JP3481735B2 - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JP3481735B2
JP3481735B2 JP19045895A JP19045895A JP3481735B2 JP 3481735 B2 JP3481735 B2 JP 3481735B2 JP 19045895 A JP19045895 A JP 19045895A JP 19045895 A JP19045895 A JP 19045895A JP 3481735 B2 JP3481735 B2 JP 3481735B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode terminal
semiconductor device
protrusion
bent
lid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP19045895A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0945831A (ja
Inventor
佳邦 中平
典男 川上
隆啓 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP19045895A priority Critical patent/JP3481735B2/ja
Priority to US08/687,033 priority patent/US5763946A/en
Publication of JPH0945831A publication Critical patent/JPH0945831A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3481735B2 publication Critical patent/JP3481735B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49861Lead-frames fixed on or encapsulated in insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/07Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
    • H01L25/072Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49175Parallel arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01039Yttrium [Y]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1301Thyristor

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、インバ−タ、交流
直流変換用トランジスタモジュ−ル、サイリスタモジュ
−ル等のパワ−モジュ−ル半導体装置に係り、とくにパ
ッケ−ジの電極端子に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、電力変換や制御等のパワ−エレ
クトロニクス分野において、電力モ−タ制御等に使用さ
れる大電力高速半導体装置の一種として、図6に示すよ
うな、インサ−トケ−スと呼ばれる本体部と蓋部1とに
より構成されたパッケ−ジを使用している。図6は、蓋
部1と本体部がそれぞれ分離された状態を示している。
本体部は、ヒ−トシンク6、挿入ケ−ス5、電極端子
3、ダイオ−ド9やトランジスタ10等の半導体素子を
備えている。挿入ケ−ス5は合成樹脂成型品からなり、
金属製の電極端子3は挿入ケ−ス5と共に一体成型され
る。この挿入ケ−ス5がヒ−トシンク6上に接合材によ
り固着され、半導体素子9、10を収納する容器を構成
する。蓋部1は、PBT樹脂またはPPS樹脂を成型す
ることにより形成され、電極端子3を挿入するための端
子挿入口7が蓋部1を貫通して開口されている。
【0003】蓋部1と本体部は、電極端子3を、端子挿
入口7に挿入し、蓋部1上表面から引き出し、引き出さ
れた外部接合端3aを手または治具により内側に直角に
折り曲げることにより、一体化される。
【0004】さらに、このような大電流半導体装置は、
複数個の装置を並列に配列し、ブスバ−により電極端子
3を電気的に接続して使用する。この状態を上面から見
た様子を図7に示す。図7では、6個の半導体装置を2
列に並べ、外側両端部の電極端子3のみをブスバ−15
により接続した状態を示している(内側のブスバ−はそ
の下部の部分を示すために除かれている)。蓋部1上表
