JPH1096862A - 落射蛍光顕微鏡装置 - Google Patents
落射蛍光顕微鏡装置Info
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- JPH1096862A JPH1096862A JP25043796A JP25043796A JPH1096862A JP H1096862 A JPH1096862 A JP H1096862A JP 25043796 A JP25043796 A JP 25043796A JP 25043796 A JP25043796 A JP 25043796A JP H1096862 A JPH1096862 A JP H1096862A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 自家蛍光発生量が少なく、試料から発生した
蛍光を高感度に検出することができる落射蛍光顕微鏡装
置を提供する。 【解決手段】 反射鏡３０は、試料５０で発生し対物レ
ンズ４０から出射された蛍光Ｂ１の光路上であって、蛍
光Ｂ１の光束断面の一部に配されている。励起光源１０
から出射された励起光Ａは、コレクタレンズ２０および
コリメータレンズ２１により所定の光束径とされ、励起
フィルタ２２により励起波長成分のみが透過され、反射
鏡３０により反射され、対物レンズ４０により試料５０
に集光照射される。一方、試料５０で発生して対物レン
ズ４０を通過した蛍光Ｂ１は、一部が反射鏡３０で遮断
されるが、残部が反射鏡３０で遮断されることなく、励
起カットフィルタ６１を経て、結像レンズ６０により結
像され、検出器７０により検出される。
蛍光を高感度に検出することができる落射蛍光顕微鏡装
置を提供する。 【解決手段】 反射鏡３０は、試料５０で発生し対物レ
ンズ４０から出射された蛍光Ｂ１の光路上であって、蛍
光Ｂ１の光束断面の一部に配されている。励起光源１０
から出射された励起光Ａは、コレクタレンズ２０および
コリメータレンズ２１により所定の光束径とされ、励起
フィルタ２２により励起波長成分のみが透過され、反射
鏡３０により反射され、対物レンズ４０により試料５０
に集光照射される。一方、試料５０で発生して対物レン
ズ４０を通過した蛍光Ｂ１は、一部が反射鏡３０で遮断
されるが、残部が反射鏡３０で遮断されることなく、励
起カットフィルタ６１を経て、結像レンズ６０により結
像され、検出器７０により検出される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、励起光を試料に照
射し、その試料から発生した蛍光を検出する落射蛍光顕
微鏡装置に関するものである。
射し、その試料から発生した蛍光を検出する落射蛍光顕
微鏡装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の落射蛍光顕微鏡装置では、励起光
源から出力された励起光をダイクロイックミラーにより
反射させ対物レンズにより集光して試料に照射させると
ともに、その試料から発生した蛍光を対物レンズを経て
ダイクロイックミラーを透過させて検出していた。この
ダイクロイックミラーは、励起光を反射させるが、蛍光
を透過させるものである。
源から出力された励起光をダイクロイックミラーにより
反射させ対物レンズにより集光して試料に照射させると
ともに、その試料から発生した蛍光を対物レンズを経て
ダイクロイックミラーを透過させて検出していた。この
ダイクロイックミラーは、励起光を反射させるが、蛍光
を透過させるものである。
【０００３】このような落射蛍光顕微鏡装置では、試料
から発生する蛍光以外にも自家蛍光も発生する。この自
家蛍光は、対物レンズおよびその他のレンズやダイクロ
イックミラーなどに励起光またはその散乱光が照射され
て発生するものであり、試料から発生する蛍光を検出す
る際においてノイズとなるものである。それ故、従来よ
り、Ｓ／Ｂ比を向上させて試料から発生した蛍光を高感
度に検出すべく、自家蛍光を低減するための技術開発が
なされている。
から発生する蛍光以外にも自家蛍光も発生する。この自
家蛍光は、対物レンズおよびその他のレンズやダイクロ
イックミラーなどに励起光またはその散乱光が照射され
て発生するものであり、試料から発生する蛍光を検出す
る際においてノイズとなるものである。それ故、従来よ
り、Ｓ／Ｂ比を向上させて試料から発生した蛍光を高感
度に検出すべく、自家蛍光を低減するための技術開発が
なされている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来の落射蛍光顕微鏡
装置では、自家蛍光の発生要因は種々存在するが、その
うち、ダイクロイックミラーから発生する蛍光は、自家
蛍光全体の数％程度と見積もられている。ところが、ダ
イクロイックミラー以外の対物レンズなどの光学系につ
いては蛍光発生量の低減化が進んでおり、これに伴い、
自家蛍光全体に占めるダイクロイックミラーから発生す
る蛍光の割合は次第に大きくなりつつある。したがっ
て、ダイクロイックミラーからの蛍光発生を低減し或い
は無くすることは、蛍光検出の高感度化の要求が高まる
に従い、更に重要になってきている。しかしながら、ダ
イクロイックミラーから発生する蛍光の量を低減する試
みは従来よりなされているが、蛍光発生の低減化は困難
であるとされている。
装置では、自家蛍光の発生要因は種々存在するが、その
うち、ダイクロイックミラーから発生する蛍光は、自家
蛍光全体の数％程度と見積もられている。ところが、ダ
イクロイックミラー以外の対物レンズなどの光学系につ
いては蛍光発生量の低減化が進んでおり、これに伴い、
自家蛍光全体に占めるダイクロイックミラーから発生す
る蛍光の割合は次第に大きくなりつつある。したがっ
て、ダイクロイックミラーからの蛍光発生を低減し或い
は無くすることは、蛍光検出の高感度化の要求が高まる
に従い、更に重要になってきている。しかしながら、ダ
イクロイックミラーから発生する蛍光の量を低減する試
みは従来よりなされているが、蛍光発生の低減化は困難
であるとされている。
【０００５】本発明は、上記問題点を解消する為になさ
れたものであり、自家蛍光発生量が少なく、試料から発
生した蛍光を高感度に検出することができる落射蛍光顕
微鏡装置を提供することを目的とする。
れたものであり、自家蛍光発生量が少なく、試料から発
生した蛍光を高感度に検出することができる落射蛍光顕
微鏡装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明に係る落射蛍光顕
微鏡装置は、励起光を試料に照射し該試料から発生した
蛍光を検出する落射蛍光顕微鏡装置であって、(1) 蛍光
の光路上であって蛍光の光束断面の一部に配され、励起
光を試料に向けて反射させる反射鏡と、(2) 反射鏡によ
り反射された励起光を入力して試料に集光照射するとと
もに、試料から発生した蛍光を入力して反射鏡の側に出
力する対物レンズと、を備えることを特徴とする。
微鏡装置は、励起光を試料に照射し該試料から発生した
蛍光を検出する落射蛍光顕微鏡装置であって、(1) 蛍光
の光路上であって蛍光の光束断面の一部に配され、励起
光を試料に向けて反射させる反射鏡と、(2) 反射鏡によ
り反射された励起光を入力して試料に集光照射するとと
もに、試料から発生した蛍光を入力して反射鏡の側に出
力する対物レンズと、を備えることを特徴とする。
【０００７】この落射蛍光顕微鏡装置によれば、励起光
は、反射鏡により反射され、対物レンズにより試料に集
光照射される。一方、試料で発生して対物レンズを通過
した蛍光は、一部が反射鏡で遮断されるが、残部が反射
鏡で遮断されることなく検出される。したがって、反射
鏡に励起光が入射しても反射鏡からノイズとなる自家蛍
光が発生することはない。
は、反射鏡により反射され、対物レンズにより試料に集
光照射される。一方、試料で発生して対物レンズを通過
した蛍光は、一部が反射鏡で遮断されるが、残部が反射
鏡で遮断されることなく検出される。したがって、反射
鏡に励起光が入射しても反射鏡からノイズとなる自家蛍
光が発生することはない。
【０００８】反射鏡は、蛍光の光束断面の略一半に配さ
れることとしてもよく、この場合には、対物レンズから
出射された蛍光の光束断面の略一半は反射鏡に遮断され
るが、残りの一半は検出される。また、反射鏡は、蛍光
の光束断面の中央部分に配されることとしてもよく、こ
の場合には、対物レンズから出射された蛍光の光束断面
の周辺部分が検出される。また、反射鏡は、蛍光の光束
断面の周辺部分に配されることとしてもよく、この場合
には、対物レンズから出射された蛍光の光束断面の中央
部分が検出される。
れることとしてもよく、この場合には、対物レンズから
出射された蛍光の光束断面の略一半は反射鏡に遮断され
るが、残りの一半は検出される。また、反射鏡は、蛍光
の光束断面の中央部分に配されることとしてもよく、こ
の場合には、対物レンズから出射された蛍光の光束断面
の周辺部分が検出される。また、反射鏡は、蛍光の光束
断面の周辺部分に配されることとしてもよく、この場合
には、対物レンズから出射された蛍光の光束断面の中央
部分が検出される。
【０００９】また、反射鏡は、無蛍光性の透明板上に形
成されていることとしてもよい。この場合には、反射鏡
に入射した励起光は反射され、反射鏡が形成されていな
い領域に入射した励起光は透明板を透過し、何れもノイ
ズとなる自家蛍光は発生することはない。一方、対物レ
ンズから出射された蛍光の一部は、反射鏡により遮断さ
れ、残部は、反射鏡が形成されていない透明板の領域を
透過して検出される。
成されていることとしてもよい。この場合には、反射鏡
に入射した励起光は反射され、反射鏡が形成されていな
い領域に入射した励起光は透明板を透過し、何れもノイ
ズとなる自家蛍光は発生することはない。一方、対物レ
ンズから出射された蛍光の一部は、反射鏡により遮断さ
れ、残部は、反射鏡が形成されていない透明板の領域を
透過して検出される。
【００１０】また、励起光を反射鏡のみに入射させる絞
りを更に備えることとしてもよい。この場合には、反射
鏡は、絞りから到達した励起光を全て反射させるので、
鏡筒壁等における自家蛍光の発生を防止することができ
る。
りを更に備えることとしてもよい。この場合には、反射
鏡は、絞りから到達した励起光を全て反射させるので、
鏡筒壁等における自家蛍光の発生を防止することができ
る。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の実施の形態を詳細に説明する。尚、図面の説明におい
て同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省
略する。
の実施の形態を詳細に説明する。尚、図面の説明におい
て同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省
