ATE373228T1 - Eichvorrichtung zur auswertung der leistungsfähigkeit eines konfokalen laser- rastermikroskops sowie verfahren und system zur durchführung der auswertung - Google Patents

Eichvorrichtung zur auswertung der leistungsfähigkeit eines konfokalen laser- rastermikroskops sowie verfahren und system zur durchführung der auswertung

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ATE373228T1
ATE373228T1 AT01947341T AT01947341T ATE373228T1 AT E373228 T1 ATE373228 T1 AT E373228T1 AT 01947341 T AT01947341 T AT 01947341T AT 01947341 T AT01947341 T AT 01947341T AT E373228 T1 ATE373228 T1 AT E373228T1
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laser scanning
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10100246A1 (de) 2001-01-05 2002-07-11 Leica Microsystems Mikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Mikroskops
DE10100247A1 (de) 2001-01-05 2002-07-11 Leica Microsystems Interferenzmikroskop und Verfahren zum Betrieb eines Interferenzmikroskops
EP1373870B1 (de) * 2001-03-28 2007-07-11 Clondiag Chip Technologies GmbH Vorrichtung zur referenzierung von fluoreszenzsignalen
US20050030601A1 (en) * 2003-06-12 2005-02-10 Affymetrix, Inc. System and method for scanner instrument calibration using a calibration standard
DE102005049364B4 (de) * 2005-03-18 2023-05-25 BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Multifunktionelle Kalibriereinrichtung und Kit sowie ihre Verwendungen zur Charakterisierung von Lumineszenzmesssystemen
CH708797B1 (de) * 2007-08-17 2015-05-15 Tecan Trading Ag Probenteil-Magazin für eine Objektträger-Transportvorrichtung eines Laser Scanner-Geräts.
DE102008007178A1 (de) 2008-01-30 2009-08-06 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Kalibriervorrichtung und Laser-Scanning-Mikroskop mit einer derartigen Kalibriervorrichtung
TWI421720B (zh) * 2010-09-29 2014-01-01 Univ Nat Sun Yat Sen 電磁攪拌器效能評估裝置及其效能評估方法
US9864190B2 (en) * 2011-02-24 2018-01-09 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Confocal microscope, system and method therefor
WO2014141516A1 (ja) * 2013-03-13 2014-09-18 オリンパス株式会社 光分析装置の評価方法およびファントムサンプル

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5663242A (en) * 1979-10-30 1981-05-29 Yokogawa Hokushin Electric Corp Standard sample for moisture meter by infrared ray
US4302678A (en) * 1980-01-25 1981-11-24 Magnaflux Corporation Fluorescent standard for scanning devices
DE3148912A1 (de) * 1981-12-10 1983-06-23 Wolfgang Dr. 6301 Pohlheim Oberheim Quecksilbervergleichsstandard
US4662745A (en) * 1986-02-05 1987-05-05 Atlantic Richfield Company Reflectance and luminescence calibration plate having a near-Lambertian surface and method for making the same
US5143854A (en) * 1989-06-07 1992-09-01 Affymax Technologies N.V. Large scale photolithographic solid phase synthesis of polypeptides and receptor binding screening thereof
JPH06100545B2 (ja) 1991-01-31 1994-12-12 株式会社島津製作所 フライングスポット方式による蛍光イメージデンシトメータ
JP2575270B2 (ja) * 1992-11-10 1997-01-22 浜松ホトニクス株式会社 核酸の塩基配列決定方法、単一分子検出方法、その装置及び試料の作成方法
US5414258A (en) * 1993-11-22 1995-05-09 Angstrom Technologies, Inc. Apparatus and method for calibration of fluorescence detectors
JP3577317B2 (ja) * 1994-09-02 2004-10-13 ビー・ディー・バイオサイエンシーズ・システムズ・アンド・リエイジェンツ・インコーポレイテッド 光学式スキャナの校正方法と装置
US5581631A (en) * 1994-09-20 1996-12-03 Neopath, Inc. Cytological system image collection integrity checking apparatus
US6635226B1 (en) * 1994-10-19 2003-10-21 Agilent Technologies, Inc. Microanalytical device and use thereof for conducting chemical processes
JP3720458B2 (ja) 1996-06-19 2005-11-30 オリンパス株式会社 分析装置
JPH10153529A (ja) * 1996-11-22 1998-06-09 Bunshi Baiohotonikusu Kenkyusho:Kk 蛍光標準試料
DE59705009D1 (de) * 1996-12-23 2001-11-22 Univ Ruprecht Karls Heidelberg Verfahren und vorrichtungen zur distanzmessung zwischen objektstrukturen
US5838435A (en) * 1997-10-20 1998-11-17 Sandia Corporation Calibration method for spectroscopic systems
DE59915024D1 (de) 1998-02-20 2009-06-25 Leica Microsystems Anordnung zum kalibrieren eines laserscanmikroskops
JPH11258512A (ja) 1998-03-12 1999-09-24 Nikon Corp 蛍光顕微鏡
US6472671B1 (en) * 2000-02-09 2002-10-29 Jean I. Montagu Quantified fluorescence microscopy

Also Published As

Publication number Publication date
US7053384B2 (en) 2006-05-30
EP1287339B1 (de) 2007-09-12
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US20040051050A1 (en) 2004-03-18
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CA2409353C (en) 2009-12-29
JP3706367B2 (ja) 2005-10-12

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