CN101566736B - 液晶显示模组测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明主要涉及一种液晶显示模组测试方法，尤其是指一种利用推车运送液晶显示模组，且能减少液晶显示模组测试方法的安装、拆卸次数的液晶显示模组测试方法；其系将TFT-LCD面板与背光模组装完成后之待测复数液晶显示模组，置于一推车的複数滑动框架，利用推车运送待测複数液晶显示模组进行后续液晶显示模组测试流程；实施本发明之液晶显示模组测试方法时，只需要将液晶显示模组安装于推车上，进行一系列的检查，检查完毕后将液晶显示模组从推车上拆卸。以此方式降低液晶显示模组安装、拆卸的次数，减少人工的浪费及液晶显示模组的损耗。

Description

液晶显示模组测试方法

技术领域

本发明主要涉及一种液晶显示模组测试方法，尤其是指一种利用推车运送液晶显示模组，且能减少液晶显示模组测试方法的安装、拆卸次数的液晶显示模组测试方法。

背景技术

LCD的封装测试主要检查液晶显示模组的液晶功能，利用偏光板目检LCD板是否厚薄不均，同时使用电极短路计测装置检验液晶板上之PIN脚，观察LCD之点亮情形，加以判断LCD板是否显示正常等等。

(请参照图1)组立组装完成后进行步骤S12及步骤S14，开始进入组立检查站，将待测液晶显示模组安装到驱动设备；然后进行步骤S16及步骤S18，驱动设备点灯，进行点灯测试，并检查液晶显示模组的画面；接着进行步骤S20及步骤S22，将液晶显示模组从驱动设备上拔下来，安装到推车上；接续进行步骤S24，判断推车上的液晶显示模组数量是否已满，如不正确则重新进行步骤S14，直到推车装满液晶显示模组；如正确则进行步骤S26，组立检查站完成，继续进行步骤S27及S28将液晶显示模组装载于一老化车上，送到老化区进行老化测试；老化测试完毕后，则继续进行步骤S30，将老化车推到冷却区冷却，冷却后将老化车推出冷却区；

继续进行步骤S32及步骤S34，老化车进入模组检查站，将待测液晶显示模组从老化车上拔下来通箱装载。再进行步骤S36及步骤S38，将待测液晶显示模组安装到驱动设备，并驱动设备点灯进行点灯测试；然后进行步骤S40及步骤42，检查待测液晶显示模组的画面，检查后将待测液晶显示模组从驱动设备上拆卸；接续进行步骤S44，判断通箱内待测液晶显示模组的数量是否已满，如不正确则重新进行步骤S36，直到通箱内装满液晶显示模组；如正确则进行步骤S46，模组检查站完成，继续进行步骤S48，对液晶显示模组进行外观检查；

接着进行进行步骤S50，进行品保检查，进行品保检查时，必需将液晶显示模组安装在驱动设备上，并驱动设备启动点灯，检查完毕后进行步骤S52，将液晶显示模组从驱动设备上拆卸，最后进行步骤S54，将液晶显示模组包装入库。

从上述技术中可以发现，其需要大量的驱动设备，且要在进行LCD的封装测试时，必须将液晶显示模组安装拆卸达8次之多，安装、拆卸等动作一直的重复，容易造成液晶显示模组的损耗，并且浪费时间。

为改善上述技术重复拆卸、安装类费时间的缺失，另一种技术提出一种串联型生产线(in-line)，(请参照图2)首先进行步骤S62，将TFT-LCD面板与背光模组装完成；然后进行步骤S64，将液晶显示模组安装于驱动设备上，对待测液晶显示模组进行点灯测试，测试完毕后；接续进行步骤S66及步骤S68，利用输送带将液晶显示模组送到老化区进行老化测试，测试完毕后再送到冷却区冷却液晶显示模组。然后进行步骤S70、步骤S72及步骤S74，利用输送带将液晶显示模组送去进行模组检查、品保检查及外观检查。然后进行步骤S76，再次进行品保检查，并将液晶显示模组从驱动设备上拆卸；最后进行步骤S78，将液晶显示模组包装入库。

上述技术只需要拆卸、安装液晶显示模组两次。但是，当液晶显示模组进行老化测试时需要数小时，此时液晶显示模组是安装驱动设备上的，换言之，驱动设备也同样必须耗费数小时在等待，此种先前技术最大的问题在于高昂的生产线成本。

