JP4241772B2 - プリント回路板および差動信号伝送構造 - Google Patents

プリント回路板および差動信号伝送構造 Download PDF

Info

Publication number
JP4241772B2
JP4241772B2 JP2006186912A JP2006186912A JP4241772B2 JP 4241772 B2 JP4241772 B2 JP 4241772B2 JP 2006186912 A JP2006186912 A JP 2006186912A JP 2006186912 A JP2006186912 A JP 2006186912A JP 4241772 B2 JP4241772 B2 JP 4241772B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal transmission
differential signal
transmission line
low
differential
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006186912A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007053739A (ja
Inventor
浩之 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2006186912A priority Critical patent/JP4241772B2/ja
Priority to US11/486,089 priority patent/US7545652B2/en
Publication of JP2007053739A publication Critical patent/JP2007053739A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4241772B2 publication Critical patent/JP4241772B2/ja
Priority to US12/437,514 priority patent/US7916497B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P5/00Coupling devices of the waveguide type
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0213Electrical arrangements not otherwise provided for
    • H05K1/0216Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference
    • H05K1/023Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference using auxiliary mounted passive components or auxiliary substances
    • H05K1/0231Capacitors or dielectric substances
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0213Electrical arrangements not otherwise provided for
    • H05K1/0237High frequency adaptations
    • H05K1/0246Termination of transmission lines
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49175Parallel arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19107Disposition of discrete passive components off-chip wires
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance
    • H01L2924/30111Impedance matching
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0213Electrical arrangements not otherwise provided for
    • H05K1/0237High frequency adaptations
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09209Shape and layout details of conductors
    • H05K2201/09218Conductive traces
    • H05K2201/09236Parallel layout
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10007Types of components
    • H05K2201/10022Non-printed resistor

