CN104075865A - 触控屏抗冲击性测试方法 - Google Patents
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Abstract
一种触控屏抗冲击性测试方法,包括以下步骤:将触控屏置于预设温度下,并在达到测试时间阈值后置于常温下冷却;所述预设温度为80℃±10℃,测试时间为220小时-260小时;检测经过温度测试的触控屏是否正常,若是,则对所述触控屏进行冲击测试,其中,依次对所述触控屏的四个边缘及中间位置进行冲击测试;所述冲击测试的具体步骤包括:设定冲击物及多个冲击高度;将触控屏固定置于测试平台上,控制冲击物依次从多个冲击高度冲击所述触控屏。对在高温环境下进行老化测试后的触控屏进行冲击测试,即采用外力对触控屏进行强度冲击,然后检测进行冲击测试后的触控屏是否正常。从而完成触控屏的抗冲击性测试。
Description
技术领域
本发明涉及触控屏测试技术,特别是涉及一种触控屏抗冲击性测试方法。
背景技术
触控屏(touch screen)又称为“触摸屏”、“触控面板”,是一种可接收触头等输入讯号的感应式液晶显示装置,当接触了屏幕上的图形按钮时,屏幕上的触觉反馈系统可根据预先编程的程式驱动各种连结装置,可用以取代机械式的按钮面板,并借由液晶显示画面制造出生动的影音效果。触控屏作为一种最新的电脑输入设备,它是目前最简单、方便、自然的一种人机交互方式。
触控屏幕除赋予了使用者更加直接、便捷的操作体验之外,还使手机的外形变得更加时尚轻薄,增加了人机直接互动的亲切感,引发消费者的热烈追捧,同时也开启了触控屏向主流操控界面迈进的征程。触控屏应用范围已变得越来越广泛,从工业用途的工厂设备的控制/操作系统、公共信息查询的电子查询设施、商业用途的提款机,到消费性电子的移动电话、PDA、数码相机等都可看到触控屏幕的身影,触控屏市场未来的发展前景十分诱人。
随着触控屏应用越来越广泛,触控屏的可靠性和耐用性越来越引起大家重视,但是目前触控屏可靠性测试方法仅限于一些常规的性能测试,比如触控屏端子间阻抗,线性度,绝缘阻抗等,无法衡量到触控屏在经过长期使用后,触控屏的抗冲击是否能满足使用者的要求,因此触控屏的抗冲击测试,成为衡量触控屏质量和耐久性的一个重要指标。
发明内容
基于此,有必要提供一种能够检测触控屏是否满足长期使用后抗冲击性强度要求的触控屏抗冲击性测试方法。
一种触控屏抗冲击性测试方法,包括以下步骤:
将触控屏置于预设温度下,并在达到测试时间阈值后置于常温下冷却;所述预设温度为80℃±10℃,测试时间为220小时-260小时;
检测经过温度测试的触控屏是否正常,若是,则对所述触控屏进行冲击测试,其中,依次对所述触控屏的四个边缘及中间位置进行冲击测试;
所述冲击测试的具体步骤包括:
设定冲击物及多个冲击高度;
将触控屏固定置于测试平台上,控制冲击物依次从多个冲击高度冲击所述触控屏。
在其中一个实施例中,所述触控屏在常温下冷却的时间至少为2个小时。
在其中一个实施例中,所述冲击物为钢珠,所述钢珠质量为5g-15g。
在其中一个实施例中,所述设定多个冲击高度的步骤包括:
选取一导管;
在导管的1/2长度处、3/5长度处、7/10长度处、4/5长度处及9/10长度处分别设一对称通孔;
采用挡落棒将冲击物固定在所述对称通孔处。
在其中一个实施例中,所述导管为玻璃导管,所述玻璃导管至少长1000mm。
在其中一个实施例中,所述导管的直径比所述冲击物的最大直径大1-2mm,所述导管的管壁厚度为2-4mm。
在其中一个实施例中,所述对称通孔的孔径为所述导管内直径的1/3。
在其中一个实施例中,所述挡落棒的直径比所述导管的直径小0.5mm。
在其中一个实施例中,依次对所述触控屏的四个边缘及中间位置连续进行至少3次冲击测试。
在其中一个实施例中,对所述触控屏的四个边缘及中间位置进行冲击测试,在每次冲击测试完成后,检测所述触控屏是否正常。
上述触控屏抗冲击性测试方法先将触控屏在预设温度(80℃±10℃)下放置到测试时间,即先对进行触控屏的高温老化测试。对在高温环境下进行老化测试后的触控屏进行冲击测试,即采用外力对触控屏进行强度冲击,然后检测进行冲击测试后的触控屏是否正常。从而完成触控屏的抗冲击性测试。
附图说明
图1为触控屏抗冲击性测试方法的流程图。
具体实施方式
如图1所示,为触控屏抗冲击性测试方法的流程图。
一般地会抽出5个待检测的触控屏,在采用触控屏抗冲击性测试方法之前,触控屏表面及功能正常,没有脏污、缺角及裂痕等异常,且触控屏的触控功能及定位正常,端子间阻抗、线性度及绝缘阻抗符合要求。通常上述的常规品质检测是为了确认触控屏基本性能和品质状况,确保后续测试的有效性。
一种触控屏抗冲击性测试方法,包括以下步骤:
步骤S110,将触控屏置于预设温度下,并在达到测试时间阈值后置于常温下冷却。
预设温度为80℃±10℃,优选地,预设温度为80℃。
测试时间为220小时-260小时。优选地,测试时间为240小时。
在预设温度下放置达到测试时间后,需要在常温下将触控屏至少静置2小时进行冷却才能进行下一步的测试。
步骤S110为模拟高温老化测试。
在其中一个实施例中,对触控屏进行高温老化测试的具体步骤为:将触控屏置于温度箱内,将温度箱的温度设为80℃,同时设定测试时间为240小时。启动温度箱进行高温老化测试。达到测试时间240小时后,将触控屏取出在常温下静置冷却。
步骤S120,检测经过温度测试的触控屏是否正常,若是,则对所述触控屏进行冲击测试,其中,依次对所述触控屏的四个边缘及中间位置进行冲击测试。
对按步骤S110进行高温老化测试并在常温下静置至少2小时后的触控屏进行检测,确认高温老化测试后的触控屏是否正常,若是,则进行冲击测试。
冲击测试的具体步骤包括:
①设定冲击物及多个冲击高度。
②将触控屏固定置于测试平台上,控制冲击物依次从多个冲击高度冲击所述触控屏。
设定多个冲击高度的步骤包括:
选取一导管;
在导管的1/2长度处、3/5长度处、7/10长度处、4/5长度处及9/10长度处分别设一对称通孔;
采用挡落棒将冲击物固定在上述对称通孔处。
设定多个冲击高度能够使得冲击物具有多个冲击触控屏的力度。因而能够测试触控屏的抗冲击性能。
一般的,冲击物为钢珠,钢珠质量为5g-15g。
导管为玻璃导管,所述玻璃导管至少长1000mm。
导管的直径比所述冲击物的最大直径大1-2mm,所述导管的管壁厚度为2-4mm。
对称通孔的孔径为所述导管直径的1/3。
挡落棒的直径比所述导管的内直径小0.5mm。
基于上述实施例,对触控屏进行冲击测试的具体步骤为:将触控屏水平置于测试平台上,并在触控屏下表面垫厚泡棉。将钢球从导管顶端采用挡落棒导入导管内部。一般根据测试需求的高度在相应的对称通孔插入挡落棒,再将导管倾斜,然后将钢球缓缓放入导管内,再缓慢将导管竖起,这样就将钢球导入了导管内。将导入钢球的导管垂直放置于触控屏上方。上述步骤用于为冲击测试作准备,确保冲击有效性及可有效保护导管。
在确定对触控屏进行冲击的时候,将对应的挡落棒抽出,钢球则自由落体撞击触控屏的屏幕正表面。一般选取触控屏的四个边角部位及正中间位置,每个冲击位置至少进行3次以上的冲击测试。其中,在冲击测试中,每次冲击后均需对触控屏进行检测,若出现异常,则终止冲击测试。
在本实施例中,导管长1000mm,在导管的1/2长度处、3/5长度处、7/10长度处、4/5长度处及9/10长度处分别设一对称通孔,根据动力守恒,相同质量的钢球从不同高度自由下落,撞击到触控屏后的动量不同。在已知钢球质量,下落高度,能够计算出每个高度自由下落冲击触控屏的动量,从而能够确定触控屏的抗冲击性。
步骤S120用于对进行高温老化测试后的触控屏进行抗冲击性测试,即模拟对经过长期使用的触控屏进行抗冲击测试。
在本实施例中,依次对所述触控屏的四个边缘及中间位置连续进行至少3次冲击测试。通过对触控屏的四个边缘位置及中间位置进行冲击测试,确保触控屏在各个区域的薄弱点均能得到体现,以保证抗冲击强度测试结果的完整及准确。
由于对触控屏的同一位置进行冲击测试的次数为多次,因而,对所述触控屏的四个边缘及中间位置进行冲击测试,在每次冲击测试完成后,检测所述触控屏是否正常。
一般地,只要在单次的冲击测试完成后都要对触控屏进行检测,若出现则终止冲击测试,若正常,则继续下一次测试。
上述触控屏抗冲击性测试方法先将触控屏在预设温度(80℃±10℃)下放置到测试时间,即先对进行触控屏的高温老化测试。对在高温环境下进行老化测试后的触控屏进行冲击测试,即采用外力对触控屏进行强度冲击,然后检测进行冲击测试后的触控屏是否正常。从而完成触控屏的抗冲击性测试。
采用上述触控屏抗冲击性的测试方法,可以有效地筛选出触控屏抗冲击强度差产品,或者在经过长期使用后可能存在触控屏抗冲击强度因材质劣化导致触控屏抗冲击强度降低无法满足市场使用要求产品。触控屏抗冲击强度过低有可能导致触控屏在遭受外力作用时,无法正常工作或者影响客户使用。通过上述触控屏抗冲击性测试方法可以检测出可能存在设计缺陷的触控屏,并通过技术整改和再验证的通过,可为用户提供优质触控屏提供依据,使产品能在经过长期使用后,仍具有较高的品质水准,满足用户长期使用的需求。
基于上述所有实施例,采用上述触控屏抗冲击性测试方法测试一批触控屏的过程如下:
从样机中抽取待检测触控屏样板5张,要求触控屏表面没有开裂、变形及表面不均匀等异常现象。则按照步骤S110将测试样板放置于置于恒温箱内,开启恒温箱进行高温老化测试,其中,温度设为80℃,测试时间设为240小时。待高温老化测试完成后,将触控屏在常温下放置至少2个小时后再进行下一步的测试。在进行下一步的冲击测试前,要求检测触控屏在高温老化测试是否正常,若否,则终止本次测试。若是,在进行冲击测试。将触控屏置于测试平台上,按预设高度让钢球自由下落冲击触控屏的四个边缘位置及正中间位置。在每次冲击测试完成后,均要检测触控屏是否正常,若是则进行下一区域的冲击测试,若否,则终止本次测试。在完成冲击测试后,对触控屏进行常规的品质检测,未发现触控屏表面出现破裂,且端子间阻抗、线性度、绝缘阻抗等符合要求时,则认为该触控屏抗冲击强度能够满足长期使用的抗冲击性能要求,能够避免长期使用后可能出现的触控屏损坏异常,符合产品长期使用的要求。
通过上述触控屏抗冲击性测试方法,可以在短时间内检测出抗冲击强度差的触控屏,避免给用户带来不必要的损失。同时可通过设计更改,增强触控屏的抗冲击能力,避免抗冲击强度过低的触控屏出现在市场上。减少后续因为长期使用,可能会出现触控屏无法正常工作的问题,降低售后维护成本。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种触控屏抗冲击性测试方法,包括以下步骤:
将触控屏置于预设温度下,并在达到测试时间阈值后置于常温下冷却;所述预设温度为80℃±10℃,测试时间为220小时-260小时;
检测经过温度测试的触控屏是否正常,若是,则对所述触控屏进行冲击测试,其中,依次对所述触控屏的四个边缘及中间位置进行冲击测试;
所述冲击测试的具体步骤包括:
设定冲击物及多个冲击高度;
将触控屏固定置于测试平台上,控制冲击物依次从多个冲击高度冲击所述触控屏。
2.根据权利要求1所述的触控屏抗冲击性测试方法,其特征在于,所述触控屏在常温下冷却的时间至少为2个小时。
3.根据权利要求1所述的触控屏抗冲击性测试方法,其特征在于,所述冲击物为钢珠,所述钢珠质量为5g-15g。
4.根据权利要求1所述的触控屏抗冲击性测试方法,其特征在于,所述设定多个冲击高度的步骤包括:
选取一导管;
在导管的1/2长度处、3/5长度处、7/10长度处、4/5长度处及9/10长度处分别设一对称通孔;
采用挡落棒将冲击物固定在所述对称通孔处。
5.根据权利要求4所述的触控屏抗冲击性测试方法,其特征在于,所述导管为玻璃导管,所述玻璃导管至少长1000mm。
6.根据权利要求4所述的触控屏抗冲击性测试方法,其特征在于,所述导管的直径比所述冲击物的最大直径大1-2mm,所述导管的管壁厚度为2-4mm。
7.根据权利要求4所述的触控屏抗冲击性测试方法,其特征在于,所述对称通孔的孔径为所述导管内直径的1/3。
8.根据权利要求4所述的触控屏抗冲击性测试方法,其特征在于,所述挡落棒的直径比所述导管的直径小0.5mm。
9.根据权利要求1所述的触控屏抗冲击性测试方法,其特征在于,依次对所述触控屏的四个边缘及中间位置连续进行至少3次冲击测试。
10.根据权利要求1所述的触控屏抗冲击性测试方法,其特征在于,对所述触控屏的四个边缘及中间位置进行冲击测试,在每次冲击测试完成后,检测所述触控屏是否正常。
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