JP4785265B2 - X線ctシステムおよびその操作コンソールおよびその制御方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 36
- 238000011895 specific detection Methods 0.000 claims description 5
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 11
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 3
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、X線照射によって被検体のX線断層像を再構成するX線CTシステムおよびその操作コンソールおよびその制御方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
X線CT(Computerized Tomograpy )システムでは一般に、X線発生源であるX線管からのX線を、所定の照射角度(例えば、60度)にコリメートしたうえで被検体に照射し、その透過X線を、X線の照射角度に依存した長さにわたる複数(例えば、1,000個)の検出チャネルを有するX線検出部で検出して得られる投影データの収集を、X線管とX線検出部を被検体の周囲を回転させながら複数(例えば、1,000)のビュー方向で行い、各ビューの投影データに基づいてX線断層像を再構成する。この一連の投影データの収集がスキャンとよばれるものである。
【0003】
ところで、X線管は、X線を発生させるために陰極と陽極との間に高電圧をかけることから、時に微小放電が発生することが知られている。この放電現象はスピッツ(spits)ともよばれる。微小放電が生じたときに照射されるX線量は急激に減少してしまう。そのため、微小放電が生じたときのビューにおける投影データをそのまま画像再構成処理に使用すると、X線断層像にシャワーアーティファクト等の特有のアーティファクトが発生する可能性がある。これを回避するために、微小放電の影響を受けたビューの検出チャネル出力または投影データは、他の検出チャネル出力または投影データを用いて補間することになる。
【0004】
X線CTシステムは一般に、X線検出部の検出チャネルのうち端部に位置する検出チャネル(被検体を透過することなくX線ビームが直接入射するようになっている)を、各種補正処理等のためのリファレンスチャネルとして使用する。微小放電により適正に投影データを収集できなかったビューの検出(「spits検出」ともいう。)も、このリファレンスチャネルを利用して行うことができる。その検出は例えば、次の次式によるしきい値判定により行われる。
【0005】
d(n, ref)/d(n-1, ref) > T (= 1-ε) (1)
【0006】
ただし、d(n, ref)は、第nビューのリファレンスチャネルrefの出力、d(n-1, ref)は、第n-1ビュー(1つ手前のビュー)のリファレンスチャネルrefの出力である。また、しきい値Tは、隣接するビュー間のリファレンスチャネル出力の許容変動率をε(例えば、0.2)としたときに、式中に示されたように、1-εとして表される。
【0007】
(1)式を満たさない場合には、第nビューは微小放電により適正に投影データを収集できなかったと判定される。すなわち、現在のビューのリファレンスチャネル出力が、1つ過去のビューのリファレンスチャネル出力に対する所定の割合(1-εを乗じた値)よりも下回ると、微小放電が発生したと判断される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、与えられるX線は、spitsの発生にかかわらず量子ノイズを有する。すなわち、リファレンスチャネルrefの出力dに対し、dの1/2乗に比例するノイズが発生する。そして、X線量が一定の場合、スライス厚を厚くするとこのノイズは小さくなり、スライス厚が薄くなるとノイズが大きくなることが知られている。
【0009】
したがって、スライス厚を薄くすると、ノイズの増大に伴って隣接するビュー間のリファレンスチャネル出力の変動も増大することになる。したがって、スライス厚によっては、あらかじめ設定された許容変動率εとノイズとが近似した値となり、これによってspitsの誤検出が生じるという問題がある。spitsの誤検出によって行われる他の検出チャネル出力または投影データの補間は当然、再構成される画像に悪影響を及ぼすことになる。
【0010】
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、微小放電により適正に投影データを収集できなかったビューを検出する精度を改善し、もって再構成画像の画質を向上させることが可能なX線CTシステムおよびその操作コンソールおよびその制御方法を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、例えば本発明のX線CTシステムは、以下の構成を備える。すなわち、
X線発生源より発生するX線を被検体に向けて照射し、その透過X線を複数の検出チャネルを有するX線検出部で検出して得られる投影データを、複数のビューから収集するスキャンを行い、各ビューの投影データに基づいて該被検体のX線断層像を再構成するX線CTシステムであって、
スライス厚を含む前記スキャンの条件を設定するスキャン条件設定手段と、
第nビューにおける特定の検出チャネルrefの出力に基づくデータd(n, ref)と、第n-1ビューにおける当該特定の検出チャネルrefの出力に基づくデータd(n-1, ref)との比d(n, ref)/d(n-1, ref)に対して、所定のしきい値によるしきい値判定を行うことで、当該第nビューにおいて収集された投影データが適正か否かを判断する手段と、
を備え、
前記しきい値は、前記スキャン条件設定手段で設定された前記スライス厚に応じて定められることを特徴とする。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して実施形態について詳細に説明する。
【0013】
図1は、実施形態に係るX線CTシステムのブロック構成図である。図示のように本システムは、被検体へのX線照射と被検体を透過したX線を検出するためのX線検出機構を一体的に取り付けるガントリ装置100と、ガントリ装置100に対して各種動作設定を行うとともに、ガントリ装置100から出力されたデータに基づいてX線断層像を再構成し、表示する操作コンソール200により構成されている。
【0014】
ガントリ装置100は、その全体の制御をつかさどるメインコントローラ1をはじめ、以下の構成を備える。
【0015】
2は操作コンソール200との通信を行うためのインタフェース、3はテーブル12上に横たえた被検体を搬送(図面に垂直な方向で以下、z軸ともいう)するための空洞部を有するガントリであり、内部には、X線発生源であるX線管4(X線管コントローラ5により駆動制御される)、X線の照射範囲を画定するためのスリットを有するコリメータ6、コリメータ6のX線照射範囲を画定するスリット幅の調整用モータであるモータ7aが設けられている。このモータ7aの駆動はコリメータコントローラ7により制御される。
【0016】
また、ガントリ3には、被検体を透過したX線を検出するX線検出部8、およびX線検出部8より得られたデータを収集するデータ収集部9も備える。X線管4およびコリメータ6と、X線検出部8は互いに空洞部分を挟んで、すなわち、被検体を挟んで対向する位置に設けられ、その関係が維持された状態でガントリ3のまわりを回動するようになっている。この回動は、モータコントローラ11からの駆動信号により駆動される回転モータ10によって行われる。また、被検体を乗せるテーブル12は、z軸方向への搬送がなされるが、その駆動はテーブルモータ13によって行われる。
【0017】
メインコントローラ1は、インタフェース2を介して受信した各種コマンドの解析を行い、それに基づいて上記のX線管コントローラ5、コリメータコントローラ7、モータコントローラ11、テーブルモータコントローラ14、そして、データ収集部9に対し、各種制御信号を出力することになる。また、メインコントローラ1は、データ収集部9で収集されたデータを、インタフェース2を介して操作コンソール200に送出する処理も行う。
【0018】
操作コンソール200は、いわゆるワークステーションであり、図示の如く、装置全体の制御をつかさどるCPU51、ブートプログラムやBIOSを記憶しているROM52、主記憶装置として機能するRAM53をはじめ、以下の構成を備える。
【0019】
HDD54は、ハードディスク装置であって、ここにOS、ガントリ装置100に各種指示を与えたり、ガントリ装置100より受信した投影データに基づいてX線断層像を再構成するための診断プログラム等が格納されている。また、VRAM55は表示しようとするイメージデータを展開するメモリであり、ここにイメージデータ等を展開することでCRT56に表示させることができる。57および58は、各種設定を行うためのキーボードおよびマウスである。また、59はガントリ装置100と通信を行うためのインタフェースである。
【0020】
また、上記したX線検出部8は、図2に示すように、ファン角とよばれる、コリメータ6によって規定される所定のX線照射角(例えば、60度)に依存した長さにわたるQ個(例えば、Q=1,000)の検出チャネルを有し、一列の検出器アレイを形成している。実施形態では一列の検出器アレイを有するものとするが、検出器アレイをz軸方向に複数列配し、マトリクス状の検出チャネル群を形成する、いわゆるマルチスライス型のX線検出部であってもよい。
【0021】
このX線検出部8において、端部の検出チャネルrefは、常にX線ビームが被検体を透過することなく直接入射するリファレンスチャネルとして、X線量補正のためのX線量変動の監視を始め、後述する本発明に係る微小放電の発生判断等に使用される。ここではX線検出部8の一端の検出チャネルのみをリファレンスチャネルとしているが、両端の検出チャネルをリファレンスチャネルとして使用することもできる。なお、リファレンスチャネル以外の検出チャネルは、リファレンスチャネルとの対比において、メイン検出チャネルとよばれることもある。
【0022】
本実施形態におけるX線CTシステムの構成は概ね上記の通りである。かかる構成のX線CTシステムにおいて、投影データの収集は次のように行われる。まず、z軸方向の位置を固定して、X線管4からのX線ビームを被検体に照射し(X線の投影)、その透過X線をX線検出部8で検出する。そして、この透過X線の検出を、X線管4とX線検出部8を被検体の周囲を回転させながら(すなわち、投影角度を変化させながら)複数N(例えば、N=1,000)のビュー方向で、360度分行う。検出された各透過X線は、データ収集部9でディジタル値に変換されて投影データとしてメインコントローラ1を介して操作コンソール200に転送される。これを1つの単位として1スキャンとよぶ。そして、順次z軸方向にスキャン位置を所定量移動して、次のスキャンを行っていく。このようなスキャン方式はアキシャルスキャン方式とよばれるが、投影角度の変化に同期してスキャン位置を移動させながら(X線管4とX線検出部8とが被検体の周囲をらせん状に周回することになる)投影データを収集する、ヘリカルスキャン方式であってもよい。操作コンソール200は、転送された投影データに基づいて、X線断層画像を再構成し、CRT56に表示出力する。
