JP4234117B2 - 光変調器 - Google Patents

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Description

本発明は高速で駆動電圧が低く、かつDCバイアス電圧が小さく、製作の歩留まりの良い光変調器の分野に属する。
リチウムナイオベート(LiNbO)のように電界を印加することにより屈折率が変化する、いわゆる電気光学効果を有する基板(以下、リチウムナイオベート基板をLN基板と略す)に光導波路と進行波電極を形成した進行波電極型リチウムナイオベート光変調器(以下、LN光変調器と略す)は、その優れたチャーピング特性から2.5Gbit/s、10Gbit/sの大容量光伝送システムに適用されている。最近はさらに40Gbit/sの超大容量光伝送システムにも適用が検討されており、キーデバイスとして期待されている。
[第1の従来技術]
このLN光変調器にはz−カット基板を使用するタイプとx−カット基板(あるいはy−カット基板)を使用するタイプがある。ここでは、第1の従来技術としてx−カットLN基板とコプレーナウェーブガイド(CPW)進行波電極を使用したx−カット基板LN光変調器をとり上げ、その斜視図を図3に示す。図4は図3のA−A’における断面図である。なお、以下の議論はz−カット基板でも同様に成り立つ。
図中、1はx−カットLN基板、2は1.3μm、あるいは1.55μmなど光通信において使用する波長領域では透明な200nmから1μm程度の厚みのSiOバッファ層、3はx−カットLN基板1にTiを蒸着後、1050℃で約10時間熱拡散して形成した光導波路であり、マッハツェンダ干渉系(あるいは、マッハツェンダ光導波路)を構成している。なお、3a、3bは電気信号と光が相互作用する部位(相互作用部と言う)における光導波路(あるいは、相互作用光導波路)、つまりマッハツェンダ光導波路の2本のアームである。CPW進行波電極4は中心導体4a、接地導体4b、4cからなっている。
この第1の従来技術では、中心導体4aと接地導体4b、4c間にバイアス電圧(通常はDCバイアス電圧)と高周波電気信号(RF電気信号とも言う)を重畳して印加するので、相互作用光導波路においてはRF電気信号のみならず、DCバイアス電圧も光の位相を変える。また、バッファ層2は電気信号のマイクロ波実効屈折率nを光導波路3a、3bを伝搬する光の実効屈折率nに近づけることにより、光変調帯域を拡大するという重要な働きをしている。
次に、このように構成されるLN光変調器の動作について説明する。このLN光変調器を動作させるには、中心導体4aと接地導体4b、4c間にDCバイアス電圧とRF電気信号とを印加する必要がある。
図5に示す電圧−光出力特性はある状態でのLN光変調器の電圧−光出力特性であり、Vbはその際のDCバイアス電圧である。この図5に示すように、通常、DCバイアス電圧Vbは光出力特性の山と底の中点に設定される。
図6には第1の従来技術について実際の実装形態と電気的な接続について詳しく示している。ここで、5は金属からなる筐体、6はRF電気信号であるマイクロ波を外部電気回路からLN光変調器に入力するためのRF電気信号入力用のコネクタ、7はRF電気信号入力用のコネクタ6の芯線、8はRF電気信号を取り出すためのRF電気信号出力用のコネクタ、9はRF電気信号出力用のコネクタ8の芯線である。また、10は電気信号源11に内蔵しているDC成分をカットするコンデンサーである。12は電気的な終端、13はDC成分をカットするコンデンサー、14はDCバイアス電圧を印加するためのDC電源である。2つのコンデンサー10と13があるために、DC電源14からのDC成分は電流として流れることはない。
なお、通常は、小型化とコスト低減のために、終端12、コンデンサー13は筐体5に内蔵するとともに、DC電源14からのDCバイアス電圧は、RF電気信号出力用のコネクタ8の代わりに簡単なピンやワイヤーを介して供給されることが多い。
さて、ここで重要なことがある。光通信においてLN光変調器はトランスポンダという送受信装置の中で使用されるが、そのトランスポンダには多くの機器が搭載されているため、LN光変調器とその他の機器との相対位置は決まっている。換言すると、LN光変調器にRF電気信号を入力するためのコネクタ6の位置は筐体5に対して任意に設定することはできず、ほぼ一義的に決まってしまう。一方、筐体5内におけるx−カットLN基板1の位置もほぼ決まる。
つまり、RF電気信号を入力するために使用するコネクタ6の芯線7の位置はx−カットLN基板1において図6にBとして示した位置にほぼ一義的に決定されることになる。
この第1の従来技術の上面から見た模式図を図7に示す。前述のように、LN光変調器では、x−カットLN基板1においてRF電気信号を入力するために使用するコネクタ6の芯線7を固定する位置は図中のBの位置としてほぼ自動的に決まる。従って、進行波電極4の中心導体4aと接地導体4b、4cに印加されたRF電気信号とDCバイアス電圧が光と相互作用する相互作用部15の長さLも自動的に決まることになる。
なお、RF電気信号を入力するために使用するコネクタ6の芯線7の位置Bから光とRF電気信号の相互作用部までの電極(図6と図7に示す領域部40で、フィードスルー部と呼ばれる)は、通常、RF電気信号の反射を抑えるためにx−カットLN基板1の長手方向の側面に対してほぼ垂直に設定する。そのため、マッハツェンダ光導波路の2本の光導波路3a、3bにおいては、芯線7の位置Bから光入力側にある領域は通常光の位相を変えることには使用されていない。
さらに、この第1の従来技術では、長さLの相互作用部15には図4に示したようにSiOバッファ層2があり、このSiOバッファ層2にDCバイアス電圧Vbが印加される。ところが、このSiOバッファ層2は電気的抵抗が高いので、ここでの電圧降下により、いわゆるDCドリフトが発生することが知られている。このDCドリフトはLN光変調器の信頼性に大きな悪い影響を与える。
[第2の従来技術]
第1の従来技術におけるDCドリフトの問題を解決しようとする試みの上面から見た模式図を図8に第2の従来技術として示す。
前述のように、第1の従来技術における大きな問題、即ちDCドリフトは第1の従来技術のSiOバッファ層2にDCバイアス電圧が印加され、そこにおいてDC電圧の降下があるために引き起こされた。そこで、この第2の従来技術では、まず、RF電気信号が印加される長さLのRF電気信号用相互作用部17と、DCバイアス電圧が印加される長さLの中心導体16aと接地導体16b、16cからなるバイアス電極を有するDCバイアス用相互作用部18を具備することにより、RF電気信号を印加する領域(17)とDCバイアス電圧を印加する領域(18)とを分離する。さらに、図8のC−C’における断面図として示した図9からわかるように、DCバイアス用相互作用部18には第1の従来技術として示した図4に存在したSiOバッファ層2がない。
従って、この第2の従来技術ではSiOバッファ層2に起因するDCドリフトが存在せず、LN光変調器の信頼性向上に有力な手段として採用されてきた。
ところが、図8に示した第2の従来技術の場合であっても、図示していないRF電気信号を入力するために使用するコネクタ6の芯線7の位置Bは図7に示した第1の従来技術の場合と同じである。
つまり、RF電気信号が印加されるRF電気信号用相互作用部17の長さLとDCバイアス電圧が印加されるDCバイアス用相互作用部18の長さLは、第1の従来技術として示した図7におけるRF電気信号とDCバイアス電圧が光と相互作用する相互作用部15の長さLを分割して構成することになる。そのため、RF電気信号が印加されるRF電気信号用相互作用部17の長さLを長くするとDCバイアス電圧が印加されるDCバイアス用相互作用部18の長さLが短くなり、逆にDCバイアス用相互作用部18の長さLを長くすると、今度はRF電気信号用相互作用部17の長さLが短くなってしまう。
DCバイアス用相互作用部18の長さLが短いと、DCバイアス用相互作用部18の中心導体16aと接地導体16b、16cに印加するDCバイアス電圧を高くする必要がある。そうすると、中心導体16aと接地導体16b、16cの間における電界強度が高くなり、LN基板1の中の高い内部電界強度に起因するLN基板の内でのDCドリフトが生じてしまう。
一方、RF電気信号用相互作用部17の長さLが短いとRF駆動電圧が高くなる。これを避けるためには、RF電気信号用相互作用部17におけるSiOバッファ層2(不図示)の厚みを薄く設定せざるを得ず、RF電気信号と光との速度整合、および特性インピーダンスの観点から不利となってしまう。
なお、第2の従来技術においても、RF電気信号を入力するために使用する不図示のコネクタ6の芯線7の位置Bから光とRF電気信号の相互作用部(RF電気信号用相互作用部17)までの、フィードスルー部の電極(図8に示す領域部41)は、通常、RF電気信号の反射を抑えるためにx−カットLN基板1の長手方向の側面に対してほぼ垂直に設定する。そのため、第2の従来技術でも、マッハツェンダ光導波路の2本の光導波路3a、3bにおいて、位置Bから光入力側にある領域は光の位相を変えることには使用されていない。
以上のように、第1の従来技術ではRF電気信号が光と相互作用する相互作用部にDC電圧も印加していたので、SiOバッファ層に起因するDCドリフトが生じてしまっていた。一方、第1の従来技術の問題を避けるために考案された第2の従来技術では、RF電気信号用相互作用部とは独立に設けたDCバイアス用相互作用部にDCバイアス電圧のみを印加するが、LN光変調器ではRF信号を供給するために使用するコネクタの芯線の位置がLN基板に対して決まってしまっている。そのため、光をRF的、及びDC的に変調できる長さ、即ちRF電気信号用相互作用部の長さとDCバイアス用相互作用部の長さの和も決まっている。その結果、DCバイアス用相互作用部の長さ、もしくはRF電気信号用相互作用部の長さを充分にとることができないため、LN基板内での高い内部電界強度に起因する信頼性が劣化する、あるいはLN光変調器としてのRF変調性能が劣化するなどの問題があった。
上記課題を解決するために、本発明の請求項1の光変調器は、電気光学効果を有する基板と、該基板に形成された光を導波するための光導波路と、前記基板の一方の面側に形成され、前記光を変調する高周波電気信号を印加するための高周波電気信号用の中心導体及び接地導体からなる進行波電極と、前記光にバイアス電圧を印加するための中心導体及び接地導体からなるバイアス電極とを有し、前記光導波路には前記進行波電極に前記高周波電気信号を印加することにより前記光の位相を変調するための高周波電気信号用相互作用部と、前記バイアス電極にバイアス電圧を印加することにより前記光の位相を調整するためのバイアス用相互作用部とが具備されている光変調器において、前記高周波電気信号用相互作用部を挟んで、前記光が伝搬する方向の前後に前記バイアス用相互作用部を具備し、当該バイアス用相互作用部を構成する各々の前記バイアス電極の中心導体が電気的に接続されてなり、当該中心導体のうちの1つは接続すべき電源からバイアス電圧が供給されることを特徴とする。
本発明の請求項2の光変調器は、請求項1に記載の光変調器において、前記バイアス用相互作用部の前記少なくとも2つの中心導体は、前記高周波電気信号用相互作用部の中心導体と接地導体との間を除く位置で電気的に接続されてることを特徴とする。
本発明の請求項3の光変調器は、請求項1または請求項2に記載の光変調器において、前記基板がX−カット基板でなり、前記バイアス用相互作用部における前記中心導体と前記接地導体とが相対向する部分の下方で、前記光導波路の直上を除く位置にバッファ層を具備することを特徴とする。
本発明の請求項4の光変調器は、請求項1乃至請求項3の何れかに記載の光変調器において、前記バイアス電極の1つが、前記高周波電気信号の信号源の位置により規定される高周波電気信号の印加点よりも光入力側に形成されていることを特徴とする
本発明は、従来では光の位相をRF的にもDC的にも変えることに使用されていなかった部分の光導波路に新たにバイアス用相互作用部を設けることにより、RF電気信号用相互作用部の長さとバイアス用相互作用部の長さの和を、従来のバイアス分離型の場合よりも長くする。従って、従来のバイアス分離型と比較して、本発明ではRF電気信号用相互作用部の長さとバイアス用相互作用部の長さの両方を、各々、より長くすることが可能となるので、LN光変調器としてのRF変調性能とDCドリフト特性について大幅に改善することができる。また、バイアス電源を1つとすることが可能となり、コストを低減できる。また、バイアス用相互作用部における中心導体の光導波路側のエッジの下方にバッファ層を用いるので、中心導体を光導波路に接近させることができ、バイアス電圧を低減するとともに、製作の歩留まりを著しく改善することが可能となる。
以下、本発明の実施形態について説明するが、図3から図9に示した従来の実施形態と同一番号は同一機能部に対応しているため、ここでは同一番号を持つ機能部の説明を省略する。
[第1の実施形態]
図1に本発明の第1の実施形態を示す。図8に示した第2の従来技術と同様に、中心導体4aと接地導体4b、4cからなりRF電気信号を印加する長さLのRF電気信号用相互作用部20と、中心導体22aと接地導体22b、22cからなりDCバイアス電圧を印加する長さLのバイアス電極をバイアス用相互作用部19(ここでは第1のDCバイアス用相互作用部と呼ぶ)に備えているが、本発明ではさらに、中心導体23aと接地導体23b、23cからなるとともにDCバイアス電圧を印加する長さLの第2のバイアス電極をバイアス用相互作用部21(第2のDCバイアス用相互作用部と呼ぶ)にも具備している。なお、第1のDCバイアス用相互作用部19のD−D’における断面図は図9と同様である。また、このことは第2のDCバイアス用相互作用部21についても言える。
第1のDCバイアス用相互作用部19と第2のDCバイアス用相互作用部21を構成する各々のバイアス電極の中心導体22aと23aを電気的に接続しておけば、DC電源14は1つのみで済むので好適である。なお、第1のDCバイアス用相互作用部19と第2のDCバイアス用相互作用部21のバイアス電極の中心導体22aと23aを電気的に接続する場合、RF電気信号相互作用部の中心導体4aと接地導体4b、4cの間のギャップを避けて配線するのが望ましい。
また、接地導体22b、22c、23b、23cはお互いに電気的に接続した後、あるいは直接に筐体(例えば図6に示す筐体5)をアースとして接続すれば好都合である。通常バイアスはDCもしくは極めて低周波であるので、このように電極を引き回して接続してもなんら問題が生じることはない。但し、中心導体22aと23aに異なる電源からバイアス電圧を供給しても良いことは言うまでもない。
図8に示した第2の従来技術ではRF電気信号用相互作用部17とDCバイアス用相互作用部18の合計の長さはL+Lであったが、図1に示した本発明では従来使用されていなかった領域の光導波路を活用するので、RF電気信号用相互作用部20と第1と第2のDCバイアス用相互作用部19、21の合計の長さがL+L+Lと第2の従来技術の場合と比較して大幅に長くできる。
従って本発明のRF電気信号用相互作用部20の長さLを第2の従来技術のRF電気信号用相互作用部17の長さLよりも長くすることができるし、同時に本発明における第1のDCバイアス用相互作用部19と第2のDCバイアス用相互作用部21の合計の長さL+Lを第2の従来技術におけるDCバイアス用相互作用部18の長さLよりも長くすることができる。
前述のように、一般に、RF電気信号用相互作用部の長さを長くできれば、進行波電極4の直下に形成するバッファ層の厚みを厚くすることが可能となる。従って、マイクロ波と光の速度を近づけるとともに特性インピーダンスをドライバーのインピーダンスに近づけることができ、変調性能が向上する。また、バイアス電極を具備するDCバイアス用相互作用部の総和が長くなれば、x−カットLN基板1内のDC電界強度を低くすることができるので、x−カットLN基板1におけるDCドリフトを低減することが可能となる。
なお、RF電気信号を入力するために使用する不図示のコネクタ6の芯線7の位置Bから光とRF電気信号の相互作用部までの、フィードスルー部の電極(図1に示す領域部42)は図6や図7に示した第1の従来技術や図8に示した第2の従来技術と同じく、x−カットLN基板1の長手方向の側面に対してほぼ垂直に設定できるのでRF電気信号の反射は生じない。そのため、従来技術と同様にRF電気信号の反射を抑えつつ、これまで使用されていなかった領域をDCバイアス領域として活用できるので、LN光変調器の特性を改善することが可能となる。
なお、x−カットLN基板の代わりにz−カットLN基板を使用する際には、DCバイアス用相互作用部において光導波路の直上にバッファ層が必要となる。本発明ではDCバイアス用相互作用部の総和を長くとれるので、DCバイアス電圧を低く設定できる。つまり、バッファ層内の電界強度も下げることができるので、z−カットLN基板内におけるDCドリフトのみならず、バッファ層に起因するDCドリフトも低減することが可能となる。
[第2の実施形態]
図1に示した本発明の第1の実施形態では、第1のDCバイアス用相互作用部19の中心導体22a、接地導体22b、22cと第2のDCバイアス用相互作用部21の中心導体23a、接地導体23b、23cとは、第2の従来技術の説明として示した図9と同様にx−カットLN基板1の上に直接形成されていた。
ところが、中心導体や接地導体は、通常、金(Au)で構成されているため、中心導体や接地導体からなるバイアス電極が相互作用部の光導波路3aと3bに近づきすぎるとその中を伝搬する光が吸収され、挿入損失の増加、あるいは消光比の劣化という問題を生じてしまう。
本発明の第2の実施形態では、図1に示した本発明の第1の実施形態を構成する第1のDCバイアス用相互作用部19におけるD−D’の断面図において、図2に示すようにSiOなどからなるバッファ層24a、24b、24c、24dを用いることにより、中心導体16aと接地導体16b、16cをx−カットLN基板1に直接接触させつつ、バイアス電極による光の吸収損失を増すことなく、相互作用部の光導波路3a、3bにより近づけ、バイアス電圧を低減することが可能となる。
なお、中心導体16aと接地導体16b、16cとx−カットLN基板1とは直接接触しているので、部分的にバッファ層があっても電気的抵抗はほぼ無視できるほどに小さく(なぜなら、例えば中心導体16aとx−カットLN基板1との電気的抵抗は、中心導体16aとx−カットLN基板1が直接接触する際の電気的抵抗と、中心導体16a、バッファ層24b、24c、及びx−カットLN基板1の接続における電気的抵抗の並列連結となり、大きさ的に前者で決定される)、バッファ層24a、24b、24c、24dを用いてもバッファ層24a、24b、24c、24dに起因するDCドリフトは生じない。
[各実施形態について]
以上においては、進行波電極としてはCPW電極を例にとり説明したが、非対称コプレーナストリップ(ACPS)や対称コプレーナストリップ(CPS)などの各種進行波電極、あるいは集中定数型の電極でも良いことは言うまでもない。また、光導波路としてはマッハツェンダ型光導波路の他に、方向性結合器や直線など、その他の光導波路でも良いことは言うまでもない。
また、DCバイアス相互作用部にはRF電界は印加されないので、DCバイアス相互作用部の特性インピーダンスは考える必要はなく、DCバイアス相互作用部の中心導体の幅はRF電気信号用相互作用部の中心導体の幅よりも広くする、あるいはDCバイアス相互作用部における中心導体と接地導体の間のギャップをRF電気信号用相互作用部における中心導体と接地導体の間のギャップよりも狭くすることが可能であることは言うまでもない。
また、以上の実施形態においては、x−カット、y−カットもしくはz−カットの面方位、即ち、基板表面(カット面)に対して垂直な方向に結晶のx軸、y軸もしくはz軸を持つ基板でも良いし、以上に述べた各実施形態での面方位を主たる面方位とし、これらに他の面方位が副たる面方位として混在しても良いし、LN基板のみでなく、リチウムタンタレートや半導体などその他の基板でも良いことは言うまでもない。
また、以上の実施形態においては、高周波電気信号用相互作用部を挟んで、光の伝搬する方向の前後にバイアス用相互作用部を各1個具備する形態としたが、本発明は、これに限定されるものではなく、それぞれの側又は片側に複数個のバイアス用相互作用部を設けてもよい。
以上のように、本発明に係る光変調器は、RF変調性能とDCドリフト特性について大幅に改善することができるという効果を有し、高速で駆動電圧が低く、かつDCバイアス電圧が小さく、製作の歩留まりの良い光変調器として有用である。
本発明の第1の実施形態における光変調器の模式的な上面図 本発明の第2の実施形態における光変調器を説明する図 第1の従来技術の斜視図 第1の従来技術のA−A’線における断面図 第1の従来技術の動作を説明する図 第1の従来技術の詳しい実装状態と電気的構成 第1の従来技術の模式的な上面図 第2の従来技術の模式的な上面図 第2の従来技術のC−C’線における断面図
符号の説明
1:x−カットLN基板(基板、LN基板)
2:SiOバッファ層(バッファ層)
3:光導波路
3a、3b:相互作用部の光導波路(光導波路)
4:進行波電極
4a:中心導体
4b、4c:接地導体
5:筐体
6:RF電気信号入力用のコネクタ(コネクタ)
7:RF電気信号入力用のコネクタ6の芯線(芯線)
8:RF電気信号出力用のコネクタ(コネクタ)
9:RF電気信号出力用のコネクタ8の芯線(芯線)
10:コンデンサー
11:電気信号源
12:電気的な終端(終端)
13:コンデンサー
14:DC電源
15:相互作用部
16a:中心導体
16b、16c:接地導体
17:RF電気信号用相互作用部
18:DCバイアス用相互作用部
19:第1のDCバイアス用相互作用部(バイアス用相互作用部)
20:RF電気信号用相互作用部(高周波電気信号用相互作用部)
21:第2のDCバイアス用相互作用部(バイアス用相互作用部)
22a:中心導体
22b、22c:接地導体
23a:中心導体
23b、23c:接地導体
24a、24b、24c、24d:SiOバッファ層(バッファ層)
B:RF電気信号を入力するために使用するコネクタ6の芯線7の位置
40、41、42:フィードスルー部(領域部)

Claims (4)

  1. 電気光学効果を有する基板と、該基板に形成された光を導波するための光導波路と、前記基板の一方の面側に形成され、前記光を変調する高周波電気信号を印加するための高周波電気信号用の中心導体及び接地導体からなる進行波電極と、前記光にバイアス電圧を印加するための中心導体及び接地導体からなるバイアス電極とを有し、
    前記光導波路には前記進行波電極に前記高周波電気信号を印加することにより前記光の位相を変調するための高周波電気信号用相互作用部と、前記バイアス電極にバイアス電圧を印加することにより前記光の位相を調整するためのバイアス用相互作用部とが具備されている光変調器において、
    前記高周波電気信号用相互作用部を挟んで、前記光が伝搬する方向の前後に前記バイアス用相互作用部を具備し、当該バイアス用相互作用部を構成する各々の前記バイアス電極の中心導体が電気的に接続されてなり、当該中心導体のうちの1つは接続すべき電源からバイアス電圧が供給されることを特徴とする光変調器。
  2. 前記バイアス用相互作用部の前記少なくとも2つの中心導体は、前記高周波電気信号用相互作用部の中心導体と接地導体との間を除く位置で電気的に接続されてなることを特徴とする請求項1に記載の光変調器。
  3. 前記基板がX−カット基板でなり、
    前記バイアス用相互作用部における前記中心導体と前記接地導体とが相対向する部分の下方で、前記光導波路の直上を除く位置にバッファ層を具備することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の光変調器。
  4. 前記バイアス電極の1つが、前記高周波電気信号の信号源の位置により規定される高周波電気信号の印加点よりも光入力側に形成されていることを特徴とする請求項1乃至請求項の何れかに記載の光変調器。
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