JP3519352B2 - Lcd検査システム - Google Patents

Lcd検査システム

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JP3519352B2
JP3519352B2 JP2000276038A JP2000276038A JP3519352B2 JP 3519352 B2 JP3519352 B2 JP 3519352B2 JP 2000276038 A JP2000276038 A JP 2000276038A JP 2000276038 A JP2000276038 A JP 2000276038A JP 3519352 B2 JP3519352 B2 JP 3519352B2
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    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、LCD(液晶ディ
スプレイ)検査システムに係るもので、より詳しくは、
LCDの性能を迅速かつ正確に検査できるように一ライ
ン化させたLCD検査システムに関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、LCDは、透明電極膜を付着さ
せた2枚のガラス板の間に液晶を入れたサンドウィッチ
構造のディスプレイパネルである。前記液晶は流動性を
有する液体と分子が規則的に配列される結晶との中間状
態を持つ物質で、量子の性質をも共に持っている。又、
液晶は細長い棒状の分子構造を持つ有機化合物で、光学
的屈折率と誘導電流率に異方姓を表す。
【0003】液晶は、自己発光型ディスプレイ装置でな
いため、パネルの外面に光源を必要とするが、CRT
(陰極線管)と比べて薄い板形状に構成することができ
るし、フルカラー化できるという理由で実用化が急速度
になされている。
【0004】LCDは、TN型LCD、GH型LCD、
TET LCDの三つのタイプに大別される。
【0005】TN型LCDは、表示型に多く使用されて
いるツイストネマチック(TN)という液晶を使用し、
透明電極膜を付着させた2枚のガラス板の間に入れて構
成され、ガラス表面にはラビングという特殊処理を施し
て製造する。
【0006】GH型LCDは、TN型液晶ベース(ホス
ト)に染料(ゲスト)を加えて カラー表示ができるよ
うに製造したものであり、TEF LCDは、ガラス基
板上にトランジスタと表示画素電極(透明)を組み合わ
せた画素をマトリックス形態に配列させ透明な共通電極
を付けた一枚のガラスで、TN液晶を入れそれぞれの画
素に対向した位置に3原色マトリックスからなるカラー
フィルタを配置し、液晶を駆動するトランジスタ(FE
T)がガラス基板上に共に構成される。このとき、トラ
ンジスタは薄膜技術で作られるので、TET(薄膜トラ
ンジスタ)と呼ばれる。
【0007】最近のTET LCDは、低消費電力、軽
薄短小化などの特徴を有するので、多様な種類の電子製
品、例えば計算機、電話機、電子手帳、ノート型パソコ
ン(ノート型パーソナルコンピュータ)などのディスプ
レイに活用されている。又、LCDの製造技術及び駆動
技術の進歩で7セグメント型ドットマトリックス構成へ
発展されつつあり、現在はドットマトリックスがその主
従をなしている。
【0008】LCDは表示しようとする情報量が多くな
るほど電極数が増加するので、LCD駆動装置とLCD
間の回路接続が複雑になる。そのため、LCDの回路接
続を検査するための装置が要求されている。
【0009】従来のLCD検査装置は、主に7セグメン
ト方式を検査するためのもので、キー入力を通してLC
Dの各セグメントの接続状態を検査していた。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、現在の主流
をなしているドットマトリックス構成からなるLCD
は、検査の際に全てのセグメントを検査することができ
ないという問題点があった。
【0011】本発明の目的は、LCDを迅速かつ正確に
検査すると共に、電気的な接続のエラーを最少化させ得
るLCD検査システムを提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
本発明に係るLCD検査システムは、メインフレーム
と、前記メインフレームの−側部に備えられ、多数のLC
Dカセットを供給するために一側にプッシャーを有する
スタッカーを具備したインデックスステージと、前記イ
ンデックスステージのスタッカーから供給されるLCDを
整列するために、前記メインフレームに設置されて、ブ
ラケットの軸に連結された駆動原の動作により所定方向
に所定角度だけティルティング/回転できるように構成
されたローテーションプレートと、前記ローテーション
