JP4077429B2 - 昇圧回路 - Google Patents

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Description

本発明は、昇圧回路に関し、例えば、ポンプ式昇圧回路に関する。
半導体回路内で電源電圧よりも高い電圧を使用する必要がある場合、一般に、ポンプ式昇圧回路およびその制御回路を用いて所望の電圧を得る。コンパレータ(制御回路)は、昇圧回路の出力電圧を目標電圧と比較し、出力電圧が目標電圧より低ければ昇圧回路を動作させ、目標電圧より高ければ昇圧回路を停止する。ポンプ式昇圧回路は、1回のポンプ動作ごとにある一定量の電荷を放出し、目標電圧を越えるまでポンプ動作が繰り返される。昇圧回路の電流駆動能力は、通常、負荷電流が最大の場合でも目標の出力電圧が得られるように設計される。
特開2001-250381号公報(特許文献1)には、相互に電荷の供給能力の異なる複数の昇圧回路が設けられ、昇圧回路が出力する昇圧電圧が供給されるメモリ回路の動作に従って予め設定された昇圧回路が動作することが開示されている。すなわち、例えば、メモリ回路のプリチャージ信号の活性化に合わせて第1の昇圧回路が動作し、ワード線の活性化に合わせて第2の昇圧回路が動作する。米国特許第6,459,643B2号明細書(特許文献3)は、特許文献1の米国特許に対応し、同じ内容である。
特開2000-350439号公報(特許文献2)には、複数の昇圧セル群が設けられ、外部からの制御信号に応じて、これら複数の昇圧セル群の直列接続、並列接続を切り換えることが開示されている。
特開2001-250381号公報 特開2000-350439号公報 米国特許第6,459,643B2号明細書
本発明は、出力電圧の変動の少ない昇圧回路を提供しようとするものである。
本発明の第1の視点による昇圧回路は、昇圧電圧を出力する第1出力端を有し、且つ前記第1出力端を外部出力端と接続された第1昇圧ユニットと、昇圧電圧を出力する第2出力端を有し、且つ前記第2出力端を前記外部出力端と接続された第2昇圧ユニットと、前記第1昇圧ユニットの動作を制御する第1制御信号および前記第2昇圧ユニットの動作を制御する第2制御信号を出力し、且つ前記第1昇圧ユニットの動作状態と休止状態との間の移行と、前記第2昇圧ユニットの動作状態と休止状態との間の移行と、が前記外部出力端の出力電圧に応じて異なるタイミングで行われるように前記第1制御信号および前記第2制御信号を制御する制御回路と、を具備することを特徴とする。
本発明の第2の視点による昇圧回路は、昇圧電圧を出力する第1乃至第n(nは2以上の自然数)出力端のうちの対応する1つをそれぞれが有し、且つ前記第1乃至第n出力端を外部出力端と接続された第1乃至第n昇圧ユニットと、前記第1乃至第n昇圧ユニットのいずれかの動作を制御する第1乃至第m(mは2以上n以下の自然数)制御信号を出力し、且つ前記第1乃至第n昇圧ユニットのそれぞれの動作状態と休止状態との間の移行が前記外部出力端の出力電圧に応じて相互に異なるタイミングで行われるように前記第1乃至第m制御信号を制御する制御回路と、を具備することを特徴とする。
本発明によれば、負荷電流が大きい場合に目標電圧を出力でき、且つ負荷電流が小さい場合に出力電圧の変動が少ない昇圧回路を提供できる。
図1は、一般的な昇圧回路の種々の場合の出力電圧を示している。昇圧回路の電流駆動能力は、負荷電流が最大の場合でも目標の出力電圧が得られるように設計される。図1に示すように、負荷電流が大きい場合(A)、出力電圧Voutは目標電圧Vtargetを維持し、且つその変動が小さい。ところが、負荷電流が最大負荷電流に比べて小さくなる(B)と、出力電圧Voutの変動が大きくなる。一方、駆動能力を小さくすると、負荷電流が小さい場合(D)でも出力電圧Voutの変動を小さく抑えることができる。しかしながら、負荷電流が大きい場合(C)、目標電圧Vtargetを維持できない場合が生じる。昇圧回路が半導体メモリに使用されている場合、昇圧回路の出力電圧Voutの変動によりデータの読み出しおよび書き込み動作の信頼性が低下することがある。このため、昇圧回路の出力電圧Voutには、高い安定性が望まれる。
以下に本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。なお、以下の説明において、略同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行う。
(第1実施形態)
図2は、本発明の第1実施形態に係る昇圧回路の主要部を示す図である。図2に示すように、昇圧回路1は、制御部2、ポンプ式昇圧ユニット3−1、3−2を含む。ポンプ式昇圧ユニット3−1(第1昇圧ユニット)、昇圧ユニット3−2(第2昇圧ユニット)は、種々の一般的なポンプ式昇圧回路から構成することができ、電源電圧から所定の昇圧電圧を発生する。制御部2は、昇圧回路1の出力電圧Voutに応じた電圧を参照しながらポンプ式昇圧ユニット3−1、3−2の動作および停止を制御する。昇圧回路1の出力電圧Voutは、典型的には、図3に示すように半導体メモリ回路4に供給される。
次に、昇圧回路1の各部の詳細な構成について説明する。図2に示すように、制御部2は、カレントミラー方式の差動増幅回路を有する。差動増幅回路は、出力電圧Voutが分圧されたモニタ電圧Vmonitorと、昇圧回路1が出力すべき目標の電圧(目標電圧)に応じた参照電圧Vrefを供給される。差動増幅回路は、モニタ電圧Vmonitorに応じた差動増幅電圧Vampを出力する。
差動増幅回路において、p型のMOS(metal oxide semiconductor)トランジスタQP1の一端に電源電位が供給される。MOSトランジスタQP1の他端はn型MOSトランジスタQN1の一端と接続されるとともに自身のゲートと接続される。トランジスタQN1のゲートには、モニタ電圧Vmonitorが供給され、他端はバイアス用のn型のMOSトランジスタQN3を介して接地される。トランジスタQN3のゲートには、バイアス電圧Vbiasが供給される。
差動増幅回路のp型のMOSトランジスタQP2の一端に電源電位が供給され、ゲートはトランジスタQP1のゲートと接続される。トランジスタQP2の他端は、直列接続されたn型のMOSトランジスタQN2とトランジスタQN3を介して接地される。トランジスタQN2のゲートには、参照電圧Vrefが供給される。
トランジスタQP2とトランジスタQN2との接続ノードから差動増幅回路出力電圧Vampが取り出される。差動増幅回路出力電圧Vampは、p型のMOSトランジスタQP3−1のゲートに供給される。トランジスタQP3−1の一端には電源電位が供給され、他端はn型のMOSトランジスタQN4−1を介して接地される。トランジスタQN4−1のゲートにはバイアス電圧Vbiasが供給される。
差動増幅回路出力電圧Vampは、また、p型のMOSトランジスタQP3−2のゲートに供給される。トランジスタQP3−2の一端には電源電位が供給され、他端はn型のMOSトランジスタQN4−2を介して接地される。トランジスタQP3−1のサイズ(電流駆動能力)は、トランジスタQP3−2のサイズより大きい。トランジスタQN4−2のゲートにはバイアス電圧Vbiasが供給される。
トランジスタQP3−1とトランジスタQN4−1との接続ノードから制御信号CNT1−1(第1制御信号)が取り出される。制御信号CNT1−1は、昇圧ユニット3−1に供給される。昇圧ユニット3−1は、制御信号CNT1−1のハイレベルに応じて動作する。
トランジスタQP3−2とトランジスタQN4−2との接続ノードから制御信号CNT1−2(第2制御信号)が取り出される。制御信号CNT1−2は、昇圧ユニット3−2に供給される。昇圧ユニット3−2は、制御信号CNT1−2のハイレベルに応じて動作する。
昇圧ユニット3−1、3−2の出力端は、相互に接続されており、また昇圧回路の出力電圧Voutとされる。出力電圧Voutは、直列接続された抵抗素子R1、R2により分圧され、抵抗素子R1、R2の接続ノードからモニタ電圧Vmonitorが取り出される。
次に、昇圧回路1の動作について、図4〜図6を参照して説明する。図4は、差動増幅回路出力電圧Vampと、制御信号CNT1−1、CNT1−2の電圧Vとの関係を示している。上記したように、トランジスタQP3−1のサイズはトランジスタQP3−2のサイズより大きい。このため、トランジスタQP3−1およびトランジスタQN4−1からなるインバータの閾値電圧Vth1はトランジスタQP3−2およびトランジスタQN4−2からなるインバータの閾値電圧Vth2より大きい。よって、図4に示すように、差動増幅回路出力電圧Vampの変化(モニタ電圧Vmonitorの変化)に応じて、制御信号CNT1−1、CNT1−2のハイレベルとローレベルの状態が変化するタイミングは相互に異なる。すなわち、差動増幅回路出力電圧Vampが閾値電圧Vth1に達すると(モニタ電圧Vmonitorが電圧Vrefに達すると)、制御信号CNT1−1の状態が変化する。また、差動増幅回路出力電圧Vampが閾値電圧Vth2に達すると(モニタ電圧Vmonitorが電圧Vref−Δに達すると)、制御信号CNT1−2の状態が変化する。
図5は、出力電圧Voutと制御信号CNT1−1、1−2との関係を示すタイミングチャートである。図6は、昇圧ユニットの動作と出力電圧との関係を示す図である。図5、図6に示すように、出力電圧Voutが目標電圧Vtargetを上回っている場合(差動増幅回路出力電圧Vampが閾値電圧Vth1を越えている場合)、制御信号CNT1−1、CNT1−2はともにローレベルである。よって、昇圧ユニット3−1、3−2は休止状態である(停止している)。
出力電圧Voutが低下し、出力電圧Voutが目標電圧Vtargetを下回ると、制御信号CNT1−1のみがハイレベルに変化する。よって、昇圧ユニット3−1が動作状態に移行する。昇圧ユニット3−1の1回の昇圧動作によって出力電圧Voutが目標電圧Vtargetを越えると、制御信号CNT1−1がローレベルに変化することにより、昇圧ユニット3−1は休止状態に移行する。出力電圧Voutが目標電圧Vtargetを下回る度に昇圧ユニット3−1が動作し、昇圧ユニット3−1の昇圧動作のみで目標電圧Vtargetを維持できている間、昇圧ユニット3−1のみが動作状態、休止状態を繰り返す。昇圧ユニット3−2は休止状態を維持している。
昇圧ユニット3−1の1回の昇圧動作のみでは出力電圧Voutが目標電圧Vtargetに達しない場合、制御信号CNT1−1はハイレベルを維持し、昇圧ユニット3−1は昇圧動作を連続的に行う。その結果、出力電圧Voutが目標電圧Vtargetに達すると、昇圧ユニット3−1は休止状態に移行する。昇圧ユニット3−1が連続的に動作しても目標電圧Vtargetを維持できず、さらに出力電圧Voutが低下すると、ある時点で電圧V2に達する。電圧V2は、出力電圧Voutが電圧V2に達した場合に差動増幅回路出力電圧VampがトランジスタQP3−2の閾値電圧Vth2に達するように、関連付けされて設定される。
出力電圧Voutが電圧V2に達したことにより、制御信号CNT1−2がハイレベルへと変化し、昇圧ユニット3−2が昇圧動作を行う。制御信号CNT1−1はハイレベルを維持しているため、昇圧ユニット3−1は連続的に動作している。一方、昇圧ユニット3−2の単発的な昇圧動作により出力電圧Voutが電圧V2に達すると、昇圧ユニット3−2は休止状態に移行する。昇圧ユニット3−2の単発的な昇圧動作によっても、目標電圧Vtargetが得られない場合、昇圧ユニット3−2は連続的に昇圧動作を行う。
再び出力電圧Voutが目標電圧Vtargetに到達すると、昇圧ユニット3−1は休止状態へ移行する。
図7は、第1実施形態に係る昇圧回路1の、負荷電流の変化に応じた出力電圧Voutを示している。以上示したように、出力電圧Voutが小さい場合、昇圧ユニット3−1、3−2がともに動作し、目標電圧Vtargetに近づくと昇圧ユニット3−1のみの動作に切り替わる。よって、図7に示すように、負荷電流が小さい場合は、過剰な昇圧能力で昇圧回路が動作することを回避することにより出力電圧Voutの変動を小さくできる。一方、負荷電流が大きい場合は、昇圧能力が上がることにより、出力電圧Voutが目標電圧Vtargetを維持できないことを回避できる。
本発明の第1実施形態に係る昇圧回路によれば、並列接続された2つの昇圧ユニット3−1、3−2が、昇圧回路の出力電圧Voutに応じて、相互に異なるタイミングにより動作状態と休止状態との間の移行を行う。このため、出力電圧Voutが供給される回路の負荷電流の値に応じて、最適な状態で昇圧ユニット3−1、3−2が動作するように、昇圧ユニット3−1、3−2の動作状態と休止状態との間の移行が個別に制御される。よって、負荷電流が小さい場合に出力電圧Voutの変動が少なく、また同時に負荷電流が大きい場合に目標電圧Vtargetを維持できないことを回避可能な昇圧回路を実現できる。
なお、本実施形態において、昇圧ユニットが2つの場合を例にとって説明した。しかしながら、3つ以上の昇圧ユニットが設けられた構成とすることもできる。図8は、昇圧ユニットがn個設けられた場合を例示している。図8に示すように、n個の昇圧ユニット3−1〜3−nのそれぞれの出力端が相互に接続され、この接続ノードが昇圧回路1の出力Voutとされる。制御部2は、それぞれ直列接続されたp型MOSトランジスタQP3−1〜QP3−nとn型MOSトランジスタQN4−1〜QN4−nを有する。トランジスタQP3−1〜QP3−nとトランジスタQN4−1〜QN4−nとのそれぞれの接続ノードから制御信号CNT1−1〜CNT1−nが取り出される。制御信号CNT1−1〜CNT1−nは、昇圧ユニット3−1〜3−nにそれぞれ供給される。昇圧ユニット3−1〜3−nは、制御信号CNT1−1〜CNT1−nのハイレベルに応じて昇圧動作を行う。
トランジスタQP3−1〜QP3−nのサイズが、トランジスタQP3−1からトランジスタQP3−nに向かって順に小さくなるように構成することにより、昇圧ユニット3−1〜3−nが動作状態と休止状態との間で移行するタイミングを変えることができる。よって、出力電圧Voutの下降に伴い、昇圧ユニット3−1〜3−nが順次、累積的に動作状態に移行する。一方、出力電圧Voutの上昇に伴い、昇圧ユニット3−nから昇圧ユニット3−1に向かって順に休止状態に移行する。この場合においても、各昇圧ユニット3−1〜3−nは、動作状態の間、単発的または連続的に昇圧動作を行う。以上説明した動作により、負荷電流に合わせて昇圧回路1の昇圧能力が細かく設定されるため、負荷電流の各大きさにおいて出力電圧Voutの変動を小さく抑えることができる。
なお、昇圧ユニットが3個以上の場合、ある1つの制御信号に応じて、2つ以上の昇圧ユニットが動作する構成とすることも可能である。この場合、制御部2内のp型MOSトランジスタとn型MOSトランジスタの組の数は、昇圧ユニットの数より少ない。
(第2実施形態)
第1実施形態では、サイズの異なる複数のトランジスタを用いることにより、各昇圧ユニットの動作状態と休止状態との間の移行のタイミングを変化させる。これに対して第2実施形態では、遅延回路を用いて各昇圧ユニットの移行のタイミングが制御される。
図9は、本発明の第2実施形態に係る昇圧回路の主要部を示す図である。図9に示すように、制御部5は、オペアンプOP、イネーブル信号生成回路11−2、アンド回路AND2を含み、出力電圧Voutに応じて制御信号CNT2−1、CNT2−2を生成する。制御信号CNT2−1、CNT2−2は昇圧ユニット3−1、3−2にそれぞれ供給される。昇圧ユニット3−1、3−2は、制御信号CNT2−1、CNT2−2のハイレベルがそれぞれ供給されることに応じて昇圧動作を行う。
オペアンプOPの非反転入力端には参照電圧Vrefが供給され、反転入力端にはモニタ電圧Vmonitorが供給される。オペアンプOPの出力は、制御信号CNT2−1として昇圧ユニット3−1に供給される。制御信号CNT2−1は、イネーブル信号生成回路11−2に供給される。イネーブル信号生成回路11−2は、予め設定された時間、制御信号CNT2−1がハイレベルまたはローレベルを維持したことに応じてイネーブル信号ENA2を制御する。イネーブル信号ENA2は、アンド回路AND2に供給される。アンド回路AND2のもう一方の入力端には、制御信号CNT2−1が供給される。アンド回路AND2の出力は、制御信号CNT2−2として昇圧ユニット3−2に供給される。
次に、イネーブル信号生成回路11−2について説明する。図10は、イネーブル信号生成回路11−2の主要部を示す図である。図10に示すように、制御信号CNT2−1は、直列接続されたp型のMOSトランジスタQP4、抵抗素子R3、n型のMOSトランジスタQN5からなるインバータに供給される。トランジスタQP4と抵抗素子R3との接続ノードは、キャパシタC1を介して接地されるとともに、直列接続されたインバータ回路IV1、IV2を介してアンド回路AND1の入力端に接続される。抵抗素子R3とMOSトランジスタQN5との接続ノードは、キャパシタC2を介して接地されるとともに、インバータ回路IV3を介してアンド回路AND1のもう一方の入力端に接続される。
アンド回路AND1の出力端は、ダウンエッジトリガ型Dフリップフロップ回路12のトリガ入力端に接続される。Dフリップフロップ回路12のデータ入力端には、制御信号CNT2−1が供給され、データ出力端からイネーブル信号ENA2が取り出される。Dフリップフロップ回路12は、トリガ入力端のダウンエッジを検知するとデータ入力端のデータをラッチしてデータ出力端から出力する。
次に、イネーブル信号生成回路11−2の動作について図11を参照して説明する。図11は、イネーブル信号生成回路11−2の主要部の電位を示すタイミングチャートである。図10の部位a〜eの電圧が、図11のa〜eの波形に対応する。モニタ電圧Vmonitorと参照電圧Vrefが比較され、モニタ電圧Vmonitorが参照電圧Vrefを越えている場合は制御信号CNT2−1がローレベルとなり、下回っている場合はハイレベルとされる。これに応じて昇圧ユニット3−1が動作、停止を繰り返す。
部位aの電位は、制御信号CNT2−1がハイレベルとなった時点から抵抗素子R3およびキャパシタC1からなる遅延回路の時定数に応じてハイレベルから徐々に減少する。しかしながら、続いて制御信号CNT2−1がローレベルとなるため、部位aの電位は、これに応じてハイレベルに設定される。よって、制御信号CNT2−1が上昇、下降を繰り返している間、部位aの電位インバータIV1の閾値まで減少しないため部位cの電位はハイレベルを維持する。
部位bの電位は、制御信号CNT2−1がローレベルとなった時点から抵抗素子R3とキャパシタC2からなる遅延回路の時定数に応じてローレベルから徐々に増加する。しかしながら、続いて制御信号CNT2−1がハイレベルとなるため、部位bの電位は、これに応じてローレベルに設定される。よって、制御信号CNT2−1が上昇、下降を繰り返している間、部位bの電位インバータIV3の閾値まで増加しないため部位dの電位はハイレベルを維持する。
部位c、dの電位がともにハイレベルなので部位eの電位は、ハイレベルを維持する。イネーブル信号ENA2はこの間、ローレベルとされている。よって、制御信号CNT2−2は、制御信号CNT2−1に関わらずローレベルを維持する。すなわち、昇圧ユニット3−2は、制御信号CNT2−1の変化に関わらず昇圧動作を行わない休止状態(動作不能状態)にある。
負荷電流が増加し、昇圧ユニット3−1のみで目標電圧Vtargetを維持できない場合、制御信号CNT2−1はハイレベルを維持するため、部位aの電位が減少し続ける。この状態で所定の時間(連続動作時間)が経過すると、部位aの電位がインバータIV1の閾値Vthに達し、部位cおよび部位eの電位がローレベルに変化する。Dフリップフロップ回路12は、ローレベルが入力されたことに応じて制御信号CNT2−1の状態(ハイレベル)をラッチし、ハイレベルのイネーブル信号ENA2を出力する。イネーブル信号ENA2がハイレベルの間、昇圧ユニット3−2は、制御信号CNT2−1に従って単発的、連続的に動作を行う、動作状態(動作可能状態)にある。
次いで、負荷電流が減少し、出力電圧Voutが目標電圧Vtargetを上回っている時間が続くと、制御信号CNT2−1はローレベルを維持するため、部位bの電位が上昇し続ける。この状態で所定の時間(連続休止時間)が経過すると、部位bの電位がインバータIV3の閾値Vthに達し、部位dおよび部位eの電位がローレベルに変化する。Dフリップフロップ回路12は、ローレベルが入力されたことに応じて制御信号CNT2−1の状態(ローレベル)をラッチし、ローレベルのイネーブル信号ENA2を出力する。よって、昇圧ユニット3−2は、休止状態に移行する。
次に、上記の動作を行う図9、図10からなる昇圧回路による出力電圧の変化について説明する。図12および図13は、図11のタイミングチャートの一部と出力電圧Voutとの関係を示している。図12に示すように、イネーブル信号ENA2がハイレベルであるため、昇圧ユニット3−2は動作状態にある。この状態で負荷電流が減少すると、昇圧能力が大き過ぎるため、出力電圧Voutが目標電圧Vtargetを大きく上回っており、また出力電圧Voutの変動が大きい。このため、制御信号CNT2−1は長期間に亘ってローレベルを維持する。図9のイネーブル信号生成回路11−2は、この現象を検知し、イネーブル信号ENA2をローレベルに設定する。よって、昇圧ユニット3−2が休止状態に移行し、昇圧回路6の昇圧能力が下がるため、出力電圧Voutの変動が小さくなる。
一方、図13に示すように、イネーブル信号ENA2がローレベルである際に負荷電流が大きくなると、昇圧ユニット3−1の動作のみでは出力電圧Voutが目標電圧Vtargetを維持できなくなる。よって、制御信号CNT2−1はハイレベルを維持する。イネーブル信号生成回路11−2は、制御信号CNT2−1が所定の期間ハイレベルを維持したことを検知して、ハイレベルのイネーブル信号ENA2を出力する。この結果、昇圧ユニット3−2が動作状態に移行し、制御信号CNT2−1に応じて昇圧動作を行う。よって、出力電圧Voutが目標電圧Vtargetに達する。
本発明の第2実施形態に係る昇圧回路によれば、並列接続された2つの昇圧ユニット3−1、3−2が、昇圧回路6の出力電圧Voutに応じて、相互に異なるタイミングにより動作状態(動作可能状態)と休止状態(動作不能状態)との間の移行を行う。このため、第1実施形態と同じく、出力電圧Voutが供給される回路の負荷電流の値に応じて、最適な状態で昇圧ユニット3−1、3−2が動作するように、昇圧ユニット3−1、3−2の動作状態と休止状態との間の移行が個別に制御される。よって、第1実施形態と同じ利点を得られる。
なお、第1実施形態と同じく、3つ以上の昇圧ユニットが設けられた構成とすることも可能である。図14は、昇圧ユニットがn個設けられた場合を例示している。図14に示すように、n−1個のイネーブル信号生成回路11−2〜11−nには、制御信号CNT2−1が供給される。イネーブル信号生成回路11−2〜11−nは、それぞれが、相互に異なる時間に亘って制御信号CNT2−1がハイレベルまたはローレベルを維持したことに応じてイネーブル信号ENA2〜ENAnをそれぞれ出力する。イネーブル信号ENA2〜ENAnは、アンド回路AND2〜ANDnの一方の入力端に供給される。アンド回路AND2〜ANDnの他方の入力端には制御信号CNT2−1が供給される。アンド回路AND2〜ANDnは、昇圧ユニット3−2〜3−nに制御信号CNT2−2〜CNT2−nをそれぞれ供給する。昇圧ユニット3−2〜3−nは、ハイレベルの制御信号CNT2−2〜CNT2−nが供給されることに応じて、それぞれ昇圧動作を行う。
イネーブル信号生成回路11−2〜11−nの回路構成は、図10に示すものと同じである。ただし、イネーブル信号ENA2〜ENAnが、相互に異なるタイミングで状態が変化するように、抵抗素子R3、キャパシタC1、C2の値がそれぞれ設定される。すなわち、例えば、イネーブル信号ENA2〜ENAnがハイレベルに変化するのに要する制御信号CNT2−1のハイレベルの持続時間(連続動作時間)が、イネーブル信号生成回路11−2〜11−nの順に長くなるように、抵抗素子R3、キャパシタC1、C2の値が決定される。一方、イネーブル信号ENA2〜ENAnがローレベルに変化するのに要する制御信号CNT2−1のローレベルの持続時間(連続休止時間)が、イネーブル信号生成回路11−2〜11−nの順に短くなるように、抵抗素子R3、キャパシタC1、C2の値が決定される。
図14に示す構成によれば、出力電圧Voutが目標電圧Vtargetを下回る状態が長くなるに連れ、昇圧ユニット3−2〜3−nが順次、累積的に動作状態に移行する。このため、出力電圧Voutが目標電圧Vtargetに達することが可能となる。一方、出力電圧Voutが目標電圧Vtargetを上回る状態が長くなるに連れ、昇圧ユニット3−n〜3−2が順次、累積的に休止状態に移行する。このため、負荷電流に合わせて昇圧回路6の昇圧能力が細かく設定されるため、負荷電流の各大きさにおいて出力電流の変動を小さく抑えることができる。
なお、昇圧ユニットが3個以上の場合、ある1つの制御信号に応じて、2つ以上の昇圧ユニットが動作する構成とすることも可能である。この場合、制御部5内のイネーブル信号生成回路とアンド回路の組の数は、昇圧ユニットの総数−1(昇圧ユニット3−1に対しては不要のため)より少ない。
その他、本発明の思想の範疇において、当業者であれば、各種の変更例及び修正例に想到し得るものであり、それら変更例及び修正例についても本発明の範囲に属するものと了解される。
一般的な昇圧回路の種々の場合の出力電圧を示す図。 本発明の第1実施形態に係る昇圧回路の主要部を示す図。 昇圧回路の使用例を示す図。 差動増幅回路出力電圧と制御信号の電圧との関係を示す図。 出力電圧と制御信号との関係を示す図。 昇圧ユニットの動作と出力電圧との関係を示す図。 本発明の第1実施形態に係る昇圧回路の負荷電流の変化に応じた出力電圧を示す図。 本発明の第1実施形態の他の例に係る昇圧回路の主要部を示す図。 本発明の第2実施形態に係る昇圧回路の主要部を示す図。 イネーブル信号生成回路の主要部を示す図。 イネーブル信号生成回路の主要部の電位を示すタイミングチャート。 図11のタイミングチャートの一部と出力電圧との関係を示す図。 図11のタイミングチャートの一部と出力電圧との関係を示す図。 本発明の第2実施形態の他の例に係る昇圧回路の主要部を示す図。
符号の説明
1、6…昇圧回路、2、5…制御部、3−1〜3−n…ポンプ式昇圧回路、4…半導体メモリ回路、11…イネーブル信号生成回路、12…Dフリップフロップ回路、QP1、QP2、QP3−1〜QP3−n、QP4、QN1、QN2、QN3、QN4−1〜QN4−n、QN5…トランジスタ、11ー2〜11−n…イネーブル信号生成回路、Vmonitor…モニタ電圧、Vbias…バイアス電圧、Vout…出力電圧、Vamp…差動増幅回路出力電圧、CNT1−1〜CNT1−n、CNT2−1〜CNT2−n…制御信号、ENA2〜ENAn…イネーブル信号、C1、C2…キャパシタ、R1、R2…抵抗素子、AND1〜ANDn…アンド回路、OP…オペアンプ、IV1〜IV3…インバータ回路。

Claims (4)

  1. 昇圧電圧を出力する第1出力端を有し、且つ前記第1出力端を外部出力端と接続された第1昇圧ユニットと、
    昇圧電圧を出力する第2出力端を有し、且つ前記第2出力端を前記外部出力端と接続された第2昇圧ユニットと、
    前記第1昇圧ユニットの動作を制御する第1制御信号および前記第2昇圧ユニットの動作を制御する第2制御信号を出力し、且つ前記第1昇圧ユニットの動作状態と休止状態との間の移行と、前記第2昇圧ユニットの動作状態と休止状態との間の移行と、が前記外部出力端の出力電圧に応じて異なるタイミングで行われるように前記第1制御信号および前記第2制御信号を制御する制御回路と、
    を具備し、
    前記制御回路が、
    前記出力電圧に応じた電圧および参照電圧を供給される差動増幅回路と、
    ゲートを前記差動増幅回路の差動増幅出力端と接続された第1p型MOSトランジスタおよび前記第1p型MOSトランジスタと直列接続された第1n型MOSトランジスタを有し、且つ前記第1p型MOSトランジスタと前記第1n型MOSトランジスタとの接続ノードにおいて前記第1制御信号を出力する、第1インバータ回路と、
    ゲートを前記差動増幅出力端と接続された第2p型MOSトランジスタおよび前記第2p型MOSトランジスタと直列接続された第2n型MOSトランジスタを有し、且つ前記第2p型MOSトランジスタと前記第2n型MOSトランジスタとの接続ノードにおいて前記第2制御信号を出力する、第2インバータ回路と、
    を含むことを特徴とする昇圧回路。
  2. 前記第1制御信号が、前記出力電圧に応じた内部信号の第1閾値電圧を境として、前記第1昇圧ユニットを動作させる旨の動作指示状態または前記第1昇圧ユニットを休止させる旨の休止指示状態を取り、
    前記第2制御信号が、前記内部信号の前記第1閾値電圧より低い第2閾値電圧を境として、前記第2昇圧ユニットを動作させる旨の動作指示状態または前記第2昇圧ユニットを休止させる旨の休止指示状態を取る、
    ことを特徴とする請求項1に記載の昇圧回路。
  3. 昇圧電圧を出力する第1出力端を有し、且つ前記第1出力端を外部出力端と接続された第1昇圧ユニットと、
    昇圧電圧を出力する第2出力端を有し、且つ前記第2出力端を前記外部出力端と接続された第2昇圧ユニットと、
    前記第1昇圧ユニットの動作を制御する第1制御信号および前記第2昇圧ユニットの動作を制御する第2制御信号を出力し、前記第1制御信号が前記第1昇圧ユニットを動作させる旨の動作指示状態を所定時間維持した後に前記第2昇圧ユニットを動作させる旨の動作指示状態の前記第2制御信号を出力可能な状態に移行し、前記第1制御信号が前記第1昇圧ユニットを停止させる旨の停止指示状態を所定時間維持した後に前記第2昇圧ユニットを動作させる旨の動作指示状態の前記第2制御信号を出力不能な状態に移行する、制御回路と、
    を具備し、
    前記制御回路が、前記外部出力端の電圧に比例するモニタ電圧が参照電圧を超えている場合に前記停止指示状態の前記第1制御信号を出力し、前記モニタ電圧が前記参照電圧を下回っている場合に前記動作指示状態の前記第1制御信号を出力することを特徴とする昇圧回路。
  4. 前記制御回路が、前記第2制御信号を出力する論理回路を含み、
    前記論理回路が、前記動作指示状態の前記第1制御信号と、イネーブル指示状態のイネーブル信号と、を供給されている間に、前記動作指示状態の前記第2制御信号を出力する、
    ことを特徴とする請求項3に記載の昇圧回路。
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