略する。
【００１２】先ず、第１の実施形態に係る落射蛍光顕微
鏡装置について説明する。図１は、第１の実施形態に係
る落射蛍光顕微鏡装置の光学系の構成図である。
鏡装置について説明する。図１は、第１の実施形態に係
る落射蛍光顕微鏡装置の光学系の構成図である。
【００１３】励起光源１０は、試料５０に照射すべき励
起光Ａを出射するものである。コレクタレンズ２０は、
この励起光源１０から発散光として出射された励起光Ａ
を入射して集束光として出射し、コリメータレンズ２１
は、そのコレクタレンズ２０から集束光として出射され
た励起光Ａを所定の光束径として反射鏡３０に向けて出
射する。励起フィルタ２２は、コリメータレンズ２１か
ら出射された励起光Ａを入力して、励起波長成分のみを
透過させる。反射鏡３０は、試料５０に含まれる蛍光物
質から発生し対物レンズ４０を通過した蛍光Ｂ１の光路
上に、その蛍光Ｂ１の光束断面の一部に配されており、
励起フィルタ２２から出力された励起光Ａを反射させて
対物レンズ４０に入射させる。そして、対物レンズ４０
は、反射鏡３０により反射された励起光Ａを試料５０に
集光照射する。
起光Ａを出射するものである。コレクタレンズ２０は、
この励起光源１０から発散光として出射された励起光Ａ
を入射して集束光として出射し、コリメータレンズ２１
は、そのコレクタレンズ２０から集束光として出射され
た励起光Ａを所定の光束径として反射鏡３０に向けて出
射する。励起フィルタ２２は、コリメータレンズ２１か
ら出射された励起光Ａを入力して、励起波長成分のみを
透過させる。反射鏡３０は、試料５０に含まれる蛍光物
質から発生し対物レンズ４０を通過した蛍光Ｂ１の光路
上に、その蛍光Ｂ１の光束断面の一部に配されており、
励起フィルタ２２から出力された励起光Ａを反射させて
対物レンズ４０に入射させる。そして、対物レンズ４０
は、反射鏡３０により反射された励起光Ａを試料５０に
集光照射する。
【００１４】試料５０に励起光Ａが照射されると、その
試料５０に含まれる蛍光物質から蛍光が発生する。対物
レンズ４０は、その蛍光を、励起光Ａを出射した側から
入射し、励起光Ａを入射した側に出射する。反射鏡３０
は、対物レンズ４０から出射した蛍光Ｂ１の光束断面の
一部を反射させ、残部をそのまま通過させる。すなわ
ち、対物レンズ４０から出射した蛍光Ｂ１の光束うち、
反射鏡３０に入射した光束は反射鏡３０により反射され
るが、反射鏡３０に入射しなかった光束（蛍光Ｂ２）は
反射鏡３０の側方を通過する。そして、励起光カットフ
ィルタ６１は、試料５０からの励起光Ａの散乱光を遮断
して蛍光Ｂ２のみを透過させ、結像レンズ６０は、その
蛍光Ｂ２を入力し光検出器７０の受光面上に結像させ、
光検出器７０は、蛍光Ｂ２を検出する。
試料５０に含まれる蛍光物質から蛍光が発生する。対物
レンズ４０は、その蛍光を、励起光Ａを出射した側から
入射し、励起光Ａを入射した側に出射する。反射鏡３０
は、対物レンズ４０から出射した蛍光Ｂ１の光束断面の
一部を反射させ、残部をそのまま通過させる。すなわ
ち、対物レンズ４０から出射した蛍光Ｂ１の光束うち、
反射鏡３０に入射した光束は反射鏡３０により反射され
るが、反射鏡３０に入射しなかった光束（蛍光Ｂ２）は
反射鏡３０の側方を通過する。そして、励起光カットフ
ィルタ６１は、試料５０からの励起光Ａの散乱光を遮断
して蛍光Ｂ２のみを透過させ、結像レンズ６０は、その
蛍光Ｂ２を入力し光検出器７０の受光面上に結像させ、
光検出器７０は、蛍光Ｂ２を検出する。
【００１５】反射鏡３０の形状および蛍光Ｂ１の光束断
面における配置を図２に示す。この図は、反射鏡３０の
反射面に垂直な方向から見たものであり、蛍光Ｂ１の光
束形状は楕円として示されている。この反射鏡３０は、
反射面の形状が長方形（ハッチング部分）であって、そ
の蛍光Ｂ１の光束断面の略一半を反射するよう配されて
いる。蛍光Ｂ１の光束断面の残りの一半は、反射鏡３０
に入射しないので、蛍光Ｂ２として結像レンズ６０によ
り結像されて検出器７０により検出される。
面における配置を図２に示す。この図は、反射鏡３０の
反射面に垂直な方向から見たものであり、蛍光Ｂ１の光
束形状は楕円として示されている。この反射鏡３０は、
反射面の形状が長方形（ハッチング部分）であって、そ
の蛍光Ｂ１の光束断面の略一半を反射するよう配されて
いる。蛍光Ｂ１の光束断面の残りの一半は、反射鏡３０
に入射しないので、蛍光Ｂ２として結像レンズ６０によ
り結像されて検出器７０により検出される。
【００１６】このように、従来用いられていたダイクロ
イックミラーに替えて反射鏡３０を用い、これにより励
起光源１０から出射された励起光Ａを反射させて対物レ
ンズ４０に入射させるようにしたので、反射鏡３０で自
家蛍光が発生することはなく、したがって、試料５０か
ら発生した蛍光を高感度に検出することができる。
イックミラーに替えて反射鏡３０を用い、これにより励
起光源１０から出射された励起光Ａを反射させて対物レ
ンズ４０に入射させるようにしたので、反射鏡３０で自
家蛍光が発生することはなく、したがって、試料５０か
ら発生した蛍光を高感度に検出することができる。
【００１７】ただし、対物レンズ４０から出射された蛍
光Ｂ１のうちの一部が反射鏡３０で遮られるので、対物
レンズ４０から出射された蛍光Ｂ１の全てを検出するこ
とはできない。しかし、従来の落射蛍光顕微鏡装置であ
っても、ダイクロイックミラーは、励起光の反射率およ
び蛍光の透過率それぞれが１００％ではないので、励起
光の光量はダイクロイックミラー反射時に減少し、且
つ、蛍光の光量もダイクロイックミラー透過時に減少す
る。したがって、本発明に係る落射蛍光顕微鏡装置にお
いて検出することができる蛍光の光量は、励起光の光束
径が細く、反射鏡３０の反射面がこの光束全体を反射す
る場合であれば、従来の落射蛍光顕微鏡装置における場
合と比べて大きな差はない。
光Ｂ１のうちの一部が反射鏡３０で遮られるので、対物
レンズ４０から出射された蛍光Ｂ１の全てを検出するこ
とはできない。しかし、従来の落射蛍光顕微鏡装置であ
っても、ダイクロイックミラーは、励起光の反射率およ
び蛍光の透過率それぞれが１００％ではないので、励起
光の光量はダイクロイックミラー反射時に減少し、且
つ、蛍光の光量もダイクロイックミラー透過時に減少す
る。したがって、本発明に係る落射蛍光顕微鏡装置にお
いて検出することができる蛍光の光量は、励起光の光束
径が細く、反射鏡３０の反射面がこの光束全体を反射す
る場合であれば、従来の落射蛍光顕微鏡装置における場
合と比べて大きな差はない。
【００１８】なお、反射鏡の形状および配置は、これに
限られるものではない。例えば、図３（ａ）に示すよう
に、無蛍光性の透明板３１Ａ上の一部領域に形成された
円形形状の反射鏡３１が、蛍光Ｂ１の光束断面の中央部
分に配されるようにしてもよい。この場合、対物レンズ
４０から出射された蛍光Ｂ１の光束断面の周辺部分が、
蛍光Ｂ２として通過し、結像レンズ６０により結像され
て検出器７０により検出される。また、図３（ｂ）に示
すように、輪帯形状の反射鏡３２が、蛍光Ｂ１の光束断
面の周辺部分に配されるようにしてもよい。この場合、
対物レンズ４０から出射された蛍光Ｂ１の光束断面の中
央部分が、蛍光Ｂ２として通過し、結像レンズ６０によ
り結像されて検出器７０により検出される。
限られるものではない。例えば、図３（ａ）に示すよう
に、無蛍光性の透明板３１Ａ上の一部領域に形成された
円形形状の反射鏡３１が、蛍光Ｂ１の光束断面の中央部
分に配されるようにしてもよい。この場合、対物レンズ
４０から出射された蛍光Ｂ１の光束断面の周辺部分が、
蛍光Ｂ２として通過し、結像レンズ６０により結像され
て検出器７０により検出される。また、図３（ｂ）に示
すように、輪帯形状の反射鏡３２が、蛍光Ｂ１の光束断
面の周辺部分に配されるようにしてもよい。この場合、
対物レンズ４０から出射された蛍光Ｂ１の光束断面の中
央部分が、蛍光Ｂ２として通過し、結像レンズ６０によ
り結像されて検出器７０により検出される。
【００１９】次に、第２の実施形態に係る落射蛍光顕微
鏡装置について説明する。図４は、第２の実施形態に係
る落射蛍光顕微鏡装置の光学系の構成図である。
鏡装置について説明する。図４は、第２の実施形態に係
る落射蛍光顕微鏡装置の光学系の構成図である。
【００２０】本実施形態に係る落射蛍光顕微鏡装置は、
第１の実施形態と比較すると、コレクタレンズ２０とコ
リメータレンズ２１との間に絞り２３が設けられている
点が異なる。この絞り２３は、その開口を通過した励起
光Ａの全ての光束がコリメータレンズ２１および励起フ
ィルタ２２を経た後に反射鏡３０に入射するよう開口が
形成されている。また、絞り２３の開口は、励起光源１
０、コレクタレンズ２０およびコリメータレンズ２１の
光軸に対して偏心して設けられている。
第１の実施形態と比較すると、コレクタレンズ２０とコ
リメータレンズ２１との間に絞り２３が設けられている
点が異なる。この絞り２３は、その開口を通過した励起
光Ａの全ての光束がコリメータレンズ２１および励起フ
ィルタ２２を経た後に反射鏡３０に入射するよう開口が
形成されている。また、絞り２３の開口は、励起光源１
０、コレクタレンズ２０およびコリメータレンズ２１の
光軸に対して偏心して設けられている。
【００２１】したがって、本実施形態に係る落射蛍光顕
微鏡装置は、従来の落射蛍光顕微鏡装置におけるダイク
ロイックミラーに替えて反射鏡３０を設け、更に絞り２
３を新たに設けた構成となっている。このようにするこ
とにより、反射鏡は、絞りから到達した励起光を全て反
射させるので、鏡筒壁等における自家蛍光の発生を防止
することができるので、試料５０から発生した蛍光を更
に高感度に検出することができる。
微鏡装置は、従来の落射蛍光顕微鏡装置におけるダイク
ロイックミラーに替えて反射鏡３０を設け、更に絞り２
３を新たに設けた構成となっている。このようにするこ
とにより、反射鏡は、絞りから到達した励起光を全て反
射させるので、鏡筒壁等における自家蛍光の発生を防止
することができるので、試料５０から発生した蛍光を更
に高感度に検出することができる。
【００２２】次に、第３の実施形態に係る落射蛍光顕微
鏡装置について説明する。図５は、第３の実施形態に係
る落射蛍光顕微鏡装置の光学系の構成図である。
鏡装置について説明する。図５は、第３の実施形態に係
る落射蛍光顕微鏡装置の光学系の構成図である。
【００２３】本実施形態に係る落射蛍光顕微鏡装置は、
第２の実施形態と比較すると、コレクタレンズ２０とコ
リメータレンズ２１との間に絞り２４が設けられている
点では同様であり、この絞り２４は、その開口を通過し
た励起光Ａの全ての光束がコリメータレンズ２１および
励起フィルタ２２を経た後に反射鏡３０に入射するよう
開口が形成されている。しかし、第２の実施形態と比較
すると、絞り２４の開口は、励起光源１０、コレクタレ
ンズ２０およびコリメータレンズ２１の光軸上に設けら
れている点で異なる。
第２の実施形態と比較すると、コレクタレンズ２０とコ
リメータレンズ２１との間に絞り２４が設けられている
点では同様であり、この絞り２４は、その開口を通過し
た励起光Ａの全ての光束がコリメータレンズ２１および
励起フィルタ２２を経た後に反射鏡３０に入射するよう
開口が形成されている。しかし、第２の実施形態と比較
すると、絞り２４の開口は、励起光源１０、コレクタレ
ンズ２０およびコリメータレンズ２１の光軸上に設けら
れている点で異なる。
【００２４】したがって、本実施形態に係る落射蛍光顕
微鏡装置は、従来の落射蛍光顕微鏡装置におけるダイク
ロイックミラーに替えて反射鏡３０を多少位置をすらし
て設け、更に絞り２４を新たに設けた構成となってい
る。あるいは、図３（ａ）に示した反射鏡３１を用いる
場合には、従来の落射蛍光顕微鏡装置におけるダイクロ
イックミラーに替えて反射鏡３１を設け、更に絞り２４
を新たに設けた構成となっている。このようにすること
により、反射鏡は、絞りから到達した励起光を全て反射
させるので、鏡筒壁等における自家蛍光の発生を防止す
ることができるので、試料５０から発生した蛍光を更に
高感度に検出することができる。
微鏡装置は、従来の落射蛍光顕微鏡装置におけるダイク
ロイックミラーに替えて反射鏡３０を多少位置をすらし
て設け、更に絞り２４を新たに設けた構成となってい
る。あるいは、図３（ａ）に示した反射鏡３１を用いる
場合には、従来の落射蛍光顕微鏡装置におけるダイクロ
イックミラーに替えて反射鏡３１を設け、更に絞り２４
を新たに設けた構成となっている。このようにすること
により、反射鏡は、絞りから到達した励起光を全て反射
させるので、鏡筒壁等における自家蛍光の発生を防止す
ることができるので、試料５０から発生した蛍光を更に
高感度に検出することができる。
【００２５】次に、本発明に係る落射蛍光顕微鏡装置の
効果を確認する実験の結果について説明する。図６は、
本発明に係る落射蛍光顕微鏡装置の効果を確認する為の
実験系の構成図であり、図６（ａ）は従来の落射蛍光顕
微鏡装置に類似の実験系の構成図であり、図６（ｂ）は
本発明に係る落射蛍光顕微鏡装置に類似の実験系の構成
図である。
効果を確認する実験の結果について説明する。図６は、
本発明に係る落射蛍光顕微鏡装置の効果を確認する為の
実験系の構成図であり、図６（ａ）は従来の落射蛍光顕
微鏡装置に類似の実験系の構成図であり、図６（ｂ）は
本発明に係る落射蛍光顕微鏡装置に類似の実験系の構成
図である。
【００２６】従来の落射蛍光顕微鏡装置に類似の実験系
（図６（ａ））では、ダイクロイックミラー８０を用い
て、これにより、励起光源１０から出射されレンズ２０
を経た励起光を反射させて試料５０に照射させるととも
に、試料５０から発生した蛍光を透過させて結像レンズ
６０を経て検出器７０により検出する構成とした。本発
明に係る落射蛍光顕微鏡装置に類似の実験系（図６
（ｂ））では、反射鏡３０を用いて、これにより、励起
光源１０から出射されレンズ２０を経た励起光を反射さ
せて試料５０に照射させるとともに、試料５０から発生
した蛍光を結像レンズ６０を経て検出器７０により検出
する構成とした。
（図６（ａ））では、ダイクロイックミラー８０を用い
て、これにより、励起光源１０から出射されレンズ２０
を経た励起光を反射させて試料５０に照射させるととも
に、試料５０から発生した蛍光を透過させて結像レンズ
６０を経て検出器７０により検出する構成とした。本発
明に係る落射蛍光顕微鏡装置に類似の実験系（図６
（ｂ））では、反射鏡３０を用いて、これにより、励起
光源１０から出射されレンズ２０を経た励起光を反射さ
せて試料５０に照射させるとともに、試料５０から発生
した蛍光を結像レンズ６０を経て検出器７０により検出
する構成とした。
【００２７】ただし、何れの場合も、対物レンズを用い
ることなく、励起光をダイクロイックミラー８０または
反射鏡３０で反射させて直接に試料５０に照射した。ま
た、何れの場合も、ダイクロイックミラー８０または反
射鏡３０と試料５０との間に絞り９０を設けて、それぞ
れの場合において試料５０から発生する散乱光や迷光の
検出を防止した。
ることなく、励起光をダイクロイックミラー８０または
反射鏡３０で反射させて直接に試料５０に照射した。ま
た、何れの場合も、ダイクロイックミラー８０または反
射鏡３０と試料５０との間に絞り９０を設けて、それぞ
れの場合において試料５０から発生する散乱光や迷光の
検出を防止した。
【００２８】そして、両実験系において、検出器７０に
より検出された信号光（試料５０から発生する蛍光）お
よびノイズ光（自家蛍光）それぞれの強度を測定し比較
した。その結果、従来の落射蛍光顕微鏡装置に類似の実
験系（図６（ａ））の場合と比較して、本発明に係る落
射蛍光顕微鏡装置に類似の実験系（図６（ｂ））の場合
では、信号光の光量は３割程度減少し、ノイズ光の光量
は２桁程度減少した。
より検出された信号光（試料５０から発生する蛍光）お
よびノイズ光（自家蛍光）それぞれの強度を測定し比較
した。その結果、従来の落射蛍光顕微鏡装置に類似の実
験系（図６（ａ））の場合と比較して、本発明に係る落
射蛍光顕微鏡装置に類似の実験系（図６（ｂ））の場合
では、信号光の光量は３割程度減少し、ノイズ光の光量
は２桁程度減少した。
【００２９】このように、従来の落射蛍光顕微鏡装置と
比較して、本発明に係る落射蛍光顕微鏡装置では、検出
される信号光の光量が減少するものの、ノイズ光の光量
は大幅に減少するので、Ｓ／Ｂ比は向上し、試料５０か
ら発生した蛍光を高感度に検出することができる。
比較して、本発明に係る落射蛍光顕微鏡装置では、検出
される信号光の光量が減少するものの、ノイズ光の光量
は大幅に減少するので、Ｓ／Ｂ比は向上し、試料５０か
ら発生した蛍光を高感度に検出することができる。
【００３０】本発明は、上記実施形態に限定されるもの
ではなく種々の変形が可能である。例えば、反射鏡の形
状および配置は、上述したものに限られるものではな
く、任意の形状のものが蛍光の光束断面内の任意位置に
配されていても構わない。また、複数の反射鏡が設けら
れてもよい。さらに、無蛍光性の透明板上の一定領域に
反射領域が散点状あるいは周期的に形成されていてもよ
く、この場合、従来の落射蛍光顕微鏡装置におけるダイ
クロイックミラーに替えて、その一定領域に励起光およ
び蛍光それぞれが入射するようにして直ちに用いること
ができる。
ではなく種々の変形が可能である。例えば、反射鏡の形
状および配置は、上述したものに限られるものではな
く、任意の形状のものが蛍光の光束断面内の任意位置に
配されていても構わない。また、複数の反射鏡が設けら
れてもよい。さらに、無蛍光性の透明板上の一定領域に
反射領域が散点状あるいは周期的に形成されていてもよ
く、この場合、従来の落射蛍光顕微鏡装置におけるダイ
クロイックミラーに替えて、その一定領域に励起光およ
び蛍光それぞれが入射するようにして直ちに用いること
ができる。
【００３１】
【発明の効果】以上、詳細に説明したとおり本発明によ
れば、励起光は、反射鏡により反射され対物レンズによ
り試料に集光照射され、一方、試料で発生して対物レン
ズを通過した蛍光は、一部が反射鏡で遮断されるが、残
部が反射鏡で遮断されることなく検出される。このよう
な構成としたので、反射鏡に励起光が入射しても反射鏡
から自家蛍光が発生することはなく、したがって、試料
から発生した蛍光を高感度に検出することができる。
れば、励起光は、反射鏡により反射され対物レンズによ
り試料に集光照射され、一方、試料で発生して対物レン
ズを通過した蛍光は、一部が反射鏡で遮断されるが、残
部が反射鏡で遮断されることなく検出される。このよう
な構成としたので、反射鏡に励起光が入射しても反射鏡
から自家蛍光が発生することはなく、したがって、試料
から発生した蛍光を高感度に検出することができる。
【図１】第１の実施形態に係る落射蛍光顕微鏡装置の光
学系の構成図である。
学系の構成図である。
【図２】反射鏡の形状および蛍光光束断面における配置
の説明図である。
の説明図である。
【図３】他の反射鏡の形状および蛍光光束断面における
配置の説明図である。
配置の説明図である。
【図４】第２の実施形態に係る落射蛍光顕微鏡装置の光
学系の構成図である。
学系の構成図である。
【図５】第３の実施形態に係る落射蛍光顕微鏡装置の光
学系の構成図である。
学系の構成図である。
【図６】本発明に係る落射蛍光顕微鏡装置の効果を確認
する為の実験系の構成図である。
する為の実験系の構成図である。
１０…励起光源、２０…コレクタレンズ、２１…コリメ
ータレンズ、２２…励起フィルタ、２３，２４…絞り、
３０，３１，３２…反射鏡、３１Ａ…透明板、４０…対
物レンズ、５０…試料、６０…結像レンズ、６１…励起
光カットフィルタ、７０…検出器、８０…ダイクロイッ
クミラー、９０…絞り、Ａ…励起光、Ｂ１，Ｂ２…蛍
光。
ータレンズ、２２…励起フィルタ、２３，２４…絞り、
３０，３１，３２…反射鏡、３１Ａ…透明板、４０…対
物レンズ、５０…試料、６０…結像レンズ、６１…励起
光カットフィルタ、７０…検出器、８０…ダイクロイッ
クミラー、９０…絞り、Ａ…励起光、Ｂ１，Ｂ２…蛍
光。
Claims (6)
- 【請求項１】 励起光を試料に照射し該試料から発生し
た蛍光を検出する落射蛍光顕微鏡装置であって、 前記蛍光の光路上であって前記蛍光の光束断面の一部に
配され、前記励起光を前記試料に向けて反射させる反射
鏡と、 前記反射鏡により反射された前記励起光を入力して前記
試料に集光照射するとともに、前記試料から発生した前
記蛍光を入力して前記反射鏡の側に出力する対物レンズ
と、 を備えることを特徴とする落射蛍光顕微鏡装置。 - 【請求項２】 前記反射鏡は、前記蛍光の光束断面の略
一半に配される、ことを特徴とする請求項１記載の落射
蛍光顕微鏡装置。 - 【請求項３】 前記反射鏡は、前記蛍光の光束断面の中
央部分に配される、ことを特徴とする請求項１記載の落
射蛍光顕微鏡装置。 - 【請求項４】 前記反射鏡は、前記蛍光の光束断面の周
辺部分に配される、ことを特徴とする請求項１記載の落
射蛍光顕微鏡装置。 - 【請求項５】 前記反射鏡は、無蛍光性の透明板上に形
成されている、ことを特徴とする請求項１記載の落射蛍
光顕微鏡装置。 - 【請求項６】 前記励起光を前記反射鏡のみに入射させ
る絞りを更に備える、ことを特徴とする請求項１記載の
落射蛍光顕微鏡装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25043796A JPH1096862A (ja) | 1996-09-20 | 1996-09-20 | 落射蛍光顕微鏡装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25043796A JPH1096862A (ja) | 1996-09-20 | 1996-09-20 | 落射蛍光顕微鏡装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1096862A true JPH1096862A (ja) | 1998-04-14 |
Family
ID=17207872
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25043796A Pending JPH1096862A (ja) | 1996-09-20 | 1996-09-20 | 落射蛍光顕微鏡装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1096862A (ja) |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000016149A1 (de) * | 1998-09-15 | 2000-03-23 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Optische anordnung im strahlengang eines konfokalen fluoreszenzmikroskops |
| WO2000050878A1 (en) * | 1999-02-26 | 2000-08-31 | Gsi Lumonics, Inc. | Imaging system for an optical scanner |
| US6355934B1 (en) | 1999-02-26 | 2002-03-12 | Packard Biochip Technologies | Imaging system for an optical scanner |
| JP2003500692A (ja) * | 1999-05-19 | 2003-01-07 | カール ツァイス イエナ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 蛍光層の感知を主目的とする走査装置 |
| WO2003023483A2 (de) * | 2001-09-05 | 2003-03-20 | Europäisches Laboratorium für Molekularbiologie (EMBL) | Mikroskop |
| JP2005204272A (ja) * | 2003-12-15 | 2005-07-28 | Ricoh Co Ltd | 画像読取装置及び画像形成装置 |
| JP2009042246A (ja) * | 2001-05-10 | 2009-02-26 | Yokogawa Electric Corp | バイオチップ読取装置 |
| JP2015072285A (ja) * | 1998-05-16 | 2015-04-16 | アプライド バイオシステムズ リミテッド ライアビリティー カンパニー | Ｄｎａのポリメラーゼ連鎖反応をモニタする装置 |
| US9273353B2 (en) | 1998-05-16 | 2016-03-01 | Life Technologies Corporation | Instrument for monitoring polymerase chain reaction of DNA |
| US9823195B2 (en) | 1998-05-16 | 2017-11-21 | Life Technologies Corporation | Optical instrument comprising multi-notch beam splitter |
| JP2020515828A (ja) * | 2017-04-07 | 2020-05-28 | ヴェリリー ライフ サイエンシズ エルエルシー | 落射蛍光集光用のパターン形成光学系 |
| JP2020144340A (ja) * | 2019-03-08 | 2020-09-10 | キオクシア株式会社 | 像取得装置及び像取得方法 |
| JP2021519438A (ja) * | 2018-03-23 | 2021-08-10 | イェンラブ ゲーエムベーハー | 被験体を非侵襲的に検査するためのマルチモード撮像システムおよび方法 |
-
1996
- 1996-09-20 JP JP25043796A patent/JPH1096862A/ja active Pending
Cited By (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9823195B2 (en) | 1998-05-16 | 2017-11-21 | Life Technologies Corporation | Optical instrument comprising multi-notch beam splitter |
| US9671342B2 (en) | 1998-05-16 | 2017-06-06 | Life Technologies Corporation | Instrument for monitoring polymerase chain reaction of DNA |
| US9273353B2 (en) | 1998-05-16 | 2016-03-01 | Life Technologies Corporation | Instrument for monitoring polymerase chain reaction of DNA |
| JP2015072285A (ja) * | 1998-05-16 | 2015-04-16 | アプライド バイオシステムズ リミテッド ライアビリティー カンパニー | Ｄｎａのポリメラーゼ連鎖反応をモニタする装置 |
| WO2000016149A1 (de) * | 1998-09-15 | 2000-03-23 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Optische anordnung im strahlengang eines konfokalen fluoreszenzmikroskops |
| DE19842153C2 (de) * | 1998-09-15 | 2003-07-31 | Leica Microsystems | Fluoreszenzmikroskop |
| US6785302B1 (en) | 1998-09-15 | 2004-08-31 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Optical system in the ray path of a confocal fluorescence microscope |
| WO2000050878A1 (en) * | 1999-02-26 | 2000-08-31 | Gsi Lumonics, Inc. | Imaging system for an optical scanner |
| US6355934B1 (en) | 1999-02-26 | 2002-03-12 | Packard Biochip Technologies | Imaging system for an optical scanner |
| US6441379B1 (en) | 1999-02-26 | 2002-08-27 | Packard Bioscience Corporation | Imaging system for an optical scanner |
| JP2002543370A (ja) * | 1999-02-26 | 2002-12-17 | ジーエスアイ・ルモニクス，インコーポレイテッド | 光学スキャナ用の画像形成システム |
| EP1181611B2 (de) † | 1999-05-19 | 2010-10-20 | CARL ZEISS JENA GmbH | Scannende anordnung, vorzugsweise zur erfassung von fluoreszenzlicht |
| JP2003500692A (ja) * | 1999-05-19 | 2003-01-07 | カール ツァイス イエナ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 蛍光層の感知を主目的とする走査装置 |
| JP2009042246A (ja) * | 2001-05-10 | 2009-02-26 | Yokogawa Electric Corp | バイオチップ読取装置 |
| EP1557708A3 (de) * | 2001-09-05 | 2005-08-10 | Europäisches Laboratorium Für Molekularbiologie (Embl) | Mikroskop mit evaneszenter Beleuchtung |
| US6987609B2 (en) | 2001-09-05 | 2006-01-17 | Europaisches Laboratorium Fur Mole Kularbiologie (Embl) | Microscope |
| EP1557708A2 (de) * | 2001-09-05 | 2005-07-27 | Europäisches Laboratorium Für Molekularbiologie (Embl) | Mikroskop mit evaneszenter Beleuchtung |
| WO2003023483A3 (de) * | 2001-09-05 | 2003-10-16 | Europ Lab Molekularbiolog | Mikroskop |
| WO2003023483A2 (de) * | 2001-09-05 | 2003-03-20 | Europäisches Laboratorium für Molekularbiologie (EMBL) | Mikroskop |
| JP2005204272A (ja) * | 2003-12-15 | 2005-07-28 | Ricoh Co Ltd | 画像読取装置及び画像形成装置 |
| JP2020515828A (ja) * | 2017-04-07 | 2020-05-28 | ヴェリリー ライフ サイエンシズ エルエルシー | 落射蛍光集光用のパターン形成光学系 |
| JP2021519438A (ja) * | 2018-03-23 | 2021-08-10 | イェンラブ ゲーエムベーハー | 被験体を非侵襲的に検査するためのマルチモード撮像システムおよび方法 |
| JP2020144340A (ja) * | 2019-03-08 | 2020-09-10 | キオクシア株式会社 | 像取得装置及び像取得方法 |
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