プレートの上部に設置されるプレートと、前プレートに
連結されて前記プレートを昇降させる昇降手段と、前記
プレートの上に設置されて前記LCDを移送させる移送手
段と、からなるフリーアライナーと、前記フリーアライ
ナーにより整列されたLCDを検査できるように移送させ
て、前記メインフレームの上下に一定間隔をおいて離隔
されながら設置される固定レールと、前記固定レールに
沿ってスライディングされる移動レールと、前記移動レ
ールに一定間隔をおいて離隔配置されながら前記移動レ
ールと一体にスラィディングされ、移送されたLCDを取
るための一対のグリッパーと、からなるキャリヤーと、
前記キャリヤーにより移送されて検査できるようにセッ
ティングするワークテーブルと、から構成されることを
特徴とする。
【0013】このように構成された本発明に係るLCD
検査システムによると、検査対象LCDはフリーアライ
ナー、キャリヤー及びワークテーブルを経ながら自動的
に整列、移送及びプローブピンと電気的に接続されて検
査がなされ、このような一連の工程をライン化させるこ
とにより、検査に所要される時間が短縮されると共に、
検査の正確度が高めるようになる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係るLCD検査シ
ステムを図面を用いて詳しく説明する。
【0015】図1は、本発明に係るLCD検査システム
を示す正面図、図2はその斜視図、図3は右側面図であ
る。
【0016】図1ないし図3に示すように、本発明に係
るLCD検査システムは、複数個のフレーム11,1
2,13,14,15が縦横に連結されて構成されるメ
インフレーム10と、多数のLCDカセット21からL
CD(図示せず)を供給できるようにスタッカー22が
具備されたインデックスステージ20と、インデックス
ステージ20のスタッカー22から供給されるLCDを
搬送するためのコンベヤー110が具備され、LCDカ
セット21から搬送されたLCDを整列するためのフリ
ーアライナー100と、コンベヤー110により移送さ
れフリーアライナー100により整列されたLCDを検
査できるように移送するキャリヤー200と、キャリヤ
ー200により移送されてLCDを検査できるようにセ
ッティングするワークテーブル300と、から構成され
る。
【0017】本発明に係るLCD検査システムは、図1
に示すように、インデックスフレーム23の上部にスタ
ッカー22が設置され、スタッカー22の後方の一側に
多数個のLCDカセット21が設置される。LCDカセ
ット21は、図示されないプッシャーにより押されるよ
うに設置されて、スタッカー22を通してコンベヤー1
10により移送される。
【0018】スタッカー22の下部の一側にはモーター
24が設置され、モーター24に具備されたシャフト2
4aにプーリ25が設置され、プーリ25にボールスク
リュー26が設置されて、モーター24が動作するに従
いボールスクリュー26が回転してLCDカセット21
のLCDを順次供給できるように構成される。そして、
ボールスクリュー26の両側にはLMガイド27が設置
されて円滑な昇降運動を助ける。
【0019】メインフレーム10にはコンベヤー110
を通して移送されたLCDを確認するか位置を付けるた
めのビジョン部1がビジョンフレーム2上に設置され
る。
【0020】LCDカセット21から移送されたLCD
はフリーアライナー100により整列がなされ、LCD
がフリーアライナー100により整列されると、キャリ
ヤー200によりその左側に連続的に設置されたワーク
テーブル300に移送される。
【0021】キャリヤー200によりワークテーブル3
00に移送されたLCDは、図2に示した上昇ブロック
330により上昇されてLCDテスターのプローブピン
と電気的に接触されて点灯される。
【0022】そして、メインフレーム10の底部には簡
便に移動させるための輪16が設置されると共に、移動
位置に固定させるためのフートマスター17が昇降の可
能に設置される。
【0023】以下、本発明によるLCD検査システムの
主要構成をより具体的に説明する。
【0024】図4ないし図8は、本発明によるLCD検
査システムに適用されたフリーアライナーを示す図で、
図4は本発明に係るLCD検査システムのフリーアライ
ナーを示す正面図、図5は図4の平面図、図6は図4の
側面図、図7は本発明の実施例に適用されたフリーアラ
イナーの斜視図、図8は本発明のフリーアライナーの構
造を示す拡大斜視図である。
【0025】図示したように、フリーアライナー100
は、モーター120の一側にはシャフト130が連設さ
れ、シャフト130を回転させるためのギヤ121が設
置され、シャフト130にはローテーションプレート1
40がブラケット141と共に設置される。
【0026】コンベヤー110に沿って移送されたLC
Dを吸着できるようにコンベヤー110の内側の下方に
は多数の吸着パッド150(図4参照)が設置され、多
数のシリンダー160,161はコンベヤー110に到
着したLCDを押し上げることができるようにローテー
ションプレート140を貫通して設置され、多数のガイ
ド160a,161aがシリンダー160,161の両
側にローテーションプレート140を貫通して設置され
る。
【0027】そして、シリンダー160,161とガイ
ド160a,161aの上端部には下部プレート170
が設置され、下部プレート170の上部には上部プレー
ト171が固定される。
【0028】このとき、上部プレート171の上部面に
は四方にそれぞれのLMブロック172,173,17
4,175が設置され、前後側のLMブロック172,
173にはセンターリングバーブラケット176,17
7がそれぞれ固定され、センターリングバーブラケット
176,177の上部にはセンターリングバー176
a,177aが固定されてLCDの位置を整列する。
【0029】又、左右側に設置されたLMブロック17
4,175には固定バー174a,175aが設置され
てコンベヤー110により移送されたLCDを固定させ
る。
【0030】上部プレート171には多数のシリンダー
162,163が連結設置され、シリンダー162,1
63がコンベヤー110を押し上げることができるよう
に貫通連結される。
【0031】即ち、下段のシリンダー160,161及
び上段のシリンダー162,163により2段に昇降さ
れるように構成される。
【0032】そして、図7に示すように、フリーアライ
ナー100はLCDがコンベヤー110により移送され
ると、吸着パット150がLCDを吸着して固定させ、
このとき、LCDは上部プレート171の上部に設置さ
れた多数の吸着パット150により吸着されて落ちなく
て、安定した位置を確保できる。
【0033】吸着パッド150がLCDを固定させた
後、モーター120が動作してギヤ121と嵌合された
シャフト130が回転してローテーションプレート14
0を60°にティルティング/回転させ、キャリヤー2
00に具備されたグリッパーと同一な位置に到達するよ
うにシリンダー160,161,162,163を上昇
動作させることにより、LCDがワークテーブルユニッ
ト300に到達する前の段階を終えるようになる。
【0034】図9ないし図12は、本発明に係るLCD
検査システムに適用されたキャリヤー構造を示した図
で、図9はキャリヤー構造を示す平面図、図10はキャ
リヤーの正面図、図11はキャリヤーの側面図、図12
は本発明に係るキャリヤーの構造を示す斜視図である。
【0035】図示したように、本発明に適用されたキャ
リヤー200は、アーチ形状のキャリヤーフレーム20
1(図2、図8に示す)の上下部に横方向にそれぞれの
上部固定レール210と下部固定レール211が設置さ
れる。
【0036】そして、上部固定レール210には移動レ
ール220が設置され、下部固定レール211には移動
レール221が設置され、移動レール220,221は
上下部固定レール210,211に沿って横方向に移動
できるように設置される。
【0037】このとき、対向するように設置される一対
のグリッパーフレーム230,240が移動レール22
0,221に対し縦方向にそれぞれ掛かるように両端が
固定設置され、グリッパーフレーム230,240の上
部に他の一対のグリッパーフレーム231,241が設
置される。
【0038】そして、それぞれのグリッパーフレーム2
30,231,240,241にはグリッパー250,
251を固定するための固定ブラケット232,242
が固定され、ブラケット232,242にはフリーアラ
イナー100からLCDを取って移送できるように一対
のグリッパー250,251がそれぞれ対向して設置さ
れ、グリッパー250,251はLCDを左右で取るフ
ィンガーを具備する。
【0039】又、ブラケット232,242の下方には
LCDを固定させるための少なくとも一つ以上のストッ
パー233,243がそれぞれのグリッパーフレーム2
30,231,240,241に固定設置される。
【0040】グリッパーフレーム230,231,24
0,241は左右両側に所定間隔に隔てられるように上
下の一対のボールスクリュー260により連結され、検
査されるLCDの大きさに従い左右に隔てることによ
り、多様な大きさのLCDを検査することができる。
【0041】図13は、本発明に係るLCD検査システ
ムに適用されたワークテーブルを示した斜視図で、ワー
クテーブルユニット360はメインフレーム10にベー
スブロック310が固定され、ベースブロック310の
上部には移動ブロック320が設置される。移動ブロッ
ク320は前後左右及び回転動作の可能になっており、
Z軸方向にも移動ができるという長所を有する。
【0042】移動ブロック320の上部には上昇ブロッ
ク330が設置され、上昇ブロック330はその内側に
ボールスクリューを内装して上下に移動の可能に構成さ
れる。
【0043】LMガイド341,341aとLMレール
342,342aからなるLMブロック340,340
aは上昇ブロック330の上部の両側に平行に設置さ
れ、LMブロック340,340aの上部には支持プレ
ート350が設置され、LMブロック340,340a
の上を自由に摺動するように設置され、支持プレート3
50の上部にはワークテーブルプレート360が固定さ
れる。このとき、LCDはワークテーブルプレート36
0の上部に設置され、上部が開口されたボックス形状の
LCD固定テーブル370に固定設置される。
【0044】以上のような本発明に係るワークテーブル
ユニット300は、メインフレーム10に固定されてフ
リーアライナー100により初期整列がなされた後、キ
ャリヤー200により移送されてから動作がなされ、L
CDが固定テーブル370に置かれると、下部に設置さ
れた上昇ブロック330が昇降させてプローブピン(図
示せず)との電気的な接触を正確且つ迅速に行い得るよ
うになる。
【0045】又、移動ブロック320は、プローブピン
との接触を成功的に終えたLCDを移動させて排出する
か、又はプローブピンとの接触を正確にして検査を完了
できるように前後左右、回転及び昇降させてセッティン
グされる。
【0046】このように構成された本発明に係るLCD
検査システムの作動を説明すると、先ずインデックスス
テージ20でコンベヤー110を通してLCDカセット
21で単一LCDをフリーアライナー100にローディ
ングし、フリーアライナー100でコンベヤー110が
下降してLCDカセット21でLCDの正確な位置をセ
ンターリングする。
【0047】以後、フリーアライナー100に設置され
た多数のシリンダー160,161,162,163が
上昇してフリーアライナー100を60°回転させて一
定した傾斜を持つようにティルティングさせる。
【0048】上記のようにティルティングがなされたフ
リーアライナー100をZ軸に移動させて、LCDをキ
ャリヤー200のグリッパー250,251と同一な位
置に至るように上昇させる。
【0049】LCDがグリッパー250,251とその
位置が同一になると、グリッパー250,251がLC
Dを取って移動レール220,221に沿って移動し、
ワークテーブル300まで移動する。ワークテーブル3
00までの移動がなされると、ワークテーブル300は
Z軸に移動する。
【0050】ワークテーブル300に移動されたLCD
はクランプにより押され、ワークテーブル300はLC
Dを真空吸着する。そして、吸着されたLCDをプロー
ブピンまで上昇させてコンタクトさせる。プローブピン
と電気的に接触がなされると、LCDは点灯され、LC
D検査が完了する。
【0051】そして、キャリヤー200はグリッパー2
50,251で検査されたLCDを取ってフリーアライ
ナー100に移動させる。LCDが移動されると、フリ
ーアライナー100が上昇してLCDを受ける。
【0052】最終的にLCDは作業者により受動にアン
ローディングされることにより、検査が終了する。
【0053】このとき、インデックスステージ20でL
CDが供給される過程からフリーアライナー100でL
CDが整列されてキャリヤー200により移動される過
程は、LCDの検査がなされる間にも継続して進行され
る。
【0054】従って、フリーアライナー100、キャリ
ヤー200、及びワークテーブル300を経る自動化工
程によりLCDの検査が完了されて、不必要な作業がな
くなる。
【0055】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係るLCD
検査システムは、フリーアライナーを通してLCDの初
期整列及びティルティングを迅速にすることにより、L
CDを正確に検査できるという効果がある。又、LCD
のティルティングのときに発生するエラーを減らすこと
により、作業効率が向上され、生産性が増大するという
効果がある。
【0056】そして、LCDを検査しようとするとき、
キャリヤーがLCDをワークテーブルに迅速に移動させ
ると共に、LCDの破損エラーを減らすようになって、
迅速な検査と製品の生産性を向上させることができると
いう効果がある。
【0057】又、本発明に係るワークテーブルの構造に
よりLCDを検査するに際して、プローブピンとの検査
接触を正確に誘導してLCDの検査エラー率を減らし得
るという効果がある。又、LCDを迅速且つ正確に移動
させることにより、結論的にその生産性が向上されると
いう効果がある。
【0058】つまり、LCDの検査が迅速になり、LC
Dの性能を正確に検査できるので、検査システムの信頼
性及び作業効率が向上されるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るLCD検査システムを示す正面図
である。
【図2】本発明に係るLCD検査システムを示す斜視図
である。
【図3】本発明に係るLCD検査システムを示す側面図
である。
【図4】本発明に係るLCD検査システムのフリーアラ
イナーを示す正面図である。
【図5】図4のフリーアライナーの平面図である。
【図6】図4のフリーアライナーの側面図である。
【図7】本発明の実施例に適用されたフリーアライナー
の斜視図である。
【図8】本発明に係るフリーアライナーの構造を示す拡
大斜視図である。
【図9】キャリヤーの構造を示す平面図である。
【図10】キャリヤーの正面図である。
【図11】キャリヤーの側面図である。
【図12】本発明に係るキャリヤーの構造を示す斜視図
である。
【図13】本発明のLCD検査システムに適用されたワ
ークテーブルを示す斜視図である。
【符号の説明】
10 メインフレーム 20 インデックスステージ 21 LCDカセット 22 スタッカー 100 フリーアライナー 110 コンベヤー 120 モーター 130 シャフト 140 ローテーションプレート 150 吸着パッド 160,161,162,163 シリンダー 170 下部プレート 171 上部プレート 200 キャリヤー 210,211 固定レール 220,221 移動レール 230,231,240,241 グリッパーフレーム 250,251 グリッパー 300 ワークテーブルユニット 310 ベースブロック 320 移動ブロック 330 上昇ブロック 340 LMブロック 350 支持プレート 360 ワークテーブルプレート 370 LCD固定テーブル
フロントページの続き (31)優先権主張番号 1999−51557 (32)優先日 平成11年11月19日(1999.11.19) (33)優先権主張国 韓国(KR) (56)参考文献 特開 平9−80410(JP,A) 特開 平1−203945(JP,A) 特開 平9−329774(JP,A) 特開 平11−183863(JP,A) 特開 平9−304130(JP,A) 特開 平7−140040(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02F 1/13

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】メインフレームと、 前記メインフレームの−側部に備えられ、多数のLCDカ
    セットを供給するために一側にプッシャーを有するスタ
    ッカーを具備したインデックスステージと、 前記インデックスステージのスタッカーから供給される
    LCDを整列するために、前記メインフレームに設置され
    て、ブラケットの軸に連結された駆動原の動作により所
    定方向に所定角度だけティルティング / 回転できるよう
    に構成されたローテーションプレートと、前記ローテー
    ションプレートの上部に設置されるプレートと、前プレ
    ートに連結されて前記プレートを昇降させる昇降手段
    と、前記プレートの上に設置されて前記 LCD を移送させ
    る移送手段と、からなるフリーアライナーと、 前記フリーアライナーにより整列されたLCDを検査でき
    るように移送させて、前記メインフレームの上下に一定
    間隔をおいて離隔されながら設置される固定レールと、
    前記固定レールに沿ってスライディングされる移動レー
    ルと、前記移動レールに一定間隔をおいて離隔配置され
    ながら前記移動レールと一体にスラィディングされ、移
    送された LCD を取るための一対のグリッパーと、からな
    キャリヤーと、 前記キャリヤーにより移送されて検査できるようにセッ
    ティングするワークテーブルと、から構成されることを
    特徴とするLCD検査システム。
  2. 【請求項2】前記フリーアラナーは、 前記プレートの上部に設置される複数個のLMブロック
    と、 前記LMブロックの所定部位に設置された複数個のセンタ
    ーリングバーブラケットと、 前記上部プレートの上部に設置される複数個のセンター
    リングバーと、をさらに含んで構成されることを特徴と
    する請求項1に記載のLDC検査システム。
  3. 【請求項3】前記LM ブロックには前記移送部材により移
    送されたLCDを固定させるための固定バーが設置される
    ことを特徴とする請求項2に記載のLCD検査システム。
  4. 【請求項4】前記ローテーションプレートはLCDカセッ
    トから移送されたLCDを60°だけティルティングできる
    ように設置されることを特徴とする請求項1に記載のLC
    D検査システム。
  5. 【請求項5】前記プレートには移送手段により移送され
    たLCDを吸着するための複数の吸着パッドが設置される
    ことを特徴とする請求項1に記載のLCD検査システム。
  6. 【請求項6】前記一対のグリッパーはLCDの長さに合わ
    せて前記一対のフリッパー間の間隔を調節できるように
    ボールスクリュに連結されることを特徴とする請求項1
    に記載のLCD検査システム。
  7. 【請求項7】前記グリッパーはその一側部に前記LCDを
    固定させるため少なくとも一つ以上設置されるストッパ
    ーを含んで構成されることを特徴とする請求項 1に記載
    のLCD検査システム。
  8. 【請求項8】前記ワークテーブルは、前記メインフレー
    ムに固定されるベースブロックと、 前記ベースブロックの上部に装着され、所定方向に移動
    の可能な移動ブロックと、 前記移動ブロックの上部に設置され、上下に昇降の可能
    に設置される上昇ブロックと、LM レールと、上記 LM レールの上に設置される LM ガイド
    と、からなる LM ブロックと、 前記 LM ブロックの上部に設置されて前記ワークテーブル
    プレートの移送を案内する支持プレートと、 前記支持プレートの上部に固定されるワークテーブルプ
    レートと、 前記ワークテーブルプレートの上部に形成されて移送さ
    れた LCD を固定する LCD 固定テーブルと、を備えるものと
    して構成され、 前記ワークテーブルは前記 LCD をプローブピンと接触さ
    せるためシリンダーにより 2 段動作がなされるように設
    置されることを 特徴とする請求項1に記載のLCD検査シス
    テム。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100780312B1 (ko) * 2005-10-12 2007-11-29 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 검사장치

Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW509329U (en) * 2001-04-19 2002-11-01 Hannstar Display Corp Electrified rack
KR100556140B1 (ko) * 2002-05-30 2006-03-03 삼성코닝정밀유리 주식회사 유리기판의 검사 시스템
DE10227332A1 (de) * 2002-06-19 2004-01-15 Akt Electron Beam Technology Gmbh Ansteuervorrichtung mit verbesserten Testeneigenschaften
TWI243258B (en) * 2002-11-29 2005-11-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Measurement apparatus of light guide plate
US7077019B2 (en) * 2003-08-08 2006-07-18 Photon Dynamics, Inc. High precision gas bearing split-axis stage for transport and constraint of large flat flexible media during processing
TWI310832B (en) * 2004-02-20 2009-06-11 Innolux Display Corp Inspecting apparatus for lcd module
JP4499483B2 (ja) * 2004-06-07 2010-07-07 株式会社日本マイクロニクス 検査装置
KR100669112B1 (ko) * 2004-07-28 2007-01-15 주식회사 디이엔티 슬라이딩 기능이 구비된 디스플레이 장치용 글라스 검사장치
CN100395781C (zh) * 2004-12-30 2008-06-18 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 液晶显示器检测系统及方法
JP2006273141A (ja) * 2005-03-29 2006-10-12 Nec Lcd Technologies Ltd 液晶モジュール用台車及び液晶表示装置の製造方法
JP4768309B2 (ja) * 2005-04-28 2011-09-07 株式会社日本マイクロニクス 表示用基板を受けるワークテーブルの交換装置及び表示用基板の検査装置
TWI274167B (en) * 2005-06-24 2007-02-21 Innolux Display Corp High voltage testing apparatus and testing method using the same
TWM282152U (en) * 2005-07-01 2005-12-01 Innolux Display Corp Hi-pot test device
JP2007107985A (ja) 2005-10-13 2007-04-26 Micronics Japan Co Ltd パネル基板の検査装置
DE102006023968B4 (de) * 2005-12-29 2009-12-10 Lg Display Co., Ltd. Inspektionsvorrichtung für Flüssigkristallanzeigepaneel
KR101166839B1 (ko) * 2005-12-29 2012-07-19 엘지디스플레이 주식회사 액정패널 검사 장치
US7941237B2 (en) * 2006-04-18 2011-05-10 Multibeam Corporation Flat panel display substrate testing system
CN101424795B (zh) * 2007-11-02 2010-12-01 群康科技(深圳)有限公司 液晶显示器及其检测方法
CN101566736B (zh) * 2008-04-25 2012-05-09 深超光电(深圳)有限公司 液晶显示模组测试方法
TWI379116B (en) * 2008-05-30 2012-12-11 Chimei Innolux Corp Liquid crystal display high-voltage testing circuit and method of testing liquid crystal display
CN102230866A (zh) * 2011-06-08 2011-11-02 深圳市华星光电技术有限公司 局部应压能力测试平台及测试装置
CN105539533A (zh) * 2016-01-25 2016-05-04 娄菊叶 一种多功能纺织厂用物品放置架
CN206523497U (zh) * 2017-03-14 2017-09-26 京东方科技集团股份有限公司 治具
CN109031712B (zh) * 2018-07-17 2024-04-05 武汉精测电子集团股份有限公司 一种通用型电子屏幕定位载具
CN110850227B (zh) * 2019-11-28 2022-04-19 苏州威兹泰克软件科技有限公司 屏幕检测设备及方法
TWI802172B (zh) * 2021-12-24 2023-05-11 尹鑽科技有限公司 液晶面板電路檢測裝置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR960006869B1 (ko) * 1987-09-02 1996-05-23 도오교오 에레구토론 가부시끼가이샤 프로우브 장치에 의한 전기특성 검사방법
JPH05503490A (ja) * 1990-01-16 1993-06-10 エトリウム・インコーポレイテッド プローブ及び反転装置
KR100291316B1 (ko) * 1995-07-14 2001-06-01 히가시 데쓰로 Lcd 검사장치
JPH10224099A (ja) * 1997-02-04 1998-08-21 Fuji Mach Mfg Co Ltd 回路部品装着方法および回路部品装着システム
KR100276929B1 (ko) * 1998-01-20 2001-01-15 정문술 모듈아이씨(ic) 핸들러에서 소켓으로의 모듈아이씨 로딩 및 언로딩 장치
US6193576B1 (en) * 1998-05-19 2001-02-27 International Business Machines Corporation TFT panel alignment and attachment method and apparatus
KR100279260B1 (ko) * 1998-06-18 2001-01-15 김영환 액정 셀의 액정 주입 및 액정 주입구 봉입검사 시스템
JP3553460B2 (ja) * 1999-04-23 2004-08-11 ディーイー、エンド、ティー 株式会社 Lcdテスト装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100780312B1 (ko) * 2005-10-12 2007-11-29 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 검사장치

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