JP4413673B2 - 不良原因装置特定システム及び不良原因装置特定方法 - Google Patents
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Description
本発明の第1の実施の形態に係る不良原因装置特定システムは、図1に示ように、複数の処理工程a、b、c、…、q、…に対応した複数の製造装置群3a、3b、3c…、3q、…のメンテナンス情報及び動作情報を生産管理サーバ14経由で記憶する装置履歴情報データベース4と、複数の基板27a、27b、27c、27d、…の一群をロットとして、複数のロットが複数の処理工程a、b、c、…、q、…を通過したロット識別情報(図中、識別情報を「ID」と略記する)を生産管理サーバ14経由で記憶するロット識別情報データベース15と、それぞれのロットの複数の基板27a、27b、27c、27d、…の各チップ領域26に形成された集積回路の機能を検査する検査装置17の検査結果をテスタサーバ16経由で不良データとしてデータベース化して記憶する不良データデータベース18とを備え、製造装置群3a、3b、3c…、3q、…の状態、複数の基板27a、27b、27c、27d、…のロット状態、各基板のチップ領域26に形成された集積回路の状態を各々管理する生産管理情報として活用する。
要因効果データ作成部5は、N台の製造装置Mq1、Mq2、…・MqNの各々の不良ロット処理数を、各々「Fq1、Fq2、・・・、FqN」と定義し、不良ロット処理数を加算する次の式(2)で工程qにおける不良ロット処理総数Fを算出する。
要因効果データ作成部5は、N台の製造装置Mq1、Mq2、…・MqNの各々の不良ロット処理数の期待値を、「Eq1、Eq2、・・・、EqN」と定義した場合、不良ロット処理総数Fに各製造装置Mqi(i=1〜N)の処理ロット数Aqiを乗じた乗算結果に対して、全処理ロット総数Aで除算する次の式(3)を用いて、不良ロット処理数の各製造装置Mqiの期待値Eqiを算出し、製造装置Mq1、Mq2、…、MqNが発生させる不良ロット数の期待値を求める。
さらに、要因効果データ作成部5は、工程qに対応した製造装置群3qのχqi 2値(i=1〜N)を、次の式(4)を用いて算出する。この場合、Fqiは不良ロット数、Eqiは製造装置群3qで発生する不良ロット数の期待値を示している。
要因効果データ作成部5は、例えば、工程qにおけるχ2乗値χ2 qを、次の式(5)を用いて算出する。
引き続き、要因効果データ作成部5は、自由度Nのχ2分布関数を「f(χ2、 N)」と定義し、工程qのχ2検定値Pqを次の式(6)を用いて算出する。
また、要因効果データ作成部5は、χ2検定値Pqが「0.05」以下である場合、工程qにおいて、95%の信頼度で不良ロット処理の偏りに有意差があると判定する。
次に、要因効果図作成部6は、直交表を参照し、各水準別に因子の平均値を算出する。例えば、因子番号列「1」に不良ロットが割り当てられている水準「1」の平均値をX11とした場合、因子番号「1」で水準「1」(図中、因子番号「1」では試行番号「1」から「6」の水準が該当する)のSN比の平均値X11を次の式(8)で算出する。
同様に、要因効果図作成部6は、因子番号「1」の中で水準「2」(図中、因子番号列「1」では試行番号「7」から「12」の水準が該当する)のSN比の平均値X21を次の式(9)で算出する。
装置差異分析部8は、2水準直交表(図6参照)に基づき、因子番号列x=「2」〜「12」に関しても、水準「1」を不良ロットが存在すると推定し、水準「2」を良品ロットが存在すると推定し、水準「1」のSN比X1x及び水準「2」のSN比X2xを各々演算した結果、不良ロットの選択が、2水準直交表に従ってバランス化された不良ロット特定に最も有意な演算結果を得ることができる。
本発明の第2の実施の形態に係る不良原因装置特定システムを図11〜図15を参照して説明する。第2の実施の形態は、低い歩留まりのロットを不良ロットの集団として抽出する点で第1の実施の形態と相違するが、第1の実施の形態と共通する構成要素については重複する説明を省略する。
上記のように、本発明は第1〜第2の実施の形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施の形態及び運用技術が明らかとなろう。
3a、3b、3c、3d…製造装置群
4…装置履歴情報データベース
5…要因効果データ作成部
6…要因効果図作成部
7…不良ロット選択最適化部
8…装置差異分析部
9…不良原因装置一覧作成部
10…中央処理装置
11…メインメモリ
12…不良原因装置特定プログラム記憶装置
14…生産管理サーバ
15…ロット識別情報データベース
16…テスタサーバ
17…検査装置
18…不良データデータベース
19…水準直交表データベース
20…不良分類部
21…不良分類データベース
22…不良ロット識別情報抽出部
23…不良ロット群計算部
24…不良ロット群データベース
25…不良原因一覧データベース
Claims (5)
- 複数の製造装置群の不良ロット識別情報を因子列とし、該因子列に対応させて不良ロット及び良品ロットを区別するための水準情報を試行行に配置した直交表を用いて特定の不良形態を有するロットの不良ロット群情報、に基づき要因効果データを作成する要因効果データ作成部と、
前記要因効果データと前記不良ロット識別情報が一致するか否かを表示する要因効果図を作成する要因効果図作成部と、
前記要因効果図に基づき、同一の不良原因に起因する複数の不良ロットを選択する不良ロット選択最適化部と、
前記選択された複数の不良ロットを処理した前記製造装置群の履歴情報を装置履歴情報データベースから読み出し、複数の不良ロットに共通する製造装置を特定する装置差異分析部、
とを備えることを特徴とする不良原因装置特定システム。 - 前記要因効果図作成部は、検査装置の検査結果から面内傾向を分類し同一面内傾向を有する前記不良ロット群情報を抽出して前記要因効果図を作成することを特徴とする請求項1に記載の不良原因装置特定システム。
- 複数の製造装置群のメンテナンス情報及び動作情報を記憶する装置履歴情報データベースと、
工業製品の歩留まり情報を記憶する歩留まりデータベースと、
前記歩留まりデータベースに記憶した歩留まり情報の中から不良ロット識別情報を因子列とし、該因子列に対応させて不良ロット及び良品ロットを区別するための水準情報を試行行に配置した直交表を用いた装置差異分析検定値に基づいて選択した不良ロット群情報を記憶する不良ロット群データベースと、
前記不良ロット群データベースから読み出した不良ロット群情報と前記不良ロット識別情報とが一致するか否かを表示する要因効果図を作成する要因効果図作成部と、
前記要因効果図作成部から出力した要因効果図に基づき、同一の不良原因に起因する複数の不良ロットを選択する不良ロット選択最適化部と、
前記不良ロット選択最適化部が選択した複数の不良ロットを処理した前記製造装置群の履歴情報を前記装置履歴情報データベースから読み出し、複数の不良ロットに共通する製造装置を特定する装置差異分析部と、
を備えることを特徴とする不良原因装置特定システム。 - 要因効果データ作成部が、装置履歴情報データベースから製造装置群のメンテナンス情報及び動作情報を読み出して、不良ロット群を因子列とし、該因子列に対応させて不良ロット及び良品ロットを区別するための水準情報を試行行に配置した直交表を用いた異常候補工程及び製造装置群の検定値を算出する要因効果データ作成ステップと、
要因効果図作成部が、要因効果データ作成部から出力された検定値を、前記不良ロット群に含まれるロット番号毎に不良検定値と正常検定値に区分けして表示する要因効果図を作成する要因効果図作成ステップと、
不良ロット選択最適化部が、前記要因効果図作成部から出力した要因効果図に基づき、同一の不良原因に起因する複数の不良ロットを選択する不良ロット選択最適化ステップと、
装置差異分析部が、前記不良ロット選択最適化部が選択した複数の不良ロットを処理した前記製造装置群の履歴情報を前記装置履歴情報データベースから読み出し、複数の不良ロットに共通する製造装置を特定する装置差異分析ステップと、
を含むことを特徴とする不良原因装置特定方法。 - 前記要因効果図作成ステップは、検査装置の検査結果から面内傾向を分類し同一面内傾向を有する前記不良ロット群情報を抽出して前記要因効果図を作成することを特徴とする請求項4に記載の不良原因装置特定方法。
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