发明内容

本发明之主要目的在于，提供一种液晶显示模组测试方法，其系能减少使用驱动设备，藉此降低驱动设备的成本。

本发明之另一目的在于，提供一种液晶显示模组测试方法，其系尽可能降低液晶显示模组安装、拆卸的次数，减少人工的浪费及液晶显示模组的损耗。

为了达到上述目的，本发明所采取的技术方案为，提供一液晶显示模组测试方法，其系将TFT-LCD面板与背光模组装完成后之待测复数液晶显示模组，置于一推车的复数滑动框架，利用推车运送待测复数液晶显示模组进行组立点灯测试、老化测试、冷却、模组检查、品保检查、外观检查及包装入库；

推车上可以内建一驱动设备，或者使用一外接式的驱动设备，藉此方式对滑动框架上的待测液晶显示模组进行相关测试，待测液晶显示模组只需在组立检查时安装在推车上，并于品保外观测试将待测液晶显示模组从推车上拆卸。

本发明的有益效果为：提供一液晶显示模组测试方法，其系将TFT-LCD面板与背光模组装完成后之待测复数液晶显示模组，置于一推车的复数滑动框架，利用推车运送待测复数液晶显示模组进行组立点灯测试、老化测试、冷却、模组检查、品保检查、外观检查及包装入库；以此方式降低液晶显示模组安装、拆卸的次数，减少人工的浪费及液晶显示模组的损耗，并能解决先前技术的串联式生产线使用大量驱动设备的缺失，减少使用驱动设备，藉此降低驱动设备的成本。

附图说明

图1为本发明之背景技术之实施流程示意图

图2为本发明之背景技术的另一技术之实施流程示意图

图3为本发明之一实施方式之实施流程示意图

图4为本发明之推车结构示意图

图5为本发明之另一推车结构示意图

图6为本发明之又一推车结构示意图

图7为本发明之推车与输送设备搭配之示意图

图8为本发明之推车与输送设备另一搭配之示意图

具体实施方式

为能详细说明本发明，以下以一实施方式说明本发明之特征，(请参照图3)进行步骤S82及步骤S84，将TFT-LCD面板与背光模组装完成，进入组立检查站；

进入组立检查站后，进行步骤S86将待测复数液晶显示模组安置于一推车的复数滑动框架，推车的结构(如图4所示)，推车上有8个框架，框架的位置可以进行调整，每一个框架可以容纳一个液晶显示模组；

推车将液晶显示模组装载完毕后进行步骤S88；

待测液晶显示模组位置的选择，检测的位置系为框架A显示的位置，框架A显示的位置即为检测位置，如果选择的位置不正确，则重新回到步骤S86再次将待测液晶显示模组安装于推车12上；如果选择的位置正确，则进行步骤S90及步骤S92，用外接式驱动设备连接于推车12上，对待测液晶显示模组进行点灯测试，并检查待测待测液晶显示模组的画面，驱动设备当然也可以直接内建于推车12之内，此种变化不会影响本发明所保护的范围。

继续进行步骤S94，判断待测液晶显示模组是否检查完毕；如否，则进行步骤S88，直到待测液晶显示模组检查完毕；如是，则进行步骤S96，组立检查站完成。再来进行步骤S98及步骤S100，将推车12送到老化区进行老化测试，测试完毕后再送到冷却区冷却液晶显示模组；

然后进行步骤S102，进行模组检查站。进入模组检查站后，进行步骤S104及S106，将推车12定位，并等待待测液晶显示模组位置的选择，检测的位置系为框架A显示的位置，框架A显示的位置即为检测位置；如位置不正确，则重新进行步骤S104，重新将推车12定位，如位置正确，则进行步骤S108及步骤S110，用外接式驱动设备连接于推车12上，对待测液晶显示模组进行点灯测试，并检查待测待测液晶显示模组的画面，驱动设备当然也可以直接内建于推车12之内，此种变化不会影响本发明所保护的范围。

接着进行步骤S112，判断待测液晶显示模组是否检查完毕；如否，则重新进行步骤S106，直到待测液晶显示模组检查完毕；如是则进行步骤S114，模组检查站完成。

接续进行步骤S116，进行品保及外观检查，操作员同样仅需将液晶显示模组移动到正中间或任一台车从进行模组检查，该正中间位置即为框架A显示的位置，也即为检测位置，检查完毕后将液晶显示模组从滑动框架上拆卸，并检查液晶显示模组的外观。最后进行步骤S118将液晶显示模组包装入库。

由上述实施方式可以发现，本发明减少待测液晶显示模组的与驱动设备的安装、拆卸次数，降低液晶显示模组的损耗，藉此增加工作效率，提升检查待测液晶显示模组的速度与效率，减少搬送待测液晶显示模组的通箱数目。

且本发明在老化测试时，本发明使用外接式的驱动设备的话根本不会有闲置的驱动设备，如果是内建于推车12中的驱动设备，则仅会有一组驱动设备处于闲置状态，两种实施态样均较背景技术更佳。况且，本发明相较于先前技术之串联型生产线，所需要的成本更小，即可达到串联型生产线拆卸、安装液晶显示模组两次的效果。

本发明之另一实施方式，(请参照图3所示)进行步骤S82及步骤S84，将TFT-LCD面板与背光模组装完成，进入组立检查站；

进入组立检查站后，进行步骤S86将待测复数液晶显示模组安置于一推车的复数滑动框架，推车的结构(如图5所示)，推车上有13个框架，框架的位置可以进行调整，每一个框架可以容纳一个液晶显示模组；

推车将液晶显示模组装载完毕后进行步骤S88，等待待测液晶显示模组位置的选择，检测的位置系为框架A显示的位置，框架A显示的位置即为检测位置，如果选择的位置不正确，则重新回到步骤S86再次将待测液晶显示模组安装于推车14上；如果选择的位置正确，则进行步骤S90及步骤S92，用外接式驱动设备连接于推车14上，对待测液晶显示模组进行点灯测试，并检查待测待测液晶显示模组的画面，驱动设备当然也可以直接内建于推车14之内，此种变化不会影响本发明所保护的范围。

接续进行步骤S94，判断待测液晶显示模组是否检查完毕；如否，则进行步骤S88，直到待测液晶显示模组检查完毕；如是，则进行步骤S96，组立检查站完成。再来进行步骤S98及步骤S100，将推车14送到老化区进行老化测试，测试完毕后再送到冷却区冷却液晶显示模组。

然后进行步骤S102，进行模组检查站。进入模组检查站后，进行步骤S104及S106，将推车14定位，并等待待测液晶显示模组位置的选择，检测的位置系为框架A显示的位置，框架A显示的位置即为检测位置。如位置不正确，则重新进行步骤S104，重新将推车14定位，如位置正确，则进行步骤S108及步骤S110，用外接式驱动设备连接于推车14上，对待测液晶显示模组进行点灯测试，并检查待测待测液晶显示模组的画面，驱动设备当然也可以直接内建于推车14之内，此种变化不会影响本发明所保护的范围。

接着进行步骤S112，判断待测液晶显示模组是否检查完毕；如否，则重新进行步骤S106，直到待测液晶显示模组检查完毕；如是则进行步骤S114，模组检查站完成。

接续进行步骤S116，进行品保及外观检查，操作员同样仅需将液晶显示模组移动到框架A的位置进行模组检查，框架A的位置即为检测位置，检查完毕后将液晶显示模组从滑动框架上拆卸，并检查液晶显示模组的外观。最后进行步骤S118将液晶显示模组包装入库。

由上述实施方式可以发现，本发明减少待测液晶显示模组的与驱动设备的安装、拆卸次数，降低液晶显示模组的损耗，藉此增加工作效率，提升检查待测液晶显示模组的速度与效率，减少搬送待测液晶显示模组的通箱数目。

且本发明在老化测试时，本发明使用外接式的驱动设备的话根本不会有闲置的驱动设备，如果是内建于推车14中的驱动设备，则仅会有一组驱动设备处于闲置状态，两种实施态样均较背景技术更佳。况且，本发明相较于先前技术之串联型生产线，所需要的成本更小，即可达到串联型生产线拆卸、安装液晶显示模组两次的效果。

本发明之又一实施方式，(请参照图3所示)进行步骤S82及步骤S84，将TFT-LCD面板与背光模组装完成，进入组立检查站；

进入组立检查站后，进行步骤S86将待测复数液晶显示模组安置于一推车16的复数滑动框架，推车16的结构(如图6所示)，推车16上有3层框架，每一层有8个框架，每一个框架都可以容纳一个液晶显示模组，其中每一层框架的位置可以进行任意的调整，以便于操作员检查。当推车16的框架上装满液晶显示模组装后进行步骤S88，等待待测液晶显示模组位置的选择，检测的位置系为框架B显示的位置，框架B显示的位置即为检测位置，如果选择的位置不正确，则重新回到步骤S86再次将待测液晶显示模组安装于推车16上。如果选择的位置正确，则进行步骤S90及步骤S92，用外接式驱动设备连接于推车16上，对待测液晶显示模组进行点灯测试，并检查待测待测液晶显示模组的画面，驱动设备当然也可以直接内建于推车16之内，此种变化不会影响本发明所保护的范围；

接续进行步骤S94，判断待测液晶显示模组是否检查完毕；如否，则进行步骤S88，直到待测液晶显示模组检查完毕；如是，则进行步骤S96，组立检查站完成。再来进行步骤S98及步骤S100，将推车16送到老化区进行老化测试，测试完毕后再送到冷却区冷却液晶显示模组；

然后进行步骤S102，进行模组检查站。进入模组检查站后，进行步骤S104及S106，将推车16定位，并等待待测液晶显示模组位置的选择，检测的位置系为框架B显示的位置，框架B显示的位置即为检测位置；如位置不正确，则重新进行步骤S104，重新将推车16定位，如位置正确，则进行步骤S108及步骤S110，用外接式驱动设备连接于推车16上，对待测液晶显示模组进行点灯测试，并检查待测待测液晶显示模组的画面，驱动设备当然也可以直接内建于推车16之内，此种变化不会影响本发明所保护的范围。

接着进行步骤S112，判断待测液晶显示模组是否检查完毕；如否，则重新进行步骤S106，直到待测液晶显示模组检查完毕；如是则进行步骤S114，模组检查站完成。

接续进行步骤S116，进行品保及外观检查，(如图7所示)将推车16搭配一输送设备18进行品保检查，每一个液晶显示模组从滑动框架拆卸下来，操作员可再输送设备旁检查及液晶显示模组的外观。检查完毕后将液晶显示模组从滑动框架上拆卸，并检查液晶显示模组的外观。最后进行步骤S118将液晶显示模组包装入库。

由上述实施方式可以发现，本发明减少待测液晶显示模组的与驱动设备的安装、拆卸次数，降低液晶显示模组的损耗，藉此增加工作效率，提升检查待测液晶显示模组的速度与效率，减少搬送待测液晶显示模组的通箱数目。

且本发明在老化测试时，本发明使用外接式的驱动设备的话根本不会有闲置的驱动设备，如果是内建于推车中的驱动设备，则仅会有一组驱动设备处于闲置状态，两种实施态样均较背景技术更佳。况且，本发明相较于先前技术之串联型生产线，所需要的成本更小，即可达到串联型生产线拆卸、安装液晶显示模组两次的效果。

本发明之另一实施方式，(请参照图3)进行步骤S82及步骤S84，将TFT-LCD面板与背光模组装完成，进入组立检查站；

进入组立检查站后，进行步骤S86将待测复数液晶显示模组安置于一推车16的复数滑动框架，推车16的结构(如图6所示)，推车16上有3层框架，每一层有8个框架，每一个框架都可以容纳一个液晶显示模组，其中每一层框架的位置可以进行任意的调整，以便于操作员检查。当推车16的框架上装满液晶显示模组装后进行步骤S88，等待待测液晶显示模组位置的选择，检测的位置系为框架B显示的位置，框架B显示的位置即为检测位置，如果选择的位置不正确，则重新回到步骤S86再次将待测液晶显示模组安装于推车16上。如果选择的位置正确，则进行步骤S90及步骤S92，用外接式驱动设备连接于推车16上，对待测液晶显示模组进行点灯测试，并检查待测待测液晶显示模组的画面，驱动设备当然也可以直接内建于推车16之内，此种变化不会影响本发明所保护的范围。

接续进行步骤S94，判断待测液晶显示模组是否检查完毕；如否，则进行步骤S88，直到待测液晶显示模组检查完毕；如是，则进行步骤S96，组立检查站完成；再来进行步骤S98及步骤S100，将推车16送到老化区进行老化测试，测试完毕后再送到冷却区冷却液晶显示模组，然后进行步骤S102，进行模组检查站。进入模组检查站后，进行步骤S104及S106，将推车16定位，并等待待测液晶显示模组位置的选择；如位置不正确，则重新进行步骤S104，重新将推车16定位，如位置正确，则进行步骤S108及步骤S110，用外接式驱动设备连接于推车16上，对待测液晶显示模组进行点灯测试，并检查待测待测液晶显示模组的画面，驱动设备当然也可以直接内建于推车16之内，此种变化不会影响本发明所保护的范围。

接着进行步骤S112，判断待测液晶显示模组是否检查完毕；如否，则重新进行步骤S106，直到待测液晶显示模组检查完毕；如是则进行步骤S114，模组检查站完成。

接续进行步骤S116，进行品保及外观检查，(如图8所示)将推车16搭配一输送设备18进行品保检查，将整排的液晶显示模组以滑动框架滑入输送设备中，操作员可再输送设备旁检查及液晶显示模组的外观。检查完毕后将液晶显示模组从滑动框架上拆卸，并检查液晶显示模组的外观。最后进行步骤S118将液晶显示模组包装入库。

由上述实施方式可以发现，本发明减少待测液晶显示模组的与驱动设备的安装、拆卸次数，降低液晶显示模组的损耗，藉此增加工作效率，提升检查待测液晶显示模组的速度与效率，减少搬送待测液晶显示模组的通箱数目。

且本发明在老化测试时，本发明使用外接式的驱动设备的话根本不会有闲置的驱动设备，如果是内建于推车中的驱动设备，则仅会有一组驱动设备处于闲置状态，两种实施态样均较先前技术更佳。况且，本发明相较于先前技术之串联型生产线，所需要的成本更小，即可达到串联型生产线拆卸、安装液晶显示模组两次的效果。

唯以上所述者，仅为本发明之较佳实施方式而已，并非用来限定本发明实施之范围。故即凡依本发明权利要求范围所述之形状、构造、特征及精神所为之均等变化或修饰，均应包括于本发明之权利要求范围内。

Claims (8)

1.一种液晶显示模组测试方法，其特征在于，其系包括下列步骤：

将TFT-LCD面板与背光模组装完成后之待测複数液晶显示模组，阵列置于一推车的複数滑动框架；

将推车依测试顺序先后送至组立检查站点和模组检查站点；

在组立检查站点和模组检查站点分别在推车上对液晶显示模组进行位置选择，以将待测液晶显示模组放置到检测位置；以及

进行一液晶显示模组测试流程。

2.根据权利要求1所述之液晶显示模组测试方法，其中，该液晶显示模组测试流程包括：

选择该滑动框架，对每一液晶显示模组进行一点灯测试，直到每一液晶显示模组进行完毕该点灯测试；

将该推车送至老化工作站进行老化测试；

老化测试后，将该推车送至冷却区进行冷却；

选择该滑动框架，对每一液晶显示模组进行模组检查，直到每一液晶显示模组模组检查完毕；

将每一液晶显示模组自该滑动框架取出，进行品保检查及外观检查；以及将该液晶显示模组包装入库。

3.根据权利要求2所述之液晶显示模组测试方法，其中，进行该点灯测试时，系将驱动设备连接于该推车上，以便进行该点灯测试。

4.根据权利要求2所述之液晶显示模组测试方法，其中，进行模组检查时，系将驱动设备连接于该推车上，以便进行模组检查。

5.根据权利要求2所述之液晶显示模组测试方法，其中，进行品保检查时，系将驱动设备连接于该推车上，以便进行品保检查。

6.根据权利要求3或4或5所述之液晶显示模组测试方法，其中，驱动设备连接于该推车上时，所有滑动框架内的液晶显示模组均与驱动设备电讯连接。

7.根据权利要求3或4或5所述之液晶显示模组测试方法，其中，驱动设备系一外接式驱动设备。

8.根据权利要求2所述之液晶显示模组测试方法，其中，该推车上内建有驱动设备，用以进行点灯测试、模组检查、品保检查。

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