸ線減衰量は大きい。また、肺が大部分を占める部位では、スライス位置ごとの各臓器形状が大きく変化することはないので、スライス位置ごとのＸ線減衰量の変動も小さい。ところが、腹部に向けて移動していくと、肺が占める割合が小さくなり別の臓器（肝臓等）が占める割合が大きくなっていく。そのため、このあたりの部位は、スライス位置ごとの各臓器形状が大きく変化し、スライス位置ごとのＸ線減衰量の変動が大きいといえる。スライス位置ごとのＸ線減衰量の変動が大きい部位、すなわち、スライス位置ごとの各臓器形状が大きく変化するような部位においては、高いｚ軸方向の分解能が求められることになろう。
【０００８】
しかしながら、従来のＸ線ＣＴシステムでは、設定したスキャン区間における一連のヘリカルスキャンに対しては１種類のピッチしか設定することができない。そのため、設定したスキャン区間内に、上記したような、Ｘ線減衰量に比較的変化のない部位とＸ線減衰量が大きく変化する部位とが含まれる場合には、Ｘ線減衰量が大きく変化する部位で補間の矛盾が大きくなり、高いｚ軸方向の分解能を確保することができず、再構成画像の画質が劣化してしまうという問題がある。
【０００９】
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、設定したスキャン区間において一連のヘリカルスキャンを行う場合に、スキャン位置に応じてヘリカルピッチを適応的に変更することによって、ヘリカルスキャンが有する高速撮影の利点を確保しつつ、高画質のＸ線断層像を再構成することが可能なＸ線ＣＴシステムおよび操作コンソール、それらの制御方法ならびに記憶媒体を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、例えば本発明のＸ線ＣＴシステムは、以下の構成を備える。すなわち、
Ｘ線管より発生するＸ線を被検体に向けて照射するときの投影角度の変化に同期して被検体をその体軸方向に移動させながら投影データを収集するヘリカルスキャンを行い、前記収集した投影データに基づいて該被検体の断層像を再構成するＸ線ＣＴシステムであって、被検体の体軸と直交する複数の投影角度からの被検体透視像を撮像する透視像撮像手段と、該透視像撮像手段で撮像された各被検体透視像に基づいて、各スキャン位置における前記搬送速度の制御値を決定する決定手段と、該決定手段で決定された各スキャン位置における前記搬送速度の制御値に従ってヘリカルスキャンを行うスキャン制御手段とを備えることを特徴とする。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して実施形態について詳細に説明する。
【００１２】
（構成）
図１は、実施形態のＸ線ＣＴシステムのブロック構成図である。図示のように本システムは、被検体へのＸ線照射と被検体を透過したＸ線を検出するためのＸ線検出機構を一体的に取り付けるガントリ装置１００と、ガントリ装置１００に対して各種動作設定を行うとともに、ガントリ装置１００から出力されたデータに基づいてＸ線断層像を再構成し、表示する操作コンソール２００により構成されている。
【００１３】
ガントリ装置１００は、その全体の制御をつかさどるメインコントローラ１をはじめ、以下の構成を備える。
【００１４】
２は操作コンソール２００との通信を行うためのインタフェース、３はテーブル１２上に横たえた被検体（患者）を搬送（図面に垂直な方向、すなわち、ｚ軸方向）するための空洞部を有するガントリであり、内部には、Ｘ線発生源であるＸ線管４（Ｘ線管コントローラ５により駆動制御される）、Ｘ線の照射範囲を画定するためのスリットを有するコリメータ６、コリメータ６のＸ線照射範囲を画定するスリット幅の調整用モータであるモータ７ａが設けられている。このモータ７ａの駆動はコリメータコントローラ７により制御される。
【００１５】
また、ガントリ３には、被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出部８、およびＸ線検出部８で得た透過Ｘ線より得られる投影データを収集するデータ収集部９も備える。なお、Ｘ線検出部８は、Ｘ線ビームを検出する検出器アレイを被検体の搬送方向に複数列隣接して設けたマルチ検出器を使用するものであってもよいし、一列の検出器アレイのシングル検出器を使用するものであってもよい。
【００１６】
Ｘ線管４およびコリメータ６と、Ｘ線検出部８とは、互いに空洞部分を挟んで、すなわち、被検体を挟んで対向する位置に設けられ、その関係が維持された状態でガントリ３のまわりを回動するようになっている。この回動は、モータコントローラ１１からの駆動信号により駆動される回転モータ１０によって行われる。また、被検体を乗せるテーブル１２は、ｚ軸方向への搬送がなされるが、その駆動はテーブルモータ１３によって行われる。
【００１７】
メインコントローラ１は、インタフェース２を介して受信した各種コマンドの解析を行い、それに基づいて上記のＸ線管コントローラ５、コリメータコントローラ７、モータコントローラ１１、テーブルモータコントローラ１４、そして、データ収集部９に対し、各種制御信号を出力することになる。また、メインコントローラ１は、データ収集部９で収集された投影データを、インタフェース２を介して操作コンソール２００に送出する処理も行う。
【００１８】
操作コンソール２００は、いわゆるワークステーションであり、図示するように、装置全体の制御をつかさどるＣＰＵ５１、ブートプログラムやＢＩＯＳを記憶しているＲＯＭ５２、主記憶装置として機能するＲＡＭ５３をはじめ、以下の構成を備える。
【００１９】
ＨＤＤ５４は、ハードディスク装置であって、ここにＯＳ、ガントリ装置１００に各種指示を与えたり、ガントリ装置１００より受信したデータに基づいてＸ線断層像を再構成するための診断プログラムが格納されている。診断プログラムには、後述するスキャン制御処理のプログラムが含まれる。また、ＶＲＡＭ５５は表示しようとするイメージデータを展開するメモリであり、ここにイメージデータ等を展開することでＣＲＴ５６に表示させることができる。５７および５８は、各種設定を行うためのキーボードおよびマウスである。また、５９はガントリ装置１００と通信を行うためのインタフェースである。
【００２０】
（処理）
実施形態におけるＸ線ＣＴシステムの構成は概ね上記の通りである。続いて、かかる構成のＸ線ＣＴシステムにおけるスキャン制御処理の概要を、図２のフローチャートを用いて説明する。このフローチャートに対応するプログラムは、操作コンソール２００のＨＤＤ５４に格納されていたものであり、電源投入後、ＲＡＭ５３にロードされ、ＣＰＵ５１により実行されるものである。
【００２１】
まず、ステップＳ１において、被検体をテーブル１２に横たえさせた後、スカウトスキャンを行う。スカウトスキャンとは、Ｘ線管４とＸ線検出部８を回転させずに一定の投影角度に固定したまま、被検体を乗せたテーブル１２を徐々に搬送しながらＸ線を連続的に照射して得た投影データより１枚の被検体透視像を得るものである。
【００２２】
ここでは、図３に示すように、Ｘ線管４を被検体の真上にあたる投影角度０度に位置させて（モータコントローラ１１の制御による）の第１のスカウトスキャンと、Ｘ線管４を被検体の真横に当たる投影角度９０度に位置させての第２のスカウトスキャンを行い、２種類の被検体透視像を得る。
【００２３】
なお、スカウトスキャンの条件設定および実行指令は、例えば図４に示すような、設定画面４００（操作コンソール２００のＣＲＴ５６に表示される）を介して行われる。図示のように、スカウトスキャン設定欄において、所定の基準位置に対するスカウトスキャンの開始位置、終了位置、Ｘ線管４に与える管電圧および管電流、そして、投影角度を設定できるようになっている。上記した２種類の被検体透視画像を得るためには、スカウトスキャン設定欄に投影角度「０」を入力した後、スカウトスキャン実行のスタートボタン４０２を押して、第１のスカウトスキャンを実行させる。続いて、同様に、スカウトスキャン設定欄に投影角度「９０」を入力した後、スタートボタン４０２を押して、第２のスカウトスキャンを実行させることになる。もちろん、逆に、第２のスカウトスキャンを先に行うようにしてもよいし、第１および第２のスカウトスキャンを自動的に連続して行わせるモードを設けてもかまわない。
【００２４】
この結果、図５に示す如く、テーブル１２上の被検体透視画像を取得することができる。
【００２５】
ところで、例えば胸部では、肺が大部分を占めるためＸ線減衰量は小さいのに対し、腹部では、臓器が多く存在するのでＸ線減衰量は大きいことは、先に説明した。また、被検体の体型も個々に異なる。
【００２６】
スキャンを行うと、Ｘ線減衰量の大きい部位における投影データのＳ／Ｎが、Ｘ線減衰量の小さい部位のそれより低下してしまう場合がある。これに対処するためＸ線量を大きくしてスキャンすれば、部位に関係なく良好なＳ／Ｎが得られるものの、必要以上の被曝がなされるので避けなければならない。
【００２７】
このような問題を解決するものとして、Ｘ線量を決定するＸ線管４に与える管電流値を、被検体のスキャン位置に応じて自動制御する、いわゆるAuto mAという技術が知られている。この技術を用いると、Ｘ線減衰量が異なる被検体の部位に応じた適切なＸ線量を設定することができ、無駄な被曝を抑えつつ、良好なＳ／Ｎを有する断層像を得ることができる。
【００２８】
実施形態においては、このAuto mAの技術を利用する。そこで、ＣＰＵ２１はステップＳ２において、Auto mAの算定を行う。具体的には、ステップＳ１で得られた２種類の投影データを用いて、被検体の各スキャン位置における体幅および体厚情報を得る。被検体の断面は一般に円形とはいえず、むしろ楕円に近いことから、形状によるノイズが発生する。そこで、上記の体幅／体厚情報に基づいて、各スライス位置における楕円率を算出するとともに、Ｘ線減衰量に基づいて、各スライス位置におけるスライス面の断面積を算出することで、ノイズを所定の範囲とするように、スライス位置ごとの管電流を算定する。図６は、スキャン位置と算定管電流との対応関係の例を示すグラフである。このグラフに示されるスキャン位置と算定管電流との対応関係は、Auto mAテーブル５３ａとしてＲＡＭ５３内に作成される。
【００２９】
Auto mAテーブル５３ａの構成は、図７に示すとおりであって、所定の基準位置に対するスキャン位置（単位はｍｍ）と、そのスキャン位置における管電流値（単位はｍＡ）の組み合わせが記述されている。
【００３０】
このようにしてAuto mAテーブル５３ａが作成されると、処理はステップＳ３に進む。
【００３１】
ステップＳ３では、まず、ステップＳ２で得られたAuto mAテーブル５３ａを参照して、スキャン位置を移動させたときの算定管電流値の変動に基づいて、各スキャン位置における部位のＸ線減衰量の変動のようすを推定する。
【００３２】
先の説明から明らかなように、Auto mAによって、Ｘ線減衰量の大きいスキャン位置では比較的大きな管電流値が算定され、Ｘ線減衰量の小さいスキャン位置では比較的小さな管電流値が算定される。
【００３３】
したがって、隣り合うスキャン位置で算定管電流値の変動が大きければ、当該スキャン位置は、Ｘ線減衰量の変動が大きい部位、すなわち、スライス位置ごとの各臓器形状が大きく変化するような部位であると推測できる。このような部位では、高いｚ軸方向の分解能が求められるであろうから、ピッチを小さく設定することになる。
【００３４】
逆に、隣り合うスキャン位置で算定管電流値の変動が小さければ、当該スキャン位置は、Ｘ線減衰量の変動が小さい部位、すなわち、スライス位置ごとの各臓器形状は大きく変化していないような部位であろうと推測できる。このような部位では、高いｚ軸方向の分解能は求められないであろうから、ピッチを大きく設定して撮影時間の短縮を図ることが可能である。
【００３５】
実施形態では、各スキャン位置における部位のＸ線減衰量の変動のようすを推定するために、隣接するスキャン位置に対する算定管電流値の分散σを求める。図８（ａ）に示すようなスキャン位置と算定管電流値との関係（ステップＳ１で求められた関係）より算出した、隣接するスキャン位置に対する算定管電流値の分散σの一例を、同図（ｂ）に示す。
【００３６】
そして、この分散σに対するしきい値thを設定し（同図（ｂ）を参照）、スキャン位置ごとにしきい値判定を行う。そして、しきい値th以上の分散を有するスキャン位置ではピッチを所定の小さな値（例えば2.5）に設定し、しきい値に満たない分散を有するスキャン位置ではピッチを所定の大きな値（例えば4.0）に設定する。同図（ｃ）は、このしきい値判定の結果を示すグラフである。このグラフに示されるスキャン位置とピッチとの対応関係は、ピッチテーブル５３ｂとしてＲＡＭ５３内に作成される。
【００３７】
ピッチテーブル５３ｂの構成は、図９に示すとおりであって、所定の基準位置に対するスキャン位置（単位はｍｍ）と、そのスキャン位置におけるピッチの組み合わせが記述されている。
【００３８】
このようにしてピッチテーブル５３ｂが作成されると、処理はステップＳ４に進み、スキャン計画を行う。このスキャン計画は一般には、ＣＲＴ５６に表示されるスキャン計画画面に、スキャン開始位置、終了位置、スライス厚等の項目を入力していくことで行われる。設定されたスキャン条件は、ＲＡＭ５３にスキャン条件設定ファイル５３ｃとして作成、保存される。
【００３９】
以上の処理を経て、ＲＡＭ５３に記憶されたAuto mAテーブル５３ａ、ピッチテーブル５３ｂ、およびスキャン条件に従って、スキャンを実施することになる。
【００４０】
ステップＳ５では、スキャン開始指示がなされたか否かを、キーボード５７またはマウス５８の入力に基づき判断する。
【００４１】
スキャン開始指示がなされると、ステップＳ６に進み、テーブルモータ１３を駆動して、被検体を横たえたテーブル１２を、設定されたスキャン開始位置に基づく初期スキャン位置まで搬送する。
【００４２】
そして、ステップＳ７に進み、スキャンを実行する。具体的には、次のとおりである。
【００４３】
まず、Auto mAテーブル５３ａおよびピッチテーブル５３ｂから各々、初期スキャン位置に対応する算定管電流値およびピッチを読み出す。ピッチは、ガントリ３の回転中心におけるスライス厚Ｔを乗じることによって、被検体の搬送速度にあたる、１スキャンあたりのテーブル１２の搬送量に変換する。そして、これら算定管電流値および搬送量をはじめ、設定されたスキャン条件のうち必要な情報をパラメータとするスキャン開始コマンドをガントリ装置１００に送出する。
【００４４】
ガントリ装置１００のメインコントローラ１は、このコマンドを受けてスキャン動作を開始することになるが、ここで特に、パラメータとして受け取った算定管電流値をＸ線管４に与えるようにＸ線管コントローラ５を制御し、また、受け取った搬送量を実現する搬送速度でテーブル１２が搬送されるようにテーブルモータコントローラ１３を制御したうえで、スキャンを行う。
【００４５】
１スキャンを終えると、ステップＳ８で、スキャン区間の終端に達したと判断されるまで、スキャンを繰り返す。このときメインコントローラ１は、ＲＡＭ５３内のAuto mAテーブル５３ａおよびピッチテーブル５３ｂより各々、後続するスキャン位置に対応する算定管電流値およびピッチを順次読み出しながら、それに従ってＸ線管コントローラ５およびテーブルモータコントローラ１３を制御しつつスキャンを継続することになる。
【００４６】
また、上記したステップＳ７においては、スキャンによってデータ収集部９で収集された投影データが操作コンソール２００に転送されてくるので、ＣＰＵ５１は、画像再構成処理を行って断層像を作成し、ＣＲＴ５６に表示する。
【００４７】
なお、先にも説明したとおり、ヘリカルスキャンの場合は、目的のスライス位置における投影データは、１つの投影角度におけるデータしか収集されないので、画像再構成処理に先立ち、投影データをｚ軸方向に補間することが必要である。補間方法としては、基本的には、３６０度補間法、対向ビーム補間法等の、公知の技術を用いることができる。ただし、実施形態における補間演算においては、ピッチを、スキャン位置zを変数とするピッチP(z)として取り扱うことになる。
【００４８】
さらに、画像再構成処理においては、断層像のスライス厚を一定に保つために、ピッチP(z)に応じて使用するデータ範囲と重み付け係数を最適化することも可能である。
【００４９】
また、上記した実施形態では、隣接するスキャン位置に対する算定管電流値の分散σに対するスキャン位置ごとのしきい値判定に基づき、ピッチを２段階に設定するようにした（図８（ｃ）を参照）が、分散σ(z)に応じてピッチを連続的に変化させるようにしてもよい。例えば、
P(z)＝f(σ(z))＝A/σ＋B （ただし、A，Bは定数）
としてピッチを設定することができる。
【００５０】
以上説明したように、従来のＸ線ＣＴシステムでは、設定したスキャン区間における一連のヘリカルスキャンに対しては１種類のピッチしか設定することができなかったのに対し、実施形態によれば、あらかじめ各スキャン位置における部位のＸ線減衰量の変動のようすを推定することによって、スキャン位置ごとに最適なピッチを設定し、スキャン中にピッチを自動制御するようにしたので、ヘリカルスキャンの高速撮影のメリットを失うことなく、高画質のＸ線断層像を再構成することが可能となる。
【００５１】
また、実施形態におけるＸ線ＣＴシステムの制御のほとんどは操作コンソール２００において行った。操作コンソール２００の構成自体は、汎用の情報処理装置（ワークステーションやパーソナルコンピュータ等）で実現できるものであるので、ソフトウェアを同装置にインストールし、それでもって実現することも可能である。
【００５２】
つまり、本発明の目的は、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体（または記録媒体）を、システムあるいは装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行することによっても実現できるものである。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステム（ＯＳ）などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれる。
【００５３】
本発明を上記記憶媒体に適用する場合、その記憶媒体には、先に説明した（図２に示す）フローチャートに対応するプログラムコードが格納されることになる。
【００５４】
このようなプログラムコードを格納する記憶媒体としては、例えばフロッピーディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等を用いることができる。更には、ネットワーク（例えばインターネット）という媒体を介してダウンロードしても良いであろう。
【００５５】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、設定したスキャン区間において一連のヘリカルスキャンを行う場合に、スキャン位置に応じてヘリカルピッチを適応的に変更することによって、ヘリカルスキャンが有する高速撮影の利点を確保しつつ、高画質のＸ線断層像を再構成することが可能なＸ線ＣＴシステムおよび操作コンソール、それらの制御方法ならびに記憶媒体を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施形態に係るＸ線ＣＴシステムのブロック構成図である。
【図２】実施形態におけるスキャン制御処理を示すフローチャートである。
【図３】実施形態におけるスカウトスキャンの処理を説明するための図である。
【図４】実施形態におけるスカウトスキャンの設定および実行を行うための表示画面の一例を示す図である。
【図５】実施形態における被検体透視像の一例を示す図である。
【図６】実施形態におけるAuto mAによって得られたスキャン位置と算定管電流との対応関係の例を示す図である。
【図７】実施形態におけるAuto mAテーブルの一例を示す図である。
【図８】スキャン位置とヘリカルピッチとの対応関係を決定する処理を説明するための図である。
【図９】実施形態におけるAuto mAテーブルの一例を示す図である。
【発明の属する技術分野】
本発明は、Ｘ線照射によって被検体のＸ線断層像を再構成するＸ線ＣＴ（Computerized Tomograpy ）システムおよび操作コンソール、それらの制御方法ならびに記憶媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線ＣＴシステムは、一般に、Ｘ線発生源であるＸ線管からのＸ線ファンビームを、所定の照射角度（例えば、６０度）にコリメートしたうえで被検体に照射し、その透過Ｘ線を、Ｘ線の照射角度に依存した長さにわたる複数（例えば、１０００個）の検出チャネルを有するＸ線検出部で検出して得られる投影データの収集を、Ｘ線管とＸ線検出部を被検体の周囲を回転させながら複数（例えば、１０００）の投影角度で行い（スキャン）、各投影角度の投影データに基づいてＸ線断層像を再構成する。
【０００３】
現在、スキャンの方式として、投影角度の変化に同期して被検体をその体軸方向（ｚ軸方向ともいう）に移動させながら（すなわち、Ｘ線管とＸ線検出部とが被検体の周囲をらせん状に周回することになる）投影データを収集する、ヘリカルスキャン方式が、高速撮影を実現するものとして知られている。
【０００４】
ヘリカルスキャンの場合、らせん状に投影データが収集されていくことから、目的のスライス位置における投影データは、１つの投影角度におけるデータしか収集されないことになる。そのため、画像再構成に先立ち、投影データをｚ軸方向に補間することが必要となる。
【０００５】
ところで、ヘリカルスキャン方式によるＸ線ＣＴシステムにおいては、回転中心におけるスライス厚Ｔ（Ｘ線検出器のｚ軸方向の幅で決まる）と、１スキャン（３６０度分の投影データを収集すること）あたりの被検体の搬送量Ｓとの比率Ｓ／Ｔのことをヘリカルピッチ（以下、単にピッチという）と称し、このパラメータは一般に、スキャン条件設定項目の１つに含まれる。例えば、スライス厚を10mm、１スキャンあたりの被検体の搬送量（すなわち、搬送速度）を10mmとしたときのピッチは、10/10=１となる。
【０００６】
ピッチの設定は、撮影時間および得られる断層像のｚ軸方向の分解能に関係する。ピッチを大きくとれば撮影時間を短縮することになるけれども、一方で補間データに矛盾が生じアーティファクトを引き起こす原因になる。逆に、ピッチを小さくとると、撮影時間が長くなってしまうが、補間精度が高まり再構成画像の高画質化が望める。すなわち、ピッチは、撮影対象／目的に求められる断層像の画質と補間精度とのトレードオフの関係において、決定されることになる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、例えば胸部では、肺が大部分を占めるためＸ線減衰量は小さいのに対し、腹部では、臓器が多く存在するのでＸ線減衰量は大きい。また、肺が大部分を占める部位では、スライス位置ごとの各臓器形状が大きく変化することはないので、スライス位置ごとのＸ線減衰量の変動も小さい。ところが、腹部に向けて移動していくと、肺が占める割合が小さくなり別の臓器（肝臓等）が占める割合が大きくなっていく。そのため、このあたりの部位は、スライス位置ごとの各臓器形状が大きく変化し、スライス位置ごとのＸ線減衰量の変動が大きいといえる。スライス位置ごとのＸ線減衰量の変動が大きい部位、すなわち、スライス位置ごとの各臓器形状が大きく変化するような部位においては、高いｚ軸方向の分解能が求められることになろう。
【０００８】
しかしながら、従来のＸ線ＣＴシステムでは、設定したスキャン区間における一連のヘリカルスキャンに対しては１種類のピッチしか設定することができない。そのため、設定したスキャン区間内に、上記したような、Ｘ線減衰量に比較的変化のない部位とＸ線減衰量が大きく変化する部位とが含まれる場合には、Ｘ線減衰量が大きく変化する部位で補間の矛盾が大きくなり、高いｚ軸方向の分解能を確保することができず、再構成画像の画質が劣化してしまうという問題がある。
【０００９】
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、設定したスキャン区間において一連のヘリカルスキャンを行う場合に、スキャン位置に応じてヘリカルピッチを適応的に変更することによって、ヘリカルスキャンが有する高速撮影の利点を確保しつつ、高画質のＸ線断層像を再構成することが可能なＸ線ＣＴシステムおよび操作コンソール、それらの制御方法ならびに記憶媒体を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、例えば本発明のＸ線ＣＴシステムは、以下の構成を備える。すなわち、
Ｘ線管より発生するＸ線を被検体に向けて照射するときの投影角度の変化に同期して被検体をその体軸方向に移動させながら投影データを収集するヘリカルスキャンを行い、前記収集した投影データに基づいて該被検体の断層像を再構成するＸ線ＣＴシステムであって、被検体の体軸と直交する複数の投影角度からの被検体透視像を撮像する透視像撮像手段と、該透視像撮像手段で撮像された各被検体透視像に基づいて、各スキャン位置における前記搬送速度の制御値を決定する決定手段と、該決定手段で決定された各スキャン位置における前記搬送速度の制御値に従ってヘリカルスキャンを行うスキャン制御手段とを備えることを特徴とする。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して実施形態について詳細に説明する。
【００１２】
（構成）
図１は、実施形態のＸ線ＣＴシステムのブロック構成図である。図示のように本システムは、被検体へのＸ線照射と被検体を透過したＸ線を検出するためのＸ線検出機構を一体的に取り付けるガントリ装置１００と、ガントリ装置１００に対して各種動作設定を行うとともに、ガントリ装置１００から出力されたデータに基づいてＸ線断層像を再構成し、表示する操作コンソール２００により構成されている。
【００１３】
ガントリ装置１００は、その全体の制御をつかさどるメインコントローラ１をはじめ、以下の構成を備える。
【００１４】
２は操作コンソール２００との通信を行うためのインタフェース、３はテーブル１２上に横たえた被検体（患者）を搬送（図面に垂直な方向、すなわち、ｚ軸方向）するための空洞部を有するガントリであり、内部には、Ｘ線発生源であるＸ線管４（Ｘ線管コントローラ５により駆動制御される）、Ｘ線の照射範囲を画定するためのスリットを有するコリメータ６、コリメータ６のＸ線照射範囲を画定するスリット幅の調整用モータであるモータ７ａが設けられている。このモータ７ａの駆動はコリメータコントローラ７により制御される。
【００１５】
また、ガントリ３には、被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出部８、およびＸ線検出部８で得た透過Ｘ線より得られる投影データを収集するデータ収集部９も備える。なお、Ｘ線検出部８は、Ｘ線ビームを検出する検出器アレイを被検体の搬送方向に複数列隣接して設けたマルチ検出器を使用するものであってもよいし、一列の検出器アレイのシングル検出器を使用するものであってもよい。
【００１６】
Ｘ線管４およびコリメータ６と、Ｘ線検出部８とは、互いに空洞部分を挟んで、すなわち、被検体を挟んで対向する位置に設けられ、その関係が維持された状態でガントリ３のまわりを回動するようになっている。この回動は、モータコントローラ１１からの駆動信号により駆動される回転モータ１０によって行われる。また、被検体を乗せるテーブル１２は、ｚ軸方向への搬送がなされるが、その駆動はテーブルモータ１３によって行われる。
【００１７】
メインコントローラ１は、インタフェース２を介して受信した各種コマンドの解析を行い、それに基づいて上記のＸ線管コントローラ５、コリメータコントローラ７、モータコントローラ１１、テーブルモータコントローラ１４、そして、データ収集部９に対し、各種制御信号を出力することになる。また、メインコントローラ１は、データ収集部９で収集された投影データを、インタフェース２を介して操作コンソール２００に送出する処理も行う。
【００１８】
操作コンソール２００は、いわゆるワークステーションであり、図示するように、装置全体の制御をつかさどるＣＰＵ５１、ブートプログラムやＢＩＯＳを記憶しているＲＯＭ５２、主記憶装置として機能するＲＡＭ５３をはじめ、以下の構成を備える。
【００１９】
ＨＤＤ５４は、ハードディスク装置であって、ここにＯＳ、ガントリ装置１００に各種指示を与えたり、ガントリ装置１００より受信したデータに基づいてＸ線断層像を再構成するための診断プログラムが格納されている。診断プログラムには、後述するスキャン制御処理のプログラムが含まれる。また、ＶＲＡＭ５５は表示しようとするイメージデータを展開するメモリであり、ここにイメージデータ等を展開することでＣＲＴ５６に表示させることができる。５７および５８は、各種設定を行うためのキーボードおよびマウスである。また、５９はガントリ装置１００と通信を行うためのインタフェースである。
【００２０】
（処理）
実施形態におけるＸ線ＣＴシステムの構成は概ね上記の通りである。続いて、かかる構成のＸ線ＣＴシステムにおけるスキャン制御処理の概要を、図２のフローチャートを用いて説明する。このフローチャートに対応するプログラムは、操作コンソール２００のＨＤＤ５４に格納されていたものであり、電源投入後、ＲＡＭ５３にロードされ、ＣＰＵ５１により実行されるものである。
【００２１】
まず、ステップＳ１において、被検体をテーブル１２に横たえさせた後、スカウトスキャンを行う。スカウトスキャンとは、Ｘ線管４とＸ線検出部８を回転させずに一定の投影角度に固定したまま、被検体を乗せたテーブル１２を徐々に搬送しながらＸ線を連続的に照射して得た投影データより１枚の被検体透視像を得るものである。
【００２２】
ここでは、図３に示すように、Ｘ線管４を被検体の真上にあたる投影角度０度に位置させて（モータコントローラ１１の制御による）の第１のスカウトスキャンと、Ｘ線管４を被検体の真横に当たる投影角度９０度に位置させての第２のスカウトスキャンを行い、２種類の被検体透視像を得る。
【００２３】
なお、スカウトスキャンの条件設定および実行指令は、例えば図４に示すような、設定画面４００（操作コンソール２００のＣＲＴ５６に表示される）を介して行われる。図示のように、スカウトスキャン設定欄において、所定の基準位置に対するスカウトスキャンの開始位置、終了位置、Ｘ線管４に与える管電圧および管電流、そして、投影角度を設定できるようになっている。上記した２種類の被検体透視画像を得るためには、スカウトスキャン設定欄に投影角度「０」を入力した後、スカウトスキャン実行のスタートボタン４０２を押して、第１のスカウトスキャンを実行させる。続いて、同様に、スカウトスキャン設定欄に投影角度「９０」を入力した後、スタートボタン４０２を押して、第２のスカウトスキャンを実行させることになる。もちろん、逆に、第２のスカウトスキャンを先に行うようにしてもよいし、第１および第２のスカウトスキャンを自動的に連続して行わせるモードを設けてもかまわない。
【００２４】
この結果、図５に示す如く、テーブル１２上の被検体透視画像を取得することができる。
【００２５】
ところで、例えば胸部では、肺が大部分を占めるためＸ線減衰量は小さいのに対し、腹部では、臓器が多く存在するのでＸ線減衰量は大きいことは、先に説明した。また、被検体の体型も個々に異なる。
【００２６】
スキャンを行うと、Ｘ線減衰量の大きい部位における投影データのＳ／Ｎが、Ｘ線減衰量の小さい部位のそれより低下してしまう場合がある。これに対処するためＸ線量を大きくしてスキャンすれば、部位に関係なく良好なＳ／Ｎが得られるものの、必要以上の被曝がなされるので避けなければならない。
【００２７】
このような問題を解決するものとして、Ｘ線量を決定するＸ線管４に与える管電流値を、被検体のスキャン位置に応じて自動制御する、いわゆるAuto mAという技術が知られている。この技術を用いると、Ｘ線減衰量が異なる被検体の部位に応じた適切なＸ線量を設定することができ、無駄な被曝を抑えつつ、良好なＳ／Ｎを有する断層像を得ることができる。
【００２８】
実施形態においては、このAuto mAの技術を利用する。そこで、ＣＰＵ２１はステップＳ２において、Auto mAの算定を行う。具体的には、ステップＳ１で得られた２種類の投影データを用いて、被検体の各スキャン位置における体幅および体厚情報を得る。被検体の断面は一般に円形とはいえず、むしろ楕円に近いことから、形状によるノイズが発生する。そこで、上記の体幅／体厚情報に基づいて、各スライス位置における楕円率を算出するとともに、Ｘ線減衰量に基づいて、各スライス位置におけるスライス面の断面積を算出することで、ノイズを所定の範囲とするように、スライス位置ごとの管電流を算定する。図６は、スキャン位置と算定管電流との対応関係の例を示すグラフである。このグラフに示されるスキャン位置と算定管電流との対応関係は、Auto mAテーブル５３ａとしてＲＡＭ５３内に作成される。
【００２９】
Auto mAテーブル５３ａの構成は、図７に示すとおりであって、所定の基準位置に対するスキャン位置（単位はｍｍ）と、そのスキャン位置における管電流値（単位はｍＡ）の組み合わせが記述されている。
【００３０】
このようにしてAuto mAテーブル５３ａが作成されると、処理はステップＳ３に進む。
【００３１】
ステップＳ３では、まず、ステップＳ２で得られたAuto mAテーブル５３ａを参照して、スキャン位置を移動させたときの算定管電流値の変動に基づいて、各スキャン位置における部位のＸ線減衰量の変動のようすを推定する。
【００３２】
先の説明から明らかなように、Auto mAによって、Ｘ線減衰量の大きいスキャン位置では比較的大きな管電流値が算定され、Ｘ線減衰量の小さいスキャン位置では比較的小さな管電流値が算定される。
【００３３】
したがって、隣り合うスキャン位置で算定管電流値の変動が大きければ、当該スキャン位置は、Ｘ線減衰量の変動が大きい部位、すなわち、スライス位置ごとの各臓器形状が大きく変化するような部位であると推測できる。このような部位では、高いｚ軸方向の分解能が求められるであろうから、ピッチを小さく設定することになる。
【００３４】
逆に、隣り合うスキャン位置で算定管電流値の変動が小さければ、当該スキャン位置は、Ｘ線減衰量の変動が小さい部位、すなわち、スライス位置ごとの各臓器形状は大きく変化していないような部位であろうと推測できる。このような部位では、高いｚ軸方向の分解能は求められないであろうから、ピッチを大きく設定して撮影時間の短縮を図ることが可能である。
【００３５】
実施形態では、各スキャン位置における部位のＸ線減衰量の変動のようすを推定するために、隣接するスキャン位置に対する算定管電流値の分散σを求める。図８（ａ）に示すようなスキャン位置と算定管電流値との関係（ステップＳ１で求められた関係）より算出した、隣接するスキャン位置に対する算定管電流値の分散σの一例を、同図（ｂ）に示す。
【００３６】
そして、この分散σに対するしきい値thを設定し（同図（ｂ）を参照）、スキャン位置ごとにしきい値判定を行う。そして、しきい値th以上の分散を有するスキャン位置ではピッチを所定の小さな値（例えば2.5）に設定し、しきい値に満たない分散を有するスキャン位置ではピッチを所定の大きな値（例えば4.0）に設定する。同図（ｃ）は、このしきい値判定の結果を示すグラフである。このグラフに示されるスキャン位置とピッチとの対応関係は、ピッチテーブル５３ｂとしてＲＡＭ５３内に作成される。
【００３７】
ピッチテーブル５３ｂの構成は、図９に示すとおりであって、所定の基準位置に対するスキャン位置（単位はｍｍ）と、そのスキャン位置におけるピッチの組み合わせが記述されている。
【００３８】
このようにしてピッチテーブル５３ｂが作成されると、処理はステップＳ４に進み、スキャン計画を行う。このスキャン計画は一般には、ＣＲＴ５６に表示されるスキャン計画画面に、スキャン開始位置、終了位置、スライス厚等の項目を入力していくことで行われる。設定されたスキャン条件は、ＲＡＭ５３にスキャン条件設定ファイル５３ｃとして作成、保存される。
【００３９】
以上の処理を経て、ＲＡＭ５３に記憶されたAuto mAテーブル５３ａ、ピッチテーブル５３ｂ、およびスキャン条件に従って、スキャンを実施することになる。
【００４０】
ステップＳ５では、スキャン開始指示がなされたか否かを、キーボード５７またはマウス５８の入力に基づき判断する。
【００４１】
スキャン開始指示がなされると、ステップＳ６に進み、テーブルモータ１３を駆動して、被検体を横たえたテーブル１２を、設定されたスキャン開始位置に基づく初期スキャン位置まで搬送する。
【００４２】
そして、ステップＳ７に進み、スキャンを実行する。具体的には、次のとおりである。
【００４３】
まず、Auto mAテーブル５３ａおよびピッチテーブル５３ｂから各々、初期スキャン位置に対応する算定管電流値およびピッチを読み出す。ピッチは、ガントリ３の回転中心におけるスライス厚Ｔを乗じることによって、被検体の搬送速度にあたる、１スキャンあたりのテーブル１２の搬送量に変換する。そして、これら算定管電流値および搬送量をはじめ、設定されたスキャン条件のうち必要な情報をパラメータとするスキャン開始コマンドをガントリ装置１００に送出する。
【００４４】
ガントリ装置１００のメインコントローラ１は、このコマンドを受けてスキャン動作を開始することになるが、ここで特に、パラメータとして受け取った算定管電流値をＸ線管４に与えるようにＸ線管コントローラ５を制御し、また、受け取った搬送量を実現する搬送速度でテーブル１２が搬送されるようにテーブルモータコントローラ１３を制御したうえで、スキャンを行う。
【００４５】
１スキャンを終えると、ステップＳ８で、スキャン区間の終端に達したと判断されるまで、スキャンを繰り返す。このときメインコントローラ１は、ＲＡＭ５３内のAuto mAテーブル５３ａおよびピッチテーブル５３ｂより各々、後続するスキャン位置に対応する算定管電流値およびピッチを順次読み出しながら、それに従ってＸ線管コントローラ５およびテーブルモータコントローラ１３を制御しつつスキャンを継続することになる。
【００４６】
また、上記したステップＳ７においては、スキャンによってデータ収集部９で収集された投影データが操作コンソール２００に転送されてくるので、ＣＰＵ５１は、画像再構成処理を行って断層像を作成し、ＣＲＴ５６に表示する。
【００４７】
なお、先にも説明したとおり、ヘリカルスキャンの場合は、目的のスライス位置における投影データは、１つの投影角度におけるデータしか収集されないので、画像再構成処理に先立ち、投影データをｚ軸方向に補間することが必要である。補間方法としては、基本的には、３６０度補間法、対向ビーム補間法等の、公知の技術を用いることができる。ただし、実施形態における補間演算においては、ピッチを、スキャン位置zを変数とするピッチP(z)として取り扱うことになる。
【００４８】
さらに、画像再構成処理においては、断層像のスライス厚を一定に保つために、ピッチP(z)に応じて使用するデータ範囲と重み付け係数を最適化することも可能である。
【００４９】
また、上記した実施形態では、隣接するスキャン位置に対する算定管電流値の分散σに対するスキャン位置ごとのしきい値判定に基づき、ピッチを２段階に設定するようにした（図８（ｃ）を参照）が、分散σ(z)に応じてピッチを連続的に変化させるようにしてもよい。例えば、
P(z)＝f(σ(z))＝A/σ＋B （ただし、A，Bは定数）
としてピッチを設定することができる。
【００５０】
以上説明したように、従来のＸ線ＣＴシステムでは、設定したスキャン区間における一連のヘリカルスキャンに対しては１種類のピッチしか設定することができなかったのに対し、実施形態によれば、あらかじめ各スキャン位置における部位のＸ線減衰量の変動のようすを推定することによって、スキャン位置ごとに最適なピッチを設定し、スキャン中にピッチを自動制御するようにしたので、ヘリカルスキャンの高速撮影のメリットを失うことなく、高画質のＸ線断層像を再構成することが可能となる。
【００５１】
また、実施形態におけるＸ線ＣＴシステムの制御のほとんどは操作コンソール２００において行った。操作コンソール２００の構成自体は、汎用の情報処理装置（ワークステーションやパーソナルコンピュータ等）で実現できるものであるので、ソフトウェアを同装置にインストールし、それでもって実現することも可能である。
【００５２】
つまり、本発明の目的は、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体（または記録媒体）を、システムあるいは装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行することによっても実現できるものである。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステム（ＯＳ）などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれる。
【００５３】
本発明を上記記憶媒体に適用する場合、その記憶媒体には、先に説明した（図２に示す）フローチャートに対応するプログラムコードが格納されることになる。
【００５４】
このようなプログラムコードを格納する記憶媒体としては、例えばフロッピーディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等を用いることができる。更には、ネットワーク（例えばインターネット）という媒体を介してダウンロードしても良いであろう。
【００５５】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、設定したスキャン区間において一連のヘリカルスキャンを行う場合に、スキャン位置に応じてヘリカルピッチを適応的に変更することによって、ヘリカルスキャンが有する高速撮影の利点を確保しつつ、高画質のＸ線断層像を再構成することが可能なＸ線ＣＴシステムおよび操作コンソール、それらの制御方法ならびに記憶媒体を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施形態に係るＸ線ＣＴシステムのブロック構成図である。
【図２】実施形態におけるスキャン制御処理を示すフローチャートである。
【図３】実施形態におけるスカウトスキャンの処理を説明するための図である。
【図４】実施形態におけるスカウトスキャンの設定および実行を行うための表示画面の一例を示す図である。
【図５】実施形態における被検体透視像の一例を示す図である。
【図６】実施形態におけるAuto mAによって得られたスキャン位置と算定管電流との対応関係の例を示す図である。
【図７】実施形態におけるAuto mAテーブルの一例を示す図である。
【図８】スキャン位置とヘリカルピッチとの対応関係を決定する処理を説明するための図である。
【図９】実施形態におけるAuto mAテーブルの一例を示す図である。
Claims (6)
- Ｘ線管より発生するＸ線を被検体に向けて照射するときの投影角度の変化に同期して被検体をその体軸方向に所定の搬送速度で搬送させながら投影データを収集するヘリカルスキャンを行い、前記収集した投影データに基づいて該被検体の断層像を再構成するＸ線ＣＴシステムであって、
被検体の体軸と直交する複数の投影角度からの被検体透視像を撮像する透視像撮像手段と、
前記透視像撮像手段で撮像された各被検体透視像に基づき、各スキャン位置に対する、前記Ｘ線管に与える管電流値を算定する手段と、
隣り合う前記スキャン位置における算定管電流値の変動が比較的大きい場合は前記搬送速度を比較的小さく、隣り合うスキャン位置における算定管電流値の変動が比較的小さい場合は前記搬送速度を比較的大きくなるように、各スキャン位置における前記搬送速度の制御値を決定する決定手段と、
該決定手段で決定された各スキャン位置における前記搬送速度の制御値に従ってヘリカルスキャンを行うスキャン制御手段と、
を備えることを特徴とするＸ線ＣＴシステム。 - 前記決定手段は、前記算定管電流の変動について設定されたしきい値を用いて判定に基づき前記搬送速度の制御値を決定するものであることを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴシステム。
- Ｘ線管より発生するＸ線を被検体に向けて照射するときの投影角度の変化に同期して被検体をその体軸方向に移動させながら投影データを収集するヘリカルスキャンを行い、前記収集した投影データに基づいて該被検体の断層像を再構成するＸ線ＣＴシステムの制御方法であって、
被検体の体軸と直交する複数の投影角度からの被検体透視像を撮像する透視像撮像工程と、
前記透視像撮像手段で撮像された各被検体透視像に基づき、各スキャン位置に対する、前記Ｘ線管に与える管電流値を算定する工程と、
隣り合う前記スキャン位置における算定管電流値の変動が比較的大きい場合は前記搬送速度を比較的小さく、隣り合うスキャン位置における算定管電流値の変動が比較的小さい場合は前記搬送速度を比較的大きくなるように、各スキャン位置における前記搬送速度の制御値を決定する決定工程と、
該決定工程で決定された各スキャン位置における前記搬送速度の制御値に従ってヘリカルスキャンを行うスキャン制御工程と、
を有することを特徴とするＸ線ＣＴシステムの制御方法。 - Ｘ線管より発生するＸ線を被検体に向けて照射するときの投影角度の変化に同期して被検体をその体軸方向に移動させながら投影データを収集するヘリカルスキャンを行うガントリ装置の操作コンソールであって、
被検体の体軸と直交する複数の投影角度からの被検体透視像を撮像するよう指示する第１の指示手段と、
該第１の指示手段によって、前記ガントリ装置より転送されてきた各被検体透視像に基づき、各スキャン位置に対する、前記Ｘ線管に与える管電流値を算定する手段と、
隣り合う前記スキャン位置における算定管電流値の変動が比較的大きい場合は前記搬送速度を比較的小さく、隣り合うスキャン位置における算定管電流値の変動が比較的小さい場合は前記搬送速度を比較的大きくなるように、各スキャン位置における前記搬送速度の制御値を決定する決定手段と、
該決定手段で決定された各スキャン位置における前記搬送速度の制御値に従ったヘリカルスキャンを前記ガントリ装置に行わせる第２の指示手段と、
該第２の指示手段によって、前記ガントリ装置より転送されてきた投影データに基づいて前記被検体の断層像を再構成する画像再構成手段と、を備えることを特徴とするＸ線ＣＴシステムの操作コンソール。 - Ｘ線管より発生するＸ線を被検体に向けて照射するときの投影角度の変化に同期して被検体をその体軸方向に移動させながら投影データを収集するヘリカルスキャンを行うガントリ装置の操作コンソールの制御方法であって、
被検体の体軸と直交する複数の投影角度からの被検体透視像を撮像するよう指示する第１の指示工程と、
該第１の指示工程によって、前記ガントリ装置より転送されてきた各被検体透視像に基づき、各スキャン位置に対する、前記Ｘ線管に与える管電流値を算定する工程と、
隣り合う前記スキャン位置における算定管電流値の変動が比較的大きい場合は前記搬送速度を比較的小さく、隣り合うスキャン位置における算定管電流値の変動が比較的小さい場合は前記搬送速度を比較的大きくなるように、各スキャン位置における前記搬送速度の制御値を決定する決定工程と、
該決定工程で決定された各スキャン位置における前記搬送速度の制御値に従ったヘリカルスキャンを前記ガントリ装置に行わせる第２の指示工程と、
該第２の指示工程によって、前記ガントリ装置より転送されてきた投影データに基づいて前記被検体の断層像を再構成する画像再構成工程と、を有することを特徴とするＸ線ＣＴシステムの操作コンソールの制御方法。 - Ｘ線管より発生するＸ線を被検体に向けて照射するときの投影角度の変化に同期して被検体をその体軸方向に移動させながら投影データを収集するヘリカルスキャンを行うガントリ装置の操作コンソール用のプログラムコードを格納する記憶媒体であって、
被検体の体軸と直交する複数の投影角度からの被検体透視像を撮像するよう指示する第１の指示工程のプログラムコードと、
該第１の指示工程によって、前記ガントリ装置より転送されてきた各被検体透視像に基づき、各スキャン位置に対する、前記Ｘ線管に与える管電流値を算定する工程のプログラムコードと、
隣り合う前記スキャン位置における算定管電流値の変動が比較的大きい場合は前記搬送速度を比較的小さく、隣り合うスキャン位置における算定管電流値の変動が比較的小さい場合は前記搬送速度を比較的大きくなるように、各スキャン位置における前記搬送速度の制御値を決定する決定工程のプログラムコードと、
該決定工程で決定された各スキャン位置における前記搬送速度の制御値に従ったヘリカルスキャンを前記ガントリ装置に行わせる第２の指示工程のプログラムコードと、
該第２の指示工程によって、前記ガントリ装置より転送されてきた投影データに基づいて前記被検体の断層像を再構成する画像再構成工程のプログラムコードと、
を格納することを特徴とする記憶媒体。
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