【0023】
なお、収集された1スキャン分の投影データを模式的に表示すると、図3に示すようになる。同図において、横方向は、第0チャネルから第Q-1チャネルまでのQ個の検出チャネルを示している。縦方向は、0度から360度までに対応する第0ビューから第N-1ビューまでのN個のビューを示している。
【0024】
本発明は、X線断層像の再構成に先立ち、X線管4で発生した微小放電によって適正に投影データを収集することができなかったビューを精度よく検出し、当該ビューにおけるデータを補間する処理を含む。
【0025】
図4は、実施形態に係る操作コンソール200におけるスキャン計画処理から再構成されたCT画像を表示するまでの処理を示すフローチャートである。
【0026】
まず、スキャン計画を立てる(ステップS1)。このスキャン計画において、例えば、スキャン開始位置および終了位置、スライス厚をはじめ、X線管4に供給する管電流、管電圧、スキャン時間等のスキャン条件が設定される。スライス厚については、例えば、1mm、2mm、3mm、5mm、7mm、および10mmのいずれかに設定が可能となっている。設定されたスキャン条件はRAM53に記憶される。
【0027】
次に、X線管4で発生した微小放電によって適正に投影データを収集することができなかったビューを検出するための、隣接するビュー間のリファレンスチャネル出力の許容変動率εを、設定されたスライス厚に応じて設定する(ステップS2)。スライス厚とそれに応じて決定されるεとの関係は、実験によりあらかじめ定められる。
【0028】
図5は、実験によって定められたスライス厚とそれに応じて決定されるεとの関係を示すグラフの一例である。先に説明したとおり、スライス厚を薄くするとノイズが増えるため、許容変動率を厳しく設定してしまうと、spitsの誤検出が増えるという問題がある。この問題を解消するために、グラフに示されるように、許容変動率εの値は、スライス厚が薄くなるにつれて大きくなるように設定される。
【0029】
図5のグラフに示したスライス厚wとεとの関係は、図6に示すような構造を有するw-εテーブルとしてHDD54に記憶されている(図1を参照)。そして、このステップS2では、w-εテーブルを参照して、ステップS1でRAM53に記憶されたスキャン条件としてのスライス厚に対応する許容変動率εを設定する。つまり、本実施形態により設定される許容変動率εはスライス厚wの関数として表される。以下、このことを明確にするために、本ステップで設定された許容変動率をε(w)と表記する。
【0030】
その後、ステップS3では、スキャン開始指示がなされたか否かをキーボード57もしくはマウス58の入力に基づき判断する。スキャン開始指示がなされると、ステップS1で設定したスキャン条件をパラメータとするスキャン開始指令をガントリ装置100に送信し、ガントリ装置100にスキャンを行わせる。
【0031】
そして、そのスキャンによってガントリ装置100からのデータを受信し(ステップS4)、ステップS5で受信データが終了したかどうかも監視している。
【0032】
ステップS6では、受信した各ビューのデータを対数変換する等の所定の前処理を施す。
【0033】
次のステップS7では、1-ε(w)をしきい値とする次式のしきい値判定を行う。
【0034】
d(n, ref)/d(n-1, ref) > 1-ε(w) (2)
【0035】
ただし、d(n, ref)は、第nビューのリファレンスチャネルrefの出力、d(n-1, ref)は、第n-1ビュー(1つ手前のビュー)のリファレンスチャネルrefの出力である。(2)式を満たさない場合には、第nビューは微小放電により適正に投影データを収集できなかったと判定される。
【0036】
(2)式を満たさず、第nビューは微小放電により適正に投影データを収集できなかったと判定された場合には、ステップS8に進み、当該第nビューのデータが補間される。補間は、さまざまな手法で行うことが可能である。ここでは例えば、微小放電が発生したと判断された第nビューにおける各検出チャネル出力を、第n-1ビューにおける各検出チャネル出力との平均値でもって線形補間することとする。この補間操作は次式のように表すことができる。
【0037】
【0038】
ただし、(3)式および図4にステップS8のブロックに示された式において、記号「=」は右辺の値を左辺に代入することを意味するものとする。また、「for(k=0,Q-1)」とは、0からQ-1まで1刻みの各値をkに代入して、各々の場合について代入式を実行することを示している。
【0039】
また、図7は、(3)式による補間操作を図解したものである。第nビューにおいて微小放電が発生したと判断されたとすると、当該第nビューにおける第kチャネルの出力d(n, k)と、第n-1ビューにおける同じ第kチャネルの出力d(n-1, k)とが加算され、1/2の重みが乗じられた後に、d(n, k)がその値で更新されることになる。
【0040】
ステップS7の(2)式を満たし、第nビューは適正に投影データを収集できたと判定した場合には、そのままステップS9に進む。ステップS9では、X線量補正、検出チャネル間の感度補正等の所定の補正処理を行う。
【0041】
その後、X線断層像を再構成し(ステップS10)、CRT56に再構成されたX線断層像を表示する(ステップS11)。そして、ステップS5でガントリ装置100からのデータ受信が終了したと判断した時点で処理を終了する。
【0042】
