JP3961249B2 - Ｘ線ｃｔシステム、ガントリ装置、操作コンソール及びその制御方法並びにプログラムコード、記憶媒体 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、検査部位の投影データに基づいて当該検査部位の断層像を生成する操作コンソール、被検体の検査部位に対してＸ線を照射し、当該検査部位を透過したＸ線に基づいて投影データを生成するガントリ装置、被検体の検査部位に対してＸ線を照射し、当該検査部位を透過したＸ線に基づいて投影データを生成するガントリ装置と、当該ガントリ装置による前記検査部位の投影データに基づいて前記検査部位の断層像を生成する操作コンソールとで構成されるＸ線ＣＴシステム及びその制御方法並びにプログラムコード、記憶媒体に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線ＣＴシステムは、被検体（患者）にＸ線を照射し、臓器、血液、灰白質等の人体組織のＸ線吸収率の差を検出器により検出し、これをコンピュータ処理する（再構成する）ことによって検査部位の断層面（スライス面）の画像（断層像）を得るものである。
【０００３】
医師はＸ線ＣＴシステムによって再構成された所定の検査部位の患者の断層像に基づいて、患者の病状等を診断する。このため、再構成された断層像は、人体組織のＸ線吸収率の差を精度よく識別でき、かつ検査目的に見合った画質を有することが必要となる。かかる画質を得るためには画像ノイズの低減が不可欠である。
【０００４】
一般にＸ線ＣＴシステムにおける画像ノイズは、均質な物質を撮影した場合のＣＴ値のばらつき（以下、イメージＳＤと称す）として表現され、イメージＳＤの値が小さいほど高画質の断層像となり、イメージＳＤの値が大きいほど低画質な断層像となる。画像ノイズを低減し、高画質の断層像を得るためには（すなわち、イメージＳＤを小さくするためには）、被検体を透過し、検出器において検出される透過Ｘ線量が大きくなければならず、検出器において十分な透過Ｘ線量を得るためには、被検体に照射するＸ線照射量が大きくなければならない。
【０００５】
しかし、画質の向上のみに主眼を置き、被検体に照射するＸ線照射量を大きくすることは、被検体の被曝線量の増加につながり、望ましくない。したがって、実際には所望の画質を確保しうる最小限のＸ線をＸ線管より照射するよう制御することが必要となる。
【０００６】
Ｘ線管より照射されるＸ線量はＸ線管に流れる電流（以下、管電流またはｍＡと称す）により制御されるが、上述のような最小限のＸ線照射を行うために管電流を制御する機能としてオートｍＡ機能（自動管電流制御機能）があり、従来のＸ線ＣＴシステムにおいて標準的に装備されている。
【０００７】
従来のＸ線ＣＴシステムにおけるオートｍＡ機能は、事前に被検体ごとに所定の部位に所定のＸ線照射量で所定の方向からＸ線を照射し（このように、被検体毎に事前にＸ線を照射し、所望のデータを採取するスキャンをスカウトスキャンとよぶ）、そのときの透過Ｘ線量測定結果（基礎データ）に基づいて、イメージＳＤを算出する一方、検査時の断層像に求められる画質レベル（かかる目標となる目標画質レベルをターゲットＳＤと呼ぶ）を設定し、イメージＳＤとターゲットＳＤとの比に基づいて検査時の管電流を算出する。
【０００８】
このとき、ターゲットＳＤの設定は、検査時のスライス厚と検査部位とに基づいて決定される。具体的には図１に示すテーブルを参照して決定される。図１はターゲットＳＤの設定を行う際に用いるテーブルの例を示す図である。
【０００９】
例えば、検査部位が胸部でスライス厚が１０ｍｍである場合、同図のテーブルを参照するとターゲットＳＤの設定値を５．４と決定することができる（モードをＩＱとした場合）。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