Description

本発明は、差動信号伝送方式を用いた電子機器からの放射ノイズを低減する差動信号伝送構造に関する。
近年、電子機器間の信号伝送において、電子機器における動作の高速化に対応するため、データ転送レートの向上が必要となっている。そのためには、伝送する信号の高周波化や、信号伝送に用いるデバイスのスイッチング速度の高速化が必須となっている。伝送する信号の高速化及び高速化に伴い、放射ノイズに対する対策が必要となる。そこで、従来からシングルエンド方式の信号伝送方式にかわり、差動信号伝送方式が使用されるようになってきている。なかでも低電圧差動信号伝送(Low Voltage Differential Signaling:LVDS)方式は、差動信号ペアに逆位相で流れる電流により発生する磁界が互いに打ち消し合う効果に加えて、信号波形が低振幅電圧である事が放射ノイズ低減に対して非常に有効である。
図8はLVDS方式の一般的な回路構成を示した模式図である。図8において、1000はプリント回路板である。100は送信側回路素子、101は受信側回路素子、300はグラウンドである。1001はプリント配線板であり、プリント配線板1001の上に送信側回路素子100、受信側回路素子101は実装されている。送信側回路素子100と受信側回路素子101の間には、電気的特性が等しい信号伝送線路1と2により、差動信号伝送線路8が配置されており、低振幅電圧の差動信号伝送が行われている。
受信側回路素子101の入力端子付近の信号伝送線路1と2の間には、差動信号伝送線路の差動インピーダンスに概ね等しい値の終端抵抗3が接続されている。終端抵抗3により、信号伝送線路1と2に互いに逆位相で流れる電流は完全に熱消費され、反射による波形の乱れや放射ノイズの発生を抑制することができる。また、信号伝送線路1と2は略並行に隣接させ、かつ等長で構成されている。これにより、信号伝送線路1と2に互いに逆位相で流れる電流はほぼ等しい量の逆向きの磁界を発生し、お互いを打ち消しあうことにより、放射ノイズの発生を抑制することができる。
また図8には、高速信号を伝送するための差動信号伝送線路8以外に、3つの低速信号伝送線路3、4、5と1つのグラウンド線路7が設けられている。低速信号伝送線路3、4、5は、送信側回路素子200、202、204と、受信側回路素子201、203、205とをそれぞれ接続しており、差動信号伝送線路8よりも極めて小さい周波数の信号を伝送する。低速信号伝送線路3、4、5に流れる信号は周波数が小さいため、シングルエンド方式で伝送方式でも放射ノイズは問題とならない。また、グラウンド線路7は、その両端がグラウンド300に接続されており、差動信号伝送線路8及び低速信号伝送線路3、4、5のリターン経路を構成している。
LVDS方式に代表される差動信号伝送方式は、高速信号に対する放射ノイズ対策として有効な手段である。しかしながら信号の高周波化および高速化に伴い、放射ノイズに対する規格は年々厳しきなってきており、差動信号伝送方式だけでは充分とは言えなくなって来ている。
差動信号伝送線路における2つの伝送線路の電気的特性を全く同じに設計したとしても、送信側回路素子の内部での時間のズレや、立上り特性および立下り特性の差などにより、差動信号線路に同位相の電流成分が発生する。前述の差動信号伝送方式は、逆位相の信号に関しては有効であるが、同位相の信号が原因となり発生する放射ノイズは抑制することができない。この同位相の電流成分により、差動信号伝送線路の発生する放射ノイズはコモンモードノイズと呼ばれている。
図8に示す回路構成の場合、差動信号伝送線路8に同位相の電流成分が流れ、コモンモードノイズが発生する。送信側回路素子100から流れる受信側回路素子101に向かって流れる同位相の電流成分は、受信側回路素子101から先に流れる経路が無い。そのため、迷走しながらプリント配線板の持つ浮遊容量等を介して送信側回路素子100まで帰還するため、放射ノイズが発生してしまう。
特開平11−205118(特許文献1)には、図9に示す差動信号伝送方式にセンタタップ終端回路を適用する提案がなされている。図9において、10と11は差動信号伝送線路の差動インピーダンスの約半分の値に設計された抵抗である。抵抗10、11は受信側回路素子101の入力端子付近において、信号伝送線路1と2の間に直列接続されている。また、12は、直列接続された抵抗10と11の接続点とグラウンド300の間に接続されたコンデンサである。差動信号伝送線路1と2に発生する同相電流成分は、等しい値を有する抵抗10ならびに11、およびコンデンサ12を介し、グラウンド300に流れ、これに接続されたグラウンド線路7をリターン経路として受信側回路素子100へ帰還する。これにより、放射ノイズの抑制が可能となる。
特開2001−007458(特許文献2)には、図10に示す差動信号伝送方式にセンタタップ終端回路を適用する提案がなされている。図10では同相電流とそのリターン経路となるグラウンドの配置の工夫によって、放射ノイズを低減している。図10において、13ならびに14は信号伝送線路1ならびに2に隣接して略並行に設けた新たなグラウンド線路であり、グラウンド300に接続されている。この構成により、信号伝送線路1ならびに2に発生した同相電流成分は、抵抗10ならびに11およびコンデンサ12で構成されるセンタタップ終端を通ったあと、2つのグラウンド線路13ならびに14を通って受信側回路素子100へ帰還する。このとき、信号伝送線路1ならびに2に流れる同相電流成分と、2つのグラウンド線路13ならびに14に流れるリターン電流とが作る磁界が極近傍にて互いに打ち消すことで、放射ノイズを低減することが可能となる。
特開平11−205118 特開2001−007458
しかしながら、図9に示す差動信号伝送方式の場合、信号伝送線路1および2に対して、同相電流のリターン経路となるグラウンド線路7の距離が離れていると、電流ループが大きくなってしまい、放射ノイズ低減に十分な効果を発揮できない。
また図10に示す差動信号伝送方式の場合、差動信号伝送線路が1ペア増加するごとに2本ずつグラウンド線路を追加しなければならない。そのため、コネクタのピン数増加やケーブルの芯数増加を招く。また、コネクタを実装するプリント回路板の実装密度の増加並びに外形サイズの増加、ケーブルの断面積の増大などにより、回路のコストアップを招いたり、装置の小型化を阻害する要因となっていた。高速なシステムになるほど、差動信号伝送方式への切り替えが必要な線路が多くなるため、この問題が深刻となる。
本発明の目的は、電子機器間の信号伝送において、データ転送レート向上のための周波数増加やデバイススイッチング速度増加に伴い、放射ノイズ低減のために差動信号伝送方式を実施する場合に、ピン数を増加させず、かつ差動信号伝送方式特有の放射ノイズ問題も解消できる差動信号伝送方式の放射ノイズ低減構造を簡便かつ安価な構成で提供する事にある。
上記課題を解決するため本発明は、送信端側回路素子から受信側回路素子までの区間に設けられた1対の差動信号伝送線路と、前記差動信号伝送線路に隣接して並行に配置され、前記差動信号伝送線路を伝送する信号の周波数よりも、小さい周波数の信号を伝送する低速信号伝送線路とを有する差動信号伝送構造において、前記差動信号伝送線路の前記受信側回路素子の入力端子近傍には、前記1対の差動信号伝送線路の間にお互いが直列接続された、差動インピーダンスに整合した抵抗値の半分の抵抗値を有する2つの抵抗と、一端が前記直列接続された2つの抵抗の接続点に接続され、他端がグラウンドに接続された第3の容量性素子とによりセンタタップ終端が構成されており、前記低速信号伝送線路の送信端は、第1の容量性素子を介してグラウンドと接続され、前記低速信号伝送線路の受信端は、第2の容量性素子を介してグラウンドと接続されている差動信号伝送構造を提供している。
また本発明は、送信端側回路素子から受信側回路素子までの区間に設けられた1対の差動信号伝送線路と、前記差動信号伝送線路に隣接して並行に配置され、前記差動信号伝送線路を伝送する信号の周波数よりも、小さい周波数の信号を伝送する低速信号伝送線路とを有する差動信号伝送構造において、
前記差動信号伝送線路の前記受信側回路素子の入力端子近傍には、前記1対の差動信号伝送線路の間にお互いが直列接続された、差動インピーダンスに整合した抵抗値の半分の抵抗値を有する2つの抵抗が配置され、前記直列接続された2つの抵抗の接続点と、前記低速信号伝送線路の受信端との間には、第2の容量性素子が接続され、前記低速信号伝送線路の送信端は、第3の容量性素子を介してグラウンドと接続されている差動信号伝送構造を提供している。
また本発明は、送信端側回路素子から受信側回路素子までの区間に設けられた1対の差動信号伝送線路と、前記差動信号伝送線路に隣接して並行に配置され、前記差動信号伝送線路を伝送する信号の周波数よりも、小さい周波数の信号を伝送する低速信号伝送線路とを有するプリント回路板において、前記差動信号伝送線路の前記受信側回路素子の入力端子近傍には、前記1対の差動信号伝送線路の間にお互いが直列接続された、差動インピーダンスに整合した抵抗値の半分の抵抗値を有する2つの抵抗と、一端が前記直列接続された2つの抵抗の接続点に接続され、他端がグラウンドに接続された第3の容量性素子とによりセンタタップ終端が構成されており、前記低速信号伝送線路の送信端は、第1の容量性素子を介してグラウンドと接続され、前記低速信号伝送線路の受信端は、第2の容量性素子を介してグラウンドと接続されているプリント回路板を提供している。
本発明によれば、電子機器間の信号伝送において、差動信号伝送方式を実施する場合に、ピン数を増加させず、かつコモンモードノイズも解消できる差動信号伝送方式を簡便かつ安価な構成で提供する事が可能となる。
以下、図面を使って本発明を説明する。
図1は本発明の実施例1の回路構成を示す模式図である。なお、従来例を示す図8、9、10と同じ部材には同一符号を付与してある。本実施例においては従来例との違いについてのみ説明する。
図1において、15は低速信号伝送線路4の送信側回路素子200の出力端子付近とグラウンド300との間に接続されたコンデンサであり、16は低速信号伝送線路4の受信側回路素子201の入力端子付近とグラウンド300との間に接続されたコンデンサである。図10と比較すると、差動信号伝送線路を構成する片側の信号線路2に隣接するグラウンド線路14を削除し、そこに低速信号伝送線路4を隣接して略並行に配置している。上記構成において、差動信号伝送線路1と2に流れる同相電流成分は、抵抗10と11を通り、コンデンサ12を通って、グラウンド300に達する。さらに同相電流成分は、グラウンド線路13を通って受信側回路素子100に帰還すると同時に、コンデンサ16、低速信号伝送線路4、コンデンサ15を通って受信側回路素子100に帰還する。このとき、差動信号伝送線路1ならびに2に流れる同相電流成分と、グラウンド線路13ならびに低速信号伝送線路4に流れるリターン電流とが作る磁界が極近傍にて互いに打ち消すことで、放射ノイズの発生を抑制することが可能となる。
このとき、低速信号伝送線路4には、送信側回路素子200から受信側回路素子201へ低速信号が伝送される。従って、前述のリターン電流は、この低速信号に実質的に影響の無い状態で行なう必要がある。低速信号において送信側回路素子から送信される信号の電圧が、受信側回路素子において、10%以下の減衰率に抑えられれば、信号伝送に不具合は発生しない。
図2は、低速信号伝送線路4の回路構成を模式的に示した図である。図2において、Vsは低速信号送信側回路素子200の信号源であり、Zoは低速信号送信側回路素子200の出力インピーダンスであり、点Aは受信側回路素子201の信号受信端子である。信号源Vsの電圧を受信端子Aで受信したときの電圧は、受信側回路素子の入力インピーダンスZiとコンデンサC1およびC2とを並列に接続したインピーダンスで決定される。コンデンサC1とC2が並列接続されたことによってインピーダンスが低減するため、コンデンサC1とC2が存在しない入力インピーダンスZiのみの場合に比べて、電圧振幅が小さくなる。
低速信号伝送線路4を伝送する信号の最小パルス幅をτminとすると、伝送する信号の周波数は、最小パルス幅τminの2倍の逆数
1/(2*τmin) ・・・(式1)
で示すことができる。従って(式1)で示される周波数以下の帯域において、電圧の減衰率を10%以下とすれば良い。
一般に、CMOS−ICにおいて、出力インピーダンスZoは低速信号の受信側回路素子201の入力インピーダンスをZiに比べて極めて小さく、
Zo<<Zi ・・・(式2)
である。
そのため、電圧振幅の減衰率を10%以下に抑えるには、コンデンサC1とC2の並列回路のインピーダンスをZcとしたとき、ZcをZiの10倍以上ととすればよい。
Zc>10×Zi ・・・(式3)
これは、ZiにZcを並列接続した時の合成インピーダンスは、
(Zc×Zi)/(Zc+Zi)=(10/11)×Zi ・・・(式4)
となり、インピーダンスの減衰率が(10/11)、すなわち10%以下となるからである。
コンデンサC1とC2の並列回路のインピーダンスZcは周波数fにおいて、
Zc=1/(2π×f×(C1+C2)) ・・・(式5)
で与えられ、fは(式)で与えられる周波数を代入して、
Zc=τmin/(π×(C1+C2)) ・・・(式6)
となる。これを(式3)に代入すると、
C1+C2<((τmin)/(10×π×Zi)) ・・・(式7)
が得られる。
すなわち、C1とC2の合算値は(式7)を満たすことを条件とする。上記(式7)は、最小パルス幅τminの信号を受信側回路素子201にて不具合なく受信するために必要な条件を定めるものである。
この条件により、低速信号の波形振幅の減衰量は最大でも10%減に抑制され、動作上の不具合を発生しないで、放射ノイズ低減を実現可能である。
図3は本発明の実施例2の回路構成を示す模式図である。なお、実施例1を示す図1と同じ部材には同一符号を付与してあり、本実施例では実施例1との違いについてのみ説明する。
図3において、17は低速信号伝送線路5の送信側回路素子202の出力端子付近とグラウンド300との間に接続されたコンデンサであり、18は低速信号伝送線路5の受信側回路素子203の入力端子付近とグラウンド300との間に接続されたコンデンサである。低速信号伝送線路5は差動信号伝送線路1に隣接して略並行に配置している。ここで、低速信号伝送をおこなう線路4と5は電気的に等しい特性を有し、差動信号伝送線路1と2との距離も等しく配置されている。さらに、コンデンサ15と17は等しい容量値であり、コンデンサ16と18も等しい容量値を有する。上記構成により、差動信号伝送線路1と2の同相電流のリターン電流は、低速信号伝送線路4と5に等しく流れる。したがって、同相電流とリターン電流の発生する磁界が対照的にバランスよく打ち消しあうため、より放射ノイズを低減することが可能である。
尚コンデンサ15、16、17、18の容量値は実施例1と同様にして求めることができる。
実施例1、2、3における、送信側回路素子100、200、202、204はそれぞれ異なるICとすることができる。同様に受信側回路素子101、201、203、205もそれぞれ異なるICとすることができる。
また、図5に示すように、送信側回路素子100、200、202、204及びグラウンド301は同じICパッケージ2000の異なる端子とし、受信側回路素子101、201、203、205及びグラウンド302は同じICパッケージ2001の異なる端子とすることもできる。
また、図6に示すように、送信側回路素子100、200、202、204は同じ同じコネクタ3000の異なる端子とし、受信側回路素子101、201、203、205は同じコネクタ3001の異なる端子とすることもできる。この場合、信号伝送線路1乃至6はケーブル3002の内部に配置されてこととなる。
(実験例)
前述の実施例2の図3に示した差動伝送方式において、発生する電界強度をシミュレーションにより求めた。
図7に示す実験結果を得た構成について説明する。いずれも、図3、図9、図10に示す差動伝送方式において、送信側回路素子100、200、202、204をプリント配線板1000の左側に、受信側回路素子101、201、203、205を右側に配置した。信号伝送線路1、2、3、4、5、6、7、13はすべて線径0.1mm、長さ50mmのである。各信号伝送線路は2mm間隔で平行に並べて配置した。終端抵抗10および11を50Ω、コンデンサ12を0.1μFとして、センタタップ終端回路を構成した。またコンデンサ15、16、17、18を50pFとした。この時発生する電界強度を図7中に○で示した。尚、シミュレーション結果は、3m法に基づき被測定物を大地面から80cmの高さに配置した場合の電界強度である。またコンデンサ15、17を10pFとし、16、18を90pFとした場合の電界強度を図7中に×で示した。また比較のため図9に示した差動伝送方式における電界強度を*で、図10に示した差動信号伝送線路の両隣にグラウンド線路を配置した場合の電界強度を△で示した。
図7から分かるように、本発明における差動信号方式を示す○と×の電界強度は、従来の図9に示す差動信号方式を示す*の電界強度に比べ、10dB以上下がっており、大幅に放射ノイズを抑制していることがわかる。また従来の図10に示す差動信号方式を示す△の電界強度に比べ、ほぼ同等の値を示していることがわかる。
従って図10に示す差動信号方式に比べ、非常に簡易な方式により同等の放射ノイズ抑制効果を得ていることがわかる。
本発明の実施例1に係る差動信号伝送方式の回路構造を示す模式図 本発明の実施例1に係る差動信号伝送方式の回路構造を示す模式図 本発明の実施例2に係る差動信号伝送方式の回路構造を示す模式図 本発明の実施例3に係る差動信号伝送方式の回路構造を示す模式図 本発明の他の実施形態を示す模式図 本発明の他の実施形態を示す模式図 本発明の実験結果を示すグラフ 従来例における回路構造を示す模式図 従来例における回路構造を示す模式図 従来例における回路構造を示す模式図
符号の説明
1,2 信号伝送線路
3,10,11 終端抵抗
4,5,6 低速信号伝送線路
7,9,13,14 グラウンド線路
8 差動信号伝送線路
12,15,16,17,18,19,20 コンデンサ
100 送信側回路素子
101 受信側回路素子
200,202,204 送信側回路素子
201,203,205 受信側回路素子
300 グラウンド
1000 プリント回路板
1001 プリント配線板
2000、2001 ICパッケージ
3000、3001 コネクタ
3002 ケーブル

Claims (5)

  1. 送信側回路素子から受信側回路素子までの区間に設けられた1対の差動信号伝送線路と、前記差動信号伝送線路に隣接して並行に配置され、前記差動信号伝送線路を伝送する信号の周波数よりも、小さい周波数の信号を伝送する低速信号伝送線路とを有する差動信号伝送構造において、
    前記差動信号伝送線路の前記受信側回路素子の入力端子近傍には、前記1対の差動信号伝送線路の間にお互いが直列接続された、差動インピーダンスに整合した抵抗値の半分の抵抗値を有する2つの抵抗と、一端が前記直列接続された2つの抵抗の接続点に接続され、他端がグラウンドに接続された第3の容量性素子とによりセンタタップ終端が構成されており、
    前記低速信号伝送線路の送信端は、第1の容量性素子を介してグラウンドと接続され、前記低速信号伝送線路の受信端は、第2の容量性素子を介してグラウンドと接続されている事を特徴とする差動信号伝送構造。
  2. 前記第1の容量性素子と第2の容量性素子の容量値を合算したインピーダンスは、前記低速信号伝送線路に伝送する信号の最小パルス幅の2倍の逆数で算出される周波数において、前記低速信号伝送線路の受信端における入力インピーダンスの10倍以上であることを特徴とする請求項1に記載の差動信号伝送構造。
  3. 前記1対の差動信号伝送線路は、前記低速信号伝送線路とグラウンド配線とにより挟まれた形で配置されていることを特徴とする請求項1に記載の差動信号伝送構造。
  4. 前記低速信号伝送線路は、前記1対の差動信号伝送線路の両側に隣接して配置され、前記2つの低速信号伝送線路はグラウンドに対して等しいインピーダンスを有していることを特徴とする請求項1記載の差動信号伝送構造。
  5. 送信側回路素子から受信側回路素子までの区間に設けられた1対の差動信号伝送線路と、前記差動信号伝送線路に隣接して並行に配置され、前記差動信号伝送線路を伝送する信号の周波数よりも、小さい周波数の信号を伝送する低速信号伝送線路とを有するプリント回路板において、
    前記差動信号伝送線路の前記受信側回路素子の入力端子近傍には、前記1対の差動信号伝送線路の間にお互いが直列接続された、差動インピーダンスに整合した抵抗値の半分の抵抗値を有する2つの抵抗と、一端が前記直列接続された2つの抵抗の接続点に接続され、他端がグラウンドに接続された第3の容量性素子とによりセンタタップ終端が構成されており、
    前記低速信号伝送線路の送信端は、第1の容量性素子を介してグラウンドと接続され、前記低速信号伝送線路の受信端は、第2の容量性素子を介してグラウンドと接続されている事を特徴とするプリント回路板。
JP2006186912A 2005-07-20 2006-07-06 プリント回路板および差動信号伝送構造 Expired - Fee Related JP4241772B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006186912A JP4241772B2 (ja) 2005-07-20 2006-07-06 プリント回路板および差動信号伝送構造
US11/486,089 US7545652B2 (en) 2005-07-20 2006-07-14 Printed circuit board and differential signaling structure
US12/437,514 US7916497B2 (en) 2005-07-20 2009-05-07 Printed circuit board and differential signaling structure

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005209881 2005-07-20
JP2006186912A JP4241772B2 (ja) 2005-07-20 2006-07-06 プリント回路板および差動信号伝送構造

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007053739A JP2007053739A (ja) 2007-03-01
JP4241772B2 true JP4241772B2 (ja) 2009-03-18

Family

ID=37678519

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006186912A Expired - Fee Related JP4241772B2 (ja) 2005-07-20 2006-07-06 プリント回路板および差動信号伝送構造

Country Status (2)

Country Link
US (2) US7545652B2 (ja)
JP (1) JP4241772B2 (ja)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW589541B (en) * 2003-03-07 2004-06-01 Acer Labs Inc Low cross-talk design and related method for co-layout of different buses in an electric board
JP4241772B2 (ja) * 2005-07-20 2009-03-18 キヤノン株式会社 プリント回路板および差動信号伝送構造
TW201115997A (en) * 2009-10-22 2011-05-01 Inventec Corp Prevention structure to prevent signal lines from time-skew
JP5538927B2 (ja) * 2010-01-29 2014-07-02 キヤノン株式会社 電子機器及び画像形成装置
WO2011142079A1 (ja) * 2010-05-12 2011-11-17 パナソニック株式会社 差動信号伝送線路、icパッケージおよびそれらの試験方法
CN102340924A (zh) * 2010-07-20 2012-02-01 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 电路板
JP5506584B2 (ja) * 2010-07-26 2014-05-28 キヤノン株式会社 プリント回路板
CN102957411A (zh) * 2011-08-25 2013-03-06 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 多负载拓扑硬件架构
JP6075834B2 (ja) 2012-08-16 2017-02-08 キヤノン株式会社 プリント回路板
KR102207852B1 (ko) * 2014-11-21 2021-01-26 삼성전자주식회사 안테나 장치 및 그것을 포함하는 전자 장치
KR101982841B1 (ko) 2015-09-22 2019-08-28 에스케이하이닉스 주식회사 데이터 송신장치, 데이터 수신장치, 데이터 송수신 시스템
KR102147336B1 (ko) 2018-01-23 2020-08-24 동우 화인켐 주식회사 필름 안테나-회로 연결 구조체 및 이를 포함하는 디스플레이 장치
US10716211B2 (en) 2018-02-08 2020-07-14 Canon Kabushiki Kaisha Printed circuit board, printed wiring board, electronic device, and camera
JP6942679B2 (ja) 2018-09-21 2021-09-29 キヤノン株式会社 伝送回路、電子機器、及び撮像装置

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3297215B2 (ja) * 1994-09-08 2002-07-02 富士通株式会社 平衡伝送線路の電磁妨害防止装置
JP3828652B2 (ja) 1998-01-09 2006-10-04 株式会社アドバンテスト 差動信号伝送回路
JP4373531B2 (ja) * 1999-06-18 2009-11-25 パナソニック株式会社 差動平衡信号伝送基板
JP3678990B2 (ja) * 2000-03-31 2005-08-03 タイコエレクトロニクスアンプ株式会社 電気コネクタ組立体および雌コネクタ
JP2003224408A (ja) * 2002-01-30 2003-08-08 Kyocera Corp 高周波用配線基板
JP3920237B2 (ja) * 2002-04-04 2007-05-30 セイコーエプソン株式会社 プリント配線基板
US6744280B2 (en) * 2002-05-09 2004-06-01 Texas Instruments Incorporated Voltage output differential (VOD) correction circuit for differential drivers
JP4012040B2 (ja) * 2002-10-31 2007-11-21 キヤノン株式会社 センタタップ終端回路及びセンタタップ終端回路を有するプリント配線板
US20040094328A1 (en) * 2002-11-16 2004-05-20 Fjelstad Joseph C. Cabled signaling system and components thereof
US7049901B2 (en) * 2002-12-10 2006-05-23 Itt Manufacturing Enterprises Inc. Parallel plate wave-guide structure in a layered medium for transmitting complementary signals
JP4142992B2 (ja) * 2003-05-15 2008-09-03 株式会社フジクラ GHz帯伝送の伝送線路構造およびGHz帯伝送に用いるコネクタ
JP3804665B2 (ja) * 2004-03-12 2006-08-02 セイコーエプソン株式会社 フレキシブル基板及び電子機器
US7102380B2 (en) * 2004-07-07 2006-09-05 Kao Richard F C High speed integrated circuit
US7148428B2 (en) * 2004-09-27 2006-12-12 Intel Corporation Flexible cable for high-speed interconnect
JP4241772B2 (ja) * 2005-07-20 2009-03-18 キヤノン株式会社 プリント回路板および差動信号伝送構造
US7609125B2 (en) * 2006-10-13 2009-10-27 Avago Technologies Enterprise IP (Singapore) Pte. Ltd. System, device and method for reducing cross-talk in differential signal conductor pairs

Also Published As

Publication number Publication date
US7545652B2 (en) 2009-06-09
US20070018749A1 (en) 2007-01-25
JP2007053739A (ja) 2007-03-01
US7916497B2 (en) 2011-03-29
US20090224798A1 (en) 2009-09-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4241772B2 (ja) プリント回路板および差動信号伝送構造
JP6075834B2 (ja) プリント回路板
US20070252659A1 (en) Filter Circuit, Differential Transmission System Having Same, and Power Supply
EP3138205B1 (en) Coaxial data communication with reduced emi
JP2008028214A (ja) 静電気対策回路
US9419679B2 (en) Cable for transmitting signal
JP7046054B2 (ja) Emiが低減された同軸データ通信
JP2003018224A (ja) 差動信号伝送方式および差動信号伝送における送信および受信に使用するic
JP2017059517A (ja) 電子機器、およびプリンター
JP3958157B2 (ja) 差動信号伝送線路の終端回路
JP2010267484A (ja) 信号等化器
JP4437599B2 (ja) 差動伝送ケーブル並びにジョイント
JP6954472B2 (ja) バイアスt回路および信号伝送装置
JP6108690B2 (ja) 差動伝送回路及び電子機器
JP6649195B2 (ja) 差動信号伝送装置
US11395401B1 (en) Printed circuit board structure and method for improved electromagnetic compatibility performance
JP7417957B2 (ja) 容量性結合回路装置
US10038241B2 (en) Semiconductor device and transmission-reception system
JP7446209B2 (ja) 信号伝送装置
Broydé et al. An overview of modal transmission schemes
CN106373713A (zh) 噪声滤波器安装构造
JP2019146057A (ja) コモンモードノイズフィルタの実装構造
CN103516311B (zh) 均衡器
EP3598854A1 (en) Low frequency reduced passive equalizer
JP2021097298A (ja) ノイズ対策回路

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080208

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080219

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080421

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080924

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081125

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20081216

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20081222

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120109

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4241772

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130109

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140109

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees