JP3711189B2 - 基板搬送装置 - Google Patents

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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示器用ガラス角形基板、プラズマディスプレイ用ガラス角形基板、半導体ウエハ等の基板に対して所定の処理を施す基板処理装置に適用される基板搬送装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来から、液晶表示器用ガラス角形基板等の基板に対して所定の処理を施す基板処理装置として、例えば、図15に示すように複数の処理部を一列に並べて配置した装置が一般に知られている。
【0003】
この装置には、上流側(同図で左側)から順に、基板の投入部101、投入された基板に例えばレジストなどの処理液を塗布する処理液塗布部102、塗布された処理液を乾燥させる減圧乾燥部103、基板裏面に付着した処理液を洗い落とす洗浄部104及び加熱乾燥のための図外のホットプレート等が並べて配置されており、投入部101に投入された角形基板Wを順次下流側の処理部へ搬送しながら所定の処理を施すように構成されている。
【0004】
基板Wの搬送は、同図に示すように投入部101及び処理液塗布部102等の各処理部(以下、処理部等という)の間にそれぞれ設けられた搬送装置105によって行われるようになっている。
【0005】
各搬送装置105には、隣設された処理部等にわたって移動可能な可動部材106が設けられ、基板Wを支持するための一対の水平なアーム107がこの可動部材106に設けられている。
【0006】
両アーム107は、基板Wよりも若干広い間隔で可動部材106にその軸回りに回転可能に支持されている。また、各アーム107には、図示を省略するがそれぞれ支持爪が具備されており、アーム107の回転に応じてこの支持爪が両アーム107の間に介在する位置(支持位置)と、両アーム107の外側に退避する位置(退避位置)とに変位するようになっている。そして、支持爪が支持位置に保持されることにより、基板Wの両端部(搬送方向に相対向する2辺に沿った端部)を支持した状態で、両アーム107で基板Wを保持するようになっている。
【0007】
各処理部等と搬送装置105との間の基板Wの受渡しは、例えば、次のようにして行われる。まず、各処理部等から搬送装置105への基板Wの受渡しの際には、両アーム107の支持爪が退避位置に保持された状態で可動部材106が処理部の上方に配置され、この状態で、処理部のステージ108(基板の支持台)が上昇することにより、基板Wが両アーム107の間を介してその上方へと持ち上げられる。そして、各支持爪107が支持位置に変位させられた後、ステージ108が下降することによって基板Wが支持爪を介して両アーム107に支持される。これによって各処理部から搬送装置105へと基板Wが受け渡される。
【0008】
そして、これと逆の動作が行われることによって、上記搬送装置105から各処理部等へと基板Wの受渡しが行われるようになっている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記従来の基板処理装置では、上述のようにアーム107の間隔が基板Wに対応した値に固定されて、基板の相対向する2辺に沿ってその両端部を支持する構成であるため、以下のような種々の問題がある。
【0010】
すなわち、近年では、液晶表示器等の市場ニーズの拡大により、生産する基板のサイズが多様化しており、基板の生産形態も従来のようなワンサイズの大量生産から複数サイズの少量生産へと移行しているが、アーム107の間隔が固定されている上記のような搬送装置105では、サイズの異なる基板の生産に柔軟に対応することができず、これを解決する必要がある。
【0011】
また、上記従来のような基板処理装置では、各処理部等の間に搬送装置105の待機スペースを設け、基板処理中は、このスペースに搬送装置105を待機させるものが多く、従って、大型の基板を生産する装置では、アーム107の間隔が広くなる分、搬送装置105の待機スペースも大きくなり、これが基板処理装置の大型化を招く原因の一つとなっている。
【0012】
さらに、上記従来の装置では、基板の両端部を支持するため、基板が撓み易く、そのため、大型の基板や薄型の基板等を搬送する場合に割れが生じ易いという問題がある。特に、基板Wをステージ108上に吸着して保持する場合には、各処理部等から基板Wへの受け渡しの際に、上述のようにステージ108が下降しても基板Wが容易にステージから剥がれず、これによって基板が大きく撓んで割れてしまうことも考えられる。
【0013】
本発明の第1の目的は、上述のような点に鑑み、サイズの異なる基板の生産に対応することができる基板搬送装置を提供することにある。
【0014】
また、本発明の第2の目的は、待機位置における占有スペースを小さくできて、基板処理装置をコンパクトにすることができる基板搬送装置を提供することにある。
【0015】
さらに、本発明の第3の目的は、大型の基板や薄型の基板等を搬送する際に、基板が割れることを防止できる基板搬送装置を提供することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明は、複数の処理部が並ぶ基板処理装置の前記処理部の間でこれらの配列方向に基板を水平に支持して搬送する基板搬送装置において、基板を支持する一対の支持部材と、これら支持部材の間隔を変更する間隔可変手段と、一対の支持部材を一体に移動させる移動手段とを備え、この移動手段は、基板搬送時以外のときは、隣設される処理部の間に設けられる待機スペースに前記一対の支持部材を配置し、前記間隔可変手段は、基板搬送時に前記一対の支持部材を基板搬送可能な所定の離間位置にセットする一方、前記一対の支持部材が前記待機スペースに配置されるときにはこれら支持部材を前記離間位置よりも接近した接近位置にセットするように構成されたものである(請求項1)。
【0017】
この装置によれば、所定の離間位置にセットされた支持部材により基板が支持され、この状態で、支持部材が移動手段により移動させられることにより基板が搬送される。このような基板の搬送に際しては、間隔可変手段により基板の大きさに応じて支持部材の間隔を変更することによって、サイズの異なる複数種類の基板の搬送が可能となる。また、基板搬送装置が待機位置にあるときに、一対の支持部材同士の間隔を接近位置にセットすることによって、待機位置における基板搬送装置の占有スペースを小さくすることができる。さらに、基板のサイズに応じて支持部材の間隔を調整することで、基板の大きさや材質に応じた最適な箇所を支持することが可能となる。
【0018】
特に、上記のような装置において、基板よりも小さい支持部によって基板をその下方から保持する基板保持手段に対して基板を授受する場合には、前記支持部材と前記基板保持手段とを上下方向に相対的に変位させる変位手段をさらに設けるようにすればよい(請求項2)。
【0019】
このようにすれば、支持部材の間隔を、基板保持手段に保持された基板よりも大きくして当該基板の下方に配置し、支持部材の間隔を当該基板の間隔よりも狭くした後、支持部材を基板保持手段に対して相対的に上方に移動させることにより基板保持手段から基板を取上げることができる。また、これと逆の動作を行わせることにより支持部材から基板保持手段へと基板を受け渡すことができる。
【0020】
また、上記請求項1又は2記載の装置において、四角形の基板の対向する2辺に沿って基板を支持するように支持部材を構成するようにすれば(請求項3)、四角形の基板を確実に支持して搬送することができる。
【0021】
また、請求項1乃至3に記載の基板搬送装置においては、基板を支持する支持部を具備した支持爪が前記一対の支持部材にそれぞれ設けられ、この支持爪が、両支持部材の間に前記支持部を介在させて基板を支持する支持位置と、両支持部材の間から前記支持部を外側に退避させる退避位置とに変位可能に構成されているものであってもよい(請求項4)。
【0023】
特に、請求項2乃至4記載のいずれかの装置において、前記支持部として基板を吸着保持する吸着面を前記基板保持手段が有する場合には、基板保持手段に保持されている基板を取上げる際に、支持部材の間隔を基板の間隔よりも大きくした状態で両支持部材を基板の下方に配置した後、各支持部材を基板保持手段に対して相対的に上方に移動させながら支持部材の間隔を漸減させることにより、前記支持部材により基板を支持するとともにその支持位置を基板の周縁部から中心部分に向かって変位させるように前記支持部材、間隔可変手段及び変位手段を構成するようにすれば、基板保持手段に吸着保持されている基板の撓みを抑えながら吸着面から基板を剥ぎ取ることが可能となる。
【0024】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。
【0025】
図1は、本発明に係る基板搬送装置の第1の実施の形態を示す斜視図である。この基板搬送装置1は、従来技術で説明したような基板処理装置、つまり複数の処理部等を一列に並設した基板処理装置に適用される搬送装置である。
【0026】
基板搬送装置1は、同図に示すような角形基板W(以下、単に基板Wという)を支持するための可動部材16を有しており、この可動部材16を処理部等の並設方向(X軸方向という)に移動させるように構成されている。
【0027】
すなわち、基板搬送装置1は、X軸方向に延びる一対の固定レール13と、サーボモータ15により回転駆動されるボールねじ軸14とを備えたガイド板12を各処理部等の配設箇所の側部上方に有しており、上記固定レール13に可動部材16のフレーム20が移動可能に装着されるとともに、このフレーム20に設けられたナット部分(図示せず)が上記ボールねじ軸13に螺合している。そして、サーボモータ15の作動によるボールねじ軸14の正逆回転に応じて上記可動部材16が固定レール13に沿ってX軸方向に移動するようになっている。つまり、これらフレーム20、固定レール13及びボールねじ軸14等により、後記アーム22を移動させる本願の移動手段が構成されている。
【0028】
可動部材16のフレーム20は、同図に示すようにガイド板12と略平行な鉛直面部20aと、その上端に連設される水平な上面部20bとからなる逆L字型に形成されており、上記鉛直面部20aを介してガイド板12の固定レール13に装着されている。
【0029】
フレーム20の上面部20bには、水平面上でX軸方向と直交する方向(Y軸方向という)に突出する基板支持用の一対の軸状のアーム22(支持部材)が設けられている。そして、これらのアーム22が、基板サイズよりも若干広い間隔となる離間位置と、この離間位置よりも充分に間隔が狭くなる接近位置とに変位可能に支持されている。
【0030】
すなわち、フレーム20の上面部20aには、X軸方向に延びる一対の固定レール24が設けられ、これら固定レール24に跨って一対の可動片25が装着されているとともに、これら可動片25に上記アーム22がそれぞれ支持されている。また、上面部20aに固定された一対のエアシリンダ26のロッド先端がこれら可動片25にそれぞれ接続されている。そして、これらエアシリンダ26の作動に応じて各可動片25が固定レール24に沿って移動させられ、各エアシリンダ26のロッド突出駆動状態で各可動片25が互いに離間する位置(図中実線で示す位置)に、各エアシリンダ26のロッド引込み駆動状態で各可動片25が互いに接近する位置(図中二点鎖線で示す位置)にそれぞれ配置され、これに応じて両アーム22が離間位置と接近位置とに変位させられるようになっている。つまり、これら固定レール24及び可動片25等により本願の間隔可変手段が構成されている。
【0031】
各アーム22には、基板Wを支持する複数の支持爪32が軸方向に一定の間隔で装着されており、図示の例では、3つの支持爪32が等間隔で各アーム22にそれぞれ装着されている。各アーム22に装着される支持爪32は、図2に示すように、左右対称(同図で左右対称)なL字型の形状とされ、基板Wを支持する支持部33aと、その外側に設けられる垂直な当り面33bとを有している。
【0032】
各アーム22は、それぞれその基端部が可動片25に設けられた支持ブロック28にベアリングを介して回転可能に支持されているとともに、可動片25に固定されたエアシリンダ30のロッド先端にリンク29を介して連結されており、各エアシリンダ30の作動に応じて回転させられるようになっている。
【0033】
そして、各エアシリンダ30のロッド引込み駆動状態において、図2の実線に示すように支持部33aをアーム22の間に介在させる位置に支持爪32を保持する一方(以下、この位置を支持位置という)、各エアシリンダ30のロッド突出駆動状態において、同図の一点鎖線に示すように支持部33をアーム22の外側に退避させるように支持爪32を保持する(以下、この位置を退避位置という)ようになっている。
【0034】
以上のように構成された基板搬送装置1によれば、例えば、以下に説明するようにして基板を搬送することができる。なお、以下の説明では、隣設された2つの処理部の間で基板Wを搬送し、各処理部に設けられた昇降可能なステージ(基板の支持台;基板保持手段)との間で基板Wの受渡しを行う例について説明する。ここで、ステージは基板Wよりもやや小さく形成され、基板Wの略中央部で基板Wを下方から水平に支持するように構成されているものとする。
【0035】
まず、図3(a)に示すように、処理部Eaから基板Wを受け取るべくサーボモータ15の作動に応じて可動部材16を処理部Eaの上方に配置する。この際、各アーム22は離間位置に保持し、また、各支持爪32は退避位置に保持しておく。
【0036】
可動部材16を処理部Eaの上方に配置したら、処理部Eaのステージ34を上昇させて、ステージ上に支持されている基板Wを両アーム22の間を介して可動部材16の上方に持ち上げる。そして、アーム22を回転させて各支持爪32を支持位置に変位させた後(図3(b))、ステージ34を下降させて基板WのX軸方向に対向する2辺に沿って端縁部を各支持爪32によって支持させる。これによりステージ34の基板Wを可動部材16により受け取る(図3(c))。
【0037】
基板Wを受け取ったら、次いでサーボモータ15の作動に応じて可動部材16を隣の処理部Ebの上方へと移動させる。なお、搬送中は、上記のように支持爪32に当り面33bが設けられているため、例えば、可動部材16の加速時、あるいは減速時であっても基板Wの端部がこの当り面33bに当接することで、基板WがX軸方向に大きくずれてアーム22から脱落等することが防止される。
【0038】
可動部材16を処理部Ebの上方に配置したら、上記処理部Eaから可動部材16への基板Wの受渡し動作と逆の動作を行わわせることにより、処理部Ebのステージ34へと基板Wを受渡すようにする。
【0039】
こうして処理部Eaから処理部Ebへと基板Wを搬送した後は、図3(d)に示すように、エアシリンダ26の作動に応じて各アーム22を離間位置から接近位置へと変位させ、例えば、各処理部Ea,Ebの間の所定の待機スペース(同図に示す位置)へと可動部材16を移動させる。そして、次回の搬送時までこの待機スペースにおいて可動部材16を待機させるようにする。
【0040】
このように上記基板搬送装置1によれば、X軸方向、つまり基板Wの搬送方向に一対のアーム22を設け、これらアーム22により搬送方向に対向する2辺に沿って基板端縁部を支持して搬送するようにしながらも、アーム22が離間位置と接近位置とに変位可能とされているので、待機時には、上述のようにアーム22を接近位置に保持して可動部材16のX軸方向の占有スペースを小さくして待機させることができる。そのため、大型の基板を製造する装置に適用する場合であっても、待機スペースのX軸方向への拡大を抑えることができ、従来のこの種の搬送装置のように、処理基板の大型化に伴い待機スペースがX軸方向に大きくなって製造装置の大型化を助長するといった事態を効果的に回避することができる。
【0041】
なお、上記の例では、アーム22の間隔を、基板Wを支持する離間位置と、待機時の接近位置との2つの間隔に変位させるようにしているが、例えば、アーム22の間隔を、上記離間位置と接近位置との間の一乃至複数の間隔で保持できるように構成してもよい。この場合、例えば、ソレノイド駆動により作動して可動片25の移動を阻止する一乃至複数のストッパ部材を各可動片25の移動方向に設け、エアシリンダ26のロット突出駆動状態時に、このストッパ部材を選択的に作動させるようにすればよい。このようにすれば、アーム22の間隔を種々変更できるため、X軸方向にサイズの異なる複数種類の基板Wを搬送することが可能となり、これにより基板搬送装置1の機能性をより高めるができる。
【0042】
次に、本発明の第2の実施の形態について図面を用いて説明する。
【0043】
図4は、第2の実施の形態に係る基板搬送装置を示す斜視図である。この基板搬送装置2は、基本的には上記第1の実施の形態の基板搬送装置1と共通の構成となっているが、主にアーム22の間隔を変化させる機構として以下に説明するような機構が採用されている点で上記基板搬送装置1と構成が相違している。なお、以下の説明では、上記基板搬送装置1と共通する部分については同一の符号を付してその説明を省略し、相違点についてのみ説明する。
【0044】
この基板搬送装置2では、同図に示すように可動部材16のフレーム20がガイド板12と略平行な平板とされ、これにX軸方向に延びる固定レール38と、プーリ43a、43b及び伝動ベルト41を介してサーボモータ40により回転駆動されるボールねじ軸42とが設けられ、上記固定レール38に一対の可動ブロック36が移動可能に装着されるとともに、これら各可動ブロック36に設けられたナット部分37が上記ボールねじ軸42にそれぞれ螺合している。ボールねじ軸42には軸方向中心を境にその両側にそれぞれ反対方向のねじが形成されており(ねじ部42a,42bという)、一方の可動ブロック36がねじ部42aに、他方の可動ブロック36がねじ部42bにそれぞれ螺合している。
【0045】
そして、各可動ブロック36の上部はフレーム20及びガイド板12よりも上方に突出しており、この突出部分に各アーム22が突設されている。
【0046】
すなわち、サーボモータ40の作動によりボールねじ軸14が正逆回転すると、これに応じて可動ブロック36が固定レール38に沿って互いに反対方向に均等に移動し、これによりアーム22の間隔が変化させられるようになっている。
【0047】
なお、第2の実施の形態の基板搬送装置2では、上記基板搬送装置1のように各アーム22を回転させるための機構は設けられておらず、また、アーム22には、上記支持爪32に代えて柱状の支持体44が装着されている。
【0048】
以上のように構成された基板搬送装置2によれば、上記のような処理部Ea,Eb間での基板Wの搬送を、例えば、以下のようにして行わせることができる。
【0049】
まず、図5(a)に示すように、処理部Eaから基板Wを受け取るべく可動部材16を処理部Eaの上方に配置する。この際、各アーム22は少なくとも基板Wの幅(X軸方向の寸法)よりも広い間隔に保持しておく。
【0050】
可動部材16を処理部Eaの上方に配置したら、処理部Eaのステージ34を上昇させて、ステージ上に支持されている基板Wを両アーム22の間を介して可動部材16の上方に持ち上げる。そして、アーム22の間隔を基板Wの幅よりも狭くした後(図5(b))、ステージ34を下降させることにより基板Wの端縁部を各支持体44によって支持する。これによりステージ34の基板Wを可動部材16によって受け取る(図5(c))。
【0051】
この際、例えば、生産ロットの変更等により搬送すべき基板Wのサイズが生産途中で変更になるような場合には、搬送すべき基板Wのサイズに応じて適宜、アーム22の間隔を変更させて基板Wを支持させるようにする。
【0052】
基板Wを受け取ったら、次いで可動部材16を処理部Ebの上方へと移動させ、その後、上記受取り時の動作と逆の動作を行わせることにより処理部Ebのステージ34へと基板Wを受渡すようにする。
【0053】
処理部Eaから処理部Ebへと基板Wを搬送した後は、図5(d)に示すように、アーム22の間隔を最も狭くし、両処理部Ea,Ebの間の待機スペースへと可動部材16を移動させて待機させるようにする。
【0054】
このような基板搬送装置2によれば、アーム22をボールねじ機構を用いて移動させるようにしているため、可動ブロック36の移動可能な範囲内で、アーム22の間隔を任意の間隔に設定することができる。従って、上記第1の実施の形態の装置にストッパ部材を設けた装置に比べると、より多くのサイズの基板Wを搬送することができるという利点がある。
【0055】
しかも、この装置のアーム22は支持体44を介して基板Wを下方から支持するだけ、つまり、第1の実施の形態のアーム22のように基板Wの搬送中のずれを防止するような部分(支持爪32の当り面33b)が設けられていないため、基板Wを支持する位置は、基板Wの端縁部に限られず、基板Wの中心(X軸方向中心)に近い場所を支持することもできる。従って、例えば、X軸方向の寸法が大きく、端縁部を支持すると基板Wの撓みが大きくなって破損の虞れがあるような大型の基板については、基板Wの撓みが小さくなるようにアーム22の間隔を狭く設定して搬送することが可能であり、これにより当該大型の基板を適切に搬送するができるという特徴もある。
【0056】
なお、この装置において基板Wの搬送中のずれを防止する必要がある場合には、例えば、可動部材16において、アーム22による基板Wの支持位置の下方に、図6に示すような補助支持機構45を設けるようにすればよい。すなわち、ロッド先端にゴム製の支持体47を取付けたエアシリンダ46をブラケット48等を介してフレーム20に取り付け、エアシリンダ46のロッド突出駆動状態(同図の一点鎖線に示す状態)で支持体47を基板Wの裏面に当接させるように構成した補助支持機構45を可動部材16に設けるようにすればよい。このような補助支持機構45を設ければ、基板Wの搬送中には、エアシリンダ46をロッド突出駆動状態として支持体47を基板Wに当接させることによって基板Wのずれを効果的に防止することができる。なお、支持体47として吸盤を用いるようにすれば、より効果的に基板Wのずれを防止することができる。
【0057】
次に、本発明の第3の実施の形態について図面を用いて説明する。
【0058】
図7は、第3の実施の形態に係る基板搬送装置を示す斜視図である。この基板搬送装置3の構成は、大部分が第2の実施の形態の基板搬送装置2と共通しており、アーム22がベアリングを介して可動ブロック36に回転自在に支持されている点、および上記支持体44に代えて図9に示すようなそろばん玉形状の支持体50がアーム22に装着されている点で上記基板搬送装置2と構成が相違している。すなわち、この基板搬送装置3では、基板Wを支持した状態でサーボモータ40を作動させて可動ブロック36を移動させると、基板Wと支持体50との摩擦によりアーム22が可動ブロック36に対して回転するように構成されており、これによって搬送中であってもアーム22による基板Wの支持位置を変更できるようになっている。
【0059】
このような第3の実施の形態の基板搬送装置3によれば、上記のような処理部Ea,Eb間での基板Wの搬送を以下のようにして行うことができる。なお、以下の説明では、ステージ34において基板Wを吸着した状態で保持するように各処理部Ea,Ebが構成されているものとする。
【0060】
まず、処理部Eaから基板Wを受け取る際には、第2の実施の形態の基板搬送装置2と同様に、各アーム22を少なくとも基板Wの幅(X軸方向の寸法)よりも広い間隔に保持した状態で可動部材16を処理部Eaの上方に配置し、その後、処理部Eaのステージ34を上昇させて、基板Wを両アーム22の間を介して可動部材16の上方に持ち上げる(図5(a),(b)参照)。
【0061】
そして、アーム22の間隔を基板Wの幅よりも狭くした後(図8(a))、ステージ34を下降させることにより基板Wの端縁部をアーム22の支持体50によって支持させるとともに、ステージ34の下降に伴いアーム22の間隔を徐々に狭める(図8(b),(c))。こうすることでステージ34に吸着されている基板Wをその端部から徐々に剥ぎ取るようにする。
【0062】
処理部Eaのステージ34から基板Wを剥ぎ取ったら、可動部材16を処理部Ebの上方へと移動させるとともに、この搬送中に、例えば、基板Wの撓みが大きくならないようにアーム22の間隔を調整して基板Wをそのサイズや材質に応じた最適な位置で支持するようにする(図8(d))。
【0063】
そして、処理部Ebへ基板Wを受け渡す際には、上記の動作と逆の動作を行わせることにより処理部Ebのステージ34へと基板Wを受渡すようにする。
【0064】
このような基板搬送装置3によれば、基板Wの撓みによる損傷等を回避して適切に基板Wをステージ34から取上げて搬送することができる。
【0065】
すなわち、ステージ34に吸着されている基板Wを可動部材16により取上げる場合、例えば、第2の実施の形態の基板搬送装置2のように、基板Wの両端部をアーム22で固定的に支持し、ステージ34の下降に伴い基板Wをステージ34から取上げることも可能である。しかし、この場合にはアーム22の間隔が一定であるため、例えば、X軸方向の寸法が大きい基板Wについてはステージ34の下降に伴い基板Wの中央部分が下方に引っ張れて基板Wが大きく撓み、これによって基板Wが破損に至る事が考えられる。しかし、上述のような基板搬送装置2の動作によれば、ステージ34の下降に伴い、基板Wとステージ34との間でアーム22が基板Wの中心部分に向かって移動するため、基板Wを大きく撓ませることなく基板Wをステージ34から良好に剥離させることができる。従って、X軸方向の寸法が大きな大型の基板Wを搬送する場合であっても、撓みによる損傷等の発生を招くことなく適切に基板Wをステージ34から取上げることができる。
【0066】
また、基板Wの両端部を支持して搬送する場合、基板Wが大型化すると、搬送中の撓みが大きくなり、これに起因して基板Wが破損し易くなることが考えられるが、基板搬送装置3によれば、上述のように搬送中にアーム22の間隔を調整しながら基板Wをそのサイズ等に応じた最適な位置で支持して搬送することができるため、大型の基板Wを搬送する場合であっても基板Wを大きく撓ませることなく搬送することができる。そのため、撓みによる損傷等の発生を招くことなく適切に基板Wを搬送することができる。
【0067】
なお、この基板搬送装置3では、上記のように支持体50を介して基板Wにアーム22を接触させた状態のままで、アーム22の位置を移動させるため、例えば軽量の基板W等については、アーム22の移動に伴い基板Wの位置が正規の支持位置からずれてしまうことが考えられる。従って、この基板搬送装置3についても、図4に示したような補助支持機構45を設けて基板Wのずれを防止するようにするのが望ましい。
【0068】
また、この基板搬送装置3では、アーム22の基端部をベアリングを介して可動ブロック36で回転可能に支持しているが、アーム22の軸方向寸法が長い場合には、アーム22の曲げモーメントが大きくなって回転をスムーズに行わせることが難しくなるので、このような場合には、例えば、アーム22を可動ブロック36に対して固定し、支持体50をアーム22に対して回転可能に装着するようにすればよい。
【0069】
また、アーム22に装着される支持部材としては、上記支持体50のようなそろばん玉形状のもの以外に、例えば、図10に示すようなねじ状の支持体51や、Oリング等のゴム製の支持体52を採用するようにしてもよい。
【0070】
次に、本発明の第4の実施の形態について図面を用いて説明する。
【0071】
図12は、第4の実施の形態に係る基板搬送装置を示す斜視図である。同図に示す基板搬送装置4は、処理部Ecに一体に組み込まれる基板の取外し機構60と、基板Wをこの処理部Ecと他の処理部等との間で移送する移送機構61(移送手段)とから構成されている。
【0072】
同図に示すように、処理部Ecには基台80が設けられ、この基台80の上面に、基板Wを保持する昇降可能な四角形のステージ81と、上記取外し機構60とが配設されている。ステージ81は、基板Wより若干小さく形成されており、基板Wの中央部分を吸着した状態で略水平に保持するように構成されている。
【0073】
取外し機構60は、下降端位置にセットされたステージ81の上方に、ステージ81から基板Wを取上げるための互いに平行な一対の支持軸64(支持部材)を備えており、これら支持軸64の間隔を変化させ得るように構成されている。
【0074】
すなわち、基台80上には、同図に示すようにステージ81を挟んで支持軸64の軸方向(Y軸方向という)と水平面上で直交する方向(X軸方向という)に延びる一対の固定レール62と、プーリ67、68及び伝動ベルト69を介してサーボモータ66により回転駆動されるボールねじ軸70とが設けられ、各支持軸64の両端にそれぞれ装着された可動ブロック63a,63bが各固定レール62に移動可能に装着されているとともに、一方の固定レール62に装着されている各可動ブロック63a,63bの各ナット部分が上記ボールねじ軸70にそれぞれ螺合している。ボールねじ軸70には軸方向中心を境にその両側にそれぞれ反対方向のねじが形成されており(ねじ部70a,70bという)、一方の可動ブロック63aがねじ部70aに、他方の可動ブロック63bがねじ部70bにそれぞれ螺合している。そして、サーボモータ66の作動によりボールねじ軸14が正逆回転すると、各可動ブロック63a,63bが各固定レール62に沿って互いに反対の方向に向かって均等に移動し、これによって支持軸64の間隔が変化させられるように構成されている。
【0075】
なお、各支持軸64には、基板Wを支持する支持体65が軸方向に一定の間隔で装着されており、図示の例では、3つの支持体65が等間隔で各支持軸64に装着されている。支持体65は、上記第3の実施の形態のアーム22に採用されていた支持体50と同一のそろばん玉形状のもので(図9参照)、支持軸64に対して回転自在に装着されている。
【0076】
一方、移送機構61は、図外の移動機構によりX軸方向及びZ軸方向(鉛直方向)に移動可能な可動部材72を有しており、この可動部材72に一定間隔で配設される一対のアーム73(受取部材)を備えた構成となっている。
【0077】
アーム73は、基板サイズよりも若干広い間隔で可動部材72に回転可能に支持されており、図外の駆動機構により回転させられるようになっている。また、アーム73には、基板Wを支持する複数の支持爪74が軸方向に一定の間隔で装着されており、図示の例では、3つの支持爪74が等間隔で各アーム73に装着されている。
【0078】
支持爪74は、上記第1の実施の形態のアーム73に採用されていた支持爪32(図2参照)と同様に、基板Wを支持する支持部75を有したL字型のものとされており、駆動機構の作動によるアーム73の回転に応じて、支持部75がアーム73の間に介在させられる支持位置と、支持部75がアーム73の外側に退避させられる退避位置とに保持されるようになっている。
【0079】
以上のような基板搬送装置4によれば、処理部Ecのステージ81に吸着、保持されている基板Wを、以下に説明するようにしてステージ81から取上げて他の処理部へと搬送することができる。
【0080】
まず、処理部Ecから基板Wを受け取るべく移動機構61の可動部材72を処理部Ecの上方に配置する。この際、支持爪74を退避位置に保持しておく。また、ステージ81は下降端位置にセットしておく。さらに、取外し機構60の各支持軸64を基板Wの幅よりも充分に広く離間した位置に配置しておく。
【0081】
可動部材72を処理部Ecの上方に配置したら、図13(a)に示すようにステージ81を上昇させて基板Wを各支持軸64よりも上方に配置するとともに、支持軸64の間隔を狭めて各支持軸64を基板Wの端部下方に配置する。
【0082】
その後、ステージ81を下降させて基板Wの端縁部を支持体65を介して支持軸64により支持させるとともに、このステージ81の下降に伴い支持軸64の間隔を徐々に狭めるようにする。これによりステージ81に吸着されている基板Wをその端部から徐々に剥ぎ取って両支持軸64上に支持するようにする(図13(b)〜(d))。
【0083】
こうして基板Wを支持軸64上に支持したら、次いで、可動部材72を下降させて基板Wを両アーム73の間に介在させるとともに、アーム73を回転させて各支持爪74を支持位置に保持する(図13(e))。そして、その後、可動部材72を上方に移動させることにより、基板Wを各支持爪32を介してアーム73により支持した状態で、別の処理部へと搬送するようにする。
【0084】
このような基板搬送装置4によれば、ステージ81の下降に伴って支持軸64の間隔を徐々に狭めながら基板Wをステージ81から剥ぎ取ることができるので、上記第3の実施の形態の基板搬送装置3と同様に、基板Wを大きく撓ませることなく基板Wをステージ81から取上げることができる。従って、X軸方向の寸法が大きな大型の基板Wを搬送する場合であっても、撓みによる損傷等の発生を招くことなく適切に基板Wをステージ81から剥ぎ取って搬送することができる。
【0085】
なお、上記第1〜第4の実施の形態に係る基板搬送装置1〜4は、本発明に係る基板搬送装置の一例であって、その具体的な構成は、本発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
【0086】
例えば、サイズの異なる基板を共通の可動部材16で搬送することができる上記基板搬送装置2,3においては、各アーム22に装着される支持体44,50をアーム22の軸方向に移動させることができるように構成してもよい。すなわち、アーム22の支持体44,50による基板の支持位置は、通常、図14(a)に示すように、基板Wの端縁部や、あるいは一枚の基板から複数枚の基板を切り取る場合の割線C(切取り境界線)の部分等、基板Wに接触しても特に影響のない、いわゆる基板Wの非有効な部分に設定されているが、支持体44,50を固定的に設けていると、サイズの異なる基板を搬送する場合等に、例えば、同図(b)に示すように、非有効部分を支持することができず、これが基板に悪影響を与える場合もある。従って、支持体44,50をアーム22の軸方向に移動させ得るように構成し、サイズの異なる基板を搬送する場合等でも、同図(c)に示すように支持体44,50を移動させて非有効部分を支持できるようにすれば、上記のような有効部分への悪影響を有効に回避するとができる。なお、支持体50の移動は、手動で行うようにしてもよいし、アクチュエータを用いて自動的に行えるようにしてもよい。
【0087】
また、基板搬送装置2,3に設けられた一対のアーム22同士の間隔を、生産(処理)工程に応じて変更してもよい。具体的に説明すると、基板搬送装置2,3によって、例えば、図15に示されるような処理液塗布部102から減圧乾燥部103に基板Wを搬送するときは、一対のアーム22に設けられた支持体44,50を基板Wの端縁付近の非有効部分に当接するように、一対の支持アーム22同士の間隔を設定することが好ましい。これは、処理液塗布部102から減圧乾燥部103に搬送される基板Wの上面に塗布されたレジストなどの処理液はまだ十分に乾燥していないので、基板Wの下面に当接する支持体44,50の跡が基板Wの上面の有効部分に塗布された処理液に発生するのを防止するためである。このように、基板Wに塗布された処理液に発生する支持体44,50の跡は、基板Wの周囲の空気と支持体44,50との熱伝導率が異なることに起因して発生し、後工程に悪影響を与えるものである。これに対し、基板Wの上面にレジストなどの処理液が塗布される前の生産(処理)工程間において、例えば、図15に示されるような投入部101から処理液塗布部102に基板搬送装置2,3によって基板Wを搬送するときには、基板Wの上面に処理液が塗布されていないので、塗布された処理液に支持体44,50の跡が発生することを考慮する必要がない。従って、一対の支持アーム22同士の間隔を、処理液が塗布された基板Wを搬送するときよりも小さくし、基板Wの下面の有効部分に支持体44,50を当接させて、より安定に基板Wを搬送してもよい。上述のように、生産(処理)工程毎に、支持体44,50が当接することができる基板Wの位置が異なる場合であっても、基板搬送装置2,3によって基板を搬送することができる。
【0088】
さらに、上記第1〜第3の実施形態に係る基板搬送装置1〜3は、それぞれ基板Wの一辺に沿った方向に基板を搬送するものであるが、基板搬送装置による基板Wの搬送方向はこれに限定されるものではなく、基板搬送装置によって基板Wを、例えば、水平面内における任意の方向に搬送してもよいし、水平面に直交する方向に基板を昇降させるように搬送してもよい。
【0089】
また、さらに上記第1〜第3の実施形態に記載される基板搬送装置1〜3及び第4の実施形態に記載される移送機構61は、それぞれ基板Wの下面をその支持面で支持するステージ34,81に対して基板Wを授受する構成であるが、これらステージ34,81に代えて、基板Wの下面の複数箇所、例えば、基板Wの四隅付近の4箇所に当接して基板Wを保持する昇降自在な複数のリフトピンを設けて、このリフトピンに対して基板Wの授受を行うようにしてもよい。
【0090】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の基板搬送装置は、基板を一対の支持部材によって支持して搬送するようにしながらも、間隔可変手段を設けて支持部材の間隔を変更できるようにしたので、共通の装置でサイズの異なる複数種類の基板の搬送を行うことができ、また、基板のサイズや材質等に応じて支持部材の間隔を調整することで、基板の最適な場所を支持して搬送することができ、搬送途中において、基板が割れることを防止することができる。さらに、基板搬送装置が待機位置にあるときに、一対の支持部材同士の間隔を小さくすることによって、待機位置における基板搬送装置の占有スペースを小さくすることができ基板搬送装置をコンパクトにすることができる。
【0091】
特に、基板よりも小さい支持部によって基板をその下方から保持する基板保持手段に対して基板を授受するような場合には、前記支持部材と基板保持手段とを上下方向に相対的に変位させる変位手段をさらに設けるのが好ましい。このようにすれば、基板保持手段と支持部材との間での基板の受渡しを簡単な動作で行わせることができる。
【0092】
また、四角形の基板の対向する2辺に沿って基板を支持するように支持部材を構成すれば、四角形の基板を確実に支持して搬送することができる。
【0093】
さらに、基板保持手段が吸着面を介して基板を吸着保持する場合には、基板保持手段に保持されている基板を取上げる際に、支持部材の間隔を基板の間隔よりも大きくした状態で両支持部材を基板の下方に配置した後、各支持部材を基板保持手段に対して相対的に上方に移動させながら支持部材の間隔を漸減させることにより、前記支持部材により基板を支持するとともにその支持位置を基板の周縁部から中心部分に向かって変位させるように前記支持部材、間隔可変手段及び変位手段を構成するようにすれば、撓みによる基板の損傷等を招くことなく、吸着面から適切に基板を剥ぎ取って搬送することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る基板搬送装置の第1の実施の形態を示す斜視図である。
【図2】可動部材の構成を説明する図1のA矢視概略図である。
【図3】(a)〜(d)は、基板搬送装置による搬送動作を説明する模式図である。
【図4】本発明に係る基板搬送装置の第2の実施の形態を示す斜視図である。
【図5】(a)〜(d)は、基板搬送装置による搬送動作を説明する模式図である。
【図6】補助支持機構の一例を示す断面略図である。
【図7】本発明に係る基板搬送装置の第3の実施の形態を示す斜視図である。
【図8】(a)〜(d)は、基板搬送装置による搬送動作を説明する模式図である。
【図9】アームに装着される支持体を示す概略図である。
【図10】アームに装着される支持体の変形例を示す概略図である。
【図11】アームに装着される支持体の変形例を示す概略図である。
【図12】本発明に係る基板搬送装置の第4の実施の形態を示す斜視図である。
【図13】(a)〜(e)は、基板搬送装置による搬送動作を説明する模式図である。
【図14】(a)〜(c)は、支持体を移動可能に設けることの利点を説明する模式図である。
【図15】従来の基板処理装置を示す平面模式図である。
【符号の説明】
1,2,3,4 基板搬送装置
12 ガイド板
13 固定レール
14 ボールねじ軸
16 可動部材
20 フレーム
22 アーム
36 可動ブロック
37 ナット部分
38 固定レール
40 サーボモータ
W 基板

Claims (5)

  1. 複数の処理部が並ぶ基板処理装置の前記処理部の間でこれらの配列方向に基板を水平に支持して搬送する基板搬送装置において、基板を支持する一対の支持部材と、これら支持部材の間隔を変更する間隔可変手段と、一対の支持部材を一体に移動させる移動手段とを備え、この移動手段は、基板搬送時以外のときは、隣設される処理部の間に設けられる待機位置に前記一対の支持部材を配置し、前記間隔可変手段は、基板搬送時に前記一対の支持部材を基板搬送可能な所定の離間位置にセットする一方、前記一対の支持部材が前記待機位置に配置されるときにはこれら支持部材を前記離間位置よりも接近した接近位置にセットすることを特徴とする基板搬送装置。
  2. 基板よりも小さい支持部によって基板をその下方から保持する基板保持手段に対して基板を授受する装置であって、前記支持部材と前記基板保持手段とを上下方向に相対的に変位させる変位手段をさらに備えていることを特徴とする請求項1記載の基板搬送装置。
  3. 四角形の基板を搬送するものであって、前記支持部材は、基板の対向する2辺に沿って基板を支持するように構成されていることを特徴とする請求項1又は2記載の基板搬送装置。
  4. 基板を支持する支持部を具備した支持爪が前記一対の支持部材にそれぞれ設けられ、この支持爪は、両支持部材の間に前記支持部を介在させて基板を支持する支持位置と、両支持部材の間から前記支持部を外側に退避させる退避位置とに変位可能に構成されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の基板搬送装置。
  5. 前記基板保持手段は、前記支持部として基板を吸着保持する吸着面を有するものであって、上記支持部材、間隔可変手段及び変位手段は、基板保持手段に保持されている基板を取上げる際に、支持部材の間隔を基板の間隔よりも大きくした状態で一対の支持部材を基板の下方に配置した後、一対の支持部材を基板保持手段に対して相対的に上方に移動させながら支持部材同士の間隔を漸減させることにより、前記支持部材により基板を支持するとともにその支持位置を基板の周縁部から中心部分に向かって変位させるように構成されていることを特徴とする請求項2乃至4のいずれかに記載の基板搬送装置。
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Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3756402B2 (ja) * 2000-12-08 2006-03-15 富士写真フイルム株式会社 基板搬送装置及び方法
JP2002217274A (ja) * 2001-01-18 2002-08-02 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置の作製方法
KR100860522B1 (ko) * 2002-03-23 2008-09-26 엘지디스플레이 주식회사 액정 패널의 이송장치
JP4043029B2 (ja) * 2003-02-18 2008-02-06 東京エレクトロン株式会社 基板搬送装置及び基板処理装置
KR101033121B1 (ko) * 2004-06-07 2011-05-11 엘지디스플레이 주식회사 로봇암을 포함하는 기판이송장치 및 그것을 이용한 기판이송방법
KR100780718B1 (ko) 2004-12-28 2007-12-26 엘지.필립스 엘시디 주식회사 도포액 공급장치를 구비한 슬릿코터
KR100700181B1 (ko) 2004-12-31 2007-03-27 엘지.필립스 엘시디 주식회사 노즐대기부를 구비한 슬릿코터 및 이를 이용한 코팅방법
KR100675643B1 (ko) 2004-12-31 2007-02-02 엘지.필립스 엘시디 주식회사 슬릿코터
KR100719689B1 (ko) * 2005-07-28 2007-05-17 삼성에스디아이 주식회사 평판 표시장치 제조용 엔드 이펙터
KR100857060B1 (ko) * 2007-04-23 2008-09-05 주식회사 디엠에스 기판 이송용 무빙 유닛
JP5261085B2 (ja) * 2008-09-05 2013-08-14 東京エレクトロン株式会社 基板載置機構、基板処理装置、基板載置機構の制御方法及び記憶媒体
JP5305948B2 (ja) * 2009-01-27 2013-10-02 芝浦メカトロニクス株式会社 基板処理装置
KR101105416B1 (ko) * 2009-07-23 2012-01-17 주식회사 디엠에스 기판 처리 장치
JP2011131229A (ja) * 2009-12-24 2011-07-07 Hitachi High-Technologies Corp レーザ加工方法及びレーザ加工装置並びにソーラパネル製造方法
KR101188257B1 (ko) 2010-01-29 2012-10-15 주식회사 테라세미콘 기판 이송용 암 및 이를 이용한 기판 로딩 및 언로딩 방법
JP2011222719A (ja) * 2010-04-08 2011-11-04 Disco Abrasive Syst Ltd 切削加工装置
CN102437077A (zh) * 2011-10-19 2012-05-02 东莞宏威数码机械有限公司 Oled基片线性传输设备
JP6050630B2 (ja) * 2012-07-27 2016-12-21 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置および基板処理システム

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3083366B2 (ja) * 1991-09-18 2000-09-04 アピックヤマダ株式会社 リードフレームの搬送装置
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