上述のような管電流の算出方法を採用することで、検査部位に応じた管電流を算出することができる。しかし上述のような方法では検査部位に対しては一定の管電流に応じたＸ線を照射することになる。このことにより、Ｘ線の照射方向に対する検査部位の厚さによっては過剰のＸ線を照射する場合もある。その結果、患者に無駄な被爆を与えることになる。
【００１１】
本発明はかかる問題に鑑みて成されたものであり、被検体の検査部位に対するＸ線の照射方向に応じて管電流を制御することで、被検体への無駄な被爆を軽減することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明の目的を達成するために、例えば本発明の操作コンソールは以下の構成を備える。
【００１３】
すなわち、検査部位の投影データに基づいて当該検査部位の断層像を生成する操作コンソールであって、
被検体の検査部位に対して所定の方向からＸ線を照射すると共に、当該被検体を搬送することで前記検査部位の各スキャン位置における投影データを収集する外部の装置に対して、前記投影データの収集の指示を送信し、前記装置が収集した前記投影データを受信する送受信手段と、
前記装置がスキャン時に各スキャン位置に対して照射するＸ線の量を制御する第１の制御値を、前記送受信手段が受信した各スキャン位置における投影データ、前記指示の内容に基づいて算出する第１の算出手段と、
前記装置がスキャン時に各スキャン位置に対して照射するＸ線の照射角度に応じた当該Ｘ線の量を制御する第２の制御値を算出する第２の算出手段とを備え、更に前記送受信手段は、前記第１の制御値、前記第２の制御値に基づいたスキャンを行う指示を前記装置に対して送信する。
【００１４】
また、前記第１の算出手段は、各スキャン位置における投影データに基づいた断層像に対する目標画質レベルに基づいて、前記投影データを収集する際のＸ線の量を制御する制御値を補正することで、前記第１の制御値を算出する。
【００１５】
また、前記第１の制御値は、各スキャン位置における投影データに基づいた断層像を楕円近似した場合、前記装置が当該楕円の長径方向に対して照射するＸ線の量を制御する。
【００１６】
また、前記第２の算出手段は、各スキャン位置における投影データに基づいた断層像を楕円近似した場合、当該楕円の長径と短径の比を求め、当該比と前記第１の制御値とを用いて前記第２の制御値を算出する。
【００１７】
また、前記第２の制御値は、各スキャン位置における投影データに基づいた断層像を楕円近似した場合、当該楕円の短径方向に対して照射するＸ線の量を制御する。
【００１８】
また、前記指示の内容は、検査部位、スライス厚、Ｘ線の量を制御する制御値である。
【００１９】
また、前記送受信手段は、前記第１の制御値、前記第２の制御値を周期的に用いるスキャンを行う指示を、前記装置に対して送信する。
【００２０】
また、前記第１の制御値、前記第２の制御値は、前記装置がＸ線を照射する際に、当該Ｘ線の量を制御するコントローラに流れる管電流である。
【００２１】
本発明の目的を達成するために、例えば本発明のガントリ装置は以下の構成を備える。
【００２２】
すなわち、被検体の検査部位に対してＸ線を照射し、当該検査部位を透過したＸ線に基づいてスキャンデータを生成するガントリ装置であって、
被検体の検査部位に対して所定の方向からＸ線を照射すると共に、当該被検体を搬送することで前記検査部位の各スキャン位置における投影データを収集する指示を外部の装置から受信し、収集した投影データを前記装置に送信し、各スキャン位置に対するＸ線の照射角度に応じた当該Ｘ線の量を制御するスキャンの指示を前記装置から受信する送受信手段と、
前記送受信手段が受信した前記スキャンの指示に基づいて、前記検査部位に対して照射するＸ線の照射角度に応じた当該Ｘ線の量の制御を行う制御手段と
を備える。
【００２３】
【発明の実施の形態】
以下添付した図面を参照して、本発明を好適な実施形態に従って、詳細に説明する。
【００２４】
［第１の実施形態］
