JP4197395B2 - 共焦点蛍光顕微鏡のビーム路における光学装置 - Google Patents

共焦点蛍光顕微鏡のビーム路における光学装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4197395B2
JP4197395B2 JP2000570627A JP2000570627A JP4197395B2 JP 4197395 B2 JP4197395 B2 JP 4197395B2 JP 2000570627 A JP2000570627 A JP 2000570627A JP 2000570627 A JP2000570627 A JP 2000570627A JP 4197395 B2 JP4197395 B2 JP 4197395B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mirror
beam path
excitation light
illumination
beam splitter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2000570627A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002525651A (ja
JP2002525651A5 (ja
Inventor
エンゲルハルト、ヨハン
ウルリッヒ、ハインリッヒ
ハイ、ヴィリアム、ツェー.
Original Assignee
ライカ ミクロジュステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=7880995&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JP4197395(B2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by ライカ ミクロジュステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー filed Critical ライカ ミクロジュステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー
Publication of JP2002525651A publication Critical patent/JP2002525651A/ja
Publication of JP2002525651A5 publication Critical patent/JP2002525651A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4197395B2 publication Critical patent/JP4197395B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/6456Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
    • G01N21/6458Fluorescence microscopy
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0076Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/008Details of detection or image processing, including general computer control

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、共焦点蛍光顕微鏡のビーム路中に配置された光学装置であって、少なくとも1つのレーザ光源と、照明/検知ビーム路に配置され、対象物で反射された励起光を対象物により放射された蛍光光から分離するための装置と、前記分離装置と対象物との間に配置された対物レンズと、検知ビーム路中に前記分離装置に後置された検知器とを有する光学装置に関する。
【0002】
【従来の技術及び問題点】
実際にはすでに長い間、対象物で反射された励起光を対象物から照射された蛍光光から分離するために二色性ビームスプリッタを使用することが公知である。多色を同時に使用する場合には相応に多数の二色性ビームスプリッタを使用する。反射された励起光を含まない蛍光光は、ビームスプリッタにより分離した後、別個の検知器により検知される。実際に使用されるビームスプリッタは一般的に高価である。さらにこのビームスプリッタは、測定ダイナミックスの大きい量的比較測定を高精度で行う場合には適さない。とりわけこのビームスプリッタは温度にも依存する。さらに二色性ビームスプリッタは検知器に対して約10%の透過損失を有する。
【0003】
例えば波長に依存しないビームスプリッタを使用することになれば、コストは間違いなく低下することとなる。しかしここでの欠点は、励起光の散乱光をその検知の前に、例えば阻止フィルタを使用して、除去ろ波しなければならないことである。このこともまた構造的観点から大がかりであり、再度コストのかかる原因ともなる。さらにこのことにより蛍光の効率が低下する。しかも多色の同時使用は不可能である。
【0004】
単純なビームスプリッタを使用すれば、励起光の散乱光反射がレーザ光源に戻り、そこで行われている誘導放射を妨げる。このことはまた不所望のレーザ光強度変動として現れる。
【0005】
高解像度の使用に対しては照明ないしスキャンのために全開口数を使用する。そのため照明フォーカスがラテラル方向に非常に小さくなり、従って比較的に長い記録時間が必要となる。解像度がそれほど重要でない使用に対しては、この手法は記録時間が延長されるので不利である。
【0006】
共焦点蛍光顕微鏡については単に例として、Engelhardt und Knebel,“Physik in unserer Zeit”,24.Jahrg.,1993,Nr.2,“Konfokale Laserscanning-Mikroskopie”およびD.K.Hamilton und T.Wilson in Appl.Phys.B 27,1982,211-213,“Three-Dimensional Surface Measurement Using the Confocal Scanning Microscope”を挙げておく。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の課題は、共焦点蛍光顕微鏡のビーム路における光学装置を、従来の二色性ビームスプリッタを有する上位概念記載の構成体に対して、構造が簡単であり蛍光効率が向上されるように構成および改善することである。
【0008】
【解決手段】
共焦点蛍光顕微鏡のビーム路における本発明の光学装置は、前記の課題を請求項1の特徴によって解決する。これによれば冒頭に述べた光学装置において、分離装置はミラーを有し、該ミラーは照明/検知ビーム路に次のように配置され構成されている、すなわち当該ミラーが、対象物を暗視野照明するために、レーザ光源から到来し、拡散されない励起ビームを対物レンズへ反射し、対象物から到来した蛍光光を全開口数で、−検知ビーム路で作用するミラーの横断面積分だけ減少されて−検知器の方向へ通過させるように配置および構成されていること、及び対象物でレーザ光源に戻る励起光の再帰反射を抑圧するために、対象物は斜めに、すなわち光軸に直交しないように配置されていることを特徴とする(形態1・基本構成)。
【0009】
本発明では、分離装置はミラーを有し、該ミラーは照明/検知ビーム路に次のように配置され構成されている、すなわち当該ミラーが、対象物を暗視野照明するために、レーザ光源から到来し、拡散されない励起ビームを対物レンズへ反射し、対象物から(放射されて)到来した蛍光光を全開口数で、−(但し、検知ビーム路で作用するミラーの横断面積分だけ減少されて)−検知器の方向へ通過させるように配置および構成されている。
【0010】
本発明ではさらに、対象物で反射された励起光を対象物から放射された蛍光光から分離するための分離装置は、従来の二色性ビームスプリッタではなく照明ビーム路/検知ビーム路に配置されたミラーとすることができる。このミラーは十分に小型であり、対象物を暗視野照明するために、レーザ光源から到来する拡散されていない励起ビームを対象物に向けて反射すると共に、対象物から到来する蛍光光は全開口数で検知器の方向に通過させる。ここで蛍光光は検知ビーム路において作用するミラーの(有効)断面積だけ低減される。対象物により反射された励起光の主反射は有利にはミラーで検知ビーム路から除去されるよう反射される。
【0011】
ミラーないし反射性面を十分に小さく構成することにより、拡散されていない励起光だけが対象物に反射される。この種の“小さな”開口数(その他は通常の開口の例えば10%)による照明によって“暗視野照明”が達成される。この照明は光軸に沿って延長された焦点領域を有し、この焦点領域は良く定義された横方向の焦点直径を備える。本発明では、対象物位置で光軸に沿った十分な照明公差が達成される。このことは共焦点蛍光顕微鏡での特別な適用に特に有利に作用する。さらに高いシーン内ダイナミックスを備えた照明が保証される。このようなシーン内ダイナミックス(intraszenische Dynamik)が高いことの利点は、例えば直接隣接する2つの対象物を異なる絶対蛍光強度により、例えば対象物Aを100%により対象物Bを0.05%により同じ共焦点面で、明るい対象物をオーバ照明(ueberleuchten)することなしに相互に分離して測定できることである。
【0012】
特に有利にはミラーは、検知すべき蛍光光に対して検知ビーム路における損失が約1%であるように構成ないし小型に構成される。このことにより効率的な検知が特に高いダイナミックレンジで可能である。
【0013】
ここで使用されるミラーは特に簡単な実施例の枠内で、独立の構成部材として構成することができる。この場合ミラーはまたホルダにより支持される。このような実施例の枠内で、従来のビームスプリッタは完全に省略される。なぜならここではビーム路に相応の箇所で単に小型のミラーが配置されているだけだからである。さらに別の実施例の枠内で、ミラーは、(その他の点では従来の)ビームスプリッタの、有利には一体的な、反射性領域として構成することができる。ここでミラーないし反射性領域は少なくともビームスプリッタのほぼ中央に配置ないし構成する。この小型の一体的ミラーはほぼ円形または楕円形ないしは卵形に構成することができる。最終的にここでは、ビームスプリッタの中央にあり、独立したミラーと同じように拡散されていない励起ビームを対象物に反射する反射性領域が取り扱われる。ここでも照明は、ダイナミックスを有利にするため極端に小さな開口数により行われる。
【0014】
ビームスプリッタの非反射性領域は、検知器の方向に約10%の反射と90%の透過を有することができる。ここで具体的には、ビームスプリッタの検知器側に反射防止(AR)被覆を設けることができる。このようなビームスプリッタは蛍光光を、通常の(無限)のビーム路に従って全開口数で−反射性領域に当たる蛍光光の分だけ低減されて−検知器の方向に通過させる。反射性領域により発生する、検知すべき蛍光光に対する損失は、すなわちミラーの大きさに依存して、極端に小さい。ここでは僅か1%の損失が実現され、このことは前に述べた高いダイナミックスにつながる。
【0015】
さらにビームスプリッタの非反射性領域は、ビームスプリッタの非反射性領域の光学的特性が少なくともほぼ温度に依存しないように構成ないし被覆されている。測定の再現性がこのことにより有利になる。
【0016】
対象物から蛍光光だけが検知ビーム路に到達するのではなく、励起光の再帰反射(逆方向への反射)も到達する。このような再帰反射は不所望のものである。対象物での励起光がレーザ光源に再帰反射するのを抑圧するために、対象物を傾けて配置することができる。このことは、対象物自体が光軸に対して直交していないことを意味し、そのため再帰反射された励起光に対しては別個のビーム路が生じる。このビーム路は照明ビーム路に対して少なくとも僅かに−空間的に−ずらされている。この別個のビーム路には簡単に従来の光ストップ手段 (Lichtfalle)を配置し、これにより再帰反射された励起光を効果的に絞り除去することができる。
【0017】
対象物のシフトが所望される場合、ないし別の対象物を見つけ出すためには、対象物がその平面で、照明される対象物領域が常に対物レンズに対して同じ間隔を有しながら可動であるように構成すると特に有利である。このことにより、対象物で反射される光および/または散乱される光が、前記の実施例にしたがってレーザ光源に戻らないのではなく、別個のビーム路を介して光ストップ手段に到達する。
【0018】
ストップ手段による措置に代り、ミラーは、独立した構成部材としての実施例の枠内で、対象物により散乱および/または反射された励起光を吸収するための吸収領域を有することができる。別個の光ストップ手段による措置はここではもはや不要である。このことにより装置が空間的に小型化される。ミラーは、円形または楕円形ないし卵形の実施例の枠内で反射性の領域と吸収性の領域を有する。
【0019】
同じようにビームスプリッタは、反射性領域の近傍に、対象物により散乱および/または反射された励起光を吸収するための吸収領域を有することもできる。このような実施例の枠内でも、別個の光ストップ手段による措置は省略することができ、この構成によって装置を最小の空間スペースにより製作できるという利点が得られる。
【0020】
最後に、ビーム拡散と使用されるレーザ光源の波長との関係を適切にすることによって、少なくとも近似的に同じ軸方向の焦点位置が可能であると特に有利である。このことにより一方では対象物位置での光軸に沿った所要の照明公差が得られ、他方では高いシーン内ダイナミクスを備えた照明が保証される。これについては繰り返しを避けるために前の実施例を参照されたい。
【0021】
本発明の思想を有利に構成および改善する種々の手段がある。これについて一方では請求項1の従属請求項を、他方では以下の図面に基づいた本発明の実施例の説明を参照されたい。図面に基づいた本発明の有利な実施例の説明と関連して、一般的に有利な実施形態および改善形態を説明する。
なお、以下に、上記基本構成を形態1として、従属請求項の対象でもある本発明の好ましい実施の形態をまとめておく:
(2) 上記形態1の装置において、該ミラーは、検知すべき蛍光光に対して検知ビーム路で約1%の損失を引き起こすように構成されていることが好ましい(形態2)。
(3) 上記形態1又は2の装置において、該ミラーは独立の構成部材として構成されていることが好ましい(形態3)。
(4) 上記形態3の装置において、該ミラーはホルダにより支持されていることが好ましい(形態4)。
(5) 上記形態1又は2の装置において、該ミラーは、ビームスプリッタの有利には一体的な反射性領域として構成されていることが好ましい(形態5)。
(6) 上記形態5の装置において、該ミラーは、ビームスプリッタの少なくともほぼ中央に配置ないし構成されていることが好ましい(形態6)。
(7) 上記形態5又は6の装置において、該ミラーはほぼ円形に構成されていることが好ましい(形態7)。
(8) 上記形態5又は6の装置において、該ミラーはほぼ楕円形に構成されていることが好ましい(形態8)。
(9) 上記形態5〜8の装置において、ビームスプリッタの非反射性領域は検知器の方向に、約10%の反射と90%の透過を有することが好ましい(形態9)。
(10) 上記形態5〜9の装置において、ビームスプリッタの非反射性領域の光学的特性は少なくとも十分に温度に依存しないことが好ましい(形態10)。
(11) 上記形態1〜10の装置において、再帰反射された励起光に対して、照明ビーム路に対して僅かにずらされた当該励起光のビーム路に光ストップが設けられていることが好ましい(形態11)。
(12) 上記形態1〜11の装置において、対象物はその平面内において、対象物の照明領域が常に対物レンズに対して同じ間隔を有するように可動であるよう配されることが好ましい(形態12)。
(13) 上記形態1〜12の装置において、該ミラーは、対象物により散乱された励起光を吸収するための吸収領域を有することが好ましい(形態13)。
(14) 上記形態5〜12の装置において、該ビームスプリッタは、反射性領域の他に、対象物により散乱された励起光を吸収するための吸収領域を有していることが好ましい(形態14)。
(15) 上記形態1〜14の装置において、ビーム拡散と、使用されるレーザ光源の波長との関係を適切に選択することにより、少なくとも近似的に同じ焦点位置が実現可能であることが好ましい(形態15)。
【0022】
【実施例】
図1は、共焦点蛍光顕微鏡のビーム路における光学装置の実施例が概略図である。この光学装置は、ここで選択された実施例では2つのレーザ光源1,2、照明ビーム路/検知ビーム路3,4,5に配置され、対象物7により反射された励起光7を対象物7から放射された蛍光光9から分離するための分離装置6、分離装置6と対象物7との間に配置された対物レンズ10、および検知ビーム5中で分離装置6に後置された検知器11を有する。
【0023】
図1から、励起光8がビーム統合器(入射結合器)12を介して装置6に達し、これから対物レンズ10へ反射され、そこから対象物7に達することがわかる。蛍光光9も対物レンズ10を通過して装置6に達し、本発明によりミラー13として構成された反射性領域を除いてこの装置6を通過し、円筒レンズ14,阻止フィルタホイール(ディスク)15および検知ホール絞り15を介して検知器11に達する。
【0024】
本発明では分離装置6はミラー13を有しており、このミラー13は照明ビーム路/検知ビーム路3,4,5に次のように配置および構成されている。すなわちこのミラーが、対象物7を暗視野照明するために、レーザ光源1,2から到来し、拡散されない励起ビームないし励起光8を対物レンズ10へ反射し、対象物7から到来した蛍光光9を全開口数で、(但し、検知ビーム路4,5で作用するミラー13の横断面積分だけ減少されて)検知器11の方向へ通過させるように配置および構成されている。
【0025】
図1と図2に示された実施例では、分離装置6はビームスプリッタとして構成されており、その中央にはミラー13が組み込まれている。
【0026】
図3は、分離装置6の択一的構成を示しており、ここでは分離装置6は簡単で単純に、ただ1つのミラー13として構成されている。ここでこのミラー13は自立的な構成部材である。ミラー13は、図3に示したように全体反射面を有することができる。
【0027】
図4に示した実施例でもミラー13は同じように別個の構成部材として構成されている。ここではミラー13の面は、反射性のミラー面17と吸収性面18とに分割されている。この手段により、反射されて戻る励起光19に対して別個の光ストップ手段を設ける措置が不要になる。
【0028】
分離装置6として、例えば図1と図2の図示のようなビームスプリッタ、または図3と図4の実施例を適用すれば、再帰反射、ないし再帰反射された励起光19が次のようにして「無害化」される。すなわち試料ないし対象物7を斜めに調整し、光軸23に対して直交しないように配置するのである。このことにより、再帰反射された励起光19が励起光8の照明ビーム路20ないしビーム路に対して僅かにずらされ、再帰反射される励起光19は固有のビーム路21に沿って再帰反射されるようになる。そして適切な箇所に光ストップ手段22を配置する。この光ストップ手段は、ビーム路21の配向に基づき、照明ビーム路20ないし励起光の反対側にある。
【0029】
本発明の別の有利な構成については、繰り返しを避けるために明細書の一般的部分に記載した実施形態を参照されたい。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は、共焦点蛍光顕微鏡のビーム路における本発明の光学装置の基本構成の概略図である。
【図2】 図2は、中央ミラーを有するビームスプリッタの概略図である。
【図3】 図3は、ビームスプリッタの代わりに別個の構成部材として使用されるミラーの概略図である。
【図4】 図4は、一体的に反射領域と吸収領域を有するミラーの概略図である。
【符号の説明】
1 レーザ光源
2 レーザ光源
3 照明ビーム路
4 照明/検知ビーム路
5 検知ビーム路
6 対象物で反射された励起光を対象物により放射された蛍光光から分離するための装置
7 対象物
8 励起光
9 蛍光光
10 対物レンズ
11 検知器
12 ビーム統合器
13 ミラー
14 円筒レンズ
15 阻止フィルタホイール
16 検知ホール絞り
17 ミラー面
18 吸収性面
19 再帰反射された励起光
20 照明ビーム路
21 再帰反射された励起光のビーム路
22 光ストップ手段
23 光軸

Claims (15)

  1. 共焦点蛍光顕微鏡のビーム路中に配置された光学装置であって、少なくとも1つのレーザ光源(1,2)と、照明/検知ビーム路(3,4,5)に配置され、対象物(7)で反射された励起光(8)を対象物(7)により放射された蛍光光(9)から分離するための装置(6)と、前記分離装置(6)と対象物(7)との間に配置された対物レンズ(10)と、検知ビーム路(5)中に前記分離装置(6)に後置された検知器(11)とを有する光学装置において、
    前記分離装置(6)はミラー(13)を有し、
    該ミラー(13)は照明/検知ビーム路(3,4,5)に次のように配置され構成されていること、すなわち
    当該ミラーが、対象物(7)を暗視野照明するための、レーザ光源(1,2)から到来し、拡散されない励起ビームを対物レンズ(10)へ反射し、対象物(7)から到来した蛍光光(9)を全開口数で、−検知ビーム路(5)で作用するミラー(13)の横断面積分だけ減少されて−検知器(11)の方向へ通過させるように配置および構成されていること、及び
    対象物(7)でレーザ光源(1,2)に戻る励起光(8)の再帰反射を抑圧するために、対象物(7)は斜めに、すなわち光軸(23)に直交しないように配置されていること
    を特徴とする光学装置。
  2. 該ミラー(13)は、検知すべき蛍光光(9)に対して検知ビーム路(5)で1%の損失を引き起こすように構成されている、請求項1記載の装置。
  3. 該ミラー(13)は独立の構成部材として構成されている、請求項1または2記載の装置。
  4. 該ミラー(13)はホルダにより支持されている、請求項3記載の装置。
  5. 該ミラー(13)は、ビームスプリッタの反射性領域として構成されている、請求項1または2記載の装置。
  6. 該ミラー(13)は、ビームスプリッタの中央に配置ないし構成されている、請求項5記載の装置。
  7. 該ミラー(13)は円形に構成されている、請求項5または6記載の装置。
  8. 該ミラー(13)は楕円形に構成されている、請求項5または6記載の装置。
  9. ビームスプリッタ(6)の非反射性領域は検知器(11)の方向に、10%の反射と90%の透過を有する、請求項5から8までのいずれか1項記載の装置。
  10. ビームスプリッタの非反射性領域の光学的特性は温度に依存しない、請求項5から9までのいずれか1項記載の装置。
  11. 再帰反射された励起光(19)に対して、照明ビーム路(20)に対して僅かにずらされた当該励起光のビーム路(21)に光ストップ(22)が設けられている、請求項1から10までのいずれか1項記載の装置。
  12. 対象物(7)は、対象物の照明領域が常に対物レンズ(10)に対して同じ間隔を有するように可動であるよう配される、請求項1から11までのいずれか1項記載の装置。
  13. 該ミラー(13)は、対象物(7)により散乱された励起光(8)を吸収するための吸収領域(18)を有する、請求項1から12までのいずれか1項記載の装置。
  14. 該ビームスプリッタは、反射性領域の他に、対象物(7)により散乱された励起光(8)を吸収するための吸収領域(18)を有している、請求項5から12までのいずれか1項記載の装置。
  15. ビーム拡散と、使用されるレーザ光源(1,2)の波長との関係を適切に選択することにより、同じ焦点位置が実現可能である、請求項1から14までのいずれか1項記載の装置。
JP2000570627A 1998-09-15 1999-09-13 共焦点蛍光顕微鏡のビーム路における光学装置 Expired - Lifetime JP4197395B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19842153.2 1998-09-15
DE19842153A DE19842153C2 (de) 1998-09-15 1998-09-15 Fluoreszenzmikroskop
PCT/DE1999/002910 WO2000016149A1 (de) 1998-09-15 1999-09-13 Optische anordnung im strahlengang eines konfokalen fluoreszenzmikroskops

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2002525651A JP2002525651A (ja) 2002-08-13
JP2002525651A5 JP2002525651A5 (ja) 2005-12-22
JP4197395B2 true JP4197395B2 (ja) 2008-12-17

Family

ID=7880995

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000570627A Expired - Lifetime JP4197395B2 (ja) 1998-09-15 1999-09-13 共焦点蛍光顕微鏡のビーム路における光学装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6785302B1 (ja)
EP (1) EP1031055B1 (ja)
JP (1) JP4197395B2 (ja)
DE (2) DE19842153C2 (ja)
WO (1) WO2000016149A1 (ja)

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002543370A (ja) * 1999-02-26 2002-12-17 ジーエスアイ・ルモニクス,インコーポレイテッド 光学スキャナ用の画像形成システム
US6355934B1 (en) 1999-02-26 2002-03-12 Packard Biochip Technologies Imaging system for an optical scanner
DE19923822A1 (de) 1999-05-19 2000-11-23 Zeiss Carl Jena Gmbh Scannende Anordnung, vorzugsweise zur Erfassung von Fluoreszenzlicht
US6795189B2 (en) * 2000-06-15 2004-09-21 Packard Instrument Company Universal microplate analyzer
EP1164402B1 (de) * 2000-06-17 2010-04-28 Leica Microsystems CMS GmbH Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung und optisches Bauelement für ein Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung
FR2813121A1 (fr) * 2000-08-21 2002-02-22 Claude Weisbuch Dispositif perfectionne de support d'elements chromophores
US6826424B1 (en) 2000-12-19 2004-11-30 Haishan Zeng Methods and apparatus for fluorescence and reflectance imaging and spectroscopy and for contemporaneous measurements of electromagnetic radiation with multiple measuring devices
US6750457B2 (en) * 2001-08-29 2004-06-15 Becton Dickinson And Company System for high throughput analysis
DE10143481A1 (de) * 2001-09-05 2003-03-20 Europ Lab Molekularbiolog Mikroskop
DE10144062B4 (de) * 2001-09-07 2010-05-27 Leica Microsystems Ag Mikroskop mit einer Beleuchtungseinspiegelung
US6888148B2 (en) * 2001-12-10 2005-05-03 Carl Zeiss Jena Gmbh Arrangement for the optical capture of excited and /or back scattered light beam in a sample
DE10327987A1 (de) * 2003-06-21 2005-01-20 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Konfokales optisches System
DE10332073A1 (de) * 2003-07-11 2005-02-10 Carl Zeiss Jena Gmbh Anordnung zur optischen Erfassung von in einer Probe angeregter und / oder rückgestreuter Lichtstrahlung mit Doppelobjektivanordnung
FR2860606B1 (fr) * 2003-10-07 2006-01-21 Thales Sa Convertisseur multimode-monomode, en particulier pour source laser a fibre amplificatrice multimode
FR2869686B1 (fr) * 2003-12-11 2009-06-05 Flowgene Sa Detecteur de lumiere a chambre elliptique
DE102006056429B3 (de) 2006-11-28 2008-02-14 Leica Microsystems Cms Gmbh Lasermikroskop mit räumlich trennendem Strahlteiler
DE102007024074B4 (de) 2007-05-22 2022-09-15 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop
JP6058977B2 (ja) * 2012-11-15 2017-01-11 シャープ株式会社 蛍光検出装置
JP6176327B2 (ja) * 2013-07-11 2017-08-09 株式会社島津製作所 ラマン分光分析装置
EP3542710A1 (de) * 2018-03-23 2019-09-25 JenLab GmbH Multimodales bildgebungssystem und verfahren zur nicht-invasiven untersuchung eines untersuchungsobjekts

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4744663A (en) 1984-12-14 1988-05-17 Nippon Kogaku K.K. Pattern position detection apparatus using laser beam
DE3742806A1 (de) * 1987-12-17 1989-07-13 Zeiss Carl Fa Verfahren und vorrichtung zur erzeugung von fluoreszenzbildern
JPH03269405A (ja) * 1990-03-19 1991-12-02 Fujitsu Ltd 蛍光顕微鏡
GB9014263D0 (en) * 1990-06-27 1990-08-15 Dixon Arthur E Apparatus and method for spatially- and spectrally- resolvedmeasurements
US5127730A (en) * 1990-08-10 1992-07-07 Regents Of The University Of Minnesota Multi-color laser scanning confocal imaging system
USH1344H (en) * 1990-10-09 1994-08-02 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Portable automatic sensor for toxic gases
GB2254444B (en) * 1991-03-25 1994-06-15 Birkbeck College Laser microscopy
CH685650A5 (de) * 1991-07-20 1995-08-31 Tencor Instruments Einrichtung für Oberflächeninspektionen.
JP3102938B2 (ja) * 1991-12-30 2000-10-23 シスメックス株式会社 粒子画像分析装置
DE4243144B4 (de) * 1992-12-19 2008-08-21 BRUKER OPTICS, Inc., Billerica Objektiv für ein FT-Raman-Mikroskop
JP3144513B2 (ja) * 1993-06-17 2001-03-12 富士写真フイルム株式会社 蛍光顕微鏡
DE4343076C2 (de) * 1993-12-16 1997-04-03 Phototherm Dr Petry Gmbh Vorrichtung zum photothermischen Prüfen einer Oberfläche eines insbesondere bewegten Gegenstandes
US5734498A (en) * 1994-05-09 1998-03-31 The Regents Of The University Of California Illuminator elements for conventional light microscopes
JP3537205B2 (ja) * 1995-02-02 2004-06-14 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
JPH09281045A (ja) * 1996-04-10 1997-10-31 Kdk Corp メバロン酸の光学的測定方法
JPH1096862A (ja) * 1996-09-20 1998-04-14 Bunshi Bio Photonics Kenkyusho:Kk 落射蛍光顕微鏡装置
JP3269405B2 (ja) 1996-10-08 2002-03-25 株式会社東京精密 数値制御工作機械の自動測定装置
JPH10142507A (ja) * 1996-11-11 1998-05-29 Olympus Optical Co Ltd レーザ走査顕微鏡
JPH1198372A (ja) * 1997-09-18 1999-04-09 Olympus Optical Co Ltd 色調整方法
US6445491B2 (en) * 1999-01-29 2002-09-03 Irma America, Inc. Method and apparatus for optical sectioning and imaging using time-gated parametric image amplification

Also Published As

Publication number Publication date
EP1031055B1 (de) 2006-01-25
DE59913082D1 (de) 2006-04-13
DE19842153A1 (de) 2000-03-16
WO2000016149A1 (de) 2000-03-23
EP1031055A1 (de) 2000-08-30
US6785302B1 (en) 2004-08-31
JP2002525651A (ja) 2002-08-13
DE19842153C2 (de) 2003-07-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4197395B2 (ja) 共焦点蛍光顕微鏡のビーム路における光学装置
US9989746B2 (en) Light microscope and microscopy method
EP0880690B1 (en) Fluorescence imaging system compatible with macro and micro scanning objectives
US7480046B2 (en) Scanning microscope with evanescent wave illumination
JP2004038139A (ja) 顕微鏡内への光線連結のための装置
JP2002525651A5 (ja)
JP4920918B2 (ja) 位相フィルタ、光学装置及びラスタ顕微鏡
JP2000330029A (ja) レーザ顕微鏡
JP2007233370A (ja) 試料を高い空間分解能で検査するための方法および顕微鏡
JP7342101B2 (ja) 改良された走査光学顕微鏡
JP5039307B2 (ja) 対物レンズおよび顕微鏡
JP2005055895A (ja) ラスタ顕微鏡
EP3084501B1 (en) Light source adaptor for a microscope
JP2004085796A (ja) 顕微鏡用照明装置及び顕微鏡
WO2007014996A1 (fr) Dispositif d'imagerie de fluorescence comportant une source lumineuse a deux longueurs d'onde et de puissance d'éclairement variable
US6836359B2 (en) Microscope and segmenting device for a microscope
EP3159729B1 (en) Standing wave interferometric microscope
JP3992591B2 (ja) 走査型光学顕微鏡
JPH09288237A (ja) 暗視野落射顕微鏡
CN113448072B (zh) 具有tirfm能力的显微镜及其操作方法
KR100778388B1 (ko) 거울을 이용한 광선 분리 방법 및 이를 이용한 광학 장치
JPH09297266A (ja) 顕微鏡
US20020027664A1 (en) Method and apparatus for optical position detection
JPH11149046A (ja) 顕微鏡の落射型蛍光照明装置及びそのフィルタユニット
US20210116693A1 (en) Non-linear optical scanning microscope

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050407

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050407

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080225

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080304

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080528

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080924

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080926

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111010

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4197395

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111010

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121010

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121010

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131010

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term