面に折り曲げられた外部接合端3a上にブスバ−15を
載せて、ボルト19を締めることによりブスバ−15と
外部接合端3aとを接合する。このため、図6に示すよ
うに、外部接合端3aはボルト19を挿入する貫通口1
6を有し、また蓋部1にはナット18を嵌め込み固定す
るための穴2が開口されている。さらに、外部接合端3
aを折り曲げた時に、この貫通口16と穴2の位置が一
致し、外部接合端3aが蓋部上面に平行である必要があ
る。
【0005】このため、電極端子3を折り曲げ易くし、
また外部接合端3aの位置を正確に決定するために、電
極端子3には、図8に示すようなコイニング部14が設
けられている。図8の(b)および(c)は、コイニン
グ部14をそれぞれ側面、正面から見た拡大図である。
このように、コイニング部14において電極端子3の幅
を狭め、また厚みを薄くすることにより、電極端子3を
小さい力で容易に折り曲げることができる。さらに、こ
の部分が、曲げ中心となることにより、外部接合端3a
の位置を決定することができる。
【0006】しかし、電極端子3の弾性によるスプリン
グバック効果のために、外部接合端子3aを折り曲げる
ための外力をはずすと、図9の(b)に示すように、外
部接合端子3aが完全に蓋部1上表面と平行にならな
い。さらにこの平行面からのずれ(図9の(b)におい
て外部接合端3aの角度αおよび先端の高さyとして定
義)が製品により異なるという問題が生じる。
【0007】また、コイニング部14は、図8の(b)
に示すように曲げの内側が窪んだ形状であるため、電極
端子3と蓋部1の端子挿入口7の角とは非接触である。
さらにコイニング部14は有限の長さを有するために、
曲げ中心位置を厳密に決定することができない。特に手
により折り曲げた場合には、曲げ速度、端子の押さえ位
置等の曲げ方により曲げ形状および曲げ中心位置が大き
く変動してしまう。
【0008】このように、外部接合端3aが蓋部1上表
面と平行でなく、また曲げ形状および曲げ中心位置がば
らつくため、電極端子3とブスバ−15とをボルト19
を用いて接合する時に不都合が生じる。すなわち、図1
0に示すように、外部接合端3aが蓋部1上表面と平行
でなく、さらにその角度αおよび先端の高さyが各電極
端子により異なる場合、ボルト19を充分に締めること
ができないため、ブスバ−15と外部接合端3aが部分
接触となることにより、接触抵抗が大きくなり半導体装
置の動作不良が生じてしまう。また、曲げ形状および曲
げ中心位置がばらつくため、外部接合端3aに開口され
ている貫通口16の中心をナット18の中心位置に合わ
せることができず、ボルト19を貫通口16に挿入し
て、締めつけることが困難となる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来の大
電流高速半導体装置では、電極端子の外部接合端が半導
体装置の蓋部上表面と平行ではなく、また電極端子の曲
げ形状および中心位置が大きくばらつくために、電極端
子とブスバ−の接続不良が生じるという問題があった。
本発明の目的は、電極端子の外部接合端と半導体装置の
蓋部上表面とが平行で、またその位置精度の優れた半導
体装置を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決し目的を
達成するために、半発明による半導体装置は、上部が開
口し半導体素子を収納している容器と、前記容器の開口
を閉じる蓋部と、前記容器に固着された電極端子とを具
備し、前記蓋部は下面から上面へ貫通した端子挿入口を
具備し、前記電極端子を前記端子挿入口へ挿入して前記
蓋部上表面より引き出し、この引き出された電極端子の
外部接合端を折り曲げることにより前記容器と前記蓋部
とが固定される半導体装置において、前記蓋部はその上
表面上に前記端子挿入口に隣接して突起部を有し、前記
外部接合端は前記突起部を支点として折り曲げられる
とを特徴とする。
【0011】このように本発明による半導体装置は、そ
の蓋部上表面上に端子挿入口に隣接して突起部を有して
いるため、電極端子を端子挿入口から引き出し折り曲げ
る時に、この突起部を支点として折り曲げることができ
るので、曲げ中心位置を正確に決定することができる。
さらに、この突起部を支点として、電極端子を一度90
度を越えて折り曲げて、この外力を外した時に生じるス
プリングバック効果を利用して、外部接合端を蓋部上面
と平行にするように突起部の高さを設定することによっ
て、折り曲げられた蓋部接合端が蓋部上面と平行にな
り、正確な位置でブスバ−と面接触するように接合する
ことができる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。本発明による大電力半導体
装置は、従来と同様に、蓋部1と本体部により構成され
る。図1は蓋部1と本体部がそれぞれ分離された状態を