以上説明したように、本実施形態では、隣接するビュー間のリファレンスチャネル出力の許容変動率εを、設定されたスライス厚に応じて設定するようにした。これによって、X線管で発生した微小放電によって適正に投影データを収集することができなかったビューを検出するための判定しきい値が設定されたスライス厚に応じて設定する。
【0043】
spits検出のための判定しきい値の基になる隣接するビュー間のリファレンスチャネル出力の許容変動率εを、設定されたスライス厚に応じて設定するようにした。このことは、判定しきい値がスライス厚に応じて設定されることに他ならない。つまり、spits検出のための判定しきい値は、スライス厚によって異なるノイズを考慮して設定されることになり、これによって精度のよいspits検出が可能になる。
【0044】
なお、図4のステップS7における微小放電が発生したか否かの判断は、ステップS9のX線量の補正に先立って行うことが好ましいが、ステップS8の補間処理は、ステップS9のX線量補正後で、ステップS10の画像再構成処理の前に行うようにしてもかまわない。
【0045】
また、上述した実施形態では、判定しきい値をスライス厚に応じて設定するようにしたが、この他、設定されたその他のスキャン条件(管電圧、管電流、スキャン時間等)に応じて設定するように設計することも可能である。
【0046】
また、実施形態におけるX線システムの制御のほとんどは操作コンソール200において行った。操作コンソール200の構成自体は、汎用の情報処理装置(ワークステーションやパーソナルコンピュータ等)で実現できるものであるので、ソフトウェアを同装置にインストールし、それでもって実現することも可能である。
【0047】
つまり、本発明の目的は、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体(または記録媒体)を、システムあるいは装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU)が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成されることはいうまでもない。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステム(OS)などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれる。
【0048】
さらに、記憶媒体から読み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張カードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書込まれた後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張カードや機能拡張ユニットに備わるCPUなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることはいうまでもない。
【0049】
本発明を上記記憶媒体に適用する場合、その記憶媒体には、先に説明した図4に示すフローチャートに係る処理を実現するプログラムコードが格納されることになる。
【0050】
このようなプログラムコードを格納する記憶媒体としては、例えばフロッピーディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、CD−ROM、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ROM等を用いることができる。更には、ネットワーク(例えばインターネット)という媒体を介してダウンロードしても良いであろう。
【0051】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、微小放電により適正に投影データを収集できなかったビューを検出する精度を改善し、もって再構成画像の画質を向上させることが可能なX線CTシステムおよびその操作コンソールおよびその制御方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態に係るX線CTシステムのブロック構成図である。
【図2】実施形態におけるリファレンスチャネルを説明するための図である。
【図3】実施形態における収集された1スキャンデータの模式図である。
【図4】実施形態における操作コンソールの処理を示すフローチャートである。
【図5】実施形態におけるスライス厚と許容変動率εとの関係を表すグラフを示す図である。
【図6】実施形態におけるw-εテーブルの一例を示す図である。
【図7】実施形態における補間操作を説明するための図である。
Claims (5)
- X線発生源より発生するX線を被検体に向けて照射し、その透過X線を複数の検出チャネルを有するX線検出部で検出して得られる投影データを、複数のビューから収集するスキャンを行い、各ビューの投影データに基づいて該被検体のX線断層像を再構成するX線CTシステムにおける操作コンソールであって、
スライス厚を含む前記スキャンの条件を設定するスキャン条件設定手段と、
第nビューにおける特定の検出チャネルrefの出力に基づくデータd(n, ref)と、第n-1ビューにおける当該特定の検出チャネルrefの出力に基づくデータd(n-1,ref)との比d(n,ref)/d(n-1, ref)に対して、所定のしきい値によるしきい値判定を行うことで、当該第nビューにおいて収集された投影データが適正か否かを判断する手段と、を備え、
前記しきい値は、前記スキャン条件設定手段で設定された前記スライス厚に応じて定められるX線CTシステムの操作コンソール。 - 前記特定の検出チャネルrefの出力に基づくデータは、該出力の大きさに応じた値をデータ値として有しており、
前記しきい値は、前記スライス厚が厚くなると、大きくなり、
前記判断する手段は、前記比d(n, ref)/d(n-1, ref)が前記しきい値を下回るときに、前記第nビューにおいて収集された投影データは不適正であると判断する請求項1に記載のX線CTシステムの操作コンソール。 - 前記第nビューにおいて収集された投影データが不適正であると判断されたときに、該第nビューの投影データを他の投影データを用いて補間する手段をさらに備えている請求項1または請求項2に記載のX線CTシステムの操作コンソール。
- 請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の操作コンソールを備えているX線CTシステム。
- コンピュータを、請求項1から請求項3のいずれか一項に記載のX線CTシステムの操作コンソールとして機能させるためのプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001114372A JP4785265B2 (ja) | 2001-04-12 | 2001-04-12 | X線ctシステムおよびその操作コンソールおよびその制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001114372A JP4785265B2 (ja) | 2001-04-12 | 2001-04-12 | X線ctシステムおよびその操作コンソールおよびその制御方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002306469A JP2002306469A (ja) | 2002-10-22 |
JP4785265B2 true JP4785265B2 (ja) | 2011-10-05 |
Family
ID=18965458
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001114372A Expired - Fee Related JP4785265B2 (ja) | 2001-04-12 | 2001-04-12 | X線ctシステムおよびその操作コンソールおよびその制御方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4785265B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4587672B2 (ja) * | 2004-01-07 | 2010-11-24 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | 放射線断層撮影装置および放射線断層撮影方法 |
JP6362865B2 (ja) | 2013-01-10 | 2018-07-25 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | X線コンピュータ断層撮影装置及びx線発生装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0291552A (ja) * | 1988-09-29 | 1990-03-30 | Toshiba Corp | Ctスキャナ装置 |
JPH09192125A (ja) * | 1996-01-19 | 1997-07-29 | Hitachi Medical Corp | X線ct装置 |
JPH09234191A (ja) * | 1996-02-29 | 1997-09-09 | Hitachi Medical Corp | X線補償フィルタ制御装置及びそれを用いたx線画像診断装置 |
JP2000516834A (ja) * | 1997-06-26 | 2000-12-19 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 調整可能なコンピュータ断層撮影装置 |
JP2000060841A (ja) * | 1998-08-20 | 2000-02-29 | Ge Yokogawa Medical Systems Ltd | 放射線ビーム照射方法および装置並びに放射線断層撮影装置 |
JP4768899B2 (ja) * | 1999-03-17 | 2011-09-07 | 株式会社東芝 | X線ct装置 |
-
2001
- 2001-04-12 JP JP2001114372A patent/JP4785265B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2002306469A (ja) | 2002-10-22 |
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Date | Code | Title | Description |
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A625 | Written request for application examination (by other person) |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A977 | Report on retrieval |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140722 Year of fee payment: 3 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |