JP3891285B2 - X線透視装置 - Google Patents

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    • A61B6/589Setting distance between source unit and patient

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はX線透視検査装置に関し、更に詳しくは、対象物の透視像をモニタ画面に表示し、あるいは撮影する装置や、その透視像からCT画像を構築するX線CT装置にも適用することのできるX線透視装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば産業用X線透視装置をはじめとするX線透視装置においては、X線源に対向してイメージインテンシファイアおよびCCDカメラ等からなるX線カメラを配置し、これらの間に置かれた試料等の対象物(以下、試料と称する)の透過X線像をX線カメラで撮影する。
【0003】
また、通常、X線源とX線カメラとの間には、試料上の所望のビューポイントがX線カメラの視野内にくるように試料を位置決めするための試料テーブルが配置される。この試料テーブルは、その表面に沿った平面上で互いに直交する2軸(x,y軸)方向に移動できるとともに、そのx,y軸に直交する軸、つまりX線源からのX線の光軸方向に沿った軸(z軸)の回りに回転できるようになっている。
【0004】
更に、この種の透視装置においては、透視画像の拡大率を自由に変化させることができるように、X線カメラおよび試料テーブルをX線源からのX線の光軸方向(z軸)に移動できる機構を備えている。更にまた、試料を斜めの角度から透視できるように、X線カメラをX線源の光軸に対して所定の方向に傾動させる機構を備えたものもある。
【0005】
ところで、以上のような傾動機構を備えたX線透視装置においては、操作者が試料を試料テーブル上に載せ、X線カメラを例えばX線光軸上に位置させた状態で所望のビューポイントが得られるように試料テーブルを位置決めした後、その試料を斜めの角度から透視すべくX線カメラを傾動させると、ビューポイントがX線カメラの視野中で移動するか、あるいは視野から外れてしまうという問題が発生する。また、この場合、ビューポイントがX線カメラの視野内に入るように、試料テーブルをx軸方向やy軸方向に移動させてても、傾動前の位置におけるX線源と試料との距離(SOD)が変化してしまっているため、X線源とX線検出器との距離(SID)が一定であっても、(SID/SOD)で表される透視拡大率が傾動前の値から変化してしまっている。
【0006】
また、試料テーブルを回転させる回転機構を、x,y軸方向への移動機構の上に載せていると、試料を試料テーブルに載せた後、ビューポイントを例えば視野中心にくるように位置決めして回転を与えると、試料テーブルの回転軸がx,y軸方向に移動しているが故にX線カメラの視野中心から大きくずれることがあり、このような場合、試料テーブルを回転させるとビューポイントは視野内から円弧を描いて外れていく。
【0007】
以上の問題点を解決するために、従来、X線カメラの傾動時および試料テーブルの回転時に、X線カメラの視野内でビューポイントが当初の位置を維持するように、試料テーブルのx,y軸方向への補正移動量を逐次計算し、その計算結果に基づいて試料テーブルのx,y軸方向への移動機構を駆動する技術が知られている(特許文献1参照)。
【0008】
この技術によって、X線カメラを傾動させたり、あるいは試料テーブルを位置決めした後に回転させても、当初のビューポイントが常にX線カメラの視野内に収まった状態となって、特に高倍率の試料の透視作業における作業性を大幅に改善することが可能となる。
【0009】
【特許文献1】
特開2001−249086号公報(第3頁−第12頁参照)
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記した従来の追尾技術によると、操作者が最初に試料を試料テーブル上にセットした位置での当該試料テーブルのx,y座標は、傾動や回転動作をさせた後はx,y方向への補正分だけ変化してしまうことになる。そのため、操作者は試料の透視視野位置の目安としてのx,y座標値を使用することが困難となってしまうという不具合がある。
【0011】
本発明はこのような実情に鑑みてなされたもので、その第1の目的は、X線カメラの傾動時に、上記した従来の技術と同様にX線カメラの視野内での当初のビューポイントの位置並びに透視拡大率を維持することができ、しかも試料をX線カメラの視野内の所望位置に位置決めしたときの傾動前のx,y座標を変化させず、従ってその座標を傾動後も使用することのできるX線透視装置の提供を目的としている。
【0012】
また、本発明の第2の目的は、X線カメラを傾動させた状態で、試料テーブルをz軸方向に移動させたときにも、X線カメラに視野内での当初のビューポイントの位置を維持することができ、この場合においても当初のx,y座標を変化させずに、移動後もその座標を使用することのできるX線透視装置の提供を目的としている。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上記の第1の目的を達成するため、請求項1に係る発明のX線透視装置は、X線源と、そのX線源からのX線が入射する位置に配置されたX線カメラと、これらのX線源とX線カメラの間に配置されて試料を搭載するための試料テーブルと、上記X線カメラを所定の方向に傾動させる傾動機構を備えたX線透視装置において、上記X線カメラの視野中で試料の位置決めを行うべく上記試料テーブルを当該試料テーブルの表面に沿った平面上で互いに直交する2軸(x,y軸)方向に移動させる位置決め用移動機構と、その位置決め用移動機構を含めて上記試料テーブルを上記x,y軸に直交して上記X線源に接近/離隔する方向のz軸の回りに回転させる回転機構と、その回転機構および位置決め用移動機構を含めて上記テーブルを上記傾動方向に沿って移動させる位置補正用移動機構と、その位置補正用移動機構、回転機構および位置決め用移動機構を含めて上記テーブルを上記z軸方向に移動させるz軸移動機構を備えているとともに、上記傾動機構によりX線カメラを傾動させたとき、上記位置決め用移動機構を駆動せずに、傾動角度に応じて上記位置補正用移動機構およびz軸移動機構を駆動することにより、傾動前のビューポイントを維持すると同時に透視倍率を維持する傾動時追尾手段を備えていることによって特徴づけられる。
【0014】
また、第2の目的を達成するため、請求項2に係る発明のX線透視装置は、同じくX線源と、そのX線源からのX線が入射する位置に配置されたX線カメラと、これらのX線源とX線カメラの間に配置されて試料を搭載するための試料テーブルと、上記X線カメラを所定の方向に傾動させる傾動機構を備えたX線透視装置において、上記X線カメラの視野中で試料の位置決めを行うべく上記試料テーブルを当該試料テーブルの表面に沿った平面上で互いに直交する2軸(x,y軸)方向に移動させる位置決め用移動機構と、その位置決め用移動機構を含めて上記試料テーブルを上記x,y軸に直交して上記X線源に接近/離隔する方向のz軸の回りに回転させる回転機構と、その回転機構および位置決め用移動機構を含めて上記テーブルを上記傾動方向に沿って移動させる位置補正用移動機構と、その位置補正用移動機構、回転機構および位置決め用移動機構を含めて上記テーブルを上記z軸方向に移動させるz軸移動機構を備えているとともに、上記傾動機構によりX線カメラを傾動させた状態で上記テーブルをz軸方向に移動させたとき、上記位置決め用移動機構を駆動せずに、z軸方向への移動量に応じて上記位置補正用移動機構を駆動することにより、z軸方向への移動前のビューポイントを維持する倍率変更時追尾機構を備えていることによって特徴づけられる。
【0015】
本発明は、試料テーブルをx,y軸方向に移動させる位置決め用移動機構とは別に、X線カメラの傾動時、あるいはその傾動状態において試料テーブルをz軸方向に移動させたときの試料テーブルの位置を補正するための専用の移動機構を位置決め用移動機構よりもベース側(各機構を上下方向に積む場合には下方、以下、この例に従いベース側を下方、それと反対側を上方と称する)に設けるとともに、試料テーブルの回転機構をx,y方向への位置決め用移動機構の下方で、かつ、補正専用の移動機構の上方に設け、これらの全機構をz軸方向に移動させるz軸移動機構を設けることによって、所期の目的を達成しようとするものである。
【0016】
すなわち、請求項1に係る発明においては、傾動機構によるX線カメラの傾動時に、試料テーブルをx,y軸方向に移動させる位置決め用移動機構を駆動せずに、その下方に設けられてX線カメラの傾動方向に試料テーブルを移動させる補正用移動機構を駆動するとともに、z軸移動機構を駆動することによって、傾動前のビューポイントおよび透視倍率を維持する。この構成によると、傾動時に位置決め用移動機構による当初の試料テーブルの座標は固定されたままとなり、ビューポイントおよび透視倍率を維持したまま、当初の座標を引き続いて使用することができる。
【0017】
一方、請求項2に係る発明においては、傾動機構によりX線カメラを傾動させた状態で、試料テーブルをz軸方向に移動させたときに、そのz軸方向への移動量に応じて補正用移動機構を駆動することにより、z軸方向への移動前のビューポイントを維持する。この場合においても、当初の試料テーブルの座標は変化しないので、そのまま用いることができる。
【0018】
以上の各請求項に係る発明において、試料テーブルの回転機構を位置決め用移動機構の下方においているので、位置決め用移動機構により試料テーブルを随意にx,y軸方向に移動させても、X線カメラと試料テーブルの回転軸のx,y軸方向への位置関係は不変であり、従って、ビューポイントがX線カメラの視野から外れていくことを防止することができる。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。
図1は本発明の実施の形態の構成図であり、機械的構成を表す模式図と、電気的構成を表すブロック図とを併記して示す図である。
【0020】
X線管球からなるX線源1は、X線の光軸(照射X線の中心軸)Lが鉛直(z軸方向)上方に向かうように配置され、その上方に、水平面(x,y平面)に沿った表面を有する試料テーブル2が設けられており、更にその試料テーブル2の上方には、所定の空間を開けてX線カメラ3が配置されている。
【0021】
X線カメラ3は、傾動機構31によってX線源1の焦点を中心として、x軸に沿った軸(IT軸)の回りに、従ってz−y平面上に沿って任意の角度に傾動させることができる。また、このX線カメラ3は、カメラ移動機構32によって、任意の傾動角度においてX線源1に対して接近/離隔する方向(Iz軸)に移動させることができる。
【0022】
試料テーブル2は、その直下に設けられているy軸移動機構21とx軸移動機構22を操作者が後述する操作盤7を操作することによって、水平面上で互いに直交するx,y軸方向に移動し、これらのy軸移動機構21およびx軸移動機構22が、X線カメラ3の視野中での試料Sの位置決め機構を構成している。
【0023】
これらのy軸移動機構21およびx軸移動機構22の下方には回転機構23が設けられている。この回転機構23は、z軸に沿った軸(θ軸)の回りに試料テーブル2を回転させるものであり、この回転機構23の駆動によって、試料テーブル2はy軸移動機構21およびx軸移動機構22とともにθ軸の回りを回転する。
【0024】
回転機構23の下方には、後述する試料テーブル2の位置補正用のyT軸移動機構24が設けられている。このyT軸移動機構24の駆動により、カメラ傾動機構32によるX線カメラ3の傾動方向に沿ったy軸方向に当該yT軸移動機構24の上方に載せられている各部材、つまり試料テーブル2、y軸移動機構21、x軸移動機構22、および回転機構23の全体をy軸方向に移動させることができる。
【0025】
そして、以上の試料テーブル2とその各移動機構の全体を、z軸移動機構25の駆動によってX線源1に対して接近/離隔する方向であるz軸方向に移動させることができる。
【0026】
透視対象物である試料Sは試料テーブル2上に載せられた状態で、その下方からX線が照射され、試料Sを透過したX線はX線カメラ3に入射する。X線カメラ3は例えばイメージインテンシファイアとCCDカメラとを組み合わせた公知のものであり、その刻々の出力画像は画像処理装置4に取り込まれ、表示器5に試料SのX線透過像が表示されるようになっている。
【0027】
前記したy軸移動機構21、x軸移動機構22、回転機構23、yT軸移動機構24、z軸移動機構25、傾動機構31およびカメラ移動機構32の駆動源である各モータは、いずれも軸制御装置6からの制御信号によって動作する。軸制御装置6はCPUとその周辺機器を主体とするものであって、操作者が各種指令を与えるための操作盤7が接続されている。この操作盤7の操作により、これらの各機構のうち、yT軸移動機構24を除く機構を駆動して、試料テーブル2およびX線カメラ3を任意に移動させることができる。
【0028】
また、この軸制御装置6には、上記した各機構による試料テーブル2ないしはX線カメラ3の現在位置を記憶するメモリと、以下に示す視野および倍率維持プログラムがインストールされており、このプログラムによって、X線カメラ3の傾動時、およびその傾動状態において試料テーブル2をz軸方向に移動させたときに自動的に試料テーブルが移動し、当初の視野および倍率が維持される。
まず、X線カメラ3の傾動時における動作について、図2を参照しつつ説明する。操作盤7の操作により傾動機構31に駆動指令が与えられたとき、軸制御装置6は傾動機構31を駆動してX線カメラ3を傾動させるとともに、試料テーブル2のyT軸移動機構24およびz軸移動機構25に対して下記のような動作を行わせて追尾させることにより、傾動前の当初のビューポイントと透視倍率を維持する。
【0029】
すなわち、傾動指令を付与した時点におけるX線源1(焦点、以下同)とX線カメラ3間の距離をSIDとし、X線源1と試料テーブル2のとの距離をSODとすると、X線カメラ3の傾動に同期させて試料テーブル2を円弧状に移動させることを想定すると、試料テーブル2の移動速度vtは、X線カメラ3が速度viで傾動してその各速度がω(vi=ωSID)であれば、下記の(1)式によって算出することができる。
vt=ω・SOD ・・・・(1)
【0030】
その円弧状の移動をyT軸移動機構24とz軸移動機構25の駆動によって実現するために、これらのyT軸移動機構24とz軸移動機構25の移動速度vytおよびvzを下記の(2),(3)式から算出する。なお、φtは刻々の傾動角度である。
vyt=vt・cos φt =ωcos φt・SOD ・・・・(2)
vz=vt・sin φt=ωsin φt・SOD ・・・・(3)
【0031】
また、y軸方向への移動量ytおよびz軸方向への移動量zについては、
yt=SODsin φt ・・・・(4)
z=SOD(1−cos φt) ・・・・ (5)
となる。
【0032】
従って、操作者が操作盤7を操作してX線カメラ3をφだけ傾動させるべく指令を与えると、その指令に応じて傾動機構31が動作すると同時に、その角度φおよび角速度ωに応じてyT軸移動機構24およびz軸移動機構25が自動的に動作して、試料テーブル3がy軸方向にytだけ速度vytで移動するとともに、z軸方向にzだけvzの速度で移動する。傾動機構31およびyT軸移動機構24並びにz軸移動機構25は、軸制御装置6が一括管理して制御しているので、操作者が操作盤7を操作して傾動機構31を駆動している間にyT軸移動機構24およびz軸移動機構25が上記の動作を行うことによって、表示器5に表示されている試料SのX線透視像は、その視野中心と透視拡大率が変化することなく、透視方向だけが逐次変化していくことになる。
【0033】
そして、以上の試料テーブル2の位置補正には、y軸移動機構21を全く駆動しないため、操作者が傾動操作前に操作した試料テーブル2のxy座標がそのまま変化することがなく、操作者は傾動後にもその座標値を継続して用いて試料テーブル2の位置決めなどを行うことができる。
【0034】
ここで、X線カメラ3の傾動時に当初のビューポイントおよび透視倍率を維持すべく試料テーブル2の位置を自動的に補正するに当たり、以上の計算ではX線源1から試料テーブル2までの距離をSODとして用いたが、より正確にビューポイントおよび透視倍率を維持するためには、上記の計算で用いたSODに代えて、X線源1から試料Sの注目部位までの距離、言わば真のSODを用いる。しかしながら、この真のSODは、試料テーブル2の表面から試料Sの注目部位までの距離が正確に判らない。この真のSODは、以下の手法によって自動的に求めることができる。
【0035】
すなわち、試料SのX線透視像を表示器5に表示している状態で、その注目部位を画像上で指定する。その状態で試料テーブルSをx軸方向あるいはy軸方向にΔだけ移動させると、試料S内部の注目部位もΔだけ移動し、画面上の注目部位も移動する。その画面上での注目部位の移動量δのΔに対する比は、注目部位の位置する平面での透視倍率を表す。従って、傾動指令を与えたとき、例えば画像処理技術を用いて、画面上での注目部位がδだけ移動するように試料テーブル2を例えばx軸方向に自動的に移動させた後に戻すようにプログラムしておくとともに、そのときの試料テーブル2の移動量Δを検出することによって、注目部位の透視倍率Pを正確に算出することができる。
【0036】
一方、X線源1からX線検出器3までの距離SIDについては、装置定数並びにカメラ移動機構32によるX線カメラ3のIz軸方向への位置が判明しているので、正確に知ることができる。従って、真のSODは、下記の(6)式によって正確に算出することができる。
真のSOD=SID/P ・・・・(6)
【0037】
このようにして算出した真のSODを前記した(1)〜(5)式に用いることによって、ビューポイントおよび透視倍率を極めて厳格に維持した状態でX線カメラ3を傾動させることが可能となる。
【0038】
なお、画面上での注目部位の移動量の計算方法としては、画像の移動前後における画素情報の相互相関関数を利用する方法などを採用することができる。
次に、X線カメラ3をX線光軸Lに対して所定の角度φで傾動させた状態で、試料テーブル2をz軸方向に上下動させたときの動作について、図3を参照しつつ説明する。
【0039】
X線カメラ3が傾いた状態で、操作者が操作盤7を操作してz軸移動機構25により試料テーブル2をz軸方向に移動させるべく指令を与えた場合、軸制御装置6はその指令に応じてz軸移動機構を25を駆動すると同時に、yT軸移動機構24を以下に示すように自動的に駆動して、ビューポインを維持する。
【0040】
すなわち、z軸移動機構25による試料テーブル2の移動量をΔzとすると、図3においてΔytだけ試料テーブル2をy軸方向に移動させることによって、z軸方向への移動前のビューポイントを維持することができる。このΔytは、以下の(7),(8)式によって算出することができる。図において、
ΔSOD=Δz/cos φ ・・・・(7)
であるから、
Δyt=Δz(sin φ/cos φ)=Δz・tan φ ・・・・(8)
【0041】
従って、X線カメラ3が傾動している状態で操作者が操作盤7を操作して試料テーブル2をz軸方向に移動させたとき、その移動量Δzに応じてyT軸移動機構24を自動的にΔytだけ駆動することによって、z軸方向への移動前のビューポイントが維持される。この機能により、X線カメラ3の傾動状態において拡大率を変化させるべくz軸方向に試料テーブル2を移動させても、X線カメラ2の視野中心は変化することなく、透視像の拡大率のみを変化させることが可能となる。
【0042】
また、以上の実施の形態における試料テーブル2の各移動機構の上下関係によると、回転機構23がy軸移動機構21およびx軸移動機構22の下方に位置して、これらのy軸移動機構21およびx軸移動機構22とともに試料テーブル2を回転させるので、操作盤7の操作によってy軸移動機構21およびx軸移動機構22を駆動してX線カメラ3の視野を定めた後に、回転機構23を回転させても、X線カメラ3と回転機構23の回転軸との位置関係は不変であるため、回転によって視野が変化することがないという利点もある。
【0043】
なお、以上の実施の形態では、X線源1のX線光軸Lを鉛直方向にとって、試料テーブル2の各移動機構や回転機構を上下方向に積み重ねた例をしめしたが、本発明はこれに限定されることなく、X線源1のX線光軸Lを水平方向にとって、試料テーブル2の各移動機構および回転機構を横方向(水平方向)に重ねてもよいことは勿論である。
【0044】
【発明の効果】
以上のように、請求項1に係る発明によれば、X線カメラの傾動時に、試料テーブルをx,y軸方向に移動させる位置決め用の移動機構とは別に設けた専用の移動機構と、z軸移動機構を自動的に駆動することにより、ビューポイントおよび透視拡大率を傾動前の状態に維持するので、操作者はX線カメラの傾動時にビューポイントや透視拡大率の調整を何ら行う必要がない。しかも、傾動前にx,y軸方向への位置決め用の移動機構を駆動して定めた座標は、傾動後にもそのまま用いることができる。
【0045】
また、請求項2に係る発明によれば、X線カメラを任意の角度に傾動させた状態で、試料テーブルをz軸方向に移動させたとき、試料テーブルをx,y軸方向に移動させる位置決め用移動機構とは別に設けた専用の移動機構を自動的に駆動することにより、ビューポイントをz方向への移動前の状態に維持するので、操作者はカメラの傾動状態で透視拡大率を変化させるべく試料テーブルをz軸方向に移動させても、ビューポイントの調整を何ら行う必要がない。そして、この発明においても、試料テーブルのz軸方向への移動前にx,y軸方向への位置決め用の移動機構を駆動して定めた座標は、移動後にもそのまま用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の構成図であり、機械的構成を表す模式図と、電気的構成を表すブロック図とを併記して示す図である。
【図2】本発明の実施の形態によりX線カメラを傾動させる場合の動作の説明図である。
【図3】本発明の実施の形態によりX線カメラの傾動状態で試料テーブルをz軸方向に移動させる場合の動作の説明図である。
【符号の説明】
1 X線源
2 試料テーブル
21 y軸移動機構
22 x軸移動機構
23 回転機構
24 yT軸移動機構
25 z軸移動機構
3 X線カメラ
31 傾動機構
32 カメラ移動機構
4 画像処理装置
5 表示器
6 軸制御装置
7 操作盤

Claims (2)

  1. X線源と、そのX線源からのX線が入射する位置に配置されたX線カメラと、これらのX線源とX線カメラの間に配置されて試料を搭載するための試料テーブルと、上記X線カメラを所定の方向に傾動させる傾動機構を備えたX線透視装置において、
    上記X線カメラの視野中で試料の位置決めを行うべく上記試料テーブルを当該試料テーブルの表面に沿った平面上で互いに直交する2軸(x,y軸)方向に移動させる位置決め用移動機構と、その位置決め用移動機構を含めて上記試料テーブルを上記x,y軸に直交して上記X線源に接近/離隔する方向のz軸の回りに回転させる回転機構と、その回転機構および位置決め用移動機構を含めて上記テーブルを上記傾動方向に沿って移動させる位置補正用移動機構と、その位置補正用移動機構、回転機構および位置決め用移動機構を含めて上記テーブルを上記z軸方向に移動させるz軸移動機構を備えているとともに、
    上記傾動機構によりX線カメラを傾動させたとき、上記位置決め用移動機構を駆動せずに、傾動角度に応じて上記位置補正用移動機構およびz軸移動機構を駆動することにより、傾動前のビューポイントを維持すると同時に透視倍率を維持する傾動時追尾手段を備えていることを特徴とするX線透視装置。
  2. X線源と、そのX線源からのX線が入射する位置に配置されたX線カメラと、これらのX線源とX線カメラの間に配置されて試料を搭載するための試料テーブルと、上記X線カメラを所定の方向に傾動させる傾動機構を備えたX線透視装置において、
    上記X線カメラの視野中で試料の位置決めを行うべく上記試料テーブルを当該試料テーブルの表面に沿った平面上で互いに直交する2軸(x,y軸)方向に移動させる位置決め用移動機構と、その位置決め用移動機構を含めて上記試料テーブルを上記x,y軸に直交して上記X線源に接近/離隔する方向のz軸の回りに回転させる回転機構と、その回転機構および位置決め用移動機構を含めて上記テーブルを上記傾動方向に沿って移動させる位置補正用移動機構と、その位置補正用移動機構、回転機構および位置決め用移動機構を含めて上記テーブルを上記z軸方向に移動させるz軸移動機構を備えているとともに、
    上記傾動機構によりX線カメラを傾動させた状態で上記テーブルをz軸方向に移動させたとき、上記位置決め用移動機構を駆動せずに、z軸方向への移動量に応じて上記位置補正用移動機構を駆動することにより、z軸方向への移動前のビューポイントを維持する倍率変更時追尾機構を備えていることを特徴とするX線透視装置。
JP2002320229A 2002-11-01 2002-11-01 X線透視装置 Expired - Fee Related JP3891285B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006090793A (ja) * 2004-09-22 2006-04-06 Shimadzu Corp X線透視装置

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006038836A (ja) * 2004-06-22 2006-02-09 Rigaku Corp X線ct装置
JP4818695B2 (ja) * 2005-11-18 2011-11-16 パナソニック株式会社 放射線画像撮像条件の補正装置
DE602007010192D1 (de) * 2006-01-26 2010-12-16 Toshiba Kk Röntgen-CT-Gerät, sowie Verfahren zur Phantomzuweisung
DE102006039935A1 (de) * 2006-08-25 2008-03-06 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Drehvorrichtung für einen optischen Tomographen und optischer Tomograph mit einer Drehvorrichtung
KR101110145B1 (ko) * 2006-12-01 2012-01-31 가부시키가이샤 시마즈세이사쿠쇼 X선 투시 장치
DE102007004365B4 (de) * 2007-01-29 2010-07-22 Yxlon International X-Ray Gmbh Röntgendurchleuchtungsanlage
JP5216294B2 (ja) * 2007-02-20 2013-06-19 東芝Itコントロールシステム株式会社 X線透視検査装置及びx線透視検査方法
JP4349497B2 (ja) * 2007-11-29 2009-10-21 竹中システム機器株式会社 放射線照射の位置決め用光ビームポインティングシステム
CN101551347B (zh) * 2009-03-26 2012-02-15 江苏天瑞仪器股份有限公司 用于x荧光光谱仪的光斑定位调整方法及装置
US7972062B2 (en) * 2009-07-16 2011-07-05 Edax, Inc. Optical positioner design in X-ray analyzer for coaxial micro-viewing and analysis
KR101037290B1 (ko) * 2010-09-03 2011-05-27 (주)슈추어 신발용 장식구
KR101037292B1 (ko) * 2010-09-03 2011-05-27 (주)슈추어 신발 장식구
JP5999516B2 (ja) * 2011-08-05 2016-09-28 株式会社島津製作所 放射線撮影装置
TWI504887B (zh) * 2012-12-10 2015-10-21 Nat Inst Chung Shan Science & Technology X - ray tomography
CN105765375A (zh) * 2013-10-21 2016-07-13 依科视朗国际有限公司 X射线检查系统以及用于借助于这种x 射线检查系统转动检查对象的方法
EP2927946A1 (en) 2014-04-04 2015-10-07 Nordson Corporation X-ray inspection apparatus for inspecting semiconductor wafers
JP6346036B2 (ja) * 2014-09-09 2018-06-20 株式会社日立ハイテクサイエンス 蛍光x線分析装置及びその測定位置調整方法
DE102014226756A1 (de) * 2014-12-22 2016-03-03 Siemens Aktiengesellschaft Bildgebungsanordnung sowie Verfahren zum Positionieren eines Patienten in einer Bildgebungsmodalität
US9606072B2 (en) 2015-06-09 2017-03-28 Shimadzu Corporation Radiation inspecting apparatus
JP6266574B2 (ja) * 2015-09-10 2018-01-24 株式会社日立ハイテクサイエンス X線検査方法及びx線検査装置
KR20170004225U (ko) 2016-06-09 2017-12-19 손하연 색이 변화하는 신발
JP6783456B2 (ja) * 2016-08-24 2020-11-11 株式会社日立ハイテクサイエンス X線透過検査装置
CN113995376A (zh) * 2020-07-14 2022-02-01 上海勤翔科学仪器有限公司 旋转式成像系统、植物成像仪、动物成像仪及动植物成像仪
CN114264679B (zh) * 2021-12-03 2023-04-04 俐玛精密测量技术(苏州)有限公司 基于x射线对电子产品进行扫描检测的装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4024403A (en) * 1976-03-19 1977-05-17 General Electric Company X-ray cardiovascular examination apparatus
JP2934455B2 (ja) * 1988-08-26 1999-08-16 株式会社日立製作所 X線透過画像によるはんだ付部の検査方法及びその装置
US6155713A (en) * 1997-06-19 2000-12-05 Kabushiki Kaisha Toshiba X-ray diagnostic apparatus having an X-ray generating portion and an X-ray detecting portion independent of each other
JP2000116631A (ja) * 1998-10-16 2000-04-25 Toshiba Corp X線診断装置
JP3613121B2 (ja) 2000-03-03 2005-01-26 株式会社島津製作所 X線透視装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006090793A (ja) * 2004-09-22 2006-04-06 Shimadzu Corp X線透視装置

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