示している。本体部は、ヒ−トシンク6、挿入ケ−ス
5、電極端子3、ダイオ−ド9やトランジスタ10等の
半導体素子を備えている。挿入ケ−ス5はPBT樹脂ま
たはPPS樹脂等の合成樹脂成型品からなり、金属性の
電極端子3は挿入ケ−ス5と共に一体成型される。この
挿入ケ−ス5がヒ−トシンク6上に接合材により固着さ
れ、半導体素子9、10を収納する容器を構成する。蓋
部1は、PBT樹脂またはPPS樹脂を成型することに
より形成され、電極端子3を挿入するための端子挿入口
7が蓋部1を貫通して開口されている。
【0013】蓋部1と本体部は、電極端子3を、端子挿
入口7に挿入し、蓋部1上表面から引き出し、引き出さ
れた外部接合端3aを手または治具により内側に直角に
折り曲げることにより、一体化される。
【0014】また、本発明による大電力半導体装置は、
従来と同様に、複数個の装置を並列に配列し、ブスバ−
15を外部接合端3a上に載せて、ボルト19を用いて
ブスバ−15と外部接合端3aとを接合し、電気的に接
続して使用する。このため、外部接合端3aはボルト1
9を挿入する貫通口16を有し、また蓋部1にはナット
18を嵌め込むための穴2が開口されている。さらに、
電極端子3を折り曲げ易くし、また外部接合端3aの位
置を正確に決定するために、電極端子3には、コイニン
グ部14が設けられている。
【0015】次に、蓋部1と本体部を一体化する方法を
図2および図3を用いてさらに詳しく説明する。従来と
同様に、本体部の電極端子3を蓋部1に開口された端子
挿入口7に挿入し、蓋部1の下面を挿入ケ−ス5に接合
する(図2)。この時、電極端子3は蓋部1の上表面よ
り垂直に立った状態である。
【0016】この後、ナット18を穴2に挿入して、電
極端子3をナット18側へ折り曲げて、蓋部1と本体部
を一体化する(図3)。ここで、本発明では従来と異な
り、図1に示すように、蓋部1の端子挿入口7に隣接し
て突起部13が設けられる。図4に、電極端子3を端子
挿入口7に挿入した状態(図3に対応)における端子挿
入口7近傍の拡大図を示す。また、図5の(a)は端子
挿入口7近傍の上面図、図5の(b)はB−B´断面図
である。このように、突起部13の電極端子3に接する
側面は、端子挿入口7の側面の延長上に形成される。こ
の突起部13は蓋部1を成型する金型をわずかに変更す
るだけで容易に形成することができる。このような突起
部13を設けることにより、挿入口7に隣接した突起部
13の角がコイニング部14と接触するため、この接触
点を電極端子3を折り曲げる時の支点として曲げ中心位
置を正確に決定することができる。さらに、電極端子3
を蓋部1表面まで折り曲げる、すなわち、90度を越え
て折り曲げることにより、折り曲げるための外力を外し
た時のスプリングバックを利用して、蓋部接続端3aを
蓋部1と平行にすることができる。
【0017】さらに、図4に示す突起部13の高さh、
長さa、幅wについて説明する。突起部13の高さ
は、スプリングバック角をΔθ、電極端子3の曲げ中心
から先端までの距離をLとした場合、 h = L×sinΔθ により決定される。突起部13がこのような高さを有す
ることにより、電極端子3の先端部を蓋部1上表面に接
するまで折り曲げた時に、電極端子3は(90+Δθ)
度だけ折り曲げることができる。この後、この外力を外
した時に、電極端子3はスプリングバックによりΔθだ
け戻り、外部接合端3aは蓋部1と平行となる。このよ
うに本実施の形態においては、電極端子3を折り曲げる
外力を外した時に生じるスプリングバック角Δθだけ余
分に電極端子3を折り曲げることにより、結果として外
部接合端を蓋部1上表面と平行にすることができる。ま
た、スプリングバック角Δθは、例えば以下の式により
計算することができる(葉山益次郎著、「塑性学と塑性
加工」(昭57)、208、オーム社)。
【0018】
【数2】 ここで、nは歪硬化係数、Eは縦弾性係数、は中立軸
の曲率半径、tは端子3の厚み、θは曲げ角である。ま
た、Fは係数で、応力σとひずみεが、σ=Fεn の関
係を満足する。
【0019】上記の式に、電極端子3の素材や形状に応
じて各係数を代入すると、例えばニッケルメッキされた
銅製の電極端子3では、h=0.5mmを得る。さら
に、スプリングバック角が非常に大きい場合、あるいは
電極端子3の長さが非常に長い場合には、上記式により
必要とされる高さとして非常に大きい値が算出される。
このように、蓋部1が非常に高い突起部を有する場合、
ブスバ−15と共にボルト19を締める時に、蓋部1上
に形成された開口部2に嵌め込まれたナット18が持ち
上げられて、締め付けトルクが不十分になる可能性があ
る。これを防止するため、突起部13の高さはナット1
8の厚さの半分以下である必要がある。
【0020】次に、突起部13の長さaは、曲げ中心位
置を確定し、またこの曲げ中心位置において(90+Δ
θ)度だけ折り曲げるために、できる限り短い方が好ま
しい。しかし、突起部13の長さaが非常に短い場合、
突起部13の強度が十分でないために、外部接合端3a
を折り曲げる時に突起部13が変形してしまう可能性が
ある。このため、外部接合端3aを折り曲げる時に突起
部13に印加される外力により、突起部13に発生する
応力が突起部の材料の降伏応力未満である必要がある。
この応力は、突起部13の長さa、高さh、幅w,材
質、電極端子3の曲げ速度等に依存する。突起部13の
長さaは、突起部13に発生する応力が降伏応力未満と
なるように設定する必要があり、この範囲内において最
短とすることが好ましい。
【0021】さらに、突起部13の幅wは、電極端子3
の曲り部における端子の幅と等しいことが最も好まし
い。幅wが電極端子3の幅より極端に小さい場合には、
曲げ中心位置を電極端子3の全幅において確定すること
ができないために、曲げ形状が歪み、さらにこの歪みが
各製品ごとに一定しない可能性がある。このため、突起
部13の幅は、曲り部における電極端子3の幅の2/3
以上である必要がある。また、電極端子3の幅方向の中
心に対して、突起部13は幅方向に対称的である方が好
ましいが、必ずしも対称的である必要はない。ただし、
この場合、突起部13は、電極端子3の幅方向の中心か
ら両端に向かってそれぞれ1/3以上の幅を有する必要
がある。突起部13の幅wが電極端子3の幅より大きい
場合には、他の装置と組み合わせる場合に制約となる可
能性があるので好ましくない。
【0022】なお、本実施の形態において、突起部13
は直方体としたが、上面が小さく、下面の大きい台形と
することも可能である。この場合、前述のような外力に
対する突起部13の強度を保証し、上面の長さaを小さ
くすることができるため、曲げ中心位置をより正確に確
定し、曲げ形状をほぼ直角にすることが可能となる。
【0023】以下に、本実施の形態による電極端子3の
平行度と位置精度を、従来と比較して示す。図7に示す
ように、電極端子3の平行度αは外部接合端3aと蓋部
1表面の角度として、また、位置精度yは電極端子3先
端の蓋部1表面からの高さとして定義する。
【0024】
【表1】
【0025】このように、本実施の形態によれば、従来
1.74度であった平行度を0.51度まで低減し、さ
らにその標準偏差を0.23度から0.09度まで低減
することができる。また、位置精度は、規格寸法1.7
±0.3mmに対して従来の2.12mmから1.70
mmに、標準偏差0.2から0.04mmに低減される
ことが確認された。
【0026】このように、本発明の半導体装置によれ
ば、外部接合端3aの蓋部1表面に対する平行度と、位
置精度とを向上し、製品によるばらつきを低減すること
ができるため、ブスバ−15を外部接合端3a上に載せ
てボルト19を用いて接続する時の接触不良を防止する
ことができる。
【0027】さらに、本発明の半導体装置によれば、電
極端子の曲げ中心位置および曲げ形状を正確に決定し、
製品によるばらつきを抑制することができるので、電極
端子3に形成された開口部16とナット18を容易に位
置合わせすることが可能となり、ボルト19を容易に締
めることができる。
【0028】
【発明の効果】以上のように本発明による半導体装置で
は、蓋部と本体部を一体化した時に、電極端子の蓋部接
合端と蓋部上表面との平行度、および電極端子先端部の
蓋部表面からの位置精度を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による半導体装置の構造を示す図。
【図2】本発明による半導体装置を示す図。
【図3】本発明による半導体装置を示す図。
【図4】本発明による半導体装置の電極端子挿入部分の
拡大図。
【図5】本発明による半導体装置の電極端子挿入部分の
拡大図。
【図6】従来の半導体装置の構造を示す図。
【図7】複数個の半導体装置をブスバ−により接続した
図。
【図8】従来の半導体装置の電極端子の拡大図。
【図9】従来の半導体装置における電極端子の曲げ形状
を示す図。
【図10】従来の半導体装置においてブスバ−と電極端
子をボルトにより接続した状態を示す断面図。
【符号の説明】
1…蓋部、2…開口部、3…電極端子、5…挿入ケ−ス
部、6…ヒ−トシンク、7…端子挿入口、9…ダイオ−
ド、10…トランジスタ、13…突起部、14…コイニ
ング部、15…ブスバ−、16…開口部、18…ナッ
ト、19…ボルト
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−14249(JP,A) 特開 平4−72748(JP,A) 特開 平7−99276(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 23/48 H01L 25/07

Claims (11)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 上部が開口し、半導体素子を収納してい
    る容器と、前記容器の開口を閉じる蓋部と、前記容器に
    固着された電極端子とを具備し、前記蓋部は下面から上
    面へ貫通した端子挿入口を具備し、前記電極端子を前記
    端子挿入口へ挿入して前記蓋部上表面より引き出し、こ
    の引き出された電極端子の外部接合端を折り曲げること
    により前記容器と前記蓋部とが固定される半導体装置に
    おいて、前記蓋部はその上表面上に前記端子挿入口に隣
    接して突起部を有し、前記外部接合端は前記突起部を支
    点として折り曲げられることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 上部が開口し、半導体素子を収納してい
    る容器と、前記容器の開口を閉じる蓋部と、前記容器に
    固着された複数の電極端子とを具備し、前記蓋部は下面
    から上面へ貫通した複数の端子挿入口を具備し、前記各
    電極端子を前記各端子挿入口へ挿入して前記蓋部上表面
    より引き出し、この引き出された各電極端子の外部接合
    端を折り曲げることにより前記容器と前記蓋部とが固定
    される半導体装置において、前記蓋部はその上表面上に
    前記各端子挿入口に隣接して複数の突起部を有し、前記
    外部接合端は前記各突起部を支点として折り曲げられる
    ことを特徴とする半導体装置。
  3. 【請求項3】 前記突起部は、スプリングバックにより
    前記端子先端が戻る距離に等しい高さを有する前記請求
    項1又は2記載の半導体装置。
  4. 【請求項4】 前記スプリングバック角Δθは、nを歪
    硬化係数、Eを縦弾性係数、pを中立軸の曲率半径、t
    を端子の厚み、θを曲げ角、Fを応力σとひずみεがσ
    =Fεの関係を満足する係数とするとき、以下の式に
    より算出される前記請求項3記載の半導体装置。 【数1】
  5. 【請求項5】 前記突起部上面は、前記外部接合端を折
    り曲げる時に前記突起部に発生する最大主応力が前記蓋
    部の材料の降伏応力未満となる最短の長さを有する前記
    請求項1乃至4記載の半導体装置。
  6. 【請求項6】 前記突起部上面は、前記電極端子の曲り
    部における幅の2/3以上の幅を有する前記請求項1乃
    至4記載の半導体装置。
  7. 【請求項7】 前記突起部上面は、前記電極端子の曲り
    部における幅と等しい幅を有する前記請求項1乃至4記
    載の半導体装置。
  8. 【請求項8】 前記突起部の前記電極端子に接する側面
    は、前記端子挿入口の側面の延長上に形成されている前
    記請求項1乃至4記載の半導体装置。
  9. 【請求項9】 前記蓋部に形成された穴に嵌め込むナッ
    トと、 前記折り曲げられた電極端子に設けたブスバーと、 前記ナットと前記電極端子に形成された貫通口とを貫通
    して留められたボルトとをさらに有し、 前記ボルトは前記折り曲げられた電極端子と前記ブスバ
    ーとを固定している前記請求項1乃至4記載の半導体装
    置。
  10. 【請求項10】 前記突起部の高さは、前記ナットの厚
    みの半分以下である前記請求項9記載の半導体装置。
  11. 【請求項11】 前記外部接合端の折り曲げられた部分
    は、前記蓋部上面と平行である前記請求項1又は2記載
    の半導体装置。
JP19045895A 1995-07-26 1995-07-26 半導体装置 Expired - Fee Related JP3481735B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19045895A JP3481735B2 (ja) 1995-07-26 1995-07-26 半導体装置
US08/687,033 US5763946A (en) 1995-07-26 1996-07-25 Semiconductor device with bent electrode terminal

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19045895A JP3481735B2 (ja) 1995-07-26 1995-07-26 半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0945831A JPH0945831A (ja) 1997-02-14
JP3481735B2 true JP3481735B2 (ja) 2003-12-22

Family

ID=16258458

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19045895A Expired - Fee Related JP3481735B2 (ja) 1995-07-26 1995-07-26 半導体装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5763946A (ja)
JP (1) JP3481735B2 (ja)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6069403A (en) * 1998-10-06 2000-05-30 Intersil Corporation Power module with lowered inductance and reduced voltage overshoots
JP2003060157A (ja) * 2001-08-08 2003-02-28 Mitsubishi Electric Corp パワーモジュール
JP5252819B2 (ja) * 2007-03-26 2013-07-31 三菱電機株式会社 半導体装置およびその製造方法
JP5113815B2 (ja) * 2009-09-18 2013-01-09 株式会社東芝 パワーモジュール
JP2011018933A (ja) * 2010-09-16 2011-01-27 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置およびその製造方法
JP6171586B2 (ja) * 2013-06-04 2017-08-02 富士電機株式会社 半導体装置
JP6299120B2 (ja) * 2013-09-05 2018-03-28 富士電機株式会社 半導体モジュール
US10629513B2 (en) * 2015-06-04 2020-04-21 Eaton Intelligent Power Limited Ceramic plated materials for electrical isolation and thermal transfer
JP6326038B2 (ja) * 2015-12-24 2018-05-16 太陽誘電株式会社 電気回路装置
CN109417068B (zh) 2017-01-17 2022-05-06 富士电机株式会社 半导体装置
WO2019043849A1 (ja) * 2017-08-30 2019-03-07 三菱電機株式会社 主回路配線部材および電力変換装置
JP7354550B2 (ja) 2019-02-08 2023-10-03 富士電機株式会社 半導体モジュールの外部接続部、半導体モジュール、外部接続端子、および半導体モジュールの外部接続端子の製造方法
JP6797505B1 (ja) * 2020-03-23 2020-12-09 株式会社三社電機製作所 半導体装置
DE112021000173T5 (de) 2020-06-16 2022-08-04 Fuji Electric Co., Ltd. Halbleitermodul

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62142856U (ja) * 1986-02-28 1987-09-09
JPH0414249A (ja) * 1990-05-07 1992-01-20 Mitsubishi Electric Corp 電力用半導体装置
JP3357220B2 (ja) * 1995-07-07 2002-12-16 三菱電機株式会社 半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0945831A (ja) 1997-02-14
US5763946A (en) 1998-06-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3481735B2 (ja) 半導体装置
US7713101B2 (en) Male terminal having a U-shaped cross section
US7445519B2 (en) Semiconductor device
US5923026A (en) Assembly structure for an IC card
US20020093092A1 (en) Power semiconductor module and cooling element for holding the power semiconductor module
US5585670A (en) Semiconductor device package
JPH05114427A (ja) 圧入固定型コンタクト
US5691884A (en) Semiconductor device with removably fixed lead frame
KR100338225B1 (ko) 반도체장치
CN111386603A (zh) 半导体装置的制造方法和半导体装置
JPH06188335A (ja) 樹脂封止形半導体装置
JPS615529A (ja) 絶縁型半導体装置
US8338932B2 (en) Power semiconductor module with interconnected package portions
US11823986B2 (en) Molded RF power package
JPH11204382A (ja) 樹脂封口型コンデンサ
JPH0535586Y2 (ja)
JP2694879B2 (ja) 半導体装置
JP2601033B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JPH0258780B2 (ja)
JPH02110962A (ja) 半導体モジュールおよびその製造方法
JP2771746B2 (ja) 半導体装置
JPS61232644A (ja) 半導体装置
JPH0349399Y2 (ja)
JPH04131945U (ja) 電力用半導体モジユール
JP4272762B2 (ja) 放熱板

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081010

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081010

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091010

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101010

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees