JP2601033B2 - 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置およびその製造方法

Info

Publication number
JP2601033B2
JP2601033B2 JP2400418A JP40041890A JP2601033B2 JP 2601033 B2 JP2601033 B2 JP 2601033B2 JP 2400418 A JP2400418 A JP 2400418A JP 40041890 A JP40041890 A JP 40041890A JP 2601033 B2 JP2601033 B2 JP 2601033B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
heat sink
semiconductor chip
semiconductor device
heat
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2400418A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH04162550A (ja
Inventor
和浩 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2400418A priority Critical patent/JP2601033B2/ja
Publication of JPH04162550A publication Critical patent/JPH04162550A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2601033B2 publication Critical patent/JP2601033B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/4847Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond
    • H01L2224/48472Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond the other connecting portion not on the bonding area also being a wedge bond, i.e. wedge-to-wedge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は樹脂封止型半導体装置お
よびその製造方法に関し、特に半導体チップを搭載した
金属製放熱板の形状と樹脂封止方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来許容損失の大きいパワートランジス
タ等の半導体チップを搭載する樹脂封止型半導体装置で
は、半導体チップの発熱を逃すため、1〜2mmの厚さ
を持つ金属製の放熱板上の半導体チップを搭載してい
る。近年、この放熱板を高熱伝導タイプのエポキシ樹脂
でフルモールドした製品が考案されている。しかしこの
金属製の放熱板は銅等で構成されているため、質量が大
きく、自重により外部に導出したリード位置に対して変
形等が発生し、樹脂封止時の成形金形内(キャビティ)
で不安定となり、モールド内の位置精度が確保でないと
いう問題があった。
【0003】次に従来の樹脂封止型半導体装置の一例を
図8(a),(b)を用いて説明する。パワーデバイス
を構成する半導体チップ1を搭載した銅等からなる金属
性の矩形状の放熱板2が、エポキシ樹脂3により封止さ
れ、樹脂の一端面から電極となる外部リード4が出てお
り、外部リード4はワイヤ6により半導体チップ1に接
続されている。この放熱板2の表裏を全て樹脂で被覆す
るためには、樹脂封止工程で成形金型内の放熱板2を浮
かせた状態で固定する。その方法の一つとして、例えば
特開昭60−180127号公報に示されているよう
に、リード4の導出方向と反対の放熱板先端を成形金型
内に形成された挟持体で挟み込む方法が用いられる。
【0004】以下その方法について図9(a),(b)
を用いて説明する。まず、図9(a)に示すように、成
形金型を開いた状態で突起状の挟持体8Aを有する上金
型7Aと、下金型7Bの内部に半導体チップを搭載した
放熱板2及び外部リード4を置く。次に図9(b)に示
す通り、上金型7Aと下金型7Bを閉じ、放熱板2の先
端とリード4を固定する。その後、上記金型内にエポキ
シ樹脂等を加圧注入し、加熱硬化したのち取り出す。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】この従来の樹脂封止型
半導体装置の製造方法では、放熱板2を成形金型内に形
成された挟持体8Aにより上下から固定するため、成形
金型内での放熱板の上下方向の位置精度は良好で安定す
るが、放熱板2に前工程(マウント,ボンディング工程
等)やハンドリング時、横方向にずれやねじれが生じた
場合その状態で成形金型内に固定されるため放熱板側面
の樹脂厚が減少し、絶縁耐圧の低下を招くという問題点
があった。
【0006】また、ずれが大きい場合は、上下金型を閉
じた時に、放熱板のカジリ等が発生し、製造工程内での
トラブルや歩留の低下を招く恐れがあった。
【0007】更に、樹脂側面と放熱板側面の距離に、放
熱板の横方向ずれを考慮した余分なクリアランスを持た
せると、樹脂注入時に、放熱板裏面に流入した樹脂が放
熱板の表面に回り込み、裏面の充填性を損うため、裏面
の樹脂厚を薄くすることが困難になるという問題点もあ
った。
【0008】
【課題を解決するための手段】第1の発明の樹脂封止型
半導体装置は、矩形状の放熱板と、この放熱板上に固着
された半導体チップと、前記放熱板の周辺部に設けられ
前記半導体チップとワイヤにより接続された外部リード
と、前記放熱板と前記半導体チップと前記外部リードの
一部を封止する樹脂とを有する樹脂封止型半導体装置に
おいて、前記外部リードの導出方向を除く前記放熱板の
少くとも一端面に、樹脂封止時の放熱板の位置ずれを防
止するための溝を設けたものである。
【0009】第2の発明の樹脂封止型半導体装置は、矩
形状の放熱板と、この放熱板上に固着された半導体チッ
プと、前記放熱板の周辺部に設けられ前記半導体チップ
とワイヤにより接続された外部リードと、前記放熱板と
前記半導体チップと前記外部リードの一部を封止する樹
脂とを有する樹脂封止型半導体装置において、前記外部
リードの導出方向を除く前記放熱板のコーナー部に樹脂
封止時の放熱板の位置ずれを防止するための切り欠き部
を設けたものである。
【0010】第3の発明の樹脂封止型半導体装置の製造
方法は、矩形状の放熱板の一端の2つのコーナー部に切
り欠き部を設け、この放熱板上に半導体チップを搭載
し、放熱板の他端部に一体的に形成された外部リードと
前記半導体チップとをワイヤーにより接続し、矩形状の
くぼみの2隅の内側に放熱板の位置決め用の傾斜稜を有
する固定ブロックが設けられた下金型内に前記放熱板の
切り欠き部が傾斜稜に接するように置き、矩形状のくぼ
み内に先端が円錐状の複数の固定ピンを有する上金型を
この放熱板上に置き、これら金型内に樹脂を注入するも
のである。
【0011】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図1(a),(b)は本発明の第1の実施例の平面
図及びA−A線断面図である。
【0012】図1(a),(b)において、銅等からな
る矩形状の放熱板2上には半導体チップ1が固着されて
おり、この半導体チップ1は放熱板2の周辺部に設けら
れた外部リード4とワイヤ6により接続されている。そ
して特に放熱板2の外部リード4と反対側の端部には、
樹脂封止時の放熱板の位置ずれを防止するための約30
°の角度を有するV字形溝9が2ケ所に設けてある。エ
ポキシ樹脂3はこの放熱板2と半導体チップ1と外部リ
ード4の一部を封止している。尚図1(a),(b)に
おいて5は樹脂封止時における金型に設けられた挟持体
跡であり、放熱板面に対して45°の角度を有してい
る。
【0013】次に図2(a),(b)を用い実施例の樹
脂封止方法を説明する。図2(a)は成形金型を開いた
状態であり、上・下金型7A,7Bには図3に示すよう
に、放熱板を挟む部分が45°に形成された突起状の挟
持体8が設けられている。これらの金型内に、半導体チ
ップ1を搭載し先端部にV字形溝9を有する放熱板2及
びリード4を置く。次に図2(b)に示す通り、上金型
7Aと下金型7Bを閉じて固定する。その後金型内にエ
ポキシ樹脂を加工注入し加熱硬化したのち取り出す。
【0014】このように第1の実施例によれば、樹脂封
止時に挟持体8によりV字形溝9を使って放熱板2の位
置ずれやねじれを補正することができるので、エポキシ
樹脂3を放熱板の表面に均一に固着することができる。
【0015】図4は本発明の第2の実施例の平面図であ
る。半導体チップ1を搭載した金属製の放熱板2の外部
リード4の導出方向を除いた3方向の端面に3mm幅の
U字形溝10を設け、外部リード4の一部を除きエポキ
シ樹脂5で被覆する。放熱板のU字形溝10と対応する
樹脂部には、2mm幅で且つ放熱板面に対して45°の
角度を有するU字形状の挟持体跡5Aを有している。製
造方法は第1の実施例と同様である。本第2の実施例で
はU字形溝10を放熱板2の3方向の端部に設けてある
ため、放熱板の位置ずれをより少くすることができる。
【0016】図5(a)〜(c)は本発明の第3の実施
例を説明するための半導体チップを搭載したリードフレ
ームの平面図と上金型及び下金型の斜視図であり、図6
は上記リードフレームと成形金型により形成された樹脂
封止型半導体装置のモールド内の透視図である。
【0017】まず図5(a)に示すようにリードフレー
ムは、金属製の放熱板2上に半導体チップ1が半田等で
接着され、放熱板2から外部電極となる外部リード4A
が導出されている。そして外部リード4Aと並行に形成
された外部リード4は半導体チップ1の表面電極とアル
ミのワイヤ6で接続されている。又、外部リード4及び
4Aは共通細条12により接続されている。更に外部リ
ード4の導出方向と反対側の放熱板2の2つのコーナー
部には、それぞれ60°の切り欠き部6が設けられてい
る。通常、放熱板2は共通細条12により複数個接続さ
れている。
【0018】成形金型は図5(b),(c)に示すよう
に、上金型17Aと下金型17Bとに分かれている。上
金型17Aの矩形状のくぼみ13A内には、先端部が円
錐状の2本の固定ピン14が設けられており、一方下金
型17Bでは矩形状のくぼみ13Bの2隅に放熱板2の
切り欠き部11に対向する位置に傾斜稜16を持つ四角
錐状の固定ブロック15が設けられている。
【0019】この下金型17B内に、放熱板2の切り欠
き部11が傾斜稜16に接するように置く。次で放熱板
2の表面上に上金型17Aを下金型17Bに合わせて閉
じる。この時、放熱板2に横ずれ等があった場合でも下
金型17Bの固定ブロック15によって、放熱板2はず
れと反対方向に矯正され、キャビティ内の所定の位置に
精度よく固定される。最後に熱硬化性のエポキシ樹脂を
キャビティ内に注入し成形を完了する。
【0020】このようにして製造された樹脂封止型半導
体装置は、図6に示したようにエポキシ樹脂3の表面に
は固定ピンの跡18および固定ブロックの跡19が形成
されている。本第3の実施例では固定ピン14と固定ブ
ロック15が放熱板2を点で支持しているため、放熱板
2の露出部が少くなり耐湿性を向上させることができ
る。
【0021】図7(a),(b)は本発明の第4の実施
例を説明するための上金型及び下金型の斜視図である。
上金型17Aにはバネにより支持され、パーティングラ
インより飛び出した先端部が円錐状の2本の固定ピン1
4Aを有し、且つ金型端面に下金型とかみ合う傾斜凸部
18が設けられている。上金型17Bの矩形状のくぼみ
13B内には、放熱板2の切り欠き部11と対向する位
置に、金型のパーティングライン上まで傾斜稜16Aを
持つ四角錐状の固定ブロック15Aを有し且つ上金型1
7Aの傾斜凸部18に合致する形状を有している。
【0022】これらの成形金型を用いて樹脂封止する場
合は、まず下金型17B内に図5(a)に示した放熱板
2の裏面を合わせて載置し、次に上金型17Aを閉じ
る。この時、放熱板2に横ずれ等があった場合でもバネ
支持の固定ピン14Aにより放熱板2は、下金型17B
の固定ブロック15Aの傾斜稜16Aに沿って矯正さ
れ、金型が完全に閉じられた時にはキャビティ内の所定
の位置に固定される。
【0023】この第4の実施例では固定ブロック15A
の傾斜稜16Aがパーティングライン上にまで形成され
ているため、放熱板2の横ずれが大きい場合でも、放熱
板2は金型にはさまれることなく矯正されるため第3の
実施例に比べ作業性が改善される。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、放熱板の
少くとも一端に、樹脂封止時の放熱板の位置ずれを防止
するための溝または切り欠き部を設けることにより、樹
脂封止工程で成形金型内へ載置する放熱板の横方向の位
置ずれやねじれを金型に設けた挟持体または固定ブロッ
クにより修正できるため、樹脂中の放熱板の位置精度を
向上させることができる。従って放熱板の成形金型によ
るカジリや成形後の製品の放熱板側面の樹脂厚減少によ
る絶縁耐圧の低下を防止できる。又、樹脂側面と放熱板
側面のクリアランスを減少させ、裏面樹脂厚を薄くした
樹脂封止型半導体装置が得られるという効果もある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の平面図及びA−A線断
面図である。
【図2】第1の実施例の樹脂封止工程を説明するための
金型の断面図である。
【図3】金型内に形成した挟持体の斜視図である。
【図4】本発明の第2の実施例の平面図である。
【図5】本発明の第3の実施例を説明するためのリード
フレームの平面図、上金型及び下金型の斜視図である。
【図6】第3の実施例により形成された樹脂封止型半導
体装置の透視図である。
【図7】本発明の第4の実施例を説明するための上金型
及び下金型の斜視図である。
【図8】従来の樹脂封止型半導体装置の平面図及びB−
B線断面図である。
【図9】従来の樹脂封止型半導体装置の樹脂封止工程を
説明するための金型の断面図である。
【符号の説明】
1 半導体チップ 2 放熱板 3 エポキシ樹脂 4 外部リード 5 挟持体跡 6 ワイヤ 7A,17A 上金型 7B,17B 下金型 8 挟持体 9 V字形溝 10 U字形溝 11 切り欠き部 12 共通細条 13A,13B くぼみ 14,14A 固定ピン 15,15A 固定ブロック 16 傾斜稜 18 傾斜凸部

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】矩形状の放熱板と、この放熱板上に固着さ
    れた半導体チップと、前記放熱板の周辺部に設けられ前
    記半導体チップとワイヤにより接続された外部リード
    と、前記放熱板と前記半導体チップと前記外部リードの
    一部を封止する樹脂とを有する樹脂封止型半導体装置に
    おいて、前記外部リードの導出方向を除く前記放熱板の
    少くとも一端面に、樹脂封止時の放熱板の位置ずれを防
    止するための溝を設けたことを特徴とする樹脂封止型半
    導体装置。
  2. 【請求項2】矩形状の放熱板と、この放熱板上に固着さ
    れた半導体チップと、前記放熱板の周辺部に設けられ前
    記半導体チップとワイヤにより接続された外部リード
    と、前記放熱板と前記半導体チップと前記外部リードの
    一部を封止する樹脂とを有する樹脂封止型半導体装置に
    おいて、前記外部リードの導出方向を除く前記放熱板の
    コーナー部に樹脂封止時の放熱板の位置ずれを防止する
    ための切り欠き部を設けたことを特徴とする樹脂封止型
    半導体装置。
  3. 【請求項3】矩形状の放熱板の一端の2つのコーナー部
    に切り欠き部を設け、この放熱板上に半導体チップを搭
    載し、放熱板の他端部に一体的に形成された外部リード
    と前記半導体チップとをワイヤーにより接続し、矩形状
    のくぼみの2隅の内側に放熱板の位置決め用の傾斜稜を
    有する固定ブロックが設けられた下金型内に前記放熱板
    の切り欠き部が傾斜稜に接するように置き、矩形状のく
    ぼみ内に先端が円錐状の複数の固定ピンを有する上金型
    をこの放熱板上に置き、これら金型内に樹脂を注入する
    ことを特徴とする樹脂封止型半導体装置の製造方法。
JP2400418A 1990-10-26 1990-12-05 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法 Expired - Fee Related JP2601033B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2400418A JP2601033B2 (ja) 1990-10-26 1990-12-05 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11269490 1990-10-26
JP2-112694 1990-10-26
JP2400418A JP2601033B2 (ja) 1990-10-26 1990-12-05 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04162550A JPH04162550A (ja) 1992-06-08
JP2601033B2 true JP2601033B2 (ja) 1997-04-16

Family

ID=26451799

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2400418A Expired - Fee Related JP2601033B2 (ja) 1990-10-26 1990-12-05 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2601033B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101649328B1 (ko) * 2015-06-11 2016-08-18 김효성 암벽 굴착기와 이를 이용한 굴착방법

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6263944U (ja) * 1985-10-11 1987-04-21
JPH0739241Y2 (ja) * 1987-09-08 1995-09-06 サンケン電気株式会社 樹脂封止型半導体装置用リードフレーム
JPS6472546A (en) * 1987-09-11 1989-03-17 Kansai Nippon Electric Semiconductor device
JPH01120344U (ja) * 1988-02-08 1989-08-15
JPH0241446U (ja) * 1988-09-14 1990-03-22
JPH02152260A (ja) * 1988-12-05 1990-06-12 Fujitsu Ltd 樹脂封止半導体装置およびそれの製造に用いる金型
JPH02146449U (ja) * 1989-05-16 1990-12-12

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101649328B1 (ko) * 2015-06-11 2016-08-18 김효성 암벽 굴착기와 이를 이용한 굴착방법

Also Published As

Publication number Publication date
JPH04162550A (ja) 1992-06-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5291059A (en) Resin-molded semiconductor device and lead frame employed for fabricating the same
EP0069390B1 (en) Lead frame for plastic encapsulated semiconductor device
US10804118B2 (en) Resin encapsulating mold and method of manufacturing semiconductor device
JP2601033B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
US10840172B2 (en) Leadframe, semiconductor package including a leadframe and method for forming a semiconductor package
CN110556352A (zh) 半导体装置及其制造方法
JPH0254665B2 (ja)
JPH088375A (ja) 半導体装置およびその製造に使用されるリードフレーム並びに金型
JPS6223097Y2 (ja)
JPH0135478Y2 (ja)
JP3747991B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP2965036B1 (ja) 樹脂封止形半導体装置用リードフレーム組立体及びその製造方法並びに樹脂封止形半導体装置の製造方法
JPH0318741B2 (ja)
JPS6244815B2 (ja)
JP3123976B2 (ja) 半導体装置の樹脂封止金型
JPS647496B2 (ja)
JPH0563937B2 (ja)
JPH11163011A (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2506933Y2 (ja) 樹脂密封型半導体装置
JP2837777B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPH0341476Y2 (ja)
JPH05109920A (ja) 電子部品搭載用基板
JPS63273324A (ja) 樹脂封止型回路装置の製造方法
JPH02139954A (ja) リードフレーム及びこれを用いた樹脂封止型半導体装置
JPH0213461B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19961126

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080129

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090129

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100129

Year of fee payment: 13

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees