JP3706367B2 - 共焦点レーザー走査顕微鏡の性能を評価するための基準デバイス、およびその評価を行うための方法およびシステム - Google Patents
共焦点レーザー走査顕微鏡の性能を評価するための基準デバイス、およびその評価を行うための方法およびシステム Download PDFInfo
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Description
(発明の分野)
本発明は、第1のガラス基板の平面上に分布した試験物質、特にDNA結合アレイ等、例えば米国特許第5143854号に記載されているタイプのDNA結合アレイの2次元定量的蛍光測定を行うために使用される種類の共焦点レーザー走査顕微鏡の性能を評価するための基準デバイスに関する。
【0002】
本発明はまた、上述した種類の共焦点レーザー走査顕微鏡の性能を評価するための方法に関する。
【0003】
本発明は、より詳細には、定量的信号検出感度と、検出限界と、走査視野にわたっての共焦点容積の均一性と、走査プロセスの空間分解能と、走査視野にわたって受光される蛍光すなわち測定信号の動的挙動とに関して、上述した種類の共焦点レーザー走査顕微鏡の特徴付けを可能にする評価方法に関する。
【0004】
本発明はさらに、基板の平面上に分布した試験物質の2次元定量的蛍光測定を行うために使用するのに適した共焦点レーザー走査顕微鏡の性能を評価するためのシステムに関する。
【0005】
(背景)
2次元定量的蛍光測定用の共焦点レーザー走査顕微鏡の原理が図1および図2に例示されている。図1は、レーザー・ビーム11と、ダイクロイック・ビーム・スプリッタ12と、2つの直交方向(X−Y)に空間ビームを偏向するための2次元走査エンジン13と、対象面15内にレーザー・ビームを合焦(すなわち焦点合わせ)するためのレンズ14とを使用して蛍光励起する、2D飛点共焦点レーザー走査顕微鏡の光学セットアップを示す。対象面15内の蛍光分子を励起することによって、励起レーザー11よりも長い波長の蛍光が発生する。
【0006】
走査領域の対象面15内に位置する蛍光体によって放出された蛍光は、レンズ14によって収集され、次いで、走査エンジン13およびダイクロイック・ビーム・スプリッタ12によって蛍光ビーム17として伝送され、蛍光ビーム17は、光検出デバイス22の前にある共役面21のピンホール・アパーチャ19内に、レンズ18によって合焦される。
【0007】
バックグラウンド放射線からの概して弱い蛍光信号を識別するために現在使用されている共焦点イメージングの概念が、図2に例示される。共焦点容積Vc内部からの光放射線、すなわち蛍光信号のみが、光検出器22によって検出される。Vcは、検出光学系の光伝達関数(OTFem)と、共役面21にある検出器ピンホール19のサイズとによって定義される。より高いバックグラウンド抑制率が、より小さい共焦点容積Vcをもたらす。
【0008】
走査視野のサイズは通常、20×20平方ミリメートル程度である。共焦点容積は通常、Vc=5×5×50立方マイクロメートル程度であり、ここで、Ac=5×5平方マイクロメートルおよびzc=50マイクロメートルが、それぞれほぼ合焦レーザー・ビームのスポット・サイズおよびレイリー範囲となる。視野内でレーザー・ビーム11を走査するための走査エンジン13の画素サイズは通常、1〜20マイクロメートルである。
【0009】
DNA結合アレイ、例えば米国特許第5143854号に記載されるタイプのDNA結合アレイは、一般にフィーチャと呼ばれる、隣接セル内に細分化された化学システムを担持するガラス・チップからなる。フィーチャは、特定のプローブによって特徴付けられる。特定の核酸配列が、プローブによって不動化(捕捉)され、蛍光色素でラベル付けされる。個々のフィーチャ上にある捕捉された核酸の量が、フィーチャの順次画素読取り(走査)によって定量的蛍光測定を用いて検出される(所与の波長の光エネルギーによって励起されたときに蛍光色素が光を放出する)。フィーチャは、走査処置によって空間的にオーバーサンプルされて(すなわち、画素の数>フィーチャの数)、数的データ解析によってガラス・チップが正確に空間参照され、物理的に測定される光強度の平均を取ることによってフィーチャ信号品質が高まる。典型的な画素サイズは1〜20マイクロメートル程度である。
【0010】
共焦点レーザー走査顕微鏡では、共焦点容積の断面Acに対する走査視野の比が通常高く、すなわち「走査視野」/「共焦点容積の断面Ac」>>1であり、これはx−y位置依存光伝達関数OTF(x,y)=OTFex*OTFemを容易に導く。ここで、OTFexとOTFemは、それぞれ励起および放出光学系の光伝達関数である。x−y位置依存は主に、例えば走査に使用される走査エンジン等の光学構成要素および光学機械構成要素の機械的位置合わせ不良および不完全性によるものである。これは、図3a、図3b、および図3cに概略的に示されるように、走査視野にわたって不均質な感度をもたらし、それにより異常な定量的蛍光測定が生じる。一例として、図4は、DNA結合アレイ、例えば米国特許第5143854号に記載されているタイプの走査イメージを概略的に示しており、このアレイはチェスボード・パターンを有している。図4に関連して本明細書で以後説明するように、走査イメージは、走査される対象の不均質な蛍光体密度、または走査視野にわたっての共焦点レーザー走査顕微鏡の不均質な感度により、右上コーナで、より低い信号レベルを有してる。
【0011】
したがって、上述したタイプの共焦点レーザー走査顕微鏡の走査視野全面の感度の信頼可能な定量的測定および評価が求められている。
【0012】
適切な参照基準ターゲット体の利用が、図4で観察される不均一性に対する器具の寄与と走査対象(例えば米国特許第5143854号に記載されているタイプのDNA結合アレイ)の寄与との区別を可能にする。しかし、共焦点レーザー走査顕微鏡の重要な性能、すなわち感度、検出限界、走査視野にわたっての均一性、空間分解能、および信号動的挙動を特徴付けるための参照蛍光ターゲット体はまだ報告されていない。
【0013】
したがって、図4に表されるタイプの不均一性に対する器具の寄与と走査対象の寄与とを区別できるようにする適切な参照基準ターゲット体が求められている。
【0014】
(発明の概要)
したがって、本発明の狙いは、2次元定量的蛍光測定を行うための共焦点レーザー走査顕微鏡の性能を定量的に評価することができるようにする、上述した種類の基準デバイス、方法、およびシステムを提供することである。
【0015】
本発明の第1の態様によれば、この狙いは、請求項1によって定義される特徴を備える基準デバイスを用いて達成される。
【0016】
本発明の第2の態様によれば、上述した狙いは、請求項4によって定義される方法を用いて達成される。
【0017】
本発明の第3の態様によれば、上述した狙いは、請求項6によって定義されるシステムを用いて達成される。
【0018】
本発明による基準デバイス、方法、およびシステムを用いて達成される主な利点は、上述した種類のDNA結合アレイを走査するための共焦点レーザー顕微鏡の性能の、定量的で非常に正確な評価を可能にすること、およびこの評価が、そのような顕微鏡を用いて(例えば)解析すべき試料DNA結合アレイを走査することによって得られる測定結果を定量的に評価できるようにすることである。この文脈では、本発明に従って実施される評価が以下の特性の測定を含むことに留意することが重要である。
a)定量的信号検出感度
b)定量的信号検出限界
c)走査視野にわたっての共焦点容積の均一性
d)走査プロセスの空間分解能、および
e)受け取り蛍光に対応する測定信号の、走査視野にわたっての動的挙動
【0019】
本発明の好ましい実施形態を、添付図面に関して本明細書で以後説明する。
【0020】
(発明の詳細な説明)
次に、本発明を、本発明の好ましい実施形態に関して説明する。これらの実施形態は、本発明の理解を助けるために記載するものであり、限定するものと解釈すべきでない。
【0021】
図1に、2次元飛点の場合の2次元定量的蛍光測定用共焦点レーザー走査顕微鏡の基本的なセットアップを概略的に示す。ダイクロイック・ビーム・スプリッタ12を通して伝送される励起レーザー・ビーム11が、互いに垂直な2軸X、Yで2軸走査エンジン13、例えばガルバノスキャナによって空間的に走査され、レンズ14によって対象面15に合焦される。この対象面15は、軸XおよびYによって定義されるX−Y平面に平行であり、X−Y平面に垂直な第3の軸Zに垂直である。
【0022】
対象面15における共焦点容積Vc内部の蛍光体が、合焦レーザー・スポット16によって励起され、それら蛍光体の励起によって発生される蛍光17は、共役面21にある検出器ピンホール19内にレンズ18によって収集され、結像され、光検出器22によって検出される。
【0023】
図2に、対象面15における共焦点容積Vc(Vc=Ac*zc)を概略的に示す。共焦点容積Vcは、理想的には、Z軸に平行な回転軸と円形断面とを有する円柱形ボリュームである。共焦点容積Vcは、検出光学系の光伝達関数(OTFem)と、共役面21にある検出器ピンホール19のサイズおよび形状とによって定義される。共焦点容積Vc内部からの光放射のみが光検出器22によって検出される。共焦イメージングの概念は、一般に蛍光測定の場合と同様に、弱い信号レベルを検出するためにバックグラウンド抑制率を高くすることができる。
【0024】
図3a、図3b、および図3cに、走査される共焦点容積Vcの様々な形の不均一性、すなわち図2に表される理想的な形状からの容積形状のずれを平面Y−Zで概略的に示す。このずれは、走査領域にわたって測定される蛍光強度信号の振幅の不均質性をもたらす。
【0025】
図3aに、理想的すなわち公称の共焦点容積23に対して傾いている走査共焦点容積24を示す。図3bは、幅が一定でなく、したがって公称共焦点容積23に比べて不均一な走査共焦点容積25を示す。図3cは、公称共焦点容積23に関して歪曲した形状を有する走査共焦点容積26を示す。
【0026】
使用される光学構成要素および光学機械構成要素の機械的位置合わせ不良および不完全性が、図3a、図3b、および図3cで表される共焦点容積の不均一性の主な理由である。
【0027】
図4に、米国特許第5143854号に記載されるタイプのDNA結合アレイ31の走査イメージの概略図を示す。アレイ31は、励起光を照射されたときに蛍光を放出するようになっている蛍光点32のチェスボード・アレイを有する。以下の説明のために、アレイ31の2つの区域、すなわち対角線34からアレイ31の右上コーナに広がる第1の区域33と、対角線34からアレイ31の左下コーナに広がる第2の区域35とを区別すると簡便である。走査対象内の不均質な蛍光体密度、または走査視野下における共焦点レーザー走査顕微鏡の不均質な感度により、図4によって表されるイメージは、アレイ31の区域33内に位置する蛍光点32が、区域35内に位置する蛍光点32よりも低い強度の蛍光を提供することを示している。本発明による基準デバイス、方法、およびシステムの目的は、検出される蛍光の強度のそのようなばらつきが、どの程度まで、特に走査視野にわたっての共焦点レーザー走査顕微鏡の不均質感度によるものであるかを定量的に評価することである。
【0028】
図5aは、2次元定量的蛍光測定用共焦点レーザー走査顕微鏡の均質性および感度を定量的に特徴付けるための本発明による基準デバイス41の第1の実施形態の上面図を示し、図5bはその断面図を示す。図5aおよび図5bでは、寸法がミリメートル単位で示されている。
【0029】
図5aおよび図5bによって示される基準デバイス41は、ガラス基板43上に接合された上部ガラス・プレート42からなる。16×16平方ミリメートルのガラス基板(厚さ=1ミリメートル)が、5マイクロメートルだけエッチングされた平坦キャビティ44(斜線領域)を有する。ガラス上部プレート42(厚さ=0.7ミリメートル)は、それぞれ流体入口および出口用の2つのドリル穴45および46を有する。別の取り得る実施形態では、ドリル穴45および46を有していない上部ガラス・プレート42が、ガラス基板43上に接合されていなくてもよい。
【0030】
ガラス基板43は、例えば、図4を参照して上述したDNA結合アレイ31の基板と同一の寸法、および好ましくは同じ光学性質を有する。
【0031】
基準デバイスのキャビティ44は、走査領域にわたって蛍光体の所定の空間分布をもたらす所定の濃度とされた溶解蛍光体で満たされている。蛍光体は均一に溶解されるので、この空間分布は、キャビティ44の構造によって決定され、溶解蛍光体自体によっては決定されない。図5aおよび図5bを参照して説明する例では、キャビティ44が平坦であり、したがって、蛍光体の空間分布がキャビティ44の領域全体にわたって均一なものになる。
【0032】
図5aおよび図5bによって示される基準デバイス41のガラス・カバー42は、図4を参照して上述したタイプの所与のDNA結合アレイのガラス基板と同一の寸法および光学性質を有している。したがって、基準デバイス41は、同じ光学条件下で共焦点レーザー走査顕微鏡によって走査することができる。よく定義されたキャビティ・サイズと、走査領域にわたって所定の空間分布を有する制御された蛍光体の濃度とが、走査視野にわたる感度(検出限界)および均質性に関する測定信号の検査を可能にする。上述したように、溶解蛍光体の空間分布は、キャビティ44の構造によって決定され、均一に溶解された蛍光体自体によっては決定されない。
【0033】
溶解蛍光体の溶液の使用は、蛍光測定を行う直前に調製が可能であるという利点を有する。したがって、溶解蛍光体の液体を充填たされたこの基準デバイスは、通常であれば比較的長時間貯蔵されると生じる可能性があるブリーチング効果の影響を受けない。このブリーチング効果は、走査視野にわたって基準デバイスの蛍光の非定量的能力をもたらす可能性がある。さらに、様々な濃度の溶解蛍光体を有する様々な溶液を簡単に調製することができ、様々な強度レベルでの蛍光測定を可能にする。特に、検出可能な強度レベルの限界を求めることができる。
【0034】
キャビティ44の高さは、レイリー範囲zcによって与えられる共焦点容積Vcの深さよりもはるかに小さく、そのためキャビティ44内の蛍光体の薄い平坦層は、基準デバイス41が走査視野全体にわたって走査されているときに、例えば(走査視野に垂直な)Z方向における共焦点容積Vcの起こり得る位置ずれについての信頼できる評価をもたらす。
【0035】
一例として、図6は、図5aおよび図5bによって示される基準デバイスを用いて得られる走査イメージのうちの列1024の588の信号プロフィルを示す。ここで、デバイスのキャビティ44は、その広がり全体にわたって一定の厚さを有し、200mg/mlフルオレセインTRIS溶液(水成0.1モルTRIS緩衝液pH8.3中のフルオレセイン)で満たされている。列1024の588のライン・プロフィルに関して図6に示されるように、共焦点レーザー走査顕微鏡の感度および均一性に関してイメージを解析することができる(視野=10×10平方ミリメートル、画素サイズ=10マイクロメートル、走査の分解能は1024×1024画素、走査時間は126秒、使用されるトランスインピーダンス増幅器の検出感度は10マイクロアンペア/ボルト、トランスインピーダンス増幅器と共に使用される低域フィルタのカットオフまたは6dB周波数は30kHzであり、積分間隔tdwellは40マイクロ秒の持続時間を有する)。図6から理解することができるように、いくつかのノイズ信号が、得られたライン・プロフィル上に重畳されている。図6では、信号強度が任意の単位で示されている。
【0036】
例えば走査イメージ全体にわたって信号強度の平均を取ることによって与えられる所定の値からの各画素の信号強度のずれが、共焦点レーザー走査顕微鏡の性能に関する定量的パラメータを与える。
【0037】
他の応用例として、信号強度レベルを較正することができる。領域当たりの蛍光体の数は、溶解された蛍光体の濃度から評価することができる。したがって、測定される信号強度、および測定感度は、領域当たりの蛍光体の数に定量的に関連付けられる。
【0038】
図7aは、共焦点レーザー走査顕微鏡の均質性および空間分解能の定量的評価に関する本発明による基準デバイスの第2の実施形態の上面図を示し、図7bはその断面図を示す。
【0039】
図7aでは、マイクロメートル単位でのいくつかの寸法が示されている。図7bでは、ミリメートル単位でのいくつかの寸法が示されている。
【0040】
図7aおよび図7bに示される基準デバイス51は、16×16平方ミリメートルの領域を有するガラス基板53上にある上部ガラス・プレート52からなる。ガラス基板53(厚さ=1ミリメートル)の上面は、底部内面を有するキャビティ54を形成する5マイクロメートル・エッチング・マイクロ構造凹部を有する。キャビティ54は、所定の濃度を有する均一に溶解された蛍光体を充填され、これはキャビティ54の領域にわたって蛍光区域の所定の空間分布をもたらす。この空間分布は、均一に溶解された蛍光体自体によってではなくキャビティ54の構造によって決定される。キャビティ54は、下側外面を有するガラス上部プレート52によってカバーされる。プレート52の下側外面と凹部54の底部内面との間に設けられた空間は、凹部54の領域全体にわたって、式D=f(x,y)の所定の関数に従って変化する厚さDを有する。この空間は、溶解された蛍光体で少なくとも部分的に満たされている。
【0041】
ガラス基板53は、例えば、図4を参照して上述したDNA結合アレイ31の基板と同一の寸法、および好ましくは同じ光学性質を有する。
【0042】
基準デバイス51のガラス・カバー52は、図4を参照して上述した種類の所与のDNA結合アレイ31のガラス基板と同一の光学性質を有する。したがって、基準デバイス51を、同じ光学条件下で共焦点レーザー走査顕微鏡によって走査することができる。
【0043】
マイクロ構造キャビティ54は、様々なパターンの蛍光区域を備える。図7aでは、各非蛍光区域が、影付き面によって表されている。
【0044】
蛍光区域の第1のパターンは、影付き正方形によって図7にそれぞれ表されているただ2つの非蛍光区域を備える。図7aでは、この第1のパターンを有する蛍光区域が、基準デバイス51の各コーナ区域55、56、57、58に位置する。これらのコーナ区域から放出される蛍光の強度に対応する測定信号を評価して、共焦点レーザー走査顕微鏡を用いて行われる走査の走査視野にわたる均一性の度合を査定する。
【0045】
基準デバイス51の異なる列に位置する区域61および62は、蛍光フィーチャの空間分布の第2のパターンを有する。参照番号61および62等の区域から放出される蛍光に対応する測定信号を評価して、共焦点レーザー走査顕微鏡を用いて行われる走査の分解能を査定する。さらに、区域61および62の寸法がわかっているので、走査エンジンによって行われる走査ステップの精度を査定することができる。図7aに示されるように、区域61および62は細分化されており、それによりキャビティは、溶解された蛍光体によって充填される1つの接続されたリザーバを形成する。
【0046】
異なる傾斜角を有するバーのグループの外観を有する区域63、64が、基準デバイス51で利用可能な蛍光フィーチャの第3のパターンを表す。区域63等の区域から放出される蛍光に対応する測定信号を評価して、共焦点レーザー走査顕微鏡を用いて行われる走査に関連する動的信号挙動を査定する。
【0047】
本発明は、上述し、それぞれ図5a、図5bおよび図7a、図7bに示される、2次元定量的蛍光測定用共焦点レーザー走査顕微鏡の定量的評価のために使用される基準デバイスに関する。本発明による基準デバイス、当該の方法で決定される典型的な特性は、
a)定量的信号検出感度
b)定量的信号検出限界
c)走査視野にわたっての共焦点容積の均一性
d)走査プロセスの空間分解能
e)走査視野にわたっての、受け取られた蛍光に対応する測定信号の動的挙動である。
【0048】
共焦点レーザー走査顕微鏡の性能を評価するための本発明の上述の使用は、実質的に、
評価する顕微鏡を用いて本発明による基準デバイスを走査し、第1のセットの測定値を得るステップ、
前記第1のセットの測定値を処理して、補正因子を得るステップ、
前記補正因子を記憶するステップ、
評価された顕微鏡を用いて試料、例えばDNA結合アレイを走査して、第2のセットの測定値を得るステップ、および
前記補正因子を用いて前記第2のセットの測定値を補正して、スキャナの性能によるずれがなく、したがって検査される特定の試料の特徴に、より正確に対応した第3のセットの値を得るステップ
を含む。
【0049】
本発明の好ましい実施形態を特定の用語を用いて上述してきたが、そのような説明は例示目的にすぎず、本特許出願の特許請求の範囲の精神または範囲を逸脱することなく変更および変形を加えることができることを理解されたい。
【0050】
(参照番号のリスト)
11 励起レーザー・ビーム
12 ダイクロイック・ビーム・スプリッタ
13 2軸走査エンジン
14、18 レンズ
15 対象面
16 合焦レーザー・スポット
17 蛍光
19 検出器ピンホール
21 共役面
22 光検出器
23 公称共焦点容積(面z−yでの断面)
24、25、26 走査共焦点容積(面z−yでの断面)
31 DNA結合アレイ(対象面に位置する)
32 蛍光点または蛍光フィーチャ
33、35 区域
34 対角線
41 基準デバイスの第1の実施形態
42、52 上部プレート
43、53 底部プレート
44、54 キャビティ
45、46 穴
51 基準デバイスの第2の実施形態
55、56、57、58 蛍光フィーチャの第1のパターンを有する区域
61、62 蛍光フィーチャの第2のパターンを有する区域
63、64 蛍光フィーチャの第3のパターンを有する区域
【図面の簡単な説明】
【図1】 2次元定量的蛍光測定を行うための共焦点レーザー走査顕微鏡の基本セットアップの概略図である。
【図2】 対象面における共焦点容積Vcを概略的に示す図である。
【図3a】 走査視野にわたっての走査共焦点容積の様々な形の不均一性を概略的に示す図の1つである。
【図3b】 走査視野にわたっての走査共焦点容積の様々な形の不均一性を概略的に示す図の1つである。
【図3c】 走査視野にわたっての走査共焦点容積の様々な形の不均一性を概略的に示す図の1つである。
【図4】 DNA結合アレイの走査イメージの概略図である。
【図5a】 本発明による基準デバイスの第1の実施形態の上面図である。
【図5b】 図5aによって示される実施形態の平面A−Aを介する断面図である。
【図6】 図5aおよび図5bに表されるアレイの列に位置する蛍光区域によって放出される蛍光を測定することによって得られる典型的な電気信号の形状を示す図である。
【図7a】 本発明による基準デバイスの第2の実施形態の上面図である。
【図7b】 図7aによって示される実施形態の断面図である。
Claims (9)
- 共焦点レーザー走査顕微鏡の性能を評価するための基準デバイスであって、
(a)基板(43、53)と、
(b)前記基板(43、53)の表面にわたって分布する基準蛍光物質であって、前記基板の表面にわたって所定の空間分布を有し、且つ所定の濃度で液体中に溶解されている基準蛍光物質と
を有する基準デバイス。 - 前記基準蛍光物質が、前記基板の前記表面にわたって一定の厚さを有することを特徴とする請求項1に記載の基準デバイス。
- 前記基準蛍光物質が、共焦点レーザー走査顕微鏡の共焦点容積(Vc)の深さ(zc)よりも小さい厚さを有することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の基準デバイス。
- 前記基準蛍光物質が、前記基板の前記表面にわたって均一に分布されており、且つ所定の濃度を有している請求項1に記載の基準デバイス。
- (a)上面に凹部(54)を有するベース・プレート(43、53)であって、前記凹部が一定の厚さを有し、且つ前記上面の大部分にわたって延在し、また前記凹部(54)の底部が底部内面を有しているベース・プレート(43、53)と、
(b)光学的に透明であり、前記ベース・プレートの前記凹部を覆うカバー・プレート(42、52)であって、該カバー・プレート(42、52)が下側外面を有しており、該下側外面と、前記ベース・プレートの凹部の前記底部内面との間に設けられた空間が、前記凹部(54)の領域全体にわたって一定の厚さを有しているカバー・プレート(42、52)と、
(c)各区域の厚さ全体にわたって延在する前記基準蛍光物質で完全に満たされた前記空間内部の1つまたは複数の区域と
を有することを特徴とする請求項1に記載の基準デバイス。 - 第1の基板(31)の平面上に分布する試験物質の2次元定量的蛍光測定を行うために使用される種類の共焦点レーザー走査顕微鏡の性能を評価するための方法であって、
前記顕微鏡を用いて基準デバイスの2次元定量的蛍光測定を行うステップを含む性能評価方法において、前記基準デバイスが、
(a)第2の基板(43、53)と、
(b)前記第2の基板(43、53)の表面にわたって分布する基準蛍光物質であって、前記基板表面にわたって所定の空間分布を有し、且つ所定の濃度で液体中に溶解されている基準蛍光物質とを有している、共焦点レーザー走査顕微鏡の性能評価方法。 - 第1の基板(31)の平面上に分布する試験物質の2次元定量的蛍光測定を行うために使用される種類の共焦点レーザー走査顕微鏡の性能を評価するための方法であって、
前記顕微鏡を用いて基準デバイスの2次元定量的蛍光測定を行うステップを含む性能評価方法において、前記基準デバイスが、
(a)上面に凹部(54)を有するベース・プレート(43、53)であって、前記凹部が一定の厚さを有し、且つ前記上面の大部分にわたって延在し、また前記凹部(54)の底部が底部内面を有しているベース・プレート(43、53)と、
(b)光学的に透明であり、前記ベース・プレートの前記凹部を覆うカバー・プレート(42、52)であって、該カバー・プレート(42、52)が下側外面を有しており、該下側外面と、前記ベース・プレートの凹部の前記底部内面との間に設けられた空間が、前記凹部(54)の領域全体にわたって一定の厚さを有しているカバー・プレート(42、52)と、
(c)各区域の厚さ全体にわたって延在する前記基準蛍光物質で完全に充填された前記空間内部の1つまたは複数の区域であって、前記基準蛍光物質が所定の濃度で液体中に溶 解されている1つまたは複数の区域とを有している、共焦点レーザー走査顕微鏡の性能評価方法。 - 前記第1の基板が、DNA結合アレイ等の一部である請求項6または請求項7に記載の方法。
- 基板の平面上に分布する試験物質の2次元定量的蛍光測定を行うために使用されるのに適した共焦点レーザー走査顕微鏡の性能を評価するためのシステムであって、
共焦点レーザー走査顕微鏡と、
請求項1に記載の基準デバイスと
を有する共焦点レーザー走査顕微鏡の性能評価システム。
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---|---|---|---|---|
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ATE366923T1 (de) * | 2001-03-28 | 2007-08-15 | Clondiag Chip Tech Gmbh | Vorrichtung zur referenzierung von fluoreszenzsignalen |
US20050030601A1 (en) * | 2003-06-12 | 2005-02-10 | Affymetrix, Inc. | System and method for scanner instrument calibration using a calibration standard |
DE102005049364B4 (de) * | 2005-03-18 | 2023-05-25 | BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung | Multifunktionelle Kalibriereinrichtung und Kit sowie ihre Verwendungen zur Charakterisierung von Lumineszenzmesssystemen |
CH708797B1 (de) * | 2007-08-17 | 2015-05-15 | Tecan Trading Ag | Probenteil-Magazin für eine Objektträger-Transportvorrichtung eines Laser Scanner-Geräts. |
DE102008007178A1 (de) | 2008-01-30 | 2009-08-06 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Kalibriervorrichtung und Laser-Scanning-Mikroskop mit einer derartigen Kalibriervorrichtung |
TWI421720B (zh) * | 2010-09-29 | 2014-01-01 | Univ Nat Sun Yat Sen | 電磁攪拌器效能評估裝置及其效能評估方法 |
US9864190B2 (en) * | 2011-02-24 | 2018-01-09 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Confocal microscope, system and method therefor |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5663242A (en) * | 1979-10-30 | 1981-05-29 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Standard sample for moisture meter by infrared ray |
US4302678A (en) * | 1980-01-25 | 1981-11-24 | Magnaflux Corporation | Fluorescent standard for scanning devices |
DE3148912A1 (de) * | 1981-12-10 | 1983-06-23 | Wolfgang Dr. 6301 Pohlheim Oberheim | Quecksilbervergleichsstandard |
US4662745A (en) * | 1986-02-05 | 1987-05-05 | Atlantic Richfield Company | Reflectance and luminescence calibration plate having a near-Lambertian surface and method for making the same |
US5143854A (en) | 1989-06-07 | 1992-09-01 | Affymax Technologies N.V. | Large scale photolithographic solid phase synthesis of polypeptides and receptor binding screening thereof |
JPH06100545B2 (ja) | 1991-01-31 | 1994-12-12 | 株式会社島津製作所 | フライングスポット方式による蛍光イメージデンシトメータ |
JP2575270B2 (ja) * | 1992-11-10 | 1997-01-22 | 浜松ホトニクス株式会社 | 核酸の塩基配列決定方法、単一分子検出方法、その装置及び試料の作成方法 |
US5414258A (en) * | 1993-11-22 | 1995-05-09 | Angstrom Technologies, Inc. | Apparatus and method for calibration of fluorescence detectors |
CA2198853A1 (en) * | 1994-09-02 | 1996-03-14 | Biometric Imaging, Inc. | Calibration method and apparatus for optical scanner |
US5581631A (en) * | 1994-09-20 | 1996-12-03 | Neopath, Inc. | Cytological system image collection integrity checking apparatus |
US6635226B1 (en) * | 1994-10-19 | 2003-10-21 | Agilent Technologies, Inc. | Microanalytical device and use thereof for conducting chemical processes |
JP3720458B2 (ja) * | 1996-06-19 | 2005-11-30 | オリンパス株式会社 | 分析装置 |
JPH10153529A (ja) * | 1996-11-22 | 1998-06-09 | Bunshi Baiohotonikusu Kenkyusho:Kk | 蛍光標準試料 |
DE59705009D1 (de) * | 1996-12-23 | 2001-11-22 | Univ Ruprecht Karls Heidelberg | Verfahren und vorrichtungen zur distanzmessung zwischen objektstrukturen |
US5838435A (en) * | 1997-10-20 | 1998-11-17 | Sandia Corporation | Calibration method for spectroscopic systems |
WO1999042885A2 (de) * | 1998-02-20 | 1999-08-26 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Anordnung zum kalibrieren eines laserscanmikroskops |
JPH11258512A (ja) | 1998-03-12 | 1999-09-24 | Nikon Corp | 蛍光顕微鏡 |
US6472671B1 (en) * | 2000-02-09 | 2002-10-29 | Jean I. Montagu | Quantified fluorescence microscopy |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014141516A1 (ja) * | 2013-03-13 | 2014-09-18 | オリンパス株式会社 | 光分析装置の評価方法およびファントムサンプル |
JPWO2014141516A1 (ja) * | 2013-03-13 | 2017-02-16 | オリンパス株式会社 | 光分析装置の評価方法およびファントムサンプル |
US9797839B2 (en) | 2013-03-13 | 2017-10-24 | Olympus Corporation | System for applying phantom sample to evaluate optical analysis device, storage device storing instructions, method and phantom sample |
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