図２は、本実施形態のＸ線ＣＴシステムのブロック構成図である。図示のように本システムは、被検体へのＸ線照射と被検体を透過したＸ線を検出するためのＸ線検出機構を一体的に取り付けるガントリ装置１００と、ガントリ装置１００に対して各種動作設定を行うとともに、ガントリ装置１００から出力されたデータに基づいてＸ線断層像を再構成し、表示する操作コンソール２００により構成されている。
【００２５】
ガントリ装置１００は、その全体の制御をつかさどるメインコントローラ１をはじめ、以下の構成を備える。
【００２６】
２は操作コンソール２００との通信を行うためのインタフェース、３はテーブル１２上に横たえた被検体（患者）を搬送（図面に垂直な方向で以下、ｚ軸ともいう）するための空洞部を有するガントリであり、内部には、Ｘ線発生源であるＸ線管４（Ｘ線管コントローラ５により駆動制御される）、Ｘ線の照射範囲を画定するためのスリットを有するコリメータ６、コリメータ６のＸ線照射範囲を画定するスリット幅の調整用モータであるモータ７ａが設けられている。このモータ７ａの駆動はコリメータコントローラ７により制御される。
【００２７】
また、ガントリ３は、被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出部８、およびＸ線検出部８で得た透過Ｘ線より得られる投影データを収集するデータ収集部９も備える。Ｘ線管４及びコリメータ６と、Ｘ線検出部８は互いに空洞部分を挟んで、すなわち、被検体を挟んで対向する位置に設けられ、その関係が維持された状態でガントリ３のまわりを回動するようになっている。この回動は、モータコントローラ１１からの駆動信号により駆動される回転モータ１０によって行われる。また、被検体を乗せるテーブル１２は、ｚ軸方向への搬送がなされるが、その駆動はテーブルモータ１３によって行われる。テーブルモータ１３の駆動はテーブルモータコントローラ１４により制御される。
【００２８】
メインコントローラ１は、インタフェース２を介して受信した各種コマンドの解析を行い、それに基づいて上記のＸ線管コントローラ５、コリメータコントローラ７、モータコントローラ１１、テーブルモータコントローラ１４、そして、データ収集部９に対し、各種制御信号を出力することになる。また、メインコントローラ１は、データ収集部９で収集された投影データを、インタフェース２を介して操作コンソール２００に送出する処理も行う。
【００２９】
操作コンソール２００は、いわゆるワークステーションであり、図示するように、装置全体の制御をつかさどるＣＰＵ５１、ブートプログラム等を記憶しているＲＯＭ５２、主記憶装置として機能するＲＡＭ５３をはじめ、以下の構成を備える。
【００３０】
ＨＤＤ５４は、ハードディスク装置であって、ここにＯＳ、後述するスキャン制御プログラムのほか、ガントリ装置１００に各種指示を与えたり、ガントリ装置１００より受信したデータに基づいてＸ線断層像を再構成するための診断プログラムが格納されている。ＶＲＡＭ５５は表示しようとするイメージデータを展開するメモリであり、ここにイメージデータ等を展開することでＣＲＴ５６に表示させることができる。５７及び５８は、各種設定を行うためのキーボードおよびマウスである。また、５９はガントリ装置１００と通信を行うためのインタフェースである。
【００３１】
以上の構成を備える本実施形態のＸ線ＣＴシステムが行うオートｍＡについて、以下説明する。
【００３２】
まず、テーブル１２上の被検体の検査部位に対してスカウトスキャンを行う。以下では、スカウトスキャンを行う複数のスカウトスキャン位置のうち、注目スカウトスキャン位置に対してスキャン（スカウトスキャンの後で行う）を行う際に用いる管電流の算出方法について説明する。
【００３３】
図３にスカウトスキャンを行った際に得られるグラフを示す。同図において３０１は注目スカウトスキャン位置における検査部位の断層面（以下、単に断層面）で、楕円近似されたものである。３０２は注目スカウトスキャン位置において検査部位を断層面３０１の長径方向にＸ線３０４によりスカウトスキャンを行った場合に得られるグラフである。３０３は注目スカウトスキャン位置において検査部位を断層面３０１の短径方向にＸ線３０５によりスカウトスキャンを行った場合に得られるグラフである。つまり、グラフ３０２，３０３は検査部位に対して注目スカウトスキャン位置でスカウトスキャンを行う場合に、ガントリ３の回転角度を夫々９０度ずらして行った場合に得られるグラフである。夫々のグラフにおいて縦軸は、検査部位の注目スカウトスキャン位置に照射するＸ線の量（Ｉｏ）と、検査部位の注目スカウトスキャン位置を透過したＸ線の量（Ｉ）との比を対数形式で示したものであり、横軸はＸ線検出部８のチャンネルである。
【００３４】
グラフ３０２，３０３の詳細を夫々図４（ａ），（ｂ）に示す。夫々の図ではチャンネルは１からＭＡＸ＿ｃｈまで番号が付けられており、夫々のチャンネルに対する−ｌｎ（Ｉｏ／Ｉ）の集合（領域）を夫々４０１，４０２で表している。ここで、領域４０１もしくは４０２のいずれかの面積（以下、透過面積）Ｓを以下の式で求める。
【００３５】
Ｓ＝ｐｒ（１）＋ｐｒ（２）＋，，，＋ｐｒ（ＭＡＸ＿ｃｈ）
ここで、ｐｒ（ｉ）（１≦ｉ≦ＭＡＸ＿ｃｈ）はチャンネルｉに対する−ｌｎ（Ｉｏ／Ｉ）の値を表す。以下では領域４０１の透過面積をＳ１，領域４０２の透過面積をＳ２とする。
【００３６】
次に、断層面３０１の短径と長径の比（すなわち、楕円率）を求める。これはグラフ３０２，３０３において、断層面３０１の長径、短径近傍を透過したＸ線を検出する検出器（チャンネル）に対応する−ｌｎ（Ｉｏ／Ｉ）の値の比を求めることに等価である。断層面３０１の長径、短径を求める方法を図５を用いて以下説明する。図５は断層面３０１の長径、短径を求める方法を説明する図である。
【００３７】
まず、全チャンネル中で中心となるチャンネル（Ｃｅｎｔ）の前後５０チャンネル分の−ｌｎ（Ｉｏ／Ｉ）をすべて加算する。この計算は以下のようにして求めることができる。
【００３８】
ｒ＝ｐｒ（Ｃｅｎｔ−４９）＋ｐｒ（Ｃｅｎｔ−４８）＋，，，＋ｐｒ（Ｃｅｎｔ＋４９）＋ｐｒ（Ｃｅｎｔ＋５０）
領域４０１、４０２におけるｒを計算し、計算結果を夫々ｒ１，ｒ２とする。その結果、ｒ１，ｒ２は夫々断層面３０１の短径、長径近傍の−ｌｎ（Ｉｏ／Ｉ）の和なので、この比（ｒ１／ｒ２）により上述の楕円率Ｒを求めることができる。
【００３９】
Ｒ＝ｒ１／ｒ２
以上のＳ１（もしくはＳ２）、Ｒを用いて管電流を算出する方法について以下説明する。上述のように、管電流はイメージＳＤとターゲットＳＤとを求め、夫々の比に基づいて算出することができる。よって、まず、イメージＳＤを求める方法について説明する。
【００４０】
イメージＳＤは透過面積と楕円率によって変化する。よって、以上で求めた透過面積と楕円率を用いることでイメージＳＤを求めることができる。透過面積Ｓを有する領域のイメージＳＤ（σ_ｐｘ）は以下の式に従って求めることができる。
【００４１】
ρ_ｐｘ＝α＋β×Ｓ＋γ×Ｓ^２
ここでα、β、γは予め定められた定数である。また、楕円率Ｒを有する領域のＳＤ比ｋは以下の式で求めることができる。
【００４２】
ｋ＝Ａ＋Ｂ×Ｒ^２
ここでＡ、Ｂは予め求められた定数である。以上のρ_ｐｘ、ｋを用いて、透過面積Ｓ、楕円率Ｒを有する領域に対するイメージＳＤ（ρ’_ｐｘ）を以下のようにして求める。
【００４３】
ρ’_ｐｘ＝ρ_ｐｘ×ｋ
一方、ターゲットＳＤは、上述のように、検査部位とスライス厚、そしてモード（図２の例ではＩＱ，Ｎｏｒｍａｌ，ＬｏｗＤｏｓｅの３つのモード）を選択すると、図２に示したテーブルから一意に決定することができる。ここではスカウトスキャンを行った検査部位、スカウトスキャンを行う際に設定されたスライス厚、モードを用いる。決定したターゲットＳＤをρ_{ｔａｒｇｅｔ}とすると、最終的に求める管電流の値は以下の式に基づいて求めることができる。
【００４４】
ｍＡ＝（ｍＡ_{ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ}×ｔｆ）／（ρ’_ｐｘ／ρ_{ｔａｒｇｅｔ}）^２ここで、ｍＡ_{ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ}はスカウトスキャンを行った際にＸ線管４に流した管電流で、ｔｆは１０／（スライス厚）を計算した値である。
【００４５】
しかしここで求めた管電流は、上述のようにＸ線の照射方向に対する検査部位の厚さを考慮していないので、その厚さによっては必要以上の管電流である場合がある。例えば検査部位の断層面を楕円近似し、この検査部位に対して同じ管電流に応じたＸ線を照射した場合、断層面の長径方向ではちょうど良いＸ線の量であっても、短径方向では過剰な量である場合がある。
【００４６】
よって、本実施形態では上述のようにして求めた管電流を第１の制御値として、長径方向にＸ線を照射する際の管電流（以下、ｍＡ_ｔ）とする。一方、短径方向にＸ線を照射する際の管電流（以下、ｍＡ_ｂ）は以下の式に基づいて求める。
【００４７】
ｍＡ_ｂ＝ｍＡ_ｔ×Ｒ
この管電流のを第２の制御値とする。このようにすることで、Ｘ線を長径方向、短径方向に対して照射する際に、管電流を制御することができ、その結果、制御された管電流に応じたＸ線を照射することができる。
【００４８】
また、この管電流は上述の通り断層面の長径方向、短径方向に対してＸ線を照射するたびに変化する。言い換えれば、第１の制御値、第２の制御値（管電流の値ｍＡ_ｔ、ｍＡ_ｂ）はガントリ３の回転角が９０度変化する度に変化する。よって、ガントリ３の回転角をθとし、管電流の値を決める関数をｆ（θ）とすると、関数ｆは以下のように表すことができる。
【００４９】
ｆ（θ）＝ｍＡ_ｔ（１−Ｒ）ｓｉｎ（θ）＋ｍＡ_ｔＲ
なおθは図６に示すように、検査部位の断層面６０１の短径方向を０度とし、９０度を長径方向とする。しかし、管電流の値を決める関数はｓｉｎ関数に限定されたものではなく、位相が９０度である周期関数であればよく、他にもｃｏｓ関数や三角波等でも良い。
【００５０】
以上説明した処理により、検査部位の注目スカウトスキャン位置（スキャン位置）に対してスキャンを行う場合に用いる管電流の値を決める関数を算出することができる。また、以上の処理を検査部位の各スカウトスキャン位置に対して行うことで、各スカウトスキャン位置に適した管電流の値を決める関数を算出することができ、算出した関数を用いて各スカウトスキャン位置に対してスキャンを行うことで、検査部位に対して無駄な被爆を軽減することができる。
【００５１】
以上説明した、管電流の値を決める関数を算出し、算出した管電流に基づいてＸ線断層像を得る処理のフローチャートを図７，８に示す。
【００５２】
図７において、まず操作コンソール２００からキーボード５７，マウス５８を用いてスカウトスキャン計画を入力する（ステップＳ７０１）。このスカウトスキャン計画はスカウトスキャンの対象となる被検体の検査部位、管電流、スライス厚等を含む。次に入力したスカウトスキャン計画をガントリ装置１００に送信する（ステップＳ７０２）。ガントリ装置１００は操作コンソール２００から送信されたスカウトスキャン計画を受信し（ステップＳ７５１）、受信したスカウトスキャン計画に基づいてスカウトスキャンを行う（ステップＳ７５２）。そしてスカウトスキャンを行った結果（投影データ）を操作コンソール２００に送信する（ステップＳ７５３）。操作コンソール２００はガントリ装置１００から送信されたスカウトスキャンの結果を受信し（ステップＳ７０３）、この結果に基づいて上述の処理を行うことで、管電流の値を決定する関数を各スカウトスキャン位置毎に算出する（ステップＳ７０４）。尚、図示していないが、ステップＳ７０３では受信したスカウトスキャンの結果に含まれる投影データから、Ｘ線断層像を生成する。
【００５３】
ステップＳ７０４における処理の詳細を図８に示し、以下説明する。
【００５４】
まず、断層面から透過面積Ｓ（図３の例ではＳ１，Ｓ２のいずれか）を求める（ステップＳ８０１）。次に断層面の短径、長径近傍を透過するＸ線を検出するチャンネルに対応する−ｌｎ（Ｉｏ／Ｉ）の値の和ｒ１，ｒ２を求める（ステップＳ８０２）。そして、求めたｒ１，ｒ２を用いて断層面の楕円率Ｒを求める（ステップＳ８０３）。そして、ステップＳ８０１で求めた透過面積Ｓを用いて、透過面積Ｓを有する領域のイメージＳＤ（ρ_ｐｘ）を求め（ステップＳ８０４）、ステップＳ８０３で求めた楕円率Ｒを用いて、楕円率Ｒを有する領域のＳＤ比（ｋ）を求める（ステップＳ８０５）。
【００５５】
そしてステップＳ８０４で求めたイメージＳＤ（ρ_ｐｘ）と、ステップＳ８０５で求めたＳＤ比（ｋ）を用いて、透過面積Ｓ、楕円率Ｒを有する領域のイメージＳＤ（ρ’_ｐｘ）を求める（ステップＳ８０６）。次にキーボード５７やマウス５８を用いて検査部位、スライス厚、モードを入力することで、図２に示したテーブルにより、ターゲットＳＤを特定する（ステップＳ８０７）。ステップＳ８０７における処理はステップＳ７０１におけるスカウトスキャン計画を入力する時点で行っても良い。
【００５６】
次に、ステップＳ８０６で求めたイメージＳＤ（ρ’_ｐｘ）と、ステップＳ８０７で特定されたターゲットＳＤ（ρ_{ｔａｒｇｅｔ}）を用いて、ｍＡ_ｔを求め（ステップＳ８０８）、求めたｍＡ_ｔと楕円率Ｒを用いてｍＡ_ｂを求める（ステップＳ８０９）。そして求めたｍＡ_ｔ、ｍＡ_ｂを用いて管電流の値を決める関数ｆを算出する（ステップＳ８１０）。尚、図示していないが、同図に示した注目スカウトスキャン位置における関数ｆの算出処理を検査部位の全てのスカウトスキャン位置に対して行い、検査部位の全てのスカウトスキャン位置に対する関数ｆが求まったら、処理をステップＳ７０５に進める。
【００５７】
図７に戻って、スキャン計画をキーボード５７、マウス５８を用いて入力し（ステップＳ７０５）、ステップＳ７０４で算出された関数ｆを含むスキャン計画をガントリ装置１００に送信する（ステップＳ７０６）。ガントリ装置１００は操作コンソール２００から送信されたスキャン計画を受信し（ステップＳ７５４）、受信したスキャン計画に基づいたスキャンを行う（ステップＳ７５５）。このとき、ガントリ装置１００は受信したスキャン計画に含まれる関数ｆをＸ線コントローラ５に送り、関数ｆに基づいた管電流の制御を行う。その結果、Ｘ線管４は制御された管電流に基づいたＸ線を照射することになる。
【００５８】
そしてスキャンの結果（スキャンデータ）を操作コンソール２００に送信し（ステップＳ７５６）、操作コンソール２００はガントリ装置１００から送信されたスキャンの結果を受信する（ステップＳ７０７）。そして操作コンソール２００は受信したスキャンデータからＸ線断層像を画像再構成を行うことで生成し（ステップＳ７０８）、ＣＲＴ５６に表示する（ステップＳ７０９）。
【００５９】
尚、上述の処理において、第１の制御値、第２の制御値は夫々、第１の制御値を算出する第１の算出手段、第２の制御値を算出する第２の算出手段として機能する操作コンソール２００におけるＣＰＵ５１により算出される。
【００６０】
［その他の実施形態］
また、本発明の目的は、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体（または記録媒体）を、システムあるいは装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行することによっても実現できるものである。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。また、コンピュータ（操作コンソール）が読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステム(ＯＳ)などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれる。
【００６１】
本発明を上記記憶媒体に適用する場合、その記憶媒体には、先に説明した（図７、及び／又は図８に示すフローチャートの一部もしくは全部）に対応するプログラムコードが格納されることになる。
【００６２】
このようなプログラムコードを格納する記憶媒体としては、例えばフロッピーディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等を用いることができる。更には、ネットワーク（例えばインターネット）という媒体を介してダウンロードしても良いであろう。
【００６３】
【発明の効果】
以上の説明により、本発明によって、被検体の検査部位に対するＸ線の照射方向に応じて管電流を制御することができ、被検体への無駄な被爆を軽減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】ターゲットＳＤの設定を行う際に用いるテーブルの例を示す図である。
【図２】本発明の第１の実施形態におけるＸ線ＣＴシステムのブロック構成図である。
【図３】スカウトスキャンを行った際に得られるグラフを示す図である。
【図４】グラフ３０２，３０３の詳細を示す図である。
【図５】断層面３０１の短径、長径を求める方法を説明する図である。
【図６】θを説明する図である。
【図７】管電流の値を決める関数を算出し、算出した管電流に基づいてＸ線断層像を得る処理のフローチャートである。
【図８】ステップ７０４における処理の詳細を示すフローチャートである。

Claims (18)

1. 検査部位の投影データに基づいて当該検査部位の断層像を生成する操作コンソールであって、
   被検体の検査部位に対して所定の方向からＸ線を照射すると共に、当該被検体を搬送することで前記検査部位の各スキャン位置における投影データを収集する外部の装置に対して、前記投影データの収集の指示を送信し、前記装置が収集した前記投影データを受信する送受信手段と、
   前記各スキャン位置における投影データに基づいた断層像を楕円近似した場合の当該楕円の直径と短径の比を求める楕円率算出手段と、
   前記装置がスキャン時に各スキャン位置に対して照射するＸ線の量を制御する第１の制御値を、前記送受信手段が受信した各スキャン位置における投影データ、前記指示の内容、及び前記楕円の直径と短径の比に基づいて算出する第１の制御値算出手段と、
   前記第１の制御値と前記楕円の長径と短径の比に基づき算出される、前記各スキャン位置における照射角度に応じて周期的に変化する制御値を算出する算出手段と
   を備え、
   前記送受信手段は、前記第１の制御値と前記楕円の長径と短径の比に基づき算出される、前記各スキャン位置における照射角度に応じて周期的に変化する制御値に基づいたスキャンを行う指示を前記装置に対して送信することを特徴とする操作コンソール。
2. 前記第１の制御値算出手段は、各スキャン位置における投影データに基づいた断層像に対する目標画質レベルに基づいて、前記投影データを収集する際のＸ線の量を制御する制御値を補正することで、前記第１の制御値を算出することを特徴とする請求項１に記載の操作コンソール。
3. 前記第１の制御値は、各スキャン位置における投影データに基づいた断層像を楕円近似した場合の長径方向に対して照射するＸ線の量を制御するものであることを特徴とする請求項２に記載の操作コンソール。
4. さらに、前記楕円の長径と短径の比と前記第１の制御値とを用いて第２の制御値を算出する第２の制御値算出手段を備えたことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の操作コンソール。
5. 前記第２の制御値は、前記楕円の短径方向に対して照射するＸ線の量を制御するものであることを特徴とする請求項４に記載の操作コンソール。
6. 前記指示の内容は、検査部位、スライス厚、Ｘ線の量を制御する制御値であることを特徴とする請求項１に記載の操作コンソール。
7. 前記送受信手段は、前記第１の制御値、前記第２の制御値を周期的に用いるスキャンを行う指示を、前記装置に対して送信することを特徴とする請求項４又は５に記載の操作コンソール。
8. 前記第１の制御値、前記第２の制御値は、前記装置がＸ線を照射する際に、当該Ｘ線の量を制御するコントローラに流れる管電流であることを特徴とする請求項４、５、及び７のいずれか１項に記載の操作コンソール。
9. 被検体へのＸ線照射と被検体を透過したＸ線を検出するためのＸ線検出機構を一体的に取り付けるガントリ装置と、ガントリ装置に対して各種動作設定を行うとともに、ガントリ装置から出力されたデータに基づいてＸ線断層像を再構成し、表示する操作コンソールとを有するＸ線ＣＴシステムにおいて、
   前記操作コンソールは、請求項１乃至８のいずれか１項に記載の操作コンソールを含むことを特徴とするＸ線ＣＴシステム。
10. 検査部位の投影データに基づいて当該検査部位の断層像を生成する操作コンソールの制御方法を実行するプログラムコードであって、
    被検体の検査部位に対して所定の方向からＸ線を照射すると共に、当該被検体を搬送することで前記検査部位の各スキャン位置における投影データを収集する外部の装置に対して、前記投影データの収集の指示を送信し、前記装置が収集した前記投影データを受信する送受信工程のプログラムコードと、
    前記各スキャン位置における投影データに基づいた断層像を楕円近似した場合の当該楕円の直径と短径の比を求める楕円率算出工程のプログラムコードと、
    前記装置がスキャン時に各スキャン位置に対して照射するＸ線の量を制御する第１の制御値を、前記送受信工程で受信した各スキャン位置における投影データ、前記指示の内容、及び前記楕円の直径と短径の比に基づいて算出する第１の制御値算出工程のプログラムコードと、
    前記第１の制御値と前記楕円の長径と短径の比に基づき算出される、前記各スキャン位置における照射角度に応じて周期的に変化する制御値を算出する算出工程のプログラムコードと
    を備え、
    前記送受信工程では、前記第１の制御値と前記楕円の長径と短径の比を用いて算出される前記各スキャン位置における照射角度に応じて周期的に変化する制御値に基づいたスキャンを行う指示を前記装置に対して送信することを特徴とするプログラムコード。
11. 前記第１の制御値算出工程では、各スキャン位置における投影データに基づいた断層像に対する目標画質レベルに基づいて、前記投影データを収集する際のＸ線の量を制御する制御値を補正することで、前記第１の制御値を算出することを特徴とする請求項１０に記載のプログラムコード。
12. 前記第１の制御値は、各スキャン位置における投影データに基づいた断層像を楕円近似した場合の長径方向に対して照射するＸ線の量を制御することを特徴とする請求項１１に記載のプログラムコード。
13. さらに、前記楕円の長径と短径の比と前記第１の制御値とを用いて第２の制御値を算出する第２の制御値算出工程のプログラムコードを備えたことを特徴とする請求項１０乃至１２のいずれか１項に記載のプログラムコード。
14. 前記第２の制御値は、前記楕円の短径方向に対して照射するＸ線の量を制御するものであることを特徴とする請求項１３に記載のプログラムコード。
15. 前記指示の内容は、検査部位、スライス厚、Ｘ線の量を制御する制御値であることを特徴とする請求項１０に記載のプログラムコード。
16. 前記送受信工程では、前記第１の制御値、前記第２の制御値を周期的に用いるスキャンを行う指示を、前記装置に対して送信することを特徴とする請求項１３又は１４に記載のプログラムコード。
17. 前記第１の制御値、前記第２の制御値は、前記装置がＸ線を照射する際に、当該Ｘ線の量を制御するコントローラに流れる管電流であることを特徴とする請求項１３、１４、及び１６のいずれか１項に記載のプログラムコード。
18. 請求項１０乃至１７のいずれか１項に記載のプログラムコードを格納し、コンピュータが読み取り可能な記憶媒体。

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